JPS59221644A - 間隙測定方法 - Google Patents
間隙測定方法Info
- Publication number
- JPS59221644A JPS59221644A JP58095609A JP9560983A JPS59221644A JP S59221644 A JPS59221644 A JP S59221644A JP 58095609 A JP58095609 A JP 58095609A JP 9560983 A JP9560983 A JP 9560983A JP S59221644 A JPS59221644 A JP S59221644A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- gamma
- rays
- intensity
- gap
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は構造物内の間隙を非破壊で片側から測定する方
法に関するものである。
法に関するものである。
従来、構造物内の間隙を非破壊で測定する方法として、
第１図に示すようにγ線源１と検出器２を測定する構造
物３をはさんで対向させ、γ線の減衰量を測定し、その
減衰量から間隙の長さｂｃを測定していた。この場合線
源と検出器を構造物をはさんで対向させることができな
いときや構造物ｃｄ、あるいはａｂの長さが大きくγ線
が透過できない場合には、ギヤツブ間隔ｂｃｉ測定でき
なかった。
第１図に示すようにγ線源１と検出器２を測定する構造
物３をはさんで対向させ、γ線の減衰量を測定し、その
減衰量から間隙の長さｂｃを測定していた。この場合線
源と検出器を構造物をはさんで対向させることができな
いときや構造物ｃｄ、あるいはａｂの長さが大きくγ線
が透過できない場合には、ギヤツブ間隔ｂｃｉ測定でき
なかった。
本発明の目的は、構造物内の間隙を片側から測定できる
装置を提供することにある。
装置を提供することにある。
本発明の特徴は、γ線源と検出器を構造物に対して同じ
側に設置し、構造物にγ線を入射し、構造物からの散乱
線を、検出器あるいは線源を移動しながら検出し、γ線
の強度分布を求め、その分布から構造物内の間隙の長さ
を片側から測定できる点にある。片側から測定するため
透過法で測定できない場合も、構造物内の間隙を測定で
きるようになる。
側に設置し、構造物にγ線を入射し、構造物からの散乱
線を、検出器あるいは線源を移動しながら検出し、γ線
の強度分布を求め、その分布から構造物内の間隙の長さ
を片側から測定できる点にある。片側から測定するため
透過法で測定できない場合も、構造物内の間隙を測定で
きるようになる。
以下、本発明の一実施例を第２図および第３図を用いて
説明する。本装置はγ線源１、線源１をしやへいするじ
ゃへい体５、γ線をコリメートするコリメータ４、散乱
γ線を検出する検出器２、検出器からの信号を増幅する
増幅器１４、増幅器１４からの信号を波高分析して計数
するパルス波高分析器１３、バックグラウンドを低減す
るために検出器２を囲むじゃへい体６、しやへい体６を
乗せて移動する移動台９、移動台９を駆動するパルスモ
ータ１０とパルスモータ駆動ユニツ）１１および駆動ユ
ニットを制御するマイクロコンピュータ１３よりなる。
説明する。本装置はγ線源１、線源１をしやへいするじ
ゃへい体５、γ線をコリメートするコリメータ４、散乱
γ線を検出する検出器２、検出器からの信号を増幅する
増幅器１４、増幅器１４からの信号を波高分析して計数
するパルス波高分析器１３、バックグラウンドを低減す
るために検出器２を囲むじゃへい体６、しやへい体６を
乗せて移動する移動台９、移動台９を駆動するパルスモ
ータ１０とパルスモータ駆動ユニツ）１１および駆動ユ
ニットを制御するマイクロコンピュータ１３よりなる。
線源１からのγ線を構造物３に垂直に入射させ検出器２
を構造物３に対して垂直に移動しながら構造物３からコ
ンプトン散乱されたγ線の強腿を測定する。そのためま
ず最初に検出器２の見込む地点が直線ｉ上のａ点より線
源側になるように検出器２を設置する。次にマイクロコ
ンピュータ１２からパルス波高分析器１３に信号を送り
パルス波高分析器１３を測定状態にする。検出器２に入
射したγ線の検出信号は増幅器１４で増幅器れパルス波
高分析器で計数される。一定時間Δｔだけｒｉを計数す
るとパルス波高分析器は、最初の測定地点における計数
を終了し、所定のチャンネルに計数値を記憶する。それ
と同時に計測終了信号をマイクロコンピュータ１２に送
信する。信号を受信したマイクロコンピュータ１２は、
検出器２、しやへい体６を一定距離ΔＸだけ前進させる
ためにパルスモータ駆動ユニット１１に信号を送り、パ
ルスモータ１０ｆ、回転させ、検出器２をＪＸだけ前進
させる。前進が終了するとマイクロコンピュータ１２は
パルス波高分析器１３に計測開始信号を送信する。信号
を受信したパルス波高分析器１３は、Δを時間だけγ線
を計数し、計数が終了すると計数値を次のチャンネルに
記憶し、マイクロコンピュータ１２に計数終了信号を送
る。
を構造物３に対して垂直に移動しながら構造物３からコ
ンプトン散乱されたγ線の強腿を測定する。そのためま
ず最初に検出器２の見込む地点が直線ｉ上のａ点より線
源側になるように検出器２を設置する。次にマイクロコ
ンピュータ１２からパルス波高分析器１３に信号を送り
パルス波高分析器１３を測定状態にする。検出器２に入
射したγ線の検出信号は増幅器１４で増幅器れパルス波
高分析器で計数される。一定時間Δｔだけｒｉを計数す
るとパルス波高分析器は、最初の測定地点における計数
を終了し、所定のチャンネルに計数値を記憶する。それ
と同時に計測終了信号をマイクロコンピュータ１２に送
信する。信号を受信したマイクロコンピュータ１２は、
検出器２、しやへい体６を一定距離ΔＸだけ前進させる
ためにパルスモータ駆動ユニット１１に信号を送り、パ
ルスモータ１０ｆ、回転させ、検出器２をＪＸだけ前進
させる。前進が終了するとマイクロコンピュータ１２は
パルス波高分析器１３に計測開始信号を送信する。信号
を受信したパルス波高分析器１３は、Δを時間だけγ線
を計数し、計数が終了すると計数値を次のチャンネルに
記憶し、マイクロコンピュータ１２に計数終了信号を送
る。
このような測定金欠々にくり返してゆきパルス、波高分
析器１３の画面上に第２図に示すようなγ線の強度分布
曲線（Ｉ −ｘ曲線）を得る。この強度分布は構造材の
物質分布をあられしている。その理由は直線ｈｍ上で検
出器が見込む地点の物質の密度に応じた散乱γ線が検出
器に入射するからである。即ち区間ａｂおよびＣ点よｐ
内部では散乱体が存在するため散乱線が検出はれるが、
区間［７では散乱体が存在さす、散乱γ線は検出されな
い。そこで散乱γ線がほとんどない領域ｂｃのチャンネ
ル数を求め、１チヤンネルあたりの検出器２の移動量Δ
ｘｆ乗算することにより散乱体が存在しない領域、即ち
間隙距離両がわかる。
析器１３の画面上に第２図に示すようなγ線の強度分布
曲線（Ｉ −ｘ曲線）を得る。この強度分布は構造材の
物質分布をあられしている。その理由は直線ｈｍ上で検
出器が見込む地点の物質の密度に応じた散乱γ線が検出
器に入射するからである。即ち区間ａｂおよびＣ点よｐ
内部では散乱体が存在するため散乱線が検出はれるが、
区間［７では散乱体が存在さす、散乱γ線は検出されな
い。そこで散乱γ線がほとんどない領域ｂｃのチャンネ
ル数を求め、１チヤンネルあたりの検出器２の移動量Δ
ｘｆ乗算することにより散乱体が存在しない領域、即ち
間隙距離両がわかる。
散乱γ線の強度は、経路がｈｋｊのとき式（１）で与え
られる。
られる。
■！＝φ１・ｎｌ・ｄσ・ｅす・ｙ／ａｙｓｅ ・・
・・・・・・・（１）ただし φ１＝φ（Ｉｅ鴇７ ・・・・・・・・
・ （２）・・・・・・・・・ （３） ここで、φ１は位置にでの入射γ線強匿、φ０は入射γ
線のｔＭ匿、μｍは構造材７の線吸収係数、ｙは１１の
長さ、ｎｌは構造材７０単位体積あたｄσ ９の原子数、−はコンプトン散乱の微分散乱断ｄΩ 面積、ｄΩは検出器２の立体角、θは直線ｈｋとに’に
のなす角度、ｒＯは古典′電子半径、Ｅｏは入射ｒ ｉ
ｌエネルギー、Ｅは散乱γ線エネルギーである。経路ｈ
ｔｔ’での散乱強度Ｉ２は、散乱体が突気のため経路
ｈｋ７での散乱強度にくらべ無視できる。即ちＩ ２
二〇 〇 経路ｈｍｍ’での強度は式（４ンで与えら
ｉする。
・・・・・・・（１）ただし φ１＝φ（Ｉｅ鴇７ ・・・・・・・・
・ （２）・・・・・・・・・ （３） ここで、φ１は位置にでの入射γ線強匿、φ０は入射γ
線のｔＭ匿、μｍは構造材７の線吸収係数、ｙは１１の
長さ、ｎｌは構造材７０単位体積あたｄσ ９の原子数、−はコンプトン散乱の微分散乱断ｄΩ 面積、ｄΩは検出器２の立体角、θは直線ｈｋとに’に
のなす角度、ｒＯは古典′電子半径、Ｅｏは入射ｒ ｉ
ｌエネルギー、Ｅは散乱γ線エネルギーである。経路ｈ
ｔｔ’での散乱強度Ｉ２は、散乱体が突気のため経路
ｈｋ７での散乱強度にくらべ無視できる。即ちＩ ２
二〇 〇 経路ｈｍｍ’での強度は式（４ンで与えら
ｉする。
Ｉ３＝φ３＊ｎ３ｓｄＪ＊ｅ−μ３１／ａｓｅ・ｅ −
’＋ ”ｂ／ａｓｆｌ・・・・・・・・・（４ン ただし φ３＝φ（、ｅ−町ｍ ｂ 、 ｅ−ｐ３ｙ’ 曲・
曲（５）ここで、φ３は位置ｍでの入射γ線強度、μ３
は構造材８０線吸収係数ｅＹ’は錦の長さ、ｎｌは構造
材８０単位体積あたりの原子数である。
’＋ ”ｂ／ａｓｆｌ・・・・・・・・・（４ン ただし φ３＝φ（、ｅ−町ｍ ｂ 、 ｅ−ｐ３ｙ’ 曲・
曲（５）ここで、φ３は位置ｍでの入射γ線強度、μ３
は構造材８０線吸収係数ｅＹ’は錦の長さ、ｎｌは構造
材８０単位体積あたりの原子数である。
以上の実施例により、散乱γ線の強度と検出器２の移動
距離Ｘから直接間隙の距離ｂｃを読みとることができる
。
距離Ｘから直接間隙の距離ｂｃを読みとることができる
。
本発明によれば、片側から構造物内の間隙を測定できる
ため、透過法では測定できない場合にも構造物内の間隙
を測定できる。
ため、透過法では測定できない場合にも構造物内の間隙
を測定できる。
第１図は透過法で構造物内の間隙を測定する方法を示す
図、第２図は本発明による構造物内の間隙を測定する方
法を示した図、第３図は測定装置のブロック図である。 １・・・γ線源、２・・・検出器、３・・・構造物、４
・・クコリメータ、５・・・しやへい体、６・・・しや
へい体、７・・・構造物、８・・・構造物、９・・・移
動台、１０・・・パルスモータ、１１・・・パルスモー
タ駆動ユニット、１２・・・マイクロコンピュータ、１
３・・・パルス波高分析器、１４・・・増幅器。 代理人 弁理士 高橋明夫 第１図 ｃＬ ｂ Ｃ４ 第２図 第３ 図
図、第２図は本発明による構造物内の間隙を測定する方
法を示した図、第３図は測定装置のブロック図である。 １・・・γ線源、２・・・検出器、３・・・構造物、４
・・クコリメータ、５・・・しやへい体、６・・・しや
へい体、７・・・構造物、８・・・構造物、９・・・移
動台、１０・・・パルスモータ、１１・・・パルスモー
タ駆動ユニット、１２・・・マイクロコンピュータ、１
３・・・パルス波高分析器、１４・・・増幅器。 代理人 弁理士 高橋明夫 第１図 ｃＬ ｂ Ｃ４ 第２図 第３ 図
Claims (1)
- １、 γ線源とγ線源をコリメートするコリメータ、γ
線を検出する検出器、検出器からの信号を増幅する増幅
器、増幅器からの信号を計数するカウンターおよび検出
器の前に置かれたコリメータからなる装置によ４０２）
種構造物内の間隙を測定する方法において、構造物にγ
線全入射させ検出器と線源を相対的に移動させながら散
乱γ線の強度を測定しその強度変化から構造物内の間隙
を測定することを特徴とする間隙測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58095609A JPS59221644A (ja) | 1983-06-01 | 1983-06-01 | 間隙測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58095609A JPS59221644A (ja) | 1983-06-01 | 1983-06-01 | 間隙測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59221644A true JPS59221644A (ja) | 1984-12-13 |
Family
ID=14142289
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58095609A Pending JPS59221644A (ja) | 1983-06-01 | 1983-06-01 | 間隙測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59221644A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015215261A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-03 | 一般財団法人電力中央研究所 | 非破壊検査方法およびその装置 |
| JP2015232557A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-24 | 一般財団法人電力中央研究所 | 非破壊検査方法およびその装置 |
| JP2017101967A (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | 一般財団法人電力中央研究所 | 非破壊検査方法および装置 |
| JP2022038497A (ja) * | 2020-08-26 | 2022-03-10 | 株式会社日立製作所 | 内部状態検査システム及び内部状態検査方法 |
-
1983
- 1983-06-01 JP JP58095609A patent/JPS59221644A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015215261A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-03 | 一般財団法人電力中央研究所 | 非破壊検査方法およびその装置 |
| JP2015232557A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-24 | 一般財団法人電力中央研究所 | 非破壊検査方法およびその装置 |
| JP2017101967A (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | 一般財団法人電力中央研究所 | 非破壊検査方法および装置 |
| JP2022038497A (ja) * | 2020-08-26 | 2022-03-10 | 株式会社日立製作所 | 内部状態検査システム及び内部状態検査方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4037105A (en) | Radiation detector with array of different scintillators | |
| Ferguson et al. | Water content measurement in soil columns by gamma ray absorption | |
| US4228351A (en) | Method for measuring the density of lightweight materials | |
| US3936638A (en) | Radiology | |
| US4494001A (en) | Detection of concealed materials | |
| JPS59221644A (ja) | 間隙測定方法 | |
| CA1160364A (en) | Device for determining the proportions by volume of a multiple-component mixture by irradiation with several gamma lines | |
| Gopal et al. | Gamma-ray attenuation coefficient measurements | |
| JP2544431B2 (ja) | 物体の密度等の測定方法と装置 | |
| EP0486709B1 (en) | Density-moisture measuring system | |
| Block et al. | Precision neutron total cross section measurements near 24 keV | |
| JPH0329410B2 (ja) | ||
| US5326974A (en) | Range-finding method and device | |
| SU1074417A3 (ru) | Способ определени распределени размеров частиц в потоке материала и устройство дл его осуществлени | |
| JP3519208B2 (ja) | 真空チャンバを備えたｘ線小角散乱装置 | |
| JP2751839B2 (ja) | 地盤表面の計測システム | |
| Stehney et al. | The effect of thick targets on some nuclear reactions commonly used to monitor high energy proton beams | |
| US3470372A (en) | Fog density measurement by x-ray scattering | |
| US3404274A (en) | Method for measuring the shielding effectiveness of a heterogeneous structure for shielding against fundamental charged particles | |
| JPS6127715B2 (ja) | ||
| EP0246937B1 (en) | Nuclear radiation apparatus and method for dynamically measuring density of test materials during compaction | |
| Xiong et al. | A compact, high signal-to-noise ratio line-detector array Compton scatter imaging system based on silicon photomultipliers | |
| US3612875A (en) | Mossbauer spectrometer | |
| Govil et al. | Half-life of the first excited state of I129 | |
| JPS5977346A (ja) | 物質元素組成分析装置 |