JP2015141177A - グロー放電分光分析装置、試料支持体及び試料押圧電極 - Google Patents

グロー放電分光分析装置、試料支持体及び試料押圧電極 Download PDF

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Abstract

【課題】試料支持体を交換せずとも、平面状の試料、分析面が凸状又は凹状に湾曲した試料を支持して試料支持体の孔部を密閉することができ、該試料の分光分析を行うことができるグロー放電分光分析装置を提供する。
【解決手段】グロー放電分光分析装置1は、筒状電極32cと、該筒状電極32cを同軸的に収容した筒部31cを有し、該筒部31cの端部に試料Sを支持する試料支持体31と、試料Sを筒部31cの端部に押圧し、筒状電極32c及び試料S間でグロー放電を発生させるための電力を供給する試料押圧電極4とを備え、筒状電極32c及び試料S間で発生したグロー放電による発光を分析する。前記端部の外周側及び内周縁が湾曲しており、試料押圧電極4は試料Sに当接する棒状電極部43を有する。
【選択図】図2

Description

本発明は、平面状の試料及び湾曲した試料の分析面を、グロー放電によって生成したイオンによってスパッタリングし、分析面から叩き出された原子の発光を分光分析するグロー放電分光分析装置、試料支持体及び試料押圧電極に関する。
試料の深さ方向における元素分析にグロー放電分光分析装置が利用されている。グロー放電分光分析装置には、例えば、マーカス型のグロー放電管が設けられている。グロー放電管は、円板の平面部分に形成された孔部を有し、該孔部を封止するようにして試料を支持する試料支持体を備える。試料支持体の孔部はグロー放電管の内部空間に通じており、該孔部には、試料に対向するように筒状電極が配されている。また、グロー放電管は、試料を前記孔部に押圧する試料押圧電極を備える。試料支持体は、前記孔部に押圧された試料によって密閉される。そして、該筒状電極と、試料との間にはアルゴン等の不活性ガスが供給され、試料押圧電極には高周波電圧が印加される。試料押圧電極によって高周波電圧が印加された試料と、筒状電極との間には、グロー放電が発生する。グロー放電によって生成したイオンは試料の分析面に衝突し、該分析面の原子がたたき出される。該原子は、プラズマ中で励起し、基底状態に戻る際、元素固有の波長を有する光(以下、グロー放電光という)を放射する。グロー放電分光分析装置は、グロー放電光を分光器にて分光分析し、前記分析面の元素を同定する。
ところが、従来のグロー放電分光分析装置においては、試料支持体の平面部分に形成された孔部に試料を押圧することによって該孔部を密閉する必要があるため、分析対象の試料の形状は平面状のものに限られていた。
特許文献1には、斯かる問題を解決し、湾曲した試料の分光分析が可能なグロー放電分光分析装置が開示されている。特許文献1に係るグロー放電分光分析装置は、試料支持体の孔部の外周に環状シール部材を保持する環状溝と、環状溝の周方向外側に延在する湾曲した凸部とを備える。特許文献1によれば、試料が凹状に湾曲した分析面を有していても、該分析面を凸部に沿わせるようにして試料を試料支持体に支持させることによって、孔部を密閉し、凹状の分析面を有する試料を分光分析することができる。
特開2010−236979号公報
しかしながら、特許文献1に係るグロー放電分光分析装置においては、凹状の分析面を有する試料を分光分析することができるが、平面状の分析面を有する試料及び凸状に湾曲した分析面を有する試料を分光分析することができないという問題があった。このため、試料の分析面の形状に応じて、試料支持体を交換する必要があった。
また、分光分析の定量値を得るためには検量線用の標準試料を分光分析する必要がある。ところが、標準試料は平面状であるため、湾曲した試料を定量的に分光分析するためには、検量線作成用の試料支持体と、湾曲した試料用の試料支持体とを用意し、都度交換する必要があった。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、試料支持体を交換せずとも、平面状の試料、分析面が凸状又は凹状に湾曲した試料を支持して試料支持体の孔部を密閉することができ、該試料の分光分析を行うことができるグロー放電分光分析装置、並びに該グロー放電分光分析装置を構成する試料支持体及び試料押圧電極を提供することにある。
本発明に係るグロー放電分光分析装置は、筒状電極と、該筒状電極を同軸的に収容した筒部を有し、該筒部の端部に試料を支持する試料支持体と、前記試料を前記筒部の端部に押圧し、前記筒状電極及び前記試料間でグロー放電を発生させるための電力を供給する試料押圧電極とを備え、前記筒状電極及び前記試料間で発生したグロー放電による発光を分析するグロー放電分光分析装置において、前記端部の外周側及び内周縁が湾曲しており、前記試料押圧電極は前記試料に当接する棒状電極部を有する。
本発明にあっては、湾曲した試料の凹状の分析面が筒部の端部に押圧された場合、試料の分析面と、筒部の外周側の湾曲部分とが当接し、筒部の開口部が密閉される。
湾曲した試料の凸状の分析面が筒部の端部に押圧された場合、試料の分析面と、筒部の内周縁の湾曲部分とが当接し、筒部の開口部が密閉される。
平面状の試料の分析面が筒部の端部に押圧された場合、筒部の端部と、試料の分析面とが当接し、筒部の開口部が密閉される。つまり、前記端部の外周側の湾曲部分と、内周縁の湾曲部分との間の部分が試料の分析面に当接し、筒部の開口部が密閉される。
