JP2011090925A - Method for manufacturing electro-optical device - Google Patents

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cathode wiring
cathode
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forming
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Masayuki Mitsuya
将之 三矢
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Seiko Epson Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing an electro-optical device high in display quality and suitably applicable to a large-sized display device. <P>SOLUTION: The manufacturing method includes forming barrier ribs 7a, 7b to expose a portion of cathode wiring 32 and then forming an organic EL layer 8 covering the barrier ribs and the cathode wiring 32. In this state, laser beams are radiated toward a light heat converting layer 31. The light heat-converting layer 31 and the cathode wiring 32 thereby generate heat, and the organic EL layer 8 at a portion abutting on the cathode wiring is sublimated and removed. A common electrode 9 is then formed by a vacuum deposition method, and the common electrode 9 is formed also at the exposed portion in the cathode wiring 32. Consequently, even if the surface resistance of the common electrode 9 is high, periodic connection by the cathode wiring 32 is secured within a display region V to suppress the degradation of emission luminance. Further, since a vapor deposition mask is not used in this manufacturing method, the method can be suitably applied to the manufacture of the large-sized display device. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、電気光学装置の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing an electro-optical device.

低分子の有機EL(Electro Luminescence)素子を用いた表示装置の構成(製法)として、2つの方式が知られている。一つは、蒸着マスクを用いて赤緑青の各色素子を画素ごとに塗り分けて赤緑青の各色画素を形成した、いわゆる「RGB塗り分け方式」である。もう一つは、蒸着マスクを用いずに、白色素子を全面に形成し、その上に赤緑青の各色カラーフィルターを配置することにより、RGBの各色画素を形成した、「白色発光+カラーフィルター方式」である。
例えば、大型テレビなどの大画面の表示装置を製造する場合には、「白色発光+カラーフィルター方式」の方が適しているといわれている。これは、「RGB塗り分け方式」で大型の表示装置を製造する場合には、蒸着マスクの大型化に伴い、寸法精度の劣化や熱膨張、マスク自重によるたわみなどが生じてしまい、塗り分け精度を確保することが難しいからである。
As a configuration (production method) of a display device using a low molecular organic EL (Electro Luminescence) element, two methods are known. One is a so-called “RGB coating method” in which red, green, and blue color elements are separately painted for each pixel using a vapor deposition mask to form red, green, and blue color pixels. The other is that without forming a vapor deposition mask, a white element is formed on the entire surface, and each color filter of red, green, and blue is arranged thereon, thereby forming each color pixel of RGB. It is.
For example, when manufacturing a large-screen display device such as a large television, the “white light emission + color filter method” is said to be more suitable. This is because when a large display device is manufactured by the “RGB color separation method”, the dimensional accuracy deteriorates, thermal expansion, deflection due to the weight of the mask, etc. occurs as the deposition mask becomes larger. This is because it is difficult to ensure.

また、素子構成としては、上記いずれの方式においても、ボトムエミッション型よりも画素開口率を大きく取ることができるトップエミッション型が主流となって来ている。
ここで、トップエミッション型の表示装置を「白色発光+カラーフィルター方式」で構成した場合、画面中央部における発光輝度が周縁部よりも低くなってしまうという問題があった。これは、トップエミッション型の場合、各画素に共通に形成された陰極側から光を取り出す構成となるため、共通陰極の透明度を高める必要があるからである。詳しくは、共通陰極は、透明度を高める必要性から薄く構成されることになり、また、薄くなるに連れて高抵抗となってしまっていた。
この問題に対して、特許文献1では、陰極の上層、または下層に抵抗値の低い補助配線を真空蒸着法や、スパッタ法により周期的に形成し、陰極の抵抗値を下げることにより、当該問題を解決できるとしている。
Further, as an element configuration, in any of the above-described methods, a top emission type that can take a larger pixel aperture ratio than a bottom emission type has become mainstream.
Here, when the top emission type display device is configured by “white light emission + color filter method”, there is a problem that the light emission luminance at the center of the screen is lower than that at the peripheral portion. This is because in the case of the top emission type, light is extracted from the cathode side that is commonly formed in each pixel, and thus it is necessary to increase the transparency of the common cathode. Specifically, the common cathode is configured to be thin because of the need to increase transparency, and the resistance becomes higher as the thickness becomes thinner.
With respect to this problem, Patent Document 1 discloses that the auxiliary wiring having a low resistance value is periodically formed in the upper layer or the lower layer of the cathode by a vacuum deposition method or a sputtering method, thereby reducing the resistance value of the cathode. It can be solved.

特開2001−230086号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2001-230086

しかしながら、従来の製造方法では、周期的な補助配線の形成に、蒸着マスクを用いた蒸着法を行う必要があるため、大型の表示装置の製造に適用することは困難であるという課題があった。詳しくは、特許文献1には、蒸着マスクを用いるという記載は見当たらないが、平面視において格子状、またはストライプ状に示された補助配線を陰極の上層、または下層に真空蒸着法や、スパッタ法によって形成するためには、公知の技術からすると、蒸着マスクが必要となるからである。
つまり、従来の製造方法は、蒸着マスクを用いた補助配線の形成工程を含んでいるため、大型の表示装置への適用は困難であった。
また、蒸着マスクを用いる場合、蒸着マスクを素子基板に密着させる必要があるため、蒸着後、当該マスクを外す際に、有機層の一部がマスクに付着してしまい表示不良の原因となるなど、歩留り低下の要因となっていた。
つまり、従来の製造方法では、歩留りが低いという課題があった。
However, in the conventional manufacturing method, it is necessary to perform a vapor deposition method using a vapor deposition mask for forming the periodic auxiliary wiring, and thus there is a problem that it is difficult to apply to the production of a large display device. . Specifically, Patent Document 1 does not include a description of using a vapor deposition mask, but the auxiliary wiring shown in a lattice shape or a stripe shape in a plan view is vacuum deposited or sputtered on the upper layer or lower layer of the cathode. This is because a vapor deposition mask is required according to a known technique.
That is, since the conventional manufacturing method includes a step of forming auxiliary wiring using a vapor deposition mask, it is difficult to apply to a large display device.
In addition, when using a vapor deposition mask, it is necessary to adhere the vapor deposition mask to the element substrate. Therefore, when the mask is removed after vapor deposition, a part of the organic layer adheres to the mask and causes display defects. , Which was a factor in yield reduction.
That is, the conventional manufacturing method has a problem that the yield is low.

本発明は、上記課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の適用例又は形態として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following application examples or forms.

(適用例)
複数の画素を有する電気光学装置の製造方法であって、基板上に、画素の開口部となる画素電極を形成する工程と、画素電極と、隣り合う画素電極との間隙部分に光熱変換層を形成する工程と、光熱変換層に重ねて陰極配線を形成する工程と、陰極配線の一部を露出させて、複数の画素電極を区画する隔壁を形成する工程と、蒸着法を用いて、画素電極および隔壁を覆って、有機薄膜層を形成する工程と、基板側から、光熱変換層に向けてレーザー光を照射する工程と、蒸着法を用いて、有機薄膜層を覆って、光透過性を有する共通陰極を形成する工程を、含み、陰極配線と、共通陰極とは、陰極配線における露出した部分を介して、電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
(Application example)
A method of manufacturing an electro-optical device having a plurality of pixels, the step of forming a pixel electrode serving as an opening of a pixel on a substrate, and a photothermal conversion layer in a gap portion between the pixel electrode and an adjacent pixel electrode A step of forming, a step of forming a cathode wiring overlying the photothermal conversion layer, a step of exposing a part of the cathode wiring to form a partition partitioning a plurality of pixel electrodes, and a vapor deposition method. A process of forming an organic thin film layer covering the electrodes and the partition walls, a step of irradiating a laser beam from the substrate side toward the photothermal conversion layer, and an organic vapor deposition method to cover the organic thin film layer and to transmit light. A method for manufacturing an electro-optical device, comprising: forming a common cathode having a structure, wherein the cathode wiring and the common cathode are electrically connected through an exposed portion of the cathode wiring.

この電気光学装置の製造方法によれば、陰極配線の一部が露出するように隔壁が形成された後、当該隔壁を覆って有機薄膜層が形成される。この状態で、基板側から、光熱変換層に向けてレーザー光を照射することにより、光熱変換層と、その上層の陰極配線とが発熱し、陰極配線に接している部分の有機薄膜層が昇華されて除去されることになる。
そして、この状態で、蒸着法により光透過性を有する共通陰極が形成されるため、陰極配線における露出した部分にも、共通陰極が形成されることになる。つまり、陰極配線と共通陰極とが露出した部分を介して電気的に接続された状態で、共通陰極が形成される。
よって、薄膜化された共通電極の表面抵抗が高くなっても、表示領域内において陰極配線による周期的な接続が確保されているため、表示領域の中央部近傍における発光輝度の低下を抑制することができる。
従って、表示品位が高い表示装置を提供することができる。
According to this method of manufacturing an electro-optical device, after the partition is formed so that a part of the cathode wiring is exposed, the organic thin film layer is formed to cover the partition. In this state, by irradiating the light-to-heat conversion layer with laser light from the substrate side, the light-to-heat conversion layer and the upper layer cathode wiring generate heat, and the organic thin film layer in contact with the cathode wiring is sublimated. Will be removed.
In this state, since the common cathode having light transmittance is formed by the vapor deposition method, the common cathode is also formed in the exposed portion of the cathode wiring. That is, the common cathode is formed in a state where the cathode wiring and the common cathode are electrically connected through the exposed portion.
Therefore, even if the surface resistance of the thinned common electrode is increased, the periodic connection by the cathode wiring is ensured in the display area, so that the decrease in the emission luminance near the center of the display area is suppressed. Can do.
Therefore, a display device with high display quality can be provided.

さらに、適用例に係る電気光学装置の製造方法は、複数回のフォトリソ工程と、単純な蒸着工程、およびレーザー照射工程を組み合わせた工程から構成されているため、蒸着マスクを用いる工程を含み、塗り分け精度の確保が困難であった従来の製造方法と異なり、大型の表示装置の製造にも好適に適用することができる。
従って、大型の表示装置へ好適に適用することができる電気光学装置の製造方法を提供することができる。
また、表示不良を誘発する蒸着マスクを用いる工程が含まれていないため、歩留りを向上させることができる。
従って、歩留りの良い電気光学装置の製造方法を提供することができる。
Furthermore, since the electro-optical device manufacturing method according to the application example includes a combination of a plurality of photolithographic steps, a simple vapor deposition step, and a laser irradiation step, the method includes a step of using a vapor deposition mask. Unlike the conventional manufacturing method in which it is difficult to ensure the separation accuracy, it can be suitably applied to the manufacture of a large display device.
Accordingly, it is possible to provide a method of manufacturing an electro-optical device that can be suitably applied to a large display device.
In addition, since a process using a vapor deposition mask that induces display defects is not included, yield can be improved.
Accordingly, it is possible to provide a method for manufacturing an electro-optical device with a high yield.

また、画素電極は、透明電極からなり、画素電極の形成工程の前に、画素電極と重なる反射層を形成する工程をさらに有することが好ましい。
また、陰極配線は、基板に形成されている陰極幹線と接続されており、光熱変換層と、陰極配線とからなる積層配線部は、平面視において、ストライプ状、または、格子状、または、複数の画素ごとに島状に形成されることが好ましい。
また、光熱変換層は、モリブデン、チタン、クロムのいずれか、または、これらのうち、少なくとも1種を含む合金から構成されてなり、陰極配線は、アルミニウム、金、銅のいずれか、または、これらのうち、少なくとも1種を含む合金から構成されていることが好ましい。
The pixel electrode is preferably made of a transparent electrode, and preferably further includes a step of forming a reflective layer overlapping the pixel electrode before the step of forming the pixel electrode.
Further, the cathode wiring is connected to the cathode trunk line formed on the substrate, and the laminated wiring portion including the photothermal conversion layer and the cathode wiring has a stripe shape, a lattice shape, or a plurality of portions in plan view. It is preferable that each pixel is formed in an island shape.
The photothermal conversion layer is made of molybdenum, titanium, or chromium, or an alloy containing at least one of these, and the cathode wiring is made of aluminum, gold, copper, or these Among these, it is preferable that it is made of an alloy containing at least one kind.

また、レーザー光は、波長800nmの赤外線を含み、陰極配線の露出した部分に当接する有機薄膜層を昇華させるのに必要な熱量を光熱変換層に与えることが可能な照射強度、および照射時間で照射されることが好ましい。
また、隔壁の形成工程では、フォトリソ法を用いて略黒色の樹脂からなる隔壁を形成し、陰極配線における露出した部分は、隔壁内に形成された溝部の底に位置することが好ましい。
また、有機薄膜層の形成工程では、略白色光を放射する発光層を含む複数層からなる有機薄膜層が形成され、共通陰極の形成工程の後に、陰極保護層の形成工程と、基板と対向する対向基板の取り付け工程とをさらに有し、対向基板には、画素ごとに対応して赤、青、緑色を含む各色のカラーフィルターが形成されており、画素から出射される光は、対応するカラーフィルターによって透過選択された色光となって、対向基板から出射されることが好ましい。
In addition, the laser beam includes an infrared ray having a wavelength of 800 nm, and the irradiation intensity and irradiation time that can give the photothermal conversion layer the amount of heat necessary to sublimate the organic thin film layer that contacts the exposed portion of the cathode wiring. Irradiation is preferred.
In the partition formation step, it is preferable that a partition made of a substantially black resin is formed using a photolithography method, and the exposed portion of the cathode wiring is located at the bottom of the groove formed in the partition.
Further, in the organic thin film layer forming step, an organic thin film layer comprising a plurality of layers including a light emitting layer that emits substantially white light is formed. After the common cathode forming step, the cathode protective layer forming step and the substrate are opposed to each other. The counter substrate is provided with color filters for each color including red, blue, and green corresponding to each pixel, and the light emitted from the pixel corresponds to the counter substrate. It is preferable that the color light is transmitted and selected by the color filter and emitted from the counter substrate.

複数の画素を有する電気光学装置の製造方法であって、基板上に、反射層、および反射層と同一材料で陰極配線を形成する工程と、反射層の上層側に、画素の開口部となる光透過性の画素電極を形成する工程と、陰極配線の上層に光熱変換層を形成する工程と、陰極配線の一部を露出させて、複数の画素電極を区画する隔壁を形成する工程と、蒸着法を用いて、画素電極および隔壁を覆って、有機薄膜層を形成する工程と、有機薄膜層側から、光熱変換層に向けてレーザー光を照射する工程と、蒸着法を用いて、有機薄膜層を覆って、光透過性の共通陰極を形成する工程を、含み、陰極配線と、共通陰極とは、陰極配線における露出した部分を介して、電気的に接続されることを特徴とする電気光学装置の製造方法。   A method for manufacturing an electro-optical device having a plurality of pixels, the step of forming a cathode wiring with the same material as the reflecting layer and the reflecting layer on the substrate, and an opening of the pixel on the upper layer side of the reflecting layer A step of forming a light-transmissive pixel electrode, a step of forming a photothermal conversion layer on an upper layer of the cathode wiring, a step of exposing a part of the cathode wiring and forming a partition partitioning a plurality of pixel electrodes, A process of forming an organic thin film layer by covering the pixel electrode and the partition using the vapor deposition method, a step of irradiating laser light from the organic thin film layer side toward the photothermal conversion layer, and an organic method using the vapor deposition method A step of covering the thin film layer and forming a light-transmitting common cathode, wherein the cathode wiring and the common cathode are electrically connected via an exposed portion of the cathode wiring; Manufacturing method of electro-optical device.

複数の画素を有する電気光学装置の製造方法であって、基板上に、画素の開口部となる画素電極を形成する工程と、画素電極と、隣り合う画素電極との間隙部分に陰極配線を形成する工程と、陰極配線の一部を露出させて、複数の画素電極を区画する隔壁を形成する工程と、蒸着法を用いて、画素電極および隔壁を覆って、有機薄膜層を形成する工程と、基板側から、または、有機薄膜層側から、陰極配線に向けてレーザー光を照射する工程と、蒸着法を用いて、有機薄膜層を覆って、光透過性を有する共通陰極を形成する工程を、含み、レーザー光の照射により発熱する光熱変換材料から構成された陰極配線と、共通陰極とは、陰極配線における露出した部分を介して、電気的に接続されることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
また、陰極配線は、モリブデン、またはモリブデンを含む合金から構成されることが好ましい。
A method of manufacturing an electro-optical device having a plurality of pixels, the step of forming a pixel electrode serving as an opening of a pixel on a substrate, and the formation of a cathode wiring in a gap portion between the pixel electrode and an adjacent pixel electrode A step of exposing a part of the cathode wiring to form a partition for partitioning the plurality of pixel electrodes, and a step of forming an organic thin film layer covering the pixel electrode and the partition using a vapor deposition method. A step of irradiating laser light from the substrate side or the organic thin film layer side toward the cathode wiring, and a step of forming a light-transmitting common cathode by covering the organic thin film layer using a vapor deposition method And the common cathode is electrically connected to the cathode wiring composed of the photothermal conversion material that generates heat upon irradiation with the laser beam through the exposed portion of the cathode wiring. Device manufacturing method.
The cathode wiring is preferably made of molybdenum or an alloy containing molybdenum.

実施形態1に係る表示装置の一態様を示す斜視図。FIG. 3 is a perspective view illustrating one embodiment of a display device according to Embodiment 1. 図1のp−p断面における側断面図。The sectional side view in the pp cross section of FIG. (a)素子基板の平面図、(b)は(a)のq−q断面における側断面図。(A) The top view of an element substrate, (b) is a sectional side view in the qq cross section of (a). 表示パネルの製造工程を示すフローチャート図。The flowchart figure which shows the manufacturing process of a display panel. (a)〜(c)製造工程における一態様を示す図。The figure which shows the one aspect | mode in a (a)-(c) manufacturing process. (a),(b)製造工程における一態様を示す図。(A), (b) The figure which shows the one aspect | mode in a manufacturing process. (a)実施形態2に係る素子基板の平面図、(b)は(a)におけるs−s断面の断面図。(A) The top view of the element substrate which concerns on Embodiment 2, (b) is sectional drawing of the ss cross section in (a). (a)〜(c)製造工程における一態様を示す図。The figure which shows the one aspect | mode in a (a)-(c) manufacturing process. (a),(b)製造工程における一態様を示す図。(A), (b) The figure which shows the one aspect | mode in a manufacturing process. 実施形態3に係る素子基板の側断面図。FIG. 5 is a side sectional view of an element substrate according to a third embodiment. 電子機器としての大型テレビを示す斜視図。The perspective view which shows the large sized television as an electronic device.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下の各図においては、各層や各部位を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部位の縮尺を実際とは異ならしめてある。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following drawings, the scale of each layer and each part is different from the actual scale so that each layer and each part can be recognized on the drawing.

(実施形態1)
「表示装置の概要」
図1は、本実施形態に係る表示装置の一態様を示す斜視図である。
まず、本発明の実施形態1に係る電気光学装置としての表示装置100の概要について説明する。
(Embodiment 1)
"Overview of display device"
FIG. 1 is a perspective view showing an aspect of the display device according to the present embodiment.
First, an outline of the display device 100 as an electro-optical device according to Embodiment 1 of the present invention will be described.

表示装置100は、有機EL表示装置であり、表示パネル18、フレキシブル基板20などから構成されている。表示パネル18は、素子基板1と対向基板17との間に、発光層を含む機能層を挟持したトップエミッション型の有機EL表示パネルであり、対向基板17側から表示光を出射する。
表示パネル18は、マトリックス状に配置された複数の画素からなる表示領域Vを備えている。図1の右上に拡大して示すように、表示領域Vには、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)の各色画素が周期的に配置されており、各画素が出射する表示光によりフルカラーの画像が表示される。なお、各画素は発光画素であるが、画素と称する。また、カラー表示を行う表示パネルに限定するものではなく、トップエミッション型の有機EL表示パネルであれば良く、例えば、モノクロ表示を行う表示パネルであっても良い。
表示領域Vは、縦長の長方形をなしており、図1を含む各図においては、当該縦方向をY軸方向とし、縦方向よりも短い横方向をX軸方向と定義している。また、表示パネル18の厚さ方向をZ軸方向としている。また、Y軸(+)、(−)方向を上下方向とし、X軸(+)、(−)方向を左右方向としている。
The display device 100 is an organic EL display device, and includes a display panel 18, a flexible substrate 20, and the like. The display panel 18 is a top emission type organic EL display panel in which a functional layer including a light emitting layer is sandwiched between the element substrate 1 and the counter substrate 17, and emits display light from the counter substrate 17 side.
The display panel 18 includes a display region V composed of a plurality of pixels arranged in a matrix. As enlarged and shown in the upper right of FIG. 1, red (R), green (G), and blue (B) color pixels are periodically arranged in the display area V, and each pixel emits display. A full color image is displayed by light. Each pixel is a light-emitting pixel, but is called a pixel. Further, the display panel is not limited to a color display panel, and may be a top emission type organic EL display panel. For example, a display panel for monochrome display may be used.
The display area V has a vertically long rectangle. In each drawing including FIG. 1, the vertical direction is defined as the Y-axis direction, and the horizontal direction shorter than the vertical direction is defined as the X-axis direction. The thickness direction of the display panel 18 is the Z-axis direction. Further, the Y-axis (+) and (−) directions are defined as the vertical direction, and the X-axis (+) and (−) directions are defined as the horizontal direction.

詳しくは後述するが、表示装置100は、素子基板1側に略白色光を出射する複数の画素を形成し、対向基板17側に赤緑青の各色カラーフィルターを配置することにより、RGBの各色画素を形成した、「白色発光+カラーフィルター方式」によるトップエミッション型の有機EL表示パネルである。また、略白色光を出射する複数の画素には、光透過性を有する共通陰極(共通電極)が各画素を覆って共通に形成されている。
従来、トップエミッション型の表示装置を「白色発光+カラーフィルター方式」で構成する場合には、蒸着マスクを用いて、共通電極における抵抗値を下げるための補助(陰極)配線を形成する必要があったため、大型の表示装置への適用が困難であった。
これに対して、表示装置100の製造方法によれば、蒸着マスクを用いずに、陰極(補助)配線を形成することを可能としたため、大型の表示装置にも好適に適用することができる。さらに、蒸着マスクに起因する不良発生が抑制されるため、歩留りを向上させることができる。
As will be described in detail later, the display device 100 forms a plurality of pixels that emit substantially white light on the element substrate 1 side, and arranges each color filter of red, green, and blue on the counter substrate 17 side, whereby each color pixel of RGB This is a top emission type organic EL display panel by “white light emission + color filter system”. In addition, a common cathode (common electrode) having light transparency is formed in common to a plurality of pixels that emit substantially white light so as to cover each pixel.
Conventionally, when a top emission type display device is configured by “white light emission + color filter method”, it is necessary to form an auxiliary (cathode) wiring for lowering the resistance value of the common electrode by using a vapor deposition mask. Therefore, application to a large display device has been difficult.
On the other hand, according to the manufacturing method of the display device 100, the cathode (auxiliary) wiring can be formed without using the vapor deposition mask, and therefore, the method can be suitably applied to a large display device. Furthermore, since the occurrence of defects due to the evaporation mask is suppressed, the yield can be improved.

また、表示パネル18において、素子基板1が対向基板17から張出した張出し領域には、フレキシブル基板20が接続されている。なお、フレキシブル基板とは、例えば、ポリイミドフィルムの基材に鉄箔の配線などが形成された柔軟性を有するフレキシブルプリント回路基板の略称である。また、フレキシブル基板20には、駆動用IC(Integrated Circuit)21が実装され、その端部には、専用のコントローラーや、外部機器(いずれも図示せず)と接続するための複数の端子が形成されている。
表示パネル18は、フレキシブル基板20を介して、外部機器から電力や画像信号を含む制御信号の供給を受けることにより、表示領域Vに画像や文字などを表示する。
In the display panel 18, a flexible substrate 20 is connected to an extended region where the element substrate 1 extends from the counter substrate 17. The flexible board is an abbreviation for a flexible printed circuit board having flexibility in which an iron foil wiring or the like is formed on a polyimide film base. In addition, a driving IC (Integrated Circuit) 21 is mounted on the flexible substrate 20, and a plurality of terminals for connection to a dedicated controller or an external device (none of which are shown) are formed at the end thereof. Has been.
The display panel 18 displays images, characters, and the like in the display region V by receiving control signals including power and image signals from an external device via the flexible substrate 20.

「表示パネルの詳細な構成」
図2は、図1のp−p断面における側断面図である。
続いて、表示パネル18の詳細な構成について説明する。
表示パネル18は、素子基板1、素子層2、平坦化層4、反射層5、画素電極6、隔壁7、電気光学層としての有機EL層8、共通電極9、電極保護層10、緩衝層11、ガスバリア層12、充填剤13、CF層14、対向基板17などから構成されている。また、素子基板1と対向基板17とに挟持された部位のことを機能層16という。換言すれば、素子層2からCF層14までの積層構造を機能層16という。
素子基板1は、無機ガラスから構成されている。本実施形態では、好適例として、無アルカリガラスを用いている。なお、この構成に限定するものではなく、樹脂基板を用いても良い。また、トップエミッション型であるため、光透過性が低い材料を用いても良く、例えば、金属基板を用いる構成であっても良い。
素子層2には、各画素をアクティブ駆動するための画素回路が形成されている。画素回路には、TFT(Thin Film Transistor)からなる画素を選択するための選択トランジスターや、有機EL層8に電流を流すための駆動トランジスター3などが含まれており、画素ごとに対応して形成されている。なお、画素回路は、好適例として、活性層に低温ポリシリコンを用いているが、アモルファスシリコンを活性層として用いた構成であっても良い。
"Detailed configuration of the display panel"
FIG. 2 is a sectional side view taken along the line pp of FIG.
Next, a detailed configuration of the display panel 18 will be described.
The display panel 18 includes an element substrate 1, an element layer 2, a planarizing layer 4, a reflective layer 5, a pixel electrode 6, a partition wall 7, an organic EL layer 8 as an electro-optic layer, a common electrode 9, an electrode protective layer 10, and a buffer layer. 11, a gas barrier layer 12, a filler 13, a CF layer 14, a counter substrate 17, and the like. A portion sandwiched between the element substrate 1 and the counter substrate 17 is referred to as a functional layer 16. In other words, the laminated structure from the element layer 2 to the CF layer 14 is referred to as a functional layer 16.
The element substrate 1 is made of inorganic glass. In this embodiment, alkali-free glass is used as a suitable example. In addition, it is not limited to this structure, You may use a resin substrate. Further, since it is a top emission type, a material having low light transmittance may be used, and for example, a configuration using a metal substrate may be used.
In the element layer 2, a pixel circuit for actively driving each pixel is formed. The pixel circuit includes a selection transistor for selecting a pixel made of a TFT (Thin Film Transistor), a driving transistor 3 for flowing a current to the organic EL layer 8, and the like, which are formed corresponding to each pixel. Has been. The pixel circuit uses low-temperature polysilicon as the active layer as a preferred example, but may have a configuration using amorphous silicon as the active layer.

素子層2の上層(Z軸(−)方向)には、例えば、アクリル樹脂などからなる絶縁層である平坦化層4が形成されている。
平坦化層4の上層には、画素ごとに区画されて、反射層5と、画素電極6とがこの順番で積層されている。
反射層5は、例えば、アルミニウムなどからなる反射層であり、有機EL層8から素子基板1側に向かう光を反射して、表示に寄与する光にする。
画素電極6は、ITO(Indium Tin Oxide)や、ZnOなどの透明電極から構成されており、画素ごとに素子層2の駆動トランジスター3のドレイン端子と平坦化層4を貫通するコンタクトホールにより接続されている。なお、本実施形態では、好適例として、反射層5と画素電極6との間に、SiO2などの透明な無機材料からなる絶縁層25を介在させているが、この構成に限定するものではなく、反射電極として機能する構成であれば良い。例えば、反射層5を省略して、画素電極6のみをアルミニウムなどの反射性の材料によって形成することであっても良い。または、無機絶縁層を介在させることなく、反射層5の上に、画素電極6を直接形成することであっても良い。
In the upper layer (Z-axis (−) direction) of the element layer 2, for example, a planarization layer 4 that is an insulating layer made of an acrylic resin or the like is formed.
The reflective layer 5 and the pixel electrode 6 are laminated in this order on the flattening layer 4 so as to be divided for each pixel.
The reflection layer 5 is a reflection layer made of, for example, aluminum, and reflects light traveling from the organic EL layer 8 toward the element substrate 1 to make light that contributes to display.
The pixel electrode 6 is composed of a transparent electrode such as ITO (Indium Tin Oxide) or ZnO, and is connected to a drain terminal of the driving transistor 3 of the element layer 2 and a contact hole penetrating the planarization layer 4 for each pixel. ing. In the present embodiment, as a preferred example, an insulating layer 25 made of a transparent inorganic material such as SiO 2 is interposed between the reflective layer 5 and the pixel electrode 6. However, the present invention is not limited to this configuration. However, any structure that functions as a reflective electrode may be used. For example, the reflective layer 5 may be omitted, and only the pixel electrode 6 may be formed of a reflective material such as aluminum. Alternatively, the pixel electrode 6 may be formed directly on the reflective layer 5 without interposing an inorganic insulating layer.

隔壁7は、光硬化性の黒色樹脂などから構成され、平面的に各画素を格子状に区画している。なお、素子層2における駆動トランジスター3を含む画素回路は、光による誤動作を防止するために、平面的に隔壁と重なるように配置されている。
有機EL層8は、画素電極6、および隔壁7を覆って形成されている。また、図2においては一層の構成となっているが、実際は、それぞれが有機物の薄膜からなる正孔輸送層、発光層、電子注入層などから構成されており、画素電極6上にこの順番に積層されている。正孔輸送層は、芳香族ジアミン(TPAB2Me−TPD,α−NPD)などの昇華性の材料から構成されている。発光層は、赤、緑、青の3色を組み合わせて形成される略白色光を放射する多層からなる有機発光材料薄膜から構成されている。電子注入層は、LiF(フッ化リチウム)などから構成されている。
The partition wall 7 is made of a photocurable black resin or the like, and partitions each pixel in a lattice shape in a plane. Note that the pixel circuit including the driving transistor 3 in the element layer 2 is disposed so as to overlap the partition in a planar manner in order to prevent malfunction due to light.
The organic EL layer 8 is formed so as to cover the pixel electrode 6 and the partition wall 7. In FIG. 2, the structure is a single layer. Actually, each layer is composed of a hole transport layer, a light emitting layer, an electron injection layer, and the like made of an organic thin film. Are stacked. The hole transport layer is made of a sublimable material such as aromatic diamine (TPAB2Me-TPD, α-NPD). The light emitting layer is composed of an organic light emitting material thin film composed of a multilayer that emits substantially white light formed by combining three colors of red, green, and blue. The electron injection layer is made of LiF (lithium fluoride) or the like.

共通陰極としての共通電極9は、MgAgなどの金属を、光を透過するようにごく薄く成膜した金属薄膜層であり、全画素に跨る有機EL層8を覆って形成されている。また、当該層を透過して光が出射されることになるため、その厚さは、光透過性を高めるために、例えば、10nm〜20nmと極めて薄く形成されている。
このため、共通電極9の単位面積当たりの抵抗値、換言すれば、表面抵抗が高くなり、素子層2に配線されている陰極幹線との接続部から遠くなるに連れて電圧降下が大きくなるため、後述する陰極(補助)配線が設けられていない場合には、表示領域Vの中央部近傍における発光輝度が低下してしまうという問題があった。
このため、共通電極9と陰極幹線とは、表示領域Vの周縁部におけるコンタクトホール9cによる接続に加えて、表示領域V内においても後述する陰極(補助)配線32(図3)によって、周期的に接続が確保されている。なお、コンタクトホール9cは、素子層2に配線されている陰極電位を印加するための陰極幹線に接続している。
また、コンタクトホール9cを介して、アルミニウムなどの導電性に優れた材質からなる陰極支線を平坦化層4上に形成して、当該陰極支線と共通電極9とを接続しても良い。または、表示領域Vの周縁部において略等間隔に複数のコンタクトホール9cを設けて、それらと共通電極9とを接続しても良い。
The common electrode 9 as a common cathode is a metal thin film layer in which a metal such as MgAg is formed very thin so as to transmit light, and is formed so as to cover the organic EL layer 8 across all pixels. In addition, since light is emitted through the layer, the thickness thereof is extremely thin, for example, 10 nm to 20 nm in order to improve light transmittance.
For this reason, the resistance value per unit area of the common electrode 9, in other words, the surface resistance increases, and the voltage drop increases as the distance from the connecting portion with the cathode trunk line wired in the element layer 2 increases. In the case where the cathode (auxiliary) wiring described later is not provided, there is a problem that the light emission luminance near the center of the display region V is lowered.
For this reason, the common electrode 9 and the cathode trunk line are periodically connected to each other by the cathode (auxiliary) wiring 32 (FIG. 3) described later in the display region V in addition to the connection by the contact hole 9c in the peripheral portion of the display region V. The connection is secured. The contact hole 9c is connected to a cathode trunk for applying a cathode potential wired in the element layer 2.
Alternatively, a cathode branch made of a material having excellent conductivity such as aluminum may be formed on the planarization layer 4 through the contact hole 9c, and the cathode branch and the common electrode 9 may be connected. Alternatively, a plurality of contact holes 9 c may be provided at substantially equal intervals in the peripheral portion of the display region V, and these may be connected to the common electrode 9.

電極保護層10は、SiO2や、Si34、SiOxNyなどの高密度で、かつ、透明性の高い材質から構成されており、共通電極9を覆って形成することにより、有機EL層8へ水分などが浸入することを防止している。
緩衝層11は、熱硬化性のエポキシ樹脂などの透明な有機緩衝層である。
ガスバリア層12は、電極保護層10と同様な材質で構成されたガスバリア層であり、緩衝層11をさらに覆って形成することにより、有機EL層8を含む内部の積層構造への水分などの浸入を防止している。
充填剤13は、例えば、熱硬化性のエポキシ樹脂などからなる透明な接着層であり、ガスバリア層12とCF層14との間の凹凸面に充填されるとともに、両者を接着する。また、表示パネル18の周縁部から、有機EL層8を含む内部の積層構造への水分などの浸入を防ぐ機能も果たす。
The electrode protective layer 10 is made of a high-density and highly transparent material such as SiO 2 , Si 3 N 4 , or SiOxNy, and the organic EL layer 8 is formed by covering the common electrode 9. Prevents moisture from entering the water.
The buffer layer 11 is a transparent organic buffer layer such as a thermosetting epoxy resin.
The gas barrier layer 12 is a gas barrier layer made of the same material as the electrode protective layer 10, and is formed so as to further cover the buffer layer 11, so that moisture and the like enter the internal laminated structure including the organic EL layer 8. Is preventing.
The filler 13 is a transparent adhesive layer made of, for example, a thermosetting epoxy resin, and fills the uneven surface between the gas barrier layer 12 and the CF layer 14 and bonds them together. The display panel 18 also functions to prevent moisture and the like from entering the internal laminated structure including the organic EL layer 8 from the peripheral edge of the display panel 18.

