JP2015149350A - 固体撮像装置および撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置および撮像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015149350A JP2015149350A JP2014020479A JP2014020479A JP2015149350A JP 2015149350 A JP2015149350 A JP 2015149350A JP 2014020479 A JP2014020479 A JP 2014020479A JP 2014020479 A JP2014020479 A JP 2014020479A JP 2015149350 A JP2015149350 A JP 2015149350A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoelectric conversion
- light
- substrate
- solid
- imaging device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000007787 solid Substances 0.000 title abstract 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 224
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 223
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims abstract description 94
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 59
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 132
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 23
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 7
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 abstract 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 141
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 64
- 239000010408 film Substances 0.000 description 21
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 11
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/1462—Coatings
- H01L27/14623—Optical shielding
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B3/00—Simple or compound lenses
- G02B3/0006—Arrays
- G02B3/0037—Arrays characterized by the distribution or form of lenses
- G02B3/0056—Arrays characterized by the distribution or form of lenses arranged along two different directions in a plane, e.g. honeycomb arrangement of lenses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/1462—Coatings
- H01L27/14621—Colour filter arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14625—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L27/14627—Microlenses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14625—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L27/14629—Reflectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14634—Assemblies, i.e. Hybrid structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14645—Colour imagers
- H01L27/14647—Multicolour imagers having a stacked pixel-element structure, e.g. npn, npnpn or MQW elements
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/703—SSIS architectures incorporating pixels for producing signals other than image signals
- H04N25/704—Pixels specially adapted for focusing, e.g. phase difference pixel sets
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
- H04N23/67—Focus control based on electronic image sensor signals
- H04N23/672—Focus control based on electronic image sensor signals based on the phase difference signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
Description
まず、本発明の第1の実施形態を説明する。図1は、本実施形態による固体撮像装置の構成例を示している。図1では固体撮像装置の断面が示されている。図1に示す固体撮像装置は、第1の基板10と、第1の基板10に積層された第2の基板20と、第1の基板10の表面に形成されたマイクロレンズMLと、カラーフィルタCFとを有する。
カラーフィルタCFは、赤、緑、および青以外のフィルタ(例えば、シアン、イエロー、およびマゼンダなどの補色系のフィルタ)であってもよい。また、カラーフィルタCFの配列は、ベイヤー配列以外の配列であってもよい。
次に、本発明の第2の実施形態を説明する。図8は、本実施形態による固体撮像装置の構成例を示している。図8では固体撮像装置の断面が示されている。既に説明した部分については説明を省略する。
次に、本発明の第3の実施形態を説明する。図10は、本実施形態による固体撮像装置の構成例を示している。図10では固体撮像装置の断面が示されている。既に説明した部分については説明を省略する。
次に、本発明の第4の実施形態を説明する。本実施形態では、第1の実施形態、第2の実施形態、第3の実施形態のいずれかによる固体撮像装置を搭載した撮像装置について説明する。図11は、本実施形態による撮像装置の構成例を示している。本実施形態による撮像装置は、撮像機能を有する電子機器であればよく、デジタルカメラのほか、デジタルビデオカメラ、内視鏡等であってもよい。
2 レンズユニット部
3 画像信号処理装置
4 記録装置
5 カメラ制御装置
6 表示装置
7 撮像装置
10 第1の基板
20 第2の基板
100,200 第1の半導体層
101a,101b 第1の光電変換部
110 第1の配線層
111 第1の配線
111a 遮光部
112 第1のビア
113 第1の層間絶縁膜
114 光吸収体
200 第2の半導体層
201a,201b 第2の光電変換部
210 第2の配線層
211 第2の配線
212 第2のビア
213 第2の層間絶縁膜
220 MOSトランジスタ
230a,230b ライトパイプ
231a,231b,ML マイクロレンズ
240 第3の半導体層
CF カラーフィルタ
Claims (10)
- 2次元状に配置された複数の第1の光電変換部を有する第1の基板と、
2次元状に配置された複数の第2の光電変換部を有し、前記第1の基板に積層された第2の基板と、
前記第1の基板の表面に配置され、撮像レンズを通過した光を結像するマイクロレンズと、
前記第1の光電変換部と前記第2の光電変換部との間に配置され、前記マイクロレンズを通過して前記第1の光電変換部を透過した光のうち前記撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光を選択する選択部と、
前記選択部と前記第2の光電変換部との間に配置され、前記選択部によって選択された光を前記第2の光電変換部側に屈折させる屈折部と、
前記第1の基板に配置され、前記複数の第1の光電変換部で生成された撮像信号用の信号を伝送する第1の配線と、
前記第2の基板に配置され、前記複数の第2の光電変換部で生成された、位相差検出方式による焦点検出用の信号を伝送する第2の配線と、
を有することを特徴とする固体撮像装置。 - 前記第1の光電変換部と前記第2の光電変換部との間に配置された層間絶縁膜をさらに有し、
前記屈折部は、前記層間絶縁膜に埋め込まれ、前記層間絶縁膜よりも屈折率が高い材料により形成されている
ことを特徴とする請求項1に係る固体撮像装置。 - 前記屈折部は、前記第2の光電変換部側に屈折した光を全反射させながら前記第2の光電変換部に導くライトパイプであることを特徴とする請求項2に係る固体撮像装置。
- 前記選択部は、前記撮像レンズの前記2つの瞳領域の一方のみを通過した光が通過する位置に形成された開口部を有する遮光部を有することを特徴とする請求項1に係る固体撮像装置。
- 前記屈折部の、前記第1の光電変換部と対向する面が前記開口部の近傍に配置されていることを特徴とする請求項4に係る固体撮像装置。
- 前記第1の基板または前記第2の基板の主面に垂直な方向に見た場合に、前記屈折部の輪郭線の内部に前記開口部が配置されていることを特徴とする請求項4に係る固体撮像装置。
- 前記選択部の、前記第1の光電変換部と対向する面において、前記開口部が形成されている領域以外の領域に、前記第1の光電変換部を透過した光のうち前記撮像レンズの射出瞳における2つの瞳領域の一方のみを通過した光以外の光を吸収する光吸収体が配置されていることを特徴とする請求項4に係る固体撮像装置。
- 前記屈折部の、前記第1の光電変換部と対向する面は、前記選択部によって選択された光を集光する曲率を有することを特徴とする請求項1に係る固体撮像装置。
- 前記第1の基板または前記第2の基板の主面に垂直な方向に見た場合に、前記複数の第2の光電変換部のそれぞれに対して、前記複数の第1の光電変換部のうちの複数が重なることを特徴とする請求項1に係る固体撮像装置。
- 請求項1に係る固体撮像装置を有することを特徴とする撮像装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014020479A JP6196911B2 (ja) | 2014-02-05 | 2014-02-05 | 固体撮像装置および撮像装置 |
PCT/JP2015/053203 WO2015119186A1 (ja) | 2014-02-05 | 2015-02-05 | 固体撮像装置および撮像装置 |
US15/206,696 US20160322412A1 (en) | 2014-02-05 | 2016-07-11 | Solid-state imaging device and imaging apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014020479A JP6196911B2 (ja) | 2014-02-05 | 2014-02-05 | 固体撮像装置および撮像装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015149350A true JP2015149350A (ja) | 2015-08-20 |
JP2015149350A5 JP2015149350A5 (ja) | 2017-03-09 |
JP6196911B2 JP6196911B2 (ja) | 2017-09-13 |
Family
ID=53777987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014020479A Expired - Fee Related JP6196911B2 (ja) | 2014-02-05 | 2014-02-05 | 固体撮像装置および撮像装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20160322412A1 (ja) |
JP (1) | JP6196911B2 (ja) |
WO (1) | WO2015119186A1 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017168971A (ja) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | キヤノン株式会社 | 撮像素子、撮像装置、測距装置及び移動体 |
CN108292666A (zh) * | 2015-12-21 | 2018-07-17 | 高通股份有限公司 | 具有经扩展光谱响应的固态图像传感器 |
JPWO2017057277A1 (ja) * | 2015-09-30 | 2018-07-26 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JPWO2017057278A1 (ja) * | 2015-09-30 | 2018-07-26 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
WO2021005961A1 (ja) * | 2019-07-11 | 2021-01-14 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子および撮像装置 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015065270A (ja) * | 2013-09-25 | 2015-04-09 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置およびその製造方法、並びに電子機器 |
JP2015195235A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-05 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子、電子機器、および撮像方法 |
KR102268712B1 (ko) | 2014-06-23 | 2021-06-28 | 삼성전자주식회사 | 자동 초점 이미지 센서 및 이를 포함하는 디지털 영상 처리 장치 |
TWI572024B (zh) * | 2015-07-06 | 2017-02-21 | 力晶科技股份有限公司 | 半導體元件及其製造方法 |
JP2017123380A (ja) * | 2016-01-06 | 2017-07-13 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器 |
US11037966B2 (en) * | 2017-09-22 | 2021-06-15 | Qualcomm Incorporated | Solid state image sensor with on-chip filter and extended spectral response |
US10608036B2 (en) * | 2017-10-17 | 2020-03-31 | Qualcomm Incorporated | Metal mesh light pipe for transporting light in an image sensor |
CN110690237B (zh) * | 2019-09-29 | 2022-09-02 | Oppo广东移动通信有限公司 | 一种图像传感器、信号处理方法及存储介质 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008251985A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Fujifilm Corp | 固体撮像装置 |
JP2010160314A (ja) * | 2009-01-08 | 2010-07-22 | Sony Corp | 撮像素子および撮像装置 |
JP2013157442A (ja) * | 2012-01-30 | 2013-08-15 | Nikon Corp | 撮像素子および焦点検出装置 |
KR20130099670A (ko) * | 2012-02-29 | 2013-09-06 | 조선대학교산학협력단 | 전기자동차용 고강도 경량 서스펜션 허브 제조방법 |
JP2013187475A (ja) * | 2012-03-09 | 2013-09-19 | Olympus Corp | 固体撮像装置およびカメラシステム |
WO2014017314A1 (ja) * | 2012-07-24 | 2014-01-30 | ソニー株式会社 | 撮像素子、電子機器、並びに、情報処理装置 |
JP2014039078A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-27 | Olympus Corp | 固体撮像装置および撮像装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7646943B1 (en) * | 2008-09-04 | 2010-01-12 | Zena Technologies, Inc. | Optical waveguides in image sensors |
JP5197823B2 (ja) * | 2011-02-09 | 2013-05-15 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
KR101334219B1 (ko) * | 2013-08-22 | 2013-11-29 | (주)실리콘화일 | 3차원 적층구조의 이미지센서 |
-
2014
- 2014-02-05 JP JP2014020479A patent/JP6196911B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2015
- 2015-02-05 WO PCT/JP2015/053203 patent/WO2015119186A1/ja active Application Filing
-
2016
- 2016-07-11 US US15/206,696 patent/US20160322412A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008251985A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Fujifilm Corp | 固体撮像装置 |
JP2010160314A (ja) * | 2009-01-08 | 2010-07-22 | Sony Corp | 撮像素子および撮像装置 |
JP2013157442A (ja) * | 2012-01-30 | 2013-08-15 | Nikon Corp | 撮像素子および焦点検出装置 |
KR20130099670A (ko) * | 2012-02-29 | 2013-09-06 | 조선대학교산학협력단 | 전기자동차용 고강도 경량 서스펜션 허브 제조방법 |
JP2013187475A (ja) * | 2012-03-09 | 2013-09-19 | Olympus Corp | 固体撮像装置およびカメラシステム |
WO2014017314A1 (ja) * | 2012-07-24 | 2014-01-30 | ソニー株式会社 | 撮像素子、電子機器、並びに、情報処理装置 |
JP2014039078A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-27 | Olympus Corp | 固体撮像装置および撮像装置 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2017057277A1 (ja) * | 2015-09-30 | 2018-07-26 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JPWO2017057278A1 (ja) * | 2015-09-30 | 2018-07-26 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JP2021044572A (ja) * | 2015-09-30 | 2021-03-18 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JP2021044571A (ja) * | 2015-09-30 | 2021-03-18 | 株式会社ニコン | 撮像素子 |
CN108292666A (zh) * | 2015-12-21 | 2018-07-17 | 高通股份有限公司 | 具有经扩展光谱响应的固态图像传感器 |
CN108292666B (zh) * | 2015-12-21 | 2022-10-28 | 高通股份有限公司 | 具有经扩展光谱响应的固态图像传感器 |
JP2017168971A (ja) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | キヤノン株式会社 | 撮像素子、撮像装置、測距装置及び移動体 |
WO2021005961A1 (ja) * | 2019-07-11 | 2021-01-14 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子および撮像装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20160322412A1 (en) | 2016-11-03 |
JP6196911B2 (ja) | 2017-09-13 |
WO2015119186A1 (ja) | 2015-08-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6196911B2 (ja) | 固体撮像装置および撮像装置 | |
JP6198860B2 (ja) | イメージセンサ | |
KR102499585B1 (ko) | 고체 촬상 소자 및 그 제조 방법, 및 전자 기기 | |
JP6173259B2 (ja) | 光電変換装置および撮像システム | |
KR101373132B1 (ko) | 마이크로 렌즈를 이용한 위상차 검출 픽셀 | |
JP5538553B2 (ja) | 固体撮像素子及び撮像装置 | |
US9261769B2 (en) | Imaging apparatus and imaging system | |
JP6088610B2 (ja) | イメージセンサ | |
JP2015230355A (ja) | 撮像装置および撮像素子 | |
JP2011216896A (ja) | マイクロレンズ付き固体イメージセンサ及び非テレセントリック撮像レンズを備えた光学系 | |
JP2015128131A (ja) | 固体撮像素子および電子機器 | |
SG179551A1 (en) | Optimized light guide array for an image sensor | |
JP2015153975A (ja) | 固体撮像素子、固体撮像素子の製造方法および電子機器 | |
JP2017059589A (ja) | 固体撮像素子及び撮像装置 | |
US9653501B2 (en) | Image sensor including color filter and method of manufacturing the image sensor | |
JP2013157442A (ja) | 撮像素子および焦点検出装置 | |
JP2017005145A (ja) | 固体撮像素子 | |
JP5713971B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JPWO2016103365A1 (ja) | 固体撮像装置および撮像装置 | |
US10276612B2 (en) | Photoelectric conversion apparatus and image pickup system | |
JP2014022649A (ja) | 固体撮像素子、撮像装置、及び電子機器 | |
WO2016051594A1 (ja) | 固体撮像装置および撮像装置 | |
JP6218687B2 (ja) | 固体撮像装置および撮像装置 | |
JP2012211942A (ja) | 固体撮像素子及び撮像装置 | |
JPWO2016111004A1 (ja) | 固体撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170131 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170131 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20170201 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170606 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170728 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20170731 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170815 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170821 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6196911 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |