JP2015105998A - 画像取得装置及び画像取得方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 観察対象物の撮像領域をより正確に決定することができ、撮像時間を短縮することが可能な画像取得装置を提供すること。
【解決手段】 観察対象物１００の画像を取得する画像取得装置１０は、観察対象物１００へ帯域光を照射して観察対象物１００で反射した帯域光と参照光との干渉光を計測する干渉計測部１１３と、干渉計測部１１３の計測結果に基づいて反射面を特定することで観察対象物１００の第１の撮像候補領域を特定する第１の領域特定部１１４と、第１の撮像候補領域の画像を取得する画像取得部１２０と、を備える。
【選択図】 図１

Description

本発明は、画像取得装置及び画像取得方法に関し、特に、観察対象物の撮像領域を決定し、この撮像領域の画像を取得する画像取得装置及び画像取得方法に関する。

デジタル顕微鏡などの画像取得装置を用いて、体内の一部の細胞や組織等の試料と封入材とが入っているプレパラートの画像データを取得する方法が知られている。

特許文献１には、プレパラートの表面形状と試料の存在領域を計測し、その計測結果に基づいてデジタル顕微鏡でプレパラートの複数の部分画像を取得し、これらから全体画像を構成する画像取得装置について記載されている。また、特許文献２では、カバーグラスとスライドグラスの間に混入した気泡の存在領域とカバーグラスの存在領域を計測している。特許文献２には、それらの計測結果に基づいてデジタル顕微鏡でプレパラートの複数の部分画像を取得し、これらから全体画像を構成する画像取得装置について記載されている。

特開２０１２−０９８３５１号公報 特開２０１２−１２３０３９号公報

プレパラートの画像を用いて試料の存在領域を計測する場合、試料の他にプレパラートの外面に付着した汚れ又はプレパラートの中に混入したゴミ等も存在領域としてしまうことがあり、この部分画像を取得してしまうことがある。

また、プレパラートの外面に付着した汚れ又はプレパラートの中に混入した気泡等と重なる試料の部分では合焦した部分画像を得にくい。しかし、プレパラートの画像を用いて気泡等の存在領域を計測する場合、気泡等の存在を見落とす可能性があり、合焦していない部分画像を撮像してしまうことがある。

さらに、プレパラートにペン等で予め印が付加されている場合には、その印が示す範囲内（外）だけの部分画像を撮像すれば良いが、その範囲外（内）の部分画像も撮像してしまうことがある。

そこで本発明は、観察対象物の撮像領域をより正確に決定することができ、撮像時間を短縮することが可能な画像取得装置の提供を課題とする。

本発明の一側面としての画像取得装置は、観察対象物の画像を取得する画像取得装置であって、前記観察対象物へ帯域光を照射して前記観察対象物で反射した前記帯域光と参照光との干渉光を計測する干渉計測部と、前記干渉計測部の計測結果に基づいて反射面を特定することで前記観察対象物の第１の撮像候補領域を特定する第１の領域特定部と、前記第１の撮像候補領域の画像を取得する画像取得部と、を備えることを特徴とする。

本発明の一側面としての画像取得装置によれば、観察対象物の撮像領域をより正確に決定することができ、撮像時間を短縮することが可能な画像取得装置を提供することが可能となる。

本発明のその他の側面については、以下で説明する実施の形態で明らかにする。

実施形態１の画像取得装置の主要部概略図 （ａ）プレパラートの上面図、（ｂ）プレパラートの断面図、（ｃ）〜（ｅ）移動部のＺ位置と画素の出力値の関係を示すグラフ （ａ）〜（ｂ）プレパラートの反射面の説明図、（ｃ）〜（ｅ）プレパラートの干渉領域の説明図 （ａ）プレパラートの暗領域の説明図、（ｂ）〜（ｄ）プレパラートの共通領域の説明図、（ｅ）プレパラートの撮像領域の説明図 （ａ）〜（ｂ）プレパラートの反射面の説明図、（ｃ）プレパラートの干渉領域の説明図、（ｄ）プレパラートの暗領域の説明図、（ｅ）プレパラートの共通領域の説明図、（ｆ）プレパラートの撮像領域の説明図 （ａ）〜（ｂ）プレパラートの説明図、（ｃ）プレパラートの共通領域の説明図、（ｄ）プレパラートの撮像領域の説明図 （ａ）〜（ｂ）プレパラートの説明図、（ｃ）〜（ｄ）プレパラートの干渉領域の説明図、（ｅ）〜（ｆ）プレパラートの撮像領域の説明図 実施形態１のフローチャート 実施形態５のフローチャート 実施形態６の画像取得装置の主要部概略図 実施形態７の画像取得装置の主要部概略図 実施形態７のフローチャート 実施形態８の画像取得装置の主要部概略図 実施形態８のフローチャート （ａ）プレパラートの説明図、（ｂ）プレパラートの撮像領域の説明図

本発明の好ましい実施形態を添付の図面に基づいて詳細に説明する。なお、各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。

