JP2015109010A - 半導体装置の設計方法、設計支援プログラム、設計装置、及び、半導体装置 - Google Patents
半導体装置の設計方法、設計支援プログラム、設計装置、及び、半導体装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015109010A JP2015109010A JP2013252039A JP2013252039A JP2015109010A JP 2015109010 A JP2015109010 A JP 2015109010A JP 2013252039 A JP2013252039 A JP 2013252039A JP 2013252039 A JP2013252039 A JP 2013252039A JP 2015109010 A JP2015109010 A JP 2015109010A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- clock
- voltage
- control
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 85
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 68
- 230000006870 function Effects 0.000 claims abstract description 90
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 35
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 69
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 59
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 36
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 6
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 abstract description 37
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 abstract 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 26
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 25
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 23
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 19
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 14
- 238000004800 variational method Methods 0.000 description 14
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 11
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 9
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000011960 computer-aided design Methods 0.000 description 5
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/36—Circuit design at the analogue level
- G06F30/367—Design verification, e.g. using simulation, simulation program with integrated circuit emphasis [SPICE], direct methods or relaxation methods
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2119/00—Details relating to the type or aim of the analysis or the optimisation
- G06F2119/06—Power analysis or power optimisation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2119/00—Details relating to the type or aim of the analysis or the optimisation
- G06F2119/12—Timing analysis or timing optimisation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Sources (AREA)
Abstract
Description
先ず、本願において開示される代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面中の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。
本願において開示される代表的な実施の形態は、コンピュータによって設計支援プログラムを実行することによって、動作電圧と動作周波数が与えられクロック信号に同期して所定の処理を実行する論理回路(8)に対して、前記処理が実行される期間の前記論理回路の動作電圧と動作周波数とを算出する、半導体装置の設計方法であって、以下のように構成される。
項1において、前記第1動作電圧と前記第1動作周波数は、前記処理を実行する期間を通してそれぞれ一定とされ、前記負荷容量関数は、前記電力プロファイルを前記クロックサイクルに関する関数に変換し(P(q)、S3)、変換された前記電力プロファイルと前記第1動作電圧と前記第1動作周波数とから算出される(C(q)=(P(q)-L(q))/(f0・V02)、S4)。
項1または項2において、前記論理回路は、プログラム(15)を実行可能であり、前記プログラムに含まれる命令によって動作電圧と動作周波数を設定可能なプロセッサ(8、21)を含んで構成される。
項1または項2において、前記論理回路には、前記論理回路に供給される動作電圧と動作周波数を設定可能な制御回路(5)が接続される。
項4において、前記コントロールデータは、前記処理におけるすべてのクロックサイクルについて、設定されるべき動作電圧と動作周波数とを含む。
本願において開示される代表的な実施の形態は、コンピュータによって実行されることによって、項1から項5のうちのいずれか1項に記載の半導体装置の設計方法を、前記コンピュータに実行させる、設計支援プログラムである。