対向基板17は、透明な無機ガラスから構成されており、好適例として、無アルカリガラスを用いている。また、対向基板17における有機EL層8側(Z軸(+)側)には、CF層14が形成されている。
CF層14には、赤色カラーフィルター14r、緑色カラーフィルター14g、青色カラーフィルター14bが画素配置と同様に配置されている。詳しくは、各色のカラーフィルターは、それぞれが対応する画素電極6と重なるように配置されており、各カラーフィルター間には、ハッチングで示した遮光部が形成されている。遮光部は、平面的に隔壁7と重なるように格子状に形成されており、光学的には、ブラックマトリックスの機能を果たす。
そして、対向基板17と素子基板1とは、対向基板17の周縁部に形成されたシール剤15によって接着および封止されている。シール剤15としては、エポキシ系の接着剤や、紫外線硬化樹脂などを用いる。
The counter substrate 17 is made of transparent inorganic glass, and non-alkali glass is used as a suitable example. Further, the CF layer 14 is formed on the organic EL layer 8 side (Z-axis (+) side) of the counter substrate 17.
In the CF layer 14, a red color filter 14r, a green color filter 14g, and a blue color filter 14b are arranged similarly to the pixel arrangement. Specifically, the color filters of each color are arranged so as to overlap with the corresponding pixel electrodes 6, and light shielding portions indicated by hatching are formed between the color filters. The light shielding portion is formed in a lattice shape so as to overlap the partition wall 7 in a plan view, and optically functions as a black matrix.
The counter substrate 17 and the element substrate 1 are bonded and sealed with a sealant 15 formed on the peripheral edge of the counter substrate 17. As the sealant 15, an epoxy adhesive, an ultraviolet curable resin, or the like is used.

このように構成された各画素からは、カラーフィルターの色調に対応した表示光が出射される。例えば、赤色画素の場合、有機EL層8で放射された白色光は、赤色カラーフィルター14rによって赤色光が選択されて、赤色の表示光として対向基板17から出射される。また、緑色、青色の画素においても同様である。
これにより、表示領域Vでは、対向基板17から出射される複数のカラー画素からの表示光によりフルカラーの画像が表示されることになる。
From each pixel configured in this manner, display light corresponding to the color tone of the color filter is emitted. For example, in the case of a red pixel, the white light emitted from the organic EL layer 8 is selected by the red color filter 14r and emitted from the counter substrate 17 as red display light. The same applies to green and blue pixels.
Thereby, in the display area V, a full-color image is displayed by display light from the plurality of color pixels emitted from the counter substrate 17.

「陰極配線の配置態様」
図3(a)は素子基板1の平面図であり、(b)は(a)のq−q断面における側断面図である。
ここでは、共通電極9の表面抵抗を均一化するために形成されている陰極配線32のレイアウトや、材質などについて説明する。
図3(a)は、電極保護層10までが形成された状態の素子基板1の平面図である。なお、陰極配線32は、黒色樹脂からなる隔壁7の下層に配置されているため、実際は観察されないが、当該図では、透過図として陰極配線32を示している。
当該図に示すように、各画素は、隔壁7によって格子状に分割されており、分割された各画素には、Y軸方向に長い楕円状の画素電極6が配置されている。換言すれば、複数の画素が行列をなしてマトリックス状に配置されている。なお、画素電極6の平面形状は、楕円状に限定するものではなく、トラック形状や、長方形、円であっても良い。
"Cathode layout"
FIG. 3A is a plan view of the element substrate 1, and FIG. 3B is a side sectional view of the qq section of FIG.
Here, the layout, material, and the like of the cathode wiring 32 formed to make the surface resistance of the common electrode 9 uniform will be described.
FIG. 3A is a plan view of the element substrate 1 in a state where up to the electrode protective layer 10 is formed. In addition, since the cathode wiring 32 is arrange | positioned in the lower layer of the partition 7 which consists of black resin, although it is not observed actually, in the figure, the cathode wiring 32 is shown as a permeation | transmission figure.
As shown in the figure, each pixel is divided in a grid pattern by partition walls 7, and an elliptical pixel electrode 6 that is long in the Y-axis direction is arranged in each divided pixel. In other words, a plurality of pixels are arranged in a matrix form in a matrix. The planar shape of the pixel electrode 6 is not limited to an elliptical shape, and may be a track shape, a rectangle, or a circle.

ここで、X軸方向における画素の配列を画素行、Y軸方向における画素の配列を画素列としたときに、陰極配線32は2つの画素行ごとにX軸方向に延在して配置されている。詳しくは、2つの画素行ごとに位置する隔壁7の下層において、当該隔壁の延在方向に沿って形成されている。
また、陰極配線32の左右の端部は、表示領域Vの周縁部まで延在しており、少なくとも一方の端部が、前述のコンタクトホール9c、または陰極支線と接続している。
このように、好適例においては、陰極配線32を2つの画素行ごとに横ストライプ状に配置するものとして説明したが、このレイアウトに限定するものではなく、共通電極9の表面抵抗値に応じて適宜定めることが好ましい。例えば、陰極配線32を縦ストライプ状に配置しても良いし、隔壁7に沿って、格子状に配置しても良い。
Here, when the pixel array in the X-axis direction is a pixel row and the pixel array in the Y-axis direction is a pixel column, the cathode wiring 32 extends in the X-axis direction every two pixel rows. Yes. Specifically, it is formed along the extending direction of the partition wall in the lower layer of the partition wall 7 positioned every two pixel rows.
Further, the left and right end portions of the cathode wiring 32 extend to the peripheral portion of the display region V, and at least one end portion is connected to the contact hole 9c or the cathode branch line.
As described above, in the preferred example, the cathode wiring 32 is described as being arranged in a horizontal stripe shape for every two pixel rows. However, the present invention is not limited to this layout, and it depends on the surface resistance value of the common electrode 9. It is preferable to determine appropriately. For example, the cathode wirings 32 may be arranged in a vertical stripe shape, or may be arranged in a lattice shape along the partition wall 7.

図3(b)は、(a)のq−q断面における側断面図であり、1つの画素を長手方向(Y軸方向)に沿って切断した状態を示している。
当該図において、左側に示された隔壁7a,7bには陰極配線32が形成されており、右側に示された隔壁7には陰極配線32が形成されていない。右側の隔壁7は、画素を短手方向(X軸方向)に沿って切断した図2の隔壁と同様に、素子基板1側の下底が長く、上底が短い台形状をなしている。
左側の隔壁7a,7bは、右側の隔壁7における上底の略中央にV字状の溝を形成して、隔壁7を2つの隔壁7a,7bに分割した態様を有している。換言すれば、両者間にV字状の溝が形成されるように、2つの隔壁7a,7bが形成されている。
そして、V字状の溝の底部には、陰極配線32が形成されている。また、陰極配線32の下には、光熱変換層31が形成されている。
FIG. 3B is a side sectional view of the qq section of FIG. 3A and shows a state where one pixel is cut along the longitudinal direction (Y-axis direction).
In the drawing, the cathode wiring 32 is formed on the partition walls 7a and 7b shown on the left side, and the cathode wiring 32 is not formed on the partition wall 7 shown on the right side. The right partition 7 has a trapezoidal shape in which the lower bottom is long and the top bottom is short, similar to the partition of FIG. 2 in which pixels are cut along the short direction (X-axis direction).
The left partition walls 7a and 7b have a form in which the partition wall 7 is divided into two partition walls 7a and 7b by forming a V-shaped groove at substantially the center of the upper bottom of the right partition wall 7. In other words, the two partition walls 7a and 7b are formed so that a V-shaped groove is formed between them.
A cathode wiring 32 is formed at the bottom of the V-shaped groove. A photothermal conversion layer 31 is formed under the cathode wiring 32.

これらの位置関係を整理すると、平坦化層4の上に、光熱変換層31と陰極配線32とがこの順番に積層され、さらに、陰極配線32の上に、当該配線の一部が露出するように、台形状の2つの隔壁7a,7bが形成されている。
そして、陰極配線32の露出した部分は、2つの隔壁7a,7b間に形成されたV字状の溝の底部に位置している。換言すれば、陰極配線32の露出した部分は、2つの隔壁7a,7bからなる隔壁内に形成された溝部の底に位置している。
ここで、陰極配線32の露出した部分には、有機EL層8を覆って形成された共通電極9の一部が接している。換言すれば、V字状の溝の底部において有機EL層8が分断されているため、陰極配線32の露出した部分と、共通電極9とが接続されている。
つまり、共通電極9と陰極幹線(支線)とは、表示領域V内においても、陰極配線32によって、接続が確保されている。
By arranging these positional relationships, the photothermal conversion layer 31 and the cathode wiring 32 are laminated in this order on the planarizing layer 4, and a part of the wiring is exposed on the cathode wiring 32. In addition, two trapezoidal partition walls 7a and 7b are formed.
The exposed portion of the cathode wiring 32 is located at the bottom of a V-shaped groove formed between the two partition walls 7a and 7b. In other words, the exposed portion of the cathode wiring 32 is located at the bottom of the groove formed in the partition wall composed of the two partition walls 7a and 7b.
Here, a part of the common electrode 9 formed so as to cover the organic EL layer 8 is in contact with the exposed portion of the cathode wiring 32. In other words, since the organic EL layer 8 is divided at the bottom of the V-shaped groove, the exposed portion of the cathode wiring 32 and the common electrode 9 are connected.
That is, the connection between the common electrode 9 and the cathode trunk line (branch line) is ensured by the cathode wiring 32 even in the display region V.

なお、V字状の溝の底部において有機EL層8を分断する工程を含む詳しい製造方法については、後述する。
光熱変換層31は、好適例としてクロム、クロム酸化膜、クロム窒化膜、または、クロムを含む合金から構成されている。なお、これらの材料に限定するものではなく、赤外線の照射によって発熱する材料であれば良く、例えば、モリブデンや、チタン、または、これらのうち、少なくとも1種を含む合金を用いても良い。
陰極配線32は、好適例としてアルミニウム、または、アルミニウムを含む合金から構成されている。なお、これらの材料に限定するものではなく、導電率が高い材料であれば良く、金や、銅、または、これらのうち、少なくとも1種を含む合金を用いても良い。
A detailed manufacturing method including the step of dividing the organic EL layer 8 at the bottom of the V-shaped groove will be described later.
The photothermal conversion layer 31 is preferably made of chromium, a chromium oxide film, a chromium nitride film, or an alloy containing chromium. Note that the material is not limited to these, and any material that generates heat upon irradiation with infrared rays may be used. For example, molybdenum, titanium, or an alloy containing at least one of them may be used.
The cathode wiring 32 is preferably made of aluminum or an alloy containing aluminum. Note that the material is not limited to these, and any material having high conductivity may be used. Gold, copper, or an alloy containing at least one of them may be used.

「表示パネルの製造方法」
図4は、表示パネルの製造工程を示すフローチャート図である。図5(a)〜(c)は、製造工程における一態様を示す図である。図6(a)、(b)は、製造工程における一態様を示す図である。
ここでは、表示パネル18の製造方法について、光熱変換層31、陰極配線32から共通電極9の形成工程までを中心に説明する。
"Manufacturing method of display panel"
FIG. 4 is a flowchart showing the manufacturing process of the display panel. FIG. 5A to FIG. 5C are diagrams showing an embodiment in the manufacturing process. 6 (a) and 6 (b) are diagrams showing an embodiment in the manufacturing process.
Here, the manufacturing method of the display panel 18 will be described focusing on the process from the photothermal conversion layer 31 and the cathode wiring 32 to the common electrode 9 formation process.

まず、フォトリソ法、蒸着法、CVD(Chemical Vapor Deposition)法などの周知の製造方法を用いて、平坦化層4までが作り込まれた素子基板1を形成する。
ステップS1では、蒸着法、またはスパッタ法、およびフォトリソ法を用いて、アルミニウムからなる反射層5を形成する。また、続けて、CVD法、およびフォトリソ法を用いて、反射層5を覆って絶縁層25を形成する。好適例では、絶縁層25としてSiO2を用いる。
ステップS2では、スパッタ法、およびフォトリソ法を用いて、絶縁層25上に、ITOからなる画素電極6を形成する。
ステップS3では、スパッタ法、およびフォトリソ法を用いて、クロムからなる光熱変換層31を形成する。好適例における光熱変換層31の厚さは、約200nmとした。なお、この厚さに限定するものではなく、100nm〜400nmの範囲内であれば良い。
First, the element substrate 1 in which the flattening layer 4 is formed is formed by using a known manufacturing method such as a photolithography method, a vapor deposition method, a CVD (Chemical Vapor Deposition) method or the like.
In step S1, the reflective layer 5 made of aluminum is formed by vapor deposition, sputtering, or photolithography. Subsequently, the insulating layer 25 is formed so as to cover the reflective layer 5 by using the CVD method and the photolithography method. In a preferred example, SiO 2 is used as the insulating layer 25.
In step S2, the pixel electrode 6 made of ITO is formed on the insulating layer 25 using a sputtering method and a photolithography method.
In step S3, the photothermal conversion layer 31 made of chromium is formed using a sputtering method and a photolithography method. The thickness of the photothermal conversion layer 31 in the preferred example was about 200 nm. In addition, it is not limited to this thickness, What is necessary is just in the range of 100 nm-400 nm.

ステップS4では、蒸着法、またはスパッタ法、およびフォトリソ法を用いて、光熱変換層31の上に、アルミニウムからなる陰極配線32を形成する。
ステップS5では、フォトリソ法を用いて、格子状の隔壁7を形成する。詳しくは、光硬化性の樹脂を素子基板1の全面にスピンコート法などにより塗布した後、格子状のマスクを用いて露光し、現像することによって格子状の隔壁7を形成する。なお、好適例では、黒色の光硬化性樹脂を用いている。
これにより、図3(a)に示すように、複数の画素電極6を1つずつに区画する格子状の隔壁7が形成される。図5(a)は、図3(a)のq−q断面における陰極配線32が形成されている側の隔壁の拡大側断面図である。換言すれば、図3(b)の左側の隔壁7a,7bの拡大図である。当該図に示すように、台形状の2つの隔壁7a,7bは、両者の間に形成されるV字状の溝の底に陰極配線32の一部が露出するように形成される。
In step S4, the cathode wiring 32 made of aluminum is formed on the photothermal conversion layer 31 by vapor deposition, sputtering, or photolithography.
In step S5, a lattice-like partition wall 7 is formed by using a photolithography method. Specifically, a photocurable resin is applied to the entire surface of the element substrate 1 by a spin coat method or the like, and then exposed and developed using a lattice-like mask to form lattice-like partition walls 7. In the preferred example, a black photocurable resin is used.
Thereby, as shown in FIG. 3A, a grid-like partition wall 7 is formed to partition the plurality of pixel electrodes 6 one by one. FIG. 5A is an enlarged side sectional view of the partition wall on the side where the cathode wiring 32 is formed in the qq section in FIG. In other words, it is an enlarged view of the left partition walls 7a and 7b in FIG. As shown in the drawing, the two trapezoidal partition walls 7a and 7b are formed such that a part of the cathode wiring 32 is exposed at the bottom of a V-shaped groove formed between them.

ステップS6では、真空蒸着法を用いて、隔壁7a,7b、陰極配線32、および画素電極6を覆って有機発光材料を蒸着し、有機EL層8を形成する。なお、有機EL層8は、正孔輸送層や、発光層などの複数の有機薄膜層を積層して形成される。
この状態が図5(b)に示されており、有機EL層8が、隔壁7a,7bや、陰極配線32を覆って全面に形成されている。
ステップS7では、図5(b)の矢印に示すように、素子基板1側から光熱変換層31に向けてレーザー光を照射する。好適例としては、エネルギー密度が約2.6×10-3mJ/μm2で、波長が約800nmの赤外レーザー光線を光熱変換層31に照射する。これにより、光熱変換層31が加熱されて、その熱が上層の陰極配線32にも伝播し、陰極配線32に面した部分の有機EL層8が昇華される。なお、レーザー光は、上記条件に限定するものではなく、陰極配線32に面した部分の有機EL層8を昇華することが可能なエネルギー量のレーザー光であれば良く、少なくとも約800nmの波長を含むレーザー光であることが好ましい。換言すれば、陰極配線32の露出した部分に当接する有機EL層8を昇華させるのに必要な熱量を光熱変換層31に与えることが可能な照射強度、および照射時間であれば良い。なお、図5(c)は、レーザー光照射後の有機EL層8の状態を示しており、陰極配線32に面した部分の有機EL層8が昇華して、陰極配線32の一部が露出した状態となっている。
In step S6, an organic EL layer 8 is formed by depositing an organic light emitting material so as to cover the partition walls 7a and 7b, the cathode wiring 32, and the pixel electrode 6 by using a vacuum deposition method. The organic EL layer 8 is formed by laminating a plurality of organic thin film layers such as a hole transport layer and a light emitting layer.
This state is shown in FIG. 5B, and the organic EL layer 8 is formed on the entire surface covering the partition walls 7 a and 7 b and the cathode wiring 32.
In step S7, laser light is irradiated from the element substrate 1 side toward the photothermal conversion layer 31 as indicated by an arrow in FIG. As a preferred example, the photothermal conversion layer 31 is irradiated with an infrared laser beam having an energy density of about 2.6 × 10 −3 mJ / μm 2 and a wavelength of about 800 nm. As a result, the photothermal conversion layer 31 is heated, the heat is propagated to the upper cathode wiring 32, and the portion of the organic EL layer 8 facing the cathode wiring 32 is sublimated. The laser beam is not limited to the above-mentioned conditions, and any laser beam having an energy amount capable of sublimating the portion of the organic EL layer 8 facing the cathode wiring 32 may be used, and has a wavelength of at least about 800 nm. The laser beam is preferably included. In other words, any irradiation intensity and irradiation time can be used as long as the amount of heat necessary to sublimate the organic EL layer 8 in contact with the exposed portion of the cathode wiring 32 can be given to the photothermal conversion layer 31. FIG. 5C shows the state of the organic EL layer 8 after laser light irradiation. The portion of the organic EL layer 8 facing the cathode wiring 32 is sublimated, and a part of the cathode wiring 32 is exposed. It has become a state.

ステップS8では、真空蒸着法により、有機EL層8、および陰極配線32の露出した部分を覆って、MgAgからなる共通電極9を形成する。これにより、図6(a)に示すように、有機EL層8を覆うとともに、その一部が陰極配線32と接続した共通電極9が形成される。
ステップS9では、CVD法により、共通電極9を覆って、SiO2からなる電極保護層10を形成する。この状態が図6(b)に示されている。
なお、ステップS6の有機EL層8形成工程から、ステップS8の共通電極9形成工程までは、不活性ガスが充填された減圧環境下で各工程が行われる。換言すれば、有機EL層8が空気環境に晒されないように、素子基板1が各チャンバー間を移動可能な装置設定となっている。これにより、所期の有機EL層8の発光特性を維持することができる。
In step S <b> 8, the common electrode 9 made of MgAg is formed by covering the exposed portion of the organic EL layer 8 and the cathode wiring 32 by vacuum deposition. As a result, as shown in FIG. 6A, the common electrode 9 that covers the organic EL layer 8 and is partially connected to the cathode wiring 32 is formed.
In step S9, the electrode protection layer 10 made of SiO 2 is formed by covering the common electrode 9 by the CVD method. This state is shown in FIG.
In addition, each process is performed in the pressure-reduced environment filled with the inert gas from the organic EL layer 8 formation process of step S6 to the common electrode 9 formation process of step S8. In other words, the device setting is such that the element substrate 1 can move between the chambers so that the organic EL layer 8 is not exposed to the air environment. As a result, the desired light emission characteristics of the organic EL layer 8 can be maintained.

また、ステップS9に続けて、スピンコート法や、CVD法などを用いて、熱硬化性のエポキシ樹脂からなる緩衝層11や、SiO2からなるガスバリア層12などを形成して、図2に示す、素子基板1が完成する。
そして、積層構造が完成した素子基板1と別途製造された対向基板17とを充填剤13や、シール剤15を用いて貼り合せて、表示パネル18が完成する。
Further, following step S9, a buffer layer 11 made of a thermosetting epoxy resin, a gas barrier layer 12 made of SiO 2 or the like is formed by using a spin coat method, a CVD method, or the like, as shown in FIG. Thus, the element substrate 1 is completed.
Then, the display substrate 18 is completed by bonding the element substrate 1 having the laminated structure and the separately manufactured counter substrate 17 together with the filler 13 or the sealant 15.

上述した通り、本実施形態に係る表示装置100、および製造方法によれば、以下の効果を得ることができる。
表示装置100の製造方法によれば、陰極配線32の一部が露出するように隔壁7a,7bが形成された後、当該隔壁、および陰極配線32を覆って有機EL層8が形成される。この状態で、素子基板1側から、光熱変換層31に向けてレーザー光を照射することにより、光熱変換層31と、その上層の陰極配線32とが発熱し、当該陰極配線に接している部分の有機EL層8が昇華されて除去される。
そして、陰極配線32に面した部分の有機EL層8が除去された状態で、真空蒸着法により共通電極9が形成されるため、陰極配線32における露出した部分にも、共通電極9が形成されることになる。つまり、陰極配線32と共通電極9とが露出した部分を介して電気的に接続された状態で、共通電極9が形成される。
よって、薄膜化された共通電極9の表面抵抗が高くなっても、表示領域V内において陰極配線32による周期的な接続が確保されているため、表示領域Vの中央部近傍における発光輝度の低下を抑制することができる。
従って、表示品位の高い表示装置100を提供することができる。
As described above, according to the display device 100 and the manufacturing method according to the present embodiment, the following effects can be obtained.
According to the method for manufacturing the display device 100, after the partition walls 7a and 7b are formed so that a part of the cathode wiring 32 is exposed, the organic EL layer 8 is formed covering the partition walls and the cathode wiring 32. In this state, by irradiating laser light toward the photothermal conversion layer 31 from the element substrate 1 side, the photothermal conversion layer 31 and the upper-layer cathode wiring 32 generate heat and are in contact with the cathode wiring The organic EL layer 8 is sublimated and removed.
Then, since the common electrode 9 is formed by the vacuum evaporation method in a state where the portion of the organic EL layer 8 facing the cathode wiring 32 is removed, the common electrode 9 is also formed on the exposed portion of the cathode wiring 32. Will be. That is, the common electrode 9 is formed in a state where the cathode wiring 32 and the common electrode 9 are electrically connected via the exposed portion.
Therefore, even if the surface resistance of the thinned common electrode 9 is increased, the periodic connection by the cathode wiring 32 is ensured in the display region V, so that the emission luminance is reduced near the center of the display region V. Can be suppressed.
Therefore, the display device 100 with high display quality can be provided.

さらに、表示装置100の製造方法は、複数回のフォトリソ工程と、単純な蒸着工程、およびレーザー照射工程を組み合わせた工程から構成されているため、蒸着マスクを用いる工程を含み、塗り分け精度の確保が困難であった従来の製造方法と異なり、大型の表示装置の製造にも好適に適用することができる。換言すれば、表示装置100の製造方法には、蒸着マスクを用いる工程が含まれていないため、大型の表示装置の製造に好適に適用することができる。
従って、大型の表示装置へ好適に適用することができる表示装置100の製造方法を提供することができる。
Further, the manufacturing method of the display device 100 includes a process combining a plurality of photolithography processes, a simple vapor deposition process, and a laser irradiation process, and therefore includes a process using a vapor deposition mask, and ensures coating accuracy. Unlike the conventional manufacturing method, which is difficult, the method can be suitably applied to manufacturing a large display device. In other words, since the manufacturing method of the display device 100 does not include a step of using a vapor deposition mask, it can be suitably applied to manufacturing a large display device.
Therefore, it is possible to provide a method for manufacturing the display device 100 that can be suitably applied to a large display device.

また、表示不良を誘発する蒸着マスクを用いる工程が含まれないため、歩留りを向上させることができる。
従って、歩留りの良い表示装置100の製造方法を提供することができる。
Further, since a process using a vapor deposition mask that induces display defects is not included, yield can be improved.
Therefore, a method for manufacturing the display device 100 with a high yield can be provided.

(実施形態2)
図7(a)は、実施形態2に係る素子基板の平面図であり、図3(a)に対応している。図7(b)は(a)におけるs−s断面の断面図であり、図3(b)に対応している。図8(a)〜(c)は、製造工程における一態様を示す図であり、図5に対応している。図9(a),(b)は、製造工程における一態様を示す図であり、図6に対応している。
以下、本発明の実施形態2に係る表示装置について説明する。なお、実施形態1と同一の構成部位については、同一の番号を附し、重複する説明は省略する。
本実施形態の表示装置は、実施形態1の素子基板1とは、異なる構成の素子基板1bを備えている。詳しくは、陰極配線と光熱変換層との積層順が反転するとともに、平面レイアウトが実施形態1の素子基板1とは異なる。また、製造方法の一部も異なっている。それ以外は、実施形態1での説明と略同様である。なお、素子基板1bとは、本実施形態における素子基板1上に形成された複数層の積層構造体の全体を指している。
(Embodiment 2)
FIG. 7A is a plan view of the element substrate according to the second embodiment, and corresponds to FIG. FIG. 7B is a cross-sectional view taken along the line ss in FIG. 7A and corresponds to FIG. FIGS. 8A to 8C are diagrams showing an embodiment in the manufacturing process, and correspond to FIG. FIGS. 9A and 9B are diagrams showing an embodiment in the manufacturing process and correspond to FIG.
The display device according to Embodiment 2 of the present invention will be described below. In addition, about the component same as Embodiment 1, the same number is attached | subjected and the overlapping description is abbreviate | omitted.
The display device of the present embodiment includes an element substrate 1b having a configuration different from that of the element substrate 1 of the first embodiment. Specifically, the stacking order of the cathode wiring and the photothermal conversion layer is reversed, and the planar layout is different from the element substrate 1 of the first embodiment. Also, some of the manufacturing methods are different. Other than that, it is substantially the same as the description in the first embodiment. The element substrate 1b refers to the entire multilayer structure formed on the element substrate 1 in the present embodiment.

図7(b)に示すように、2つの隔壁7a,7b間におけるV字状の溝の底部には、素子基板1側から、陰極配線5bと光熱変換層31とがこの順番で積層されており、光熱変換層31の露出した部分と共通電極9とが接続している。ここで、陰極配線5bは、反射層5と同一の工程で形成されたアルミニウムからなる配線であり、コンタクトホール9cにより、陰極本線と接続が取られている。
つまり、光熱変換層と陰極配線との積層順が、図3の構成に比べて反転しており、素子基板1側から、陰極配線5bと光熱変換層31とがこの順番で積層されている。
そして、陰極配線5bと光熱変換層31との積層部分は、図7(a)に示すように、平面的に略4画素に1ヶの割合で島状に配置されている。また、島状に配置された積層部分の各々は、コンタクトホールによって陰極本線と接続が取られている。なお、略4画素に1ヶの割合で配置する構成に限定するものではなく、共通電極9の表面抵抗値(仕様)に応じて、所期の導電率を確保できるように、適宜形成数を定めれば良い。
As shown in FIG. 7B, the cathode wiring 5b and the photothermal conversion layer 31 are laminated in this order from the element substrate 1 side at the bottom of the V-shaped groove between the two partition walls 7a and 7b. The exposed portion of the photothermal conversion layer 31 and the common electrode 9 are connected. Here, the cathode wiring 5b is a wiring made of aluminum formed in the same process as the reflective layer 5, and is connected to the cathode main line through a contact hole 9c.
That is, the stacking order of the photothermal conversion layer and the cathode wiring is reversed as compared with the configuration of FIG. 3, and the cathode wiring 5b and the photothermal conversion layer 31 are stacked in this order from the element substrate 1 side.
Then, as shown in FIG. 7A, the laminated portion of the cathode wiring 5b and the light-to-heat conversion layer 31 is arranged in an island shape at a ratio of approximately one for every four pixels in a plan view. Each of the stacked portions arranged in an island shape is connected to the cathode main line by a contact hole. In addition, it is not limited to the structure arrange | positioned at a ratio of about 1 to about 4 pixels, According to the surface resistance value (specification) of the common electrode 9, the number of formation is suitably set so that an expected electrical conductivity can be ensured. You just have to decide.

続いて、図4を交えて、実施形態2に係る素子基板の製造方法について、実施形態1との相違点を中心に説明する。
まず、図4のフローチャートにおいて、ステップS1,S3,S7が変更となり、また、ステップS4は不要となる。
詳しくは、ステップS1では、蒸着法、またはスパッタ法、およびフォトリソ法を用いて、アルミニウムからなる反射層5、および陰極配線5bを形成する。換言すれば、反射層5と同一工程において、陰極配線5bも形成する。
ステップS3では、スパッタ法、およびフォトリソ法を用いて、陰極配線5b上にクロムからなる光熱変換層31を形成する。
また、ステップS1にて陰極配線5bを形成するため、ステップS4は不要となる。
ステップS5では、フォトリソ法を用いて、格子状の隔壁7を形成する。この状態が、図8(a)に示されている。
Next, with reference to FIG. 4, the element substrate manufacturing method according to the second embodiment will be described focusing on differences from the first embodiment.
First, in the flowchart of FIG. 4, steps S1, S3, and S7 are changed, and step S4 is not necessary.
Specifically, in step S1, the reflective layer 5 made of aluminum and the cathode wiring 5b are formed by vapor deposition, sputtering, or photolithography. In other words, the cathode wiring 5 b is also formed in the same process as the reflective layer 5.
In step S3, the photothermal conversion layer 31 made of chromium is formed on the cathode wiring 5b by using a sputtering method and a photolithography method.
Moreover, since the cathode wiring 5b is formed in step S1, step S4 becomes unnecessary.
In step S5, a lattice-like partition wall 7 is formed by using a photolithography method. This state is shown in FIG.

ステップS6では、真空蒸着法を用いて、隔壁7a,7b、光熱変換層31、および画素電極6を覆って有機発光材料を蒸着し、有機EL層8を形成する。
ステップS7では、図8(b)の矢印に示すように、有機EL層8側(Z軸(−)側)から光熱変換層31に向けてレーザー光を照射する。このように、実施形態2では、レーザー光の照射方向が実施形態1の反対側からとなっている。
これにより、光熱変換層31が加熱されて、その熱によって、当該層に面した部分の有機EL層8が昇華される。
図8(c)は、レーザー光照射後の有機EL層8の状態を示しており、光熱変換層31に面した部分の有機EL層8が昇華して、光熱変換層31の一部が露出した状態となっている。
In step S <b> 6, an organic light-emitting material is vapor-deposited so as to cover the partition walls 7 a and 7 b, the photothermal conversion layer 31, and the pixel electrode 6 by using a vacuum evaporation method, thereby forming the organic EL layer 8.
In step S7, laser light is irradiated from the organic EL layer 8 side (Z-axis (−) side) toward the photothermal conversion layer 31 as indicated by the arrow in FIG. Thus, in the second embodiment, the direction of laser light irradiation is from the opposite side of the first embodiment.
Thereby, the photothermal conversion layer 31 is heated, and the organic EL layer 8 of the portion facing the layer is sublimated by the heat.
FIG. 8C shows the state of the organic EL layer 8 after laser light irradiation. The portion of the organic EL layer 8 facing the photothermal conversion layer 31 is sublimated, and a part of the photothermal conversion layer 31 is exposed. It has become a state.

ステップS8では、真空蒸着法により、有機EL層8、および光熱変換層31の露出した部分を覆って、MgAgからなる共通電極9を形成する。これにより、図9(a)に示すように、有機EL層8を覆うとともに、その一部が光熱変換層31と接続した共通電極9が形成される。
ステップS9では、CVD法により、共通電極9を覆って、SiO2からなる電極保護層10を形成する。この状態が図9(b)に示されている。
その他の製造工程は、実施形態1での製造方法と同様である。
In step S8, the common electrode 9 made of MgAg is formed by vacuum evaporation to cover the exposed portions of the organic EL layer 8 and the photothermal conversion layer 31. As a result, as shown in FIG. 9A, the common electrode 9 that covers the organic EL layer 8 and is partially connected to the photothermal conversion layer 31 is formed.
In step S9, the electrode protection layer 10 made of SiO 2 is formed by covering the common electrode 9 by the CVD method. This state is shown in FIG.
Other manufacturing steps are the same as the manufacturing method in the first embodiment.

上述した通り、本実施形態によれば、実施形態1における効果に加えて、以下の効果を得ることができる。
図7(a)に示すように、陰極配線5bと光熱変換層31との積層部分は、平面的に略4画素に1ヶの割合で島状に配置されている。つまり、薄膜化された共通電極9の表面抵抗が高くなっても、表示領域V内において陰極配線5bによる周期的な接続が確保されているため、表示領域Vの中央部近傍における発光輝度の低下を抑制することができる。
従って、表示品位の高い表示装置を提供することができる。
また、陰極配線5bと光熱変換層31とからなる積層部分は、クロムからなる光熱変換層31をアルミニウム配線(陰極配線5b)で裏打ちした構成となっているため、その全体としての抵抗値は、十分に低くなり、実用上必要な導電率を確保することができる。
As described above, according to the present embodiment, in addition to the effects in the first embodiment, the following effects can be obtained.
As shown in FIG. 7A, the stacked portions of the cathode wiring 5b and the photothermal conversion layer 31 are arranged in an island shape in a ratio of approximately one for every four pixels in plan view. That is, even if the surface resistance of the thinned common electrode 9 is increased, the periodic connection by the cathode wiring 5b is ensured in the display region V, so that the emission luminance in the vicinity of the central portion of the display region V is reduced. Can be suppressed.
Therefore, a display device with high display quality can be provided.
Moreover, since the laminated part which consists of the cathode wiring 5b and the photothermal conversion layer 31 becomes the structure which backed the photothermal conversion layer 31 which consists of chromium with the aluminum wiring (cathode wiring 5b), the resistance value as the whole is as follows. It becomes sufficiently low, and the conductivity necessary for practical use can be ensured.

また、実施形態2の製造工程においても、蒸着マスクを用いる工程が含まれていないため、大型の表示装置の製造に好適に適用することができる。
従って、大型の表示装置へ好適に適用することができる表示装置の製造方法を提供することができる。
また、表示不良を誘発する蒸着マスクを用いる工程が含まれないため、歩留りを向上させることができる。
従って、歩留りの良い表示装置の製造方法を提供することができる。
In addition, since the manufacturing process of Embodiment 2 does not include a process using a vapor deposition mask, it can be suitably applied to manufacturing a large display device.
Therefore, a method for manufacturing a display device that can be suitably applied to a large display device can be provided.
Further, since a process using a vapor deposition mask that induces display defects is not included, yield can be improved.
Therefore, a method for manufacturing a display device with high yield can be provided.

さらに、ステップS1において、反射層5に加えて、陰極配線5bも形成するため、専用の陰極配線工程(ステップS4)が不要となり、製造効率が良い。よって、歩留りを向上させることができる。
特に、隔壁7の下層(素子基板1側)には、TFTなどの回路素子や、複数の配線が形成されているため、これらの密度が高く、レーザー光を照射する際の障害となることが想定されるが、有機EL層8側から照射する方法であれば、障害なく効果的にレーザー光を照射することができる。
よって、より安定して有機EL層を昇華させることができる。従って、より歩留りの良い表示装置の製造方法を提供することができる。
Furthermore, since the cathode wiring 5b is formed in addition to the reflective layer 5 in step S1, a dedicated cathode wiring process (step S4) is not required, and the manufacturing efficiency is good. Therefore, the yield can be improved.
In particular, since circuit elements such as TFTs and a plurality of wirings are formed in the lower layer of the partition wall 7 (on the element substrate 1 side), their density is high, which may be an obstacle to laser light irradiation. Assuming that the irradiation is performed from the organic EL layer 8 side, it is possible to irradiate the laser beam effectively without any obstacle.
Therefore, the organic EL layer can be sublimated more stably. Therefore, a method for manufacturing a display device with higher yield can be provided.

(実施形態3)
図10は、実施形態3に係る素子基板の側断面図であり、図3(b)に対応している。
以下、本発明の実施形態3に係る表示装置について説明する。なお、実施形態1と同一の構成部位については、同一の番号を附し、重複する説明は省略する。
本実施形態の表示装置は、実施形態1の素子基板1とは、異なる構成の素子基板1cを備えている。詳しくは、2つの隔壁7a,7b間におけるV字状の溝の底部には、光熱変換層31bが単層で形成されている。また、製造方法の一部も異なっている。それ以外は、実施形態1での説明と略同様である。なお、素子基板1cとは、本実施形態における素子基板1上に形成された複数層の積層構造体の全体を指している。
(Embodiment 3)
FIG. 10 is a side sectional view of the element substrate according to the third embodiment, and corresponds to FIG.
The display device according to Embodiment 3 of the present invention will be described below. In addition, about the component same as Embodiment 1, the same number is attached | subjected and the overlapping description is abbreviate | omitted.
The display device of the present embodiment includes an element substrate 1c having a configuration different from that of the element substrate 1 of the first embodiment. Specifically, the photothermal conversion layer 31b is formed as a single layer at the bottom of the V-shaped groove between the two partition walls 7a and 7b. Also, some of the manufacturing methods are different. Other than that, it is substantially the same as the description in the first embodiment. Note that the element substrate 1c refers to the entire multilayer structure formed on the element substrate 1 in this embodiment.

図10に示すように、2つの隔壁7a,7b間におけるV字状の溝の底部には、素子基板1側の上に、陰極配線を兼ねた光熱変換層31bが単層で形成されており、当該層の一部と共通電極9とが接続している。ここで、光熱変換層31bとしては、赤外線の照射によって発熱する材料であるとともに、高導電率のモリブデンを用いている。または、モリブデンを含む合金を用いても良い。
また、光熱変換層31bの平面的な配置としては、図3(a)の陰極配線32と同様に、表示領域Vにおいてストライプ状に形成されている。また、実施形態1での説明と同様に、コンタクトホール9cにより、光熱変換層31bと陰極本線との間の接続が取られている。なお、共通電極9の表面抵抗の均一化が図れれば、実施形態2のように、光熱変換層31bを島状に配置しても良い。
As shown in FIG. 10, at the bottom of the V-shaped groove between the two partition walls 7a and 7b, a single layer of the photothermal conversion layer 31b also serving as the cathode wiring is formed on the element substrate 1 side. A part of the layer is connected to the common electrode 9. Here, the photothermal conversion layer 31b is made of a material that generates heat when irradiated with infrared rays, and uses molybdenum having high conductivity. Alternatively, an alloy containing molybdenum may be used.
Further, the planar arrangement of the photothermal conversion layer 31b is formed in a stripe shape in the display region V as in the case of the cathode wiring 32 in FIG. Similarly to the description in the first embodiment, the connection between the photothermal conversion layer 31b and the cathode main line is established by the contact hole 9c. If the surface resistance of the common electrode 9 can be made uniform, the photothermal conversion layer 31b may be arranged in an island shape as in the second embodiment.

続いて、図4を交えて、実施形態3に係る素子基板の製造方法について、実施形態1との相違点を中心に説明する。
まず、図4のフローチャートにおいて、ステップS3,S7が変更となり、また、ステップS4は不要となる。
詳しくは、ステップS3では、スパッタ法、およびフォトリソ法を用いて、モリブデンからなる光熱変換層31bを形成する。
ステップS7では、隔壁7a,7b、光熱変換層31b、および画素電極6を覆って形成された有機EL層8側(Z軸(−)側)から光熱変換層31bに向けてレーザー光を照射する。このように、実施形態3でも、レーザー光の照射方向が実施形態1の反対側からとなっている。なお、光熱変換層31bが単層となっているため、実施形態1と同様に、素子基板1側からレーザー光を照射しても良い。
Next, with reference to FIG. 4, the element substrate manufacturing method according to the third embodiment will be described focusing on differences from the first embodiment.
First, steps S3 and S7 are changed in the flowchart of FIG. 4, and step S4 is not necessary.
Specifically, in step S3, the photothermal conversion layer 31b made of molybdenum is formed using a sputtering method and a photolithography method.
In step S7, laser light is irradiated from the organic EL layer 8 side (Z-axis (−) side) formed covering the partition walls 7a and 7b, the photothermal conversion layer 31b, and the pixel electrode 6 toward the photothermal conversion layer 31b. . Thus, also in the third embodiment, the irradiation direction of the laser light is from the opposite side of the first embodiment. Since the photothermal conversion layer 31b is a single layer, laser light may be irradiated from the element substrate 1 side as in the first embodiment.

上述した通り、本実施形態によれば、実施形態1における効果に加えて、以下の効果を得ることができる。
光熱変換層31bは、赤外線の照射によって発熱する材料であるとともに、高導電率のモリブデンから構成されている。よって、単層構成であっても、光熱変換層兼、陰極配線として機能させることができる。
そして、光熱変換層31bの平面的な配置としては、表示領域Vにおいてストライプ状に形成されている。
よって、薄膜化された共通電極9の表面抵抗が高くなっても、表示領域V内において光熱変換層31bによる周期的な接続が確保されているため、表示領域Vの中央部近傍における発光輝度の低下を抑制することができる。
従って、表示品位の高い表示装置を提供することができる。
As described above, according to the present embodiment, in addition to the effects in the first embodiment, the following effects can be obtained.
The photothermal conversion layer 31b is a material that generates heat when irradiated with infrared rays, and is made of molybdenum having a high conductivity. Therefore, even a single layer structure can function as a photothermal conversion layer and a cathode wiring.
The planar arrangement of the photothermal conversion layer 31b is formed in a stripe shape in the display region V.
Therefore, even when the surface resistance of the thinned common electrode 9 is increased, the periodic connection by the photothermal conversion layer 31b is ensured in the display region V, and thus the emission luminance in the vicinity of the center portion of the display region V is secured. The decrease can be suppressed.
Therefore, a display device with high display quality can be provided.

また、実施形態3の製造工程においても、蒸着マスクを用いる工程が含まれていないため、大型の表示装置の製造に好適に適用することができる。
従って、大型の表示装置へ好適に適用することができる表示装置の製造方法を提供することができる。
また、表示不良を誘発する蒸着マスクを用いる工程が含まれないため、歩留りを向上させることができる。
従って、歩留りの良い表示装置の製造方法を提供することができる。
In addition, the manufacturing process of Embodiment 3 does not include a process using a vapor deposition mask, and thus can be suitably applied to manufacturing a large display device.
Therefore, a method for manufacturing a display device that can be suitably applied to a large display device can be provided.
Further, since a process using a vapor deposition mask that induces display defects is not included, yield can be improved.
Therefore, a method for manufacturing a display device with high yield can be provided.

さらに、光熱変換層31bが陰極配線を兼ねるため、陰極配線工程(ステップS4)が不要となり、製造効率が良い。よって、歩留りを向上させることができる。
特に、光熱変換層31bが単層となっているため、レーザー光の照射を素子基板1側、または有機EL層8側のどちらから行っても良く、表示装置の仕様に応じて、光熱変換層31bを加熱し易い方向から、適宜選択することができる。
従って、製造効率に優れた表示装置の製造方法を提供することができる。
Furthermore, since the photothermal conversion layer 31b also serves as the cathode wiring, the cathode wiring step (step S4) is not necessary, and the manufacturing efficiency is good. Therefore, the yield can be improved.
In particular, since the photothermal conversion layer 31b is a single layer, laser light irradiation may be performed from either the element substrate 1 side or the organic EL layer 8 side. Depending on the specifications of the display device, the photothermal conversion layer 31b may be used. The direction can be appropriately selected from the direction in which 31b is easily heated.
Therefore, it is possible to provide a method for manufacturing a display device with excellent manufacturing efficiency.

(電子機器)
図11は、上述の表示装置を搭載した大型テレビを示す斜視図である。
上述した表示装置100は、例えば、電子機器としての大型テレビ200に搭載して用いることができる。
大型テレビ200は、例えば、画面サイズが42インチの表示装置100を表示画面として備えている。大型テレビ200は、不図示のリモコンによって遠隔操作可能に設けられており、当該リモコンの操作によって、様々なチャンネルの画像を表示装置100に表示する。
表示装置100は、自発光の有機EL表示装置であるため、バックライトなどの光源を必要とする液晶表示装置よりも、薄く構成されている。また、表示品位の高い表示装置100を搭載している。
従って、薄型で、表示品位の高い大型テレビ200を提供することができる。
(Electronics)
FIG. 11 is a perspective view showing a large television on which the above-described display device is mounted.
The display device 100 described above can be mounted and used in, for example, a large television 200 as an electronic device.
The large-sized television 200 includes, for example, the display device 100 having a screen size of 42 inches as a display screen. The large television 200 is provided so as to be remotely operable by a remote controller (not shown), and displays images of various channels on the display device 100 by the operation of the remote controller.
Since the display device 100 is a self-luminous organic EL display device, the display device 100 is configured to be thinner than a liquid crystal display device that requires a light source such as a backlight. Moreover, the display device 100 with high display quality is mounted.
Therefore, the large-sized television 200 that is thin and has high display quality can be provided.

また、大型テレビに限定するものではなく、表示部を備えた電子機器であれば良く、例えば、モニターや、ノート型パソコンに適用しても良い。また、携帯電話や、カーナビゲーションシステム用の表示装置、PDA(Personal Digital Assistants)、モバイルコンピューター、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、車載機器、オーディオ機器などの各種電子機器に用いることができる。   In addition, the present invention is not limited to a large-sized television, and any electronic device provided with a display unit may be used. For example, the present invention may be applied to a monitor or a notebook computer. Further, it can be used for various electronic devices such as mobile phones, display devices for car navigation systems, PDAs (Personal Digital Assistants), mobile computers, digital cameras, digital video cameras, in-vehicle devices, and audio devices.

なお、本発明は上述した実施形態に限定されず、上述した実施形態に種々の変更や改良などを加えることが可能である。変形例を以下に述べる。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications and improvements can be added to the above-described embodiment. A modification will be described below.

(変形例1)
図3(b)、および図7(b)を用いて説明する。
上記各実施形態においては、画素電極が透明電極であるものとして説明したが、この構成に限定するものではなく、反射電極として機能すれば良い。例えば、画素電極6自体に、所定の光反射率と平坦性とを確保可能な材質を用いることで、当該電極を反射電極として構成しても良い。画素電極6の材質としては、例えば、アモルファス金属を用いることができる。
この構成によれば、反射層5の形成工程(ステップS1)が省略できるため、より製造効率を向上させることができる。
従って、歩留りの良い表示装置の製造方法を提供することができる。
(Modification 1)
This will be described with reference to FIGS. 3B and 7B.
In each of the above embodiments, the pixel electrode is described as a transparent electrode. However, the pixel electrode is not limited to this configuration, and may function as a reflective electrode. For example, the electrode may be configured as a reflective electrode by using a material capable of ensuring a predetermined light reflectance and flatness for the pixel electrode 6 itself. As a material of the pixel electrode 6, for example, amorphous metal can be used.
According to this structure, since the formation process (step S1) of the reflective layer 5 can be omitted, manufacturing efficiency can be further improved.
Therefore, a method for manufacturing a display device with high yield can be provided.

(変形例2)
図2を用いて説明する。
上記各実施形態においては、有機EL層8を複数の有機薄膜層からなる積層体として説明したが、この構成に限定するものではない。例えば、各有機発光層間に中間電荷発生層を挟んで配置した構成、いわゆるタンデム型有機EL発光素子であっても良い。
この構成によれば、低消費電力で、大型の表示装置を提供することができる。
(Modification 2)
This will be described with reference to FIG.
In each said embodiment, although the organic EL layer 8 was demonstrated as a laminated body which consists of a some organic thin film layer, it is not limited to this structure. For example, a so-called tandem organic EL light emitting device may be used in which an intermediate charge generation layer is interposed between organic light emitting layers.
According to this configuration, a large display device with low power consumption can be provided.

1,1b,1c…(積層体としての)素子基板、4…平坦化層、5…反射層、5b…陰極配線、6…画素電極、7,7a,7b…隔壁、8…有機薄膜層としての有機EL層、9…共通陰極としての共通電極、9c…コンタクトホール、10…陰極保護層、14…カラーフィルターとしてのCF層、17…対向基板、18…表示パネル、20…フレキシブル基板、25…絶縁層、31,31b…光熱変換層、32…陰極配線、100…電気光学装置としての表示装置、200…電子機器としての大型テレビ、V…表示領域。   1, 1b, 1c ... as an element substrate (as a laminated body), 4 ... a flattening layer, 5 ... a reflective layer, 5b ... a cathode wiring, 6 ... a pixel electrode, 7, 7a, 7b ... a partition, 8 ... an organic thin film layer 9 ... Common electrode as common cathode, 9c ... Contact hole, 10 ... Cathode protective layer, 14 ... CF layer as color filter, 17 ... Counter substrate, 18 ... Display panel, 20 ... Flexible substrate, 25 DESCRIPTION OF SYMBOLS Insulating layer 31, 31b ... Photothermal conversion layer, 32 ... Cathode wiring, 100 ... Display apparatus as electro-optical device, 200 ... Large television as electronic equipment, V ... Display area.

Claims (10)

複数の画素を有する電気光学装置の製造方法であって、
基板上に、前記画素の開口部となる画素電極を形成する工程と、
前記画素電極と、隣り合う前記画素電極との間隙部分に光熱変換層を形成する工程と、
前記光熱変換層に重ねて陰極配線を形成する工程と、
前記陰極配線の一部を露出させて、複数の前記画素電極を区画する隔壁を形成する工程と、
蒸着法を用いて、前記画素電極および前記隔壁を覆って、有機薄膜層を形成する工程と、
前記基板側から、前記光熱変換層に向けてレーザー光を照射する工程と、
蒸着法を用いて、前記有機薄膜層を覆って、光透過性を有する共通陰極を形成する工程を、含み、
前記陰極配線と、前記共通陰極とは、前記陰極配線における前記露出した部分を介して、電気的に接続されることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing an electro-optical device having a plurality of pixels,
Forming a pixel electrode to be an opening of the pixel on a substrate;
Forming a photothermal conversion layer in a gap portion between the pixel electrode and the adjacent pixel electrode;
Forming a cathode wiring on the photothermal conversion layer; and
A step of exposing a part of the cathode wiring to form a partition wall for partitioning the plurality of pixel electrodes;
Forming an organic thin film layer by covering the pixel electrode and the partition using a vapor deposition method;
Irradiating laser light toward the photothermal conversion layer from the substrate side;
Using a vapor deposition method to cover the organic thin film layer and forming a light-transmitting common cathode,
The method of manufacturing an electro-optical device, wherein the cathode wiring and the common cathode are electrically connected through the exposed portion of the cathode wiring.
前記画素電極は、透明電極からなり、
前記画素電極の形成工程の前に、前記画素電極と重なる反射層を形成する工程をさらに有することを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の製造方法。
The pixel electrode comprises a transparent electrode,
The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 1, further comprising a step of forming a reflective layer overlapping the pixel electrode before the step of forming the pixel electrode.
前記陰極配線は、前記基板に形成されている陰極幹線と接続されており、
前記光熱変換層と、前記陰極配線とからなる積層配線部は、平面視において、ストライプ状、または、格子状、または、複数の前記画素ごとに島状に形成されることを特徴とする請求項1または2に記載の電気光学装置の製造方法。
The cathode wiring is connected to a cathode trunk formed on the substrate,
The laminated wiring portion including the photothermal conversion layer and the cathode wiring is formed in a stripe shape, a lattice shape, or an island shape for each of the plurality of pixels in a plan view. A method for manufacturing the electro-optical device according to 1 or 2.
前記光熱変換層は、モリブデン、チタン、クロムのいずれか、または、これらのうち、少なくとも1種を含む合金から構成されてなり、
前記陰極配線は、アルミニウム、金、銅のいずれか、または、これらのうち、少なくとも1種を含む合金から構成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法。
The photothermal conversion layer is made of molybdenum, titanium, chromium, or an alloy containing at least one of these,
The electricity according to any one of claims 1 to 3, wherein the cathode wiring is made of aluminum, gold, copper, or an alloy containing at least one of them. Manufacturing method of optical device.
前記レーザー光は、波長800nmの赤外線を含み、前記陰極配線の前記露出した部分に当接する前記有機薄膜層を昇華させるのに必要な熱量を前記光熱変換層に与えることが可能な照射強度、および照射時間で照射されることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法。   The laser beam includes an infrared ray having a wavelength of 800 nm, and an irradiation intensity capable of giving the photothermal conversion layer the amount of heat necessary to sublimate the organic thin film layer in contact with the exposed portion of the cathode wiring, and The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 1, wherein the irradiation is performed for an irradiation time. 前記隔壁の形成工程では、フォトリソ法を用いて略黒色の樹脂からなる前記隔壁を形成し、
前記陰極配線における前記露出した部分は、前記隔壁内に形成された溝部の底に位置することを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法。
In the partition forming step, the partition made of a substantially black resin is formed using a photolithography method,
6. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 1, wherein the exposed portion of the cathode wiring is positioned at a bottom of a groove formed in the partition.
前記有機薄膜層の形成工程では、略白色光を放射する発光層を含む複数層からなる前記有機薄膜層が形成され、
前記共通陰極の形成工程の後に、陰極保護層の形成工程と、前記基板と対向する対向基板の取り付け工程とをさらに有し、
前記対向基板には、前記画素ごとに対応して赤、青、緑色を含む各色のカラーフィルターが形成されており、前記画素から出射される光は、対応する前記カラーフィルターによって透過選択された色光となって、前記対向基板から出射されることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法。
In the step of forming the organic thin film layer, the organic thin film layer including a plurality of layers including a light emitting layer that emits substantially white light is formed,
After the step of forming the common cathode, the method further includes a step of forming a cathode protective layer and a step of attaching a counter substrate facing the substrate,
The counter substrate is formed with color filters of each color including red, blue, and green corresponding to each pixel, and the light emitted from the pixel is a color light that is transmitted and selected by the corresponding color filter. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 1, wherein the light is emitted from the counter substrate.
複数の画素を有する電気光学装置の製造方法であって、
基板上に、反射層、および前記反射層と同一材料で陰極配線を形成する工程と、
前記反射層の上層側に、前記画素の開口部となる光透過性の画素電極を形成する工程と、
前記陰極配線の上層に光熱変換層を形成する工程と、
前記陰極配線の一部を露出させて、複数の前記画素電極を区画する隔壁を形成する工程と、
蒸着法を用いて、前記画素電極および前記隔壁を覆って、有機薄膜層を形成する工程と、
前記有機薄膜層側から、前記光熱変換層に向けてレーザー光を照射する工程と、
蒸着法を用いて、前記有機薄膜層を覆って、光透過性の共通陰極を形成する工程を、含み、
前記陰極配線と、前記共通陰極とは、前記陰極配線における前記露出した部分を介して、電気的に接続されることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing an electro-optical device having a plurality of pixels,
A step of forming a cathode wiring with the same material as the reflective layer and the reflective layer on the substrate;
Forming a light transmissive pixel electrode to be an opening of the pixel on an upper layer side of the reflective layer;
Forming a photothermal conversion layer on the cathode wiring;
A step of exposing a part of the cathode wiring to form a partition wall for partitioning the plurality of pixel electrodes;
Forming an organic thin film layer by covering the pixel electrode and the partition using a vapor deposition method;
Irradiating laser light toward the photothermal conversion layer from the organic thin film layer side;
Using a vapor deposition method to cover the organic thin film layer and form a light-transmitting common cathode,
The method of manufacturing an electro-optical device, wherein the cathode wiring and the common cathode are electrically connected through the exposed portion of the cathode wiring.
複数の画素を有する電気光学装置の製造方法であって、
基板上に、前記画素の開口部となる画素電極を形成する工程と、
前記画素電極と、隣り合う前記画素電極との間隙部分に陰極配線を形成する工程と、
前記陰極配線の一部を露出させて、複数の前記画素電極を区画する隔壁を形成する工程と、
蒸着法を用いて、前記画素電極および前記隔壁を覆って、有機薄膜層を形成する工程と、
前記基板側から、または、前記有機薄膜層側から、前記陰極配線に向けてレーザー光を照射する工程と、
蒸着法を用いて、前記有機薄膜層を覆って、光透過性を有する共通陰極を形成する工程を、含み、
前記レーザー光の照射により発熱する光熱変換材料から構成された前記陰極配線と、前記共通陰極とは、前記陰極配線における前記露出した部分を介して、電気的に接続されることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing an electro-optical device having a plurality of pixels,
Forming a pixel electrode to be an opening of the pixel on a substrate;
Forming a cathode wiring in a gap portion between the pixel electrode and the adjacent pixel electrode;
A step of exposing a part of the cathode wiring to form a partition wall for partitioning the plurality of pixel electrodes;
Forming an organic thin film layer by covering the pixel electrode and the partition using a vapor deposition method;
Irradiating laser light from the substrate side or the organic thin film layer side toward the cathode wiring;
Using a vapor deposition method to cover the organic thin film layer and forming a light-transmitting common cathode,
The cathode wiring composed of a photothermal conversion material that generates heat upon irradiation with the laser light and the common cathode are electrically connected via the exposed portion of the cathode wiring. Manufacturing method of optical device.
前記陰極配線は、モリブデン、または前記モリブデンを含む合金から構成されることを特徴とする請求項9に記載の電気光学装置の製造方法。   The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 9, wherein the cathode wiring is made of molybdenum or an alloy containing molybdenum.
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