（実施形態１）
図１は、本実施形態の画像取得装置１０の主要部概略図である。画像取得装置１０は、観察対象物であるプレパラート１００の画像を取得する装置である。

画像取得装置１０は、プレパラート１００の干渉像を計測する干渉計測部１１３と、干渉計測部１１３の計測結果に基づいてプレパラート１００の干渉領域（第１の撮像候補領域）を特定する干渉領域特定部（第１の領域特定部）１１４を備える。また、画像取得装置１０は、プレパラート１００の透過光量を計測する透過光計測部１１５と、透過光計測部１１５の計測結果に基づいて暗領域（第２の撮像候補領域）を特定する暗領域特定部（第２の領域特定部）１１６を備える。また、画像取得装置１０は、干渉領域と暗領域とに基づきプレパラート１００の画像を取得する撮像領域を決める撮像領域決定部１１８を備える。また、画像取得装置１０は、プレパラート１００の部分的な拡大像を取得する画像取得部１２０と、これらを並べて全体拡大像を作成する高解像画像処理部１２１を備える。画像取得装置１０は、更に、統合制御部１１９を備える。

画像取得装置１０は、干渉計測部１１３と干渉領域特定部１１４でプレパラート１００の干渉領域を特定した後、透過光計測部１１５と暗領域特定部１１６でプレパラート１００の暗領域を特定する。そして、撮像領域決定部１１８で干渉領域と暗領域の共通領域に基づき画像を取得する撮像領域を決める。そして、画像取得部１２０でこの撮像領域内のプレパラート１００の部分拡大画像を取得し、高解像画像処理部１２１で全体拡大画像を作成する。

まず、プレパラート１００について説明する。図２（ａ）（ｂ）はプレパラート１００を説明する図である。プレパラート１００は、スライドグラス１５３と封入材１５４と試料１５１とカバーグラス１５２を有する。また、本実施形態では、カバーグラス１５２上に手の脂などの異物１５５が存在し、封入材１５４の中に気泡や髪の毛などの異物１５６が存在する。図２（ａ）はプレパラート１００をＺの正の方向から見た図であり、図２（ｂ）は図２（ａ）のＡＡ’断面を見た図である。プレパラート１００の下面の左上角点を座標の原点とする。プレパラート１００の下面及び上面は実際はうねっているが、ここでは説明を簡単にするため、平面とする。略同じ屈折率の封入材１５４とスライドグラス１５３とカバーグラス１５２を用いている。また、数μｍの厚さの試料１５１を脱水後、封入材１５４を良く浸み込ませているので、試料１５１の屈折率も封入材１５４と略同じと見なせる。

次に、干渉計測部１１３について説明する。

干渉計測部１１３は、いわゆる白色干渉計であり、可干渉性の少ない帯域光（白色光）を使用してプレパラート１００の反射面のＸＹＺ位置を計測する。干渉計測部１１３は、帯域光源１０２、光源絞り１０３、コリメータレンズ１０４、ビームスプリッタ１０５、参照面１０６、干渉像レンズ１２４、反射光撮像部１０７、移動部１０１を有する。

帯域光源１０２は、画像取得部１２０の高解像撮像部１１０が受光可能な波長帯域の光を照射する。より具体的には、帯域光源１０２は、４００ｎｍ以上７００ｎｍ以下の波長の光を照射する。帯域光源１０２の帯域幅は、１０ｎｍ以上であることが好ましく、１０ｎｍ以上１００ｎｍ以下であることがより好ましい。このような構成にすることで、画像取得部１２０で取得する拡大部画像に写りこむものを干渉計測部１１３で検出できる。帯域光源１０２は、不図示のハロゲンランプ光源と、不図示の交換可能な複数のバンドパスフィルタと、を有する。その複数のバンドパスフィルタは、互いに異なる波長帯の光を選択的に透過する。バンドパスフィルタを交換することで照射する波長帯を変更可能である。より細かい構造を検出するとき、より短波長の波長帯を透過するバンドパスフィルタを選択する。また、この光源の可干渉距離は概ね１０μｍ以下であることが好ましい。光源はキセノンランプやＬＥＤ光源などでも良い。バンドパスフィルタはガラス平板に屈折率の異なる誘電体膜を複数層形成して作成したものであるが、顔料などの光を吸収する材料をガラス平板に塗布したものでも良い。

光源絞り１０３は、帯域光源１０２の光から略点光源を形成するためのもので、一つの孔（ピンホール）が設けられている黒く着色した薄い板を備えている。

コリメータレンズ１０４は、光源絞り１０３からの光を平行光とする光学素子である。

ビームスプリッタ１０５は、コリメータレンズ１０４からの光を、参照面１０６へ行く光（参照光）とプレパラート１００へ行く光（被検光）とに分ける。また、プレパラート１００で反射し戻ってきた光を反射光撮像部１０７方向に偏向する。ビームスプリッタ１０５は、直角プリズムを貼り合わせ、この貼り合わせ面に膜を設けたものである。ビームスプリッタ１０５は、ハーフミラーでも良い。

参照面１０６は、ビームスプリッタ１０５からの光を反射するもので、帯域光源１０２の発する光の波長の数十分の１の面精度のガラス平板であり、光軸に対し垂直な面を有する。参照面１０６にガラス板の屈折率より低い屈折率の誘電体膜をつけこの厚さを変更することで反射率を変更し、干渉像の強度を変更しても良い。

干渉像レンズ１２４は、プレパラート１００の干渉像を反射光撮像部１０７に結像するレンズである。

反射光撮像部１０７は、参照面１０６で反射しビームスプリッタ１０５を通過し到達した参照光とプレパラート１００で反射しビームスプリッタ１０５で偏向し到達した被検光とが干渉することによって形成された干渉光の強度分布（干渉像）を撮像する。反射光撮像部１０７は、デジタルスチルカメラである。反射光撮像部１０７は、撮像素子、又は、デジタルビデオカメラでも良い。

移動部１０１は、プレパラート１００すなわち観察対象物を載置し移動するもので、ＸＹＺ方向に移動可能で、ＸＹＺの各々の方向に直動するステージを組みあわせたステージである。後述するようにプレパラート１００のＺ方向上面および下面を干渉像取得可能なＺ位置に移動するため、Ｚ方向ストロークを少なくともプレパラート１００の厚み相当である数ｍｍ以上とする。また、Ｚ方向の移動停止最小間隔を後述する対物レンズ１０９のプレパラート１００側の焦点深度より短い数十ｎｍとする。これを実現するため、Ｚ方向のステージをピエゾ駆動ステージとモータ駆動ステージを組合せたものとする。ピエゾ駆動ステージはｎｍ単位で移動停止可能であるがストロークが短い。一方、モータ駆動ステージはストロークを長くとれるもののピエゾ駆動ステージほど狭い間隔で移動停止しにくい。これらを組み合わせストローク数ｍｍと移動停止最小間隔数十ｎｍを実現する。

次に、干渉領域特定部１１４について説明する。なお、本明細書における「干渉領域」とは、干渉計測部１１３の計測結果に基づいて特定された領域のことである。

干渉領域特定部１１４は、反射光撮像部１０７が干渉像を取得したときの移動部１０１の位置からプレパラート１００の反射面の位置を特定するもので、ＦＰＧＡである。干渉領域特定部１１４は、ＤＳＰやマイクロコンピュータでも良い。

干渉領域特定部１１４は、画素毎に後述する図２（ｃ）〜（ｅ）のグラフのようなデータを取得し、このグラフから包絡線を算出し、予め指定した閾値より大きい場合（又は、閾値以上の場合）に、包絡線の極大値のＺ位置から反射面のＺ位置を特定する。そして、このＺ位置と画素のＸＹ位置からプレパラート１００の反射面のＸＹＺ位置を算出する。

以上説明した干渉計測部１１３と干渉領域特定部１１４の動作について述べる。

干渉計測部１１３において、帯域光源１０２を発した光の一部は、ビームスプリッタ１０５で偏向され、参照面１０６で反射し、ビームスプリッタ１０５、干渉像レンズ１２４を通過し、反射光撮像部１０７に到達する。また、帯域光源１０２を発した光の他の一部は、ビームスプリッタ１０５を通過し、プレパラート１００で反射し、ビームスプリッタ１０５で偏向され、干渉像レンズ１２４を通過し、反射光撮像部１０７に到達する。

ここで、移動部１０１の通過する位置に、仮想的な面１２２を考える。この仮想面１２２と反射光撮像部１０７の間の光路長と、参照面１０６と反射光撮像部１０７の間の光路長を等しいものとする。この仮想面１２２に光を反射する面を設けると、反射光撮像部１０７は参照面１０６で反射した光とこの仮想面１２２の位置で反射した光の干渉像を得る。また、この仮想面１２２の位置を中心に光を反射する面をＺ方向に上下すると、仮想面１２２の位置から離れるにつれ干渉像が変わるとともに弱くなる。そして、光路長の差が可干渉距離より大きくなると干渉像が消える。

ここで、プレパラート１００内に光を反射する反射面があるとする。この反射面は、移動部１０１によりプレパラート１００をＺ方向に移動すると、仮想面１２２を通過する。この反射面が仮想面１２２を通過するとき、反射光撮像部１０７は干渉像を得る。また、この干渉像は、移動部１０１の移動に伴い出現し、徐々に強くなり、その後、徐々に弱くなり、消える。

図２（ｂ）のプレパラート１００の箇所１５９に出現する干渉像について、移動部１０１のＺ位置と反射光撮像部１０７の取得する干渉像の明るさの関係を求める。これを図２（ｃ）に示す。図中の横軸は箇所１５９に対応する反射光撮像部１０７のデジタルカメラの画素の出力値で、縦軸は移動部１０１のＺ位置であり、便宜上、仮想面１２２にプレパラート１００の下面を置いたときの移動部１０１のＺ位置を０とした。このグラフは模式的なものであり長さや大きさは正確でない。移動部１０１によりプレパラート１００をＺ方向に移動する。プレパラート１００の下面が仮想面１２２にあるとき、Ｚ＝０のとき、この下面で反射した光と参照面１０６で反射した光が干渉し反射光撮像部１０７は干渉像を得る。また、プレパラート１００の上面が仮想面１２２にあるとき、Ｚ＝−Ｚｂのとき、この上面で反射した光と参照面１０６で反射した光が干渉し反射光撮像部１０７は干渉像を得る。スライドグラス１５３と封入材１５４の境界面と、カバーグラス１５２と封入材１５４の境界面は、屈折率差が小さいく光を反射しにくいので、グラフ上で干渉像を確認しにくい。

また、図２（ｂ）のプレパラート１００の試料１５１上の箇所１５０に出現する干渉像について、同様の関係を求める。試料１５１と封入材１５４の境界面は、屈折率差が小さく光を反射しにくいので、干渉像を得にくい。このため、箇所１５０は箇所１５９と同様となる。

また、図２（ｂ）のプレパラート１００の試料１５１と気泡１５６の重なる箇所１５７に出現する干渉像について、同様の関係を求める。これを図２（ｄ）に示す。図２（ｃ）と同様に、Ｚ＝０とＺ＝−Ｚｂで干渉像を得る。また、気泡１５６と封入材１５４の境界面が仮想面１２２にあるとき、Ｚ＝−Ｚｄ、Ｚ＝−Ｚｅのとき、この境界面で反射した光と参照面１０６で反射した光が干渉し反射光撮像部１０７は干渉像を得る。気泡の屈折率は略１、封入材１５４の屈折率は発明者の調べたところ略１．５である。

また、図２（ｂ）のプレパラート１００の試料１５１と脂１５５の重なる箇所１５８に出現する干渉像について、同様の関係を求める。これを図２（ｅ）に示す。図２（ｃ）と同様に、Ｚ＝０とＺ＝−Ｚｂで干渉像を得る。また、脂１５５と空気の境界面が仮想面１２２にあるとき、Ｚ＝−Ｚａのとき、この境界面で反射した光と参照面１０６で反射した光が干渉し反射光撮像部１０７は干渉像を得る。発明者の調べたところ、空気の屈折率は略１．０、脂の屈折率は略１．３、カバーグラス１５２の屈折率は略１．５である。

このように、干渉領域特定部１１４は、反射光撮像部１０７の各画素について干渉像の出現する移動部１０１のＺ位置を求める。そして画素のＸＹ位置と干渉像の出現するＺ位置に基づき反射面のＸＹＺ位置を得る。これを図３（ａ）（ｂ）に示す。この図３（ａ）は反射面をＺ方向から見たもので、図３（ｂ）は図３（ａ）のＢＢ’断面を見た図である。プレパラート１００の下面及び上面と、気泡１５６の表面と、脂１５５の表面とは光を反射するので、図中に出現する。試料１５１と封入材１５４の境界面は光を反射しにくいので、図中に出現しない。

また、干渉領域特定部１１４は、箇所１５９のように反射面が二つある箇所の反射面を、すなわちＺ＝０とＺ＝−Ｚｂの反射面を、プレパラート１００の下面と上面であると推定する。また、干渉像が二つより多い箇所１５７のような場合、箇所１５９でプレパラート１００の上下面とした面と連続すると見なせる面をプレパラート１００の上下面と推定する。また、これらの面からカバーグラスまたはスライドグラスの厚さより内側にある反射面を、すなわちＺ＝−ＺｄとＺ＝−Ｚｅの反射面を、プレパラート１００の内部にあるものと推定する。また、干渉像が二つより多い箇所１５８のような場合、箇所１５９でプレパラート１００の上下面とした面と連続すると見なせる面をプレパラート１００の上下面と推定する。またこれらの面の外側の反射面を、Ｚ＝−Ｚａの反射面を、プレパラート１００の外にあるものと推定する。これらの判別方法は、ここに説明した方法に限るものではなく、例えば、単純に最も外側の反射面をプレパラート１００の上下面としても良い。また、二つの反射面のＺ方向の距離がカバーグラス厚より薄くプレパラート１００の上面近くにある場合、外側の反射面をプレパラートの外の反射面と判別しても良い。同様にスライドグラス厚より薄くプレパラートの下面近くに有る場合、外側の反射面をプレパラートの外の反射面と判別しても良い。

このように、干渉領域特定部１１４は、プレパラート１００の上面及び下面（外面）と、プレパラート１００の中の反射面と、プレパラート１００の外の反射面と、を判別する。

最終的に、干渉領域特定部１１４は、反射面のＸＹＺ位置から、プレパラート１００の外面だけの反射がある図３（ｃ）に示す干渉領域を得る。この他に、プレパラート１００の中の反射がある図３（ｄ）に示す領域と、プレパラート１００の外の反射がある図３（ｅ）に示す領域も算出可能である。図中の破線はプレパラートの外端を示す。この他、図示しないが、プレパラート外面の反射面のＺ位置が大きく変わる段差で囲まれた部分（すなわち、カバーグラス上面領域に相当する領域）を干渉領域特定部が干渉領域として特定しても良い。また、干渉領域特定部がプレパラートの外および外面の反射が無い領域（たとえば、ラベルを貼ってある領域）を干渉領域から除外しても良い。

次に透過光計測部１１５について説明する。

透過光計測部１１５は、プレパラート１００を透過する透過光の光量を計測する装置で、透過光取得用照明１１２、透過像レンズ１２３、透過光撮像部１０８、移動部１０１を有する。

透過光取得用照明１１２は、プレパラート１００を透過照明するもので、ハロゲンランプ光源であるが、キセノンランプやＬＥＤ光源でも良い。透過光取得用照明１１２の波長帯を、画像取得部１２０の高解像撮像部１１０が受光可能な波長帯の少なくとも一部（具体的には、４００ｎｍ以上７００ｎｍ以下の波長帯の少なくとも一部）を含むように選択する。ハロゲンランプ光源の波長帯は、この波長帯を含む。このような構成にすることで、透過光計測部１１５は、画像取得部１２０で取得する拡大部分画像に写りこむものを検出できる。

透過像レンズ１２３は、プレパラート１００の像を透過光撮像部１０８に結像するレンズである。

透過光撮像部１０８は、プレパラート１００を透過した光の像を取得するもので、デジタルスチルカメラである。透過光撮像部１０８は、撮像素子、デジタルビデオカメラでも良い。