項6において、前記電力プロファイルは、前記論理回路のネットリスト情報に基づいて、シミュレーションによって算出される。
本願において開示される代表的な実施の形態は、項6または項7に記載の設計支援プログラムを実行するコンピュータを備える、設計装置である。
本願において開示される代表的な実施の形態は、プロセッサ(21)と、前記プロセッサに供給するプログラムを格納可能なメモリ(22、23)と、前記プロセッサにクロックを供給可能なクロック供給回路(6)と、前記プロセッサに電源を供給可能な電源供給回路(7)と、制御回路(5)とを備える半導体装置(20)であって、以下のように構成される。
項9において、前記プロセッサは、複数のCPU(21_1〜21_4)を含んで構成される。
項9または項10において、前記半導体装置は、単一半導体基板上に構成される。
本願において開示される代表的な実施の形態は、クロックに同期して動作する論理回路(8)と、前記論理回路に前記クロックを供給可能なクロック供給回路(6)と、前記論理回路に電源を供給可能な電源供給回路(7)と、制御回路(5)とを備える半導体装置であって、以下のように構成される。
項12において、前記メモリは複数のデータレジスタ(90〜9n)を含んで構成され、前記制御回路はさらに、前記クロックをカウントするクロックカウンタ(10)と、前記クロックカウンタによるカウント値と、前記コントロールデータに規定されるクロックサイクル値とを比較する一致検出回路(17)とを備える。
項12において、前記制御回路は、前記クロックをカウントするクロックカウンタ(10)をさらに備える。前記メモリは、前記コントロールデータのクロックサイクル値に対応するアドレスに、対応する動作電圧と動作周波数を規定する設定データが格納される。前記メモリは、前記クロックカウンタの出力するクロックサイクル値がアドレスとして入力され、対応する動作電圧と動作周波数を規定する設定データが読み出される。前記制御回路は、前記メモリから読み出された動作電圧と動作周波数を規定する設定データを、前記周波数制御レジスタと前記電圧制御レジスタとにそれぞれ設定可能に構成される。
項14において、前記メモリは不揮発性メモリである。
項12または項15において、前記半導体装置は、単一半導体基板上に構成される。
実施の形態について更に詳述する。
<アルゴリズム>
上述の代表的な実施の形態によって、消費エネルギーが理論的に最小化された、理想的なDVFS制御を実行可能とすることができる、原理について詳しく説明する。
図7は、本実施形態のアルゴリズムを適用した半導体装置の設計方法の一例を表す説明図である。
図8は、実施形態2に係る、半導体装置の設計方法を適用した適用例を表す説明図である。
図13は、実施形態3に係る半導体装置の設計方法を適用した適用例を表す説明図である。
図15は、実施形態4に係る、半導体装置の設計方法を適用した適用例を表す説明図である。
本実施形態5においては、図7に示したDVFS対象回路8の中に、並列動作可能な複数のIP(Intellectual Property)が存在する場合を考える。図18は複数のIPを備えたDVFS制御対象回路8を含むマイコン20の構成例を表すブロック図である。図7に示される半導体装置の設計方法は、このDVFS制御対象回路8にも適用可能であり、例えば、オイラー方程式解の計算ツール3は、オイラー方程式解に基づくDVFS制御を実施した際の消費エネルギーを出力する機能を備えている。
本実施形態6では、実施形態1に示した半導体装置の設計方法を、回路・制御方式をセンサー・マイコンシステムに適用した、応用例について説明する。
2 電力プロファイル情報P(t)
3 オイラー方程式解の計算ツール
4 周波数・電圧コントロールデータ
5 DVFS制御回路
6 クロック供給回路
7 電源供給回路
8 DVFS対象回路
9 メモリ
10 クロック数カウンタ
11 DVFS制御レジスタ
12 制御回路
13 周波数制御レジスタ
14 電圧制御レジスタ
15 プログラム
16 コードメモリ
17 クロック数一致検出/データ出力回路
18 センサ
19 データセンタ
20 マイコン
21 CPU
22 RAM
23 ROM
24 AD変換器
25 周辺回路
26 ローカルメモリ(LM)
27 通信回路
28 通信スタートビット
29 送信レジスタ
30 バス
31 バスブリッジ
32 DMA制御回路(DMAC)
33 割り込み制御回路(INTC)
90〜9n データレジスタ
100 半導体装置
S1 消費電力測定(シミュレーションまたは実機評価)
S2 変分法によるオイラー方程式解の計算
S3 変数変換(時刻tからクロックサイクルq(t)への変換)
S4 負荷容量関数C(q)の導出
S5 周波数関数f(q)と電圧関数V(q)の導出
Claims (16)
- コンピュータによって設計支援プログラムを実行することによって、動作電圧と動作周波数が与えられクロック信号に同期して所定の処理を実行する論理回路に対して、前記処理が実行される期間の前記論理回路の動作電圧と動作周波数とを算出する、半導体装置の設計方法であって、
前記論理回路に第1動作電圧と第1動作周波数とを与えて前記処理を実行させたときの、前記処理の実行に伴うクロックサイクルに対する消費電力の関係を、電力プロファイルとして用意し、
前記電力プロファイルに基づいて、前記処理の実行に伴うクロックサイクルに対する、前記論理回路の負荷容量の関数を負荷容量関数として求め、
前記負荷容量関数に基づき、電力とクロックサイクルについてのオイラー方程式を満たすように、前記処理が実行される期間の前記論理回路の動作電圧と動作周波数とを、それぞれクロックサイクルに対する関数として算出する、半導体装置の設計方法。 - 請求項1において、前記第1動作電圧と前記第1動作周波数は、前記処理を実行する期間を通してそれぞれ一定とされ、
前記負荷容量関数は、前記電力プロファイルと前記第1動作電圧と前記第1動作周波数とから算出される、半導体装置の設計方法。 - 請求項1において、前記論理回路は、プログラムを実行可能であり、前記プログラムに含まれる命令によって動作電圧と動作周波数を設定可能なプロセッサを含んで構成され、
クロックサイクルに対する関数としてそれぞれ算出された動作電圧と動作周波数とに基づいて、動作電圧と動作周波数を設定する命令を、前記処理を実行するプログラムに追加する、半導体装置の設計方法。 - 請求項1において、前記論理回路には、前記論理回路に供給される動作電圧と動作周波数を設定可能な制御回路が接続され、
前記制御回路は、クロックカウンタを備え、動作電圧と動作周波数とがクロックサイクル値に対応付けて規定されたコントロールデータと、前記クロックカウンタによるカウント値と、前記コントロールデータに規定されるクロックサイクル値とを比較して、一致したときに、対応する動作電圧と動作周波数とを、前記論理回路に供給される動作電圧と動作周波数として設定可能に構成され、
クロックサイクルに対する関数としてそれぞれ算出された動作電圧と動作周波数とに基づいて、前記コントロールデータを生成する、半導体装置の設計方法。 - 請求項4において、前記コントロールデータは、前記処理におけるすべてのクロックサイクルについて、設定されるべき動作電圧と動作周波数とを含む、半導体装置の設計方法。
- コンピュータによって実行されることによって、
請求項1に記載の半導体装置の設計方法を、前記コンピュータに実行させる、設計支援プログラム。 - 請求項6において、前記電力プロファイルは、前記論理回路のネットリスト情報に基づいて、シミュレーションによって算出される、設計支援プログラム。
- 請求項6に記載の設計支援プログラムを実行するコンピュータを備える、設計装置。
- プロセッサと、前記プロセッサに供給するプログラムを格納可能なメモリと、前記プロセッサにクロックを供給可能なクロック供給回路と、前記プロセッサに電源を供給可能な電源供給回路と、制御回路とを備える半導体装置であって、
前記制御回路は、前記クロック供給回路が前記プロセッサに供給する前記クロックの周波数を設定可能な周波数制御レジスタと、前記電源供給回路が前記プロセッサに供給する前記電源の電圧を設定可能な電圧制御レジスタとを備え、
前記プロセッサの命令セットは、前記周波数制御レジスタと前記電圧制御レジスタに値を設定可能な命令を含んで構成され、
前記プログラムは、所定の処理を前記プロセッサに実行させるルーチンを含み、前記ルーチンは、動作電圧と動作周波数を設定する命令を含み、
前記ルーチンにおいて設定される前記動作電圧と前記動作周波数は、前記ルーチンを実行するときのクロックサイクルに対する関数としてそれぞれ算出された動作電圧関数と動作周波数関数とに基づいて算出され、
前記動作電圧関数と前記動作周波数関数は、第1動作電圧と第1動作周波数とを与えて前記プロセッサに前記ルーチンを実行させたときの、前記ルーチンの実行に伴うクロックサイクルに対する消費電力の関係を、電力プロファイルとして用意し、前記電力プロファイルに基づいて、前記クロックサイクルに対する前記プロセッサの負荷容量の関係を負荷容量関数として求め、前記負荷容量関数に基づき、電力とクロックサイクルについてのオイラー方程式を満たすように算出される、
半導体装置。 - 請求項9において、前記プロセッサは、複数のCPUを含んで構成される、半導体装置。
- 請求項9において、単一半導体基板上に構成される、半導体装置。
- クロックに同期して動作する論理回路と、前記論理回路に前記クロックを供給可能なクロック供給回路と、前記論理回路に電源を供給可能な電源供給回路と、制御回路とを備える半導体装置であって、
前記制御回路は、前記クロック供給回路が前記論理回路に供給する前記クロックの周波数を設定可能な周波数制御レジスタと、前記電源供給回路が前記論理回路に供給する前記電源の電圧を設定可能な電圧制御レジスタと、動作電圧と動作周波数とがクロックサイクル値に対応付けて規定されたコントロールデータを保持可能なメモリとを備え、前記論理回路の動作におけるクロックサイクルが前記メモリに保持されるクロックサイクル値とが一致したときに、対応する動作電圧と動作周波数を、それぞれ、前記周波数制御レジスタと前記電圧制御レジスタにそれぞれ設定可能に構成され、
前記コントロールデータは、前記論理回路が前記処理を実行するときのクロックサイクルに対する関数としてそれぞれ算出された動作電圧関数と動作周波数関数とに基づいて算出され、
前記動作電圧関数と前記動作周波数関数は、第1動作電圧と第1動作周波数とを与えて前記論理回路に前記処理を実行させたときの、前記ルーチンの実行に伴うクロックサイクルに対する消費電力の関係を、電力プロファイルとして用意し、前記電力プロファイルに基づいて、前記クロックサイクルに対する前記プロセッサの負荷容量の関係を負荷容量関数として求め、前記負荷容量関数に基づき、電力とクロックサイクルについてのオイラー方程式を満たすように算出される、
半導体装置。 - 請求項12において、前記メモリは複数のデータレジスタを含んで構成され、前記制御回路はさらに、前記クロックをカウントするクロックカウンタと、前記クロックカウンタによるカウント値と、前記コントロールデータに規定されるクロックサイクル値とを比較する一致検出回路とを備え、
前記複数のデータレジスタには、前記コントロールデータに規定されるクロックサイクル値と対応する動作電圧と動作周波数を規定する設定データが保持され、
前記一致検出回路により、前記クロックカウンタによるカウント値と、前記データレジスタに保持されるクロックサイクル値とが一致したことが検出されたときに、対応する動作電圧と動作周波数とを規定する設定データが、前記周波数制御レジスタと前記電圧制御レジスタとにそれぞれ設定可能に構成される、
半導体装置。 - 請求項12において、前記制御回路は、前記クロックをカウントするクロックカウンタをさらに備え、前記メモリは、前記コントロールデータのクロックサイクル値に対応するアドレスに、対応する動作電圧と動作周波数を規定する設定データが格納され、
前記メモリは、前記クロックカウンタの出力するクロックサイクル値がアドレスとして入力され、対応する動作電圧と動作周波数を規定する設定データが読み出され、前記制御回路は、前記メモリから読み出された動作電圧と動作周波数を規定する設定データを、前記周波数制御レジスタと前記電圧制御レジスタとにそれぞれ設定可能に構成される、
半導体装置。 - 請求項14において、前記メモリが不揮発性メモリである、半導体装置。
- 請求項12において、単一半導体基板上に構成される、半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013252039A JP6381899B2 (ja) | 2013-12-05 | 2013-12-05 | 半導体装置の設計方法、設計支援プログラム、設計装置、及び、半導体装置 |
US14/560,826 US20150161307A1 (en) | 2013-12-05 | 2014-12-04 | Method of Designing Semiconductor Device, Designing Assistance Program, Designing Apparatus, and Semiconductor Device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013252039A JP6381899B2 (ja) | 2013-12-05 | 2013-12-05 | 半導体装置の設計方法、設計支援プログラム、設計装置、及び、半導体装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015109010A true JP2015109010A (ja) | 2015-06-11 |
JP2015109010A5 JP2015109010A5 (ja) | 2017-01-05 |
JP6381899B2 JP6381899B2 (ja) | 2018-08-29 |
Family
ID=53271430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013252039A Active JP6381899B2 (ja) | 2013-12-05 | 2013-12-05 | 半導体装置の設計方法、設計支援プログラム、設計装置、及び、半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20150161307A1 (ja) |
JP (1) | JP6381899B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10783294B2 (en) | 2016-08-04 | 2020-09-22 | Tohoku University | System, method, and non-transitory computer readable recording medium storing a program recorded thereon for supporting a design of a circuit including a stochastic operation element |
US11243604B2 (en) | 2019-09-16 | 2022-02-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of performing dynamic voltage and frequency scaling based on power step |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102661491B1 (ko) | 2016-12-26 | 2024-04-29 | 삼성전자주식회사 | 동적 전압 주파수 스케일링을 사용하는 시스템 온 칩 및 그것의 동작 방법 |
US11409560B2 (en) * | 2019-03-28 | 2022-08-09 | Intel Corporation | System, apparatus and method for power license control of a processor |
WO2021190343A1 (zh) * | 2020-03-26 | 2021-09-30 | 安徽寒武纪信息科技有限公司 | 用于对芯片进行调频的方法、设备及计算机可读存储介质 |
CN113448718A (zh) * | 2020-03-26 | 2021-09-28 | 安徽寒武纪信息科技有限公司 | 用于对芯片进行调频的方法、设备及计算机可读存储介质 |
US11531063B2 (en) * | 2021-01-14 | 2022-12-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Support device, design support system, electrical device, and design support method |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002328966A (ja) * | 2001-02-07 | 2002-11-15 | Nec Corp | 回路消費電力推定モデル作成方法および消費電力推定方法 |
JP2009064456A (ja) * | 2001-08-29 | 2009-03-26 | Mediatek Inc | 動的電圧制御方法および装置 |
JP2012083804A (ja) * | 2010-10-06 | 2012-04-26 | Fujitsu Ltd | シミュレーション装置 |
JP2013088892A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-13 | Renesas Electronics Corp | 半導体装置および半導体装置の制御方法並びに半導体装置の設計支援方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7622979B2 (en) * | 2007-10-31 | 2009-11-24 | Sun Microsytems, Inc. | Dynamic voltage scaling for self-timed or racing paths |
JP5524568B2 (ja) * | 2009-10-23 | 2014-06-18 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置、及び半導体装置の設計方法 |
US8924902B2 (en) * | 2010-01-06 | 2014-12-30 | Qualcomm Incorporated | Methods and circuits for optimizing performance and power consumption in a design and circuit employing lower threshold voltage (LVT) devices |
US20150261898A1 (en) * | 2012-07-23 | 2015-09-17 | Arizona Board Of Regents, For And On Behalf Of, Arizona State University | Systems, methods, and media for energy usage simulators |
US9825638B2 (en) * | 2014-03-05 | 2017-11-21 | Sandisk Technologies Llc | Virtual critical path (VCP) system and associated methods |
-
2013
- 2013-12-05 JP JP2013252039A patent/JP6381899B2/ja active Active
-
2014
- 2014-12-04 US US14/560,826 patent/US20150161307A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002328966A (ja) * | 2001-02-07 | 2002-11-15 | Nec Corp | 回路消費電力推定モデル作成方法および消費電力推定方法 |
JP2009064456A (ja) * | 2001-08-29 | 2009-03-26 | Mediatek Inc | 動的電圧制御方法および装置 |
JP2012083804A (ja) * | 2010-10-06 | 2012-04-26 | Fujitsu Ltd | シミュレーション装置 |