本発明に係るグロー放電分光分析装置は、前記筒部は、前記端部の外周側の湾曲部分及び内周縁の湾曲部分の間に環状平端面を有する。
本発明にあっては、平面状の試料の分析面が端部に押圧された場合、試料の分析面と、筒部の環状平端面とが当接し、筒部の開口部が密閉される。
本発明に係るグロー放電分光分析装置は、前記筒部の端部に外嵌され、該端部及び前記試料間をシールするシール部材を備える。
本発明にあっては、筒部の端部及び試料間をシールするシール部材によって、より効果的に筒部の開口部が密閉される。
本発明に係るグロー放電分光分析装置は、前記試料支持体は円錐筒部を備え、前記筒部は、前記円錐筒部の頂点部分から突出している。
本発明にあっては、筒部が円錐筒部の頂点部分に設けられているため、平板に筒部を設ける場合に比べて、筒部に支持させることができる試料の形状、大きさ等の自由度が高い。
本発明に係るグロー放電分光分析装置は、前記棒状電極部の端部は球面状をなす。
本発明にあっては、棒状電極部の端部は球面状であるため、試料の湾曲している部分に棒状電極部の端部を当接させ、該試料を筒部に押圧することができる。
本発明に係るグロー放電分光分析装置は、前記棒状電極部の前記筒部側の頂点部分は平面状をなす。
本発明にあっては、棒状電極部の平面状の頂点部分を試料に当接させることによって、試料と、試料押圧電極とを確実に接続し、グロー放電を発生させるための電圧を試料に印加することができる。頂点部分が平面状であるため、試料から棒状電極部に熱が伝導し易く、効率的に放熱することができる。また、試料支持体の筒部と、棒状電極部との間に挟まれた試料がずれること無く、該試料を確実に保持することができる。
本発明に係るグロー放電分光分析装置は、電力を供給する給電端子と、該給電端子が着脱自在に接続される平板電極とを備え、前記試料押圧電極は、前記平板電極に外嵌される導電性の外嵌部材と、該外嵌部材から前記筒状電極側へ突出しており、前記給電端子が着脱自在に接続される導電性の端子接続部とを備え、前記棒状電極部は前記端子接続部に設けられている。
本発明にあっては、平面状の試料を分光分析するための平板電極に外嵌部材を外嵌させることによって、棒状電極部を有する試料押圧電極を平板電極に取り付けることが可能である。また、棒状電極部が設けられた端子接続部に給電端子を着脱自在に接続することができる。
本発明に係るグロー放電分光分析装置は、前記端子接続部は、前記棒状電極部が着脱自在に挿入され、前記端子接続部に電気的に接続される電極挿入穴を有する。
本発明にあっては、端子接続部の電極挿入穴に棒状電極部を挿入することによって、棒状電極部を端子接続部に取り付けることができる。従って、棒状電極部を簡易に取り替えることができる。
本発明に係るグロー放電分光分析装置は、前記平板電極は円盤状をなし、水冷するための給水管及び排水管が該平板電極の側部に接続されており、前記外嵌部材は、前記平板電極に外嵌される円筒部を有し、該円筒部には前記給水管及び排水管を避けて前記平板電極に外嵌するための凹部が形成されている。
本発明にあっては、給水管及び排水管が接続された平板電極であっても、該平板電極に外嵌部材を外嵌させ、棒状電極部を取り付けることができる。また、外嵌部材を平板電極によって間接的に冷却することができる。
本発明に係る試料支持体は、筒状電極を同軸的に収容する筒部を有し、該筒部の端部に試料を支持する試料支持体において、前記端部の外周側及び内周縁が湾曲している。
本発明にあっては、湾曲した試料の凹状の分析面が筒部の端部に押圧された場合、試料の分析面と、筒部の外周側の湾曲部分とが当接し、筒部の開口部が密閉される。
湾曲した試料の凸状の分析面が筒部の端部に押圧された場合、試料の分析面と、筒部の内周縁の湾曲部分とが当接し、筒部の開口部が密閉される。
平面状の試料の分析面が筒部の端部に押圧された場合、筒部の端部と、試料の分析面とが当接し、筒部の開口部が密閉される。つまり、前記端部の外周側の湾曲部分と、内周縁の湾曲部分との間の部分が試料の分析面に当接し、筒部の開口部が密閉される。
本発明に係る試料押圧電極は、グロー放電分光分析装置の筒状電極を同軸的に収容した筒部の端部に試料を押圧し、前記筒状電極及び前記試料間でグロー放電を発生させるための電力を供給する試料押圧電極において、前記グロー放電分光分析装置の平板電極に外嵌される導電性の外嵌部材と、該外嵌部材から前記筒状電極側へ突出しており、電力を供給する給電端子が着脱自在に接続される導電性の端子接続部と、該端子接続部に設けられた棒状電極部とを備える。
本発明にあっては、湾曲した試料に干渉すること無く、グロー放電分光分析装置を構成する試料支持体に前記試料を押圧し、グロー放電分光分析に必要な電力を試料に供給することができる。
本発明によれば、試料支持体を交換せずとも、平面状の試料、分析面が凸状又は凹状に湾曲した試料を支持して試料支持体の孔部を密閉することができ、該試料の分光分析を行うことができる。
本実施形態1に係るグロー放電分光分析装置の構成を示す模式図である。 本実施形態1に係る試料支持体及び試料押圧電極を示す側断面図である。 本実施形態1に係る試料支持体及び試料押圧電極を示す斜視図である。 試料支持体を示す側断面図である。 試料支持体を構成する筒部の端部を示す側断面図である。 試料押圧電極を構成する外嵌部材を示す側面図等である。 試料押圧電極を構成する外嵌部材を示す側断面図等である。 棒状電極の一構成例を示す側面図である。 試料が押圧された筒部の端部を示す側断面図である。 本実施形態1に係る試料支持体によって支持された試料の分光分析結果を示すグラフである。 従来の平板状の試料支持体によって支持された試料の分光分析結果を示すグラフである。 本実施形態1に係る試料支持体によって支持された試料の分光分析後の表面状態を示すグラフである。 従来の平板状の試料支持体によって支持された試料の分光分析後の表面状態を示すグラフである。 本実施形態1に係る試料支持体によって支持された他の試料の分光分析結果を示すグラフである。 従来の平板状の試料支持体によって支持された他の試料の分光分析結果を示すグラフである。 分析面が凸状に湾曲した試料の分光分析結果を示すグラフである。 分析面が凹状に湾曲した試料の分光分析結果を示すグラフである。 実施形態2に係る試料支持体を示す側断面図である。
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて詳述する。
(実施形態1)
図1は本実施形態1に係るグロー放電分光分析装置1の構成を示す模式図、図2は本実施形態1に係る試料支持体31及び試料押圧電極4を示す側断面図、図3は本実施形態1に係る試料支持体31及び試料押圧電極4を示す斜視図である。本実施形態1に係るグロー放電分光分析装置1は、陽極3を有するマーカス型のグロー放電管2を備える。陽極3は先端部分が開口し、底側に鍔が形成された円錐台筒状をなす。またグロー放電分光分析装置1は、グロー放電分光分析を行う際、試料Sを陽極3の先端部分に押圧し、該試料Sの分析面近傍でグロー放電を発生させるための電力を供給する試料押圧電極4を備える。陽極3及び試料押圧電極4は電源部6に接続されており、電源部6は高周波の電圧を試料押圧電極4に印加する。また、グロー放電分光分析装置1は試料押圧電極4を水冷する水冷部7を備える。水冷に係る構成の詳細は後述する。試料押圧電極4は押圧ピストン5によって押圧される。押圧ピストン5は、グロー放電管2の陽極3に対して接離する方向へ往復移動可能な押圧棒51を有する。押圧ピストン5によって移動した押圧棒51は試料押圧電極4を陽極3側へ押圧する。試料Sの分析面によって陽極3の開口が密閉される。試料Sは、陽極3の先端部分と、試料押圧電極4との間に挟まれるようにして、陽極3の先端部分に押圧され、該試料Sの分析面によって前記開口が密閉される。
グロー放電管2は陽極3を支持する陽極支持ブロック21を備える。陽極支持ブロック21は厚み方向に貫通した円形の光路孔を中央部分に有する板状であり、一端面略中央部に陽極3の鍔が嵌合する側面視環状の凹部が形成されている。陽極支持ブロック21の凹部に嵌合した陽極3は、固定環22によって陽極支持ブロック21にねじ止め固定されている。陽極支持ブロック21の他端面側には、光路孔を塞ぐと共に、グロー放電管2で発生したグロー放電光を分光器8へ導くレンズ23が設けられている。
陽極支持ブロック21は、陽極3へ不活性ガスを供給する不活性ガス導入路21dと、後述するように、陽極3の先端側及び内部を通流した不活性ガスを排気する不活性ガス排気路21a、21bとを有する。また、陽極3内部と、不活性ガス排気路21a、21bとを連通させる連通孔21cを有する。不活性ガス導入路21dを通じて、陽極支持ブロック21の内部に導入された不活性ガスは、光路孔、陽極3の先端部及び内部を通流し、陽極3の内部を通流した不活性ガスは連通孔21c及び不活性ガス排気路21a、21bを通じてグロー放電管2の外部へ排出される。
対向した陽極3と、試料Sとの間には、不活性ガスが供給され、高周波電圧が印加される。高周波電圧の印加によって、陽極3と、試料Sとの間にはグロー放電が発生し、グロー放電によって発生したイオンは試料Sの分析面に衝突し、試料Sの原子がたたき出される。該原子は、プラズマ中で励起し、基底状態に戻る際、元素固有の波長を有するグロー放電光Lを放射する。グロー放電光Lは、分光器8に入射し、演算部91によって分光分析されるように構成されている。
分光器8は、グロー放電管2から出射したグロー放電光Lを分光する機器であり、グロー放電管2のレンズ23から出射したグロー放電光Lが入射する位置に配されている。分光器8は、入射スリット81、回折格子82、出射スリット83、光電子増倍管等の光検出器84を備える。レンズ23に入射したグロー放電光Lは、入射スリット81で焦点を結ぶ。入射スリット81を通過した光は、回折格子82によって回折され、回折によって元素特有のスペクトルに分けられたスペクトル光は出射スリット83を通過し、光検出器84によって検出される。
光検出器84によって検出されたスペクトル光の情報は、演算部91へ出力される。演算部91は、該情報に基づいて、分光分析を行い、分光分析結果を表示部92又はプリンタ部93へ出力する。演算部91は、例えばスペクトル光の波長分布から、発光元の元素を同定し、各元素からの発光の強度を測定時間毎に特定する。そして、各元素からの発光強度の時間変化を示すグラフを生成し、生成されたグラフを表示部92又はプリンタ部93へ出力する。
陽極3は陽極本体32及び試料支持体31を備える。
図4は試料支持体31を示す側断面図である。陽極本体32は、陽極支持ブロック21の凹部に嵌合する円環状の導電性基部32aを備え、導電性基部32aの内周縁から、中心線が一致するように突出した導電性円錐筒部32bが導電性基部32aに設けられている。導電性基部32aと、陽極支持ブロック21との間は、Oリング24によってシールされている。また導電性円錐筒部32bの頂点から、該導電性円錐筒部32bと中心線が一致するように筒状電極32cが突出している。