移動部１０１は、干渉計測部１１３から透過光計測部１１５へプレパラート１００を移動する。干渉計測部１１３と透過光計測部１１５で個別に移動部を設け、プレパラート１００を不図示の手段でこれらの間で移動しても良い。

次に、暗領域特定部１１６について説明する。

暗領域特定部１１６は、透過光撮像部１０８で取得したプレパラート１００の画像の各画素の出力値を、不図示の手段により予め指定した閾値データと比較し、この閾値より小さい画素を暗領域とするもので、ＦＰＧＡである。なお、暗領域特定部１１６は、ＤＳＰやマイクロコンピュータでも良い。また、複数の画素に同じ閾値を設定しなければならないわけではなく、異なる閾値を設定しても良い。例えば、デジタルスチルカメラで起きる周辺光量落ちや透過光取得用照明１１２の照度ムラを予め取得し、暗い画素の閾値を小さく設定し、明るい画素の閾値を大きく設定しても良い。さらに、閾値未満の画素ではなく閾値以下の画素を暗領域としても良い。

以上説明した透過光計測部１１５と暗領域特定部１１６の動作について述べる。

透過光計測部１１５において、透過光取得用照明１１２を発した光は、プレパラート１００を透過し、透過光撮像部１０８に達する。このとき、プレパラート１００内の透過率の低い試料１５１を透過した光は弱まるので、透過光撮像部１０８で取得したプレパラート１００の画像に明るい部分と暗い部分ができる。染色してある試料１５１の透過率は発明者の調べたものは略８０％であったので、閾値を周囲より略１０％暗いとし、この閾値と画素の出力値を比較することで、試料１５１を含む暗領域を推定する。試料の染色状態によっては透過率が変化するので、予め試料の透過率を測定し閾値を変更する。

最終的に、暗領域特定部１１６は、図４（ａ）に示す暗領域を得る。図中の破線はプレパラートの外端の位置を示す。スライドグラス１５３とカバーグラス１５２と封入材１５４と気泡１５６と脂１５５は試料１５１より透明であるので図中に出現しない。

次に、撮像領域決定部１１８について説明する。

撮像領域決定部１１８は、干渉領域特定部１１４で特定した干渉領域と暗領域特定部１１６で特定した暗領域の共通領域に基づき画像取得部１２０でプレパラート１００の画像を取得する撮像範囲を決めるもので、マイクロコンピュータである。撮像領域決定部１１８は、この他に、ＤＳＰやＣＰＵやプログラマブルコントローラでも良い。

撮像領域決定部１１８は、図３（ｃ）に示す干渉領域と図４（ａ）に示す暗領域の共通領域１６２を取得する。これを図４（ｂ）に示す。この共通領域１６２は、試料１５１から気泡１５６および脂１５５の領域を除いた領域であると、ほぼ見なすことができる。撮像領域決定部１１８は、この他、図３（ｄ）に示す領域と図４（ａ）の暗領域の共通領域１６１（図４（ｃ））や、図３（ｅ）に示す領域と図４（ａ）の暗領域の共通領域１６０（図４（ｄ））も取得できる。共通領域１６１は、試料１５１と気泡１５６の重なる領域であると、ほぼ見なすことができる。また、共通領域１６０は、試料１５１と脂１５５の重なる領域であると、ほぼ見なすことができる。

また、撮像領域決定部１１８は、図４（ｅ）に示すように、プレパラート１００のＸＹ面を画像取得部１２０で一回で撮像可能な小区画２０１で区分けし、共通領域１６２を含む複数の小区画のみを像を取得する範囲とする。なお、プレパラート１００の封入材が対物レンズ１０９の焦点の合う面を通過するときの移動部１０１のＺ範囲は、Ｚ範囲情報として不図示の手段で予め指定されている。

次に画像取得部１２０について説明する。

画像取得部１２０は、プレパラート１００の拡大像を取得するもので、撮像用照明１１１、対物レンズ（結像光学系）１０９、高解像撮像部１１０、移動部１０１を有する。

撮像用照明１１１は、プレパラート１００を照明するもので、ハロゲンランプと照明光学系からなる。ハロゲンランプの代わりにキセノンランプ、ＬＥＤ光源でも良い。

対物レンズ１０９は、撮像用照明１１１によって照明されたプレパラート１００の拡大像を結像するもので、レンズやミラーなどの光学素子の組合せで構成する。

高解像撮像部１１０は、拡大像を取得するもので、デジタルスチルカメラである。高解像撮像部１１０は、撮像素子やデジタルビデオカメラでも良い。

移動部１０１は、透過光計測部１１５から画像取得部１２０へプレパラート１００を移動する。透過光計測部１１５と画像取得部１２０で個別に移動部を設け、プレパラート１００を不図示の手段でこれらの間で移動しても良い。また、対物レンズ１０９の物体側（プレパラート側）の視野がプレパラート１００より小さいので、この視野より広い範囲の拡大像を取得する場合、移動部１０１によりプレパラート１００をＸＹ移動しつつ撮像する。また、対物レンズ１０９の物体側の焦点深度がプレパラート１００より狭いので、この焦点深度より広い範囲の拡大像を取得する場合、移動部１００によりプレパラート１００をＺ移動しつつ撮像する。なお、ＸＹ移動とは、対物レンズ１０９の光軸に垂直な方向への移動のことであり、Ｚ移動とは、対物レンズ１０９の光軸に平行な方向（光軸方向）への移動のことである。

次に高解像画像処理部１２１について説明する。

高解像画像処理部１２１は、拡大像取得部１２０で取得した部分拡大画像を、各々の部分拡大画像を取得したときの移動部１２０位置の上下左右関係のとおりに並べて、全体拡大画像を作成するもので、ＦＰＧＡであるが、ＤＳＰやＣＰＵでも良い。また、作成した画像を保存するハードディスクを備える。ハードディスクの他に半導体メモリや、書き換え可能、交換可能な磁気テープや光学磁気記憶媒体を用いても良い。また、保存した画像を表示する画像表示装置を備えても良い。

以上説明した画像取得部１２０の動作について述べる。

画像取得部１２０において、撮像用照明１１１を発した光は、プレパラート１００と対物レンズ１０９を通過し、高解像撮像部１１０にプレパラート１００の像を結像する。そして、高解像画像処理部１２１は、この像から全体拡大画像を作成する。

統合制御部１１９は画像取得部１２０を制御し、撮像領域決定部１１８で決定した撮像領域の全ての小区画２０１の画像を取得するように、移動部１０１でプレパラート１００を繰り返し移動及び停止しつつ高解像撮像部１１０で小区画を個別に撮像する。そして、統合制御部１１９は、高解像画像処理部１２１にプレパラート１００内における小区画の位置を伝え、高解像画像処理部１２１はこの位置情報と部分拡大画像から全体拡大画像を作成する。

次に統合制御部１１９について説明する。

統合制御部１１９は、画像取得装置１０を制御するもので、マイクロコンピュータであるが、ＤＳＰやＣＰＵやプログラマブルコントローラでも良い。

続いて、画像取得装置１０でプレパラート１００の画像を取得するまでの動作を述べる。図８に動作のフローチャートを示す。

使用者がプレパラート１００を移動部１０１に設置した後、以下の処理が実行される。

（Ｓ９０１）統合制御部１１９は、信号線Ｂ８０２を介して帯域光源１０２を点灯する。

（Ｓ９０２）統合制御部１１９は、信号線Ａ８０１を介して移動部１０１を制御しプレパラート１００を干渉計測部１１３に移動する。

（Ｓ９０３）統合制御部１１９は、移動部１０１を制御しプレパラート１００をＺ方向に移動し、信号線Ｅ８０５を介して移動部１０１のＺ位置情報を干渉領域特定部１１４へ送る。また、信号線Ｃ８０３を介して反射光撮像部１０７を制御し干渉像を取得し信号線Ｄ８０４を介して干渉領域特定部１１４へ送る。この移動と干渉像取得を予め定めた移動部１０１のＺ範囲内で繰り返す。このＺ範囲をプレパラート１００の下面から上面が仮想面１２２を通過する範囲とする。

（Ｓ９０４）統合制御部１１９は、予め不図示の手段により指定したデータに基づき、信号線Ｅ８０５を介して干渉領域特定部１１４にプレパラート１００の上面と下面だけの反射がある干渉領域を特定させる。そして、信号線Ｆ８０６を介して撮像領域決定部１１８へ送る。

（Ｓ９０５）統合制御部１１９は、帯域光源１０２を消灯する。

（Ｓ９０６）統合制御部１１９は、信号線Ｇ８０７を介して透過光取得用照明１１２を点灯する。

（Ｓ９０７）統合制御部１１９は、移動部１０１を制御しプレパラート１００を透過光計測部１１５に移動する。

（Ｓ９０８）統合制御部１１９は、信号線Ｈ８０８を介して透過光撮像部１０８を制御しプレパラート１００の透過光像を撮像し、信号線Ｉ８０９を介して暗領域特定部１１６に送る。

（Ｓ９０９）統合制御部１１９は、信号線Ｊ８１０を介して暗領域特定部１１６にプレパラート１００の暗領域を特定させ、信号線Ｋ８１１を介して撮像領域決定部１１８へ送る。

（Ｓ９１０）統合制御部１１９は、予め不図示の手段により指定したデータに基づき、信号線Ｎ８１４を介して撮像領域決定部１１８を制御し干渉領域と暗領域の共通領域を求める。そして、この共通領域からプレパラート１００の像を取得する小区画群を決め、信号線Ｏ８１５を介して統合制御部１１９へ送る。

（Ｓ９１２）統合制御部１１９は、透過光取得用照明１１２を消灯する。

（Ｓ９１３）統合制御部１１９は、信号線Ｐ８１６を介して撮像用照明１１１を点灯する。

（Ｓ９１４）統合制御部１１９は、移動部１０１を制御しプレパラート１００を画像取得部１２０に移動する。

（Ｓ９１５）統合制御部１１９は、撮像対象とする小区画群の内のひとつの小区画の画像を取得するように、移動部１０１を移動及び停止し、信号線Ｒ８１７を介して移動部のＸＹＺ位置情報を高解像画像処理部１２１へ送る。また、信号線Ｑ８１８を介して高解像撮像部１１０を制御し小区画の画像を取得し信号線Ｓ８１９を介して高解像画像処理部１２１へ送る。この移動と画像取得を前述した小区画のＺ範囲内で繰り返す。また、像を取得する範囲の小区画群の全ての小区画で繰り返す。

（Ｓ９１８）統合制御部１１９は、撮像用照明１１１を消灯する。

（Ｓ９１６）統合制御部１１９は、高解像画像処理部１２１でこれら小区画の個別に撮像した画像を各画像を取得したＸＹＺ位置情報をもとに並べ、像を取得する範囲の全体画像を作成する。

以上説明したように本実施形態によれば、観察しにくい焦点の合いにくい気泡や脂と試料の重なる部分を像を取得する範囲から除き、焦点の合いやすい試料の部分のみを像を取得する範囲とすることで、画像取得時間を短縮可能である。

（実施形態２）
図５（ａ）（ｂ）は実施形態２で観察対象とするプレパラート３５０を説明する図である。図５（ａ）はプレパラート３５０をＺの正の方向から見た図であり、図５（ｂ）は図５（ａ）のＧＧ’断面図である。実施形態１と異なり、本実施形態では外の異物１５５と内の異物１５６が試料１５１より光の透過率が低く暗領域になりやすい。また、これら異物の屈折率は封入材やカバーグラスと異なるものとする。

画像取得装置１０で、透過率の低い異物を含むプレパラート３５０の画像を取得する動作を説明する。動作のフローチャートは図８と同様である。

本実施形態の干渉領域を図５（ｃ）に示す。異物１５６と封入材の境界面、および、異物１５５とカバーグラスの境界面、および、異物１５５と空気の境界面で、屈折率差があるので光が反射する。実施形態１と同様にこの異物の部分を除いたものを干渉領域とする。また、暗領域を図５（ｄ）に示す。異物の透過率が低いので、試料と異物が暗領域となる。また、干渉領域と暗領域の共通領域を図５（ｅ）に示す。また、撮像領域を図５（ｆ）に示す。

以上説明したように本実施形態によれば、異物や異物に隠れた試料部分を撮像領域から除くことで、画像取得時間を短縮可能である。

（実施形態３）
図６（ａ）（ｂ）は本実施形態で観察対象とするプレパラート２５０を説明する図である。図６（ａ）はプレパラート２５０をＺの正の方向から見た図であり、図６（ｂ）は図６（ａ）のＣＣ’断面を見た図である。

このプレパラート２５０の観察したい範囲を囲むように、円形の印２５１がカバーグラスの上面の２箇所にユーザにより付加されている。観察したい範囲の近くに設けるのであれば、印の形状は円形に限らず、多角形、楕円、閉じていない自由形状でも良い。また、観察対象とする範囲が一つであれば印２５１を１つ設け、２つ以上であれば２つ以上設ける。顔料は、炭素を主成分とするが、酸化チタン、酸化亜鉛、鉛白、硫化水銀、酸化水酸化鉄、塩基性炭酸銅など、カバーグラスの屈折率異なる屈折率のものであれば良い。これらの屈折率は１．７から３．０であり、カバーグラスの屈折率は略１．５である。また、顔料でなくとも、カバーグラスの屈折率と概ね０．１程度異なる物であれば良く、樹脂や油脂などでも良い。また、実施形態１で述べたようにプレパラートの外にあることを干渉領域特定部１１４で判別しやすくするために、印の厚みをカバーグラス厚と変えても良い。

画像取得装置１０で、顔料による印２５１を設けたプレパラート２５０の画像を取得する動作を説明する。動作のフローチャートは図８と同様である。

但し、Ｓ９０４において、統合制御部１１９は、予め不図示の手段により指定したデータに基づき、干渉領域特定部１１４にプレパラート２５０の外にある反射面を干渉領域として特定させ、撮像領域決定部１１８へ送る。

暗領域と干渉領域の共通領域２５２を図６（ｃ）に示す。図中の外側の破線はプレパラートの外形を示す。内側の二つの破線は暗領域と干渉領域の共通領域を示す。図中の２つの方形は、この共通する領域を囲む最小の方形であり、共通領域２５２である。共通領域２５２は、このような方形でなくとも、前述の共通領域を含むのであれば、この領域の最外部の形状（輪郭形状）であっても良いし、円形またはその他の多角形であっても良い。また撮像領域２０１を図６（ｄ）に示す。図中の外側の破線はプレパラートの外形である。

以上説明したように本実施形態によれば、プレパラート２５０の観察対象とする箇所に予め印をつけ、印のここだけの画像を取得する範囲とすることで、観察対象としない部分の像を取得する時間を削減し、画像取得時間を短縮可能である。

（実施形態４）
図７（ａ）（ｂ）は本実施形態で観察対象とするプレパラート３００を説明する図である。図７（ａ）はプレパラート３００をＺの正の方向から見た図であり、図７（ｂ）は図７（ａ）のＤＤ’断面を見た図である。略同じ屈折率のスライドグラス１５３とカバーグラス１５２と封入材１５４を用いる。本実施形態では、水分を多く含む試料３０１を用いる。水分を多く含む試料３０１の屈折率は、封入材１５４の屈折率と異なり、略１．３となる。