JP2013088892A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-13 | Renesas Electronics Corp | 半導体装置および半導体装置の制御方法並びに半導体装置の設計支援方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10783294B2 (en) | 2016-08-04 | 2020-09-22 | Tohoku University | System, method, and non-transitory computer readable recording medium storing a program recorded thereon for supporting a design of a circuit including a stochastic operation element |
US11243604B2 (en) | 2019-09-16 | 2022-02-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of performing dynamic voltage and frequency scaling based on power step |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6381899B2 (ja) | 2018-08-29 |
US20150161307A1 (en) | 2015-06-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6381899B2 (ja) | 半導体装置の設計方法、設計支援プログラム、設計装置、及び、半導体装置 | |
US20220261060A1 (en) | Application processor performing a dynamic voltage and frequency scaling operation, computing system including the same, and operation method thereof | |
US8347129B2 (en) | Systems on chip with workload estimator and methods of operating same | |
US8977790B2 (en) | Peripheral module register access methods and apparatus | |
JP5266385B2 (ja) | トレース処理装置およびトレース処理システム | |
KR20130110459A (ko) | 시스템-온 칩, 이를 포함하는 전자 시스템 및 그 제어 방법 | |
US20140092106A1 (en) | Clamping of dynamic capacitance for graphics | |
US20150277534A1 (en) | System on chip method thereof, and device including the same | |
JP2009271724A (ja) | ハードウェアエンジン制御装置 | |
KR20190116256A (ko) | 가변 파면 크기 | |
US9251107B2 (en) | Immediate direct memory access descriptor-based write operation | |
US20040068590A1 (en) | Data processor | |
US20070283139A1 (en) | Information processing apparatus and control method used thereby | |
US10102164B2 (en) | Multiple-queue integer coalescing mapping algorithm with shared based time | |
US20180151232A1 (en) | Memory control circuit and method thereof | |
US9256558B2 (en) | Direct memory access descriptor-based synchronization | |
US12019500B2 (en) | Integrated circuit performing dynamic voltage and frequency scaling operation and operating method for same | |
US20220413594A1 (en) | Integrated circuit performing dynamic voltage and frequency scaling operation and operating method for same | |
US6266626B1 (en) | ROM data verification circuit | |
TWI653833B (zh) | 頻率測量系統及其測量方法 | |
Bansal | Synopsis of Current Consumption, PWM and DMA In Single Core, Dual Core and Multi Core Processors SoC | |
US20220187866A1 (en) | Electronic device controlling frequency of clock signal and method of operating the electronic device | |
US7325085B2 (en) | Motherboard and control method thereof | |
US8327054B2 (en) | Data check circuit for checking program data stored in memory | |
JP4955205B2 (ja) | 調停装置及び調停方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20161117 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161117 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20170330 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20171127 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20171212 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180209 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180717 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180801 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6381899 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |