JP2015222728A - Top-emission organic electroluminescent display device and manufacturing method therefor - Google Patents

Top-emission organic electroluminescent display device and manufacturing method therefor Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To adequately prevent dust and the like from an organic layer that is removed by laser light from scattering in a pixel area, thereby minimizing a decrease in display characteristics.SOLUTION: A top-emission organic EL display device includes: an auxiliary electrode 4 formed between pixel electrodes 3; an insulating layer 5 having an opening so as to expose the auxiliary electrode; an organic EL layer 6 having at least a light-emitting layer; at least one organic layer formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer; a contact section 9 that is an opening in the organic layer, the opening being formed smaller than the opening in the insulating layer and formed on the auxiliary electrode; and a transparent electrode layer 7 formed on the organic EL layer and the contact section. In the top-emission organic EL display device, the width of the insulating layer between the contact section and a pixel electrode adjacent to the contact section is 6 μm or more, the size of the opening in the insulating layer is 10 μm or more in the width direction or length direction of the auxiliary electrode, the transparent electrode layer is electrically connected with the auxiliary electrode at the contact section, and further dust including a material constituting the organic layer is present between the transparent electrode layer and the organic layer within the opening in the insulating layer.

Description

本発明は、補助電極を有するトップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置に関するものである。   The present invention relates to a top emission type organic electroluminescence display device having an auxiliary electrode.

有機エレクトロルミネッセンス素子は、自己発色により視認性が高いこと、液晶表示装置と異なり全固体ディスプレイであるため耐衝撃性に優れていること、応答速度が速いこと、温度変化による影響が少ないこと、および視野角が広いこと等の利点が注目されている。なお、以下、有機エレクトロルミネッセンスを有機ELと略す場合がある。   The organic electroluminescence element has high visibility due to self-coloring, is an all-solid-state display unlike a liquid crystal display device, has excellent impact resistance, has a fast response speed, is less affected by temperature changes, and Advantages such as a wide viewing angle are attracting attention. Hereinafter, organic electroluminescence may be abbreviated as organic EL.

有機EL素子の構成は、陽極と陰極との間に有機EL層が狭持された積層構造を基本としている。このような有機EL素子を有する有機EL表示装置の駆動方式には、パッシブマトリクス駆動およびアクティブマトリクス駆動があるが、大型ディスプレイを製造するにあたっては、低電圧による駆動が可能であるという観点から、アクティブマトリクス駆動が有利である。なお、アクティブマトリクス駆動とは、有機EL素子が形成された基板にTFT等の回路を形成し、上記TFT等の回路により駆動する方式をいう。   The configuration of the organic EL element is based on a laminated structure in which an organic EL layer is sandwiched between an anode and a cathode. There are passive matrix driving and active matrix driving as a driving method of an organic EL display device having such an organic EL element. However, when manufacturing a large display, it is active from the viewpoint that driving with a low voltage is possible. Matrix driving is advantageous. Note that active matrix driving refers to a system in which a circuit such as a TFT is formed on a substrate on which an organic EL element is formed and the circuit is driven by the circuit such as the TFT.

このような有機EL表示装置には、有機EL素子が形成された基板側から光を取り出すボトムエミッション型と、有機EL素子が形成された基板とは反対側から光を取り出すトップエミッション型とがある。ここで、アクティブマトリクス駆動の有機EL表示装置の場合、ボトムエミッション型では、光の取り出し面である基板に形成されたTFT等の回路により開口率が制限され、光取り出し効率が低下してしまうという問題がある。これに対し、トップエミッション型では、基板とは反対側の面から光を取り出すため、ボトムエミッション型に比べて優れた光取り出し効率が得られる。なお、トップエミッション型の場合には、光取り出し面となる側の電極層として透明電極層が用いられる。   Such organic EL display devices include a bottom emission type in which light is extracted from the substrate side on which the organic EL element is formed, and a top emission type in which light is extracted from the side opposite to the substrate on which the organic EL element is formed. . Here, in the case of an organic EL display device driven by an active matrix, in the bottom emission type, the aperture ratio is limited by a circuit such as a TFT formed on a substrate which is a light extraction surface, and the light extraction efficiency is reduced. There's a problem. On the other hand, in the top emission type, since light is extracted from the surface opposite to the substrate, light extraction efficiency superior to that of the bottom emission type is obtained. In the case of the top emission type, a transparent electrode layer is used as the electrode layer on the side that becomes the light extraction surface.

ところで、一般的な透明電極層は、AlやCu等の金属から構成される電極層に比べて抵抗が大きい。そのため、透明電極層を有する有機EL表示装置においては、透明電極層の抵抗によって電圧降下が生じ、結果として有機EL層の輝度の均一性が低下する、いわゆる輝度ムラの発生が問題になっている。また、透明電極層の面積が大きくなるほどその抵抗はより大きくなることから、上述した輝度ムラの問題は大型ディスプレイを製造する場合に顕著になる。   By the way, a general transparent electrode layer has a larger resistance than an electrode layer made of a metal such as Al or Cu. Therefore, in an organic EL display device having a transparent electrode layer, a voltage drop occurs due to the resistance of the transparent electrode layer, and as a result, the occurrence of so-called luminance unevenness in which the luminance uniformity of the organic EL layer is lowered is a problem. . In addition, since the resistance increases as the area of the transparent electrode layer increases, the above-described problem of luminance unevenness becomes prominent when a large display is manufactured.

上記課題に対しては、例えば特許文献1に記載されているように、抵抗値の低い補助電極を形成し、これを透明電極層と電気的に接続させることにより電圧降下を抑制する方法が知られている。ここで、補助電極は、通常、金属層を成膜した後にウェットプロセスによるエッチング処理を施し、パターン状に形成される。そのため、トップエミッション型の有機EL表示装置において、有機EL層を形成後に補助電極を形成する場合には、補助電極を形成する際に用いられるエッチング液により有機EL層が侵されるという問題があった。そこで、特許文献2〜5に記載されているように、有機EL層を形成する前に補助電極を形成する方法が知られている。   For example, as disclosed in Patent Document 1, for example, a method for suppressing a voltage drop by forming an auxiliary electrode having a low resistance value and electrically connecting the auxiliary electrode to a transparent electrode layer is known. It has been. Here, the auxiliary electrode is usually formed in a pattern by performing a wet process etching after forming a metal layer. Therefore, in the top emission type organic EL display device, when the auxiliary electrode is formed after forming the organic EL layer, there is a problem that the organic EL layer is eroded by the etching solution used when forming the auxiliary electrode. . Therefore, as described in Patent Documents 2 to 5, a method of forming an auxiliary electrode before forming an organic EL layer is known.

しかしながら、有機EL層を形成する前に補助電極を形成すると、有機EL層を全面に形成する場合や有機EL層を構成する少なくとも1層の有機層を全面に形成する場合に、補助電極上に有機EL層や少なくとも1層の有機層が形成されることになる。そのため、補助電極と透明電極層との電気的な接続が、補助電極上の有機EL層や有機層によって妨げられてしまうという問題があった。   However, if the auxiliary electrode is formed before the organic EL layer is formed, the organic EL layer is formed on the entire surface when the organic EL layer is formed on the entire surface or when at least one organic layer constituting the organic EL layer is formed on the entire surface. An organic EL layer and at least one organic layer are formed. Therefore, there has been a problem that the electrical connection between the auxiliary electrode and the transparent electrode layer is hindered by the organic EL layer or the organic layer on the auxiliary electrode.

そこで、特許文献2〜3では、レーザー光により補助電極上の有機EL層を除去して、補助電極と透明電極層とが電気的に接続された有機EL表示装置を作製する方法が提案されている。しかしながら、この場合、レーザー光により除去された有機EL層が飛散して有機EL表示装置における画素領域が汚染され、表示特性が低下してしまうという問題がある。   Therefore, Patent Documents 2 to 3 propose a method of manufacturing an organic EL display device in which the organic EL layer on the auxiliary electrode is removed by laser light and the auxiliary electrode and the transparent electrode layer are electrically connected. Yes. However, in this case, there is a problem that the organic EL layer removed by the laser light is scattered, the pixel region in the organic EL display device is contaminated, and the display characteristics are deteriorated.

また、上記問題を解決する方法として、例えば特許文献4では、レーザー光による有機EL層の除去を行う前に、有機EL層で被覆された補助電極全面に透光性を有する第1の電極を形成し、その後、第1の電極を介してレーザー光により有機EL層を除去し、最後に第2の電極を形成する方法が提案されている。しかしながら、この場合、上述した表示特性の低下は抑制することができるものの、透明電極層として第1の電極および第2の電極を形成するため、製造工程が増加してしまうという問題がある。   As a method for solving the above problem, for example, in Patent Document 4, before the organic EL layer is removed by laser light, the first electrode having translucency is applied to the entire surface of the auxiliary electrode covered with the organic EL layer. A method is proposed in which the organic EL layer is removed by laser light through the first electrode and then the second electrode is formed. However, in this case, although the above-described deterioration in display characteristics can be suppressed, the first electrode and the second electrode are formed as the transparent electrode layer, so that there is a problem that the manufacturing process increases.

特許第4434411号Patent No. 4434411 特許第4959119号Patent No. 4959119 特許第4545780号Japanese Patent No. 4545780 特表2010−538440号公報Special table 2010-538440 gazette 特許第4340982号Japanese Patent No. 4340982

ところで、特許文献5には、補助電極と透明電極層とを接続する接触部を形成するためにレーザー光により除去された有機層の粉塵等が表示装置を汚染することを防止する方法として、次のような有機EL表示装置の製造方法が開示されている。すなわち、図6(a)に示すように、基板20上に画素電極30および補助電極40を形成し、上記画素電極30と上記補助電極40との間に絶縁層50を形成した後、図6(b)に示すように、有機EL層60を形成して有機EL層側基板100’を形成する。次いで、図6(c)に示すように、減圧下にて、有機EL層側基板100’に、蓋材80を対向させて、絶縁層50の頂部に蓋材80が接触するように配置して、有機EL層側基板100’および蓋材80の間の空間Vを減圧状態にする。その後、有機EL層側基板100’および蓋材80の外周の空間を加圧することにより、有機EL層側基板100’に蓋材80を密着させる。次いで、レーザー光Lによって補助電極40上の有機EL層60を除去して、図6(d)に示すように、蓋材80を剥離する。最後に、図6(e)に示すように、有機EL層側基板上に透明電極層70を形成することにより、補助電極40と透明電極層70とが接触部にて電気的に接続された有機EL表示装置100を作製する方法である。上述の方法を用いて有機EL表示装置を製造することにより、レーザー光の照射により除去された有機EL層の粉塵等が画素領域に飛散するのを抑え、表示特性の低下を防止することが可能になる。   By the way, in Patent Document 5, as a method for preventing dust or the like of an organic layer removed by a laser beam to form a contact portion that connects an auxiliary electrode and a transparent electrode layer, the display device is contaminated. A method for manufacturing such an organic EL display device is disclosed. That is, as shown in FIG. 6A, the pixel electrode 30 and the auxiliary electrode 40 are formed on the substrate 20, and the insulating layer 50 is formed between the pixel electrode 30 and the auxiliary electrode 40. As shown to (b), the organic electroluminescent layer 60 is formed and organic electroluminescent layer side board | substrate 100 'is formed. Next, as shown in FIG. 6C, the lid member 80 is disposed so that the lid member 80 is opposed to the organic EL layer side substrate 100 ′ under reduced pressure so that the lid member 80 contacts the top of the insulating layer 50. Thus, the space V between the organic EL layer side substrate 100 ′ and the lid member 80 is in a reduced pressure state. Thereafter, the outer peripheral space of the organic EL layer side substrate 100 ′ and the lid member 80 is pressurized so that the lid member 80 is brought into close contact with the organic EL layer side substrate 100 ′. Next, the organic EL layer 60 on the auxiliary electrode 40 is removed by the laser light L, and the lid member 80 is peeled off as shown in FIG. Finally, as shown in FIG. 6E, the auxiliary electrode 40 and the transparent electrode layer 70 were electrically connected at the contact portion by forming the transparent electrode layer 70 on the organic EL layer side substrate. This is a method for manufacturing the organic EL display device 100. By manufacturing an organic EL display device using the above-described method, it is possible to prevent the dust and the like of the organic EL layer removed by the laser light from being scattered to the pixel region, and to prevent deterioration in display characteristics. become.

そこで、本発明者らは、上述の方法を用いて製造された有機EL表示装置について種々検討を行った。その結果、本発明者らは、上述の方法を用いて製造された有機EL表示装置であっても、レーザー光が照射され、接触部が形成される領域と隣接する画素電極との間に形成された絶縁層の幅によっては、レーザー光の照射により除去された有機EL層の粉塵等が画素領域に飛散するのを十分に防ぐことができず、表示特性の低下を抑制することができないという課題を発見した。   Therefore, the present inventors have conducted various studies on the organic EL display device manufactured by using the above-described method. As a result, the present inventors have formed an organic EL display device manufactured using the above-described method between a region where a contact portion is formed by irradiation with laser light and an adjacent pixel electrode. Depending on the width of the insulating layer, it is not possible to sufficiently prevent the dust or the like of the organic EL layer that has been removed by the irradiation of the laser light from scattering into the pixel region, and it is not possible to suppress deterioration in display characteristics. I found a problem.

本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、接触部を形成するために、接触部を形成する領域と上記領域に隣接する画素電極との間の絶縁層に蓋材を接触させ、基板上に画素電極、補助電極、絶縁層および有機EL層が形成された有機EL層側基板と蓋材との間の空間を減圧状態にし、次いで蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間の圧力を調整して有機EL層側基板および蓋材を密着させ、その後、レーザー光を照射して、絶縁層の開口部より露出した上記補助電極を覆う上記有機層を除去する際に、レーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのを十分に防ぎ、表示特性の低下を抑制することを主目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and in order to form a contact portion, a cover material is brought into contact with an insulating layer between a region where the contact portion is formed and a pixel electrode adjacent to the region, The space between the organic EL layer side substrate on which the pixel electrode, the auxiliary electrode, the insulating layer, and the organic EL layer are formed on the substrate and the lid member is decompressed, and then the side of the lid member opposite to the organic EL layer side substrate When the organic EL layer side substrate and the lid material are brought into close contact with each other by adjusting the pressure of the space, and then the laser light is irradiated to remove the organic layer covering the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer The main object of the present invention is to sufficiently prevent the dust or the like of the organic layer removed by the laser light from scattering into the pixel region and to suppress the deterioration of display characteristics.

上記目的を達成するために、本発明は、基板と、上記基板上に形成された複数の画素電極と、上記画素電極の間に形成された補助電極と、上記画素電極のエッジ部分を覆うように隣接する上記画素電極の間に形成されており、上記補助電極が露出するように開口部を有する絶縁層と、上記画素電極上に形成され、複数の有機層から構成されており、少なくとも発光層を有する有機EL層と、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上に形成された少なくとも1層の上記有機層と、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上に形成された上記有機層の開口部である接触部と、上記有機EL層および上記接触部上に形成された透明電極層とを有し、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅が6μm以上であり、上記透明電極層は、上記補助電極と上記接触部で電気的に接続されていることを特徴とするトップエミッション型有機EL表示装置を提供する。   In order to achieve the above object, the present invention covers a substrate, a plurality of pixel electrodes formed on the substrate, an auxiliary electrode formed between the pixel electrodes, and an edge portion of the pixel electrode. Is formed between the pixel electrodes adjacent to each other and has an insulating layer having an opening so that the auxiliary electrode is exposed, and a plurality of organic layers formed on the pixel electrode. An organic EL layer having a layer, at least one organic layer formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer, and the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer. A contact portion which is an opening portion of the organic layer, and the organic EL layer and a transparent electrode layer formed on the contact portion, and between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion. The width of the insulating layer is 6 μm or more , And the above transparent electrode layer provides a top emission type organic EL display device characterized by being electrically connected with the auxiliary electrode and the contact portion.

本発明によれば、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層の幅が6μm以上であることにより、上記接触部を形成するために、接触部形成領域と上記接触部形成領域に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層に蓋材を接触させ、基板上に画素電極、補助電極、絶縁層および有機EL層が形成された上記有機EL層側基板と上記蓋材との間の空間を減圧状態にして有機EL層側基板と蓋材とを密着させ、その後、レーザー光を照射して、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極を覆う上記有機層を除去する際に、レーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのを十分に防ぎ、表示特性の低下を抑制することができる。   According to the present invention, when the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more, the contact portion formation region and the contact portion formation region are formed in order to form the contact portion. A lid material in contact with the insulating layer between the pixel electrodes adjacent to the organic EL layer side substrate, wherein the pixel electrode, auxiliary electrode, insulating layer and organic EL layer are formed on the substrate; and the lid material The space between the organic EL layer side substrate and the lid material is brought into close contact with each other under reduced pressure, and then the laser light is irradiated to remove the organic layer covering the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer. At this time, it is possible to sufficiently prevent the dust or the like of the organic layer removed by the laser light from scattering into the pixel region, and to suppress the deterioration of display characteristics.

本発明においては、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の高さをxとし、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間以外の上記絶縁層の高さのうち、最も高い高さをyとしたとき、y−x≦0.05μmであることが好ましい。高さxと高さyとの差が0.05μm以下であることにより、上記接触部を形成するために、接触部を形成する領域と上記領域に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層に蓋材を接触させ、基板上に画素電極、補助電極、絶縁層および有機EL層が形成された上記有機EL層側基板と上記蓋材との間の空間を減圧状態にして有機EL層側基板と蓋材とを密着させた際に、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層と蓋材とを十分に密着させることができる。したがって、接触部を形成する際にレーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのをより効果的に防ぎ、表示特性の低下を抑制することができる。   In the present invention, the height of the insulating layer between the contact part and the pixel electrode adjacent to the contact part is x, and the insulation other than between the contact part and the pixel electrode adjacent to the contact part is provided. It is preferable that y−x ≦ 0.05 μm, where y is the highest height of the layers. Since the difference between the height x and the height y is 0.05 μm or less, the insulating layer between the region where the contact portion is formed and the pixel electrode adjacent to the region is formed in order to form the contact portion. The lid material is brought into contact with the substrate, and the space between the organic EL layer side substrate on which the pixel electrode, auxiliary electrode, insulating layer and organic EL layer are formed on the substrate and the lid material is reduced in pressure, and the organic EL layer side When the substrate and the lid member are brought into close contact, the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion and the lid member can be sufficiently brought into close contact with each other. Therefore, it is possible to more effectively prevent dust or the like of the organic layer removed by the laser light when forming the contact portion from being scattered in the pixel region, and suppress deterioration in display characteristics.

本発明においては、少なくとも上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層上に突起構造物が形成されており、上記突起構造物の幅が6μm以上であることが好ましい。接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層上に突起構造物が形成されていることにより、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層の高さの自由度が増し、容易に高さを高くすることが可能になる。したがって、上記接触部を形成するために、接触部を形成する領域と上記領域に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層に蓋材を接触させ、基板上に画素電極、補助電極、絶縁層および有機EL層が形成された上記有機EL層側基板と上記蓋材との間の空間を減圧状態にする際に、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層と蓋材とを十分に密着させることができる。また、突起構造物の幅が6μm以上であることにより、接触部を形成する際にレーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのをより効果的に防ぎ、表示特性の低下を抑制することができる。   In the present invention, it is preferable that a protruding structure is formed on the insulating layer between at least the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion, and the width of the protruding structure is 6 μm or more. . Since the protrusion structure is formed on the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion, the degree of freedom in the height of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is increased. It becomes possible to increase the height easily. Therefore, in order to form the contact portion, a cover material is brought into contact with the insulating layer between the region where the contact portion is formed and the pixel electrode adjacent to the region, and the pixel electrode, the auxiliary electrode, and the insulating layer are formed on the substrate. When the space between the organic EL layer side substrate on which the organic EL layer is formed and the lid member is in a reduced pressure state, the insulating layer and the lid member between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion Can be sufficiently adhered. In addition, since the width of the protruding structure is 6 μm or more, the organic layer dust or the like removed by the laser beam when forming the contact portion is more effectively prevented from scattering into the pixel region, and the display characteristics are improved. The decrease can be suppressed.

本発明は、基板、上記基板上に形成された複数の画素電極、上記画素電極の間に形成された補助電極、上記画素電極のエッジ部分を覆うように隣接する上記画素電極の間に形成されており、上記補助電極が露出するように開口部を有する絶縁層、上記画素電極上に形成され、複数の有機層から構成されており、少なくとも発光層を有する有機EL層、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上に形成された少なくとも1層の上記有機層、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上に形成された上記有機層の開口部である接触部、ならびに上記有機EL層および上記接触部上に形成された透明電極層を有し、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅が6μm以上であり、上記透明電極層は、上記補助電極と上記接触部で電気的に接続されているトップエミッション型有機EL表示装置を製造するトップエミッション型有機EL表示装置の製造方法であって、上記基板、上記画素電極、上記補助電極、上記絶縁層、および上記有機EL層を有し、上記補助電極上の全面に少なくとも1層の上記有機層が形成された有機EL層側基板を準備する有機EL層側基板準備工程と、第1圧力下で、上記有機EL層側基板準備工程で得られた上記有機EL層側基板に蓋材を対向させ、上記絶縁層の頂部に上記蓋材が上記有機層を介して接触するように配置する配置工程と、上記蓋材の上記有機EL層側基板とは反対側の空間を上記第1圧力よりも高い第2圧力に調整して上記有機EL層側基板および上記蓋材を密着させる密着工程と、上記蓋材を介してレーザー光を照射して、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極を覆う上記有機層を除去して上記接触部を形成する接触部形成工程とを有することを特徴とするトップエミッション型有機EL表示装置の製造方法を提供する。   The present invention is formed between a substrate, a plurality of pixel electrodes formed on the substrate, an auxiliary electrode formed between the pixel electrodes, and the adjacent pixel electrodes so as to cover an edge portion of the pixel electrode. An insulating layer having an opening so that the auxiliary electrode is exposed; an organic EL layer formed on the pixel electrode and composed of a plurality of organic layers, having at least a light emitting layer; and an opening in the insulating layer At least one layer of the organic layer formed on the auxiliary electrode exposed from the portion, the contact portion being the opening portion of the organic layer formed on the auxiliary electrode exposed from the opening portion of the insulating layer, and the above A transparent electrode layer formed on the organic EL layer and the contact portion, wherein the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more, and the transparent electrode layer The above supplement A method of manufacturing a top emission type organic EL display device for manufacturing a top emission type organic EL display device electrically connected to an electrode at the contact portion, the substrate, the pixel electrode, the auxiliary electrode, and the insulation An organic EL layer side substrate preparing step of preparing an organic EL layer side substrate having a layer and the organic EL layer, wherein at least one organic layer is formed on the entire surface of the auxiliary electrode; Then, the organic EL layer side substrate obtained in the organic EL layer side substrate preparation step is opposed to the organic EL layer side substrate, and is arranged so that the lid material contacts the top of the insulating layer via the organic layer. A step of adhering the organic EL layer side substrate and the lid material by adjusting the space of the lid material opposite to the organic EL layer side substrate to a second pressure higher than the first pressure; Through the lid And a contact part forming step of forming the contact part by removing the organic layer covering the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer by irradiating a laser beam. A method for manufacturing an EL display device is provided.

本発明は、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅が6μm以上であることにより、接触部形成工程の際にレーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのをより効果的に防ぎ、表示特性の低下を抑制することが可能なトップエミッション型有機EL表示装置を得ることができる。   In the present invention, since the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more, the dust of the organic layer removed by the laser beam during the contact portion forming step And the like can be more effectively prevented from scattering into the pixel region, and a top emission type organic EL display device capable of suppressing deterioration in display characteristics can be obtained.

本発明においては、接触部を形成するために、第1圧力下にて、接触部を形成する領域と上記領域に隣接する画素電極の間の絶縁層に蓋材を接触させ、基板上に画素電極、補助電極、絶縁層および有機EL層が形成された有機EL層側基板と蓋材との間の空間を減圧状態にし、次いで蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間を第2圧力に調整して有機EL層側基板および蓋材を密着させ、その後、レーザー光を照射して、絶縁層の開口部より露出した上記補助電極を覆う上記有機層を除去する際に、レーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのを十分に防ぐことができ、表示特性の低下を抑制することができるという効果を奏する。   In the present invention, in order to form the contact portion, a cover material is brought into contact with the insulating layer between the region where the contact portion is formed and the pixel electrode adjacent to the region under the first pressure, and the pixel is formed on the substrate. The space between the organic EL layer side substrate on which the electrode, the auxiliary electrode, the insulating layer, and the organic EL layer are formed and the lid is reduced in pressure, and then the space on the opposite side of the lid from the organic EL layer side substrate is the first. The pressure is adjusted to 2 pressure so that the organic EL layer side substrate and the cover are brought into close contact with each other, and then laser is irradiated to remove the organic layer covering the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer. It is possible to sufficiently prevent dust or the like of the organic layer removed by light from being scattered in the pixel region, and to suppress the deterioration of display characteristics.

なお、上記「第1圧力」および上記「第2圧力」とは、第1圧力が第2圧力よりも低い圧力であれば特に限定されるものではない。また、有機EL層側基板の表面に蓋材を配置したときの上記有機EL層側基板および上記蓋材の間の空間の圧力を第1圧力に調整し、さらに上記蓋材の上記有機EL層側基板とは反対側の空間の圧力を第2圧力に調整した際に、上記有機EL層側基板および上記蓋材の間の圧力と上記蓋材の上記有機EL層側基板とは反対側の空間の圧力との差圧により、上記有機EL層側基板および上記蓋材を密着させることができる程度の圧力であれば特に限定されるものではない。なお、通常は、上記「第1圧力」が常圧よりも低い圧力となり、上記「第2圧力」が上記「第1圧力」よりも高い圧力となる。また、上記「第1圧力」については、後述する「B.有機EL表示装置の製造方法」の項に記載するため、ここでの説明は省略する。   The “first pressure” and the “second pressure” are not particularly limited as long as the first pressure is lower than the second pressure. Further, the pressure of the space between the organic EL layer side substrate and the lid material when the lid material is disposed on the surface of the organic EL layer side substrate is adjusted to a first pressure, and the organic EL layer of the lid material is further adjusted. When the pressure in the space on the opposite side of the side substrate is adjusted to the second pressure, the pressure between the organic EL layer side substrate and the lid material and the side of the lid material opposite to the organic EL layer side substrate The pressure is not particularly limited as long as the pressure is such that the organic EL layer side substrate and the lid member can be brought into close contact with each other by the differential pressure from the space pressure. Normally, the “first pressure” is lower than the normal pressure, and the “second pressure” is higher than the “first pressure”. Further, since the “first pressure” is described in the section “B. Manufacturing method of organic EL display device” described later, description thereof is omitted here.

本発明のトップエミッション型有機EL表示装置の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the top emission type organic electroluminescence display of this invention. 本発明におけるトップエミッション型有機EL表示装置の製造方法の一例を示す工程図である。It is process drawing which shows an example of the manufacturing method of the top emission type organic electroluminescent display apparatus in this invention. 本発明における接触部を説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining the contact part in this invention. 本発明のトップエミッション型有機EL表示装置の他の例を示す概略図である。It is the schematic which shows the other example of the top emission type organic electroluminescence display of this invention. 実施例2の結果を示すグラフである。10 is a graph showing the results of Example 2. 従来のトップエミッション型有機EL表示装置の製造方法の一例を示す工程図である。It is process drawing which shows an example of the manufacturing method of the conventional top emission type organic electroluminescence display. 本発明のトップエミッション型有機EL表示装置の他の例を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows the other example of the top emission type organic electroluminescence display of this invention.

以下、本発明のトップエミッション型有機EL表示装置、およびその製造方法について詳細に説明する。なお、以下、トップエミッション型有機EL表示装置を有機EL表示装置と略す場合がある。   Hereinafter, the top emission type organic EL display device of the present invention and the manufacturing method thereof will be described in detail. Hereinafter, the top emission type organic EL display device may be abbreviated as an organic EL display device.

A.有機EL表示装置
本発明の有機EL表示装置は、基板と、上記基板上に形成された複数の画素電極と、上記画素電極の間に形成された補助電極と、上記画素電極のエッジ部分を覆うように隣接する上記画素電極の間に形成されており、上記補助電極が露出するように開口部を有する絶縁層と、上記画素電極上に形成され、複数の有機層から構成されており、少なくとも発光層を有する有機EL層と、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上に形成された少なくとも1層の上記有機層と、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上に形成された上記有機層の開口部である接触部と、上記有機EL層および上記接触部上に形成された透明電極層とを有し、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅が6μm以上であり、上記透明電極層は、上記補助電極と上記接触部で電気的に接続されていることを特徴とするものである。
A. Organic EL Display Device The organic EL display device of the present invention covers a substrate, a plurality of pixel electrodes formed on the substrate, an auxiliary electrode formed between the pixel electrodes, and an edge portion of the pixel electrode. Formed between the pixel electrodes adjacent to each other, and has an insulating layer having an opening so that the auxiliary electrode is exposed, and a plurality of organic layers formed on the pixel electrode. An organic EL layer having a light emitting layer; at least one organic layer formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer; and formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer A contact portion that is an opening of the organic layer, and a transparent electrode layer formed on the organic EL layer and the contact portion, between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion. The width of the insulating layer Is 6 μm or more, and the transparent electrode layer is electrically connected to the auxiliary electrode at the contact portion.

図1(a)〜(d)は、本発明の有機EL表示装置の一例を示す概略図である。図1(b)は図1(a)のA−A線断面図であり、図1(c)は図1(a)のB−B線断面図である。本発明の有機EL表示装置10は、図1(a)〜(c)に例示するように、次のような構成を有するものである。すなわち、基板2上に複数の画素電極3を有し、上記画素電極3の間には補助電極4を有する。また、上記画素電極3のエッジ部分を覆うように隣接する上記画素電極3の間に絶縁層5を有する。なお、上記絶縁層5には、上記補助電極4が露出するように開口部が形成されている。さらに、上記画素電極3上に、複数の有機層から構成されており、少なくとも発光層を有する有機EL層6を有する。なお、上記絶縁層5に形成された開口部より露出した上記補助電極4には少なくとも1層の上記有機層を有し、上記少なくとも1層の有機層には、接触部9となる開口部が形成されている。また、上記有機EL層6および上記接触部9上に透明電極層7を有し、上記透明電極層7は上記接触部9にて上記補助電極4と電気的に接続されている。ここで、本発明の有機EL表示装置10においては、図1(a)、(b)に例示するように、上記接触部9および上記接触部9に隣接する上記画素電極3の間の上記絶縁層5の幅wは6μm以上である。なお、図1(d)についての説明は後述するため、ここでの記載は省略する。また、図1(a)および(d)は、説明の簡単のため、図1(b)および(c)に対して有機EL層および透明電極層を省略したものである。さらに、図1(a)〜(d)は、説明の簡単のため、TFT、配線電極および平坦化層等のアクティブマトリクス駆動回路を省略したものである。   1A to 1D are schematic views showing an example of the organic EL display device of the present invention. 1B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1A, and FIG. 1C is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. As illustrated in FIGS. 1A to 1C, the organic EL display device 10 of the present invention has the following configuration. That is, a plurality of pixel electrodes 3 are provided on the substrate 2, and auxiliary electrodes 4 are provided between the pixel electrodes 3. An insulating layer 5 is provided between the adjacent pixel electrodes 3 so as to cover the edge portion of the pixel electrode 3. The insulating layer 5 has an opening so that the auxiliary electrode 4 is exposed. Further, the pixel electrode 3 includes an organic EL layer 6 made of a plurality of organic layers and having at least a light emitting layer. The auxiliary electrode 4 exposed from the opening formed in the insulating layer 5 has at least one organic layer, and the at least one organic layer has an opening serving as a contact portion 9. Is formed. Moreover, the transparent electrode layer 7 is provided on the organic EL layer 6 and the contact portion 9, and the transparent electrode layer 7 is electrically connected to the auxiliary electrode 4 at the contact portion 9. Here, in the organic EL display device 10 of the present invention, as illustrated in FIGS. 1A and 1B, the insulation between the contact portion 9 and the pixel electrode 3 adjacent to the contact portion 9. The width w of the layer 5 is 6 μm or more. Note that the description of FIG. 1D will be described later, so the description thereof is omitted here. FIGS. 1A and 1D are obtained by omitting the organic EL layer and the transparent electrode layer from FIGS. 1B and 1C for the sake of simplicity. Further, FIGS. 1A to 1D omit an active matrix driving circuit such as a TFT, a wiring electrode, and a planarizing layer for the sake of simplicity.

本発明においては、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層の幅が6μm以上であることにより、例えば、次のような方法により有機EL表示装置を製造した際に表示特性の低下を抑制することができるという効果を奏する。以下、本発明における有機EL表示装置の製造方法について説明する。   In the present invention, when the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more, for example, when an organic EL display device is manufactured by the following method, display characteristics are improved. There exists an effect that a fall can be controlled. Hereinafter, a method for manufacturing an organic EL display device according to the present invention will be described.

図2(a)〜(f)は本発明における有機EL表示装置の製造方法の一例を示す工程図である。また、図2(a)〜(f)は、図1(a)のA−A線断面図である図1(b)と同様の位置から観察した場合の概略断面図である。まず、図2(a)に例示するように、基板2上に画素電極3および上記画素電極3間に補助電極4を形成する画素電極および補助電極形成工程を行う。次に、図2(b)に例示するように、上記画素電極3のエッジ部分を覆い、かつ上記補助電極4が露出するように開口部を有する絶縁層5を形成する絶縁層形成工程を行う。その後、図2(c)に例示するように、複数の有機層から構成され、少なくとも発光層を有する有機EL層6を上記画素電極3上に形成する有機EL層形成工程を行う。なお、有機EL層形成工程では、有機EL層6を形成するとともに、上記有機EL層6を構成する少なくとも1層の上記有機層が、上記絶縁層5の開口部より露出した上記補助電極4を覆うように形成される。このようにして、有機EL層側基板1を準備する有機EL層側基板準備工程を行う。次いで、図2(d)に例示するように、第1圧力下で、有機EL層側基板1に蓋材8を対向させ、上記絶縁層5の頂部に上記蓋材8が上記有機EL層6を介して接触するように配置する配置工程を行う。このとき、有機EL層側基板1および上記蓋材8の間の空間Vは減圧状態になる。その後、上記蓋材8の有機EL層側基板1とは反対側の空間P1を第1圧力よりも高い第2圧力に調整して上記有機EL層側基板1および上記蓋材8を密着させる密着工程を行う。次に、上記蓋材8を介してレーザー光Lを照射して、図2(e)に例示するように、上記絶縁層5の開口部より露出した上記補助電極4を覆う上記有機EL層6を除去し、上記補助電極4を露出させて接触部9を形成する接触部形成工程を行う。最後に、図2(f)に例示するように、上記接触部9において露出した上記補助電極4に電気的に接続されるように、上記有機EL層側基板上に透明電極層7を形成する透明電極層形成工程を行う。これにより、本発明における有機EL表示装置10が得られる。なお、ここでの「絶縁層の頂部」とは、図1(b)に例示するように絶縁層5の縦断面形状が台形である場合には、絶縁層5の上底面を指し、絶縁層の縦断面形状が台形以外の形状である場合には、絶縁層の頂点部分を指す。   2A to 2F are process diagrams showing an example of a method for manufacturing an organic EL display device according to the present invention. 2 (a) to 2 (f) are schematic cross-sectional views when observed from the same position as FIG. 1 (b), which is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 1 (a). First, as illustrated in FIG. 2A, a pixel electrode and auxiliary electrode forming step for forming the pixel electrode 3 on the substrate 2 and the auxiliary electrode 4 between the pixel electrodes 3 is performed. Next, as illustrated in FIG. 2B, an insulating layer forming step is performed in which an insulating layer 5 is formed so as to cover the edge portion of the pixel electrode 3 and have an opening so that the auxiliary electrode 4 is exposed. . Thereafter, as illustrated in FIG. 2C, an organic EL layer forming step of forming an organic EL layer 6 including a plurality of organic layers and having at least a light emitting layer on the pixel electrode 3 is performed. In the organic EL layer forming step, the organic EL layer 6 is formed, and at least one of the organic layers constituting the organic EL layer 6 is exposed to the auxiliary electrode 4 exposed from the opening of the insulating layer 5. It is formed to cover. In this way, an organic EL layer side substrate preparation step for preparing the organic EL layer side substrate 1 is performed. Next, as illustrated in FIG. 2D, the lid 8 is opposed to the organic EL layer side substrate 1 under the first pressure, and the lid 8 is placed on the top of the insulating layer 5. An arrangement step of arranging so as to be in contact with each other is performed. At this time, the space V between the organic EL layer side substrate 1 and the lid member 8 is in a reduced pressure state. Thereafter, the space P1 on the opposite side of the lid 8 from the organic EL layer side substrate 1 is adjusted to a second pressure higher than the first pressure to bring the organic EL layer side substrate 1 and the lid 8 into close contact. Perform the process. Next, the organic EL layer 6 that covers the auxiliary electrode 4 exposed from the opening of the insulating layer 5 is irradiated with the laser light L through the lid member 8 and illustrated in FIG. Then, a contact part forming step is performed in which the auxiliary electrode 4 is exposed to form the contact part 9. Finally, as illustrated in FIG. 2F, the transparent electrode layer 7 is formed on the organic EL layer side substrate so as to be electrically connected to the auxiliary electrode 4 exposed at the contact portion 9. A transparent electrode layer forming step is performed. Thereby, the organic EL display device 10 according to the present invention is obtained. Here, the “top portion of the insulating layer” refers to the upper bottom surface of the insulating layer 5 when the vertical cross-sectional shape of the insulating layer 5 is a trapezoid as illustrated in FIG. When the vertical cross-sectional shape is a shape other than the trapezoid, it indicates the apex portion of the insulating layer.

上述のような製造方法により本発明の有機EL表示装置を製造する場合、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層の幅が6μm以上であることにより、上記接触部形成工程において、レーザー光により除去された有機層の粉塵等が隣接する画素領域に飛散するのを十分に防ぐことができるため、表示特性の低下を抑制することができる。この理由については、次のようなことが考えられる。すなわち、本発明の有機EL表示装置において、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層の幅が6μm以上であるということは、レーザー光を照射して有機層を除去することにより形成される接触部と近傍の画素領域との間に6μm以上の幅を有する隔壁が形成されていることを指す。そのため、上述のような製造方法により本発明の有機EL表示装置を製造する場合には、幅が6μm以上の上記絶縁層により、接触部形成工程においてレーザー光により除去された有機層の粉塵等が近傍の画素領域に飛散するのを十分に防ぎ、表示特性の低下を抑制することができるものと推量される。   When the organic EL display device of the present invention is manufactured by the manufacturing method as described above, the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more. Since it is possible to sufficiently prevent the dust or the like of the organic layer removed by the laser light from being scattered in the adjacent pixel region, it is possible to suppress deterioration in display characteristics. About this reason, the following can be considered. That is, in the organic EL display device of the present invention, the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more, by irradiating laser light to remove the organic layer. It means that a partition wall having a width of 6 μm or more is formed between the contact portion to be formed and a neighboring pixel region. Therefore, when the organic EL display device of the present invention is manufactured by the manufacturing method as described above, dust or the like of the organic layer removed by the laser beam in the contact portion forming step is formed by the insulating layer having a width of 6 μm or more. It is presumed that it is possible to sufficiently prevent scattering in the neighboring pixel region and to suppress deterioration in display characteristics.

ここで、本発明において「画素電極のエッジ部分」とは、画素電極表面の平坦方向とは略垂直の基板内部方向に形成された画素電極の側面部分を指す。   Here, in the present invention, the “edge portion of the pixel electrode” refers to a side surface portion of the pixel electrode formed in the substrate internal direction substantially perpendicular to the flat direction of the pixel electrode surface.

また、本発明において「絶縁層の開口部より露出した補助電極上に形成された少なくとも1層の有機層」とは、例えば図2(c)に例示するように、有機EL層6を構成する全ての層が、絶縁層5の開口部より露出した補助電極4上に形成された態様、また、この他にも、仮に有機EL層が、正孔注入層、正孔輸送層、発光層および電子注入層の4層から構成されている場合においては、上記4層のうち3層が画素電極上にパターン状に形成され、残りの1層が画素電極上および絶縁層の開口部より露出した補助電極上に形成されている態様や、上記4層のうち2層が画素電極上に形成され、残りの2層が画素電極上および絶縁層の開口部より露出した補助電極上に形成されている態様や、さらには上記4層のうち1層が画素電極上に形成され、残りの3層が画素電極上および絶縁層の開口部より露出した補助電極上に形成されている態様等を含む。   In the present invention, the “at least one organic layer formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer” constitutes the organic EL layer 6 as illustrated in FIG. 2C, for example. A mode in which all the layers are formed on the auxiliary electrode 4 exposed from the opening of the insulating layer 5, and in addition to this, the organic EL layer is assumed to be a hole injection layer, a hole transport layer, a light emitting layer, and When the electron injection layer is composed of four layers, three of the four layers are formed in a pattern on the pixel electrode, and the remaining one layer is exposed on the pixel electrode and the opening of the insulating layer. The aspect formed on the auxiliary electrode, or two of the four layers are formed on the pixel electrode, and the remaining two layers are formed on the pixel electrode and the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer. And one of the four layers is formed on the pixel electrode. Includes aspects remaining three layers are formed on the auxiliary electrode exposed from the opening on the pixel electrode and the insulating layer or the like.

さらに、本発明において「上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅」とは、例えば図1(d)に示す領域rのように、補助電極4が露出するように絶縁層5に形成された開口部内にて、少なくとも1層の有機層が除去されて形成される接触部9と、上記接触部9に対向する画素電極3との間の絶縁層5において、図1(a)、(b)に例示するように、絶縁層5の補助電極4側の端部から対向する画素電極3側の端部までの距離wを指す。ここで、図1(d)は、図1(a)における領域Rを拡大した拡大図であり、図1(d)において説明していない符号については図1(a)と同様とすることができるため、ここでの記載は省略する。 Furthermore, in the present invention, “the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion” means that the auxiliary electrode 4 is exposed as in a region r shown in FIG. Thus, in the opening formed in the insulating layer 5, the insulating layer 5 between the contact portion 9 formed by removing at least one organic layer and the pixel electrode 3 facing the contact portion 9. 1A and 1B, the distance w 1 from the end on the auxiliary electrode 4 side of the insulating layer 5 to the end on the opposing pixel electrode 3 side is indicated. Here, FIG. 1 (d) is an enlarged view of the region R in FIG. 1 (a), and reference numerals not described in FIG. 1 (d) may be the same as those in FIG. 1 (a). Since it is possible, description here is abbreviate | omitted.

以下、本発明の有機EL表示装置の各構成について説明する。   Hereinafter, each configuration of the organic EL display device of the present invention will be described.

1.絶縁層
本発明における絶縁層は、上記画素電極のエッジ部分を覆うように隣接する上記画素電極の間に形成されており、上記補助電極が露出するように開口部を有するものである。また、後述する接触部および接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層は幅が6μm以上である。
1. Insulating layer The insulating layer in the present invention is formed between adjacent pixel electrodes so as to cover the edge portion of the pixel electrode, and has an opening so that the auxiliary electrode is exposed. Further, the width of the insulating layer between the contact portion described later and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more.

上記絶縁層の平面形状は、上記画素電極のエッジ部分を覆うように上記画素電極の間に形成されるものであるため、画素電極の配列に応じて適宜形成される。例えば格子状に形成することができる。なお、絶縁層により画素が画定される。   Since the planar shape of the insulating layer is formed between the pixel electrodes so as to cover the edge portion of the pixel electrode, it is appropriately formed according to the arrangement of the pixel electrodes. For example, it can be formed in a lattice shape. Note that a pixel is defined by the insulating layer.

本発明における絶縁層の縦断面形状としては、本発明における絶縁層としての機能を発揮することが可能な形状であれば特に限定されるものではないが、例えば、順テーパー形状、逆テーパー形状、矩形等が挙げられるが、中でも、順テーパー形状であることが好ましい。後述する透明電極層を全面に均一に形成することができ、十分な導通を得ることができるからである。   The longitudinal sectional shape of the insulating layer in the present invention is not particularly limited as long as it is a shape capable of exhibiting the function as the insulating layer in the present invention. For example, a forward tapered shape, a reverse tapered shape, Although a rectangle etc. are mentioned, it is preferable that it is a forward taper shape especially. This is because a transparent electrode layer, which will be described later, can be uniformly formed on the entire surface, and sufficient conduction can be obtained.

本発明における絶縁層は、後述する接触部および接触部に隣接する上記画素電極の間の幅が6μm以上である。中でも8μm以上であることが好ましく、特に10μm以上であることが好ましい。後述する接触部および接触部に隣接する上記画素電極の間の絶縁層の幅が6μm以上であることにより、レーザー光を照射して有機層を除去することにより形成される接触部と近傍の画素領域との間に6μm以上の幅を有する隔壁が形成されることになる。そのため、図2(a)〜(f)に例示するような製造方法により本発明の有機EL表示装置を製造する場合には、上記絶縁層5によりレーザー光Lにより除去された有機層の粉塵等が近傍の画素領域に飛散するのを十分に防ぎ、表示特性の低下を抑制することができる。また、上記絶縁層における接触部および接触部に隣接する上記画素電極の間の幅の上限としては、本発明の有機EL表示装置の表示特性に悪影響を及ぼさない程度であれば特に限定されるものではないが、一般的には画素領域の1/3程度の大きさであれば良く、具体的には40μm以下であることが好ましい。なお、「接触部および接触部に隣接する上記画素電極の間の絶縁層の幅が6μm以上である」とは、図1(a)、(b)に示す距離wが、図1(d)に示す領域rのいずれの箇所においても6μm以上であることを指す。また、上記「画素領域の1/3程度の大きさ」とは、図1(a)に示す画素領域の幅pの1/3程度の大きさを指す。 In the insulating layer according to the present invention, a width between a contact portion described later and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more. Among them, the thickness is preferably 8 μm or more, and particularly preferably 10 μm or more. A contact portion and a neighboring pixel formed by removing the organic layer by irradiating a laser beam when the width of the insulating layer between the contact portion described later and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more. A partition wall having a width of 6 μm or more is formed between the regions. Therefore, when the organic EL display device of the present invention is manufactured by the manufacturing method illustrated in FIGS. 2A to 2F, the dust of the organic layer removed by the laser light L by the insulating layer 5 or the like. Can be sufficiently prevented from being scattered in the vicinity of the pixel region, and deterioration of display characteristics can be suppressed. Further, the upper limit of the width between the contact portion in the insulating layer and the pixel electrode adjacent to the contact portion is particularly limited as long as it does not adversely affect the display characteristics of the organic EL display device of the present invention. However, in general, the size may be about 1/3 of the pixel region, and specifically, it is preferably 40 μm or less. Note that “the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more” means that the distance w 1 shown in FIGS. 1A and 1B corresponds to FIG. ) Indicates that it is 6 μm or more in any part of the region r shown in FIG. Further, the “size of about 1/3 of the pixel region” refers to a size of about 1/3 of the width p of the pixel region shown in FIG.

上記絶縁層の高さとしては、後述する接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層の高さをxとし、接触部および接触部に隣接する画素電極の間以外の絶縁層の高さのうち、最も高い高さをyとしたとき、以下の式(1)が成り立つことが好ましい。
y−x≦0.05μm (1)
本発明においては、絶縁層の高さyと高さxとの差が0.05μm以下であることが好ましいが、中でも絶縁層の高さyと高さxとの差が0.00μm以下であることが好ましく、特に絶縁層の高さyと高さxとの差が−1.00μm以下であることが好ましい。このように、絶縁層の高さxおよび高さyとしては、x>yの関係を満たすことが最も好ましい。絶縁層の高さxおよび高さyが上述の条件を満たすことにより、図2(d)に例示するように、有機EL層側基板1と蓋材8とを接触させた際に、接触部を形成するためにレーザー光Lを照射する領域および上記領域に対向する画素電極3の間の絶縁層5と蓋材8とを十分に密着させることができる。このように、レーザー光を照射して接触部を形成する領域の両端の絶縁層と蓋材との密着性が向上することにより、レーザー光の照射により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのを効果的に防ぐことができ、表示特性の低下を抑制することができる。
As the height of the insulating layer, x is the height of the insulating layer between a contact portion and a pixel electrode adjacent to the contact portion, which will be described later, and the insulating layer other than between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion. Of the heights, it is preferable that the following formula (1) is satisfied, where y is the highest height.
y−x ≦ 0.05 μm (1)
In the present invention, the difference between the height y and the height x of the insulating layer is preferably 0.05 μm or less, but the difference between the height y and the height x of the insulating layer is 0.00 μm or less. In particular, the difference between the height y and the height x of the insulating layer is preferably −1.00 μm or less. Thus, it is most preferable that the height x and the height y of the insulating layer satisfy the relationship x> y. When the height x and height y of the insulating layer satisfy the above-described conditions, as shown in FIG. 2D, when the organic EL layer side substrate 1 and the lid member 8 are brought into contact with each other, the contact portion The insulating layer 5 and the lid member 8 between the region to which the laser light L is irradiated and the pixel electrode 3 facing the region can be sufficiently adhered to each other. In this way, the adhesion between the insulating layer at both ends of the region where the contact portion is formed by irradiating the laser beam and the lid material is improved, so that the dust or the like of the organic layer removed by the laser beam irradiation is the pixel region. Can be effectively prevented from being scattered, and a reduction in display characteristics can be suppressed.

ここで、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層の高さxとは、図1(d)に示すように、補助電極4が露出するように絶縁層5に形成された開口部内にて、少なくとも1層の有機層が除去されて形成される接触部9と、上記接触部9に対向する画素電極3との間の領域rにおいて、絶縁層5に覆われた画素電極3の表面から上記絶縁層5の頂部までの高さのうち、高さが最も低い箇所の高さを指す。また、接触部および接触部に隣接する画素電極の間以外の絶縁層の高さのうち、最も高い高さyとは、図1(d)に示す上記領域r以外の領域において、絶縁層5に覆われた画素電極3の表面から上記絶縁層5の頂部までの高さのうち、最も高い箇所の高さを指す。ここで、高さxとは図1(b)に示す距離xを指し、高さyとは図1(c)に示す距離yを指す。   Here, the height x of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is formed in the insulating layer 5 so that the auxiliary electrode 4 is exposed as shown in FIG. A pixel electrode covered with an insulating layer 5 in a region r between the contact portion 9 formed by removing at least one organic layer in the opening and the pixel electrode 3 facing the contact portion 9 Among the heights from the surface of 3 to the top of the insulating layer 5, the height of the lowest point is indicated. Of the height of the insulating layer other than between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion, the highest height y is the insulating layer 5 in a region other than the region r shown in FIG. Among the heights from the surface of the pixel electrode 3 covered with the top to the top of the insulating layer 5, the height of the highest portion is indicated. Here, the height x indicates the distance x shown in FIG. 1B, and the height y indicates the distance y shown in FIG. 1C.

また、絶縁層の高さx、yについては、任意の接触部を中心とする半径0.5mmの領域内において、上記式(1)が成り立つことが好ましく、中でも、任意の接触部を中心とする半径5mmの領域内、特に、任意の接触部を中心とする半径50mmの領域内において、上記式(1)が成り立つことが好ましい。一般にガラスや樹脂等の基板にはうねりがあることから、有機EL表示装置全体では上記式(1)が成り立たない場合があるが、上記の領域内において上記式(1)が成り立っていれば上記の効果を十分に得ることができる。すなわち、上記の効果を得るには、有機EL表示装置全体において上記式(1)が成り立つ必要はなく、上記の領域内において上記式(1)が成り立っていればよい。   As for the heights x and y of the insulating layer, it is preferable that the above formula (1) is satisfied in a region having a radius of 0.5 mm centering on an arbitrary contact portion. In the region having a radius of 5 mm, particularly in the region having a radius of 50 mm centered on an arbitrary contact portion, the above formula (1) is preferably satisfied. In general, since the substrate such as glass or resin has undulation, the above-described formula (1) may not be satisfied in the whole organic EL display device. However, if the above-described formula (1) is satisfied in the above-described region, The effect of can be sufficiently obtained. That is, in order to obtain the above effect, the above formula (1) does not need to be satisfied in the entire organic EL display device, and the above formula (1) only needs to be satisfied in the above region.

ここで、任意の接触部を中心とする半径が所定の範囲である領域は、接触部の形態に応じて異なる。例えば図7(a)に示すように接触部9がドット状に形成されている場合には、上記領域は、ドット状の接触部9の中心点を中心とする所定の半径の領域とすることができる。また、例えば図7(b)に示すように接触部9がストライプ状に形成されている場合には、上記領域は、ストライプ状の接触部9の中心線上に位置する任意の点を中心とする所定の半径の領域とすることができる。この場合、ストライプ状の接触部9の中心線上に位置する任意の点を中心とする所定の半径の領域内の全てで、上記式(1)が成り立つことが好ましい。
なお、図7(a)、(b)において、6aは画素電極3上だけでなく補助電極4上にも形成されている少なくとも1層の有機層であり、説明を容易にするため、絶縁層、有機EL層および透明電極層は省略しており、また画素電極3は破線、補助電極4は一点鎖線で示している。
Here, the region in which the radius centered on an arbitrary contact portion is within a predetermined range varies depending on the form of the contact portion. For example, when the contact portion 9 is formed in a dot shape as shown in FIG. 7A, the region is a region having a predetermined radius centered on the center point of the dot-like contact portion 9. Can do. For example, when the contact portion 9 is formed in a stripe shape as shown in FIG. 7B, the region is centered on an arbitrary point located on the center line of the stripe contact portion 9. A region having a predetermined radius may be used. In this case, it is preferable that the above formula (1) is satisfied in all regions within a predetermined radius centering on an arbitrary point located on the center line of the striped contact portion 9.
In FIGS. 7A and 7B, reference numeral 6a denotes at least one organic layer formed not only on the pixel electrode 3 but also on the auxiliary electrode 4. For ease of explanation, an insulating layer 6a is used. The organic EL layer and the transparent electrode layer are omitted, the pixel electrode 3 is indicated by a broken line, and the auxiliary electrode 4 is indicated by an alternate long and short dash line.

このような絶縁層の高さとしては、上述した条件を満たし、例えば図2(a)〜(f)に例示する製造方法により本発明の有機EL表示装置を製造する場合であって、図2(d)に例示するように、有機EL層側基板1および蓋材8を対向させた場合に、絶縁層の頂部と蓋材とが接触するように配置することができる程度であれば特に限定されるものではないが、例えば、1.2μm以上であることが好ましく、中でも2μm以上であることが好ましく、特に3μm以上であることが好ましい。絶縁層の高さが上記数値以上であることにより、図2(d)に例示するように、第1圧力下にて有機EL層側基板1と蓋材8とを対向させて接触させ、その後、蓋材8の有機EL層側基板1とは反対側の空間P1を第2圧力に調整して有機EL層側基板1および蓋材8を密着させた際に、蓋材8が撓んで画素電極3上に形成された有機EL層6に接触し、有機EL表示装置の表示特性に悪影響を及ぼすという問題を防ぐことができる。また、有機EL層側基板と蓋材との間の空間を十分に確保することができるため、上記空間に僅かに気体が浸入した場合であっても、有機EL層側基板と蓋材との間の空間の真空度が急激に低下するのを抑制することができる。さらに、絶縁層の高さの上限としては、本発明の有機EL表示装置の表示特性に悪影響を及ぼさない程度の高さであれば特に限定されるものではないが、例えば、30μm以下であることが好ましく、中でも15μm以下であることが好ましく、特に10μm以下であることが好ましい。絶縁層の高さが上記数値以下であることにより、本発明の有機EL表示装置表面に封止基板を配置した際に、上記有機EL表示装置および上記封止基板の間の空間の体積が大きくなるのを防止することができる。これにより、上記空間に封止材を充填する際に用いられる封止材の量の増加を防いでコストの増大を防止することができるとともに、透過率の低下も防ぐことができる。また、上記有機EL表示装置の厚みが厚くなる等の不具合も防止することができる。   The height of such an insulating layer satisfies the above-described conditions, and is a case where the organic EL display device of the present invention is manufactured by the manufacturing method illustrated in FIGS. 2A to 2F, for example. As illustrated in (d), when the organic EL layer side substrate 1 and the lid member 8 are opposed to each other, as long as the top of the insulating layer and the lid member can be disposed so as to be in contact with each other, it is particularly limited. For example, it is preferably 1.2 μm or more, more preferably 2 μm or more, and particularly preferably 3 μm or more. When the height of the insulating layer is equal to or higher than the above numerical value, as illustrated in FIG. 2D, the organic EL layer side substrate 1 and the lid member 8 are brought into contact with each other under the first pressure, and thereafter When the space P1 of the lid 8 opposite to the organic EL layer side substrate 1 is adjusted to the second pressure and the organic EL layer side substrate 1 and the lid 8 are brought into close contact with each other, the lid 8 is bent and the pixels The problem of contacting the organic EL layer 6 formed on the electrode 3 and adversely affecting the display characteristics of the organic EL display device can be prevented. In addition, since a sufficient space between the organic EL layer side substrate and the lid material can be secured, even if a slight amount of gas enters the space, the organic EL layer side substrate and the lid material It can suppress that the vacuum degree of the space between falls rapidly. Furthermore, the upper limit of the height of the insulating layer is not particularly limited as long as it is a height that does not adversely affect the display characteristics of the organic EL display device of the present invention, but it is, for example, 30 μm or less. Among them, it is preferable that it is 15 micrometers or less, and it is especially preferable that it is 10 micrometers or less. When the height of the insulating layer is not more than the above numerical value, when the sealing substrate is disposed on the surface of the organic EL display device of the present invention, the volume of the space between the organic EL display device and the sealing substrate is large. Can be prevented. Thereby, it is possible to prevent an increase in cost by preventing an increase in the amount of the sealing material used when the space is filled with the sealing material, and to prevent a decrease in transmittance. In addition, problems such as an increase in the thickness of the organic EL display device can be prevented.

また、絶縁層において、補助電極が露出するように形成される開口部の数としては、補助電極と透明電極とを電気的に接続する接触部の数に応じて適宜調整されるものであり、特に限定されるものではない。   In the insulating layer, the number of openings formed so that the auxiliary electrode is exposed is appropriately adjusted according to the number of contact portions that electrically connect the auxiliary electrode and the transparent electrode, It is not particularly limited.

また、絶縁層に形成される開口部の大きさについても、後述する接触部の大きさや接触部の数に応じて適宜調整されるものであり、特に限定されるものではない。具体的な絶縁層の開口部の大きさとしては、補助電極の幅方向または長さ方向に10μm以上であることが好ましく、中でも20μm以上であることが好ましく、特に30μm以上であることが好ましい。絶縁層に形成される開口部の大きさが上記範囲であることにより、上記開口部内に接触部を形成する領域を十分に確保することができる。これにより、レーザー光を絶縁層の開口部に確実に照射し、絶縁層の開口部内に接触部を容易に形成することができる。なお、絶縁層の開口部において補助電極の幅方向または長さ方向の大きさとは、図1(d)に示す距離mまたは距離nを指し、「補助電極の幅方向または長さ方向に10μm以上である」とは、補助電極の幅方向または長さ方向への開口部の大きさのうち、いずれか大きい方の長さが10μm以上であることを指す。   Also, the size of the opening formed in the insulating layer is appropriately adjusted according to the size of the contact portion and the number of contact portions described later, and is not particularly limited. A specific size of the opening of the insulating layer is preferably 10 μm or more in the width direction or length direction of the auxiliary electrode, more preferably 20 μm or more, and particularly preferably 30 μm or more. When the size of the opening formed in the insulating layer is in the above range, a sufficient area for forming the contact portion in the opening can be secured. Thereby, a laser beam can be reliably irradiated to the opening part of an insulating layer, and a contact part can be easily formed in the opening part of an insulating layer. Note that the size in the width direction or length direction of the auxiliary electrode in the opening of the insulating layer refers to the distance m or the distance n shown in FIG. 1D, and “10 μm or more in the width direction or length direction of the auxiliary electrode”. The term “is” means that the larger one of the sizes of the openings in the width direction or the length direction of the auxiliary electrode is 10 μm or more.

絶縁層の材料としては、有機EL表示装置における一般的な絶縁層の材料を用いることができ、例えば、感光性ポリイミド樹脂、アクリル系樹脂等の光硬化型樹脂、熱硬化型樹脂、無機材料等を挙げることができる。   As a material of the insulating layer, a material of a general insulating layer in an organic EL display device can be used. For example, a photo-curable resin such as a photosensitive polyimide resin or an acrylic resin, a thermosetting resin, an inorganic material, or the like. Can be mentioned.

本発明における絶縁層の形成方法としては、ラミネーション法、フォトリソグラフィー法、印刷法等の一般的な方法を用いることができる。   As a method for forming the insulating layer in the present invention, a general method such as a lamination method, a photolithography method, or a printing method can be used.

2.基板
本発明における基板は、上述した絶縁層、および後述する画素電極、補助電極、有機EL層、透明電極層を支持するものである。
2. Substrate The substrate in the present invention supports the insulating layer described above, and pixel electrodes, auxiliary electrodes, organic EL layers, and transparent electrode layers described later.

本発明の有機EL表示装置はトップエミッション型であるため、基板は光透過性を有していてもよく有さなくてもよい。基板が光透過性を有し、透明基板である場合には、両面発光型の有機EL表示装置とすることができる。   Since the organic EL display device of the present invention is a top emission type, the substrate may or may not have optical transparency. When the substrate is light transmissive and is a transparent substrate, a double-sided light emitting organic EL display device can be obtained.

また、基板は、可撓性を有していてもよく有さなくてもよく、有機EL表示装置の用途により適宜選択される。このような基板の材料としては、例えば、ガラスや樹脂が挙げられる。なお、基板の表面にはガスバリア層が形成されていてもよい。   The substrate may or may not have flexibility, and is appropriately selected depending on the use of the organic EL display device. Examples of such a substrate material include glass and resin. A gas barrier layer may be formed on the surface of the substrate.

基板の厚みとしては、基板の材料および有機EL表示装置の用途により適宜選択され、具体的には0.005mm〜5mm程度である。   The thickness of the substrate is appropriately selected depending on the material of the substrate and the use of the organic EL display device, and is specifically about 0.005 mm to 5 mm.

3.画素電極
本発明における画素電極は、基板上に複数形成されるものである。
画素電極は、光透過性を有していてもよく、有さなくてもよいが、本発明の有機EL表示装置はトップエミッション型であり、透明電極層側から光を取り出すため、通常は光透過性を有さないものとされる。また、画素電極が光透過性を有し、透明電極である場合には、両面発光型の有機EL表示装置とすることができる。
3. Pixel Electrode A plurality of pixel electrodes in the present invention are formed on a substrate.
The pixel electrode may or may not have optical transparency, but the organic EL display device of the present invention is a top emission type and usually takes out light from the transparent electrode layer side. It is assumed that it does not have transparency. Further, in the case where the pixel electrode is light transmissive and is a transparent electrode, a double-sided light emitting organic EL display device can be obtained.

画素電極は、陽極および陰極のいずれであってもよい。
画素電極が陽極である場合には、抵抗が小さいことが好ましく、一般的には導電性材料である金属材料が用いられるが、有機化合物または無機化合物を用いてもよい。
陽極には、正孔が注入しやすいように仕事関数の大きい導電性材料を用いることが好ましい。例えば、Au、Cr、Mo等の金属;酸化インジウム錫(ITO)、酸化インジウム亜鉛(IZO)、酸化亜鉛、酸化インジウム等の無機酸化物;金属ドープされたポリチオフェン等の導電性高分子等が挙げられる。これらの導電性材料は、単独で用いても、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。2種類以上を用いる場合には、各材料からなる層を積層してもよい。
The pixel electrode may be either an anode or a cathode.
When the pixel electrode is an anode, it is preferable that the resistance is small, and generally a metal material that is a conductive material is used, but an organic compound or an inorganic compound may be used.
For the anode, a conductive material having a large work function is preferably used so that holes can be easily injected. Examples thereof include metals such as Au, Cr, and Mo; inorganic oxides such as indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), zinc oxide, and indium oxide; and conductive polymers such as metal-doped polythiophene. It is done. These conductive materials may be used alone or in combination of two or more. When two or more types are used, layers made of each material may be stacked.

また、画素電極が陰極である場合には、一般的には導電性材料である金属材料が用いられるが、有機化合物または無機化合物を用いてもよい。
陰極には、電子が注入しやすいように仕事関数の小さい導電性材料を用いることが好ましい。例えば、MgAg等のマグネシウム合金、AlLi、AlCa、AlMg等のアルミニウム合金、Li、Cs、Ba、Sr、Ca等のアルカリ金属類およびアルカリ土類金属類の合金等が挙げられる。
When the pixel electrode is a cathode, a metal material that is a conductive material is generally used, but an organic compound or an inorganic compound may be used.
For the cathode, it is preferable to use a conductive material having a low work function so that electrons can be easily injected. Examples thereof include magnesium alloys such as MgAg, aluminum alloys such as AlLi, AlCa, and AlMg, and alloys of alkali metals and alkaline earth metals such as Li, Cs, Ba, Sr, and Ca.

画素電極の厚みとしては、画素電極のエッジ部分からのリーク電流の有無等に応じて適宜調整され、例えば、10nm〜1000nm程度にすることができ、好ましくは20nm〜500nm程度である。なお、画素電極の厚みとしては、後述する補助電極の厚みと同じであってもよく異なっていてもよい。なお、画素電極を、後述する補助電極と一括して形成する場合には、画素電極および補助電極の厚みは等しくなる。   The thickness of the pixel electrode is appropriately adjusted according to the presence or absence of leakage current from the edge portion of the pixel electrode, and can be set to, for example, about 10 nm to 1000 nm, and preferably about 20 nm to 500 nm. Note that the thickness of the pixel electrode may be the same as or different from the thickness of the auxiliary electrode described later. Note that when the pixel electrode is formed together with an auxiliary electrode described later, the pixel electrode and the auxiliary electrode have the same thickness.

画素電極の形成方法としては、基板上に画素電極をパターン状に形成することができる方法であれば特に限定されるものではなく、一般的な電極の形成方法を採用することができる。例えば、マスクを用いた蒸着法、フォトリソグラフィー法等が挙げられる。また、蒸着法としては、例えば、スパッタリング法、真空蒸着法等が挙げられる。   The method for forming the pixel electrode is not particularly limited as long as the pixel electrode can be formed in a pattern on the substrate, and a general electrode forming method can be employed. For example, the vapor deposition method using a mask, the photolithographic method, etc. are mentioned. Examples of the vapor deposition method include a sputtering method and a vacuum vapor deposition method.

4.補助電極
本発明における補助電極は、上記画素電極の間に形成されるものである。
補助電極は、光透過性を有していてもよく有さなくてもよい。
4). Auxiliary Electrode The auxiliary electrode in the present invention is formed between the pixel electrodes.
The auxiliary electrode may or may not have optical transparency.

補助電極には、一般的には導電性材料である金属材料が用いられる。なお、補助電極に用いられる材料については、上記画素電極に用いられる材料と同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。
また、補助電極に用いられる材料は、画素電極に用いられる材料と同じであってもよく異なってもよい。中でも、画素電極および補助電極は同一の材料であることが好ましい。画素電極および補助電極を一括して形成することができ、製造工程を簡略化することができるからである。
A metal material that is a conductive material is generally used for the auxiliary electrode. Note that the material used for the auxiliary electrode can be the same as the material used for the pixel electrode, and thus the description thereof is omitted here.
The material used for the auxiliary electrode may be the same as or different from the material used for the pixel electrode. Among these, the pixel electrode and the auxiliary electrode are preferably made of the same material. This is because the pixel electrode and the auxiliary electrode can be formed collectively, and the manufacturing process can be simplified.

補助電極の厚みとしては、補助電極のエッジ部分からのリーク電流の有無等に応じて適宜調整され、例えば、10nm〜1000nmの範囲内であることが好ましく、中でも20nm〜500nmの範囲内であることが好ましい。なお、補助電極を、上述した画素電極と一括して形成する場合には、画素電極および補助電極の厚みは等しくなる。   The thickness of the auxiliary electrode is appropriately adjusted according to the presence or absence of leakage current from the edge portion of the auxiliary electrode, and is preferably in the range of 10 nm to 1000 nm, for example, in particular in the range of 20 nm to 500 nm. Is preferred. Note that when the auxiliary electrode is formed together with the above-described pixel electrode, the pixel electrode and the auxiliary electrode have the same thickness.

また、上記画素電極の間に補助電極を形成するときの隣り合う画素電極および補助電極の間隔としては、後述する絶縁層を形成することができる程度であれば特に限定されるものではない。具体的には、1μm〜50μmの範囲内であることが好ましく、中でも2μm〜30μmの範囲内であることが好ましい。なお、隣り合う画素電極および補助電極の間隔とは、図2(a)に示す距離dを指す。   Further, the interval between the adjacent pixel electrode and the auxiliary electrode when the auxiliary electrode is formed between the pixel electrodes is not particularly limited as long as an insulating layer described later can be formed. Specifically, it is preferably in the range of 1 μm to 50 μm, and more preferably in the range of 2 μm to 30 μm. Note that the interval between adjacent pixel electrodes and auxiliary electrodes refers to the distance d shown in FIG.

このような補助電極を、補助電極の厚み方向に観察した際の形状、すなわち平面形状としては、透明電極層の抵抗による電圧降下を抑制するという補助電極の機能を発揮することができる形状であれば特に限定されるものではないが、有機EL表示装置の画素領域を十分に確保し表示特性を低下させないような形状であることが好ましい。例えば、ストライプ状や格子状等が挙げられる。   The shape when such an auxiliary electrode is observed in the thickness direction of the auxiliary electrode, that is, a planar shape, is a shape that can exhibit the function of the auxiliary electrode to suppress a voltage drop due to the resistance of the transparent electrode layer. Although not particularly limited, it is preferable that the pixel region of the organic EL display device has a shape that ensures a sufficient pixel area and does not deteriorate display characteristics. For example, a stripe shape or a lattice shape can be used.

補助電極の形成方法としては、基板上に補助電極をパターン状に形成することができる方法であれば特に限定されるものではなく、一般的な電極の形成方法を採用することができる。具体的な補助電極の形成方法については、上記画素電極の形成方法と同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。なお、本発明においては、補助電極を画素電極と一括して形成することが好ましい。製造工程を簡略化することができるからである。   The method for forming the auxiliary electrode is not particularly limited as long as the auxiliary electrode can be formed in a pattern on the substrate, and a general electrode forming method can be employed. A specific method for forming the auxiliary electrode can be the same as the method for forming the pixel electrode, and thus description thereof is omitted here. In the present invention, the auxiliary electrode is preferably formed together with the pixel electrode. This is because the manufacturing process can be simplified.

5.有機EL層
本発明における有機EL層は、上記画素電極上に形成され、複数の有機層から構成されており、少なくとも発光層を有するものである。また、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上には少なくとも1層の有機層が形成される。
5. Organic EL Layer The organic EL layer in the present invention is formed on the pixel electrode, is composed of a plurality of organic layers, and has at least a light emitting layer. In addition, at least one organic layer is formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer.

このような有機EL層を構成する有機層としては、発光層の他に、正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、電子輸送層等が挙げられる。そのため、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上には、少なくとも正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、または電子輸送層等有機層が形成されることになる。
以下、有機EL層を構成する各有機層について説明する。
Examples of the organic layer constituting such an organic EL layer include a hole injection layer, a hole transport layer, an electron injection layer, and an electron transport layer in addition to the light emitting layer. Therefore, at least an organic layer such as a hole injection layer, a hole transport layer, an electron injection layer, or an electron transport layer is formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer.
Hereinafter, each organic layer constituting the organic EL layer will be described.

(1)発光層
発光層は、単色の発光層であってもよく、複数色の発光層であってもよく、有機EL表示装置の用途に応じて適宜選択されるが、通常、複数色の発光層が形成される。
(1) Light-emitting layer The light-emitting layer may be a single-color light-emitting layer or a multi-color light-emitting layer, and is appropriately selected according to the use of the organic EL display device. A light emitting layer is formed.

発光層に用いられる発光材料としては、蛍光もしくは燐光を発するものであればよく例えば、色素系材料、金属錯体系材料、高分子系材料等を挙げることができる。なお、具体的な色素系材料、金属錯体系材料、高分子系材料については、一般的に用いられるものと同様とすることができるため、ここでの記載は省略する。   The light emitting material used for the light emitting layer may be any material that emits fluorescence or phosphorescence, and examples thereof include dye materials, metal complex materials, and polymer materials. Note that specific pigment materials, metal complex materials, and polymer materials can be the same as those generally used, and thus description thereof is omitted here.

発光層の厚みとしては、電子および正孔の再結合の場を提供して発光する機能を発現することができる厚みであれば特に限定されるものではなく、例えば10nm〜500nm程度にすることができる。   The thickness of the light-emitting layer is not particularly limited as long as it can provide a function of emitting light by providing a recombination field of electrons and holes, and may be, for example, about 10 nm to 500 nm. it can.

発光層の形成方法としては、例えば、発光材料等を溶媒に溶解もしくは分散させた発光層形成用塗工液を塗布するウェットプロセスや、真空蒸着法等のドライプロセス等が挙げられる。中でも、有機EL表示装置の発光効率および寿命への影響からドライプロセスが好ましい。   Examples of the method for forming the light emitting layer include a wet process in which a light emitting layer forming coating solution in which a light emitting material or the like is dissolved or dispersed in a solvent, a dry process such as a vacuum deposition method, and the like. Among these, a dry process is preferable because of the influence on the light emission efficiency and life of the organic EL display device.

(2)正孔注入輸送層
本発明における有機EL層としては、発光層と陽極との間に正孔注入輸送層が形成されていてもよい。
正孔注入輸送層は、正孔注入機能を有する正孔注入層であってもよく、正孔輸送機能を有する正孔輸送層であってもよく、正孔注入層および正孔輸送層が積層されたものであってもよく、正孔注入機能および正孔輸送機能の両機能を有するものであってもよい。
(2) Hole Injecting and Transporting Layer As the organic EL layer in the present invention, a hole injecting and transporting layer may be formed between the light emitting layer and the anode.
The hole injection transport layer may be a hole injection layer having a hole injection function, or a hole transport layer having a hole transport function, and the hole injection layer and the hole transport layer are laminated. And may have both a hole injection function and a hole transport function.

正孔注入輸送層に用いられる材料としては、発光層への正孔の注入、輸送を安定化させることができる材料であれば特に限定されるものではなく、一般的な材料を用いることができる。   The material used for the hole injecting and transporting layer is not particularly limited as long as it can stabilize the injection and transportation of holes to the light emitting layer, and a general material can be used. .

正孔注入輸送層の厚みとしては、正孔注入機能や正孔輸送機能が十分に発揮される厚みであれば特に限定されないが、具体的には0.5nm〜1000nmの範囲内、中でも10nm〜500nmの範囲内であることが好ましい。   The thickness of the hole injecting and transporting layer is not particularly limited as long as the hole injecting function and the hole transporting function are sufficiently exhibited. Specifically, the thickness is in the range of 0.5 nm to 1000 nm, particularly 10 nm to It is preferable to be in the range of 500 nm.

正孔注入輸送層の形成方法としては、少なくとも画素電極上に形成することができる方法であれば特に限定されるものではなく、材料の種類等に応じて適宜選択される。例えば、材料等を溶媒に溶解もしくは分散させた正孔注入輸送層形成用塗工液を塗布するウェットプロセスや、真空蒸着法等のドライプロセス等が挙げられる。   The method for forming the hole injecting and transporting layer is not particularly limited as long as it can be formed on at least the pixel electrode, and is appropriately selected according to the kind of material. For example, a wet process in which a coating solution for forming a hole injection transport layer in which a material or the like is dissolved or dispersed in a solvent is applied, a dry process such as a vacuum deposition method, or the like can be given.

(3)電子注入輸送層
本発明における有機EL層としては、発光層と陰極との間に電子注入輸送層が形成されていてもよい。
電子注入輸送層は、電子注入機能を有する電子注入層であってもよく、電子輸送機能を有する電子輸送層であってもよく、電子注入層および電子輸送層が積層されたものであってもよく、電子注入機能および電子輸送機能の両機能を有するものであってもよい。
(3) Electron Injecting and Transporting Layer As the organic EL layer in the present invention, an electron injecting and transporting layer may be formed between the light emitting layer and the cathode.
The electron injection / transport layer may be an electron injection layer having an electron injection function, may be an electron transport layer having an electron transport function, or may be a laminate of an electron injection layer and an electron transport layer. It may have both an electron injection function and an electron transport function.

電子注入層に用いられる材料としては、発光層への電子の注入を安定化させることができる材料であれば特に限定されるものではなく、また、電子輸送層に用いられる材料としては、陰極から注入された電子を発光層へ輸送することが可能な材料であれば特に限定されるものではない。
電子注入層および電子輸送層に用いられる具体的な材料としては、一般的な材料を用いることができる。
The material used for the electron injection layer is not particularly limited as long as it can stabilize the injection of electrons into the light emitting layer, and the material used for the electron transport layer is from the cathode. The material is not particularly limited as long as the injected electrons can be transported to the light emitting layer.
A general material can be used as a specific material used for the electron injection layer and the electron transport layer.

電子注入輸送層の厚みとしては、電子注入機能や電子輸送機能が十分に発揮される厚みであれば特に限定されない。   The thickness of the electron injection / transport layer is not particularly limited as long as the electron injection function and the electron transport function are sufficiently exhibited.

電子注入輸送層の形成方法としては、材料の種類等に応じて適宜選択される。例えば、材料等を溶媒に溶解もしくは分散させた電子注入輸送層形成用塗工液を塗布するウェットプロセスや、真空蒸着法等のドライプロセスが挙げられる。   The method for forming the electron injecting and transporting layer is appropriately selected according to the type of material. For example, a wet process in which a coating solution for forming an electron injecting and transporting layer in which a material or the like is dissolved or dispersed in a solvent is applied, and a dry process such as a vacuum deposition method is used.

6.接触部
本発明における接触部は、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上に形成された上記有機層の開口部である。
6). Contact part The contact part in this invention is an opening part of the said organic layer formed on the said auxiliary electrode exposed from the opening part of the said insulating layer.

本発明おける接触部の平面形状としては、後述する透明電極層と補助電極とを電気的に十分に接続することができるような平面形状であれば特に限定されるものではなく、例えば、矩形や円形等が挙げられる。   The planar shape of the contact portion in the present invention is not particularly limited as long as the transparent electrode layer and the auxiliary electrode, which will be described later, can be electrically connected sufficiently. A circular shape etc. are mentioned.

また、上記接触部の態様としては、後述する透明電極層と補助電極とを電気的に十分に接続することができるものであれば特に限定されるものではない。図3(a)〜(c)は、本発明における接触部の態様を説明する模式図である。上記接触部9の具体的な態様としては、図3(a)に示すように、補助電極4上に形成された少なくとも1層の有機層6aをストライプ状に除去して形成された態様であってもよく、図3(b)に示すように、補助電極4上に形成された少なくとも1層の有機層6aに開口部を設けて形成された態様であってもよく、図3(c)に示すように、補助電極4上に形成された少なくとも1層の有機層6aに複数の開口部を設けて形成された態様であってもよい。   Moreover, the aspect of the contact portion is not particularly limited as long as it can electrically connect a transparent electrode layer and an auxiliary electrode described later sufficiently. FIG. 3A to FIG. 3C are schematic diagrams for explaining aspects of the contact portion in the present invention. A specific mode of the contact portion 9 is a mode in which at least one organic layer 6a formed on the auxiliary electrode 4 is removed in a stripe shape as shown in FIG. Alternatively, as shown in FIG. 3 (b), an embodiment in which an opening is provided in at least one organic layer 6a formed on the auxiliary electrode 4 may be used. As shown in FIG. 3, the organic layer 6a formed on the auxiliary electrode 4 may be provided with a plurality of openings.

本発明における接触部の形成方法は、例えば図2(d)に例示するように、蓋材8を介して有機EL層側基板1にレーザー光Lを照射して補助電極4を覆う有機層を除去することにより形成する方法が挙げられる。   In the method for forming the contact portion in the present invention, for example, as illustrated in FIG. 2D, the organic layer that covers the auxiliary electrode 4 by irradiating the organic EL layer side substrate 1 with the laser light L through the lid 8 is used. The method of forming by removing is mentioned.

接触部を形成する際に用いられるレーザー光としては、蓋材を介して照射した際に蓋材を透過して補助電極を覆う有機層を除去することが可能なものであれば特に限定されるものではなく、有機層のレーザー光による除去方法において一般的に用いられるレーザー光を採用することができる。レーザー光が有する波長域としては、上述した方法において用いられる蓋材を透過し、有機層を効率的に除去することができる波長域であれば特に限定されるものではないが、例えば、紫外線領域であることが好ましい。具体的な紫外線領域としては、300nm〜400nmの範囲内であることが好ましく、中でも320nm〜380nmの範囲内であることが好ましく、特に340nm〜360nmの範囲内であることが好ましい。このような波長域を有するレーザー光としては、例えば、YAG、YVO等の固体レーザー、XeCl、XeF等のエキシマーレーザーや半導体レーザー等が挙げられる。 The laser light used for forming the contact portion is particularly limited as long as it can remove the organic layer that passes through the cover material and covers the auxiliary electrode when irradiated through the cover material. Instead, a laser beam generally used in a method for removing the organic layer with a laser beam can be employed. The wavelength range of the laser light is not particularly limited as long as it is a wavelength range that can pass through the lid used in the above-described method and efficiently remove the organic layer. It is preferable that The specific ultraviolet region is preferably within a range of 300 nm to 400 nm, more preferably within a range of 320 nm to 380 nm, and particularly preferably within a range of 340 nm to 360 nm. Examples of laser light having such a wavelength range include solid lasers such as YAG and YVO 4 , excimer lasers such as XeCl and XeF, and semiconductor lasers.

また、レーザー光はパルスレーザーであってもよく連続波レーザーであってもよいが、中でも、パルスレーザーが好ましい。パルスレーザーは高い尖頭値を有するため、補助電極を覆う有機層を効率的に除去することができる。一方、高出力のため、パルスレーザーにより除去された有機層は飛散しやすく、画素領域の汚染が広範囲になるおそれがある。これに対し、本発明においては有機層の飛散を防ぐことができるため、パルスレーザーを用いる場合に有用である。   Further, the laser beam may be a pulse laser or a continuous wave laser, and among these, a pulse laser is preferable. Since the pulse laser has a high peak value, the organic layer covering the auxiliary electrode can be efficiently removed. On the other hand, because of the high output, the organic layer removed by the pulse laser is likely to scatter and there is a possibility that the contamination of the pixel region becomes wide. On the other hand, in the present invention, scattering of the organic layer can be prevented, which is useful when a pulse laser is used.

パルスレーザーの場合、パルス幅は、0.01ナノ秒〜100ナノ秒の範囲内であることが好ましい。また、繰り返し周波数は、1kHz〜1000kHzの範囲内であることが好ましい。出力は、有機層を除去することができればよく適宜調整される。   In the case of a pulse laser, the pulse width is preferably in the range of 0.01 nanoseconds to 100 nanoseconds. The repetition frequency is preferably in the range of 1 kHz to 1000 kHz. The output is appropriately adjusted as long as the organic layer can be removed.

7.透明電極層
本発明における透明電極層は、有機EL層および上記接触部上に形成されるものである。
7). Transparent electrode layer The transparent electrode layer in the present invention is formed on the organic EL layer and the contact portion.

上記透明電極層は、透明性および導電性を有するものであればよく、例えば金属酸化物が挙げられる。具体的な金属酸化物としては、酸化インジウム錫、酸化インジウム、酸化インジウム亜鉛、酸化亜鉛、および酸化第二錫等が挙げられる。また、マグネシウム−銀合金、アルミニウム、およびカルシウム等の金属材料についても、光透過性を有する程度に薄く成膜する場合には用いることができる。   The said transparent electrode layer should just have transparency and electroconductivity, for example, a metal oxide is mentioned. Specific examples of the metal oxide include indium tin oxide, indium oxide, indium zinc oxide, zinc oxide, and stannic oxide. In addition, metal materials such as magnesium-silver alloy, aluminum, and calcium can also be used when forming a film thin enough to have light transmittance.

本発明における透明電極層の形成方法としては、上記接触部において露出した補助電極に電気的に接続されるように、有機EL層および上記接触部上に透明電極層を形成することができる方法であれば特に限定されるものではなく、一般的な電極の形成方法を用いることができる。例えば、真空蒸着法、スパッタリング法、EB蒸着法、イオンプレーティング法等のPVD法、またはCVD法等を挙げることができる。   As a method for forming the transparent electrode layer in the present invention, the transparent electrode layer can be formed on the organic EL layer and the contact portion so as to be electrically connected to the auxiliary electrode exposed at the contact portion. There is no particular limitation as long as it is present, and a general electrode forming method can be used. For example, a vacuum deposition method, a sputtering method, an EB deposition method, a PVD method such as an ion plating method, a CVD method, or the like can be given.

8.突起構造物
本発明においては、少なくとも上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層上に突起構造物が形成されていることが好ましい。接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層上に突起構造物が形成されていることにより、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層の高さの自由度が増し、容易に高さを高くすることが可能になる。したがって、上記接触部を形成するために上記有機EL層側基板と上記蓋材との間の空間を減圧状態にする際に、突起構造物と蓋材とを十分に密着させることができ、レーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのを効果的に防ぐことができる。
8). Projecting Structure In the present invention, it is preferable that a projecting structure is formed on the insulating layer between at least the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion. Since the protrusion structure is formed on the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion, the degree of freedom in the height of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is increased. It becomes possible to increase the height easily. Therefore, when the space between the organic EL layer side substrate and the lid material is in a reduced pressure state in order to form the contact portion, the protruding structure and the lid material can be sufficiently adhered, It is possible to effectively prevent dust or the like of the organic layer removed by light from being scattered in the pixel region.

図4(a)〜(d)は、本発明の有機EL表示装置の他の例を示す概略図である。図4(b)は図4(a)のC−C線断面図であり、図4(c)は図4(a)のD−D線断面図である。本発明の有機EL表示装置10は、図4(a)〜(c)に例示するように、突起構造物11を有していてもよい。すなわち、基板2上に複数の画素電極3を有し、上記画素電極3の間には補助電極4を有する。また、上記画素電極3のエッジ部分を覆うように隣接する上記画素電極3の間に絶縁層5を有する。なお、上記絶縁層5には、上記補助電極4が露出するように開口部が形成されている。さらに、上記絶縁層5に形成された開口部と近傍の上記画素電極3との間の上記絶縁層5上に、突起構造物11を有する。さらにまた、上記画素電極3上には、複数の有機層から構成されており、少なくとも発光層を有する有機EL層6を有する。なお、上記絶縁層5に形成された開口部より露出した上記補助電極4上に少なくとも1層の上記有機層を有し、上記少なくとも1層の有機層には、接触部9となる開口部が形成されている。また、上記有機EL層6および上記接触部9上に透明電極層7を有し、上記透明電極層7は上記接触部9にて上記補助電極4と電気的に接続されている。ここで、突起構造物を有する本発明の有機EL表示装置10においては、図4(a)、(b)に例示するように、少なくとも上記接触部9および上記接触部9に隣接する上記画素電極3の間の上記絶縁層5上に形成された上記突起構造物11の幅は6μm以上である。なお、図4(d)についての説明は後述するため、ここでの記載は省略する。また、図4(a)および(d)は、説明の簡単のため、図4(b)および(c)に対して有機EL層および透明電極層を省略したものである。さらに、図4(a)〜(d)は、説明の簡単のため、TFT、配線電極および平坦化層等のアクティブマトリクス駆動回路を省略したものである。   4A to 4D are schematic views illustrating other examples of the organic EL display device of the present invention. 4B is a cross-sectional view taken along the line C-C in FIG. 4A, and FIG. 4C is a cross-sectional view taken along the line D-D in FIG. The organic EL display device 10 of the present invention may have a protruding structure 11 as illustrated in FIGS. 4 (a) to 4 (c). That is, a plurality of pixel electrodes 3 are provided on the substrate 2, and auxiliary electrodes 4 are provided between the pixel electrodes 3. An insulating layer 5 is provided between the adjacent pixel electrodes 3 so as to cover the edge portion of the pixel electrode 3. The insulating layer 5 has an opening so that the auxiliary electrode 4 is exposed. Furthermore, a protruding structure 11 is provided on the insulating layer 5 between the opening formed in the insulating layer 5 and the neighboring pixel electrode 3. Further, the pixel electrode 3 includes an organic EL layer 6 which is composed of a plurality of organic layers and has at least a light emitting layer. The auxiliary electrode 4 exposed from the opening formed in the insulating layer 5 has at least one organic layer, and the at least one organic layer has an opening serving as a contact portion 9. Is formed. Moreover, the transparent electrode layer 7 is provided on the organic EL layer 6 and the contact portion 9, and the transparent electrode layer 7 is electrically connected to the auxiliary electrode 4 at the contact portion 9. Here, in the organic EL display device 10 of the present invention having a protruding structure, as illustrated in FIGS. 4A and 4B, at least the contact portion 9 and the pixel electrode adjacent to the contact portion 9. The width of the protruding structure 11 formed on the insulating layer 5 between 3 is 6 μm or more. Note that the description of FIG. 4D will be described later, so description thereof is omitted here. 4A and 4D are obtained by omitting the organic EL layer and the transparent electrode layer from FIGS. 4B and 4C for the sake of simplicity. Further, in FIGS. 4A to 4D, the active matrix driving circuit such as the TFT, the wiring electrode, and the planarization layer is omitted for the sake of simplicity.

上記突起構造物の平面形状としては、上記絶縁層の形状に応じて適宜形成されるものであり、少なくとも上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層上に形成され上述した所定の効果が得られるものあれば特に限定されるものではない。例えば、図4(a)に例示するように、本発明における突起構造物11は、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極3の間の上記絶縁層5上に島状に形成されるものであってもよく、また図示はしないが、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層上に形成されるようにストライプ状に形成されるものであってもよく、さらには、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層上に形成されるように上記絶縁層の形状に沿って格子状に形成されるものであってもよい。中でも、本発明における突起構造物としては、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層上に島状に形成されることが好ましい。突起構造物を設けることによる上記所定の効果がより顕著に現れるからである。   A planar shape of the protruding structure is appropriately formed according to the shape of the insulating layer, and is formed on the insulating layer at least between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion. There is no particular limitation as long as the above-described predetermined effect can be obtained. For example, as illustrated in FIG. 4A, the protruding structure 11 according to the present invention is formed in an island shape on the insulating layer 5 between the contact portion and the pixel electrode 3 adjacent to the contact portion. Although not shown, it is formed in a stripe shape so as to be formed on the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion. Furthermore, it is formed in a lattice shape along the shape of the insulating layer so as to be formed on the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion. Also good. Among them, the protruding structure in the present invention is preferably formed in an island shape on the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion. This is because the predetermined effect by providing the protruding structure appears more remarkably.

本発明における突起構造物の縦断面形状としては、本発明における突起構造物としての機能を発揮することが可能な形状であれば特に限定されるものではないが、例えば、順テーパー形状、逆テーパー形状、矩形等が挙げられるが、中でも、順テーパー形状であることが好ましい。後述する透明電極層を全面に均一に形成することができ、十分な導通を得ることができるからである。   The longitudinal cross-sectional shape of the protruding structure in the present invention is not particularly limited as long as it is a shape capable of exhibiting the function as the protruding structure in the present invention. For example, a forward tapered shape or a reverse tapered shape is used. A shape, a rectangle, etc. are mentioned, Among these, a forward taper shape is preferable. This is because a transparent electrode layer, which will be described later, can be uniformly formed on the entire surface, and sufficient conduction can be obtained.

上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層上に形成される突起構造物の幅としては6μm以上であれば特に限定されるものではなく、絶縁層の大きさ等に応じて適宜調整されるものである。中でも、8μm以上であることが好ましく、特に10μm以上であることが好ましい。上記突起構造物の幅が6μm以上であることにより、レーザー光を照射して有機層を除去することにより形成される接触部と近傍の画素領域との間に6μm以上の幅を有する隔壁が形成されることになる。そのため、図2(a)〜(f)に例示するような製造方法により本発明の有機EL表示装置を製造する場合には、上記突起構造物によりレーザー光により除去された有機層の粉塵等が近傍の画素領域に飛散するのを十分に防ぎ、表示特性の低下を抑制することができる。また、上記突起構造物の幅の上限としては、上記絶縁層上に形成することができ、本発明の有機EL表示装置の表示特性に悪影響を及ぼさない程度であれば特に限定されるものではないが、一般的には画素領域の1/3程度の大きさであればよく、具体的には、40μm以下であることが好ましい。なお、「接触部および接触部に隣接する上記画素電極の間の突起構造物の幅が6μm以上である」とは、図4(a)、(b)のwが、図4(d)に示す領域fのいずれの箇所においても6μm以上であることを指す。ここで、図4(d)は、図4(a)における領域Fを拡大した拡大図であり、図4(d)において説明していない符号については図4(a)と同様とすることができるため、ここでの記載は省略する。 The width of the protruding structure formed on the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is not particularly limited as long as it is 6 μm or more. Is appropriately adjusted according to the above. Especially, it is preferable that it is 8 micrometers or more, and it is especially preferable that it is 10 micrometers or more. When the protrusion structure has a width of 6 μm or more, a partition wall having a width of 6 μm or more is formed between a contact portion formed by irradiating a laser beam and removing the organic layer and a neighboring pixel region. Will be. Therefore, when the organic EL display device of the present invention is manufactured by the manufacturing method illustrated in FIGS. 2A to 2F, dust or the like of the organic layer removed by the laser beam by the protruding structure is generated. It is possible to sufficiently prevent scattering to neighboring pixel regions and to suppress deterioration of display characteristics. In addition, the upper limit of the width of the protruding structure is not particularly limited as long as it can be formed on the insulating layer and does not adversely affect the display characteristics of the organic EL display device of the present invention. However, in general, the size may be about 1/3 of the pixel region, and specifically, it is preferably 40 μm or less. Note that “the width of the protruding structure between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more” means that w 2 in FIGS. 4A and 4B corresponds to FIG. In any part of the region f shown in FIG. Here, FIG. 4D is an enlarged view of the region F in FIG. 4A, and the reference numerals not described in FIG. 4D may be the same as those in FIG. Since it is possible, description here is abbreviate | omitted.

また、上記突起構造物が形成されている場合には、突起構造物の高さとしては、上記「1.絶縁層」の項に記載したものと同様に、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層と突起構造物との高さをx1とし、接触部および接触部に隣接する画素電極の間以外の絶縁層の高さ、または絶縁層と突起構造物との高さのうち、最も高い高さをy1としたとき、以下の式(2)が成り立つことが好ましい。
y1−x1≦0.05μm (2)
本発明においては、上述した高さy1と高さx1との差が0.05μm以下であることが好ましいが、中でも高さy1と高さx1との差が0.00μm以下であることが好ましく、特に高さy1と高さx1との差が−1.00μm以下であることが好ましい。このように、高さx1および高さy1としては、x1>y1の関係を満たすことが最も好ましい。なお、上述した高さy1と高さx1との差が上記の条件を満たすことが好ましい理由については、上記「1.絶縁層」の項に記載した絶縁層の高さyと高さxとの差についての説明と同様とすることができるため、ここでの記載は省略する。
When the protruding structure is formed, the height of the protruding structure is the same as that described in the section “1. Insulating layer”, and the pixel adjacent to the contacting part. The height of the insulating layer between the electrodes and the protruding structure is x1, and the height of the insulating layer other than between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion, or the height of the insulating layer and the protruding structure. Among these, when the highest height is y1, it is preferable that the following formula (2) holds.
y1-x1 ≦ 0.05 μm (2)
In the present invention, the difference between the height y1 and the height x1 is preferably 0.05 μm or less, and the difference between the height y1 and the height x1 is preferably 0.00 μm or less. In particular, the difference between the height y1 and the height x1 is preferably −1.00 μm or less. Thus, it is most preferable that the height x1 and the height y1 satisfy the relationship x1> y1. The reason why the difference between the height y1 and the height x1 preferably satisfies the above condition is as follows. The height y and the height x of the insulating layer described in the section “1. Since it can be the same as the description of the difference, the description is omitted here.

ここで、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層と突起構造物との高さx1とは、図4(d)に示すように、補助電極4が露出するように絶縁層5に形成された開口部内にて、少なくとも1層の有機層が除去されて形成される接触部9と、上記接触部9に対向する画素電極3との間の領域fにおいて、絶縁層5に覆われた画素電極3の表面から絶縁層5上に形成された突起構造物11の頂部までの高さのうち、高さが最も低い箇所の高さを指す。また、接触部および接触部に隣接する画素電極の間以外の絶縁層の高さ、または絶縁層と突起構造物との高さのうち、最も高い高さy1とは、図4(d)に示す上記領域f以外の領域において、絶縁層5の頂部までの高さ、または絶縁層5上に形成された突起構造物11の頂部までの高さのうち、最も高い箇所の高さを指す。ここで、高さx1とは図4(b)に示す距離x1を指し、高さy1とは図4(c)に示す距離y1を指す。さらに、上述した「突起構造物の頂部」とは、図4(b)に例示するように突起構造物11の縦断面形状が台形である場合には、突起構造物11の上底面を指し、突起構造物の縦断面形状が台形以外の形状である場合には、突起構造物の頂点部分を指す。   Here, the height x1 of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion and the protruding structure is an insulating layer so that the auxiliary electrode 4 is exposed as shown in FIG. 5 in the region f between the contact portion 9 formed by removing at least one organic layer and the pixel electrode 3 facing the contact portion 9 in the opening formed in the insulating layer 5. Among the heights from the surface of the covered pixel electrode 3 to the top of the protruding structure 11 formed on the insulating layer 5, the height is the lowest. Also, the highest height y1 among the height of the insulating layer other than between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion, or the height between the insulating layer and the protruding structure is shown in FIG. In a region other than the region f shown, the height of the highest portion of the height to the top of the insulating layer 5 or the height to the top of the protruding structure 11 formed on the insulating layer 5 is indicated. Here, the height x1 indicates the distance x1 shown in FIG. 4B, and the height y1 indicates the distance y1 shown in FIG. 4C. Further, the “top portion of the protruding structure” described above refers to the upper bottom surface of the protruding structure 11 when the vertical cross-sectional shape of the protruding structure 11 is a trapezoid as illustrated in FIG. When the vertical cross-sectional shape of the protruding structure is a shape other than the trapezoid, it indicates the apex portion of the protruding structure.

また、上述した高さx1、y1については、上記「1.絶縁層」の項に記載した絶縁層の高さx、yと同様に、任意の接触部を中心とする半径0.5mmの領域内において、上記式(2)が成り立つことが好ましく、中でも、任意の接触部を中心とする半径5mmの領域内、特に、任意の接触部を中心とする半径50mmの領域内において、上記式(2)が成り立つことが好ましい。一般にガラスや樹脂等の基板にはうねりがあることから、有機EL表示装置全体では上記式(2)が成り立たない場合があるが、上記の領域内において上記式(2)が成り立っていれば上記の効果を十分に得ることができる。すなわち、上述の効果を得るには、有機EL表示装置全体において上記式(2)が成り立つ必要はなく、上記の領域内において上記式(2)が成り立っていればよい。   As for the above-described heights x1 and y1, as in the case of the heights x and y of the insulating layer described in the section “1. In the above, it is preferable that the above formula (2) is satisfied, and in particular, in the region having a radius of 5 mm centering on an arbitrary contact portion, particularly in the region having a radius of 50 mm centering on an arbitrary contact portion, It is preferable that 2) holds. In general, since the substrate such as glass or resin has undulations, the above formula (2) may not be satisfied in the whole organic EL display device. However, if the above formula (2) is satisfied in the above region, The effect of can be sufficiently obtained. That is, in order to obtain the above-described effect, the above formula (2) does not need to be satisfied in the entire organic EL display device, and the above formula (2) only needs to be satisfied in the above region.

なお、任意の接触部を中心とする半径が所定の範囲である領域については、上記「1.絶縁層」の項に記載したものと同様である。   In addition, the region in which the radius centered on an arbitrary contact portion is in a predetermined range is the same as that described in the above section “1. Insulating layer”.

上記突起構造物の具体的な高さとしては、上記突起構造物が本発明における機能を発揮することができる程度の高さであれば特に限定されるものではなく、絶縁層の高さに応じて適宜調整されるものである。例えば、1μm〜10μmの範囲内であることが好ましく、中でも1.5μm〜8μmの範囲内であることが好ましく、特に2μm〜5μmの範囲内であることが好ましい。なお、接触部および接触部に隣接する上記画素電極の間の突起構造物の高さとは、図4(b)に示すように、突起構造物11が形成された絶縁層5の頂部から突起構造物11の頂部までの距離tを指す。   The specific height of the protruding structure is not particularly limited as long as the protruding structure is high enough to exhibit the function of the present invention, and depends on the height of the insulating layer. Are adjusted accordingly. For example, it is preferably within a range of 1 μm to 10 μm, more preferably within a range of 1.5 μm to 8 μm, and particularly preferably within a range of 2 μm to 5 μm. Note that the height of the protrusion structure between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is a protrusion structure from the top of the insulating layer 5 on which the protrusion structure 11 is formed, as shown in FIG. The distance t to the top of the object 11 is indicated.

突起構造物に用いられる材料としては、本発明の有機EL表示装置の特性に悪影響を及ぼさないような材料であれば特に限定されるものではないが、例えば、感光性ポリイミド樹脂、アクリル系樹脂等の光硬化型樹脂、または熱硬化型樹脂、および無機材料等の絶縁性材料を挙げることができる。また、その他にも導電性材料を用いることもできる。   The material used for the protruding structure is not particularly limited as long as it does not adversely affect the characteristics of the organic EL display device of the present invention. For example, photosensitive polyimide resin, acrylic resin, etc. Insulating materials such as photocurable resins or thermosetting resins and inorganic materials. In addition, a conductive material can also be used.

本発明における突起構造物の形成方法としては、ラミネーション法、フォトリソグラフィー法、印刷法等の一般的な方法を用いることができる。   As a method for forming the protruding structure in the present invention, general methods such as a lamination method, a photolithography method, and a printing method can be used.

9.その他の構成
本発明においては、上述した構成を有していれば特に限定されるものではなく、その他の構成を有していてもよい。その他の構成としては、例えば、有機EL表示装置を封止する封止基板が挙げられる。
以下、封止基板について説明する。
9. Other Configurations The present invention is not particularly limited as long as it has the above-described configuration, and may have other configurations. Examples of other configurations include a sealing substrate that seals the organic EL display device.
Hereinafter, the sealing substrate will be described.

本発明の有機EL表示装置はトップエミッション型であるため、封止基板は光透過性を有している。封止基板の光透過性としては、可視光領域の波長に対して透過性を有していればよく、具体的には、可視光領域の全波長範囲に対する光透過率が80%以上であることが好ましく、中でも85%以上、特に90%以上であることが好ましい。
ここで、光透過率は、例えば島津製作所製紫外可視光分光光度計UV−3600により測定することができる。
Since the organic EL display device of the present invention is a top emission type, the sealing substrate has light transmittance. The light transmittance of the sealing substrate only needs to be transparent to the wavelength in the visible light region. Specifically, the light transmittance for the entire wavelength range in the visible light region is 80% or more. Of these, 85% or more, particularly 90% or more is preferable.
Here, the light transmittance can be measured by, for example, an ultraviolet-visible light spectrophotometer UV-3600 manufactured by Shimadzu Corporation.

また、封止基板は、可撓性を有していてもよく有さなくてもよく、有機EL表示装置の用途により適宜選択される。   Further, the sealing substrate may or may not have flexibility, and is appropriately selected depending on the use of the organic EL display device.

封止基板の材料としては、光透過性を有する封止基板が得られるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、石英、ガラス等の無機材料や、アクリル樹脂、COPと称されるシクロオレフィンポリマー、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリフェニレンスルフィド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルスルホン、ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトン等の樹脂が挙げられる。また、樹脂製の封止基板の表面にはガスバリア層が形成されていてもよい。   The material of the sealing substrate is not particularly limited as long as a light-transmitting sealing substrate can be obtained. For example, inorganic materials such as quartz and glass, acrylic resin, and COP are used. Examples thereof include resins such as cycloolefin polymer, polycarbonate, polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyphenylene sulfide, polyimide, polyamideimide, polyethersulfone, polyetherimide, and polyetheretherketone. A gas barrier layer may be formed on the surface of the resin sealing substrate.

封止基板の厚みとしては、封止基板の材料および有機EL装置の用途により適宜選択される。具体的に、封止基板の厚みは0.001mm〜5mm程度である。   The thickness of the sealing substrate is appropriately selected depending on the material of the sealing substrate and the use of the organic EL device. Specifically, the thickness of the sealing substrate is about 0.001 mm to 5 mm.

10.有機EL表示装置
本発明の有機EL表示装置は、少なくとも透明電極層側から光を取り出すものであればよく、透明電極層側から光を取り出すトップエミッション型であってもよく、透明電極層および画素電極の両側から光を取り出す両面発光型であってもよい。
10. Organic EL Display Device The organic EL display device of the present invention may be any device that can extract light from at least the transparent electrode layer side, and may be a top emission type that extracts light from the transparent electrode layer side. A double-sided light emitting type in which light is extracted from both sides of the electrode may be used.

B.有機EL表示装置の製造方法
本発明の有機EL表示装置の製造方法は、基板、上記基板上に形成された複数の画素電極、上記画素電極の間に形成された補助電極、上記画素電極のエッジ部分を覆うように隣接する上記画素電極の間に形成されており、上記補助電極が露出するように開口部を有する絶縁層、上記画素電極上に形成され、複数の有機層から構成されており、少なくとも発光層を有する有機EL層、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上に形成された少なくとも1層の上記有機層、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極上に形成された上記有機層の開口部である接触部、ならびに上記有機EL層および上記接触部上に形成された透明電極層を有し、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅が6μm以上であり、上記透明電極層は、上記補助電極と上記接触部で電気的に接続されている有機EL表示装置を製造する製造方法であって、上記基板、上記画素電極、上記補助電極、上記絶縁層、および上記有機EL層を有し、上記補助電極上の全面に少なくとも1層の上記有機層が形成された有機EL層側基板を準備する有機EL層側基板準備工程と、第1圧力下で、上記有機EL層側基板準備工程で得られた上記有機EL層側基板に蓋材を対向させ、上記絶縁層の頂部に上記蓋材が上記有機層を介して接触するように配置する配置工程と、上記蓋材の上記有機EL層側基板とは反対側の空間を第2圧力に調整して上記有機EL層側基板および上記蓋材を密着させる密着工程と、上記蓋材を介してレーザー光を照射して、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極を覆う上記有機層を除去して上記接触部を形成する接触部形成工程とを有することを特徴とする製造方法である。
B. Manufacturing method of organic EL display device The manufacturing method of the organic EL display device of the present invention includes a substrate, a plurality of pixel electrodes formed on the substrate, an auxiliary electrode formed between the pixel electrodes, and an edge of the pixel electrode. An insulating layer is formed between the adjacent pixel electrodes so as to cover a portion, and has an opening so that the auxiliary electrode is exposed. The insulating layer is formed on the pixel electrode, and includes a plurality of organic layers. An organic EL layer having at least a light emitting layer, at least one organic layer formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer, and formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer A contact portion that is an opening of the organic layer, and a transparent electrode layer formed on the organic EL layer and the contact portion, between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion. Up The insulating layer has a width of 6 μm or more, and the transparent electrode layer is a manufacturing method for manufacturing an organic EL display device that is electrically connected to the auxiliary electrode at the contact portion. An organic EL layer side substrate comprising an electrode, the auxiliary electrode, the insulating layer, and the organic EL layer, and an organic EL layer side substrate having at least one organic layer formed on the entire surface of the auxiliary electrode A cover material is made to face the organic EL layer side substrate obtained in the preparation step and the organic EL layer side substrate preparation step under a first pressure, and the cover material is placed on the top of the insulating layer via the organic layer. And an adhesion step of adjusting the space on the opposite side of the organic EL layer side substrate of the lid material to a second pressure to bring the organic EL layer side substrate and the lid material into close contact with each other. And irradiate laser light through the lid, And removing the organic layer covering the auxiliary electrodes exposed from the opening of the serial insulating layer is a manufacturing method characterized in that it comprises a contact portion forming step of forming the contact portion.

図2(a)〜(f)は、本発明の有機EL表示装置の製造方法の一例を示す工程図である。なお、図2(a)〜(f)についての具体的な説明は、上記「A.有機EL表示装置」の項で説明した内容と同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。   2A to 2F are process diagrams showing an example of a method for manufacturing an organic EL display device of the present invention. 2A to 2F can be the same as the contents described in the section “A. Organic EL display device”, and the description is omitted here. .

本発明によれば、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅が6μm以上であることにより、接触部形成工程の際にレーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのをより効果的に防ぎ、表示特性の低下を抑制することが可能な有機EL表示装置を得ることができる。なお、上記のような効果を奏する具体的な理由については、上記「A.有機EL表示装置」の項で記載したものと同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。   According to the present invention, since the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more, the organic layer removed by the laser beam during the contact portion forming step It is possible to obtain an organic EL display device that can more effectively prevent dust and the like from being scattered in the pixel region and suppress deterioration in display characteristics. In addition, since it can be the same as that of what was described in the term of the said "A. organic EL display apparatus" about the specific reason which has the above effects, description here is abbreviate | omitted.

ここで、本発明において「上記絶縁層の頂部に上記蓋材が上記有機層を介して接触するように配置して」とは、図2(d)に例示するように、上記絶縁層5の頂部に有機EL層6を介して上記蓋材8が接触して配置されている態様や、図示はしないが上記絶縁層の頂部に少なくとも1層の有機層を介して上記蓋材が接触して配置されている態様等を含む。   Here, in the present invention, “arranged so that the lid material is in contact with the top of the insulating layer via the organic layer” means that the insulating layer 5 has a structure as illustrated in FIG. An aspect in which the lid 8 is arranged in contact with the top via the organic EL layer 6, or although not shown, the lid is in contact with the top of the insulating layer via at least one organic layer. The arrangement | positioning etc. are included.

以下、本発明の有機EL表示装置の製造方法を構成する各工程について説明する。   Hereinafter, each process which comprises the manufacturing method of the organic electroluminescence display of this invention is demonstrated.

1.有機EL層側基板準備工程
本発明における有機EL層側基板準備工程は、上記基板、上記画素電極、上記補助電極、上記絶縁層、および上記有機EL層を有し、上記補助電極上の全面に少なくとも1層の上記有機層が形成された有機EL層側基板を準備する工程である。
以下、有機EL層側基板準備工程を構成する各工程について説明する。
1. Organic EL layer side substrate preparation step The organic EL layer side substrate preparation step in the present invention includes the substrate, the pixel electrode, the auxiliary electrode, the insulating layer, and the organic EL layer, and is disposed on the entire surface of the auxiliary electrode. This is a step of preparing an organic EL layer side substrate on which at least one organic layer is formed.
Hereinafter, each process which comprises an organic EL layer side board | substrate preparatory process is demonstrated.

(1)画素電極および補助電極形成工程
本発明における画素電極および補助電極形成工程は、基板上に複数の画素電極を形成し、上記画素電極の間に補助電極を形成する工程である。
(1) Pixel electrode and auxiliary electrode forming step The pixel electrode and auxiliary electrode forming step in the present invention is a step of forming a plurality of pixel electrodes on a substrate and forming auxiliary electrodes between the pixel electrodes.

本工程において用いられる基板、画素電極および補助電極については、上記「A.有機EL表示装置 2.基板」〜「A.有機EL表示装置 4.補助電極」の項に記載したものと同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。   The substrate, the pixel electrode, and the auxiliary electrode used in this step are the same as those described in the above section “A. Organic EL display device 2. Substrate” to “A. Organic EL display device 4. Auxiliary electrode”. Therefore, the description here is omitted.

(2)絶縁層形成工程
本発明における絶縁層形成工程は、隣接する上記画素電極の間に、上記画素電極のエッジ部分を覆うように絶縁層を形成する工程である。なお、本工程で形成される絶縁層は、上記補助電極が露出するように開口部を有する。
(2) Insulating layer forming step The insulating layer forming step in the present invention is a step of forming an insulating layer so as to cover the edge portion of the pixel electrode between the adjacent pixel electrodes. Note that the insulating layer formed in this step has an opening so that the auxiliary electrode is exposed.

本工程において形成される絶縁層については、上記「A.有機EL表示装置 1.絶縁層」の項に記載したものと同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。   The insulating layer formed in this step can be the same as that described in the above section “A. Organic EL display device 1. Insulating layer”, and thus description thereof is omitted here.

(3)有機EL層形成工程
本発明における有機EL層形成工程は、複数の有機層から構成され、少なくとも発光層を有する有機EL層を、上記画素電極上に形成する工程である。
(3) Organic EL Layer Forming Step The organic EL layer forming step in the present invention is a step of forming an organic EL layer having a plurality of organic layers and having at least a light emitting layer on the pixel electrode.

また、本工程では、上記有機EL層を形成するとともに、上記有機EL層を構成する少なくとも1層の上記有機層が、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極を覆うように形成される。例えば、有機EL表示装置の画素毎に発光層を塗り分ける場合には、正孔注入輸送層や電子注入輸送層が画素電極上および補助電極上に形成され、発光層が画素電極上にパターン状に形成される。なお、正孔注入輸送層や電子注入輸送層等の有機層が画素電極上および補助電極上に形成される場合には、上記有機層は画素電極上および補助電極上に連続して形成されることが一般的である。   In this step, the organic EL layer is formed, and at least one organic layer constituting the organic EL layer is formed so as to cover the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer. . For example, when a light emitting layer is separately applied to each pixel of an organic EL display device, a hole injection transport layer and an electron injection transport layer are formed on the pixel electrode and the auxiliary electrode, and the light emitting layer is patterned on the pixel electrode. Formed. When organic layers such as a hole injection transport layer and an electron injection transport layer are formed on the pixel electrode and the auxiliary electrode, the organic layer is continuously formed on the pixel electrode and the auxiliary electrode. It is common.

なお、本発明においては、例えば、本工程で正孔注入輸送層、発光層および電子輸送層を形成し、その後、後述する接触部形成工程後に電子注入層を形成してもよい。接触部形成工程後に形成される電子注入層が、画素電極上のみならず補助電極における接触部上に形成された場合であっても、電子注入層の厚みが極めて薄い場合には、接触部において補助電極と後述する透明電極層形成工程により形成される透明電極層とを電気的に接続させることができるからである。このように、接触部形成工程後に電子注入層を形成する場合には、配置工程、密着工程、また接触部形成工程による電子注入層の劣化を防ぐことができるため、比較的不安定とされるフッ化リチウム等の材料を電子注入層の材料として用いることが可能になる。   In the present invention, for example, a hole injection transport layer, a light emitting layer, and an electron transport layer may be formed in this step, and then the electron injection layer may be formed after a contact portion forming step described later. Even when the electron injection layer formed after the contact portion forming step is formed not only on the pixel electrode but also on the contact portion in the auxiliary electrode, if the electron injection layer is extremely thin, This is because the auxiliary electrode and the transparent electrode layer formed by the transparent electrode layer forming step described later can be electrically connected. As described above, when the electron injection layer is formed after the contact portion formation step, the electron injection layer can be prevented from being deteriorated due to the placement step, the adhesion step, and the contact portion formation step, and thus is relatively unstable. A material such as lithium fluoride can be used as the material of the electron injection layer.

本工程において形成される有機EL層については、上記「A.有機EL表示装置 5.有機EL層」の項に記載したものと同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。   The organic EL layer formed in this step can be the same as that described in the above section “A. Organic EL display device 5. Organic EL layer”, and thus the description thereof is omitted here.

(4)その他の工程
本発明における有機EL層側基板準備工程は、上述した画素電極および補助電極形成工程、絶縁層形成工程および有機EL層形成工程を有していれば特に限定されるものではないが、その他の工程を有していてもよい。例えば、少なくとも接触部および接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層上に突起構造物を形成する突起構造物形成工程が挙げられる。
(4) Other steps The organic EL layer side substrate preparation step in the present invention is not particularly limited as long as it has the above-described pixel electrode and auxiliary electrode formation step, insulating layer formation step, and organic EL layer formation step. There may be other steps, though. For example, there is a protruding structure forming step of forming a protruding structure on at least the contact portion and the insulating layer between the pixel electrodes adjacent to the contact portion.

なお、突起構造物形成工程において形成される突起構造物については、上記「A.有機EL表示装置 8.突起構造物」の項に記載したものと同様とすることができるため、ここでの記載は省略する。   The protrusion structure formed in the protrusion structure forming step can be the same as that described in the above section “A. Organic EL display device 8. Projection structure”. Is omitted.

2.配置工程
本発明における配置工程は、第1圧力下で、上記有機EL層側基板準備工程で得られた上記有機EL層側基板に蓋材を対向させ、上記絶縁層の頂部に上記蓋材が上記有機層を介して接触するように配置する工程である。
以下、本工程において用いられる蓋材および具体的な配置工程について説明する。
2. Arrangement Step In the arrangement step of the present invention, the lid material is opposed to the organic EL layer side substrate obtained in the organic EL layer side substrate preparation step under the first pressure, and the lid material is placed on the top of the insulating layer. It is the process of arrange | positioning so that it may contact via the said organic layer.
Hereinafter, the lid used in this process and a specific arrangement process will be described.

(1)蓋材
本工程において用いられる蓋材としては、有機EL層側基板と対向させて、有機EL層側基板と蓋材との間の空間を減圧状態にすることが可能なものであれば特に限定されるものではなく、例えば、ガラスフィルム、COP、PP、PC、PET等の透光性を有する材料等が挙げられる。中でも、ガラスフィルム、COP、およびPETが好ましい。
(1) Lid material The lid material used in this step is one that can face the organic EL layer side substrate and reduce the space between the organic EL layer side substrate and the lid material. For example, a material having translucency such as a glass film, COP, PP, PC, and PET may be used. Of these, glass film, COP, and PET are preferable.

蓋材の厚みとしては、第1圧力下で有機EL層側基板と蓋材とを対向させて、有機EL層側基板と蓋部との間の空間を減圧状態にすることができる程度の厚みであれば特に限定されるものではない。例えば、1μm〜1000μmの範囲内であることが好ましく、中でも10μm〜200μmの範囲内であることが好ましく、特に30μm〜100μmの範囲内であることが好ましい。   The thickness of the lid material is such that the space between the organic EL layer side substrate and the lid portion can be in a reduced pressure state by facing the organic EL layer side substrate and the lid material under the first pressure. If it is, it will not specifically limit. For example, it is preferably within a range of 1 μm to 1000 μm, more preferably within a range of 10 μm to 200 μm, and particularly preferably within a range of 30 μm to 100 μm.

このような蓋材としては、気体に対して所定のバリア性を有することが好ましい。蓋材が気体に対して所定のバリア性を有することにより、本工程にて蓋材と有機EL層側基板との間の空間を減圧状態にして、その後、後述する接触部形成工程を行うまでの間、蓋材と有機EL層側基板との間の空間を減圧された状態に維持することが可能になる。そのため、接触部形成工程において補助電極上の有機層をレーザー光により除去する際に、蓋材と有機EL層側基板との密着性を十分に維持し、除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのを防止することができるからである。蓋材の気体に対するバリア性としては、蓋材が上述した効果を発揮することができる程度のバリア性を有していれば特に限定されるものではないが、例えば、蓋材の酸素透過度が100cc/m・day以下であることが好ましく、中でも30cc/m・day以下であることが好ましく、特に15cc/m・day以下であることが好ましい。 Such a lid member preferably has a predetermined barrier property against gas. Since the lid material has a predetermined barrier property against the gas, the space between the lid material and the organic EL layer side substrate is reduced in pressure in this step, and then the contact portion forming step described later is performed. During this, the space between the lid member and the organic EL layer side substrate can be maintained in a decompressed state. Therefore, when the organic layer on the auxiliary electrode is removed by laser light in the contact portion forming step, the adhesion between the lid material and the organic EL layer side substrate is sufficiently maintained, and the dust or the like of the removed organic layer is a pixel. This is because it can be prevented from scattering into the area. The barrier property against the gas of the lid member is not particularly limited as long as the lid member has a barrier property that can exert the above-described effects. For example, the oxygen permeability of the lid member is not limited. It is preferably 100 cc / m 2 · day or less, more preferably 30 cc / m 2 · day or less, and particularly preferably 15 cc / m 2 · day or less.

また、上記蓋材は表面にバリア層が形成されていてもよい。蓋材がバリア層を有することにより、後述する接触部形成工程において、有機EL層側基板および蓋材の外周の空間から、有機EL層側基板と蓋材との間の空間へと気体が侵入するのをより効果的に防ぐことができる。   The lid material may have a barrier layer formed on the surface. Since the lid material has a barrier layer, gas enters the space between the organic EL layer side substrate and the outer periphery of the lid material into the space between the organic EL layer side substrate and the lid material in the contact portion forming step described later. Can be prevented more effectively.

上記蓋材に用いられるバリア層の材料としては、酸素や窒素等の気体に対して所望のバリア性を発揮することができ、後述する接触部形成工程において用いられるレーザー光を透過することができるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、無機材料が挙げられる。具体的な無機材料としては、酸化ケイ素、窒化ケイ素、炭化ケイ素、酸化チタン、酸化ニオブ、酸化インジウム、酸化亜鉛、酸化錫、酸化タンタル、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化カルシウムおよび酸化ジルコニウム等が挙げられる。また、バリア層としてガラスフィルムを用いてもよい。   As a material of the barrier layer used for the lid member, it can exhibit a desired barrier property against a gas such as oxygen or nitrogen, and can transmit a laser beam used in a contact portion forming step described later. If it is a thing, it will not specifically limit, For example, an inorganic material is mentioned. Specific examples of the inorganic material include silicon oxide, silicon nitride, silicon carbide, titanium oxide, niobium oxide, indium oxide, zinc oxide, tin oxide, tantalum oxide, aluminum oxide, magnesium oxide, calcium oxide, and zirconium oxide. . Moreover, you may use a glass film as a barrier layer.

バリア層の厚みとしては、本工程において用いられる蓋材にバリア層を形成した際に、上記蓋材が上述した平均透過率を達成することができる程度の厚みであれば特に限定されるものではないが、例えば、10nm〜800nmの範囲内であることが好ましく、中でも50nm〜500nmの範囲内であることが好ましく、特に70nm〜300nmの範囲内であることが好ましい。   The thickness of the barrier layer is not particularly limited as long as the lid material can achieve the above-described average transmittance when the barrier layer is formed on the lid material used in this step. However, it is preferably within the range of 10 nm to 800 nm, for example, preferably within the range of 50 nm to 500 nm, and particularly preferably within the range of 70 nm to 300 nm.

本工程において用いられる蓋材の表面にバリア層を形成する方法としては、例えば、スパッタリング法、真空蒸着法、プラズマCVD法等が挙げられる。また、バリア層を単独で形成し、上記バリア層を蓋材の表面に粘着材からなる粘着層を用いて貼り合わせてもよい。粘着層に用いられる粘着材としては、蓋材の表面に所望の強度で接着させることができ、後述する接触部形成工程において用いられるレーザー光を透過するものであれば特に限定されるものではなく、例えば、ポリカーボネート系樹脂、ポリオレフィン系樹脂、アクリル系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂、ポリエステル系樹脂、エポキシ系樹脂等が挙げられる。さらに、粘着層の厚みとしては、蓋材とバリア層とを十分に接着させることができる程度の厚みであれば特に限定されるものではなく、具体的には、5μm〜50μmの範囲内で設定することができる。   Examples of the method for forming the barrier layer on the surface of the lid member used in this step include a sputtering method, a vacuum deposition method, a plasma CVD method, and the like. Alternatively, the barrier layer may be formed alone, and the barrier layer may be bonded to the surface of the lid using an adhesive layer made of an adhesive material. The pressure-sensitive adhesive material used for the pressure-sensitive adhesive layer is not particularly limited as long as it can be adhered to the surface of the lid material with a desired strength and transmits laser light used in the contact portion forming step described later. Examples thereof include polycarbonate resin, polyolefin resin, acrylic resin, urethane resin, silicone resin, polyester resin, and epoxy resin. Furthermore, the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is not particularly limited as long as the lid material and the barrier layer can be sufficiently bonded to each other. Specifically, the thickness is set within a range of 5 μm to 50 μm. can do.

本工程において用いられる蓋材がバリア層を有する場合、上記バリア層は蓋材の一方の表面に配置されていてもよく、蓋材の両方の面に配置されていてもよい。なお、バリア層が蓋材の一方の表面に配置されている場合には、上記蓋材と有機EL層側基板とを対向させる際に上記蓋材におけるバリア層が有機EL層側基板側になるように配置されていてもよく、有機EL層側基板とは反対側になるように配置されていてもよい。   When the lid material used in this step has a barrier layer, the barrier layer may be disposed on one surface of the lid material or may be disposed on both surfaces of the lid material. In addition, when the barrier layer is arrange | positioned at one surface of a cover material, when making the said cover material and an organic EL layer side board | substrate oppose, the barrier layer in the said cover material turns into the organic EL layer side board | substrate side. It may be arranged so that it may be arranged on the side opposite to the organic EL layer side substrate.

また、蓋材としてガラスフィルムを用いる場合、ガラスフィルムの片面もしくは両面には樹脂層が形成されていてもよい。ガラスフィルムの割れを抑制することができる。樹脂層としては樹脂基材を用いることができる。樹脂基材に用いられる材料としては、例えば、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエーテルサルフォン(PES)、ポリイミド(PI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリカーボネート(PC)、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリフェニレンサルファイド(PPS)、ポリエーテルイミド(PEI)、セルローストリアセテート(CTA)、環状ポリオレフィン(COP)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ポリサルフォン(PSF)、ポリアミドイミド(PAI)、ノルボルネン系樹脂、アリルエステル樹脂等を挙げることができる。
樹脂基材の厚みは、可撓性を有する蓋材が得ることができる厚みであれば特に限定されるものではなく、例えば3μm〜200μmの範囲内であることが好ましく、5μm〜200μmの範囲内であることがより好ましい。
樹脂基材は粘着層を介してガラスフィルムに貼り合わせることができる。なお、粘着層については、上述の粘着層と同様とすることができる。
Moreover, when using a glass film as a cover material, the resin layer may be formed in the single side | surface or both surfaces of a glass film. Breaking of the glass film can be suppressed. A resin base material can be used as the resin layer. Examples of the material used for the resin substrate include polyethylene naphthalate (PEN), polyethylene terephthalate (PET), polyethersulfone (PES), polyimide (PI), polyetheretherketone (PEEK), and polycarbonate (PC). , Polyethylene (PE), polypropylene (PP), polyphenylene sulfide (PPS), polyetherimide (PEI), cellulose triacetate (CTA), cyclic polyolefin (COP), polymethyl methacrylate (PMMA), polysulfone (PSF), polyamideimide (PAI), norbornene resin, allyl ester resin and the like.
The thickness of the resin substrate is not particularly limited as long as a flexible lid can be obtained. For example, the thickness is preferably in the range of 3 μm to 200 μm, and preferably in the range of 5 μm to 200 μm. It is more preferable that
The resin base material can be bonded to the glass film through the adhesive layer. In addition, about the adhesion layer, it can be the same as that of the above-mentioned adhesion layer.

(2)配置工程
本工程は、上記有機EL層側基板および上記蓋材の間の空間を減圧状態にする工程である。
(2) Arrangement step This step is a step of reducing the space between the organic EL layer side substrate and the lid member.

なお、本発明において「第1圧力下で、上記有機EL層側基板準備工程で得られた上記有機EL層側基板に蓋材を対向させ、上記絶縁層の頂部に上記蓋材が上記有機層を介して接触するように配置する配置工程」としては、次のような方法が挙げられる。すなわち、まず、第1圧力である所定の真空度に設定された真空チャンバー内において、外周部にシール剤が形成された有機EL層側基板と蓋材とを対向させて配置し、有機EL層側基板と蓋材とを接触させる方法や、第1圧力に設定された真空チャンバー内において、治具等を用いて有機EL層側基板と蓋材とを接触させる方法が挙げられる。   In the present invention, “under a first pressure, a cover material is opposed to the organic EL layer side substrate obtained in the organic EL layer side substrate preparation step, and the cover material is placed on the top of the insulating layer. Examples of the “arrangement step of arranging so as to be in contact with each other” include the following methods. That is, first, in a vacuum chamber set to a predetermined degree of vacuum that is the first pressure, the organic EL layer side substrate on which the sealing agent is formed on the outer peripheral portion and the lid material are arranged to face each other, and the organic EL layer Examples thereof include a method of bringing the side substrate and the lid material into contact, and a method of bringing the organic EL layer side substrate and the lid material into contact with each other using a jig or the like in a vacuum chamber set to the first pressure.

治具を用いる場合、治具としては、有機EL層側基板および蓋材を接触させることができるものであればよく、例えば有機EL層側基板および蓋材を挟んで固定する治具であってもよく、蓋材が撓まないように蓋材のみを挟んで固定する治具であってもよい。
また、治具は、蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間を密閉可能なものであることが好ましい。具体的には、枠状の治具を挙げることができる。例えば蓋材の両面に枠状の治具を配置し、蓋材の有機EL層側基板の反対側の面に配置された枠状の治具を介して真空チャンバーのレーザー光透過窓に蓋材を押し当てることで、蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間を密閉することができ、後述の密着工程にて蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間の圧力を調整することができるからである。この場合、有機EL層側基板は、例えば上下移動可能なステージ上に載置することができ、ステージを上方に移動させ、枠状の治具で固定された蓋材に有機EL層側基板を接触させることで、有機EL層側基板と蓋材との間の空間を減圧状態にすることができる。蓋材の有機EL層側基板の反対側の面に配置する枠状の治具としては、例えばOリングを用いてもよい。
In the case of using a jig, the jig is not particularly limited as long as the organic EL layer side substrate and the lid material can be brought into contact with each other. Alternatively, a jig that holds and fixes only the lid material so that the lid material does not bend may be used.
Moreover, it is preferable that a jig | tool can seal the space on the opposite side to the organic electroluminescent layer side board | substrate of a cover material. Specifically, a frame-shaped jig can be mentioned. For example, frame-shaped jigs are arranged on both sides of the lid material, and the lid material is attached to the laser light transmission window of the vacuum chamber via the frame-shaped jig arranged on the opposite surface of the organic EL layer side substrate of the lid material. Can be used to seal the space on the side opposite to the organic EL layer side substrate of the lid material, and the pressure on the space on the side opposite to the organic EL layer side substrate of the lid material can be sealed in the adhesion process described below. This is because it can be adjusted. In this case, the organic EL layer side substrate can be placed, for example, on a stage that can move up and down, and the stage is moved upward, and the organic EL layer side substrate is placed on a lid fixed by a frame-shaped jig. By contacting, the space between the organic EL layer side substrate and the lid member can be in a reduced pressure state. For example, an O-ring may be used as a frame-shaped jig disposed on the surface of the lid material opposite to the organic EL layer side substrate.

有機EL層側基板と蓋材との間の空間は、第1圧力である所定の真空度となる。具体的には、後述する密着工程にて蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間を第2圧力に調整することにより、有機EL層側基板および蓋材の間の空間と蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間との間に差圧を生じさせて、上記有機EL層側基板と上記蓋材とを十分に密着させることができ、後述する接触部形成工程においてレーザー光により除去される有機層の粉塵が画素領域に飛散するのを防ぐことができれば特に限定されるものではないが、真空度の値ができるだけ大きいこと、すなわち、有機EL層側基板と蓋材との間の空間の圧力の値ができるだけ小さいことが好ましい。中でも、本工程においては、有機EL層側基板と蓋材との間の空間が真空空間であることが好ましい。具体的な真空度としては、1×10−5Pa〜1×10Paの範囲内であることが好ましく、中でも1×10−5Pa〜1×10Paの範囲内であることが好ましく、特に1×10−5Pa〜1×10Paの範囲内であることが好ましい。 The space between the organic EL layer side substrate and the lid member has a predetermined degree of vacuum that is the first pressure. Specifically, the space between the organic EL layer side substrate and the lid material and the lid material are adjusted by adjusting the space on the opposite side of the organic EL layer side substrate of the lid material to the second pressure in the adhesion step described later. In the contact part forming step described later, a differential pressure can be generated between the organic EL layer side substrate and the space opposite to the organic EL layer side substrate to sufficiently adhere the organic EL layer side substrate and the lid material. Although it will not specifically limit if the dust of the organic layer removed by a laser beam can be prevented from scattering to a pixel area, the value of the degree of vacuum is as large as possible, that is, the organic EL layer side substrate and the lid material It is preferable that the value of the pressure in the space between is as small as possible. Especially, in this process, it is preferable that the space between the organic EL layer side substrate and the lid member is a vacuum space. The specific degree of vacuum is preferably in the range of 1 × 10 −5 Pa to 1 × 10 4 Pa, and more preferably in the range of 1 × 10 −5 Pa to 1 × 10 3 Pa. In particular, it is preferably in the range of 1 × 10 −5 Pa to 1 × 10 2 Pa.

3.密着工程
本発明においては、上記蓋材の上記有機EL層側基板とは反対側の空間を第1圧力よりも高い第2圧力に調整して上記有機EL層側基板および上記蓋材を密着させる密着工程を行う。
以下、具体的な密着工程について説明する。
3. Adhering step In the present invention, the space on the opposite side of the organic EL layer side substrate of the lid material is adjusted to a second pressure higher than the first pressure to bring the organic EL layer side substrate and the lid material into close contact with each other. An adhesion process is performed.
Hereinafter, a specific adhesion process will be described.

本工程は、蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間を第2圧力に調整することにより、有機EL層側基板および蓋材の間の空間と蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間との間に差圧を生じさせ、有機EL層側基板および蓋材を密着させる工程である。   In this step, the space on the opposite side of the lid from the organic EL layer side substrate is adjusted to the second pressure, so that the space between the organic EL layer side substrate and the lid material, the organic EL layer side substrate of the lid material, Is a step of generating a differential pressure between the opposite space and bringing the organic EL layer side substrate and the lid material into close contact with each other.

蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間を第2圧力に調整する際には、少なくとも蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間を第2圧力に調整すればよく、例えば蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間のみを第2圧力に調整してもよく、蓋材および有機EL層側基板の外周の空間を第2圧力に調整してもよい。   When adjusting the space opposite to the organic EL layer side substrate of the lid to the second pressure, at least the space opposite to the organic EL layer side substrate of the lid may be adjusted to the second pressure, For example, only the space opposite to the organic EL layer side substrate of the lid material may be adjusted to the second pressure, and the outer space of the lid material and the organic EL layer side substrate may be adjusted to the second pressure.

蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間を第2圧力に調整する方法としては、有機EL層側基板および蓋材の間の空間と蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間との間に差圧を生じさせ、有機EL層側基板および蓋材を密着させることができる方法であれば特に限定されるものではないが、例えば、以下のような方法が挙げられる。すなわち、真空チャンバー内にて接触させた有機EL層側基板および蓋材を、常圧空間にさらすことにより有機EL層側基板および蓋材の外周の空間を常圧に戻す方法や、真空チャンバー内にて有機EL層側基板および蓋材の間の空間を減圧状態にした後に、真空チャンバー内に気体を流入させて加圧する方法等が挙げられる。なお、接触させた有機EL層側基板および蓋材を常圧空間にさらす方法により密着工程を行う場合における上記「常圧空間」としては、有機EL表示素子の劣化を抑制するという観点から、例えば酸素濃度および水分濃度が少なくとも1ppm以下であり、窒素やアルゴン等の不活性ガスで充填された空間であることが好ましい。また、真空チャンバー内に気体を流入して加圧する場合には、真空チャンバー全体に気体を流入してもよく、蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間のみに気体を流入してもよい。上述したように、例えば枠状の治具を用いた場合には、蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間を密閉することができ、この空間に気体を流入することで有機EL層側基板および蓋材を密着させることができる。真空チャンバー内に流入する気体としては、上記と同様の理由から、窒素やアルゴン等の不活性ガスであることが好ましい。   As a method for adjusting the space on the side opposite to the organic EL layer side substrate of the lid to the second pressure, the space between the organic EL layer side substrate and the lid and the side opposite to the organic EL layer side substrate of the lid Although it will not specifically limit if it is a method which produces a differential pressure between this space and can make an organic EL layer side board | substrate and a cover material contact | adhere, For example, the following methods are mentioned. That is, by exposing the organic EL layer side substrate and the lid material brought into contact with each other in the vacuum chamber to a normal pressure space, the outer peripheral space of the organic EL layer side substrate and the lid material is returned to normal pressure, And the like, after the space between the organic EL layer side substrate and the lid member is in a reduced pressure state, a gas is flowed into the vacuum chamber to pressurize. In addition, as said "normal pressure space" in the case of performing an adhesion | attachment process by the method which exposes the contacted organic EL layer side board | substrate and cover material to normal pressure space, from a viewpoint of suppressing deterioration of an organic EL display element, for example, The space preferably has an oxygen concentration and a water concentration of at least 1 ppm or less and is filled with an inert gas such as nitrogen or argon. In addition, when a gas is flowed into the vacuum chamber and pressurized, the gas may flow into the entire vacuum chamber, or the gas may flow into only the space on the side opposite to the organic EL layer side substrate of the lid. Also good. As described above, for example, when a frame-shaped jig is used, the space on the side opposite to the organic EL layer side substrate of the lid can be sealed, and the organic EL can be obtained by flowing gas into this space. A layer side board | substrate and a cover material can be stuck. The gas flowing into the vacuum chamber is preferably an inert gas such as nitrogen or argon for the same reason as described above.

上記「第2圧力」としては、配置工程における第1圧力よりも高い圧力であり、また第1圧力と第2圧力との差圧により有機EL層側基板に蓋材を密着させることができる程度の圧力であれば特に限定されるものではないが、例えば第2圧力が第1圧力よりも100Pa以上高いことが好ましく、中でも1000Pa以上高いことが好ましく、特に10000Pa以上高いことが好ましい。第2圧力と第1圧力との差圧が上記数値以上であることにより、有機EL層側基板に蓋材を十分に密着させることができる。   The “second pressure” is a pressure higher than the first pressure in the disposing step, and the lid material can be brought into close contact with the organic EL layer side substrate by the differential pressure between the first pressure and the second pressure. For example, the second pressure is preferably 100 Pa or more higher than the first pressure, more preferably 1000 Pa or more, and particularly preferably 10,000 Pa or more. When the differential pressure between the second pressure and the first pressure is equal to or higher than the above numerical value, the lid member can be sufficiently adhered to the organic EL layer side substrate.

4.接触部形成工程
本発明における接触部形成工程は、上記蓋材を介してレーザー光を照射して、上記絶縁層の開口部より露出した上記補助電極を覆う上記有機層を除去して上記接触部を形成する工程である。
4). Contact part forming step The contact part forming step in the present invention is performed by irradiating a laser beam through the lid material, removing the organic layer covering the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer, and the contact part. Is a step of forming.

本工程は、上記「2.配置工程」の項において説明したように、有機EL層側基板および蓋材の間の空間と、少なくとも蓋材の有機EL層側基板とは反対側の空間との間に所定の差圧がある状態にて行われる。なお、上述した密着工程として真空チャンバー内に気体を流入させて加圧する方法を用いる場合には、例えば次のような方法により本工程を行うことができる。すなわち、ガラス等の透光性基材から構成される真空チャンバーに設置されたレーザー光透過窓等を介してレーザー光を照射し、補助電極を覆う有機層を除去することにより接触部を形成する方法である。   In this step, as described in the section “2. Arrangement step” above, the space between the organic EL layer side substrate and the lid member and at least the space on the opposite side of the lid member from the organic EL layer side substrate are provided. It is performed in a state where there is a predetermined differential pressure between them. In addition, when using the method of making gas flow into a vacuum chamber and pressurizing as the contact | adherence process mentioned above, this process can be performed by the following methods, for example. That is, a contact portion is formed by irradiating a laser beam through a laser beam transmitting window or the like installed in a vacuum chamber composed of a transparent substrate such as glass and removing the organic layer covering the auxiliary electrode. Is the method.

本工程において形成される接触部については、上記「A.有機EL表示装置 6.接触部」の項に記載したものと同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。   About the contact part formed in this process, since it can be made to be the same as that of what was described in the above-mentioned item of "A. Organic EL display device 6. Contact part", description here is abbreviate | omitted.

5.透明電極層形成工程
本発明における透明電極層形成工程は、上記蓋材を剥離して、上記接触部において露出した上記補助電極に電気的に接続されるように、上記有機EL層側基板上に透明電極層を形成する工程である。
5. Transparent electrode layer forming step The transparent electrode layer forming step in the present invention is performed on the organic EL layer side substrate so that the lid member is peeled off and electrically connected to the auxiliary electrode exposed at the contact portion. This is a step of forming a transparent electrode layer.

本工程において形成される透明電極層については、上記「A.有機EL表示装置 7.透明電極層」の項に記載したものと同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。   The transparent electrode layer formed in this step can be the same as that described in the above section “A. Organic EL display device 7. Transparent electrode layer”, and thus the description thereof is omitted here.

6.その他の工程
本発明においては、上述した工程を有していれば特に限定されるものではないが、その他の工程を有していてもよい。その他の工程としては、例えば、有機EL表示装置を封止する封止基板形成工程が挙げられる。
6). Other Steps In the present invention, there are no particular limitations as long as the steps described above are included, but other steps may be included. Examples of other processes include a sealing substrate forming process for sealing the organic EL display device.

なお、封止基板については、上記「A.有機EL表示装置 9.その他の構成」の項に記載したものと同様とすることができるため、ここでの記載は省略する。   The sealing substrate can be the same as that described in the above section “A. Organic EL display device 9. Other configurations”, and thus description thereof is omitted here.

本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。   The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the present invention has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention, and any device that exhibits the same function and effect is the present invention. It is included in the technical scope of the invention.

以下、本発明について実施例を用いて具体的に説明する。   Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples.

[実施例1]
(画素電極および補助電極形成工程)
膜厚0.7mmの無アルカリガラスからなる基板上に、スパッタリング法により膜厚150nmのクロム膜を成膜した。その後、フォトリソグラフィー法により画素電極および補助電極を同時に形成した。
[Example 1]
(Pixel electrode and auxiliary electrode formation process)
A chromium film having a thickness of 150 nm was formed by sputtering on a substrate made of alkali-free glass having a thickness of 0.7 mm. Thereafter, a pixel electrode and an auxiliary electrode were simultaneously formed by photolithography.

(絶縁層形成工程)
次に、上記画素電極のエッジ部分を覆い、かつ上記補助電極が露出する開口部を有するように、上記画素電極間にフォトリソグラフィー法により絶縁層を形成した。なお、絶縁層の縦断面形状は順テーパー形状であった。また、後に形成する接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅と高さについては、下記表1に示すように調整した。なお、ここでの上記絶縁層の幅とは図1(a)、(b)に示すwを指し、上記絶縁層の高さとは図1(b)に示すxを指す。
(Insulating layer forming process)
Next, an insulating layer was formed between the pixel electrodes by a photolithography method so as to cover the edge portion of the pixel electrode and to have an opening through which the auxiliary electrode was exposed. In addition, the longitudinal cross-sectional shape of the insulating layer was a forward taper shape. Further, the width and height of the insulating layer between the contact portion to be formed later and the pixel electrode adjacent to the contact portion were adjusted as shown in Table 1 below. Here, the width of the insulating layer in the the FIG. 1 (a), refers to w 1 shown in (b), the height of the insulating layer refers to x shown in FIG. 1 (b).

Figure 2015222728
Figure 2015222728

(有機EL層形成工程)
次に、画素電極上に0.1μmの正孔注入層を形成し、次いで正孔注入層上に0.3μmの発光層を形成した。その後、発光層上に0.3μmの電子輸送層を形成し、有機EL層とした。なお、上記有機EL層は画素電極上に形成するとともに、絶縁層の開口部より露出した補助電極上にも形成した。
(Organic EL layer formation process)
Next, a 0.1 μm hole injection layer was formed on the pixel electrode, and then a 0.3 μm light emitting layer was formed on the hole injection layer. Thereafter, an electron transport layer having a thickness of 0.3 μm was formed on the light emitting layer to obtain an organic EL layer. The organic EL layer was formed on the pixel electrode and also on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer.

(シール材形成工程)
ディスペンサーを用いて、上記有機EL層側基板のパターン外周部にシール材を形成した。
(Sealing material forming process)
A sealant was formed on the outer periphery of the pattern of the organic EL layer side substrate using a dispenser.

(配置工程および密着工程)
次に、真空チャンバー内において、上記有機EL層側基板に蓋材を対向させて有機EL層側基板表面に蓋材を接触させて、有機EL層側基板と蓋材との間の空間を減圧状態にした。その後、真空チャンバー内に窒素ガスを流入させることによりチャンバー内を常圧に戻して有機EL層側基板と蓋材とを密着させた。なお、本工程は、真空度を50Paに設定した真空チャンバーを用いた場合と真空度を500Paに設定した真空チャンバーを用いた場合との2通りの条件下で行った。また、蓋材には、厚み100μmのPETフィルムを用いた。
(Arrangement process and adhesion process)
Next, in the vacuum chamber, the lid material is opposed to the organic EL layer side substrate, the lid material is brought into contact with the surface of the organic EL layer side substrate, and the space between the organic EL layer side substrate and the lid material is decompressed. It was in a state. Thereafter, nitrogen gas was introduced into the vacuum chamber to return the inside of the chamber to normal pressure, and the organic EL layer side substrate and the lid member were brought into close contact with each other. In addition, this process was performed on two conditions, the case where the vacuum chamber which set the vacuum degree to 50 Pa was used, and the case where the vacuum chamber which set the vacuum degree to 500 Pa was used. Further, a PET film having a thickness of 100 μm was used as the lid material.

(接触部形成工程)
次に、蓋材を介してエネルギー500mJ/cm、スポット径10μmφ、波長355nm、パルス幅5nsecのYAGレーザー光を1ショット照射して、補助電極を覆う正孔注入層、発光層および電子輸送層を除去し、補助電極を露出させて接触部を形成した。
(Contact part formation process)
Next, one shot of YAG laser light having an energy of 500 mJ / cm 2 , a spot diameter of 10 μmφ, a wavelength of 355 nm, and a pulse width of 5 nsec is irradiated through the cover material to cover the auxiliary electrode, a hole injection layer, a light emitting layer, and an electron transport layer Then, the auxiliary electrode was exposed to form a contact portion.

(電子注入層および透明電極層形成工程)
その後、蓋材を剥離して、接触部において露出した補助電極に電気的に接続されるようにフッ化リチウムを膜厚0.5nmとなるように真空蒸着法により成膜し、電子注入層を形成した。次いで、カルシウムを膜厚10nm、アルミニウムを膜厚5nmとなるように真空蒸着法により成膜し、透明電極層を形成した。
(Electron injection layer and transparent electrode layer forming step)
Thereafter, the lid material is peeled off, and lithium fluoride is deposited by vacuum deposition so as to have a thickness of 0.5 nm so as to be electrically connected to the auxiliary electrode exposed at the contact portion, and the electron injection layer is formed. Formed. Next, the film was formed by vacuum deposition so that the calcium film thickness was 10 nm and the aluminum film thickness was 5 nm to form a transparent electrode layer.

(封止工程)
上述したように作製した有機EL表示装置を接着材を塗布した封止基板と貼り合せ封止を行った。
(Sealing process)
The organic EL display device manufactured as described above was bonded and sealed to a sealing substrate coated with an adhesive.

(評価)
上記表1に示すNo.1〜5の絶縁層を用いて蓋材と有機EL層側基板との間の空間を真空度50Pa、500Paの条件下で減圧状態にし、その後、密着工程および接触部形成工程を行った際の画素領域における有機EL層表面への有機層の飛散の有無について観察した。画素領域における有機EL層表面への有機層の飛散を防止することができれば「A」、また、画素領域における有機EL層表面への有機層の飛散を防止することができなければ「B」と評価した。
評価結果を表2に示す。
(Evaluation)
No. shown in Table 1 above. The space between the lid material and the organic EL layer side substrate is reduced to a reduced pressure state under conditions of a vacuum degree of 50 Pa and 500 Pa using the insulating layers of 1 to 5, and then the adhesion process and the contact part forming process are performed. The presence or absence of scattering of the organic layer on the surface of the organic EL layer in the pixel region was observed. "A" if scattering of the organic layer to the surface of the organic EL layer in the pixel area can be prevented, and "B" if scattering of the organic layer to the surface of the organic EL layer in the pixel area cannot be prevented. evaluated.
The evaluation results are shown in Table 2.

Figure 2015222728
Figure 2015222728

表2に示すように、配置工程において真空チャンバー内の真空度を50Paに設定した場合、および真空チャンバー内の真空度を500Paに設定した場合のいずれにおいても、No.2〜No.5の絶縁層を有する有機EL層側基板と蓋材との間の空間を減圧状態にして有機EL層側基板および蓋材を密着させることにより、接触部形成工程にてレーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域における有機EL層表面に飛散するのを防止することができた。このことから、絶縁層の幅が6μm以上であることにより、接触部形成工程においてレーザー光を照射する領域と近傍の画素領域との間に所定の距離が生じ、レーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域における有機EL層表面に飛散するのを防ぐことができることが分かった。   As shown in Table 2, in both the case where the degree of vacuum in the vacuum chamber was set to 50 Pa and the degree of vacuum in the vacuum chamber was set to 500 Pa in the placement step, No. 2-No. The space between the organic EL layer side substrate having the insulating layer 5 and the lid material was reduced in pressure, and the organic EL layer side substrate and the lid material were brought into close contact with each other, thereby being removed by the laser light in the contact portion forming step. It was possible to prevent dust on the organic layer from being scattered on the surface of the organic EL layer in the pixel region. Accordingly, when the width of the insulating layer is 6 μm or more, a predetermined distance is generated between the region irradiated with the laser beam and the neighboring pixel region in the contact portion forming step, and the organic layer removed by the laser beam. It was found that the dust and the like can be prevented from scattering on the surface of the organic EL layer in the pixel region.

[実施例2]
絶縁層に形成した開口部の大きさを0μm〜35μmとし、また接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅を0μm〜40μmとしたこと以外は、実施例1と同様の方法により有機EL表示装置を製造した。なお、配置工程では真空チャンバー内の真空度は50Paに設定した。
[Example 2]
Example 1 except that the size of the opening formed in the insulating layer is 0 μm to 35 μm, and the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 0 μm to 40 μm. An organic EL display device was manufactured by the same method. In the arranging step, the degree of vacuum in the vacuum chamber was set to 50 Pa.

(評価)
実施例1と同様に、画素領域における有機EL層表面への有機層の飛散の有無について観察した。画素領域における有機EL層表面への有機層の飛散を防止することができれば「A」、また、レーザー照射機の出力をエネルギー250mJ/cmとし、その他は上記「A」と同様の条件でレーザー光を照射することにより、画素領域における有機EL層表面への有機層の飛散を防止することができれば「B」、画素領域における有機EL層表面への有機層の飛散を防止することができなければ「C」と評価した。なお、接触部形成工程において用いられるレーザー照射機は、出力が大きい程有機層をより確実に除去することができる。そのため、レーザー照射機の出力がエネルギー500mJ/cmである場合とエネルギー250mJ/cmである場合とでは、レーザー照射機の出力がエネルギー500mJ/cmである場合の方がより確実に有機層を除去することができる。
評価結果を図5に示す。
(Evaluation)
As in Example 1, the presence or absence of scattering of the organic layer on the surface of the organic EL layer in the pixel region was observed. If the scattering of the organic layer to the surface of the organic EL layer in the pixel region can be prevented, “A”, the output of the laser irradiator is set to energy 250 mJ / cm 2 , and the other conditions are the same as in “A” above. If the organic layer can be prevented from scattering to the surface of the organic EL layer in the pixel area by irradiating light, “B”, and the organic layer to the surface of the organic EL layer in the pixel area must be prevented from scattering. And “C”. In addition, the laser irradiation machine used in a contact part formation process can remove an organic layer more reliably, so that an output is large. Therefore, in a case where the output of the laser irradiation apparatus is the energy 250 mJ / cm 2 when the energy 500 mJ / cm 2 is more reliably organic layer is better in the case where the output of the laser irradiation apparatus is energy 500 mJ / cm 2 Can be removed.
The evaluation results are shown in FIG.

図5に示すように、接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅が6μm以上であることにより、接触部形成工程の際にレーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのを防ぐことができた。また、接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅が6μm以上であるとともに、絶縁層に形成した開口部の大きさが10μm以上であるときには、その効果は顕著であった。これは、接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の幅が6μm以上であり、開口部の大きさが10μm以上であることにより、接触部形成工程においてレーザー光が照射される領域と近傍の画素領域との間に所定の距離が生じるからだと考えられる。   As shown in FIG. 5, when the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more, the organic layer removed by the laser beam during the contact portion forming step It was possible to prevent dust and the like from being scattered in the pixel area. The effect is remarkable when the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more and the size of the opening formed in the insulating layer is 10 μm or more. Met. This is because the width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more, and the size of the opening is 10 μm or more. This is presumably because a predetermined distance is generated between the irradiated region and the neighboring pixel region.

[実施例3]
上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層の高さをxとし、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間以外の上記絶縁層の高さのうち、最も高い高さをyとしたとき、y−xが下記表3となるように設計したこと以外は実施例1と同様の方法により有機EL表示装置を製造した。なお、No.10、11では、上記接触部および上記接触部に隣接する上記画素電極の間の上記絶縁層上に突起構造物を形成した。この場合、接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層と突起構造物との高さをx1とし、接触部および接触部に隣接する画素電極の間以外の絶縁層の高さ、または絶縁層と突起構造物との高さのうち、最も高い高さをy1としたとき、y1−x1が下記表3となるように設計した。また、配置工程では真空チャンバー内の真空度は50Paに設定した。
[Example 3]
The height of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is x, and the height of the insulating layer other than between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is Among them, an organic EL display device was produced in the same manner as in Example 1 except that the design was such that y-x was as shown in Table 3 below, where y was the highest height. In addition, No. In Nos. 10 and 11, a protruding structure is formed on the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion. In this case, the height of the insulating layer and the protruding structure between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is x1, and the height of the insulating layer other than between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion, Or it designed so that y1-x1 might become following Table 3 when the highest height was set to y1 among the heights of an insulating layer and a protrusion structure. In the placement step, the degree of vacuum in the vacuum chamber was set to 50 Pa.

Figure 2015222728
Figure 2015222728

(評価)
上記表3に示すNo.6〜11のように絶縁層を設計し、蓋材と有機EL層側基板との間の空間を減圧状態にして有機EL層側基板および蓋材を密着させ、その後、蓋材を介してレーザー光により補助電極上に形成された有機層を除去した。このときの画素領域における有機EL層表面への有機層の飛散の有無について観察した。レーザー光により除去された有機層が画素領域に飛散するのを防止し、表示特性の低下を防止することができた場合には「A」、接触部形成工程でレーザー光により除去された有機層が画素領域に僅かに飛散したものの、表示特性の低下を防止することができた場合には「B」と評価した。
評価結果を表4に示す。
(Evaluation)
No. shown in Table 3 above. The insulating layer is designed as in 6 to 11, the space between the lid material and the organic EL layer side substrate is reduced in pressure, the organic EL layer side substrate and the lid material are brought into close contact, and then the laser is passed through the lid material. The organic layer formed on the auxiliary electrode was removed by light. At this time, the presence or absence of scattering of the organic layer on the surface of the organic EL layer in the pixel region was observed. “A” when the organic layer removed by the laser beam is prevented from scattering into the pixel area and the display characteristics can be prevented from being deteriorated, “A”, the organic layer removed by the laser beam in the contact portion forming step Was slightly scattered in the pixel area, but was evaluated as “B” when the display characteristics could be prevented from being deteriorated.
The evaluation results are shown in Table 4.

Figure 2015222728
Figure 2015222728

表4に示すように、y−xまたはy1−x1が0.05μm以下であるNo.8〜No.11の場合には、y−xが0.05μm以上であるNo.6およびNo.7と比較して、配置工程および密着工程により接触部および接触部に隣接する画素電極の間の絶縁層と蓋材とを十分に密着させることができ、接触部形成工程においてレーザー光により除去された有機層の粉塵等が画素領域に飛散するのをより効果的に防ぐことができることが分かった。   As shown in Table 4, y.sub.x or y.sub.1-x1 is 0.05 .mu.m or less. 8-No. In the case of No. 11, No. having a y-x of 0.05 μm or more. 6 and no. 7 and the contact step and the insulating layer between the pixel electrodes adjacent to the contact portion and the cover material can be sufficiently brought into close contact by the placement step and the close contact step, and are removed by the laser light in the contact portion forming step. It was found that the dust in the organic layer can be more effectively prevented from scattering into the pixel region.

[実施例4]
下記に示すように有機EL層形成工程を行った以外は、実施例1と同様にして有機EL表示装置を作製した。
(有機EL層形成工程)
次に、画素電極上に0.1μmとなるように正孔注入層および正孔輸送層を形成し、次いで正孔輸送層上に0.02μmの発光層を形成した。その後、発光層上に0.03μmの電子輸送層を形成し、有機EL層とした。なお、上記有機EL層は画素電極上に形成するとともに、絶縁層の開口部より露出した補助電極上にも形成した。
(評価)
実施例1と同様の結果が得られた。
[Example 4]
An organic EL display device was produced in the same manner as in Example 1 except that the organic EL layer forming step was performed as shown below.
(Organic EL layer formation process)
Next, a hole injection layer and a hole transport layer were formed on the pixel electrode so as to have a thickness of 0.1 μm, and then a 0.02 μm light emitting layer was formed on the hole transport layer. Thereafter, an electron transport layer having a thickness of 0.03 μm was formed on the light emitting layer to obtain an organic EL layer. The organic EL layer was formed on the pixel electrode and also on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer.
(Evaluation)
The same result as in Example 1 was obtained.

1 … 有機EL層側基板
2 … 基板
3 … 画素電極
4 … 補助電極
5 … 絶縁層
6 … 有機EL層
7 … 透明電極層
8 … 蓋材
9 … 接触部
10 … トップエミッション型有機EL表示装置
11 … 突起構造物
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Organic EL layer side substrate 2 ... Substrate 3 ... Pixel electrode 4 ... Auxiliary electrode 5 ... Insulating layer 6 ... Organic EL layer 7 ... Transparent electrode layer 8 ... Lid 9 ... Contact part 10 ... Top emission type organic EL display device 11 ... Projection structure

Claims (4)

基板と、
前記基板上に形成された複数の画素電極と、
前記画素電極の間に形成された補助電極と、
前記画素電極のエッジ部分を覆うように隣接する前記画素電極の間に形成されており、前記補助電極が露出するように開口部を有する絶縁層と、
前記画素電極上に形成され、複数の有機層から構成されており、少なくとも発光層を有する有機エレクトロルミネッセンス層と、
前記絶縁層の開口部より露出した前記補助電極上に形成された少なくとも1層の前記有機層と、
前記絶縁層の開口部より露出した前記補助電極上に形成され、前記絶縁層の開口部より小さく形成された前記有機層の開口部である接触部と、
前記有機エレクトロルミネッセンス層および前記接触部上に形成された透明電極層と
を有し、
前記接触部および前記接触部に隣接する前記画素電極の間の前記絶縁層の幅が6μm以上であり、
前記絶縁層の開口部の大きさが、前記補助電極の幅方向または長さ方向に10μm以上であり、
前記透明電極層は、前記補助電極と前記接触部で電気的に接続されており、
さらに、前記絶縁層の開口部内の前記有機層と前記透明電極層との間には、前記有機層を構成する材料を含む粉塵が存在することを特徴とするトップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置。
A substrate,
A plurality of pixel electrodes formed on the substrate;
An auxiliary electrode formed between the pixel electrodes;
An insulating layer formed between adjacent pixel electrodes so as to cover an edge portion of the pixel electrode, and having an opening so that the auxiliary electrode is exposed;
An organic electroluminescence layer formed on the pixel electrode and composed of a plurality of organic layers, and having at least a light emitting layer;
At least one organic layer formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer;
A contact portion which is formed on the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer and is an opening of the organic layer formed smaller than the opening of the insulating layer;
The organic electroluminescence layer and a transparent electrode layer formed on the contact portion,
A width of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is 6 μm or more;
The size of the opening of the insulating layer is 10 μm or more in the width direction or length direction of the auxiliary electrode,
The transparent electrode layer is electrically connected to the auxiliary electrode at the contact portion,
Furthermore, the top emission type organic electroluminescence display device, wherein dust containing a material constituting the organic layer exists between the organic layer and the transparent electrode layer in the opening of the insulating layer.
前記接触部および前記接触部に隣接する前記画素電極の間の前記絶縁層の高さをxとし、前記接触部および前記接触部に隣接する前記画素電極の間以外の前記絶縁層の高さのうち、最も高い高さをyとしたとき、y−x≦0.05μmであることを特徴とする請求項1に記載のトップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置。   The height of the insulating layer between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is x, and the height of the insulating layer other than between the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion is The top emission organic electroluminescence display device according to claim 1, wherein y−x ≦ 0.05 μm, where y is the highest height. 少なくとも前記接触部および前記接触部に隣接する前記画素電極の間の前記絶縁層上に突起構造物が形成されており、
前記突起構造物の幅が6μm以上であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のトップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置。
A protrusion structure is formed on the insulating layer between at least the contact portion and the pixel electrode adjacent to the contact portion,
The top emission type organic electroluminescence display device according to claim 1, wherein the protruding structure has a width of 6 μm or more.
基板、前記基板上に形成された複数の画素電極、前記画素電極の間に形成された補助電極、前記画素電極のエッジ部分を覆うように隣接する前記画素電極の間に形成されており、前記補助電極が露出するように開口部を有する絶縁層、前記画素電極上に形成され、複数の有機層から構成されており、少なくとも発光層を有する有機エレクトロルミネッセンス層、前記絶縁層の開口部より露出した前記補助電極上に形成された少なくとも1層の前記有機層、前記絶縁層の開口部より露出した前記補助電極上に形成され前記絶縁層の開口部より小さく形成された前記有機層の開口部である接触部、ならびに前記有機エレクトロルミネッセンス層および前記接触部上に形成された透明電極層を有し、前記接触部および前記接触部に隣接する前記画素電極の間の前記絶縁層の幅が6μm以上であり、前記絶縁層の開口部の大きさが、前記補助電極の幅方向または長さ方向に10μm以上であり、前記透明電極層は、前記補助電極と前記接触部で電気的に接続されているトップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置を製造するトップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法であって、
前記基板、前記画素電極、前記補助電極、前記絶縁層、および前記有機エレクトロルミネッセンス層を有し、前記補助電極上の全面に少なくとも1層の前記有機層が形成された有機エレクトロルミネッセンス層側基板を準備する有機エレクトロルミネッセンス層側基板準備工程と、
第1圧力下で、前記有機エレクトロルミネッセンス層側基板準備工程で得られた前記有機エレクトロルミネッセンス層側基板に蓋材を対向させ、前記絶縁層の頂部に前記蓋材が前記有機層を介して接触するように配置する配置工程と、
前記蓋材の前記有機エレクトロルミネッセンス層側基板とは反対側の空間を前記第1圧力よりも高い第2圧力に調整して前記有機エレクトロルミネッセンス層側基板および前記蓋材を密着させる密着工程と、
前記蓋材を介してレーザー光を照射して、前記絶縁層の開口部より露出した前記補助電極を覆う前記有機層を除去して前記接触部を形成する接触部形成工程と、
を有し、
前記絶縁層の開口部内の前記有機層と前記透明電極層との間には、前記有機層が前記レーザー光の照射により除去される際に発生した、前記有機層を構成する材料を含む粉塵が存在することを特徴とするトップエミッション型有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法。
A substrate, a plurality of pixel electrodes formed on the substrate, an auxiliary electrode formed between the pixel electrodes, and formed between the adjacent pixel electrodes so as to cover an edge portion of the pixel electrode, Insulating layer having an opening so as to expose the auxiliary electrode, formed on the pixel electrode, composed of a plurality of organic layers, and exposed at least from the organic electroluminescent layer having a light emitting layer, from the opening of the insulating layer at least one layer of the organic layer of the formed on the auxiliary electrode, said exposed from the opening portion of the insulating layer formed on the auxiliary electrode, the opening of the insulating layer and the organic layer reduced is formed from the opening of A contact portion, and the organic electroluminescence layer and a transparent electrode layer formed on the contact portion, the contact portion and the image adjacent to the contact portion. The width of the insulating layer between the electrodes is 6 μm or more, the size of the opening of the insulating layer is 10 μm or more in the width direction or the length direction of the auxiliary electrode, and the transparent electrode layer is A method of manufacturing a top emission type organic electroluminescence display device for manufacturing a top emission type organic electroluminescence display device electrically connected to an electrode and the contact portion,
An organic electroluminescence layer side substrate having the substrate, the pixel electrode, the auxiliary electrode, the insulating layer, and the organic electroluminescence layer, wherein at least one organic layer is formed on the entire surface of the auxiliary electrode. An organic electroluminescence layer side substrate preparation step to be prepared;
Under a first pressure, a lid material is made to face the organic electroluminescence layer side substrate obtained in the organic electroluminescence layer side substrate preparation step, and the lid material contacts the top of the insulating layer via the organic layer. An arrangement step of arranging
An adhesion step of adjusting the space on the opposite side of the lid material from the organic electroluminescence layer side substrate to a second pressure higher than the first pressure to bring the organic electroluminescence layer side substrate and the lid material into close contact with each other;
A contact part forming step of irradiating a laser beam through the lid member to remove the organic layer covering the auxiliary electrode exposed from the opening of the insulating layer to form the contact part;
Have
Between the organic layer in the opening part of the insulating layer and the transparent electrode layer, dust containing the material constituting the organic layer generated when the organic layer is removed by irradiation with the laser light is generated. A method for producing a top emission type organic electroluminescence display device, characterized by comprising:
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