JP2015115348A - Encapsulation sheet adhesion method - Google Patents

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橋本 淳
Atsushi Hashimoto
淳 橋本
孝夫 松下
Takao Matsushita
孝夫 松下
伸一郎 森
Shinichiro Mori
伸一郎 森
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Nitto Seiki Co Ltd
Nitto Denko Corp
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Nitto Seiki Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent contamination of a holding table and the like caused by a softened encapsulation layer extending off a semiconductor substrate in a process of adhering an encapsulation sheet with the semiconductor substrate.SOLUTION: Between a holding surface of an encapsulation sheet T on which a release liner having the same shape as the encapsulation sheet T is attached and a pressing member 35, a first cover film F1 larger than the encapsulation sheet T and having air permeability is interposed, and the encapsulation sheet T is sucked and held by the pressing member 35. Between a holding table 37 and a substrate W, a second cover film F2 larger than the substrate W and having air permeability is interposed, and the substrate W is held by the holding table 37. In this state, the substrate W and the encapsulation sheet T are positioned opposite each other, and the encapsulation sheet T is adhered to the substrate W while being heated.

Description

本発明は、半導体装置を製造する過程で、回路基板を含む半導体基板の回路面に樹脂組成物からなる封止層の形成された封止シートを貼り付け、当該回路面を封止する封止シート貼付け方法に関する。   In the process of manufacturing a semiconductor device, the present invention applies a sealing sheet in which a sealing layer made of a resin composition is formed on a circuit surface of a semiconductor substrate including a circuit substrate, and seals the circuit surface The present invention relates to a sheet pasting method.

1個の半導体チップの周りを枠体で囲んだ後に、樹脂を含浸させたプリプレグから成る第1の封止用樹脂シートと第2の封止用樹脂シートによって当該半導体チップの両面をそれぞれから挟み込み、半導体チップを封止して半導体装置を製造している(特許文献1を参照)。   After surrounding one semiconductor chip with a frame, both sides of the semiconductor chip are sandwiched from each other by a first sealing resin sheet and a second sealing resin sheet made of a prepreg impregnated with resin. A semiconductor device is manufactured by sealing a semiconductor chip (see Patent Document 1).

特開平5−291319号公報JP-A-5-291319

しかしながら、上記従来方法では次のような問題が生じている。   However, the above conventional method has the following problems.

すなわち、近年、アプリケーションの急速な進歩に伴う高密度実装の要求により、半導体装置が小型化される傾向にある。したがって、ダイシング処理によって半導体ウエハを半導体素子に分断した後に、半導体素子を個々に樹脂で封止しているので、スループットが低下し、ひいては生産効率を低下させるといった不都合が生じている。   That is, in recent years, semiconductor devices tend to be miniaturized due to the demand for high-density mounting accompanying rapid development of applications. Therefore, after the semiconductor wafer is divided into semiconductor elements by the dicing process, the semiconductor elements are individually sealed with resin, resulting in a problem that throughput is lowered and production efficiency is lowered.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、半導体基板に封止シートを効率よく、かつ、精度よく貼り付けることのできる封止シート貼付け方法を提供することを主たる目的とする。   This invention is made | formed in view of such a situation, Comprising: It aims at providing the sealing sheet affixing method which can affix a sealing sheet to a semiconductor substrate efficiently and accurately. .

そこで、本発明者たちは、当該不都合を解決するために、実験やシミュレーションを繰り返して鋭意検討した結果、以下の知見を得た。   Therefore, the present inventors have obtained the following knowledge as a result of intensive studies by repeating experiments and simulations in order to solve the inconvenience.

半導体基板の全面に樹脂組成物からなる封止層の形成された枚葉の封止シートを貼り付けて硬化させた後に、当該半導体装置に分断することを試みた。   An attempt was made to divide into a semiconductor device after a single-sheet sealing sheet on which a sealing layer made of a resin composition was formed was applied to the entire surface of the semiconductor substrate and cured.

しかしながら、半導体基板に狭小ピッチで形成された複数個の半導体素子の当該ピッチ間に封止層である樹脂組成物を侵入させて密着させるために、加熱によって封止層を軟化させている。封止層が軟化した状態の封止シートを押圧して半導体基板に貼り付けるとき、当該押圧によって樹脂組成物が半導体基板からはみ出し、貼付け部材および保持テーブルに付着して汚染するといった新たな問題が生じた。   However, the sealing layer is softened by heating in order to allow the resin composition, which is the sealing layer, to enter between the pitches of a plurality of semiconductor elements formed on the semiconductor substrate at a narrow pitch and to adhere to the pitch. When the sealing sheet in a state where the sealing layer is softened is pressed and attached to the semiconductor substrate, there is a new problem that the resin composition protrudes from the semiconductor substrate by the pressing and adheres to and adheres to the attaching member and the holding table. occured.

この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。   In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.

すなわち、半導体装置を製造する過程で樹脂組成物からなる封止層の形成された封止シートを半導体基板に貼り付ける封止シート貼付け方法であって、
前記封止シートと同形状の剥離ライナが添設された封止シートの保持面と貼付け部材の間に、当該封止シートより大きい通気性を有する第1カバーフィルムを介在させて当該貼付け部材に封止シートを吸着保持するシート保持過程と、
保持テーブルに前記半導体基板の間に、当該半導体基板よりも大きい通気性を有する第2カバーフィルムを介在させて当該保持テーブルに半導体基板を保持する基板保持過程と、
前記封止シートを加熱しながら半導体基板に貼り付ける貼付け過程と、
を備えたことを特徴とする。
That is, a sealing sheet attaching method for attaching a sealing sheet on which a sealing layer made of a resin composition is formed in a process of manufacturing a semiconductor device to a semiconductor substrate,
Between the holding surface of the sealing sheet to which the release liner having the same shape as the sealing sheet is attached and the pasting member, a first cover film having a larger air permeability than the sealing sheet is interposed in the pasting member. A sheet holding process for adsorbing and holding the sealing sheet;
A substrate holding process for holding the semiconductor substrate on the holding table by interposing a second cover film having a larger air permeability than the semiconductor substrate between the semiconductor substrates on the holding table;
An affixing process for affixing to the semiconductor substrate while heating the sealing sheet;
It is provided with.

(作用・効果) 上記方法によれば、封止シートと保持部材の間および半導体基板と保持テーブルの間のそれぞれに封止シートおよび半導体基板より大きいカバーフィルムを介在して保持しているので、軟化した封止層が半導体基板からはみ出ても、各カバーフィルムによって受け止められる。したがって、貼付け部材および保持テーブルに封止層が付着して汚染するのを防止することができる。   (Action / Effect) According to the above method, since the sealing sheet and the holding substrate are interposed between the sealing sheet and the holding member and between the semiconductor substrate and the holding table, respectively, the cover film is held, so that Even if the softened sealing layer protrudes from the semiconductor substrate, it is received by each cover film. Therefore, it can prevent that a sealing layer adheres to a sticking member and a holding table, and is contaminated.

なお、上記方法において、貼付け過程は、真空状態にした減圧室内で封止シートを半導体基板に貼り付けてもよい。   Note that in the above method, in the pasting process, the sealing sheet may be pasted on the semiconductor substrate in a vacuum chamber in a vacuum state.

この方法によれば、半導体基板と封止シートとの間の接着界面への気泡の巻き込みを回避することができる。   According to this method, it is possible to avoid entrainment of bubbles at the adhesive interface between the semiconductor substrate and the sealing sheet.

なお、上記方法において、剥離ライナと当接する第1カバーフィルムは、半導体基板に形成された複数個の半導体素子群の外側と対向する剥離ライナの部分に貫通孔を有するよう構成してもよい。   In the above method, the first cover film that comes into contact with the release liner may have a through hole in a portion of the release liner that faces the outside of the plurality of semiconductor element groups formed on the semiconductor substrate.

