JP2015215261A - 非破壊検査方法およびその装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図2は本発明の第1の実施の形態に係る図で、同図(a)はその非破壊検査装置を示すブロック図、同図(b)はその検出手段で検出される散乱γ線信号を示す波形図である。
図2(a)に示すように、本形態に係るγ線源1は、検査対象物3に向けてγ線を照射する。一方、検出手段2は、前記照射により検査対象物3においてコンプトン後方散乱に起因して散乱された散乱γ線を検出する。さらに、検出手段2では、前記散乱γ線の時間軸上の信号強度(検出手段2に入射した光子の数に比例する)を表す散乱γ線信号に基づき前記検査対象物の厚さに対応する部分である領域I,IIのパルスの幅を検出して検査対象物3の肉厚に関するデータを検出する。ここで、パルス幅の特定方法に関しては、特別な制限はない。例えば散乱γ信号のピーク値に対し信号強度が所定の割合(例えば50%)となる2点間の時間軸方向の距離(L)を光速(c)で除した値である時間幅をパルス幅とすることが考えられる(以下、各実施の形態等において同じ。)。
検査対象物3である配管の内径を、例えば15cmとすると、γ線の往復経路が約30cmとなる。したがって、これを光速cで割れば、30cm÷(3×108(m/s))=1nsとなる。そこで、例えば1.5mmの減肉を検出するためには、往復経路が3mmであるので、3mm÷(3×108(m/s))=10psとなり、この場合には、psオーダーの時間分解能を有する必要がある。すなわち、γ線源としては、超短パルスのγ線を発生する必要がある。また、検出手段もγ線源に合わせて十分な時間分解能を有するものとする必要がある。
第2の実施の形態の如くpsオーダーの時間分解能を有する検出手段を使用した場合には、超短パルスレーザ光を照射するタイミングと検出手段が前記超短パルスレーザ光に起因するコンプトン散乱γ線を取込むタイミングとのズレ、すなわち両者間のジッタが問題となる場合がある。この場合のジッタは、ps以下に抑制する必要がある。
図7は、本実施例に係る検出手段を示すブロック図である。同図に示すように、本実施例における検出手段22は、薄膜コンバータ25、光カー効果媒質26、光検出部28および遅延手段29を備えている。ここで、薄膜コンバータ25は、レーザ・コンプトン散乱γ線を電子線に変換するもので、例えばW,Pb等で好適に形成することができる。光カー効果媒質26は、前記電子線の移動により発生するチェレンコフ光が入射されるとともに、前記超短パルスレーザ光の入射により屈折率が変化する。この光カー効果媒質26としては、例えばCS2を使用することができる。
図9は、本実施例に係る検出手段を示すブロック図である。同図に示すように、本実施例の検出手段22は、レーザ・コンプトン散乱γ線をコンプトン散乱電子線に変換する薄膜コンバータ30と、分岐手段23で分岐された超短パルスレーザ光の伝搬時間を制御する光学的な遅延手段29と、伝搬時間が制御された前記超短パルスレーザ光とコンプトン散乱電子線との相互作用により形成されるトムソン散乱光に基づく光信号を検出する光検出部31とを備えている。ここで、遅延手段29を通過した超短パルスレーザ光はミラー33で反射され、さらに集光手段32で集光させた超短パルスレーザ光をコンプトン散乱電子線に照射している。このように散乱γ線信号を生成させるトリガとなる超短パルスレーザ光を、集光手段32を介してコンプトン散乱電子線に作用させるように構成することは必須ではないが、かかる構成により散乱γ線信号におけるパルスを尖鋭化することができる。
1、11 γ線源
2、12、22 検出手段
3 検査対象物
16 ストリークカメラ
25、30 薄膜コンバータ
26 光カー効果媒質
27 マスク
28,31 光検出部
34 絞り
Claims (16)
- X線またはγ線(以下、両者をまとめてγ線という)を検査対象物に照射するとともに、前記照射により検査対象物においてコンプトン後方散乱に起因して散乱された散乱γ線を検出し、さらに前記散乱γ線の時間軸上の信号強度を表す散乱γ線信号に基づき前記検査対象物の厚さに対応する部分のパルスの幅を検出して前記検査対象物の厚さに関するデータを検出することを特徴とする非破壊検査方法。
- 請求項1に記載する非破壊検査方法において、
前記検査対象物の標準試料に基づく前記散乱γ線信号における前記パルスの幅と、前記検査対象物における前記標準試料の対応部分の前記散乱γ線信号に基づく前記パルスの幅とを比較することにより、前記検査対象物の状態を検出するようにしたことを特徴とする非破壊検査方法。 - 請求項1または請求項2に記載する非破壊検査方法において、
前記散乱γ線信号は、前記検査対象物における前記γ線の照射側の面とその反対側の面との間の厚さである第1の厚さに対応する第1のパルス、および前記γ線の照射方向の延長線上で前記γ線の照射側の他の面とその反対側の他の面との間の厚さである第2の厚さに対応する第2のパルスとを含むことを特徴とする非破壊検査方法。 - 請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載する非破壊検査方法において、
前記γ線は、超短パルスレーザ光に基づき発生させることを特徴とする非破壊検査方法。 - 請求項4に記載する非破壊検査方法において、
前記γ線は、超短パルスレーザ光と電子線との衝突により発生するレーザ・コンプトン散乱γ線であることを特徴とする非破壊検査方法。 - 請求項4または請求項5に記載する非破壊検査方法において、
前記パルスの幅は、前記散乱γを薄膜コンバータで電子線に変換するとともに、前記電子線の移動により発生するチェレンコフ光を光カー効果媒質に入射させる一方、前記超短パルスレーザ光の一部を前記光カー効果媒質に入射させるとともに、入射させる迄の時間を遅延させて時間軸方向のスキャンを行ないつつ前記光カー効果媒質の屈折率を変化させることによりマスクの所定位置に透孔を介して入射する前記チェレンコフ光を光検出器で検出し、前記光検出器が検出する前記チェレンコフ光に基づき検出することを特徴とする非破壊検査方法。 - 請求項4または請求項5に記載する非破壊検査方法において、
前記パルスの幅は、前記散乱γ線を薄膜コンバータで電子線に変換するとともに、前記電子線に前記超短パルスレーザ光の一部を照射することにより発生するトムソン散乱光に基づく光信号により検出することを特徴とする非破壊検査方法。 - 請求項6または請求項7に記載する非破壊検査方法において、
前記電子線は、前記薄膜コンバータで変換されたコンプトン散乱電子線を使用するとともに、前記コンプトン散乱電子線を、絞りを通過させることにより特定のエネルギのコンプトン散乱電子線を選択したものであることを特徴とする非破壊検査方法。 - 検査対象物に向けてγ線を照射するγ線源と、
前記照射により検査対象物においてコンプトン後方散乱に起因して散乱された散乱γ線を検出し、さらに前記散乱γ線の時間軸上の信号強度を表す散乱γ線信号に基づき前記検査対象物の厚さに対応する部分のパルスの幅を検出して前記検査対象物の厚さに関するデータを検出する検出手段とを有することを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項9に記載する非破壊検査装置において、
前記検出手段は、
前記検査対象物の標準試料に基づく前記散乱γ線信号における前記パルスの幅に関する標準データを記憶している標準データ記憶部と、
前記検査対象物における前記標準試料の対応部分の前記散乱γ線信号に基づき検出した前記パルスの幅である実測データを記憶している実測データ記憶部と、
前記標準データと実測データとを比較して所定の演算を行なうことにより、前記検査対象物の状態を検出する比較演算部とを有することを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項9または請求項10に記載する非破壊検査装置において、
前記散乱γ線信号は、前記検査対象物における前記γ線の照射側の面とその反対側の面との間の厚さである第1の厚さに対応する第1のパルス、および前記γ線の照射方向の延長線上で前記γ線の照射側の他の面とその反対側の他の面との間の厚さである第2の厚さに対応する第2のパルスとを含むことを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項9〜請求項11のいずれか一項に記載する非破壊検査装置において、
前記γ線源は、超短パルスレーザ光に基づき前記γ線を発生させるものであることを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項12に記載する非破壊検査装置において、
前記γ線源は、超短パルスレーザ光と電子線との衝突により発生するレーザ・コンプトン散乱γ線を発生するものであることを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項12または請求項13に記載する非破壊検査装置において、
前記検出手段は、前記散乱γ線を電子線に変換する薄膜コンバータと、前記電子線の移動により発生するチェレンコフ光が入射される光カー効果媒質と、前記超短パルスレーザ光の一部を分岐する分岐手段と、前記分岐手段で分岐された前記超短パルスレーザ光の伝搬時間を制御して前記光カー効果媒質に入射させる遅延手段と、前記超短パルスレーザ光により屈折率が変化する光カー効果媒質で屈折された前記チェレンコフ光をマスクの透孔を介して入射させる光検出部とを備えていることを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項12または請求項13に記載する非破壊検査装置において、
前記検出手段は、前記散乱γ線を電子線に変換する薄膜コンバータと、前記超短パルスレーザ光の一部を分岐する分岐手段と、前記分岐手段で分岐された前記超短パルスレーザ光の伝搬時間を制御する遅延手段と、前記伝搬時間が制御された前記超短パルスレーザ光と前記電子線との相互作用により形成されるトムソン散乱光に基づく光信号を検出する光検出部とを備えていることを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項14または請求項15に記載する非破壊検査装置において、
前記薄膜コンバータで変換した特定のエネルギのコンプトン散乱電子線を通過させる絞り手段を、さらに有することを特徴とする非破壊検査装置。
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