試料支持体31は絶縁性のセラミックスで形成されている。試料支持体31は、陽極本体32と同様の形状であり、陽極本体32に被さるような寸法を有する。具体的には、試料支持体31は、外径が導電性基部32aと略同一の円環状の鍔部31aを有する。鍔部31aの内径は、導電性基部32aよりも大きい。鍔部31aの内周縁から、中心線が一致するように突出した円錐筒部31bが該鍔部31aに設けられている。円錐筒部31bと、導電性円錐筒部32bとの間には、不活性ガスが通流するための間隙が設けられている。また円錐筒部31bの頂点部分43dから、該円錐筒部31bと中心線が一致するように筒部31cが出している。筒部31cは筒状電極32cを同軸的に収容すると共に、該筒部31cの端部に試料Sを支持するものである。筒部31cと、筒状電極32cとの間には所定の間隙が設けられている。また、筒状電極32cの先端は、筒部31cの先端より、奥側に位置している。このため、筒部31cに試料Sが押圧された場合、試料Sの分析面と、筒状電極32cとの間に間隙が生ずることになり、筒状電極32cと、該分析面との間でグロー放電が発生する。導電性基部32aと、試料支持体31の鍔部31aとの間はOリング33によってシールされている。導電性基部32aには環状の溝が形成されており、該溝にOリング33が嵌っている。
また、導電性基部32aには、陽極3の先端側から、導電性円錐筒部32bと、円錐筒部31bとの間隙を通流したガスが通流する通流孔32dが設けられている。通流孔32dは導電性基部32aの厚み方向に貫通した孔である。更に、導電性基部32aの試料支持体31側の面には、導電性円錐筒部32b及び円錐筒部31bの間隙と、通流孔32dとを連通させる通流溝32eが形成されている。このように構成された陽極3によれば、グロー放電管2に導入された不活性ガスは、陽極3の先端側、つまり、筒状電極32cと、試料Sとの間に供給され、該不活性ガスは陽極3の先端部から導電性円錐筒部32bと、円錐筒部31bとの間隙、通流溝32e、連通孔21cを通じて、不活性ガス排気路21a、21bへ流れる。
図5は試料支持体31を構成する筒部31cの端部を示す側断面図である。筒部31cの端部の内周縁は湾曲している。以下、内周縁の湾曲している部分を内周湾曲部31dと言う。また、筒部31cの外周側には、筒部31cの中心線方向の長さが内周側に比べて外周側の方が短くなるように湾曲した外周湾曲部31eが形成されている。外周湾曲部31eの曲率は、内周湾曲部31dに比べて小さく、なだらかに湾曲している。また、端部の内周湾曲部31dと、外周湾曲部31eとの間に環状平端面31fが形成されている。環状平端面31fは、筒部31cの中心線に対して略垂直な平面である。
試料押圧電極4は、試料Sを試料支持体31の筒部31cの端部に押圧し、筒状電極32c及び試料S間でグロー放電を発生させるための電力を供給するための電極である。グロー放電分光分析装置1は、図3中破線で示すようにグロー放電を発生させるための電力を供給する給電端子61bが着脱自在に接続される円盤状の平板電極40を備える。電源部6に接続された給電ケーブル61aの先端には給電プラグ61が設けられており、給電プラグ61から給電端子61bが突出している。給電端子61bが接続された平板電極40には、筒状電極32c及び試料S間にグロー放電を発生させるための電力が電源部6から供給される。例えば、平板電極40には例えば約100Hzの高周波電圧が印加される。また、平板電極40は、該平板電極40を水冷するための図示しない水路を内部に有している。平板電極40の側部には、該平板電極40を水冷するための給水管71a及び排水管72aと、前記水路とを接続する給水管接続プラグ71及び排水管接続プラグ72が取り付けられている。給水管71a及び排水管72aは水冷部7に接続されており、水冷部7は給水管71aへ冷却用の水を供給する。冷却用の水は、水冷部7から給水管71aを通じて水路に流入し、平板電極40を水冷する。前記水路を通流した水は排水管72aを通じて外部へ排出される。
試料押圧電極4は、平板電極40に外嵌される導電性の外嵌部材41を備える。
図6は試料押圧電極4を構成する外嵌部材41を示す側面図等、図7は試料押圧電極4を構成する外嵌部材41を示す側断面図等である。特に図6Aは外嵌部材41の平面図(図3中手前側から見た図)、図6Bは外嵌部材41の側面部(図3中上側から見た図)、図6Cは外嵌部材41の底面部(図3中奥側から見た図)、図6Dは外嵌部材41の部分破断側面図(図3中下側から見た図)である。外嵌部材41は、有底円筒状をなし、平板電極40に外嵌される円筒部41aと、平板電極40の円板面を覆う円板部41bとで形成されている。円筒部41aには給水管71a及び排水管72a、並びに給水管接続プラグ71及び排水管接続プラグ72を避けて平板電極40に外嵌するための凹部41d,41eが形成されている。また、円筒部41aの適宜箇所には、外嵌部材41を平板電極40にねじ止めするためのねじ孔41cが設けされている。更に、外嵌部材41の円板部41bの略中央部には、該円板部41bから突出しており、給電端子61bが着脱自在に接続される導電性の端子接続部42が形成されている。端子接続部42は、外嵌部材41と一体的に形成された導電性の部材であり、直方体形状をなしている。端子接続部42の側面には、図2及び図3中実線で示すように、給電端子61bが着脱自在に挿入され、端子接続部42に電気的に接続される給電端子挿入穴42aが形成されている。また、端子接続部42の陽極3側の面、即ち円板部41bに略平行な面には、試料Sに当接する棒状電極部43が着脱自在に挿入され、端子接続部42に電気的に接続される電極挿入穴42bが形成されている。電極挿入穴42bには、例えば雌ねじが形成されている。
図8は棒状電極部43の一構成例を示す側面図である。図8Aは棒状電極部43の一例を示す。図8Aに示すように、棒状電極部43の一端部には、電極挿入穴42bの雌ねじに対応する雄ねじ43bが形成されている。棒状電極部43の円柱部43aの雄ねじ43b側には、滑り止め部43eが形成されている。滑り止め部43eは例えば、網目ローレットである。棒状電極部43の他端部には球面部43cが形成されており、該球面部43cの頂点部分43dは平面状である。
図8Bは棒状電極部43の他の例を示す。図8Bに示す棒状電極部143は、図8Aに示す棒状電極部43と同様の構成を有し、円柱部143aの長さのみが異なる。図8Bに示す棒状電極部43の円柱部143aは、図8Aに示す棒状電極部43の円柱部43aに比べて短い。図8Aに示す棒状電極部43は、湾曲した試料Sの曲率が大きい場合に好適であり、図8Bに示す棒状電極部143は、湾曲した試料Sの曲率が小さい場合に好適である。
図8Cは棒状電極部43の他の例を示す。図8Cに示す棒状電極部243の一端部には、図8Aに示す棒状電極部43と同様の雄ねじ43bが形成されており、他端部は球面部243cが形成されている。また、該球面部243cの頂点部分243dは平面状である。図8Cに示す棒状電極部243は、中心線方向の中間に円錐台部分243aを有する。円錐台部分243aは、前記雄ねじ43b側の径が大きく、前記球面部43c側の径が小さい。円錐台部分の雄ねじ43b側には、滑り止め部243eが形成されている。滑り止め部43eは例えば、網目ローレットである。図8Cに示す棒状電極部243は、滑り止め部243eの径が、図8A及び図8Bに示す棒状電極部43,143の滑り止め部43e,143eの径より大きいため、棒状電極部243を端子接続部42に取り付け易い。
図8Dは棒状電極部43の他の例を示す。図8Dに示す棒状電極部343は、図8Cに示す棒状電極部243と同様、滑り止め部343eを有する円錐台部分を備え、円錐台部分の中心線方向の長さが異なる。図8Dに示す棒状電極部343は、図8Dに示す棒状電極部343の一端部には、図8Cに示す棒状電極部243と同様の雄ねじ43bが形成されており、他端部には球面部343cが形成されている。また、該球面部343cの頂点部分343dは平面状である。
なお、図8A〜図8Dに示した棒状電極部43の構成は一例であり、これらの形状に限定されない。例えば、棒状電極部43の中心線方向中間の形状は特に限定されることは無く、一部に凹部が形成されていても良いし、円錐台状に形成しても良い。また、端子接続部42の電極挿入穴42bに圧入することによって、棒状電極部43を端子接続部42に固定する場合、雄ねじ43bは不要である。また、棒状電極部43の取付に問題が無ければ、滑り止め部43eを設けなくても良い。
次に、本実施形態1に係るグロー放電分光分析装置1、試料支持体31及び試料押圧電極4の作用を説明する。
図9は試料Sが押圧された筒部31cの端部を示す側断面図である。
図9Aは凹状に湾曲した試料Sの分析面が試料支持体31の筒部31cの端部に押圧された状態を示す。図9Aに示すように、凹状に湾曲した試料Sの分析面が筒部31cの端部に押圧された場合、試料Sの分析面と、筒部31cの外周湾曲部31eとが当接し、筒部31cの開口部が密閉される。
図9Bは凸状に湾曲した試料Sの分析面が試料支持体31の筒部31cの端部に押圧された状態を示す。図9Bに示すように、凸状に湾曲した試料Sの分析面が試料支持体31の筒部31cの端部に押圧された場合、試料Sの分析面と、筒部31cの内周湾曲部31dとが当接し、筒部31cの開口が密閉される。
図9Cは平面状の試料Sの分析面が試料支持体31の筒部31cの端部に押圧された状態を示す。図9Cに示すように、平面状の試料Sの分析面が試料支持体31の筒部31cの端部に押圧された場合、試料Sの分析面と、筒部31cの環状平端面31fとが当接し、筒部31cの開口が密閉される。
図10は本実施形態1に係る試料支持体31によって支持された試料Sの分光分析結果を示すグラフ、図11は従来の平板状の試料支持体によって支持された試料Sの分光分析結果を示すグラフである。グロー放電分光分析は、グロー放電によって生成したアルゴンイオンを試料Sの分析面に衝突させ、該分析面からたたき出された原子に固有の発光を分析することによって、分析面に含まれる原子を同定するものである。図10及び図11に示すグラフの横軸は試料Sの深さ、縦軸は試料Sに含まれる各元素の割合を示している。グロー放電分光分析は、試料Sの分析面を掘削しながら進行するため、試料Sに含まれる元素を深さ方向において分光分析することができる。図10及び図11は、約1μmの熱酸化被膜を有する平面状のシリコンウェハの分析面の分光分析結果を示している。実験条件の詳細は以下の通りである。グロー放電管2にはアルゴンガスが供給され、グロー放電管2内の気圧は500Paに保持されている。試料押圧電極4には、20W、デューティ0.5、100Hzのパルス状の高周波電圧が印加される。
ただし、本実施形態1の筒状電極32cと、試料Sの分析面との距離は約110μmであり、従来の筒状電極と、試料Sの分析面との距離は約150μmである。
図10及び図11のグラフが示すように、試料Sの表面において、酸素(O)及びシリコン(Si)が検出され、試料Sの酸化皮膜よりも深い部分において、シリコン(Si)が主に検出されている。このように、本実施形態1に係る試料支持体31を用いても、正常動作が確認されている従来の試料支持体を用いた場合と同様の分光分析結果が得られた。
図12は本実施形態1に係る試料支持体31によって支持された試料Sの分光分析後の表面状態を示すグラフ、図13は従来の平板状の試料支持体によって支持された試料Sの分光分析後の表面状態を示すグラフである。図12及び図13に示すように、本実施形態1に係る試料支持体31を用いた分光分析後の分析面の掘削状態と、正常動作が確認されている従来の試料支持体を用いた分光分析後の分析面の掘削状態とを比較すると、分析面に形成された凹部の深さが異なるのみで、同様の掘削状態が形成されていることが確認された。陽極本体32及び試料支持体31の形状が異なるため、掘削形状には多少の差異が生じている。
図14は本実施形態1に係る試料支持体31によって支持された他の試料Sの分光分析結果を示すグラフ、図15は従来の平板状の試料支持体によって支持された他の試料Sの分光分析結果を示すグラフである。図14及び図15は、上述のグロー放電分光分析を、異なる試料Sを用いて行った実験結果を示している。図14及び図15に示すグラフは、クロメート被膜を有する珪素鋼板の分析面の分光分析結果を示している。横軸は試料Sの深さ、縦軸は試料Sに含まれる各元素の割合を示している。図14及び図15のグラフが示すように、試料Sの表面において、クロム(Cr)、酸素(O)及び鉄(Fe)が検出され、試料Sの酸化皮膜よりも深い部分において、鉄が主に検出されている。このように、他の試料Sを用いた場合でも、正常な分光分析結果が得られた。
上述の実験結果は、平面状の試料Sを用いて行った実験結果であるが、湾曲した試料Sを用いても同様の実験結果が得られる。図16は分析面が凸状に湾曲した試料の分光分析結果を示すグラフ、図17は分析面が凹状に湾曲した試料の分光分析結果を示すグラフである。図16及び図17に示すグラフは、クロメート被膜を有する珪素鋼板の分析面の分光分析結果を示している。図16及び図17に示すグラフの横軸は試料Sの深さ、縦軸は試料Sに含まれる各元素の割合を示している。試料Sの表面において、クロム(Cr)、酸素(O)及び鉄(Fe)が検出され、試料Sの酸化皮膜よりも深い部分において、鉄が主に検出されている。このように、分析面が凸状又は凹状に湾曲している試料Sを用いた場合でも、平面状の試料Sを用いた場合と同様の分光分析結果が得られた。
実施形態1によれば、試料支持体31を交換せずとも、平面状の試料S、分析面が凸状又は凹状に湾曲した試料Sを支持して試料支持体31の孔部を密閉することができ、該試料Sの分光分析を行うことができる。
また、試料Sを支持する筒部31cが、円錐筒部31bの頂点部分43dに設けられているため、平板状の部材に筒部31cを設ける場合に比べて、筒部31cに支持させることができる試料Sの形状、大きさ等の自由度を向上させることができる。
更に、棒状電極部43の端部は球面状であるため、試料Sの湾曲している部分に棒状電極部43の端部を当接させ、該試料Sを筒部31cに押圧することができる。また、棒状電極部43の頂点部分43dは平面状であるため、該頂点部分43dを試料Sに当接させることによって、試料Sと、試料押圧電極4とを確実に接続し、グロー放電を発生させるための電圧を試料Sに印加することができる。また、頂点部分43dが平面状であるため、試料Sから棒状電極部43に熱が伝導し易く、効率的に放熱することができる。また、試料支持体31の筒部31cと、棒状電極部43との間に挟まれた試料Sがずれること無く、該試料Sを確実に保持することができる。
更にまた、グロー放電分光分析装置1が有する従来の平板電極40に、本実施形態1に係る試料押圧電極4を着脱自在に取り付けることができる。従って、平板電極40を、棒状電極部43に交換すること無く、湾曲した試料Sの分光分析を行うことができる。
更にまた、棒状電極部43は端子接続部42に着脱自在に取り付けることができるため、試料Sの形状に応じて棒状電極部43を取り換えることができる。
更にまた、外嵌部材41には凹部41d,41eが設けられているため、グロー放電分光分析装置1の平板電極40に水冷機構が設けられている場合であっても、平板電極40に本実施形態1に係る試料押圧電極4を取り付けることができる。また、分光分析時に試料押圧電極4が加熱されたとしても、熱は試料押圧電極4から平板電極40に伝導するため、平板電極40の水冷機構を用いて、試料押圧電極4を水冷することができる。また、本実施形態1に係る試料押圧電極4に別途水冷機構を設け、平板電極40に接続された給水管71a及び排水管72aを取り換えることが不要になるため、従来のグロー放電分光分析装置1に、本実施形態1に係る試料押圧電極4を導入することができる。
(実施形態2)
実施形態2に係るグロー放電分光分析装置1は、実施形態1と同様の構成を有し、試料支持体31の構成のみが実施形態1と異なるため、以下では主に斯かる相違点を説明する。
図18は、実施形態2に係る試料支持体31を示す側断面図である。実施形態2に係る試料支持体31は、筒部31cの端部に外嵌され、筒部31cの端部及び試料S間をシールするシール部材31gを備える。試料支持体31の筒部31cに試料Sが押圧された場合、試料Sの分析面はシール部材31gと、筒部31cの端部とに当接し、筒部31cの開口部は密閉される。
実施形態2によれば、筒部31cの端部及び試料S間をシール部材31gによってシールすることによって、より効果的に筒部31cの開口部が密閉される。従って、湾曲した試料Sの曲率が大きい場合であっても、より確実に試料支持体31の開口部を密閉することができ、該試料Sを分光分析することができる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した意味ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 グロー放電分光分析装置
2 グロー放電管
3 陽極
4 試料押圧電極
5 押圧ピストン
6 電源部
7 水冷部
8 分光器
21 陽極支持ブロック
22 固定環
23 レンズ
31 試料支持体
31a 鍔部
31b 円錐筒部
31c 筒部
31d 内周湾曲部
31e 外周湾曲部
31f 環状平端面
31g シール部材
32 陽極本体
32a 導電性基部
32b 導電性円錐筒部
32c 筒状電極
40 平板電極
41 外嵌部材
41a 円筒部
41b 円板部
41c ねじ孔
41d,41e 凹部
42 端子接続部
42a 端子挿入穴
42b 電極挿入穴
43 棒状電極部
43a 円柱部
43b 雄ねじ
43c 球面部
43d 頂点部分
43e 滑り止め部
61 給電プラグ
61a 給電ケーブル
61b 給電端子
71 給水管接続プラグ
71a 給水管
72 排水管接続プラグ
72a 排水管
81 入射スリット
82 回折格子
83 出射スリット
84 光検出器
91 演算部
92 表示部
93 プリンタ部
S 試料
L グロー放電光

Claims (11)

  1. 筒状電極と、該筒状電極を同軸的に収容した筒部を有し、該筒部の端部に試料を支持する試料支持体と、前記試料を前記筒部の端部に押圧し、前記筒状電極及び前記試料間でグロー放電を発生させるための電力を供給する試料押圧電極とを備え、前記筒状電極及び前記試料間で発生したグロー放電による発光を分析するグロー放電分光分析装置において、
    前記端部の外周側及び内周縁が湾曲しており、
    前記試料押圧電極は前記試料に当接する棒状電極部を有する
    グロー放電分光分析装置。
  2. 前記筒部は、
    前記端部の外周側の湾曲部分及び内周縁の湾曲部分の間に環状平端面を有する
    請求項1に記載のグロー放電分光分析装置。
  3. 前記筒部の端部に外嵌され、該端部及び前記試料間をシールするシール部材を備える
    請求項1又は請求項2に記載のグロー放電分光分析装置。
  4. 前記試料支持体は円錐筒部を備え、
    前記筒部は、前記円錐筒部の頂点部分から突出している
    請求項1から請求項3までのいずれか一つに記載のグロー放電分光分析装置。
  5. 前記棒状電極部の端部は球面状をなす
    請求項1から請求項4までのいずれか一つに記載のグロー放電分光分析装置。
  6. 前記棒状電極部の前記筒部側の頂点部分は平面状をなす
    請求項5に記載のグロー放電分光分析装置。
  7. 電力を供給する給電端子と、
    該給電端子が着脱自在に接続される平板電極と
    を備え、
    前記試料押圧電極は、
    前記平板電極に外嵌される導電性の外嵌部材と、
    該外嵌部材から前記筒状電極側へ突出しており、前記給電端子が着脱自在に接続される導電性の端子接続部と
    を備え、
    前記棒状電極部は前記端子接続部に設けられている
    請求項1から請求項6までのいずれか一つに記載のグロー放電分光分析装置。
  8. 前記端子接続部は、
    前記棒状電極部が着脱自在に挿入され、前記端子接続部に電気的に接続される電極挿入穴を有する
    請求項7に記載のグロー放電分光分析装置。
  9. 前記平板電極は円盤状をなし、水冷するための給水管及び排水管が該平板電極の側部に接続されており、
    前記外嵌部材は、
    前記平板電極に外嵌される円筒部を有し、該円筒部には前記給水管及び排水管を避けて前記平板電極に外嵌するための凹部が形成されている
    請求項7又は請求項8に記載のグロー放電分光分析装置。
  10. 筒状電極を同軸的に収容する筒部を有し、該筒部の端部に試料を支持する試料支持体において、
    前記端部の外周側及び内周縁が湾曲している試料支持体。
  11. グロー放電分光分析装置の筒状電極を同軸的に収容した筒部の端部に試料を押圧し、前記筒状電極及び前記試料間でグロー放電を発生させるための電力を供給する試料押圧電極において、
    前記グロー放電分光分析装置の平板電極に外嵌される導電性の外嵌部材と、
    該外嵌部材から前記筒状電極側へ突出しており、電力を供給する給電端子が着脱自在に接続される導電性の端子接続部と、
    該端子接続部に設けられた棒状電極部と
    を備える試料押圧電極。
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Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57185959U (ja) * 1981-05-20 1982-11-25
JPS615464U (ja) * 1984-06-15 1986-01-13 株式会社 富士電機総合研究所 超音波探傷子
JPH0391959U (ja) * 1990-01-05 1991-09-19
US5278629A (en) * 1991-07-12 1994-01-11 Biotronics Technologies, Inc. Atomic emission spectrometry
JPH0875654A (ja) * 1994-09-09 1996-03-22 Rigaku Ind Co グロー放電発光分光分析方法およびその装置
US5619423A (en) * 1994-01-21 1997-04-08 Scrantz; Leonard System, method and apparatus for the ultrasonic inspection of liquid filled tubulars and vessels
JPH10293547A (ja) * 1997-04-18 1998-11-04 Matsushita Electric Works Ltd 発光ランプの取付構造及びこれを用いた呼出光チャイム
JP2000187002A (ja) * 1998-12-22 2000-07-04 Horiba Ltd グロー放電発光分光分析装置
EP1235067A1 (en) * 2001-02-01 2002-08-28 Jobin Yvon S.A. Process and apparatus for real-time determination of a solid sample composition as a function of the depth within the sample
JP2006126065A (ja) * 2004-10-29 2006-05-18 Shimadzu Corp 発光分析装置
WO2008043887A1 (fr) * 2006-10-11 2008-04-17 Eads Ccr Dispositif de controle par ultrasons en immersion locale
JP2010236979A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Rigaku Corp グロー放電発光分光分析装置およびグロー放電発光分光分析方法

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57185959U (ja) * 1981-05-20 1982-11-25
JPS615464U (ja) * 1984-06-15 1986-01-13 株式会社 富士電機総合研究所 超音波探傷子
JPH0391959U (ja) * 1990-01-05 1991-09-19
US5278629A (en) * 1991-07-12 1994-01-11 Biotronics Technologies, Inc. Atomic emission spectrometry
US5619423A (en) * 1994-01-21 1997-04-08 Scrantz; Leonard System, method and apparatus for the ultrasonic inspection of liquid filled tubulars and vessels
JPH0875654A (ja) * 1994-09-09 1996-03-22 Rigaku Ind Co グロー放電発光分光分析方法およびその装置
JPH10293547A (ja) * 1997-04-18 1998-11-04 Matsushita Electric Works Ltd 発光ランプの取付構造及びこれを用いた呼出光チャイム
JP2000187002A (ja) * 1998-12-22 2000-07-04 Horiba Ltd グロー放電発光分光分析装置
US20040017565A1 (en) * 1998-12-22 2004-01-29 Ryosuke Shimidzu Glow discharge emission spectroscopic analysis apparatus
EP1235067A1 (en) * 2001-02-01 2002-08-28 Jobin Yvon S.A. Process and apparatus for real-time determination of a solid sample composition as a function of the depth within the sample
JP2002296187A (ja) * 2001-02-01 2002-10-09 Jobin Yvon Sa 試料内の深さの関数として固体試料の組成を実時間決定するための方法および装置
JP2006126065A (ja) * 2004-10-29 2006-05-18 Shimadzu Corp 発光分析装置
WO2008043887A1 (fr) * 2006-10-11 2008-04-17 Eads Ccr Dispositif de controle par ultrasons en immersion locale
JP2010236979A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Rigaku Corp グロー放電発光分光分析装置およびグロー放電発光分光分析方法

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