この場合、半導体素子を被覆する封止層の領域に、吸引による負圧が作用しない。したがって、軟化した封止層の変形を抑制され、ひいては均一な厚さの封止層を半導体素子に被覆させることができる。   In this case, negative pressure due to suction does not act on the region of the sealing layer covering the semiconductor element. Therefore, deformation of the softened sealing layer is suppressed, and as a result, the semiconductor element can be coated with the sealing layer having a uniform thickness.

本発明の封止シート貼付け方法によれば、半導体基板に封止シートを貼り付ける過程で当該半導体基板からはみ出る封止層の付着による貼付け部材および保持テーブルの汚染を防止することができる。   According to the sealing sheet sticking method of the present invention, it is possible to prevent contamination of the sticking member and the holding table due to adhesion of the sealing layer protruding from the semiconductor substrate in the process of sticking the sealing sheet to the semiconductor substrate.

封止シートの断面図である。It is sectional drawing of a sealing sheet. 封止シートの平面図である。It is a top view of a sealing sheet. 封止シート貼付け装置の全体構成を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of a sealing sheet sticking apparatus. 第1および第2カバーフィルム供給部の平面図である。It is a top view of the 1st and 2nd cover film supply part. 第1および第2カバーフィルム供給部の正面図である。It is a front view of the 1st and 2nd cover film supply part. 第1および第2カバーフィルムの平面図である。It is a top view of the 1st and 2nd cover film. 第1搬送機構の底面図である。It is a bottom view of the 1st conveyance mechanism. 第1搬送機構の正面図である。It is a front view of a 1st conveyance mechanism. 第2搬送機構の平面図である。It is a top view of a 2nd conveyance mechanism. 第2搬送機構の正面図である。It is a front view of a 2nd conveyance mechanism. 保持テーブルおよび押圧部材の吸着面を示す平面図である。It is a top view which shows the adsorption | suction surface of a holding table and a press member. ワーク搬送機構の正面図である。It is a front view of a workpiece conveyance mechanism. 切断ユニットに備わった保持テーブルの平面図である。It is a top view of the holding table with which the cutting unit was equipped. 切断ユニットに備わった保持テーブルの正面図である。It is a front view of the holding table with which the cutting unit was equipped. 切断ユニットの斜視図である。It is a perspective view of a cutting unit. 封止シート貼付処理のフローチャートである。It is a flowchart of a sealing sheet sticking process. 第1カバーフィルムの搬出を示す図である。It is a figure which shows carrying out of a 1st cover film. 第1カバーフィルムの搬出を示す図である。It is a figure which shows carrying out of a 1st cover film. 封止シートの搬出を示す図である。It is a figure which shows carrying out of a sealing sheet. 封止シートの搬出を示す図である。It is a figure which shows carrying out of a sealing sheet. 第1搬送機構から第2搬送機構への封止シートの受け渡しを示す図である。It is a figure which shows delivery of the sealing sheet from a 1st conveyance mechanism to a 2nd conveyance mechanism. 第2搬送機構から押圧部材への封止シートの受け渡しを示す図である。It is a figure which shows delivery of the sealing sheet from a 2nd conveyance mechanism to a press member. 第2搬送機構から押圧部材への封止シートの受け渡しを示す図である。It is a figure which shows delivery of the sealing sheet from a 2nd conveyance mechanism to a press member. 封止シートから第2剥離ライナを剥離する図である。It is a figure which peels a 2nd peeling liner from a sealing sheet. 基板に封止シートを貼り付ける動作を示す図である。It is a figure which shows the operation | movement which affixes a sealing sheet on a board | substrate. 封止シートから第1カバーフィルムを剥離する図である。It is a figure which peels a 1st cover film from a sealing sheet. 保持テーブルから基板を搬出する動作を示す図である。It is a figure which shows the operation | movement which carries a board | substrate out from a holding table. 封止シートの切断動作を示す図である。It is a figure which shows the cutting | disconnection operation | movement of a sealing sheet. 封止シートの切断動作を示す図である。It is a figure which shows the cutting | disconnection operation | movement of a sealing sheet. 封止シートから第1剥離ライナを剥離する動作を示す図である。It is a figure which shows the operation | movement which peels a 1st peeling liner from a sealing sheet.

以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。表面に複数個の半導体素子が形成された半導体基板(以下、単に「基板」という)に、樹脂組成物からなる封止層の形成された封止シートを貼り付けた後に、当該封止シートを基板形状に沿って切断する場合を例に取って説明する。   An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. Affixing a sealing sheet on which a sealing layer made of a resin composition is formed on a semiconductor substrate (hereinafter simply referred to as “substrate”) having a plurality of semiconductor elements formed on the surface, A case where cutting is performed along the substrate shape will be described as an example.

<封止シート>
封止シートTは、例えば、図1に示すように、半導体基板W(以下、単に「基板W」という)と同形状のもが利用される。また、当該封止シートTは、封止層Mの両面に保護用の第1剥離ライナS1および第2剥離ライナS2が添設されている。本実施例では、封止層Mは、図2に示すように、基板Wに形成された複数個の半導体素子CP群の輪郭を被覆できる程度で同形状をしている。また、第1剥離ライナS1およびS2は、基板Wと同じ大きさで、かつ、同じ形状をしている。なお、第1剥離ライナS1および第2剥離ライナS2は、半導体素子群の形状に関わらず、基板Wと同形状または矩形で、かつ、基板Wのサイズ以上のものを利用することができる。
<Sealing sheet>
As the sealing sheet T, for example, as shown in FIG. 1, a sheet having the same shape as a semiconductor substrate W (hereinafter simply referred to as “substrate W”) is used. Further, the sealing sheet T is provided with a protective first release liner S1 and a second release liner S2 on both surfaces of the sealing layer M. In the present embodiment, the sealing layer M has the same shape to the extent that it can cover the outlines of the plurality of semiconductor element CP groups formed on the substrate W, as shown in FIG. The first release liners S1 and S2 are the same size as the substrate W and have the same shape. Note that the first release liner S1 and the second release liner S2 can be the same shape or rectangle as the substrate W and larger than the size of the substrate W regardless of the shape of the semiconductor element group.

封止層Mは、封止材料からシート形状に形成されている。封止材料としては、例えば、熱硬化性シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、熱硬化性ポリイミド樹脂、フェノール樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ジアリルフタレート樹脂、熱硬化性ウレタン樹脂、などの熱硬化性樹脂が挙げられる。また、封止材料として、上記した熱硬化性樹脂と、添加剤を適宜の割合で含有する熱硬化性樹脂組成物を挙げることもできる。   The sealing layer M is formed in a sheet shape from a sealing material. Examples of the sealing material include thermosetting silicone resin, epoxy resin, thermosetting polyimide resin, phenol resin, urea resin, melamine resin, unsaturated polyester resin, diallyl phthalate resin, thermosetting urethane resin, and the like. A curable resin is mentioned. Moreover, as a sealing material, the above-mentioned thermosetting resin and the thermosetting resin composition which contains an additive in an appropriate ratio can also be mentioned.

添加剤としては、例えば、充填剤、蛍光体などが挙げられる。充填剤としては、例えば、シリカ、チタニア、タルク、アルミナ、窒化アルミニウム、窒化ケイ素などの無機微粒子、例えば、シリコーン粒子、などの有機微粒子などが挙げられる。蛍光体は、波長変換機能を有しており、例えば、青色光を黄色光に変換することのできる黄色蛍光体、青色光を赤色光に変化することのできる赤色蛍光体などを挙げることができる。黄色蛍光体としては、例えば、YAl12:Ce(YAG(イットリウム・アルミニウム・ガーネット):Ce)などのガーネット型蛍光体が挙げられる。赤色蛍光体としては、例えば、CaAlSiN:Eu、CaSiN:Euなどの窒化物蛍光体などが挙げられる。 Examples of the additive include a filler and a phosphor. Examples of the filler include inorganic fine particles such as silica, titania, talc, alumina, aluminum nitride, and silicon nitride, and organic fine particles such as silicone particles. The phosphor has a wavelength conversion function, and examples thereof include a yellow phosphor capable of converting blue light into yellow light, and a red phosphor capable of converting blue light into red light. . Examples of the yellow phosphor include garnet phosphors such as Y 3 Al 5 O 12 : Ce (YAG (yttrium, aluminum, garnet): Ce). Examples of the red phosphor include nitride phosphors such as CaAlSiN 3 : Eu and CaSiN 2 : Eu.

封止層Mは、半導体素子を封止する前において、半固形状に調整されており、具体的には、封止材料が熱硬化性樹脂を含有する場合には、例えば、完全硬化(Cステージ化)する前、つまり、半硬化(Bステージ)状態で調整されている。   The sealing layer M is adjusted to a semi-solid state before sealing the semiconductor element. Specifically, when the sealing material contains a thermosetting resin, for example, complete curing (C It is adjusted before being staged, that is, in a semi-cured (B stage) state.

封止層Mの寸法は、半導体素子および基板の寸法に応じて適宜に設定されている。具体的には、封止シートが長尺のシートとして用意される場合における封止層の左右方向における長さ、つまり、幅は、例えば、100mm以上、好ましくは、200mm以上であり、例えば、1500mm以下、好ましくは、700mm以下である。また、封止層の厚みは、半導体素子に寸法に対応して適宜に設定され、例えば、30μm以上、好ましくは、100μm以上であり、また、例えば、3000μm以下、好ましくは、1000μm以下である。   The dimension of the sealing layer M is appropriately set according to the dimensions of the semiconductor element and the substrate. Specifically, when the sealing sheet is prepared as a long sheet, the length in the left-right direction of the sealing layer, that is, the width is, for example, 100 mm or more, preferably 200 mm or more, for example, 1500 mm. Hereinafter, it is preferably 700 mm or less. The thickness of the sealing layer is appropriately set according to the size of the semiconductor element, and is, for example, 30 μm or more, preferably 100 μm or more, and for example, 3000 μm or less, preferably 1000 μm or less.

第1剥離ライナS1および第2剥離ライナS2は、例えば、ポリエチレンシート、ポリエステルシート(PETなど)、ポリスチレンシート、ポリカーボネートシート、ポリイミドシートなどのポリマーシート、例えば、セラミックシート、例えば、金属箔などが挙げられる。剥離ライナにおいて、封止層と接触する接触面には、フッ素処理などの離型処理を施すこともできる。第1剥離ライナおよび第2剥離ライナの寸法は、剥離条件に応じて適宜に設定され、厚みが、例えば、15μm以上、好ましくは、25μm以上であり、また、例えば、125μm以下、好ましくは、75μm以下である。   Examples of the first release liner S1 and the second release liner S2 include polymer sheets such as polyethylene sheets, polyester sheets (such as PET), polystyrene sheets, polycarbonate sheets, and polyimide sheets, such as ceramic sheets, such as metal foil. It is done. In the release liner, the contact surface in contact with the sealing layer can be subjected to a release treatment such as a fluorine treatment. The dimensions of the first release liner and the second release liner are appropriately set according to the release conditions, and the thickness is, for example, 15 μm or more, preferably 25 μm or more, and for example, 125 μm or less, preferably 75 μm. It is as follows.

<封止シート貼付け装置>
以下、本発明の一実施形態の切断装置を備えた封止シート貼付け装置によって、基板に上記封止シートを貼り付ける装置について説明する。なお、本実施例では、封止シートよりも大形の2枚のカバーシートによって封止シートと基板を挟み込んだ状態で封止シートを押圧して基板に貼り付ける場合を例にとって説明する。
<Sealing sheet pasting device>
Hereinafter, the apparatus which affixes the said sealing sheet on a board | substrate with the sealing sheet sticking apparatus provided with the cutting device of one Embodiment of this invention is demonstrated. In the present embodiment, a case where the sealing sheet is pressed and attached to the substrate in a state where the sealing sheet and the substrate are sandwiched between two cover sheets larger than the sealing sheet will be described as an example.

図3は、封止シート貼付け装置の全体構成を示す平面図である。   FIG. 3 is a plan view showing the entire configuration of the sealing sheet attaching apparatus.

図3に示すように、封止シート貼付け装置は、基板供給/回収部1、基板搬送機構2、アライメントステージ3、第1カバーフィルム供給部4、封止シート供給部5、第1搬送機構6、第2カバーフィルム供給部7、第2搬送機構8、第3搬送機構9、貼付けユニット10、第1剥離ユニット11、ワーク搬送機構12、切断装置13および第2剥離ユニット14などから構成されている。ここで、第1、第3搬送機構6、9およびワーク搬送機構12は、天井に敷設されたガイドレールに沿って移動可能に懸垂保持されている。それ以外の構成は、装置基台上に配備されている。以下、各構成について詳述する。   As shown in FIG. 3, the sealing sheet pasting apparatus includes a substrate supply / recovery unit 1, a substrate transport mechanism 2, an alignment stage 3, a first cover film supply unit 4, a sealing sheet supply unit 5, and a first transport mechanism 6. The second cover film supply unit 7, the second transport mechanism 8, the third transport mechanism 9, the pasting unit 10, the first peeling unit 11, the work transport mechanism 12, the cutting device 13, the second peeling unit 14, and the like. Yes. Here, the first and third transport mechanisms 6 and 9 and the work transport mechanism 12 are suspended and held movably along a guide rail laid on the ceiling. Other configurations are arranged on the apparatus base. Hereinafter, each configuration will be described in detail.

基板供給・回収部1は、封止シートTを貼り付ける前の基板Wおよび封止シートTを貼り付けた後の基板Wを差し込み収納するカセットC1、C2をカセット台の上に装填するようになっている。基板Wは、回路面を上向きにし、かつ、上下に所定間隔をおいて多段に各カセットC1、C2に収納されている。   The substrate supply / recovery unit 1 loads the cassettes C1 and C2 into which the substrate W before the sealing sheet T is pasted and the substrate W after the sealing sheet T is pasted and stored on the cassette base. It has become. The substrates W are stored in the cassettes C1 and C2 in multiple stages with the circuit surface facing upward and at a predetermined interval in the vertical direction.

基板搬送機構2にロボットアーム16が備わっている。当該ロボットアーム16は、可動台によって水平移動する。ロボットアーム16自体は、水平進退、旋回および昇降可能に構成されている。さらに、ロボットアーム16は、先端に馬蹄形のベルヌーイチャック17を備えている。ベルヌーイチャック17は、処理対象の基板Wの収納されたカセットC1から基板Wを非接触で取り出し、アライメントステージ3、保持テーブル37、保持テーブル49おおび回収用のカセットC2の順に基板Wを非接触で搬送する。   The substrate transfer mechanism 2 is provided with a robot arm 16. The robot arm 16 moves horizontally by a movable table. The robot arm 16 itself is configured to be able to move forward and backward, turn, and move up and down. Further, the robot arm 16 includes a horseshoe-shaped Bernoulli chuck 17 at the tip. The Bernoulli chuck 17 takes out the substrate W from the cassette C1 in which the substrate W to be processed is stored in a non-contact manner, and contacts the substrate W in the order of the alignment stage 3, the holding table 37, the holding table 49, and the collection cassette C2. Carry in.

アライメントステージ3は、保持面から進退する吸着パッドで基板Wの裏面を吸着保持した状態で回転させながら、基板Wの外周に形成されたアライメント用のノッチを検出する。その後、アライメントステージ3は、当該検出結果に基づいて基板の中心合わせを行う。   The alignment stage 3 detects an alignment notch formed on the outer periphery of the substrate W while rotating in a state where the back surface of the substrate W is sucked and held by a suction pad that advances and retreats from the holding surface. Thereafter, the alignment stage 3 performs center alignment of the substrate based on the detection result.

第1カバーフィルム供給部4は、図4および図5に示すように、底部に位置決め用のピン18が立設されている。すなわち、第1カバーフィルム供給部4は、図6に示すように、第1カバーフィルムF1の外周に形成された位置決め用の孔19に位置決めピン18を挿通し、所定枚数の第1カバーフィルムF1を積層収納している。なお、第1カバーフィルムF1は、図5の2点鎖線で示す封止シートTの外周に沿って複数個の吸着搬送用の孔20が形成されている。   As shown in FIGS. 4 and 5, the first cover film supply unit 4 has positioning pins 18 provided upright on the bottom. That is, as shown in FIG. 6, the first cover film supply unit 4 inserts the positioning pins 18 into the positioning holes 19 formed on the outer periphery of the first cover film F1, and a predetermined number of first cover films F1. Are stored in layers. In addition, the 1st cover film F1 has the several hole 20 for adsorption conveyance along the outer periphery of the sealing sheet T shown by the dashed-two dotted line of FIG.

封止シート供給部5は、図19および図20に示すように、所定枚数の封止シートTが積層収納されている。   As shown in FIGS. 19 and 20, the sealing sheet supply unit 5 stores a predetermined number of sealing sheets T in a stacked manner.

第1搬送機構6は、図7および図8に示すように、第1保持部21の底面に位置決め用のピン22、第1カバーフィルム用の吸着パッド23および封止シート用の吸着パッド24を備えている。なお、第3搬送機構9も第1搬送機構6と同じレイアウトの同じ構成を有している。   As shown in FIGS. 7 and 8, the first transport mechanism 6 includes positioning pins 22, a first cover film suction pad 23, and a sealing sheet suction pad 24 on the bottom surface of the first holding portion 21. I have. Note that the third transport mechanism 9 has the same layout and the same configuration as the first transport mechanism 6.

第2搬送機構8は、図9および図10に示すように、第2保持部26を備えている。第2保持部26は、第1搬送機構6の第1保持部21の底面に備えられた吸着パッド23および吸着パッド24と対向するそれぞれの位置に第1カバーフィルム用の吸着パッド28および封止シート用の吸着パッド29を備えている。なお、第1保持部21のピン22と対向する一には、当該ピン22が挿入される位置決め用の穴27が形成されている。また、第2保持部26の各角部には、第1カバーフィルムF1の位置決め用の孔19に挿通される位置決め用のピン30を備えている。なお、ピン30は、バネまたはシリンダによって昇降するよう構成されている。すなわち、第2搬送機構8は、第1搬送機構6から第1カバーフィルムF1および封止シートTのアライメントを維持したまま受け取るように構成されている。   As illustrated in FIGS. 9 and 10, the second transport mechanism 8 includes a second holding unit 26. The second holding unit 26 includes a suction pad 28 for the first cover film and a seal at respective positions facing the suction pad 23 and the suction pad 24 provided on the bottom surface of the first holding unit 21 of the first transport mechanism 6. A suction pad 29 for the sheet is provided. In addition, a positioning hole 27 into which the pin 22 is inserted is formed in one facing the pin 22 of the first holding portion 21. Further, each corner of the second holding part 26 is provided with positioning pins 30 inserted through the positioning holes 19 of the first cover film F1. The pin 30 is configured to move up and down by a spring or a cylinder. That is, the second transport mechanism 8 is configured to receive from the first transport mechanism 6 while maintaining the alignment of the first cover film F1 and the sealing sheet T.

貼付けユニット10は、図24から図27に示すように、上側プレスユニット32と下側プレスユニット33などから構成されている。上側プレスユニット32は、シリンダ34の作動によってガイドレールに沿って昇降する押圧部材35を備えている。   As shown in FIGS. 24 to 27, the affixing unit 10 includes an upper press unit 32, a lower press unit 33, and the like. The upper press unit 32 includes a pressing member 35 that moves up and down along the guide rail by the operation of the cylinder 34.

下側プレスユニット33は、第2カバーフィルムF2および基板Wを吸着保持する保持テーブル37を備えている。保持テーブル37は、図3の一点鎖線で示すように、第2カバーフィルムF2および基板Wの受け取り位置から上側プレスユニット33の押圧部材35と対向する下方に位置をガイドレールに沿って往復移動可能に構成されている。   The lower press unit 33 includes a holding table 37 that holds the second cover film F2 and the substrate W by suction. The holding table 37 can reciprocate along the guide rail at a position below the pressing member 35 of the upper press unit 33 from the receiving position of the second cover film F2 and the substrate W, as indicated by the one-dot chain line in FIG. It is configured.

なお、押圧部材35の底面および保持テーブル37の表面には、図11に示すように、第1搬送機構6と同じレイアウトで吸着パッド38、39がそれぞれに設けられている。すなわち、一方の押圧部材35は、第1カバーフィルムF1と封止シートTを同時に吸着保持する。他方の保持テーブル37は、第2カバーフィルムF2と基板Wを同時に吸着保持する。また、図25に示すように、押圧部材35および保持テーブル37の少なくとも一方にヒータHが埋設されている。   As shown in FIG. 11, suction pads 38 and 39 are respectively provided on the bottom surface of the pressing member 35 and the surface of the holding table 37 with the same layout as the first transport mechanism 6. That is, one pressing member 35 adsorbs and holds the first cover film F1 and the sealing sheet T at the same time. The other holding table 37 sucks and holds the second cover film F2 and the substrate W at the same time. In addition, as shown in FIG. 25, a heater H is embedded in at least one of the pressing member 35 and the holding table 37.

第1剥離ユニット11は、図24および得26に示すように、テープ供給部41、テープ回収部42および貼付けローラ43などからなる2組の剥離ユニットから構成されている。両剥離ユニットは、図3の水平方向に沿って敷設されたガイドレール上に所定ピッチをおいて並列配備されている。これら剥離ユニットは、個々に水平移動可能に構成されている。また、各剥離ユニットの貼付けローラ43は、上側プレスユニット32の外側の待機位置と上側プレスユニット32と下側プレスユニット33の間の所定の剥離位置とにわたって移動可能に構成されている。また、両貼付けローラ43は、シリンダ44などによって昇降可能に構成されている。   As shown in FIG. 24 and FIG. 26, the first peeling unit 11 includes two sets of peeling units including a tape supply unit 41, a tape recovery unit 42, a pasting roller 43, and the like. Both peeling units are arranged in parallel at a predetermined pitch on guide rails laid along the horizontal direction of FIG. These peeling units are configured to be horizontally movable individually. Further, the affixing roller 43 of each peeling unit is configured to be movable over a standby position outside the upper press unit 32 and a predetermined peeling position between the upper press unit 32 and the lower press unit 33. Further, both the pasting rollers 43 are configured to be moved up and down by a cylinder 44 or the like.

なお、各テープ供給部41は、基板Wよりも幅の狭い剥離テープTsを供給する。一方のテープ回収部42は、第2剥離ライナS2と一体となって剥離された剥離テープTsを巻き取り回収する。他方のテープ回収部42は、第1カバーシートF1と一体となって剥離された剥離テープTsを巻き取り回収する。   Each tape supply unit 41 supplies a release tape Ts that is narrower than the substrate W. One tape collecting unit 42 winds and collects the peeling tape Ts peeled off integrally with the second peeling liner S2. The other tape collecting unit 42 winds and collects the peeling tape Ts peeled off integrally with the first cover sheet F1.

ワーク搬送機構12は、図12に示すように、アーム先端の保持部46に複数個の吸着パッド47を備えている。保持部46は、昇降可能に構成されている。したがって、ワーク搬送機構12は、保持部46によって封止シートTの貼り付けられた基板Wを吸着し、受け取り位置から図3に示す切断装置13側の保持テーブル49に搬送および載置する。   As shown in FIG. 12, the work transport mechanism 12 includes a plurality of suction pads 47 in the holding portion 46 at the tip of the arm. The holding | maintenance part 46 is comprised so that raising / lowering is possible. Therefore, the workpiece conveyance mechanism 12 sucks the substrate W on which the sealing sheet T is adhered by the holding unit 46, and conveys and places the substrate W on the holding table 49 on the cutting device 13 side illustrated in FIG.

切断装置13は、保持テーブル49および切断ユニット50などから構成されている。保持テーブル49は、図13および図14に示すように、基板Wの直径よりも小径な吸着プレート51を有し、ワーク搬送機構12によって移載されて所定の位置合わせ姿勢で載置された基板Wの裏面を真空吸着する。また、保持テーブル49は、第1可動台53および第2可動台54よって前後左右に水平移動するとともに、旋回モータによって中心軸X周りに回転可能に構成されている。すなわち、第1可動台53は、ガイドレール55に沿って受け取り位置と切断ユニット50側に移動する。第2可動台54は、ガイドレール56によってガイドレール55と交差する方向に移動する。   The cutting device 13 includes a holding table 49 and a cutting unit 50. As shown in FIGS. 13 and 14, the holding table 49 has a suction plate 51 having a diameter smaller than the diameter of the substrate W, and is transferred by the workpiece transfer mechanism 12 and placed in a predetermined alignment posture. Vacuum back the back of W. Further, the holding table 49 is configured to horizontally move front and rear and right and left by the first movable base 53 and the second movable base 54 and to be rotatable about the central axis X by a turning motor. That is, the first movable stand 53 moves along the guide rail 55 toward the receiving position and the cutting unit 50 side. The second movable base 54 moves in a direction intersecting with the guide rail 55 by the guide rail 56.

また、保持テーブル49の下方近傍には、アライメント用に基板Wの外周の輪郭画像を取得するカメラ52が配備されている。   In addition, a camera 52 that acquires a contour image of the outer periphery of the substrate W for alignment is provided near the lower portion of the holding table 49.

切断ユニット50は、図15に示すように、ワイヤ供給部60、切断部61およびワイヤ巻取り部62などから構成されている。   As shown in FIG. 15, the cutting unit 50 includes a wire supply unit 60, a cutting unit 61, a wire winding unit 62, and the like.

ワイヤ供給部60には、ワイヤ63を巻き回したリール64が回転軸65に装填されている。回転軸65は、電磁ブレーキに連動連結されて適度の回転抵抗がかけられている。したがって、過剰なワイヤ63の繰り出しが防止されている。なお、ワイヤ63は、通電可能な金属などであればよく、例えば、ニクロム、タングステンなどが利用される。   In the wire supply unit 60, a reel 64 around which a wire 63 is wound is loaded on a rotary shaft 65. The rotation shaft 65 is interlocked with an electromagnetic brake and applied with an appropriate rotational resistance. Accordingly, excessive feeding of the wire 63 is prevented. The wire 63 may be any metal that can be energized, such as nichrome or tungsten.

切断部61は、図28および図29に示すように、ガイドピン66、電源部67およびコントローラ68などから構成されている。ガイドピン66は、上下一対からなり、基板Wと交差する方向にワイヤ63を案内する。また、ガイドピン66は、その先端が金属製であり、コントローラ68を介して電源部67から電流が供給されるよう構成されている。すなわち、コントローラ68は、ガイドピン間のワイヤ63を通電して加熱させる。なお、図15に示すように、ガイドローラGを介してガイドピン間に案内されるワイヤ63に適度のテンションを付与するテンションローラ69が切断部61を挟んで上流側と下流側に配備されている。なお、ガイドピン66、ガイドローラGおよびテンションローラ69は、ワイヤ63の離脱防止用のガイド溝が形成されている。 As shown in FIGS. 28 and 29, the cutting unit 61 includes a guide pin 66, a power supply unit 67, a controller 68, and the like. The guide pins 66 are a pair of upper and lower, and guide the wire 63 in a direction intersecting the substrate W. The guide pin 66 has a metal tip, and is configured such that a current is supplied from the power supply unit 67 via the controller 68. That is, the controller 68 energizes and heats the wire 63 between the guide pins. As shown in FIG. 15, a tension roller 69 that applies an appropriate tension to the wire 63 guided between the guide pins via the guide roller G is disposed on the upstream side and the downstream side with the cutting portion 61 interposed therebetween. Yes. The guide pin 66, the guide roller G, and the tension roller 69 have a guide groove for preventing the wire 63 from being detached.

テンションローラ69は、モータまたはシリンダなどの駆動部と連結されとり、ガイド軸に沿って昇降するよう構成されている。 The tension roller 69 is connected to a drive unit such as a motor or a cylinder, and is configured to move up and down along the guide shaft.

ワイヤ巻取り部62は、封止シート切断後のワイヤ63を巻き取る空リール70を巻取り軸71に装填されている。巻取り軸71は、モータMの回転駆動によりワイヤ63を巻き取り回収ように構成されている。   In the wire winding unit 62, an empty reel 70 for winding the wire 63 after cutting the sealing sheet is loaded on the winding shaft 71. The take-up shaft 71 is configured to take up and collect the wire 63 by the rotational drive of the motor M.

第2剥離ユニット14は、図30に示すように、テープ供給部75、剥離バー76、およびテープ回収部77などが構成されている。これら各構成は、装置フレームに固定された縦壁に固定配備されている。   As shown in FIG. 30, the second peeling unit 14 includes a tape supply unit 75, a peeling bar 76, a tape collecting unit 77, and the like. Each of these components is fixedly arranged on a vertical wall fixed to the apparatus frame.

テープ供給部75は、ロール巻きされた原反ロール78から基板Wよりも幅の狭い剥離テープTsを繰り出し、ガイドローラ79を介してナイフエッジ状の剥離バー72に導く。   The tape supply unit 75 unwinds the peeling tape Ts narrower than the substrate W from the roll-rolled original roll 78 and guides it to the knife-edge peeling bar 72 via the guide roller 79.

剥離バー76は、剥離テープTsを押圧して第1カバーフィルムF1に貼り付けるとともに、剥離テープTsを折り返して反転させた後、剥離テープTsと一体となった第1カバーフィルムF1を封止シートT上から剥離する。   The release bar 76 presses the release tape Ts and affixes it to the first cover film F1, and after folding the release tape Ts and inverting it, the first cover film F1 integrated with the release tape Ts is sealed with the sealing sheet. Peel from T.

テープ回収部77に剥離テープTsおよび第1カバーフィルムF1を巻取り軸80に巻取り回収するよう構成されている。   The peeling tape Ts and the first cover film F1 are wound and collected on the winding shaft 80 in the tape collecting part 77.

次に、上記実施例装置を用いて表面保護用の封止シートTを基板Wの表面に貼り付けて基板Wの形状に切断するための一連の動作を図16のフローチャートおよび図17から図30に基づいて説明する。   Next, a series of operations for attaching the sealing sheet T for surface protection to the surface of the substrate W and cutting it into the shape of the substrate W using the apparatus of the above embodiment is shown in the flowchart of FIG. 16 and FIGS. Based on

貼付け指令が出されると、第1搬送機構6、第3搬送機構9および基板搬送機構2が略同時に作動する。   When the pasting command is issued, the first transport mechanism 6, the third transport mechanism 9, and the substrate transport mechanism 2 operate substantially simultaneously.

第1搬送機構6は、第1保持部21を第1カバーフィルム供給部4の上方へ移動させる。その後、図17に示すように、第1保持部21を下降させて第1カバーフィルムF1を吸着保持する。   The first transport mechanism 6 moves the first holding unit 21 above the first cover film supply unit 4. Then, as shown in FIG. 17, the 1st holding | maintenance part 21 is dropped and the 1st cover film F1 is adsorbed-held.

第1搬送機構6の第1保持部21は、図18に示すように、第1カバーフィルムF1を吸着保持したまま封止シート供給部5の上方に移動する(ステップS1A)。その後、第1保持部21は、図19に示すように、第1保持部21を下降させて第1カバーフィルムF1に形成された吸着用の孔20を介して封止シートTを吸着保持する(ステップS2A)。   As shown in FIG. 18, the first holding unit 21 of the first transport mechanism 6 moves above the sealing sheet supply unit 5 while holding the first cover film F1 by suction (step S1A). Thereafter, as shown in FIG. 19, the first holding unit 21 lowers the first holding unit 21 and sucks and holds the sealing sheet T through the suction holes 20 formed in the first cover film F1. (Step S2A).

図20に示すように、封止シートTを吸着保持して上方に移動した第1保持部21の下方に、第2搬送機構8の第2保持部26が移動する。第1保持部21と第2保持部26が対向する位置合わせが完了すると、図21に示すように、第1保持部21が下降する。このとき、第1保持部21の位置決め用のピン22が、第2保持部26の位置決め用の穴27に挿入される。同時に、第2搬送機構8の角部に設けられたピン30が、第1カバーフィルムF1の角部の孔19に挿入される。したがって、第1カバーフィルムF1は、位置合わせ姿勢が維持されたまま、第1搬送機構6から第2搬送機構8に受け渡される(ステップS3A)。   As shown in FIG. 20, the second holding unit 26 of the second transport mechanism 8 moves below the first holding unit 21 that has moved upward by adsorbing and holding the sealing sheet T. When the alignment between the first holding unit 21 and the second holding unit 26 is completed, the first holding unit 21 is lowered as shown in FIG. At this time, the positioning pins 22 of the first holding part 21 are inserted into the positioning holes 27 of the second holding part 26. At the same time, the pins 30 provided at the corners of the second transport mechanism 8 are inserted into the holes 19 at the corners of the first cover film F1. Therefore, the first cover film F1 is transferred from the first transport mechanism 6 to the second transport mechanism 8 while maintaining the alignment posture (step S3A).

受け渡しが完了すると、第1保持部21は上昇し、次の第1カバーフィルムF1の搬出処理を行う。   When the delivery is completed, the first holding unit 21 moves up and performs the next carry-out process of the first cover film F1.

第2保持部26は、上側プレスユニット32の下方に移動する。上側プレスユニット32の押圧部材35と第2保持部26を対向させた位置合わせが完了すると、図22に示すように、第2保持部26を上昇させる。押圧部材35は、底面の吸着パッド38、39によって、第1カバーフィルムF1および封止シートTを吸着保持する(ステップS4A)。その後、図23に示すように、第2保持部26は下降し、第1プレスユニット32の外側の待機位置へと移動する。   The second holding unit 26 moves below the upper press unit 32. When the positioning of the pressing member 35 of the upper press unit 32 and the second holding portion 26 facing each other is completed, the second holding portion 26 is raised as shown in FIG. The pressing member 35 sucks and holds the first cover film F1 and the sealing sheet T by the suction pads 38 and 39 on the bottom surface (step S4A). Thereafter, as shown in FIG. 23, the second holding unit 26 moves down and moves to a standby position outside the first press unit 32.

第1剥離ユニット11のいずれか一方の剥離ユニットの貼付けローラ43が、第1プレスユニット32と第2プレスユニット33の間に移動する。封止シートTの裏面側の端部に貼付けローラ43が達すると、図24に示すように、貼付けローラ43が上昇して剥離テープTsを第2剥離ライナS2に貼り付ける。その後、剥離ユニットは、貼付けローラ43を移動させながら剥離テープTsを第2剥離ライナS2に貼り付けるとともに、当該移動速度に同期させて剥離テープTsを巻き取る。このとき、第2剥離ライナS2は、剥離テープTsと一体となって封止シートTから剥離される(ステップS5A)。なお、第2剥離ライナS2を剥離する時点で、第2カバーフィルムF2を介して基板Wを吸着保持している保持テーブル37が、押圧部材35の下方に移動してきている。   The sticking roller 43 of any one peeling unit of the first peeling unit 11 moves between the first press unit 32 and the second press unit 33. When the affixing roller 43 reaches the end on the back surface side of the sealing sheet T, the affixing roller 43 rises and affixes the release tape Ts to the second release liner S2, as shown in FIG. Thereafter, the peeling unit sticks the peeling tape Ts to the second peeling liner S2 while moving the sticking roller 43, and winds the peeling tape Ts in synchronization with the moving speed. At this time, the second release liner S2 is peeled off from the sealing sheet T together with the release tape Ts (step S5A). At the time when the second release liner S2 is peeled off, the holding table 37 holding the substrate W by suction via the second cover film F2 has moved below the pressing member 35.

次に、他方の第3搬送機構9は、第1搬送機構6と同様に、図17および図18に示すように動作と同様に、第3保持部31を第2カバーフィルム供給部7の上方へ移動させた後、第3保持部31を下降させて第2カバーフィルムF2を吸着保持する。第3保持部31は、第2カバーフィルムF2を吸着保持すると上昇し、下側プレスユニット33へと移動する(ステップS1B)。その後、第3保持部31は、保持テーブル37に第2カバーフィルムF2を載置する(ステップS2B)。   Next, as with the first transport mechanism 6, the other third transport mechanism 9 moves the third holding unit 31 above the second cover film supply unit 7 as shown in FIGS. 17 and 18. Then, the third holding portion 31 is lowered to hold the second cover film F2 by suction. The third holding unit 31 rises when the second cover film F2 is held by suction, and moves to the lower press unit 33 (step S1B). Thereafter, the third holding unit 31 places the second cover film F2 on the holding table 37 (step S2B).

基板搬送機構2のロボットアーム16は、先端のベルヌーイチャック17をカセット台に載置されたカセットC1に向けて移動させる。ベルヌーイチャック17は、カセットC1に収容されている基板W同士の隙間に挿入される。ベルヌーイチャック17によって基板Wを非接触で吸着保持したロボットアーム16は、カセットC1から基板Wを搬出してアライメントステージ3に載置する(ステップS1C)。   The robot arm 16 of the substrate transport mechanism 2 moves the Bernoulli chuck 17 at the tip toward the cassette C1 placed on the cassette base. The Bernoulli chuck 17 is inserted into the gap between the substrates W accommodated in the cassette C1. The robot arm 16 that holds the substrate W by the Bernoulli chuck 17 in a non-contact manner carries the substrate W from the cassette C1 and places it on the alignment stage 3 (step S1C).

アライメントステージ3に載置された基板Wは、外周に形成されているノッチを利用して位置合わせされる(ステップS2C)。位置合わせの済んだ基板Wは、再びベルヌーイチャック17によって搬出される。ベルヌーイチャック17は、保持テーブル37に載置されている第2カバーフィルムF2の上に基板Wを載置する(ステップS3C)。   The substrate W placed on the alignment stage 3 is aligned using notches formed on the outer periphery (step S2C). The aligned substrate W is carried out by the Bernoulli chuck 17 again. The Bernoulli chuck 17 places the substrate W on the second cover film F2 placed on the holding table 37 (step S3C).

保持テーブル37は、第2カバーフィルムF2を吸着保持するとともに、第2カバーフィルムF2の吸着用の孔20を介して基板Wを吸着保持したまま、上側プレスユニット32の押圧部材35の下方へと移動する。   The holding table 37 sucks and holds the second cover film F2, and holds the substrate W by suction through the suction holes 20 of the second cover film F2, and moves downward to the pressing member 35 of the upper press unit 32. Moving.

押圧部材35と保持テーブル37とが対向する位置合わせが完了すると、図25に示すように、ヒータHによって加熱されている押圧部材35を所定位置まで下降させる。すなわち、押圧部材35と保持テーブル37とによって挟み込まれている封止シートTの封止層Mが、基板Wに押圧される(ステップS6)。このとき、ヒータHの加熱によって封止シートTの封止層Mは軟化されているので、基板Wの表面に形成された凹凸に侵入して密着する。また、所定時間をかけて加圧および加熱することにより、封止層Mが半硬化状態になる。   When the alignment between the pressing member 35 and the holding table 37 is completed, the pressing member 35 heated by the heater H is lowered to a predetermined position as shown in FIG. That is, the sealing layer M of the sealing sheet T sandwiched between the pressing member 35 and the holding table 37 is pressed against the substrate W (step S6). At this time, since the sealing layer M of the sealing sheet T is softened by the heating of the heater H, the sealing layer M enters and adheres to the unevenness formed on the surface of the substrate W. Moreover, the sealing layer M will be in a semi-hardened state by pressurizing and heating over predetermined time.

所定時間経過後に押圧部材35を上昇させる。剥離ユニットの貼付けローラ43が、第1プレスユニット32と第2プレスユニット33の間に移動する。第1カバーフィルムF1の端部に貼付けローラ43が達すると、図26に示すように、貼付けローラ43を下降させて剥離テープTsを第1カバーフィルムF1に貼り付ける。その後、貼付けローラ43を移動させながら剥離テープTsを第1カバーフィルムF1に貼り付けてゆくとともに、当該移動速度に同期させて剥離テープTsを巻き取ることにより、第1カバーフィルムF1を剥離テープTsと一体にして封止シートTから剥離する(ステップS7)。   After a predetermined time elapses, the pressing member 35 is raised. The peeling roller 43 of the peeling unit moves between the first press unit 32 and the second press unit 33. When the application roller 43 reaches the end of the first cover film F1, the application roller 43 is lowered and the release tape Ts is applied to the first cover film F1 as shown in FIG. Thereafter, the release tape Ts is applied to the first cover film F1 while moving the application roller 43, and the first cover film F1 is taken up in synchronization with the moving speed, thereby removing the first cover film F1 from the release tape Ts. And peeled off from the sealing sheet T (step S7).

封止シートTの貼り付けられた基板Wを吸着保持した保持テーブル37は、ワーク搬送機構12の受け渡し位置へと移動する。ワーク搬送機構12の保持部46は、図27に示すように、封止シートTの表面を吸着保持して基板Wを保持テーブル49に搬送し、その後に保持テーブル49に基板Wを載置する(ステップS8)。このとき、第2カバーフィルムF2は、保持テーブル37に吸着保持されたまま残される。なお、第2カバーフィルムF2は、第3搬送機構9によって図示しなし、回収部に搬送されて廃棄される。   The holding table 37 that sucks and holds the substrate W to which the sealing sheet T is attached moves to the delivery position of the work transport mechanism 12. As shown in FIG. 27, the holding unit 46 of the workpiece transfer mechanism 12 sucks and holds the surface of the sealing sheet T to transfer the substrate W to the holding table 49, and then places the substrate W on the holding table 49. (Step S8). At this time, the second cover film F2 is left adsorbed and held on the holding table 37. The second cover film F2 is not shown by the third transport mechanism 9, and is transported to the collection unit and discarded.

基板Wが、吸着プレート51に吸着保持されると、吸着プレート51を回転させながらカメラ52によって基板Wの外周を撮影する。取得された基板Wの輪郭画像を例えば2値化処理およびパターンマッチングなどの画像処理を施して基板Wの中心座標を求める。当該中心座標に基づいて、可動台53、54を操作して位置合わせを行う(ステップS9)。   When the substrate W is sucked and held on the suction plate 51, the outer periphery of the substrate W is photographed by the camera 52 while rotating the suction plate 51. The obtained contour image of the substrate W is subjected to image processing such as binarization processing and pattern matching, for example, to obtain the center coordinates of the substrate W. Based on the center coordinates, the movable bases 53 and 54 are operated to perform alignment (step S9).

位置合わせが完了すると、保持テーブル49は、切断ユニット50側に移動する。保持テーブル49が切断ユニット50側に達すると、さらに切断ユニット50側に水平移動(図中のX方向)する。この保持テーブル49の水平移動に伴って切断ユニット50のモータMを駆動させ、ワイヤ63を一方向に走行させるとともに、コントローラ68を介して所定の電流が電源部67からガイドピン66に流される。保持テーブル49が切断位置に移動すると、図27に示すように、ワイヤ63が基板Wの周縁に接触するまで第1カバーフィルムF1および封止層Mに切り込みをいれてゆく。ワイヤ63が、所定位置に達すると、図28に示すように、吸着プレート51が中心軸X回りに回転するとともに、ワイヤ63を一方向に走行させながら当該ワイヤ63の加熱された部分のみを基板Wの外周に当接させる。したがって、貼付け処理によって基板Wからはみ出ている封止層Mは、基板形状に切断される(ステップS10)。   When the alignment is completed, the holding table 49 moves to the cutting unit 50 side. When the holding table 49 reaches the cutting unit 50 side, it further moves horizontally to the cutting unit 50 side (X direction in the figure). Along with the horizontal movement of the holding table 49, the motor M of the cutting unit 50 is driven to run the wire 63 in one direction, and a predetermined current is passed from the power source 67 to the guide pin 66 via the controller 68. When the holding table 49 moves to the cutting position, the first cover film F1 and the sealing layer M are cut until the wire 63 comes into contact with the peripheral edge of the substrate W as shown in FIG. When the wire 63 reaches a predetermined position, as shown in FIG. 28, the suction plate 51 rotates around the central axis X, and only the heated portion of the wire 63 is moved to the substrate while the wire 63 travels in one direction. Contact the outer periphery of W. Accordingly, the sealing layer M protruding from the substrate W by the pasting process is cut into a substrate shape (step S10).

なお、切断過程で、基板外周にノッチなどの凹凸を有する場合、基板外周に対してワイヤ63の所定の押圧が作用するように、保持テーブル49に移動させる。すなわち、アライメントステージ3で取得した基板Wの輪郭画像データの位置情報に基づいて、保持テーブル49を移動させる。同時に、ガイドピン66間に所定のテンションがかかるようにテンションローラ69を昇降操作する。   In the cutting process, when the substrate periphery has irregularities such as notches, it is moved to the holding table 49 so that a predetermined pressure of the wire 63 acts on the substrate periphery. That is, the holding table 49 is moved based on the position information of the contour image data of the substrate W acquired by the alignment stage 3. At the same time, the tension roller 69 is moved up and down so that a predetermined tension is applied between the guide pins 66.

切断処理が完了すると、保持テーブル49は、初期の進路上にある剥離開始位置に移動する。所定位置に保持テーブル49が達すると、図30に示すように、第2剥離ユニット14が作動して基板W上の封止シートTのテープ貼付け開始端に剥離バー76を下降させる。剥離バー76の押圧により剥離テープTsが、封止シートT上の第1剥離ライナS1の端部に貼付けられると、可動台54が移動する。この可動台54の移動に同期させて剥離テープTsを巻取り軸80に巻き取ってゆくことにより、第1剥離ライナS1が剥離テープTsと一体となって封止シートTから剥離されてゆく(ステップS11)。   When the cutting process is completed, the holding table 49 moves to the peeling start position on the initial course. When the holding table 49 reaches the predetermined position, the second peeling unit 14 operates to lower the peeling bar 76 to the tape application start end of the sealing sheet T on the substrate W as shown in FIG. When the peeling tape Ts is affixed to the end of the first peeling liner S1 on the sealing sheet T by the pressing of the peeling bar 76, the movable base 54 moves. By winding the release tape Ts around the take-up shaft 80 in synchronization with the movement of the movable base 54, the first release liner S1 is peeled off from the sealing sheet T together with the release tape Ts ( Step S11).

封止シートTの表面から第1剥離ライナS1を剥離すると、保持テーブル49は、基板搬送機構2への受け渡し位置に移動する。   When the first release liner S <b> 1 is peeled from the surface of the sealing sheet T, the holding table 49 moves to a delivery position to the substrate transport mechanism 2.

基板搬送装置2のベルヌーイチャック17が基板Wを非接触で保持すると、カセットC2まで搬送して収納する(ステップS12)。   When the Bernoulli chuck 17 of the substrate transport apparatus 2 holds the substrate W in a non-contact manner, the substrate W is transported to and stored in the cassette C2 (step S12).

以上で基板Wへの1回の封止シートTの貼付け処理が完了し、以後、所定枚数の基板Wに対してシート貼付け処理が完了するまで上記作動を順次繰り返してゆく(ステップS13)。   The above-described operation is sequentially repeated until the process of pasting the sealing sheet T to the substrate W is completed, and thereafter the sheet pasting process is completed for a predetermined number of substrates W (step S13).

上記実施例によれば、封止シートTと押圧部材35の間に当該封止シートTより大きいサイズの第1カバーフィルムF1を介在させ、かつ、基板Wと保持テーブル37の間に当該基板Wよりも大きいサイズの第2カバーフィルF2のそれぞれを介在させているので、押圧によって基板Wからはみ出る封止層Mを第1カバーフィルムF1および第2カバーフィルムF2が受け止める。したがって、押圧部材35および保持テーブル37のそれぞれの保持面に封止層Mが付着するのを防止することができ、ひいて両保持面のメンテナンスの回数を低減することができる。   According to the above embodiment, the first cover film F 1 having a size larger than the sealing sheet T is interposed between the sealing sheet T and the pressing member 35, and the substrate W is interposed between the substrate W and the holding table 37. Since each of the second cover fills F2 having a larger size is interposed, the first cover film F1 and the second cover film F2 receive the sealing layer M protruding from the substrate W by pressing. Therefore, the sealing layer M can be prevented from adhering to the holding surfaces of the pressing member 35 and the holding table 37, and the number of times of maintenance of both holding surfaces can be reduced.

なお、本発明は以下のような形態で実施することもできる。   In addition, this invention can also be implemented with the following forms.

(1)上記実施例装置において、第1カバーフィルムF1および第2カバーフィルムF2は、半導体素子CPの非形成面の領域(非アクティブ領域)のみを吸着する形態に限定されない。例えば、第1および第2カバーフィルムF1、F2の全面が、通気性を有していてもよい。   (1) In the above-described embodiment device, the first cover film F1 and the second cover film F2 are not limited to the form that adsorbs only the region (non-active region) of the non-formation surface of the semiconductor element CP. For example, the entire surfaces of the first and second cover films F1, F2 may have air permeability.

(2)上記実施例装置において、基板Wへの封止シートTの貼り付けは、減圧室で行ってもよい。例えば、保持テーブル37および押圧部材35を箱状のハウジングにそれぞれを収納する。上側のハウジングを押圧部材35の下降に伴って下降するよう構成し、当該上側のハウジングの下端と下側のハウジングの上端を当接させて減圧室を構成する。当該減圧室に外部の真空源と流路を介して接続することにより、内部を真空状態に減圧することができる。   (2) In the above-described embodiment apparatus, the sealing sheet T may be attached to the substrate W in a decompression chamber. For example, the holding table 37 and the pressing member 35 are housed in a box-shaped housing. The upper housing is configured to descend as the pressing member 35 descends, and the lower end of the upper housing and the upper end of the lower housing are brought into contact with each other to form a decompression chamber. By connecting the decompression chamber to an external vacuum source through a flow path, the interior can be decompressed to a vacuum state.

(3)上記実施例装置では、円形の基板Wに封止シートTを貼り付ける場合を例にとって説明したが、基板形状は、正方形、長方形または多角形であってもよい。これらの形状の基板に貼り付けた封止シートを切断する場合、保持テーブル49の直線移動と所定角度の回転を繰り返すことにより、粘着体を基板形状に精度よく切断することができる。   (3) In the above-described embodiment device, the case where the sealing sheet T is attached to the circular substrate W has been described as an example. However, the substrate shape may be a square, a rectangle, or a polygon. When cutting the sealing sheet attached to the substrate having these shapes, the adhesive body can be accurately cut into the substrate shape by repeating the linear movement of the holding table 49 and the rotation of a predetermined angle.

10 … 貼付けユニット
13 … 切断装置
35 … 押圧部材
37 … 保持テーブル
49 … 保持テーブル
50 … 切断ユニット
51 … 吸着プレート
60 … ワイヤ供給部
61 … 切断部
62 … ワイヤ巻取り部
63 … ワイヤ
66 … ガイドピン
67 … 電源部
68 … コントローラ
69 … テンションローラ
T … 封止シート
M … 封止層
CF1… 第1カバーフィルム
CF2… 第2カバーフィルム
S1 … 第1剥離ライナ
S2 … 第2剥離ライナ
W … 半導体基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Pasting unit 13 ... Cutting device 35 ... Pressing member 37 ... Holding table 49 ... Holding table 50 ... Cutting unit 51 ... Suction plate 60 ... Wire supply part 61 ... Cutting part
62 ... Wire winding part 63 ... Wire 66 ... Guide pin 67 ... Power supply part 68 ... Controller 69 ... Tension roller T ... Sealing sheet M ... Sealing layer CF1 ... First cover film CF2 ... Second cover film S1 ... First Peeling liner S2 ... Second peeling liner W ... Semiconductor substrate

Claims (3)

半導体装置を製造する過程で樹脂組成物からなる封止層の形成された封止シートを半導体基板に貼り付ける封止シート貼付け方法であって、
前記封止シートと同形状の剥離ライナが添設された封止シートの保持面と貼付け部材の間に、当該封止シートより大きい通気性を有する第1カバーフィルムを介在させて当該貼付け部材に封止シートを吸着保持するシート保持過程と、
保持テーブルに前記半導体基板の間に、当該半導体基板よりも大きい通気性を有する第2カバーフィルムを介在させて当該保持テーブルに半導体基板を保持する基板保持過程と、
前記封止シートを加熱しながら半導体基板に貼り付ける貼付け過程と、
を備えたことを特徴とする封止シート貼付け方法。
A sealing sheet attaching method for attaching a sealing sheet on which a sealing layer made of a resin composition is formed in a process of manufacturing a semiconductor device to a semiconductor substrate,
Between the holding surface of the sealing sheet to which the release liner having the same shape as the sealing sheet is attached and the pasting member, a first cover film having a larger air permeability than the sealing sheet is interposed in the pasting member. A sheet holding process for adsorbing and holding the sealing sheet;
A substrate holding process for holding the semiconductor substrate on the holding table by interposing a second cover film having a larger air permeability than the semiconductor substrate between the semiconductor substrates on the holding table;
An affixing process for affixing to the semiconductor substrate while heating the sealing sheet;
The sealing sheet sticking method characterized by having provided.
請求項1に記載の封止シート貼付け方法において、
前記貼付け過程は、真空状態にした減圧室内で封止シートを半導体基板に貼り付ける
ことを特徴とする封止シート貼付け方法。
In the sealing sheet sticking method of Claim 1,
The said sticking process affixes a sealing sheet on a semiconductor substrate in the decompression chamber made into the vacuum state. The sealing sheet sticking method characterized by the above-mentioned.
請求項1または請求項2に記載の封止シート貼付け方法において、
前記剥離ライナと当接する第1カバーフィルムは、半導体基板に形成された複数個の半導体素子群の外側と対向する剥離ライナの部分に貫通孔を有する
ことを特徴とする封止シート貼付け方法。
In the sealing sheet sticking method according to claim 1 or 2,
The first cover film that contacts the release liner has a through hole in a part of the release liner that faces the outside of the plurality of semiconductor element groups formed on the semiconductor substrate.
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