JP2015170823A - 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2015170823A
JP2015170823A JP2014046884A JP2014046884A JP2015170823A JP 2015170823 A JP2015170823 A JP 2015170823A JP 2014046884 A JP2014046884 A JP 2014046884A JP 2014046884 A JP2014046884 A JP 2014046884A JP 2015170823 A JP2015170823 A JP 2015170823A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
die pad
lead
inner lead
heat dissipating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014046884A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6211956B2 (ja
Inventor
紀幸 木村
Noriyuki Kimura
紀幸 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP2014046884A priority Critical patent/JP6211956B2/ja
Publication of JP2015170823A publication Critical patent/JP2015170823A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6211956B2 publication Critical patent/JP6211956B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Abstract

【課題】放熱性の良好な樹脂封止型半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明の樹脂封止型半導体装置は、ダイパッドと放熱インナーリードとを連結する曲げ斜面部の一部もしく全部を樹脂封止体に切欠き溝を設けることによって外部に露出させ、半導体装置と実装基板との間の放熱経路を拡張させることによって、単位実装面積当たりの放熱特性を向上させるものである。
【選択図】図1

Description

本発明は、放熱特性を向上させた樹脂封止型半導体装置に関する。
樹脂封止型半導体装置においては、半導体素子で発熱した熱を効率よく実装基板に逃がすために、ダイパッドを樹脂封止体から外部に露出させるEXPOSEタイプが用いられる。例えば、HSOPと呼ばれる樹脂封止型半導体装置が標準規格(JEDEC:MS−012)に登録されている。このようなタイプの樹脂封止型半導体装置においては、主に半導体素子の発熱は、封止樹脂から露出されたダイパッドを経由して実装基板へと熱伝導され外部に放出されるため、熱放散性を高くすることができる。
別の方法としてダイパッドとインナーリードを連結させて、ダイパッドの一部を封止樹脂の外部に露出させるとともに、ダイパッドと連結するインナーリードとつながるアウターリードから熱を逃がす技術が提案されている。(例えば、特許文献1参照)
図5に示す樹脂封止型半導体装置は、半導体素子10で発熱した熱を効率よく実装基板に逃がすために、ダイパッド16を樹脂封止体17から外部に露出させるEXPOSEタイプであり、かつ、ダイパッド16と連結する放熱インナーリード13と、放熱インナーリード13とつながる放熱アウターリード14を介して、半導体素子10の発熱を実装基板へ放熱させる形態である。
特開平11−74439号公報
しかしながら、従来提案されている手法を用いて、より高い熱放散性を有する樹脂封止型半導体装置を得るためには、半導体装置の大きさを大きくしたり、高価な高熱伝導接着材を使用したりして半導体素子とダイパッド間の熱抵抗を低減するなどの必要があった。そのため、実装面積が大きくなって基板設計上の制約が生じ、放熱性を高めるためのオプションを採用した際にはコストアップにつながるケースがあった。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を説明すれば次のとおりである。
すなわち、半導体素子がボンディングされているダイパッドと前記半導体素子に電気的にそれぞれ接続されている複数本のインナーリードと、これらインナーリードにそれぞれ連結されているアウターリードと、前記ダイパッドに連結されている複数本の放熱インナーリードと、これら放熱インナーリードにそれぞれ一体的に連結されている一本または複数本の放熱アウターリードと、前記ダイパッド、前記半導体素子、前記インナーリード群および前記放熱インナーリード群を樹脂封止する樹脂封止体とを備えており、前記アウターリード群および前記放熱アウターリード群は樹脂封止体から外部に突出されている樹脂封止型半導体装置において、前記樹脂封止体における前記ダイパッドと前記各放熱インナーリードとを連結する曲げ斜面部の一部もしくは全部に切欠き溝が設けられており、この切欠き溝から前記曲げ斜面部の一部もしくは全部が樹脂封止体から外部に露出していることを特徴とする樹脂封止型半導体装置およびその製造方法とした。
以上のように、本発明によって、ダイパッドと各放熱インナーリードとを連結する曲げ斜面部の一部もしくは全部が切欠き溝から露出した分だけ放熱経路が拡張されて放熱面積が増大するので半導体装置の熱放散性を高めることができる。そのため、半導体装置の大きさを大きくすることなく、また、高価な高熱伝導接着材を使用して半導体素子とダイパッド間の熱抵抗を低減する必要がなくなるので、実装面積が大きくなることによる基板設計上の制約がなくなり、放熱性を高めるためのオプションを採用する必要がなく、コストアップにつながることのない高熱放散性の樹脂封止型半導体装置が実現できる。
本発明の第一の実施形態を示す樹脂封止型半導体装置の概略構成図で、(a)は上面斜視図、(b)は裏面からの斜視図で、(c)は(b)のA−A線断面図である。 本発明の第二の実施形態を示す樹脂封止型半導体装置の概略構成図で、(a)は上面斜視図、(b)は裏面からの斜視図で、(c)は(b)のB−B線断面図である。 本発明の第一実施形態である樹脂封止型半導体装置の製造方法を示す概略構成図である。 本発明の第二実施形態である樹脂封止型半導体装置の製造方法を示す概略構成図である。 従来の樹脂封止型半導体装置を示す概略構成図で、(a)は上面斜視図、(b)は裏面からの斜視図、(c)は(b)のC−C線断面図である。
図1は本発明の第一の実施形態を示す樹脂封止型半導体装置の概略構成図で、(a)は上面斜視図、(b)は裏面からの斜視図で、(c)は(b)のA−A線断面図である。
図1に示す樹脂封止型半導体装置は、半導体素子10と、半導体素子10の2方向に配設されている複数本のインナーリード11と、これらインナーリード11にそれぞれ一体的に連結されているアウターリード12と、半導体素子10の表面上の各電極パッドとインナーリード11とをつなぐ金属細線15と、半導体素子10がボンディングされたダイパッド16とこれらを樹脂封止した樹脂封止体17とを備えている。
半導体素子10がボンディングされたダイパッド16の2箇所には各放熱インナーリード13が一体的に連結されており、2本の放熱インナーリード13には樹脂封止体17の側面においてそれぞれ外部に突出された各放熱アウターリード14が一体的に連設されている。そして、樹脂封止体17における、ダイパッド16と各放熱インナーリード13とを一体的に連結する曲げ斜面部18の一部もしくは全部に切欠き溝19が設けられており、この切欠き溝19から曲げ斜面部18の一部もしくは全部が樹脂封止体17から外部に露出している。
図2は本発明の第二の実施形態を示す樹脂封止型半導体装置の概略構成図で、(a)は上面斜視図、(b)は裏面からの斜視図で、(c)は(b)のB−B線断面図である。
図2に示す樹脂封止型半導体装置は、半導体素子10と、半導体素子10の2方向に配設されている複数本のインナーリード11と、これらインナーリード11にそれぞれ一体的に連結されているアウターリード12と、半導体素子10の表面上の各電極パッドとインナーリード11とをつなぐ金属細線15と、半導体素子10がボンディングされたダイパッド16とこれらを樹脂封止した樹脂封止体17とを備えている。
半導体素子10がボンディングされたダイパッド16の2箇所には各放熱インナーリード13が一体的に連結されており、2本の放熱インナーリード13には樹脂封止体17の側面においてそれぞれ外部に突出された各放熱アウターリード14が一体的に連設されている。そして、樹脂封止体17における、ダイパッド16と各放熱インナーリード13とを連結する曲げ斜面部18の全部および放熱アウターリードの底面の一部23に切欠き溝19が設けられており、この切欠き溝19から曲げ斜面部18の全部および放熱アウターリードの底面の一部23が樹脂封止体17から外部に露出している。
図3は本発明の第一実施形態である樹脂封止型半導体装置の製造方法を示す概略構成図である。本実施形態においては、2個の放熱アウターリード14の内側先端部には放熱インナーリード13が一体的に連結されており、各放熱インナーリード13の内側先端部にはダイパッド16が単位リードフレームに配置され、これら放熱インナーリード13により保持されている。各放熱インナーリード13はダイパッド16と接続部付近においてそれぞれクランク形状に屈曲されており、この放熱インナーリード13の屈曲によって、ダイパッド16はインナーリード11および放熱インナーリード13の平面よりもダウンセットされており、樹脂封止体17の底面から露出されるように曲げ加工されている。
半導体素子10は、ダイパッド16に銀ペーストなどのエポキシ接着材を介してボンディングされ、半導体素子10の表面に形成された電極パッドと各インナーリード11または各放熱インナーリード13とが電気的に金属細線15を通して接続されるワイヤーボンディング工程を経て、ダイパッド16と、半導体素子10、各インナーリード11および各放熱インナーリード13を樹脂封止して樹脂封止体17を形成する。そして、樹脂封止体17の底面からダイパッド16と各放熱インナーリード13とを連結する曲げ斜面部18の一部もしくは全部に切欠き溝19が設けられるように樹脂封止体成型を行い、この切欠き溝から曲げ斜面部18の一部もしくは全部を樹脂封止体17から外部に露出させる。切欠き溝19は、樹脂封止体17を成型する成形型のキャビティー21に凸型形状部22を設けて形成させる。(図3(a)、(b)、(c)、(d)参照。)
図4は本発明の第二実施形態である樹脂封止型半導体装置の製造方法を示す概略構成図である。本実施形態においては、2個の放熱アウターリード14の内側先端部には放熱インナーリード13が一体的に連結されており、各放熱インナーリード13の内側先端部にはダイパッド16が単位リードフレームに配置され、これら放熱インナーリード13により保持されている。各放熱インナーリード13はダイパッド16と接続部付近においてそれぞれクランク形状に屈曲されており、この放熱インナーリード13の屈曲によって、ダイパッド16はインナーリード11および放熱インナーリード13の平面よりもダウンセットされており、樹脂封止体17の底面から露出するように曲げ加工されている。
半導体素子10は、ダイパッド16に銀ペーストなどのエポキシ接着材20を介してボンディングされ、半導体素子10の表面に形成された電極パッドと各インナーリード11または各放熱インナーリード13とが電気的に金属細線15を通して接続されるワイヤーボンディング工程を経て、ダイパッド16と、半導体素子10、各インナーリード11および各放熱インナーリード13を樹脂封止して樹脂封止体17を形成する。そして、樹脂封止体17からダイパッド16と各放熱インナーリード13とを連結する曲げ斜面部18の全部および放熱アウターリードの底面の一部23に切欠き溝19が設けられるように樹脂封止体成型を行い、この切欠き溝19から前記曲げ斜面部18の全部および放熱アウターリードの底面の一部23が樹脂封止体17から外部に露出させる。切欠き溝19は、前記樹脂封止体17を成型する成形型のキャビティー21に凸型形状部22を設けて形成させる。(図4(a)、(b)、(c)、(d)参照。)
以上のように形成された実施形態一、実施形態二の樹脂封止体17は、封止樹脂のキュア工程を経て、アウターリード12と、放熱アウターリード14およびダイパッド16をメッキ処理され、リード切断、リード成形工程においてアウターリード12と放熱アウターリード14はガルウイング形状に曲げ成形される。
10 半導体素子
11 インナーリード
12 アウターリード
13 放熱インナーリード
14 放熱アウターリード
15 金属細線
16 ダイパッド
17 樹脂封止体
18 曲げ斜面部
19 切欠き溝
20 エポキシ接着材
21 キャビティー
22 凸型形状部
23 放熱アウターリードの底面の一部

Claims (6)

  1. 半導体素子がボンディングされているダイパッドと、
    前記半導体素子にそれぞれ電気的に接続されているインナーリードと、
    前記インナーリードにそれぞれ連結されているアウターリードと、
    前記ダイパッドに連結されている放熱インナーリードと、
    前記放熱インナーリードにそれぞれ一体的に連結されている放熱アウターリードと、
    前記ダイパッド、前記半導体素子、前記インナーリードおよび前記放熱インナーリードを樹脂封止する樹脂封止体と、を備え、
    前記アウターリードおよび前記放熱アウターリードが前記樹脂封止体から外部に突出している樹脂封止型半導体装置であって、
    前記樹脂封止体における前記ダイパッドと前記各放熱インナーリードとを連結する曲げ斜面部に切欠き溝が設けられ、前記曲げ斜面部が樹脂封止体から外部に露出していることを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
  2. 半導体素子がボンディングされているダイパッドと、
    前記半導体素子にそれぞれ電気的に接続されているインナーリードと、
    前記インナーリードにそれぞれ連結されているアウターリードと、
    前記ダイパッドに連結されている放熱インナーリードと、
    前記放熱インナーリードにそれぞれ一体的に連結されている放熱アウターリードと、
    前記ダイパッド、前記半導体素子、前記インナーリードおよび前記放熱インナーリードを樹脂封止する樹脂封止体と、を備え、
    前記アウターリードおよび前記放熱アウターリードが前記樹脂封止体から外部に突出している樹脂封止型半導体装置であって、
    前記樹脂封止体における前記ダイパッドと前記各放熱インナーリードとを連結する曲げ斜面部および放熱アウターリードの底面に切欠き溝が設けられ、前記曲げ斜面部および前記放熱アウターリードの底面の一部もしくは全部が樹脂封止体から外部に露出していることを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
  3. 前記切欠き溝はダイパッドが露出する側の半導体素子を搭載する面とは反対の樹脂封止体の面から、一つもしくは複数個形成されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の樹脂封止型半導体装置。
  4. ダイパッドと、前記ダイパッドに近接して配設されているインナーリードと、前記インナーリードに一体的に連結されているアウターリードと、前記ダイパッドに連結されている放熱インナーリードと、前記放熱インナーリードに一体的に連結されている放熱アウターリードと、を備えるリードフレームを準備する工程と、
    前記リードフレームの前記ダイパッド上に半導体素子をダイボンディングする工程と、
    前記半導体素子の電極パッドと前記インナーリードまたは前記放熱インナーリードとが金属細線を介して電気的に接続するワイヤーボンディング工程と、
    前記ダイパッド、前記半導体素子、前記インナーリードおよび前記放熱インナーリードを樹脂封止する工程と、を備える樹脂封止型半導体装置の製造方法であって、
    前記ダイパッドと前記放熱インナーリードとを連結する曲げ斜面部に切欠き溝を設け、前記曲げ斜面部を樹脂封止体から露出するように樹脂封止体成型することを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方法。
  5. ダイパッドと、前記ダイパッドに近接して配設されているインナーリードと、前記インナーリードに一体的に連結されているアウターリードと、前記ダイパッドに連結されている放熱インナーリードと、前記放熱インナーリードに一体的に連結されている放熱アウターリードと、を備えるリードフレームを準備する工程と、
    前記リードフレームの前記ダイパッド上に半導体素子をダイボンディングする工程と、
    前記半導体素子の電極パッドと前記インナーリードまたは前記放熱インナーリードとが金属細線を介して電気的に接続されるワイヤーボンディング工程と、
    前記ダイパッド、前記半導体素子、前記インナーリードおよび前記放熱インナーリードを樹脂封止する工程と、を備える樹脂封止型半導体装置の製造方法であって、
    前記ダイパッドと前記各放熱インナーリードとを連結する曲げ斜面部および前記放熱アウターリードの底面の一部もしくは全部に切欠き溝を設け、前記曲げ斜面部および放熱アウターリードの底面の一部もしくは全部を樹脂封止体から露出するように樹脂封止体成型することを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方法。
  6. 前記樹脂封止体を成型する成形型のキャビティーに凸型形状部を設けて前記切欠き溝が形成されることを特徴とする請求項4または請求項5に記載の樹脂封止型半導体装置の製造方法。
JP2014046884A 2014-03-10 2014-03-10 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 Active JP6211956B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014046884A JP6211956B2 (ja) 2014-03-10 2014-03-10 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014046884A JP6211956B2 (ja) 2014-03-10 2014-03-10 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015170823A true JP2015170823A (ja) 2015-09-28
JP6211956B2 JP6211956B2 (ja) 2017-10-11

Family

ID=54203261

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014046884A Active JP6211956B2 (ja) 2014-03-10 2014-03-10 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6211956B2 (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6174359A (ja) * 1984-09-20 1986-04-16 Yamada Seisakusho:Kk 半導体装置
JPH05206323A (ja) * 1992-01-27 1993-08-13 Hitachi Ltd 半導体装置
JPH10135262A (ja) * 1996-10-26 1998-05-22 Motorola Inc 半導体パッケージ構造体およびその形成方法
JPH1174439A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Sharp Corp 樹脂モールドパッケージ
US6258630B1 (en) * 1999-02-04 2001-07-10 Nec Corporation Resin-sealed semiconductor device having island for mounting semiconductor element coupled to heat spreader
JP2001339029A (ja) * 2000-05-26 2001-12-07 Shinko Electric Ind Co Ltd 多層リードフレーム及びこれを用いた半導体装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6174359A (ja) * 1984-09-20 1986-04-16 Yamada Seisakusho:Kk 半導体装置
JPH05206323A (ja) * 1992-01-27 1993-08-13 Hitachi Ltd 半導体装置
JPH10135262A (ja) * 1996-10-26 1998-05-22 Motorola Inc 半導体パッケージ構造体およびその形成方法
JPH1174439A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Sharp Corp 樹脂モールドパッケージ
US6258630B1 (en) * 1999-02-04 2001-07-10 Nec Corporation Resin-sealed semiconductor device having island for mounting semiconductor element coupled to heat spreader
JP2001339029A (ja) * 2000-05-26 2001-12-07 Shinko Electric Ind Co Ltd 多層リードフレーム及びこれを用いた半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP6211956B2 (ja) 2017-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8564124B2 (en) Semiconductor package
US7582958B2 (en) Semiconductor package
JP5802695B2 (ja) 半導体装置、半導体装置の製造方法
JPH04291948A (ja) 半導体装置及びその製造方法及び放熱フィン
JP6357371B2 (ja) リードフレーム、半導体装置及びリードフレームの製造方法
US6396129B1 (en) Leadframe with dot array of silver-plated regions on die pad for use in exposed-pad semiconductor package
CN107039368B (zh) 树脂密封型半导体装置
US10840164B2 (en) Wire bonded package with single piece exposed heat slug and leads
JP6129355B2 (ja) 電力半導体装置
KR101388857B1 (ko) 반도체 패키지 및 반도체 패키지 제조 방법
US10026677B2 (en) Semiconductor device
JP2004363365A (ja) 半導体装置及びその製造方法
US9064838B2 (en) Heat spreader for integrated circuit device
JP6211956B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP4732138B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
US10840172B2 (en) Leadframe, semiconductor package including a leadframe and method for forming a semiconductor package
TWM567481U (zh) 具有晶片座的導線架結構
US20180025965A1 (en) WFCQFN (Very-Very Thin Flip Chip Quad Flat No Lead) with Embedded Component on Leadframe and Method Therefor
KR20210041197A (ko) 멀티칩용 반도체 패키지 및 그 제조방법
KR101115586B1 (ko) 반도체 패키지 및 이의 제조 방법
JP2008205336A (ja) 樹脂封止型電子部品
JP2013175795A5 (ja)
JP2010177692A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2005243902A (ja) 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP2018195648A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20160112

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170119

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170809

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170905

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170914

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6211956

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250