JP2015169521A - 投影データ生成装置、再構成画像生成装置、投影データ生成方法、再構成画像生成方法、投影データ生成プログラムおよび再構成画像生成プログラム - Google Patents
投影データ生成装置、再構成画像生成装置、投影データ生成方法、再構成画像生成方法、投影データ生成プログラムおよび再構成画像生成プログラム Download PDFInfo
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Abstract
【課題】ボケの影響が抑制された投影データを算出して再構成画像による計測精度を向上させる。
【解決手段】投影データ生成装置は、被測定物に照射されてから入射した放射線の量を検出する放射線検出器と、被測定物に対して線源および放射線検出器を相対回転させて、放射線の被測定物への投影方向を回転させる回転手段と、放射線検出器による検出を開始した時点において放射線が被測定物へ向けて進行する第1方向と、放射線検出器による検出を終了した時点において放射線が被測定物へ向けて進行する第2方向とがなす角度を検出角度とする場合、放射線検出画素を制御して、投影方向が検出角度の範囲で部分相対回転される期間における放射線の積算量を検出値として取得させる制御手段と、相対回転が複数周行われる期間に取得された複数の検出値に基づいて、検出角度よりも細かい角分解能にて複数の投影データを生成するデータ生成手段と、を備える。
【選択図】図3
【解決手段】投影データ生成装置は、被測定物に照射されてから入射した放射線の量を検出する放射線検出器と、被測定物に対して線源および放射線検出器を相対回転させて、放射線の被測定物への投影方向を回転させる回転手段と、放射線検出器による検出を開始した時点において放射線が被測定物へ向けて進行する第1方向と、放射線検出器による検出を終了した時点において放射線が被測定物へ向けて進行する第2方向とがなす角度を検出角度とする場合、放射線検出画素を制御して、投影方向が検出角度の範囲で部分相対回転される期間における放射線の積算量を検出値として取得させる制御手段と、相対回転が複数周行われる期間に取得された複数の検出値に基づいて、検出角度よりも細かい角分解能にて複数の投影データを生成するデータ生成手段と、を備える。
【選択図】図3
Description
本発明は、投影データ生成装置、再構成画像生成装置、投影データ生成方法、再構成画像生成方法、投影データ生成プログラムおよび再構成画像生成プログラムに関する。
従来から、被測定物を検出装置に対して相対回転させた状態でX線を照射して取得された画像信号に対して、回転運動の特性に応じてボケ補正を施すX線装置が知られている(たとえば特許文献1)。
しかしながら、短時間で測定するために、被測定物を高速で相対回転させる場合には、検出装置が最小検出時間での撮影にて出力される画像信号であってもボケ成分が含まれるので、画像信号に対して画像再構成処理を施して生成される再構成画像の精度が低下するという問題がある。
本発明の第1の態様の投影データ生成装置は、線源から被測定物に照射され、検出面に入射した放射線の量を検出する放射線検出器と、被測定物に対して線源および放射線検出器を相対回転させることにより、放射線の被測定物への投影方向を回転させる回転手段と、放射線検出器による検出を開始した時点において線源からの放射線が被測定物へ向けて進行する方向を第1方向とし、放射線検出器による検出を終了した時点において線源からの放射線が被測定物へ向けて進行する方向を第2方向とし、第1方向と第2方向とがなす角度を検出角度とする場合、放射線検出画素を制御して、回転手段によって投影方向が検出角度の範囲で部分相対回転される期間に検出面に入射する放射線の積算量を検出値として取得させる制御手段と、回転手段によって相対回転が複数周行われる期間に放射線検出器によって取得された複数の検出値に基づいて、検出角度よりも細かい角分解能にて複数の投影データを生成するデータ生成手段と、を備えることを特徴とする。
本発明の第2の態様の再構成画像生成装置は、請求項1乃至12の何れか一項に記載の投影データ生成装置と、投影データに基づいて、被測定物の再構成画像を生成する画像生成手段とを備えることを特徴とする。
本発明の第3の態様の投影データ生成方法は、線源から被測定物に照射され、放射線検出器の検出面に入射した放射線の量を検出し、被測定物に対して線源および放射線検出器を相対的に回転させることにより、放射線の被測定物への投影方向を回転させ、線源からの放射線が放射線検出器による検出を開始した時点で被測定物へ向けて進行する方向を第1方向とし、放射線が放射線検出器による検出を終了した時点で被測定物へ向けて進行する方向を第2方向とし、被測定物との間で形成する角度を検出角度とするとき、投影方向が検出角度にわたって部分回転される期間に検出面に入射する放射線の積算量を検出値として放射線検出器に取得させ、相対的な回転が複数周行われる期間に放射線検出器によって取得された複数の検出値に基づいて、検出角度よりも細かい角分解能にて複数の投影データを生成することを特徴とする。
本発明の第4の態様の再構成画像生成方法は、請求項14に記載の投影データ生成方法により生成された投影データに基づいて、被測定物の再構成画像を生成することを特徴とする。
本発明の第5の態様の投影データ生成プログラムは、線源から被測定物に照射され、放射線検出器の検出面に入射した放射線の量を検出する検出処理と、被測定物に対して線源および放射線検出器を相対的に回転させることにより、放射線の被測定物への投影方向を回転させる回転処理と、線源からの放射線が放射線検出器による検出を開始した時点で被測定物へ向けて進行する方向を第1方向と、放射線が放射線検出器による検出を終了した時点で被測定物へ向けて進行する方向を第2方向と、被測定物との間で形成する角度を検出角度とするとき、回転処理によって投影方向が検出角度にわたって部分回転される期間に検出面に入射する放射線の積算量を検出値として放射線検出器に取得させる取得処理と、回転処理によって相対的な回転が複数周行われる期間に放射線検出器によって取得された複数の検出値に基づいて、検出角度よりも細かい角分解能にて複数の投影データを生成するデータ生成処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とする。
本発明の第6の態様の再構成画像生成プログラムは、請求項16に記載の投影データ生成プログラムにより生成された投影データに基づいて、被測定物の再構成画像を生成する画像生成処理をコンピュータに実行させることを特徴とする。
本発明の第7の態様の投影データ生成装置は、被測定物へX線を照射する線源と、被測定物を透過したX線の積算量を検出する検出器と、線源および検出器と被測定物とを互いに相対回転させる回転手段と、相対回転が行われる間に複数の検出角に対応する複数の検出領域をそれぞれ設定し、複数の検出領域のうちの一の検出領域が複数周の相対回転が行われる間に他の複数の検出領域と一部重複し、他の複数の検出領域のうちの少なくとも一つとは所定のずれ角だけずれるように設定する設定手段と、複数の検出領域ごとに検出器に積算量を検出させる検出制御手段と、複数の検出領域に対応した複数の積算量に基づいて、所定のずれ角に対応する積算データを算出する算出手段と、を備えることを特徴とする。
本発明の第2の態様の再構成画像生成装置は、請求項1乃至12の何れか一項に記載の投影データ生成装置と、投影データに基づいて、被測定物の再構成画像を生成する画像生成手段とを備えることを特徴とする。
本発明の第3の態様の投影データ生成方法は、線源から被測定物に照射され、放射線検出器の検出面に入射した放射線の量を検出し、被測定物に対して線源および放射線検出器を相対的に回転させることにより、放射線の被測定物への投影方向を回転させ、線源からの放射線が放射線検出器による検出を開始した時点で被測定物へ向けて進行する方向を第1方向とし、放射線が放射線検出器による検出を終了した時点で被測定物へ向けて進行する方向を第2方向とし、被測定物との間で形成する角度を検出角度とするとき、投影方向が検出角度にわたって部分回転される期間に検出面に入射する放射線の積算量を検出値として放射線検出器に取得させ、相対的な回転が複数周行われる期間に放射線検出器によって取得された複数の検出値に基づいて、検出角度よりも細かい角分解能にて複数の投影データを生成することを特徴とする。
本発明の第4の態様の再構成画像生成方法は、請求項14に記載の投影データ生成方法により生成された投影データに基づいて、被測定物の再構成画像を生成することを特徴とする。
本発明の第5の態様の投影データ生成プログラムは、線源から被測定物に照射され、放射線検出器の検出面に入射した放射線の量を検出する検出処理と、被測定物に対して線源および放射線検出器を相対的に回転させることにより、放射線の被測定物への投影方向を回転させる回転処理と、線源からの放射線が放射線検出器による検出を開始した時点で被測定物へ向けて進行する方向を第1方向と、放射線が放射線検出器による検出を終了した時点で被測定物へ向けて進行する方向を第2方向と、被測定物との間で形成する角度を検出角度とするとき、回転処理によって投影方向が検出角度にわたって部分回転される期間に検出面に入射する放射線の積算量を検出値として放射線検出器に取得させる取得処理と、回転処理によって相対的な回転が複数周行われる期間に放射線検出器によって取得された複数の検出値に基づいて、検出角度よりも細かい角分解能にて複数の投影データを生成するデータ生成処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とする。
本発明の第6の態様の再構成画像生成プログラムは、請求項16に記載の投影データ生成プログラムにより生成された投影データに基づいて、被測定物の再構成画像を生成する画像生成処理をコンピュータに実行させることを特徴とする。
本発明の第7の態様の投影データ生成装置は、被測定物へX線を照射する線源と、被測定物を透過したX線の積算量を検出する検出器と、線源および検出器と被測定物とを互いに相対回転させる回転手段と、相対回転が行われる間に複数の検出角に対応する複数の検出領域をそれぞれ設定し、複数の検出領域のうちの一の検出領域が複数周の相対回転が行われる間に他の複数の検出領域と一部重複し、他の複数の検出領域のうちの少なくとも一つとは所定のずれ角だけずれるように設定する設定手段と、複数の検出領域ごとに検出器に積算量を検出させる検出制御手段と、複数の検出領域に対応した複数の積算量に基づいて、所定のずれ角に対応する積算データを算出する算出手段と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、検出角度に応じて取得された複数の検出値を用いて、検出角度よりも小さな角分解能にて複数の投影データを生成することができる。
図面を参照しながら、本発明の一実施の形態によるX線装置について説明する。X線装置は、被測定物にX線を照射して、被測定物を透過した透過X線を検出することにより、被測定物の内部情報(たとえば内部構造)等を非破壊で取得する。被測定物が、たとえば機械部品や電子部品等の産業用部品が対象である場合には、X線装置は産業用部品を検査する産業用X線CT検査装置と呼ばれる。
また、本実施の形態は、発明の趣旨の理解のために具体的に説明するためのものであり、特に指定の無い限り、本発明を限定するものではない。
また、本実施の形態は、発明の趣旨の理解のために具体的に説明するためのものであり、特に指定の無い限り、本発明を限定するものではない。
図1は本実施の形態によるX線装置100の構成の一例を示す図である。なお、説明の都合上、X軸、Y軸、Z軸からなる座標系を図示の通りに設定する。
X線装置100は、筐体1と、X線源2と、載置部3と、検出器4と、制御装置5と、投影データ生成装置6と、画像再構成装置7と、入力部8とを備えている。筐体1は、その底面が工場等の床面にXZ平面と実質的に平行(水平)となるように配置され、内部にX線源2と、載置部3と、検出器4とが収容される。筐体1は、X線が筐体1の外部に漏洩しないようにするため、材料として鉛を含む。
X線装置100は、筐体1と、X線源2と、載置部3と、検出器4と、制御装置5と、投影データ生成装置6と、画像再構成装置7と、入力部8とを備えている。筐体1は、その底面が工場等の床面にXZ平面と実質的に平行(水平)となるように配置され、内部にX線源2と、載置部3と、検出器4とが収容される。筐体1は、X線が筐体1の外部に漏洩しないようにするため、材料として鉛を含む。
X線源2は、制御装置5による制御に応じて、図1に示す点Pを出射点としてZ軸+方向へ向けて円錐状のX線(いわゆるコーンビーム)を照射する。この出射点PはX線源2のフォーカルスポットと一致する。なお、X線源2は円錐状のX線を照射するものに代えて、扇状のX線(いわゆるファンビーム)や線状のX線(いわゆるペンシルビーム)を照射するものについても本発明の一態様に含まれる。なお、X線源2は透過型X線源により構成されても良いし、反射型X線源により構成されてもよい。
載置部3は、被測定物Sが載置されるステージ30と、回転駆動部31と、載置台32と、X軸移動部33と、Y軸移動部34と、Z軸移動部35と、回転角度計測器36とを備え、X線源2と検出装置4との間に設けられている。ステージ30は載置台32上で回転可能に設けられ、後述するように載置台32がX軸、Y軸、Z軸方向に移動する際に、載置台32とともに移動する。回転駆動部31は、たとえば電動モータ等によって構成され、後述する制御装置5により制御されて駆動する。ステージ30は、電動モータが発生する回転力によって、回転軸Yrを中心として回転する。回転軸Yrは、ステージ30の中心を通過し、Y軸方向に沿って設定される。回転角度計測器36はロータリーエンコーダにより構成され、ステージ30が回転軸Yrを中心として回転する際の回転量を検出し、回転量信号として制御装置5へ出力する。
X軸移動部33、Y軸移動部34およびZ軸移動部35は、制御装置5により制御されて、X線源2から射出されたX線の照射範囲内に被測定物Sが位置するように、載置台32をX軸方向、Y軸方向およびZ軸方向にそれぞれ移動させる。さらに、Z軸駆動部35は、制御装置5により制御されて、X線源2から被測定物Sまでの距離が、撮影される画像が被測定物Sに対して所望の拡大率となるような距離に載置台32をZ軸方向に移動させる。
検出装置4は、XY平面に平行な入射面41を有する複数の検出器42を備え、それらの検出器42はXY平面内で2次元的に配列されている。X線源2からはX線が出射され、ステージ30上に載置された被測定物Sを透過した透過X線を含むX線が検出器42の入射面41に入射する。それぞれの検出器42は、公知のシンチレーション物質を含むシンチレータ部と、光電子増倍管と、受光部等とによって構成され、入射面41に入射したX線を光エネルギーに変換して増幅し、当該増幅された光エネルギーを電気エネルギーに変換し、電気信号として出力する。すなわち、検出装置4の各検出器42は、被測定物SがX線に照射されている間に入射したX線の積算量に対応する検出値を電気信号として出力する。これにより、X線源2から放射され、被測定物Sを通過したX線の強度分布を一括で取得できる。なお、検出器42は、入射するX線を光エネルギーに変換することなく直接電気信号に変換して出力してもよい。
制御装置5は、マイクロプロセッサやその周辺回路等を有しており、不図示の記憶媒体(たとえばフラッシュメモリ等)に予め記憶されている制御プログラムを読み込んで実行することにより、X線装置100の各部を制御する。投影データ生成装置6は、マイクロプロセッサやその周辺回路等を有しており、検出装置4から出力された電気信号を入力して、被測定物Sの投影データを複数生成する。なお、制御装置5および投影データ生成装置6が有する各部分は、それぞれ機能ブロックとして作用するように構成されても良い。なお、制御装置5および投影データ生成装置6の機能の詳細については説明を後述する。
画像再構成装置7は、投影データ生成装置6により生成された複数の投影データに対して公知の画像再構成処理を施して被測定物Sの再構成画像を生成する。画像再構成処理により、被測定物Sの内部構造である2次元データまたは3次元データが生成される。この場合、画像再構成処理としては、FBP法、逆投影法、逐次近似法等がある。入力部8は、たとえばキーボードや各種スイッチにより構成される操作部材であり、ユーザの操作に応じて操作信号を制御装置5に出力する。
X線装置100は、再構成画像を構成するボクセル(ピクセル)の吸収係数を算出することにより、被測定物Sを構成する物質を特定することができる。ボクセルは、被測定物Sを三次元で細分化した場合の各三次元領域であり、一般的には立方体である。なお、ボクセルは直方体であっても良いし、各三次元領域ごとに大きさが異なっていても良い。ピクセルは、被測定物Sを二次元で細分化した場合の各二次元領域であり、一般的には正方形である。なお、ピクセルは長方形であっても良いし、各二次元領域ごとに大きさが異なっていても良い。
本実施の形態のX線装置100は、検出装置4から出力された電気信号を用いて、検出装置4に実際にX線が入射した時間(以下、実検出時間と呼ぶ)よりも短い検出時間(以下、仮想検出時間と呼ぶ)にて取得された投影データを生成可能に構成される。すなわち、被測定物Sが実検出時間の間に相対回転する際の回転角度(以下、検出角度と呼ぶ)よりも小さい(細かい)角分解能にて投影データを生成する。角分解能の最適な大きさは、被測定物Sの断面の各ボクセル(ピクセル)の吸収係数を求めるために必要な投影データの個数に対応して設定される。必要な投影データの数は、たとえば未知数であるボクセル(ピクセル)の個数であるが、被測定物Sに空洞等がある場合や、被測定物Sが周期的な繰り返し構造を有する等の特徴が予め分かっている場合には、一の投影データを他の投影データから予測できるので、それよりも少ない個数であっても良い。
以下、本実施の形態における投影データを生成するための原理、投影データを生成するための処理、の順序で説明を行う。なお、以下の説明においては、各物理量を次のように表す。
(1)被測定物Sの回転速度(すなわちステージ30の回転速度):ω[rad/s]
(2)検出装置4の最小の実検出時間:T0[sec]
(3)検出装置4の実検出時間:T(≧T0)[sec]
(4)実検出時間Tにおける被測定物Sの回転角度(検出角度):θ[°]
(5)生成される投影データの仮想検出時間:t(<T)[sec]
(6)角分解能:M[°]
(1)被測定物Sの回転速度(すなわちステージ30の回転速度):ω[rad/s]
(2)検出装置4の最小の実検出時間:T0[sec]
(3)検出装置4の実検出時間:T(≧T0)[sec]
(4)実検出時間Tにおける被測定物Sの回転角度(検出角度):θ[°]
(5)生成される投影データの仮想検出時間:t(<T)[sec]
(6)角分解能:M[°]
図2は、投影データを生成する際に用いる検出値を検出装置4の各検出器42が取得するための概念を模式的に示す図である。図1においては、被測定物Sが回転軸Yrを中心として回転する場合を説明したが、投影データの生成原理の理解を容易にすることを目的として、X線源2および検出器42が被測定物Sに対して複数周に渡って円周S’上を相対回転するものとして説明を行う。検出角度θは角分解能Mの4倍とした例を示している。
検出領域DR_k(kはn以下の正の整数)は、検出器42が円周S’上を相対回転する際に検出時間Tの間に移動(部分相対回転)する範囲、すなわちX線源2からのX線が通過する領域であり、検出角度θに対応して決まる。図2では、検出領域DR_kと検出領域DR_(k+1)とは互いに角分解能Mをずれ角としてずれた領域で一部重複となる例を示している。なお、図2では、図示の都合上、各検出領域DR_kを円周S’から離れた位置に示している。また、図2においては、説明の都合上、複数の検出領域DR_kのうち互いに重複するものの一部を示している。
検出器42が検出領域DR_kだけ移動する間に検出器42に入射したX線の積算量に対応する値が検出値A_kとして出力される。検出器42が被測定物Sに対して角分解能Mだけ相対回転する間に入射するX線の積算量に相当する投影データをB_k’とする場合、検出角度θが角分解能Mの4倍であることから、実際に検出器42から出力される検出値A_kは、投影データB_k’を用いて次の式(1)のように表される。
A_k=B_k’+B_(k’+1)+B_(k’+2)+B_(k’+3) …(1)
A_k=B_k’+B_(k’+1)+B_(k’+2)+B_(k’+3) …(1)
図2の例では、検出領域DR_1において検出器42は検出値A_1(=B_1+B_2+B_3+B_4)を出力し、検出領域DR_2において検出器42は検出値A_2(=B_2+B_3+B_4+B_5)を出力し、検出領域DR_3において検出器42は検出値A_3(=B_3+B_4+B_5+B_6)を出力する。複数の検出値A_1〜A_nはそれぞれ上記の式(1)で表されるので、n元の連立方程式が成立し、これらの連立方程式を解くことによって、それぞれの角分解能Mに対応する投影データB_n(nは正の整数)が算出される。
したがって、上記の原理に基づくことにより、検出装置4の実検出時間Tよりも短い仮想検出時間tによる投影データ、すなわち検出角度θよりも小さい角分解能M(=tω)の投影データが生成される。
なお、連立方程式からそれぞれの投影データB_k’を算出するためには、投影データB_k’の個数m、すなわち1周の相対回転を角分解能Mで割ったm=(2π/M)元の連立方程式が必要となる。すなわち、少なくとも互いに完全一致しないm個の検出領域に対応する検出値が出力される必要がある。この場合、必要な相対回転数は、n/(2π/θ)である。また、投影データB_k’が算出できる限りにおいてn=mとなる場合に限定されず、nとmとは異なっていても良い。たとえば、被測定物Sの内部構造の一部に空洞がある場合や、被測定物Sが周期的な繰り返し構造を有する等の特徴が分かっている場合、すなわち、投影データB_k’の値が他の投影データB_k’等から予測できる場合、連立方程式の個数nは未知数の個数mより少なくても良い。
なお、連立方程式からそれぞれの投影データB_k’を算出するためには、投影データB_k’の個数m、すなわち1周の相対回転を角分解能Mで割ったm=(2π/M)元の連立方程式が必要となる。すなわち、少なくとも互いに完全一致しないm個の検出領域に対応する検出値が出力される必要がある。この場合、必要な相対回転数は、n/(2π/θ)である。また、投影データB_k’が算出できる限りにおいてn=mとなる場合に限定されず、nとmとは異なっていても良い。たとえば、被測定物Sの内部構造の一部に空洞がある場合や、被測定物Sが周期的な繰り返し構造を有する等の特徴が分かっている場合、すなわち、投影データB_k’の値が他の投影データB_k’等から予測できる場合、連立方程式の個数nは未知数の個数mより少なくても良い。
上記の説明は本実施の形態における投影データの生成原理の理解のために示した一例であり、X線装置100が行う処理はこの例に限定されるものではない。検出角度θと、検出領域DR_kと、角分解能Mとが以下のような関係を有するように設定されているものは、本発明の一態様に含まれる。すなわち、検出角度θに対応する検出領域DR_kは、複数の相対回転が行われる間に、検出領域DR_kが他の検出領域DR_1〜DR_(k−1)およびDR_(k+1)〜DR_n(総称して検出領域DRとする)の何れかと一部重複する。この検出領域DR_kは、一部重複している他の検出領域DRのうちの少なくとも一つの検出領域DRとは角分解能Mをずれ角としてずれるように設定される。なお、図2に示す例において、第1周目の相対回転で検出領域DR_1に対応する検出値A_1を取得し、第2周目の相対回転で検出領域DR_2に対応する検出値A_2を取得し、第3周目の相対回転で検出領域DR_3に対応する検出値A_3を取得してもよい。第1周目の相対回転で検出領域DR_1に対応する検出値A_1を取得し、第2周目の相対回転で検出領域DR_3に対応する検出値A_3を取得してもよい。第1周目の相対回転で検出領域DR_1に対応する検出値A_1を取得し、第2周目ではたとえば検出領域DR_5に対応する検出値A_5を取得し、第3周目で検出領域DR_2に対応する検出値A_2を取得してもよい。また、検出角度θが一定ではなく、検出領域DR_kとDR_(k+1)とが異なる大きさとなる場合も本発明の一態様に含まれる。
図3を参照しながら、制御装置5および投影データ生成装置6による投影データを生成するための処理について説明する。
図3はX線装置100の各構成の機能ブロック図である。制御装置5は、X線源2の動作を制御するX線制御部51と、載置部3の駆動動作を制御する載置台制御部52と、検出装置4の動作を制御する検出装置制御部53と、投影データ生成装置6及び画像再生装置7による各種演算を制御する演算制御部54とを機能として備える。また、制御装置5は、検出装置4から出力された電気信号や、後述する投影データ生成装置6により設定、算出された各種のデータを一時的に記憶する記憶部55を備える。制御装置5は、投影データを生成する際に、各部を制御して検出値取得処理を行わせる。
図3はX線装置100の各構成の機能ブロック図である。制御装置5は、X線源2の動作を制御するX線制御部51と、載置部3の駆動動作を制御する載置台制御部52と、検出装置4の動作を制御する検出装置制御部53と、投影データ生成装置6及び画像再生装置7による各種演算を制御する演算制御部54とを機能として備える。また、制御装置5は、検出装置4から出力された電気信号や、後述する投影データ生成装置6により設定、算出された各種のデータを一時的に記憶する記憶部55を備える。制御装置5は、投影データを生成する際に、各部を制御して検出値取得処理を行わせる。
投影データ生成装置6は、角分解能設定処理を行う角分解能設定部61と、検出方向設定処理を行う検出方向設定部62と、判定処理を行う判定部63と、検出角度θに応じた検出値A_kに基づいて角分解能Mに応じた投影データを演算する演算処理を行う演算部64とを機能として備える。以下、制御装置5および投影データ生成装置6が行う上記の各処理について説明する。
−角分解能設定処理−
角分解能設定部61は、仮想検出時間tの設定に基づいて、角分解能Mを設定する。すなわち、角分解能設定部61は、以下の式(4)により角分解能Mを算出する。仮想検出時間tの設定は、ユーザにより入力部8を操作することにより行われる。なお、ユーザが直接角分解能Mを入力可能に構成されても良い。角分解能設定部61は、算出した角分解能Mをm倍(mは正の整数)した値が360°となるように設定する。
M=tω …(4)
角分解能設定部61は、仮想検出時間tの設定に基づいて、角分解能Mを設定する。すなわち、角分解能設定部61は、以下の式(4)により角分解能Mを算出する。仮想検出時間tの設定は、ユーザにより入力部8を操作することにより行われる。なお、ユーザが直接角分解能Mを入力可能に構成されても良い。角分解能設定部61は、算出した角分解能Mをm倍(mは正の整数)した値が360°となるように設定する。
M=tω …(4)
−検出方向設定処理−
検出方向設定部62は上記の複数個の検出領域DR_kを設定する。検出方向設定部62は、設定した検出領域DR_kについて、角分解能設定部61により設定された角分解能Mに基づいて、第1方向と第2方向とを設定する。第1方向は、検出装置4が検出を開始する際にX線源2から被測定物Sへ向かって進むX線の方向である。第2方向は、実検出時間Tが経過して検出装置4が検出を終了する際にX線源2から被測定物Sへ向かって進むX線の方向である。第1方向と第2方向とが成す角が検出角度θである。
検出方向設定部62は上記の複数個の検出領域DR_kを設定する。検出方向設定部62は、設定した検出領域DR_kについて、角分解能設定部61により設定された角分解能Mに基づいて、第1方向と第2方向とを設定する。第1方向は、検出装置4が検出を開始する際にX線源2から被測定物Sへ向かって進むX線の方向である。第2方向は、実検出時間Tが経過して検出装置4が検出を終了する際にX線源2から被測定物Sへ向かって進むX線の方向である。第1方向と第2方向とが成す角が検出角度θである。
具体的には、検出方向設定部62は、角分解能設定部61により設定された角分解能Mのa倍(aは正の整数)を検出角度θとして設定する。検出方向設定部62は、X線源2から検出装置4に向かうX線の方向を第1方向として設定する。検出方向設定部62は、第1方向を設定した後、第1方向とのなす角が検出角度θとなるように第2方向を設定する。このため、検出装置4は、実検出時間T(=at)を複数周の相対回転に渡ってn回繰り返しながらX線の入射量に相当する値の積算および検出値の出力を行う。相対回転が1周行われる間に、検出器42によって複数回の部分相対回転に対応したX線の入射量に相当する値の積算と検出値A_kの出力とが行われる。
−判定処理−
判定部63は、角分解能設定部61によって設定された角分解能Mにて投影データを生成することが可能か否かを、以下の式(5)を用いて判定する。なお、mは一周(360°)の相対回転に含まれる角分解能Mの個数、pはm未満の自然数、Nは整数である。
pa=Nm …(5)
換言すると、角分解能Mと検出角度θとが上記(5)が満たされないように設定されている場合に、上記の式(2)における右辺のn行n列の行列に逆行列が存在するので、投影データB_nの算出が可能となる。
判定部63は、角分解能設定部61によって設定された角分解能Mにて投影データを生成することが可能か否かを、以下の式(5)を用いて判定する。なお、mは一周(360°)の相対回転に含まれる角分解能Mの個数、pはm未満の自然数、Nは整数である。
pa=Nm …(5)
換言すると、角分解能Mと検出角度θとが上記(5)が満たされないように設定されている場合に、上記の式(2)における右辺のn行n列の行列に逆行列が存在するので、投影データB_nの算出が可能となる。
また、判定部63は、上記の式(2)における右辺の行列に逆行列が存在するか否かを行列式を用いて判定しても良い。また、予め記憶部55に様々な検出角度θと角分解能Mとの組み合わせに対応する、連立方程式が解ける場合の行列パターンを複数記憶しておき、判定部63が記憶部を参照して照会することにより判定してもよい。また、予め記憶部に様々な検出角度θと角分解能Mとの組み合わせに対応する、連立方程式が解ける場合の行列パターンを複数記憶しておき、判定部63が検出角度θまたは角分解能Mの値に近い値を、記憶部に記憶されている検出角度θと角分解能Mとの中から採用し、行列を選択しても良い。たとえば、予め記憶部55に記憶させた検出角度θと角分解能Mとの中から、設定した検出角度θと角分解能Mとに最も近い値の組み合わせを選び出し、たとえば表示モニタ(不図示)に表示することにより、ユーザに知らせても良い。また、最も近い値だけでなく、たとえば設定した値より大きな値であって、かつ最も近い値と、設定した値より小さな値であって、かつ最も近い値とを表示モニタ(不図示)に表示し、ユーザにどちらかを選択させても良い。また、各分解能設定処理と検出方向設定処理と判定処理とは、予め記憶部55に連立方程式が解ける場合の様々な検出角度θと角分解能Mとの組み合わせを複数記憶させておき、これらの候補をたとえば表示モニタ(不図示)に表示してユーザに選択させることによって行っても良い。
−検出値取得処理−
角分解能Mと検出角度θとが式(5)を満たすように設定され、判定部63により投影データの生成が可能と判定された場合には、制御装置5は被測定物Sの測定を開始するように各部を制御する。すなわち、載置台制御部52は回転駆動部31を駆動させて、ステージ30を回転軸Yrを中心として回転駆動させる。回転角度計測器36から出力された回転量信号に基づいて、載置台制御部52によって被測定物Sと検出装置4およびX線源2との相対位置が第1方向となったと判定されると、検出装置制御部54は検出装置4の各検出器42に入射されたX線の量に相当する値の積算を開始させる。
角分解能Mと検出角度θとが式(5)を満たすように設定され、判定部63により投影データの生成が可能と判定された場合には、制御装置5は被測定物Sの測定を開始するように各部を制御する。すなわち、載置台制御部52は回転駆動部31を駆動させて、ステージ30を回転軸Yrを中心として回転駆動させる。回転角度計測器36から出力された回転量信号に基づいて、載置台制御部52によって被測定物Sと検出装置4およびX線源2との相対位置が第1方向となったと判定されると、検出装置制御部54は検出装置4の各検出器42に入射されたX線の量に相当する値の積算を開始させる。
各検出器4によりX線の入射量に相当する値の積算が開始された後、回転角度計測器36から出力された回転量信号に基づいて、載置台制御部52によって被測定物Sと検出装置4およびX線源2との相対位置が第2方向となったと判定されると、検出装置制御部54は検出装置4の各検出器42に入射されたX線の量に相当する値の積算を終了させ、検出時間tの間に入射したX線の積算量に相当する値を検出値として出力させる。出力された検出値は、第1方向および第2方向と対応付けされて、検出情報として記憶部55に記憶される。制御装置5は、以上の処理を、設定された第1方向および第2方向の組合せの全てについて行う。
−演算処理−
設定された第1方向および第2方向の組合せの全てについて検出値が取得されると、演算部64は、記憶部55に記憶された検出値を全て読み出す。演算部64は、読み出した検出値を用いて、上述した式(3)に基づいて、角分解能Mに対応する複数の投影データを生成して、記憶部55に記憶する。なお、検出装置4とX線源2とは相対回転するため、X線源2がファンビームやコーンビームを照射する場合、X線源2から照射されたX線のうち所定の照射方向に進むX線は常に同一の検出器42に入射する。したがって、図2では回転軸を通過するX線について図示をしているが、X線源2から他の方向へ進むX線についても、上述した方法と同様の算出方法を用いて投影データを得ることができる。
設定された第1方向および第2方向の組合せの全てについて検出値が取得されると、演算部64は、記憶部55に記憶された検出値を全て読み出す。演算部64は、読み出した検出値を用いて、上述した式(3)に基づいて、角分解能Mに対応する複数の投影データを生成して、記憶部55に記憶する。なお、検出装置4とX線源2とは相対回転するため、X線源2がファンビームやコーンビームを照射する場合、X線源2から照射されたX線のうち所定の照射方向に進むX線は常に同一の検出器42に入射する。したがって、図2では回転軸を通過するX線について図示をしているが、X線源2から他の方向へ進むX線についても、上述した方法と同様の算出方法を用いて投影データを得ることができる。
画像再構成装置7は、上述のようにして生成された複数の投影データに対して公知の画像再構成処理を施して被測定物Sの再構成画像、すなわち被測定物Sの内部構造(断面構造)である3次元データが生成される。前述したように、画像再構成処理としては、FBP法、逆投影法、逐次近似法等がある。再構成画像は、たとえば表示モニタ(不図示)に表示されたり、プリンタ等により印刷されることによりユーザによって確認することができる。
図4に示すフローチャートを参照しながら、X線装置100による投影データ生成処理について説明する。図4に示す各処理は、制御装置5でプログラムを実行して行われる。このプログラムはメモリ(不図示)に格納されており、制御装置5により起動され、実行される。
ステップS1では、制御装置5の演算制御部54は、投影データ生成装置6の角分解能設定部61に角分解能Mを設定させてステップS2へ進む。ステップS2では、演算制御部54は、投影データ生成装置6の検出方向設定部62に複数の第1方向および第2方向を設定させてステップS3へ進む。
ステップS3においては、演算制御部54は、判定部63に投影データが生成可能か否かを判定させる。投影データが生成可能な場合、すなわち設定された角分解能Mおよび検出角度θが上記の式(5)を満たす場合にはステップS3が肯定判定されてステップS4へ進む。投影データが生成できない場合、すなわち設定された角分解能Mおよび/または検出角度θが式(5)を満たさない場合には、ステップS3が否定判定されてステップS2へ戻る。なお、ステップS1に戻って、再度角分解能Mを設定し直しても良い。
ステップS4では、載置台制御部52は回転駆動部31を駆動させて、ステージ30および被測定物Sを回転軸Yrを中心として回転させてステップS5へ進む。また、X線制御部51はX線源2からX線の照射を開始させる。ステップS5では、載置台制御部52は、回転角度計測器36から出力された回転量信号に基づいて、ステージ30および被測定物Sが第1方向に位置しているか否かを判定する。第1方向の場合、ステップS5が肯定判定されてステップS6へ進む。第1方向ではない場合には、ステップS5が否定判定されて当該判定処理が繰り返される。
ステップS6では、検出装置制御部54は検出装置4の各検出器42に入射されたX線の量に相当する値の積算を開始させてステップS7へ進む。ステップS7では、載置台制御部52は、回転角度計測器36から出力された回転量信号に基づいて、ステージ30および被測定物Sが第2方向に位置しているか否かを判定する。第2方向の場合、ステップS7が肯定判定されてステップS8へ進む。第2方向ではない場合には、ステップS7が否定判定されて当該判定処理が繰り返される。
ステップS8においては、各検出器42から出力された検出値と第1方向と第2方向とを関連付けて記憶部55に記憶してステップS9へ進む。ステップS9では、設定された複数の第1方向と第2方向の組合せの全てについて検出値が取得されたか否かを判定する。全ての組合せについて検出値が取得されている場合には、ステップS9が肯定判定されてステップS10へ進む。検出値が取得されていない組合せが存在する場合には、ステップS9が否定判定されてステップS5へ戻る。ステップS10では、記憶部55から検出値を読み出し、連立方程式(式(3))を作成し、それぞれの角分解能Mの投影データB_k’を生成してステップS11へ進む。ステップS11では、演算制御部54は、画像再構成装置7に複数の投影データに対して画像再構成処理を施させて、被測定物Sの再構成画像を生成させて処理を終了する。
上述した実施の形態によるX線装置によれば、次の作用効果が得られる。
(1)X線源2および検出器42が被測定物Sに対して相対回転を複数周行っている期間に検出器42によって取得された複数の検出値A_kに基づいて、投影データ生成装置6の演算部64は検出角度θよりも小さい(細かい)角分解能Mにて複数の投影データB_k’を生成するようにした。したがって、検出器42の実検出時間Tよりも短い仮想検出時間tのX線の入射量に相当する値の積算量に相当する投影データB_k’を得ることができるので、相対回転によって発生するブレの影響を抑制することができる。さらに、ブレの影響が抑制された投影データB_k’に対して画像再構成処理を施すことにより、ブレの影響が低減された高画質の再構成画像を生成できるので、被測定物Sの測定精度を向上させることができる。
(1)X線源2および検出器42が被測定物Sに対して相対回転を複数周行っている期間に検出器42によって取得された複数の検出値A_kに基づいて、投影データ生成装置6の演算部64は検出角度θよりも小さい(細かい)角分解能Mにて複数の投影データB_k’を生成するようにした。したがって、検出器42の実検出時間Tよりも短い仮想検出時間tのX線の入射量に相当する値の積算量に相当する投影データB_k’を得ることができるので、相対回転によって発生するブレの影響を抑制することができる。さらに、ブレの影響が抑制された投影データB_k’に対して画像再構成処理を施すことにより、ブレの影響が低減された高画質の再構成画像を生成できるので、被測定物Sの測定精度を向上させることができる。
(2)制御装置5の検出装置制御部53は、複数の検出値A_kが部分相対回転される期間ごとにX線が通過する検出領域DR_kにそれぞれ対応し、複数の検出領域DR_kが互いに一致しないように、検出器42による検出値A_kの取得を制御するようにした。したがって、式(2)、(3)に示すような連立方程式を生成し、計算により投影データB_kを算出することができる。
(3)検出器制御部53は、検出器42を制御して、相対回転が一周するまでの期間で複数の部分相対回転が行われるごとに検出値A_kを取得させるようにした。したがって、投影データB_k’の生成のために必要な検出値A_kを取得するまでに要する相対回転の回数を少なく抑えることができるので、処理時間の短縮に寄与する。
(4)検出方向設定部62は、角分解能設定部61により設定された角分解能Mに基づいて、第1方向および第2方向を設定するようにした。すなわち、角分解能Mの整数倍が検出角度θとなるように角分解能Mが設定され、かつ、角分解能Mの整数倍が360°となるように角分解能Mを設定するようにした。したがって、式(2)、(3)に示す連立方程式を効率よく生成、演算することができるので、処理負荷を低減させることができる。
(5)判定部63は、検出方向設定部62によって設定された複数の第1方向および複数の第2方向の組合せに基づいて、式(5)を用いて、投影データB_k’の生成が可能か否かを判定するようにした。したがって、投影データB_k’の演算を確実に行うことができる。
次のような変形も本発明の範囲内であり、変形例の一つ、もしくは複数を上述の実施形態と組み合わせることも可能である。
(1)検出方向設定部62が第1方向および第2方向を設定した後、角分解能設定部61が角分解能Mを設定するものについても本発明の一態様に含まれる。この場合、検出方向設定部62は、ユーザにより設定された検出装置4の検出時間Tに基づいて検出角度θを設定する。角分解能設定部61は、角分解能Mを整数倍した値が設定された検出角度θとなり、かつ、角分解能Mを整数倍した値が360°となるように、角分解能Mを設定すればよい。
(2)載置台32を移動させるものに代えて、載置台32を固定してX線源2および検出装置4を移動させるものについても本発明の一態様に含まれる。すなわち、被測定物Sに対してX線源2および検出装置4がX軸、Y軸、Z軸方向に相対移動すればよい。また、載置台32を回転軸Yrを中心に回転させるものに代えて、X線源2および検出装置4を載置台32に対して回転させる、すなわち回転軸Yrを中心として回転させてもよい。
(1)検出方向設定部62が第1方向および第2方向を設定した後、角分解能設定部61が角分解能Mを設定するものについても本発明の一態様に含まれる。この場合、検出方向設定部62は、ユーザにより設定された検出装置4の検出時間Tに基づいて検出角度θを設定する。角分解能設定部61は、角分解能Mを整数倍した値が設定された検出角度θとなり、かつ、角分解能Mを整数倍した値が360°となるように、角分解能Mを設定すればよい。
(2)載置台32を移動させるものに代えて、載置台32を固定してX線源2および検出装置4を移動させるものについても本発明の一態様に含まれる。すなわち、被測定物Sに対してX線源2および検出装置4がX軸、Y軸、Z軸方向に相対移動すればよい。また、載置台32を回転軸Yrを中心に回転させるものに代えて、X線源2および検出装置4を載置台32に対して回転させる、すなわち回転軸Yrを中心として回転させてもよい。
(3)検出時間Tの経過後、次の検出が開始されるまでに、検出時間T中に検出したデータの読み出し等に時間を要する場合がある。この期間にも回転駆動部31は回転駆動をしているため、非検出時間が生じる。この場合、検出方向設定部62は、検出領域DR_kに対応する検出値A_kの検出が終了してから、再び検出器42がX線の検出を開始するまでの時間L(以下、非検出時間Lと呼ぶ)を以下の式(6)により算出する。
L=bt …(6)
なお、L>L0、bは正の整数であり、L0検出装置4の性能により決まる最小の非検出時間である。
L=bt …(6)
なお、L>L0、bは正の整数であり、L0検出装置4の性能により決まる最小の非検出時間である。
上記の場合、検出方向設定部62は、X線の入射量に相当する値の積算が終了してから積算を再開するまでの非検出時間Lが経過したときに、X線源2から検出装置4に向かうX線の方向を第1方向として設定する。検出装置4は、1周の相対回転が行われる間に実検出時間T(=at)と非検出時間L(=bt)とを複数周の相対回転に渡って繰り返すため、飛び飛びの検出領域DR_kに対応する検出値が得られる。しかし、相対回転の数を増やすことによって、検出値が得られていない検出領域に対応する検出値を得られるため、上記の非検出時間Lを有していない実施の形態と同様の算出方法によって投影データを得ることができる。
上述の場合、検出装置4は、実検出時間T(=at)と非検出時間L(=bt)とを複数周の相対回転に渡ってq回繰り返しながらX線の積算および検出値の出力を行う。係数aおよびbが上述した(5)式を満たさず、すなわち「m>pの自然数pに対して、p×aがmで割り切れない」という条件を満たし、「m>qの自然数qに対して、q×(a+b)がmで割り切れない」という条件を満たす場合には、m回検出値が得られる間に検出領域DR_kが重複しない。上記の条件が満たされない状態にて測定を行う場合には、非検出時間Lが経過した後、さらに検出装置4が検出を開始するためのタイミングをずらす等の制御が必要となる。この場合、複数の検出領域DR_kが非検出時間LにX線が通過した領域を含み、かつ、それぞれの検出領域DR_kが重複しないように検出装置4が検出を開始するためのタイミングを制御すれば良い。
本発明の特徴を損なわない限り、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で考えられるその他の形態についても、本発明の範囲内に含まれる。
2…X線源、3…載置部、4…検出装置、
5…制御装置、6…投影データ生成装置、7…画像再構成装置、
42…検出器、51…X線制御部、52…載置台制御部、
53…検出装置制御部、54…演算制御部、55…記憶部、
61…角分解能設定部、62…検出方向設定部、63…判定部、
64…演算部、100…X線装置
5…制御装置、6…投影データ生成装置、7…画像再構成装置、
42…検出器、51…X線制御部、52…載置台制御部、
53…検出装置制御部、54…演算制御部、55…記憶部、
61…角分解能設定部、62…検出方向設定部、63…判定部、
64…演算部、100…X線装置
Claims (22)
- 線源から被測定物に照射され、検出面に入射した放射線の量を検出する放射線検出器と、
前記被測定物に対して前記線源および前記放射線検出器を相対回転させることにより、前記放射線の前記被測定物への投影方向を回転させる回転手段と、
前記放射線検出器による検出を開始した時点において前記線源からの前記放射線が前記被測定物へ向けて進行する方向を第1方向とし、前記放射線検出器による検出を終了した時点において前記線源からの前記放射線が前記被測定物へ向けて進行する方向を第2方向とし、前記第1方向と前記第2方向とがなす角度を検出角度とする場合、前記放射線検出画素を制御して、前記回転手段によって前記投影方向が前記検出角度の範囲で部分相対回転される期間に前記検出面に入射する前記放射線の積算量を検出値として取得させる制御手段と、
前記回転手段によって前記相対回転が複数周行われる期間に前記放射線検出器によって取得された複数の前記検出値に基づいて、前記検出角度よりも細かい角分解能にて複数の投影データを生成するデータ生成手段と、を備えることを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項1に記載の投影データ生成装置において、
前記制御手段は、前記複数の検出値は前記部分相対回転される期間ごとに前記放射線が通過する検出領域にそれぞれ対応し、複数の前記検出領域は互いに一致しないように、前記放射線検出器による前記検出値の取得を制御することを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項1または2に記載の投影データ生成装置において、
前記制御手段は、前記放射線検出器を制御して、前記回転手段により前記相対回転が一周するまでの期間で複数の前記部分相対回転が行われるごとに前記複数の検出値を取得させることを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項1乃至3の何れか一項に記載の投影データ生成装置において、
前記データ生成手段は、複数の前記第1方向と複数の前記第2方向とを設定する検出方向設定手段を備えることを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項1乃至4の何れか一項に記載の投影データ生成装置において、
前記データ生成手段は、前記角分解能を設定する角分解能設定手段を備えることを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項1乃至3の何れか一項に記載の投影データ生成装置において、
前記データ生成手段は、
前記複数の検出値に対応して、複数の前記第1方向と複数の前記第2方向とを設定する検出方向設定手段と、
前記角分解能を設定する角分解能設定手段とを備え、
前記検出方向設定手段は、前記角分解能設定手段により設定された前記角分解能に基づいて、前記第1方向および前記第2方向を設定することを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項1乃至3の何れか一項に記載の投影データ生成装置において、
前記データ生成手段は、
前記複数の検出値に対応して、複数の前記第1方向と複数の前記第2方向とを設定する検出方向設定手段と、
前記角分解能を設定する角分解能設定手段とを備え、
前記角分解能設定手段は、前記検出方向設定手段によって設定された前記第1方向および前記第2方向に基づいて、前記角分解能を設定することを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項4または6または7に記載の投影データ生成装置において、
前記データ生成手段は、前記検出方向設定手段によって設定された前記複数の第1方向および前記複数の第2方向の組合せに基づいて、前記投影データの生成が可能か否かを判定する判定手段を備えることを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項5乃至7の何れか一項に記載の投影データ生成装置において、
前記角分解能設定手段は、前記角分解能の整数倍が360°となるように前記角分解能を設定することを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項4または5乃至8の何れか一項に記載の投影データ生成装置において、
前記検出方向設定手段は、前記検出角度が前記角分解能の整数倍となるように前記複数の第1方向および前記複数の第2方向を設定することを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項6または7に記載の投影データ生成装置において、
前記角分解能設定手段は、前記角分解能の整数倍が360°となるように前記角分解能を設定し、
前記検出方向設定手段は、前記検出角度が前記角分解能の整数倍となるように前記複数の第1方向および前記複数の第2方向を設定し、
前記データ生成手段は、前記検出方向設定手段によって設定された前記複数の第1方向および前記複数の第2方向の組合せに基づいて、前記投影データの生成が可能か否かを判定する判定手段を備え、
前記判定手段は、前記角分解能設定手段により設定された前記角分解能の数をm、自然数をp(p<m)、整数をn、前記検出角度が前記角分解能のa倍としたとき、以下の式に基づいて、前記投影データの生成が可能か否かを判定することを特徴とする投影データ生成装置。
pa=nm …(1) - 請求項1乃至11の何れか一項に記載の投影データ生成装置において、
前記放射線検出器を複数備える検出装置を有することを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項1乃至12の何れか一項に記載の投影データ生成装置と、
前記投影データに基づいて、前記被測定物の再構成画像を生成する画像生成手段とを備えることを特徴とする再構成画像生成装置。 - 線源から被測定物に照射され、放射線検出器の検出面に入射した放射線の量を検出し、
前記被測定物に対して前記線源および前記放射線検出器を相対的に回転させることにより、前記放射線の前記被測定物への投影方向を回転させ、
前記線源からの前記放射線が前記放射線検出器による検出を開始した時点で前記被測定物へ向けて進行する方向を第1方向とし、前記放射線が前記放射線検出器による検出を終了した時点で前記被測定物へ向けて進行する方向を第2方向とし、前記被測定物との間で形成する角度を検出角度とするとき、前記投影方向が前記検出角度にわたって部分回転される期間に前記検出面に入射する前記放射線の積算量を検出値として前記放射線検出器に取得させ、
前記相対的な回転が複数周行われる期間に前記放射線検出器によって取得された複数の前記検出値に基づいて、前記検出角度よりも細かい角分解能にて複数の投影データを生成することを特徴とする投影データ生成方法。 - 請求項14に記載の投影データ生成方法により生成された前記投影データに基づいて、前記被測定物の再構成画像を生成することを特徴とする再構成画像生成方法。
- 線源から被測定物に照射され、放射線検出器の検出面に入射した放射線の量を検出する検出処理と、
前記被測定物に対して前記線源および前記放射線検出器を相対的に回転させることにより、前記放射線の前記被測定物への投影方向を回転させる回転処理と、
前記線源からの前記放射線が前記放射線検出器による検出を開始した時点で前記被測定物へ向けて進行する方向を第1方向と、前記放射線が前記放射線検出器による検出を終了した時点で前記被測定物へ向けて進行する方向を第2方向と、前記被測定物との間で形成する角度を検出角度とするとき、前記回転処理によって前記投影方向が前記検出角度にわたって部分回転される期間に前記検出面に入射する前記放射線の積算量を検出値として前記放射線検出器に取得させる取得処理と、
前記回転処理によって前記相対的な回転が複数周行われる期間に前記放射線検出器によって取得された複数の前記検出値に基づいて、前記検出角度よりも細かい角分解能にて複数の投影データを生成するデータ生成処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とする投影データ生成プログラム。 - 請求項16に記載の投影データ生成プログラムにより生成された前記投影データに基づいて、前記被測定物の再構成画像を生成する画像生成処理をコンピュータに実行させることを特徴とする再構成画像生成プログラム。
- 被測定物へX線を照射する線源と、
前記被測定物を透過した前記X線の積算量を検出する検出器と、
前記線源および前記検出器と前記被測定物とを互いに相対回転させる回転手段と、
前記相対回転が行われる間に複数の検出角に対応する複数の検出領域をそれぞれ設定し、前記複数の検出領域のうちの一の前記検出領域が複数周の前記相対回転が行われる間に他の複数の前記検出領域と一部重複し、前記他の複数の検出領域のうちの少なくとも一つとは所定のずれ角だけずれるように設定する設定手段と、
前記複数の検出領域ごとに前記検出器に前記積算量を検出させる検出制御手段と、
前記複数の検出領域に対応した複数の前記積算量に基づいて、前記所定のずれ角に対応する積算データを算出する算出手段と、を備えることを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項18に記載の投影データ生成装置において、
前記設定手段は、
前記検出器による検出を開始した時点において前記線源からの前記X線が前記被測定物へ向けて進行する第1方向と、前記第1方向とのなす角が前記検出角となる第2方向とをそれぞれ複数設定する検出方向設定手段と、
前記検出方向設定手段によって設定された前記複数の第1方向および前記複数の第2方向の組合せに基づいて、前記積算データの生成が可能か否かを判定する判定手段とを備えることを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項18に記載の投影データ生成装置において、
前記設定手段は、前記所定のずれ角の整数倍が360°となるように前記所定のずれ角を設定することを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項19に記載の投影データ生成装置において、
前記検出方向設定手段は、前記検出角が前記所定のずれ角の整数倍となるように前記複数の第1方向および前記複数の第2方向を設定することを特徴とする投影データ生成装置。 - 請求項18乃至21の何れか一項に記載の投影データ生成装置と、
前記積算データに基づいて、前記被測定物の再構成画像を生成する画像生成手段とを備えることを特徴とする再構成画像生成装置。
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