JP2015149350A - 固体撮像装置および撮像装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】撮像信号用の信号を生成する第1の光電変換部の感度の低下を抑制しつつ、位相差検出方式による焦点検出用の信号を生成する第2の光電変換部に入射する光量の低下を抑制し、かつ、精度良く合焦点を検出することが可能な信号を生成することができる固体撮像装置および撮像装置を提供する。【解決手段】遮光部111aは、マイクロレンズMLを通過して第1の光電変換部101a,101bを透過した光のうち撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光を選択する。ライトパイプ230a,230bは、遮光部111aによって選択された光を第2の光電変換部201a,201b側に屈折させる。【選択図】図1

Description

本発明は、複数の基板が重なった構造を有する固体撮像装置および撮像装置に関する。
近年、特許文献1に記載された撮像装置のように、同一の撮像面において、被写体像を撮像する撮像用画素と、撮像レンズの射出瞳(exit pupil)において異なる瞳領域を通過した光を受光する位相差検出用画素とが配置された撮像装置が知られている。この撮像装置は、それぞれの位相差検出用画素で検出された信号より算出された被写体像の位相差に基づいて合焦制御を行う。
以下では、特許文献1に記載された撮像装置の詳細を説明する。この撮像装置では、撮像面の中央付近において、位相差検出が可能な複数のAF領域が存在する。図12は、AF領域Efにおける撮像用画素と位相差検出用画素との配列を示している。
それぞれのAF領域Efにおいて、青のカラーフィルタが配置されたB画素と、緑のカラーフィルタが配置されたG画素と、赤のカラーフィルタが配置されたR画素とからなる複数の撮像用画素と共に、複数の位相差検出用画素対1fが設けられている。位相差検出用画素対1fは、撮像レンズの射出瞳における任意の瞳領域を通過した光を、後述する遮光部2a,2bによって選択する位相差検出用画素1a,1bのペアである。
AF領域Efには、複数の撮像用画素が水平方向に配置された水平ラインとして、GbラインL1とGrラインL2とが形成されている。GbラインL1では、G画素とB画素とが水平方向に交互に配置されている。GrラインL2では、G画素とR画素とが水平方向に交互に配置されている。GbラインL1とGrラインL2とが垂直方向に交互に配置されることによって、ベイヤー配列が構成される。
また、AF領域Efには、位相差検出用画素対1fが水平方向に交互に配列されたAfラインLfが垂直方向に周期的に設けられている。
図13は、位相差検出用画素対1fの構成を示している。図13では、位相差検出用画素対1fの断面が示されている。位相差検出用画素対1fは、一対の位相差検出用画素1a,1bを有する。位相差検出用画素1a,1bは、マイクロレンズMLと、カラーフィルタCFと、遮光部2a,2bと、光電変換部PDとを有する。位相差検出用画素対1fの光学的前方(図13の上方)に撮像レンズの射出瞳EPが配置されている。
遮光部2a,2bは、撮像レンズの射出瞳EPの左側の瞳領域Qaを通過した光Taと、撮像レンズの射出瞳EPの右側の瞳領域Qbを通過した光Tbとを分離する。位相差検出用画素1aでは、光電変換部PDに対して左側に偏って配置された長方形状(スリット状)の遮光部2aが設けられている。このため、射出瞳EPの左側の瞳領域Qaを通過した光Taが、マイクロレンズMLとカラーフィルタCFとを介して位相差検出用画素1aに照射される。
一方、位相差検出用画素1bでは、光電変換部PDに対して右側に偏って配置された長方形状(スリット状)の遮光部2bが設けられている。このため、射出瞳EPの右側の瞳領域Qbを通過した光Tbが、マイクロレンズMLとカラーフィルタCFとを介して位相差検出用画素1bに照射される。すなわち、位相差検出用画素対1fでは、撮像レンズの射出瞳EPにおいて互いに逆方向となる左方向および右方向に偏った左側の瞳領域Qa・右側の瞳領域Qbを通過した光が受光される。
ある1つのAFラインLfに配置された複数の位相差検出用画素1aで検出された信号群と、複数の位相差検出用画素1bで検出された信号群とが取得される。取得された信号群を用いて、撮像レンズの射出瞳EPにおいて互いに逆方向となる左方向および右方向に偏った左側の瞳領域Qa・右側の瞳領域Qbを通過した光の位相差を検出することによって、合焦点が算出される。
しかしながら、特許文献1に記載された撮像装置では、一部の撮像用画素の代わりに位相差検出用画素が配置されているために、撮像信号の解像度が減少するという問題があった。
この問題を解決するために、特許文献2では、被写体像を撮像するための信号を生成する撮像用画素を有する第1の基板と、被写体像の位相差を検出し合焦点を算出するための信号を生成する位相差検出用画素を有する第2の基板とが積層された固体撮像装置が開示されている。特許文献2に記載された固体撮像装置では、撮像用画素と位相差検出用画素とがそれぞれ第1の基板と第2の基板とに分かれて配置されている。このため、撮像信号の解像度の減少を低減しつつ、位相差検出方式による焦点検出に用いる信号を生成することができる。
以下では、特許文献2に記載された固体撮像装置の詳細を説明する。図14は、特許文献2に記載された固体撮像装置の構成を示している。図14では固体撮像装置の断面が示されている。図14に示す固体撮像装置は、第1の基板80と、第1の基板80に積層された第2の基板90と、第1の基板80の主面(基板の表面を構成する複数の面のうち最も広い面)に形成されたマイクロレンズMLと、カラーフィルタCFとを有する。
第1の基板80の主面にカラーフィルタCFが形成され、カラーフィルタCF上にマイクロレンズMLが形成されている。図14では複数のマイクロレンズMLが存在するが、代表として1つのマイクロレンズMLの符号が示されている。また、図14では複数のカラーフィルタCFが存在するが、代表として1つのカラーフィルタCFの符号が示されている。
マイクロレンズMLは、固体撮像装置の光学的前方に配置された撮像レンズを通過した、被写体からの光を結像する。カラーフィルタCFは、所定の色に対応した波長の光を透過する。例えば、赤、緑、青のカラーフィルタCFが、2次元状のベイヤー配列を構成するように配置される。
第1の基板80は、第1の半導体層800と、第1の配線層810とを有する。第1の半導体層800は、入射した光を信号に変換する第1の光電変換部801a,801bを有する。
第1の配線層810は、第1の配線811と、第1のビア812と、第1の層間絶縁膜813とを有する。図14では複数の第1の配線811が存在するが、代表として1つの第1の配線811の符号が示されている。また、図14では複数の第1のビア812が存在するが、代表として1つの第1のビア812の符号が示されている。
第1の配線811は、配線パターンが形成された薄膜である。第1の配線811は、第1の光電変換部801a,801bで生成された信号やその他の信号(電源電圧、グランド電圧等)を伝送する。図14に示す例では、4層の第1の配線811が形成されている。4層のうち、第2の基板90に最も近い第4層に形成された第1の配線811は、遮光部811aとして形成されている。
遮光部811aは、第1の基板80に入射した光の一部のみが通過する開口部8110a,8110bを有する。開口部8110a,8110bは、遮光部811aの側壁で構成されている。
第1のビア812は、異なる層の第1の配線811を接続する。第1の配線層810において、第1の配線811および第1のビア812以外の部分は、第1の層間絶縁膜813で構成されている。
第2の基板90は、第2の半導体層900と、第2の配線層910とを有する。第2の半導体層900は、入射した光を信号に変換する第2の光電変換部901a,901bを有する。
第2の配線層910は、第2の配線911と、第2のビア912と、第2の層間絶縁膜913と、MOSトランジスタ920とを有する。図14では複数の第2の配線911が存在するが、代表として1つの第2の配線911の符号が示されている。また、図14では複数の第2のビア912が存在するが、代表として1つの第2のビア912の符号が示されている。また、図14では複数のMOSトランジスタ920が存在するが、代表として1つのMOSトランジスタ920の符号が示されている。
第2の配線911は、配線パターンが形成された薄膜である。第2の配線911は、第1の光電変換部801a,801bで生成された信号や、第2の光電変換部901a,901bで生成された信号、その他の信号(電源電圧、グランド電圧等)を伝送する。図14に示す例では、2層の第2の配線911が形成されている。
第2のビア912は、異なる層の第2の配線911を接続する。第2の配線層910において、第2の配線911および第2のビア912以外の部分は、第2の層間絶縁膜913で構成されている。
MOSトランジスタ920は、第2の半導体層900に形成された拡散領域であるソース領域およびドレイン領域と、第2の配線層910に形成されたゲート電極とを有する。ソース領域およびドレイン領域は、第2のビア912と接続されている。ゲート電極は、ソース領域とドレイン領域との間に配置されている。MOSトランジスタ920は、第2の配線911および第2のビア912によって伝送された信号を処理する。
第1の基板80と第2の基板90とは、第1のビア812と第2のビア912とを介して第1の基板80と第2の基板90との界面で電気的に接続されている。
図14に示す固体撮像装置では、第1の光電変換部801a,801bで生成された信号から撮像信号を生成し、第2の光電変換部901a,901bで生成された信号から、位相差検出方式による焦点検出に用いる信号(位相差算出用信号)を生成することができる。
特開2009−204964号公報 特開2013−187475号公報
特許文献2に記載された固体撮像装置は、撮像用画素を有する第1の基板80と、位相差検出用画素を有する第2の基板90とを積層した構造によって、撮像信号の解像度の減少を低減しつつ、位相差検出方式による焦点検出に用いる信号を生成することができる。このため、第1の基板80に形成された第1の光電変換部801a,801bと、第2の基板90に形成された第2の光電変換部901a,901bとの間に、第1の配線層810と第2の配線層910との厚さの合計に相当する光学的距離が存在する。
撮像信号を生成するための信号を生成する第1の光電変換部801a,801bが十分な感度を得るためには、固体撮像装置に入射した光がマイクロレンズMLによって結像される位置(結像点)が第1の光電変換部801a,801bの近傍である必要がある。すなわち、図15に示すように、第1の配線層810において、第1の光電変換部801a,801bに近い位置に遮光部811aを配置する必要がある。
しかしながら、図16に示すように、開口部8110aを通過した光Taが、第2の光電変換部901aに入射する前に、第2の配線層910に設けられた第2の配線911に遮られる可能性がある。このため、第2の光電変換部901aで生成された信号に基づく位相差算出用信号を用いて、合焦点を精度良く検出することができない。開口部8110bを通過した光Tbについても、同様である。
一方、開口部8110a,8110bを通過した光が、第2の配線911に遮られずに第2の光電変換部901a,901bに入射するためには、固体撮像装置に入射した光がマイクロレンズMLによって結像される位置(結像点)が第2の光電変換部901a,901bの近傍である必要がある。すなわち、第2の配線層910において、図17に示すように、第2の光電変換部901a,901bに近い位置の第2の配線911を遮光部911aとして用いる必要がある。しかしながら、固体撮像装置に入射した光がマイクロレンズMLによって結像される位置(結像点)が第1の光電変換部801a,801bの近傍ではないため、第1の光電変換部801a,801bが十分な感度を得ることができない。
本発明は、撮像信号用の信号を生成する第1の光電変換部の感度の低下を抑制しつつ、位相差検出方式による焦点検出用の信号を生成する第2の光電変換部に入射する光量の低下を抑制し、かつ、精度良く合焦点を検出することが可能な信号を生成することができる固体撮像装置および撮像装置を提供する。
本発明は、2次元状に配置された複数の第1の光電変換部を有する第1の基板と、2次元状に配置された複数の第2の光電変換部を有し、前記第1の基板に積層された第2の基板と、前記第1の基板の表面に配置され、撮像レンズを通過した光を結像するマイクロレンズと、前記第1の光電変換部と前記第2の光電変換部との間に配置され、前記マイクロレンズを通過して前記第1の光電変換部を透過した光のうち前記撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光を選択する選択部と、前記選択部と前記第2の光電変換部との間に配置され、前記選択部によって選択された光を前記第2の光電変換部側に屈折させる屈折部と、前記第1の基板に配置され、前記複数の第1の光電変換部で生成された撮像信号用の信号を伝送する第1の配線と、前記第2の基板に配置され、前記複数の第2の光電変換部で生成された、位相差検出方式による焦点検出用の信号を伝送する第2の配線と、を有することを特徴とする固体撮像装置である。
また、本発明の固体撮像装置は、前記第1の光電変換部と前記第2の光電変換部との間に配置された層間絶縁膜をさらに有し、前記屈折部は、前記層間絶縁膜に埋め込まれ、前記層間絶縁膜よりも屈折率が高い材料により形成されていることを特徴とする。
また、本発明の固体撮像装置において、前記屈折部は、前記第2の光電変換部側に屈折した光を全反射させながら前記第2の光電変換部に導くライトパイプであることを特徴とする。
また、本発明の固体撮像装置において、前記選択部は、前記撮像レンズの前記2つの瞳領域の一方のみを通過した光が通過する位置に形成された開口部を有する遮光部を有することを特徴とする。
また、本発明の固体撮像装置において、前記屈折部の、前記第1の光電変換部と対向する面が前記開口部の近傍に配置されていることを特徴とする。
また、本発明の固体撮像装置において、前記第1の基板または前記第2の基板の主面に垂直な方向に見た場合に、前記屈折部の輪郭線の内部に前記開口部が配置されていることを特徴とする。
また、本発明の固体撮像装置において、前記選択部の、前記第1の光電変換部と対向する面において、前記開口部が形成されている領域以外の領域に、前記第1の光電変換部を透過した光のうち前記撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光以外の光を吸収する光吸収体が配置されていることを特徴とする。
また、本発明の固体撮像装置において、前記屈折部の、前記第1の光電変換部と対向する面は、前記選択部によって選択された光を集光する曲率を有することを特徴とする。
また、本発明の固体撮像装置において、前記第1の基板または前記第2の基板の主面に垂直な方向に見た場合に、前記複数の第2の光電変換部のそれぞれに対して、前記複数の第1の光電変換部のうちの複数が重なることを特徴とする。
また、本発明は、上記の固体撮像装置を有することを特徴とする撮像装置である。
本発明によれば、選択部と屈折部とが設けられているため、マイクロレンズが光を結像する位置を第1の光電変換部により近付けることが可能になると共に、撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光が第2の光電変換部に入射しやすくなる。このため、撮像信号用の信号を生成する第1の光電変換部の感度の低下を抑制しつつ、位相差検出方式による焦点検出用の信号を生成する第2の光電変換部に入射する光量の低下を抑制し、かつ、精度良く合焦点を検出することが可能な信号を生成することができる。
本発明の第1の実施形態による固体撮像装置の構成例を示す断面図である。 本発明の第1の実施形態による固体撮像装置の平面図である。 本発明の第1の実施形態の変形例による固体撮像装置の構成例を示す断面図である。 本発明の第1の実施形態の変形例による固体撮像装置の構成例を示す断面図である。 本発明の第1の実施形態の変形例による固体撮像装置の構成例を示す断面図である。 本発明の第1の実施形態の変形例による固体撮像装置の構成例を示す断面図である。 本発明の第1の実施形態の変形例による固体撮像装置の構成例を示す断面図である。 本発明の第2の実施形態による固体撮像装置の構成例を示す断面図である。 本発明の第2の実施形態による固体撮像装置の平面図である。 本発明の第3の実施形態による固体撮像装置の構成例を示す断面図である。 本発明の第4の実施形態による撮像装置の構成例を示すブロック図である。 従来の固体撮像装置のAF領域における撮像用画素と位相差検出用画素との配列を示す参考図である。 従来の固体撮像装置の位相差検出用画素対の構成を示す断面図である。 従来の固体撮像装置の構成を示す断面図である。 従来の固体撮像装置の課題を説明するための断面図である。 従来の固体撮像装置の課題を説明するための断面図である。 従来の固体撮像装置の課題を説明するための断面図である。
以下、図面を参照し、本発明の実施形態を説明する。
(第1の実施形態)
まず、本発明の第1の実施形態を説明する。図1は、本実施形態による固体撮像装置の構成例を示している。図1では固体撮像装置の断面が示されている。図1に示す固体撮像装置は、第1の基板10と、第1の基板10に積層された第2の基板20と、第1の基板10の表面に形成されたマイクロレンズMLと、カラーフィルタCFとを有する。
図1に示す固体撮像装置を構成する部分の寸法は、図1に示される寸法に従うわけではない。図1に示す固体撮像装置を構成する部分の寸法は任意であってよい。
第1の基板10の主面(基板の表面を構成する複数の面のうち最も広い面)にカラーフィルタCFが形成され、カラーフィルタCF上にマイクロレンズMLが形成されている。図1では複数のマイクロレンズMLが存在するが、代表として1つのマイクロレンズMLの符号が示されている。また、図1では複数のカラーフィルタCFが存在するが、代表として1つのカラーフィルタCFの符号が示されている。
マイクロレンズMLは、固体撮像装置の光学的前方に配置された撮像レンズを通過した、被写体からの光を結像する。カラーフィルタCFは、所定の色に対応した波長の光を透過する。例えば、赤、緑、青のカラーフィルタCFが、2次元状のベイヤー配列を構成するように配置される。
第1の基板10は、第1の半導体層100と、第1の配線層110とを有する。第1の半導体層100と第1の配線層110とは、第1の基板10の主面を横切る方向(例えば、主面にほぼ垂直な方向)に重なっている。また、第1の半導体層100と第1の配線層110とは互いに接触している。
第1の半導体層100は、第1の光電変換部101a,101bを有する。第1の半導体層100は、シリコン(Si)等の半導体を含む材料で構成されている。第1の半導体層100は、第1の配線層110と接触している第1の面と、カラーフィルタCFと接触している、第1の面とは反対側の第2の面とを有する。第1の半導体層100の第2の面は第1の基板10の主面の1つを構成する。第1の半導体層100の第2の面に入射した光が、第1の半導体層100内を進んで第1の光電変換部101a,101bに入射する。第1の光電変換部101a,101bは、例えば第1の半導体層100を構成する半導体材料とは不純物濃度が異なる半導体材料で構成されている。第1の光電変換部101a,101bは、入射した光を信号に変換する。
固体撮像装置は、複数の第1の光電変換部101a,101bを有する。第1の基板10または第2の基板20の主面に垂直な方向から見た場合、すなわち第1の基板10または第2の基板20を平面的に見た場合に、複数の第1の光電変換部101a,101bは行列状に配置されている。
第1の配線層110は、第1の配線111と、第1のビア112と、第1の層間絶縁膜113とを有する。図1では複数の第1の配線111が存在するが、代表として1つの第1の配線111の符号が示されている。また、図1では複数の第1のビア112が存在するが、代表として1つの第1のビア112の符号が示されている。
第1の配線111は、導電性を有する材料(例えば、アルミニウム(Al)または銅(Cu)等の金属)で構成されている。第1の配線層110は、第2の基板20と接触している第1の面と、第1の半導体層100と接触している、第1の面とは反対側の第2の面とを有する。第1の配線層110の第1の面は第1の基板10の主面の1つを構成する。
第1の配線111は、配線パターンが形成された薄膜である。第1の配線111は、第1の光電変換部101a,101bで生成された撮像信号用の信号と、その他の信号(電源電圧、グランド電圧等)とを伝送する。1層のみの第1の配線111が形成されていてもよいし、複数層の第1の配線111が形成されていてもよい。図1に示す例では、4層の第1の配線111が形成されている。4層のうち、第1の半導体層100に最も近い第1層に形成された第1の配線111は、遮光部111aとして形成されている。遮光部111aについては後述する。
第1のビア112は、導電性を有する材料で構成されている。第1のビア112は、異なる層の第1の配線111を接続する。第1の配線層110において、第1の配線111および第1のビア112以外の部分は、例えば二酸化珪素(SiO)等で形成された第1の層間絶縁膜113で構成されている。
第2の基板20は、第2の半導体層200と、第2の配線層210とを有する。第2の半導体層200と第2の配線層210とは、第2の基板20の主面を横切る方向(例えば、主面にほぼ垂直な方向)に重なっている。また、第2の半導体層200と第2の配線層210とは互いに接触している。
第2の半導体層200は、第2の光電変換部201a,201bを有する。第2の半導体層200は、シリコン(Si)等の半導体を含む材料で構成されている。第2の光電変換部201a,201bは、例えば第2の半導体層200を構成する半導体材料とは不純物濃度が異なる半導体材料で構成されている。第1の光電変換部101aと対応する領域に第2の光電変換部201aが形成され、第1の光電変換部101bと対応する領域に第2の光電変換部201bが形成されている。第2の半導体層200は、第2の配線層210と接触している第1の面と、第1の面とは反対側の第2の面とを有する。第2の半導体層200の第2の面は第2の基板20の主面の1つを構成する。第2の半導体層200の第1の面に入射した光が、第2の半導体層200内を進んで第2の光電変換部201a,201bに入射する。第2の光電変換部201a,201bは、入射した光を信号に変換する。
固体撮像装置は、複数の第2の光電変換部201a,201bを有する。第1の基板10または第2の基板20の主面に垂直な方向から見た場合、すなわち第1の基板10または第2の基板20を平面的に見た場合に、複数の第2の光電変換部201a,201bは行列状に配置されている。
第2の配線層210は、第2の配線211と、第2のビア212と、第2の層間絶縁膜213と、MOSトランジスタ220とを有する。図1では複数の第2の配線211が存在するが、代表として1つの第2の配線211の符号が示されている。また、図1では複数の第2のビア212が存在するが、代表として1つの第2のビア212の符号が示されている。また、図1では複数のMOSトランジスタ220が存在するが、代表として1つのMOSトランジスタ220の符号が示されている。
第2の配線211は、導電性を有する材料(例えば、アルミニウム(Al)または銅(Cu)等の金属)で構成されている。第2の配線層210は、第1の配線層110と接触している第1の面と、第2の半導体層200と接触している、第1の面とは反対側の第2の面とを有する。第2の配線層210の第1の面は第2の基板20の主面の1つを構成する。
第2の配線211は、配線パターンが形成された薄膜である。第2の配線211は、第1の光電変換部101a,101bで生成された撮像信号用の信号と、第2の光電変換部201a,201bで生成された、位相差検出方式による焦点検出用の信号と、その他の信号(電源電圧、グランド電圧等)とを伝送する。1層のみの第2の配線211が形成されていてもよいし、複数層の第2の配線211が形成されていてもよい。図1に示す例では、2層の第2の配線211が形成されている。
第2のビア212は、導電性を有する材料で構成されている。第2のビア212は、異なる層の第2の配線211を接続する。第2の配線層210において、第2の配線211および第2のビア212以外の部分は、例えば二酸化珪素(SiO)等で形成された第2の層間絶縁膜213で構成されている。
MOSトランジスタ220は、第2の半導体層200に形成された拡散領域であるソース領域およびドレイン領域と、第2の配線層210に形成されたゲート電極とを有する。ソース領域およびドレイン領域は、第2のビア212と接続されている。ゲート電極は、ソース領域とドレイン領域との間に配置されている。MOSトランジスタ220は、第2の配線211および第2のビア212によって伝送された信号を処理する。
第1の基板10と第2の基板20とは、第1の基板10の第1の配線層110と第2の基板20の第2の配線層210とが向かい合った状態で接続されている。第1の配線層110の第1のビア112と、第2の配線層210の第2のビア212とは、第1の基板10と第2の基板20との界面で電気的に接続されている。
遮光部111aは、第1の基板10または第2の基板20の主面に垂直な方向において、マイクロレンズMLによって光が結像される位置(結像点)に配置されている。また、遮光部111aは、撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光が結像する位置に形成された開口部1110a,1110bを有する。開口部1110a,1110bは、遮光部111aの側壁で構成されている。
開口部1110aは、第1の光電変換部101aに対応して配置されている。開口部1110aは、マイクロレンズMLを通過して第1の光電変換部101aを透過した光のうち撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光が通過する位置に形成されている。開口部1110aは、マイクロレンズMLの中心よりも右側に偏った位置に形成されている。
開口部1110bは、第1の光電変換部101bに対応して配置されている。開口部1110bは、マイクロレンズMLを通過して第1の光電変換部101bを透過した光のうち撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方(開口部1110aを通過する光が通過した瞳領域とは異なる瞳領域)のみを通過した光が通過する位置に形成されている。開口部1110bは、マイクロレンズMLの中心よりも左側に偏った位置に形成されている。
遮光部111aは、第1の光電変換部101a,101bと第2の光電変換部201a,201bとの間に配置され、マイクロレンズMLを通過して第1の光電変換部101a,101bを透過した光のうち撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光を選択する選択部として機能する。
第1の基板10の主面に平行な平面において、マイクロレンズMLが光を結像する位置は、その光が通過した瞳領域に応じた位置である。開口部1110aは、撮像レンズの左右の瞳領域のうち左側の瞳領域を通過した光が結像する位置に形成されている。したがって、遮光部111aは、左側の瞳領域を通過した光を選択的に開口部1110aに通過させる。また、開口部1110bは、撮像レンズの左右の瞳領域のうち右側の瞳領域を通過した光が結像する位置に形成されている。したがって、遮光部111aは、右側の瞳領域を通過した光を選択的に開口部1110bに通過させる。本実施形態では、第1の配線111の1つの層が遮光部111aを構成しているが、第1の配線111とは別の構造により遮光部を実現してもよい。
第1の配線層110と第2の配線層210とにまたがってライトパイプ230a,230bが形成されている。ライトパイプ230aは、第1の光電変換部101aと第2の光電変換部201aとの間かつ遮光部111aと第2の光電変換部201aとの間に形成されている。ライトパイプ230bは、第1の光電変換部101bと第2の光電変換部201bとの間かつ遮光部111aと第2の光電変換部201bとの間に形成されている。
ライトパイプ230a,230bは、第1の基板10の主面を横切る方向(例えば、主面にほぼ垂直な方向)に細長い柱状の構造体であり、第1の光電変換部101a,101bと対向する第1の面と、第2の光電変換部201a,201bと対向する第2の面と、第1の面および第2の面に接続された第3の面(側面)とを有する。ライトパイプ230aは、開口部1110aに対応する位置に配置されている。第1の光電変換部101aを透過し、遮光部111aによって選択されて開口部1110aを通過した光がライトパイプ230aの第1の面に入射する。また、ライトパイプ230bは、開口部1110bに対応する位置に配置されている。第1の光電変換部101bを透過し、遮光部111aによって選択されて開口部1110bを通過した光がライトパイプ230bの第1の面に入射する。ライトパイプ230a,230bの第2の面は第2の半導体層200と接触している。
ライトパイプ230a,230bは、第1の光電変換部101a,101bと第2の光電変換部201a,201bとの間に配置された第1の層間絶縁膜113と第2の層間絶縁膜213とに埋め込まれ、第1の層間絶縁膜113および第2の層間絶縁膜213よりも屈折率が高い材料により形成されている。例えば、ライトパイプ230a,230bは、第1の層間絶縁膜113および第2の層間絶縁膜213よりも屈折率が高い誘電体(絶縁体)により形成されている。
ライトパイプ230a,230bは、ライトパイプ230a,230bの第1の面に入射した光を、第2の光電変換部201a,201b側に屈折させる屈折部として機能する。これによって、ライトパイプ230a,230bは、ライトパイプ230a,230bの第1の面に入射した光の方向を、第2の光電変換部201a,201bに対して垂直な方向(第1の基板10または第2の基板20の主面に垂直な方向)により近付ける。
ライトパイプ230a,230bは、第2の光電変換部201a,201b側に屈折した光をライトパイプ230a,230bの側面で全反射させながら第2の光電変換部201a,201bに導く。これによって、ライトパイプ230a,230bは、ライトパイプ230a,230bが設けられていない場合よりも多くの光を第2の光電変換部201a,201bに入射させる。ライトパイプ230a,230bは、ライトパイプ230a,230bの第1の面に入射した光を第2の光電変換部201a,201bに導く光導波路として機能する。
開口部1110a,1110bを通過した、より多くの光をライトパイプ230a,230bに入射させるため、ライトパイプ230a,230bの第1の面が開口部1110a,1110bの近傍に配置されていることが望ましい。また、第1の基板10または第2の基板20の主面に垂直な方向に見た場合、すなわち第1の基板10または第2の基板20を平面的に見た場合に、開口部1110a,1110bとライトパイプ230a,230bとの少なくとも一部が重なることが望ましい。
ライトパイプ230a,230bの第1の面に入射した全ての光が全反射によってライトパイプ230a,230bの内部に閉じ込められて第2の光電変換部201a,201bに導かれることが望ましいが、ライトパイプ230a,230bの第1の面に入射した光の一部がライトパイプ230a,230bの側面を通過して第1の層間絶縁膜113に入射することがありうる。その場合でも、光がライトパイプ230a,230bの第1の面で第2の光電変換部201a,201b側に屈折してライトパイプ230a,230b内を進むことにより、光が第1の配線111と第2の配線211とに遮られずに第2の光電変換部201a,201bに到達する可能性が高まる。
図2は、図1に示す固体撮像装置を平面的に見た状態を示している。図2では、第2の基板20のうち、第1の基板10と接続されている主面側から固体撮像装置を見た状態が示されている。
第2の光電変換部201a,201bは2次元の行列状に配置されている。1つの第2の光電変換部201a,201bに対応して1つのマイクロレンズMLが配置されている。図2では第1の光電変換部101a,101bが省略されているが、図2において第2の光電変換部201a,201bと重なる位置に第1の光電変換部101a,101bが配置されている。
第2の光電変換部201aと重なる位置に、第2の光電変換部201aに対して右側に偏って配置された長方形状の開口部1110aが形成されている。一方、第2の光電変換部201bと重なる位置に、第2の光電変換部201bに対して左側に偏った長方形状の開口部1110bが形成されている。
開口部1110aと開口部1110bとは、それぞれの画素内の平面的な位置が左右対称となるように配置されている。したがって、第2の光電変換部201aと第2の光電変換部201bとでは、撮像レンズの射出瞳において互いに逆方向となる左方向および右方向に偏った左側・右側の瞳領域をそれぞれ通過した光が受光される。固体撮像装置の撮像面内では、開口部1110aと開口部1110bとに代表される開口部が左右対称あるいは上下対称な位置に配置された、対となる複数の画素が2次元状に配置されている。
図2ではライトパイプ230a,230bは省略されている。ライトパイプ230a,230bの第1の面と第2の面との形状は、例えば四角形や六角形等の多角形または円である。ライトパイプ230a,230bの第1の面と第2の面との形状を円にすることによって、ライトパイプ230a,230bの第1の面に入射して第2の光電変換部201a,201bに導かれる光の利用効率を最も高くすることができる。
固体撮像装置に入射した光は、マイクロレンズMLとカラーフィルタCFとを通過し、第1の光電変換部101a,101bに入射する。第1の光電変換部101a,101bに入射した光は、第1の光電変換部101a,101bによって、第1の光電変換部101a,101bに入射した光量に応じた第1の信号に変換される。第1の光電変換部101a,101bで生成された第1の信号は、第1の配線層110における第1の配線111と第1のビア112とを介して、第2の基板20に伝送される。第2の基板20に伝送された第1の信号は、第2の配線層210における第2の配線211と第2のビア212とを介して伝送され、MOSトランジスタ220などで処理される。MOSトランジスタ220などで処理された第1の信号は最終的に撮像信号として固体撮像装置から出力される。
また、第1の光電変換部101a,101bを透過した光のうち、撮像レンズの左側・右側の瞳領域を通過した光は、開口部1110a,1110bを通過する。開口部1110a,1110bを通過した光はライトパイプ230a,230bの第1の面を通過してライトパイプ230a,230bに入射する。ライトパイプ230a,230bの第1の面を通過する際、光が第2の光電変換部201a,201b側に屈折する。
ライトパイプ230a,230bに入射した光の大部分はライトパイプ230a,230bの側面で全反射しながらライトパイプ230a,230b内を進む。さらに、ライトパイプ230a,230b内を進んだ光はライトパイプ230a,230bの第2の面を通過して第2の半導体層200に入射する。第2の半導体層200に入射した光は第2の半導体層200内を進んで第2の光電変換部201a,201bに入射する。
ライトパイプ230a,230bを介して第2の光電変換部201a,201bに入射する光は、撮像レンズの左側・右側の瞳領域を通過した光である。この光は第2の光電変換部201a,201bによって、第2の光電変換部201a,201bに入射した光量に応じた第2の信号に変換される。第2の光電変換部201a,201bで生成された第2の信号は、第2の配線層210における第2の配線211と第2のビア212とを介して伝送され、MOSトランジスタ220などで処理される。MOSトランジスタ220などで処理された第2の信号は焦点検出用の信号となる。
以下では、本実施形態における焦点検出方法を説明する。第2の光電変換部201aは、開口部1110aを通過し、ライトパイプ230aを伝送した光を受光する。すなわち、第2の光電変換部201aは、撮像レンズの射出瞳において左側の瞳領域を通過した光を受光する。一方、第2の光電変換部201bは、開口部1110bを通過し、ライトパイプ230bを伝送した光を受光する。すなわち、第2の光電変換部201bは、撮像レンズの射出瞳において右側の瞳領域を通過した光を受光する。したがって、第2の光電変換部201aと第2の光電変換部201bとでは、撮像レンズの射出瞳において互いに逆方向となる左方向および右方向に偏った瞳領域を通過した光が受光される。
撮像レンズの射出瞳における異なる瞳領域を通過した光に基づいて生成された第2の光電変換部201aの信号群と、第2の光電変換部201bの信号群とが取得される。これらの信号群を用いて、撮像レンズの射出瞳において互いに逆方向となる左方向および右方向に偏った左側・右側の瞳領域を通過した光の位相差を検出することによって、合焦点が算出される。合焦点の算出は、固体撮像装置内で行ってもよいし、固体撮像装置の外部で行ってもよい。
カラーフィルタCFと、第1のビア112と、第2のビア212と、MOSトランジスタ220とは、本実施形態による固体撮像装置の特徴的な構造ではない。また、これらの構造は、本実施形態による固体撮像装置の特徴的な効果を得るために必須の構造ではない。
本実施形態によれば、2次元状に配置された複数の第1の光電変換部101a,101bを有する第1の基板10と、2次元状に配置された複数の第2の光電変換部201a,201bを有し、第1の基板10に積層された第2の基板20と、第1の基板10の表面に配置され、撮像レンズを通過した光を結像するマイクロレンズMLと、第1の光電変換部101a,101bと第2の光電変換部201a,201bとの間に配置され、マイクロレンズMLを通過して第1の光電変換部101a,101bを透過した光のうち撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光を選択する選択部(遮光部111a)と、選択部と第2の光電変換部201a,201bとの間に配置され、選択部によって選択された光を第2の光電変換部201a,201b側に屈折させる屈折部(ライトパイプ230a,230b)と、第1の基板10に配置され、複数の第1の光電変換部101a,101bで生成された撮像信号用の信号を伝送する第1の配線111と、第2の基板20に配置され、複数の第2の光電変換部201a,201bで生成された、位相差検出方式による焦点検出用の信号を伝送する第2の配線211と、を有することを特徴とする固体撮像装置が構成される。
本実施形態では、第1の基板10と第2の基板20との両方に光電変換部が配置されるので、撮像信号用の信号を生成する光電変換部と、焦点検出用の信号を生成する光電変換部とが同一平面に配置される場合と比較して、撮像信号の解像度の低下を低減しつつ位相差検出方式による焦点検出を行うことができる。
また、選択部として機能する遮光部111aと、屈折部として機能するライトパイプ230a,230bとが設けられているため、マイクロレンズMLが光を結像する位置を第1の光電変換部101a,101bにより近付けることが可能になると共に、撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光が第2の光電変換部201a,201bに入射しやすくなる。このため、撮像信号用の信号を生成する第1の光電変換部101a,101bの感度の低下を抑制しつつ、位相差検出方式による焦点検出用の信号を生成する第2の光電変換部201a,201bに入射する光量の低下を抑制し、かつ、精度良く合焦点を検出することが可能な信号を生成することができる。
(変形例)
カラーフィルタCFは、赤、緑、および青以外のフィルタ(例えば、シアン、イエロー、およびマゼンダなどの補色系のフィルタ)であってもよい。また、カラーフィルタCFの配列は、ベイヤー配列以外の配列であってもよい。
本実施形態では、遮光部111aが第1の配線層110の第1層に配置されているが、遮光部111aが第1の配線層110の第2層または第3層に配置されてもよい。
図1に示す固体撮像装置は2枚の基板を有しているが、固体撮像装置が3枚以上の基板を有していてもよい。固体撮像装置が有する複数の基板のうちの隣接する2枚の基板が第1の基板10および第2の基板20と同様の構造を有していればよい。
本実施形態では、撮像レンズの射出瞳における瞳領域を通過した光を選択する方法として、遮光部111aが設けられているが、他の方法を用いてもよい。以下では、撮像レンズの射出瞳における瞳領域を通過した光を選択する他の方法を説明する。
図3は、本変形例による固体撮像装置の構成例を示している。図3では固体撮像装置の断面が示されている。既に説明した部分については説明を省略する。
図3では、遮光部111aは設けられていない。ライトパイプ230a,230bの面のうち、第1の光電変換部101a,101bと対向する第1の面は、撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光が入射する位置に配置されている。すなわち、撮像レンズを通過した光のうち、撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光がライトパイプ230a,230bの第1の面に入射する。図3に示す固体撮像装置では、ライトパイプ230a,230bの第1の面が、マイクロレンズMLを通過して第1の光電変換部101a,101bを透過した光のうち撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光を選択する選択部として機能する。
ライトパイプ230a,230bの第1の面に入射した光の大部分は、前述したように、ライトパイプ230a,230bによって第2の光電変換部201a,201bに導かれる。図3では、遮光部111aが設けられていないため、撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方以外を通過した光も第2の半導体層200に入射する。この光が第2の光電変換部201a,201bに入射しないようにするため、第2の光電変換部201a,201bは、ライトパイプ230a,230bの近傍に形成されている。図3における第2の光電変換部201a,201bの水平方向の幅は、図1における第2の光電変換部201a,201bの水平方向の幅よりも小さい。
図1に示す固体撮像装置では、ライトパイプ230a,230bの第1の面の幅(面積)と第2の面の幅(面積)とが同一であるが、ライトパイプ230a,230bの第1の面の幅と第2の面の幅とが異なっていてもよい。以下では、ライトパイプ230a,230bの第1の面の幅と第2の面の幅とが異なる固体撮像装置の例を説明する。
図4は、本変形例による固体撮像装置の他の構成例を示している。図4では固体撮像装置の断面が示されている。既に説明した部分については説明を省略する。
図4に示す固体撮像装置では、ライトパイプ230a,230bの第1の面の幅が第2の面の幅よりも大きい。これによって、開口部1110a,1110bを通過する際に開口部1110a,1110bによって回折される光がライトパイプ230a,230bに入射しやすくなる。
図1に示す固体撮像装置では、ライトパイプ230a,230bの第1の面が開口部1110a,1110bの近傍に配置されているが、ライトパイプ230a,230bの第1の面が開口部1110a,1110bから離れていてもよい。以下では、ライトパイプ230a,230bの第1の面が開口部1110a,1110bから離れている固体撮像装置の例を説明する。
図5は、本変形例による固体撮像装置の他の構成例を示している。図5では固体撮像装置の断面が示されている。既に説明した部分については説明を省略する。
図5に示す固体撮像装置では、ライトパイプ230a,230bの高さが、図1に示す固体撮像装置におけるライトパイプ230a,230bの高さよりも低い。このため、図5に示す固体撮像装置では、ライトパイプ230a,230bと開口部1110a,1110bとの距離が、図1に示す固体撮像装置におけるライトパイプ230a,230bと開口部1110a,1110bとの距離よりも大きい。
また、図5に示す固体撮像装置では、ライトパイプ230a,230bの第1の面の幅が開口部1110a,1110bの幅よりも大きい。さらに、図5に示す固体撮像装置では、第1の基板10または第2の基板20の主面に垂直な方向に見た場合、すなわち第1の基板10または第2の基板20を平面的に見た場合に、ライトパイプ230aの輪郭線(ライトパイプ230aの第1の面の輪郭線)の内部に開口部1110aが配置されていると共に、ライトパイプ230bの輪郭線(ライトパイプ230bの第1の面の輪郭線)の内部に開口部1110bが配置されている。これによって、開口部1110a,1110bを通過する際に開口部1110a,1110bによって回折される光がライトパイプ230a,230bに入射しやすくなる。
図1に示す固体撮像装置では、ライトパイプ230a,230bの第1の面は平面であるが、ライトパイプ230a,230bの第1の面に曲面が形成されていてもよい。以下では、ライトパイプ230a,230bの第1の面に曲面が形成されている固体撮像装置の例を説明する。
図6は、本変形例による固体撮像装置の他の構成例を示している。図6では固体撮像装置の断面が示されている。既に説明した部分については説明を省略する。
図6に示す固体撮像装置では、ライトパイプ230a,230bの第1の面にマイクロレンズ231a,231bが形成されている。マイクロレンズ231a,231bの表面は、遮光部111aによって選択された光、すなわち開口部1110a,1110bを通過した光を集光する曲率を有する。ライトパイプ230a,230bとマイクロレンズ231a,231bとが、マイクロレンズ231a,231bの表面に入射した光を、第2の光電変換部201a,201b側に屈折させる屈折部として機能する。マイクロレンズ231a,231bが形成されていることによって、ライトパイプ230a,230bに入射する光量が増加する。
ライトパイプ230a,230bの屈折率とマイクロレンズ231a,231bの屈折率とが同一であってもよいし、異なっていてもよい。ライトパイプ230a,230bの第1の面を凸型に加工することによって、マイクロレンズ231a,231bと同様の構造をライトパイプ230a,230bに形成してもよい。
図1に示す固体撮像装置では、第1の基板10の第1の配線層110と第2の基板20の第2の配線層210とが接続されているが、第1の基板10の第1の配線層110と第2の基板20の第2の半導体層200とが接続されていてもよい。以下では、第1の基板10の第1の配線層110と第2の基板20の第2の半導体層200とが接続されている固体撮像装置の例を説明する。
図7は、本変形例による固体撮像装置の他の構成例を示している。図7では固体撮像装置の断面が示されている。既に説明した部分については説明を省略する。
図7に示す固体撮像装置では、第2の基板20は、第2の半導体層200と、第2の配線層210と、第3の半導体層240とを有する。図1に示す固体撮像装置では、第1の基板10の第1の配線層110と第2の基板20の第2の配線層210とが向かい合った状態で第1の基板10と第2の基板20とが接続されているが、図7に示す固体撮像装置では、第1の基板10の第1の配線層110と第2の基板20の第2の半導体層200とが向かい合った状態で第1の基板10と第2の基板20とが接続されている。
第2の半導体層200と第2の配線層210とは、第2の基板20の主面を横切る方向(例えば、主面にほぼ垂直な方向)に重なっている。また、第2の半導体層200と第2の配線層210とは互いに接触している。
第2の配線層210と第3の半導体層240とは、第2の基板20の主面を横切る方向(例えば、主面にほぼ垂直な方向)に重なっている。また、第2の配線層210と第3の半導体層240とは互いに接触している。
第2の半導体層200は、第2の配線層210と接触している第1の面と、第1の配線層110と接触している、第1の面とは反対側の第2の面とを有する。第2の半導体層200の第2の面は第2の基板20の主面の1つを構成する。
第2の配線層210は、第3の半導体層240と接触している第1の面と、第2の半導体層200と接触している、第1の面とは反対側の第2の面とを有する。第3の半導体層240は、第1の面と、第2の配線層210と接触している、第1の面とは反対側の第2の面とを有する。第3の半導体層240の第1の面は第2の基板20の主面の1つを構成する。MOSトランジスタ220のソース領域およびドレイン領域は第3の半導体層240に形成されている。
第1の配線層110の第1のビア112と、第2の配線層210から第2の半導体層200を貫通した第2のビア212とは、第1の基板10と第2の基板20との界面で電気的に接続されている。また、ライトパイプ230a,230bの第2の面は第2の半導体層200の第2の面と接触している。
図7に示す固体撮像装置においても、ライトパイプ230a,230bの第1の面に入射した光の大部分を、ライトパイプ230a,230bによって第2の光電変換部201a,201bに導くことができる。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態を説明する。図8は、本実施形態による固体撮像装置の構成例を示している。図8では固体撮像装置の断面が示されている。既に説明した部分については説明を省略する。
第1の実施形態による固体撮像装置では、第2の光電変換部201a,201bは第1の光電変換部101a,101bと1対1の関係で形成されていたのに対して、第2の実施形態による固体撮像装置では、2つの第1の光電変換部101a,101bに対して、1つの第2の光電変換部201a,201bが形成されている。言い換えると、第1の実施形態による固体撮像装置では、第1の光電変換部101a,101bと第2の光電変換部201a,201bとの数が同一であり、1つの第1の光電変換部101a,101bのみを透過した光が1つの第2の光電変換部201a,201bに入射する。これに対して、第2の実施形態による固体撮像装置では、第1の光電変換部101a,101bの数が第2の光電変換部201a,201bの数の2倍となっており、2つの第1の光電変換部101a,101bを透過した光が1つの第2の光電変換部201a,201bに入射する。
図9は、図8に示す固体撮像装置を平面的に見た状態を示している。図9では、第2の基板20のうち、第1の基板10と接続されている主面側から固体撮像装置を見た状態が示されている。
第2の光電変換部201a,201bは2次元の行列状に配置されている。1つの第2の光電変換部201a,201bに対応して2つのマイクロレンズMLが配置されている。図9では第1の光電変換部101a,101bが省略されているが、1つの第2の光電変換部201a,201bに対応して2つの第1の光電変換部101a,101bが配置されている。第1の基板10または第2の基板20の主面に垂直な方向に見た場合、すなわち第1の基板10または第2の基板20を平面的に見た場合に、複数の第2の光電変換部201a,201bのそれぞれに対して、複数の第1の光電変換部101a,101bのうちの複数が重なる。本実施形態では、1つの第2の光電変換部201aに対して2つの第1の光電変換部101aが重なると共に、1つの第2の光電変換部201bに対して2つの第1の光電変換部101bが重なる。
第2の光電変換部201aと重なる位置に、第2の光電変換部201aに対して右側に偏って配置された長方形状の開口部1110aが形成されている。一方、第2の光電変換部201bと重なる位置に、第2の光電変換部201bに対して左側に偏った長方形状の開口部1110bが形成されている。
開口部1110aと開口部1110bとは、それぞれの画素内の平面的な位置が左右対称となるように配置されている。したがって、第2の光電変換部201aと第2の光電変換部201bとでは、撮像レンズの射出瞳において互いに逆方向となる左方向および右方向に偏った左側・右側の瞳領域をそれぞれ通過した光が受光される。
2つの第1の光電変換部101aを透過してライトパイプ230aを通過した光が1つの第2の光電変換部201aに入射する。また、2つの第1の光電変換部101bを透過してライトパイプ230bを通過した光が1つの第2の光電変換部201bに入射する。
このため、本実施形態では、第1の実施形態と比較して、第2の光電変換部201a,201bに入射する光量が増加する。したがって、第2の光電変換部201a,201bで生成される信号のS/N比が増加する。
(第3の実施形態)
次に、本発明の第3の実施形態を説明する。図10は、本実施形態による固体撮像装置の構成例を示している。図10では固体撮像装置の断面が示されている。既に説明した部分については説明を省略する。
薄膜として形成されている遮光部111aの2つの面のうち、第1の光電変換部101a,101bと対向する面において、開口部1110a,1110bが形成されている領域以外の領域に、第1の光電変換部101a,101bを透過した光のうち撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光以外の光を吸収する光吸収体114が配置されている。言い換えると、光吸収体114は、第1の光電変換部101a,101bを透過した光のうち撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光以外の光の反射を抑制する。光吸収体114は薄膜として形成され、遮光部111aと接触している。
光吸収体114は可視光を吸収する。例えば、光吸収体114は、低屈折率の誘電体と高屈折率の誘電体とをそれぞれ1層ずつ以上積層した誘電体多層膜として形成されている。光吸収体114は1層のみの誘電体で構成されていてもよい。
遮光部111aはアルミニウムまたは銅等の金属で構成されており、可視光領域において高い反射特性を持つ。第1の実施形態では、遮光部111aの上面に光吸収体が設けられていないため、遮光部111aの表面で反射した光が第1の配線層110と第1の半導体層100との界面や第1の半導体層100とカラーフィルタCFとの界面等で反射することによって多重反射が発生する可能性がある。
本来、開口部1110aに対応する位置に形成された第2の光電変換部201aは、撮像レンズの射出瞳において左側の瞳領域を通過した光を受光する。しかし、遮光部111aの表面で反射し上記のように多重反射した光がライトパイプ230aに入射し、第2の光電変換部201aに入射する可能性がある。すなわち、撮像レンズの射出瞳において右側の瞳領域を通過した光を第2の光電変換部201aが受光する恐れがある。同様のことが、開口部1110bに対応する位置に形成された第2の光電変換部201bでもいえる。
本実施形態では、可視光を吸収する光吸収体114を、第1の光電変換部101a,101bと対向する遮光部111aの面に設けることによって、多重反射の原因となる光を遮光部111aに吸収させることができる。これによって、撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光がライトパイプ230a,230bに入射しやすくなる。
したがって、第2の光電変換部201a,201bが、撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光を受光しやすくなると共に、それ以外の光を受光しにくくなる。これによって、第2の光電変換部201a,201bで生成される第2の信号に基づく焦点検出用の信号を用いて、合焦点を精度良く検出することができる。
(第4の実施形態)
次に、本発明の第4の実施形態を説明する。本実施形態では、第1の実施形態、第2の実施形態、第3の実施形態のいずれかによる固体撮像装置を搭載した撮像装置について説明する。図11は、本実施形態による撮像装置の構成例を示している。本実施形態による撮像装置は、撮像機能を有する電子機器であればよく、デジタルカメラのほか、デジタルビデオカメラ、内視鏡等であってもよい。
図11に示す撮像装置7は、固体撮像装置1と、レンズユニット部2と、画像信号処理装置3と、記録装置4と、カメラ制御装置5と、表示装置6とを有する。
レンズユニット部2は、カメラ制御装置5によってズーム、フォーカス、絞りなどが駆動制御され、被写体からの光を固体撮像装置1に結像させる。固体撮像装置1は、カメラ制御装置5によって駆動制御され、レンズユニット部2を介して固体撮像装置1に入射した光を電気信号に変換し、入射光量に応じた撮像信号と焦点検出用の信号とを画像信号処理装置3に出力する。
画像信号処理装置3は、固体撮像装置1から入力された撮像信号に対して、信号の増幅、画像データへの変換および各種の補正を行い、その後、画像データの圧縮などの処理を行う。また、画像信号処理装置3は、固体撮像装置1から入力された焦点検出用の信号を用いて、合焦点を算出する。固体撮像装置1が合焦点の算出を行ってもよい。画像信号処理装置3は、各処理における画像データ等の一時記憶手段として図示しないメモリを利用する。
記録装置4は、半導体メモリ等の着脱可能な記録媒体であり、画像データの記録または読み出しを行う。表示装置6は、画像信号処理装置3によって処理された画像データ、または記録装置4から読み出された画像データに基づく画像を表示する液晶などの表示装置である。カメラ制御装置5は、撮像装置7の全体の制御を行う制御装置である。
本実施形態によれば、第1の実施形態、第2の実施形態、第3の実施形態のいずれかによる固体撮像装置1を有することを特徴とする撮像装置7が構成される。
本実施形態では、撮像信号用の信号を生成する第1の光電変換部101a,101bの感度の低下を抑制しつつ、位相差検出方式による焦点検出用の信号を生成する第2の光電変換部201a,201bに入射する光量の低下を抑制することができる。したがって、撮像信号の解像度の低下を抑制しつつ合焦点の検出精度の低下を抑制することができる。
以上、図面を参照して本発明の実施形態について詳述してきたが、具体的な構成は上記の実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
1 固体撮像装置
2 レンズユニット部
3 画像信号処理装置
4 記録装置
5 カメラ制御装置
6 表示装置
7 撮像装置
10 第1の基板
20 第2の基板
100,200 第1の半導体層
101a,101b 第1の光電変換部
110 第1の配線層
111 第1の配線
111a 遮光部
112 第1のビア
113 第1の層間絶縁膜
114 光吸収体
200 第2の半導体層
201a,201b 第2の光電変換部
210 第2の配線層
211 第2の配線
212 第2のビア
213 第2の層間絶縁膜
220 MOSトランジスタ
230a,230b ライトパイプ
231a,231b,ML マイクロレンズ
240 第3の半導体層
CF カラーフィルタ

Claims (10)

  1. 2次元状に配置された複数の第1の光電変換部を有する第1の基板と、
    2次元状に配置された複数の第2の光電変換部を有し、前記第1の基板に積層された第2の基板と、
    前記第1の基板の表面に配置され、撮像レンズを通過した光を結像するマイクロレンズと、
    前記第1の光電変換部と前記第2の光電変換部との間に配置され、前記マイクロレンズを通過して前記第1の光電変換部を透過した光のうち前記撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光を選択する選択部と、
    前記選択部と前記第2の光電変換部との間に配置され、前記選択部によって選択された光を前記第2の光電変換部側に屈折させる屈折部と、
    前記第1の基板に配置され、前記複数の第1の光電変換部で生成された撮像信号用の信号を伝送する第1の配線と、
    前記第2の基板に配置され、前記複数の第2の光電変換部で生成された、位相差検出方式による焦点検出用の信号を伝送する第2の配線と、
    を有することを特徴とする固体撮像装置。
  2. 前記第1の光電変換部と前記第2の光電変換部との間に配置された層間絶縁膜をさらに有し、
    前記屈折部は、前記層間絶縁膜に埋め込まれ、前記層間絶縁膜よりも屈折率が高い材料により形成されている
    ことを特徴とする請求項1に係る固体撮像装置。
  3. 前記屈折部は、前記第2の光電変換部側に屈折した光を全反射させながら前記第2の光電変換部に導くライトパイプであることを特徴とする請求項2に係る固体撮像装置。
  4. 前記選択部は、前記撮像レンズの前記2つの瞳領域の一方のみを通過した光が通過する位置に形成された開口部を有する遮光部を有することを特徴とする請求項1に係る固体撮像装置。
  5. 前記屈折部の、前記第1の光電変換部と対向する面が前記開口部の近傍に配置されていることを特徴とする請求項4に係る固体撮像装置。
  6. 前記第1の基板または前記第2の基板の主面に垂直な方向に見た場合に、前記屈折部の輪郭線の内部に前記開口部が配置されていることを特徴とする請求項4に係る固体撮像装置。
  7. 前記選択部の、前記第1の光電変換部と対向する面において、前記開口部が形成されている領域以外の領域に、前記第1の光電変換部を透過した光のうち前記撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光以外の光を吸収する光吸収体が配置されていることを特徴とする請求項4に係る固体撮像装置。
  8. 前記屈折部の、前記第1の光電変換部と対向する面は、前記選択部によって選択された光を集光する曲率を有することを特徴とする請求項1に係る固体撮像装置。
  9. 前記第1の基板または前記第2の基板の主面に垂直な方向に見た場合に、前記複数の第2の光電変換部のそれぞれに対して、前記複数の第1の光電変換部のうちの複数が重なることを特徴とする請求項1に係る固体撮像装置。
  10. 請求項1に係る固体撮像装置を有することを特徴とする撮像装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017168971A (ja) * 2016-03-15 2017-09-21 キヤノン株式会社 撮像素子、撮像装置、測距装置及び移動体
CN108292666A (zh) * 2015-12-21 2018-07-17 高通股份有限公司 具有经扩展光谱响应的固态图像传感器
JPWO2017057277A1 (ja) * 2015-09-30 2018-07-26 株式会社ニコン 撮像素子および撮像装置
JPWO2017057278A1 (ja) * 2015-09-30 2018-07-26 株式会社ニコン 撮像素子および撮像装置
WO2021005961A1 (ja) * 2019-07-11 2021-01-14 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像素子および撮像装置

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015065270A (ja) * 2013-09-25 2015-04-09 ソニー株式会社 固体撮像装置およびその製造方法、並びに電子機器
JP2015195235A (ja) * 2014-03-31 2015-11-05 ソニー株式会社 固体撮像素子、電子機器、および撮像方法
KR102268712B1 (ko) 2014-06-23 2021-06-28 삼성전자주식회사 자동 초점 이미지 센서 및 이를 포함하는 디지털 영상 처리 장치
TWI572024B (zh) * 2015-07-06 2017-02-21 力晶科技股份有限公司 半導體元件及其製造方法
JP2017123380A (ja) * 2016-01-06 2017-07-13 ソニー株式会社 固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器
US11037966B2 (en) * 2017-09-22 2021-06-15 Qualcomm Incorporated Solid state image sensor with on-chip filter and extended spectral response
US10608036B2 (en) * 2017-10-17 2020-03-31 Qualcomm Incorporated Metal mesh light pipe for transporting light in an image sensor
CN110690237B (zh) * 2019-09-29 2022-09-02 Oppo广东移动通信有限公司 一种图像传感器、信号处理方法及存储介质

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008251985A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Fujifilm Corp 固体撮像装置
JP2010160314A (ja) * 2009-01-08 2010-07-22 Sony Corp 撮像素子および撮像装置
JP2013157442A (ja) * 2012-01-30 2013-08-15 Nikon Corp 撮像素子および焦点検出装置
KR20130099670A (ko) * 2012-02-29 2013-09-06 조선대학교산학협력단 전기자동차용 고강도 경량 서스펜션 허브 제조방법
JP2013187475A (ja) * 2012-03-09 2013-09-19 Olympus Corp 固体撮像装置およびカメラシステム
WO2014017314A1 (ja) * 2012-07-24 2014-01-30 ソニー株式会社 撮像素子、電子機器、並びに、情報処理装置
JP2014039078A (ja) * 2012-08-10 2014-02-27 Olympus Corp 固体撮像装置および撮像装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7646943B1 (en) * 2008-09-04 2010-01-12 Zena Technologies, Inc. Optical waveguides in image sensors
JP5197823B2 (ja) * 2011-02-09 2013-05-15 キヤノン株式会社 光電変換装置
KR101334219B1 (ko) * 2013-08-22 2013-11-29 (주)실리콘화일 3차원 적층구조의 이미지센서

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008251985A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Fujifilm Corp 固体撮像装置
JP2010160314A (ja) * 2009-01-08 2010-07-22 Sony Corp 撮像素子および撮像装置
JP2013157442A (ja) * 2012-01-30 2013-08-15 Nikon Corp 撮像素子および焦点検出装置
KR20130099670A (ko) * 2012-02-29 2013-09-06 조선대학교산학협력단 전기자동차용 고강도 경량 서스펜션 허브 제조방법
JP2013187475A (ja) * 2012-03-09 2013-09-19 Olympus Corp 固体撮像装置およびカメラシステム
WO2014017314A1 (ja) * 2012-07-24 2014-01-30 ソニー株式会社 撮像素子、電子機器、並びに、情報処理装置
JP2014039078A (ja) * 2012-08-10 2014-02-27 Olympus Corp 固体撮像装置および撮像装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017057277A1 (ja) * 2015-09-30 2018-07-26 株式会社ニコン 撮像素子および撮像装置
JPWO2017057278A1 (ja) * 2015-09-30 2018-07-26 株式会社ニコン 撮像素子および撮像装置
JP2021044572A (ja) * 2015-09-30 2021-03-18 株式会社ニコン 撮像素子および撮像装置
JP2021044571A (ja) * 2015-09-30 2021-03-18 株式会社ニコン 撮像素子
CN108292666A (zh) * 2015-12-21 2018-07-17 高通股份有限公司 具有经扩展光谱响应的固态图像传感器
CN108292666B (zh) * 2015-12-21 2022-10-28 高通股份有限公司 具有经扩展光谱响应的固态图像传感器
JP2017168971A (ja) * 2016-03-15 2017-09-21 キヤノン株式会社 撮像素子、撮像装置、測距装置及び移動体
WO2021005961A1 (ja) * 2019-07-11 2021-01-14 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像素子および撮像装置

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