画像取得装置１０で、封入材１５４の屈折率と異なる試料３０１のプレパラート３００の画像を取得する動作を説明する。動作のフローチャートは図８と同様である。

但し、Ｓ９０４において、統合制御部１１９は、予め不図示の手段により指定したデータに基づき、干渉領域特定部１１４にプレパラート３００の内側の反射面に挟まれたＸＹＺ領域を干渉領域として特定させ、撮像領域決定部１１８へ送る。このときの干渉領域を図７（ｃ）（ｄ）に示す。図７（ｃ）はＺの正の方向から見た図であり、図７（ｄ）は図７（ｃ）のＥＥ’断面図である。屈折率の異なる試料３０１と封入材１５４の境界面で光が反射するので、この境界面で囲まれた領域と干渉領域が略一致する。また、Ｓ９１０において、統合制御部１１９は、予め不図示の手段により指定したデータに基づき、撮像領域決定部１１８を制御し干渉領域ＸＹと暗領域の共通領域を共通領域ＸＹとし、干渉領域Ｚを共通領域Ｚとする領域を求める。この領域は、干渉領域ＸＹと暗領域が略同じなので、図７（ｃ）（ｄ）と略同じである。また、この領域からプレパラート１００の画像を取得する小区画群を決め、統合制御部１１９へ送る。この小区画３０２のＸＹ面は実施形態１と同様に画像取得部１２０で一回で撮像可能な範囲である。またＺ範囲を前述の干渉領域を含むように設ける。この範囲を図７（ｅ）（ｆ）１９に示す。図７（ｅ）はＺの正の方向から見た図であり、図７（ｆ）は図７（ｅ）のＦＦ’断面を見た図である。

以上説明したように、小区画の画像を取得するとき、実施形態１ではプレパラート１００の封入材の範囲をＺ範囲とし撮像するのに対し、実施形態４では試料の存在するＺ範囲を撮像するので、画像取得時間を短縮可能である。

本実施形態では、封入材と異なる屈折率の試料の形態を述べた。この他にも、カバーグラスとスライドグラスと封入材と試料の屈折率を互いに異ならせたり、それらの一部だけ異ならせたりし、これらの境界面を干渉像から特定しても良い。

（実施形態５）
本実施形態では、実施形態３と同様に、プレパラート２５０の印２５１の近辺の画像を取得する。ただし、本実施形態では、透過光計測部１１５及び暗領域特定部１１６を用いない。また、撮像領域決定部１１８では、共通領域は求めずに、干渉領域のみから小区画群を決める。

図９にフローチャートを示す。図８のフローチャートと異なり、透過光計測部１１５に関するステップ９０６〜９１２が無く、その代わりに、撮像領域決定部１１８で干渉領域から画像を取得する小区画群を特定し、統合制御部１１９へ送るステップ（Ｓ９２８）を有する。

実施形態３と同様の効果がある。

（実施形態６）
本実施形態では、実施形態５と同様に、プレパラート２５０の印２５１の近辺の画像を取得する。本実施形態の画像取得装置１５を図１０に示す。フローチャートは図９と同様である。本実施形態では、透過光計測部１１５、暗領域特定部１１６を画像取得装置１０から除いた画像取得装置１５を用いる。他は同様である。実施形態３と同様の効果がある。また、透過光計測部を省くのでより小型軽量となる。

（実施形態７）
本実施形態では、実施形態１と同様に、プレパラート１００の画像を取得する。本実施形態の画像取得装置２０を図１１に示し、フローチャートを図１２に示す。本実施形態では、干渉計測部と透過光計測部を兼ねた干渉兼透過光計測部４０７を用いる。干渉兼透過光計測部４０７は、干渉計測部１１３に透過光取得用照明１１２を付け加え、干渉計測部１１３の反射光撮像部１０７が透過光撮像部１０８を兼ねる構成である。他は同様である。実施形態１と同様の効果がある。また、撮像部を干渉光及び透過光の受光のために兼用しているのでより小型軽量となる。

（実施形態８）
本実施形態では、実施形態１と同様に、プレパラート１００の画像を取得する。本実施形態の画像取得装置２５を図１３に示す。本実施形態では、高解像撮像部１１０が反射光撮像部と透過光撮像部を兼ね、撮像用照明１１１が透過光取得用照明を兼ねる。また、干渉像を生じさせる干渉発生部（干渉系）４０８と、拡大像を取得する交換対物レンズ４０２と、これらを切換えるレンズ交換部４０５と、これらの像を高解像撮像部１１０に結像する結像レンズ４０１を備える。他は同様である。

交換対物レンズ４０２と結像レンズ４０１は、無限遠補正光学系のレンズで、これらを組み合わせて用いることにより、プレパラート１００の像を結像する。

干渉発生部４０８は、プレパラート１００の干渉像を生じさせるもので、帯域光源１０２と光源絞り１０３とコリメータレンズ１０４とビームスプリッタ１０５と参照面１０６と対象物用レンズ４０４と参照面用レンズ４０３を備える。対象物用レンズ４０４と参照面用レンズ４０３も、無限遠補正光学系のレンズで、これらと結像レンズ４０１を組み合わせて用いることにより、像を結像する。対象物用レンズ４０４は観察対象物からの光を透過し、参照面用レンズ４０３は参照面からの光を透過する。これらのレンズを略同等とする。また、これらのレンズの光学倍率を交換対物レンズ４０２より低倍率とし、より広い範囲の画像を取得できるようにする。プレパラートが対象物用レンズ４０４を通して一回で撮像できる範囲より大きいとき、移動部でプレパラートをＸＹ移動しつつプレパラート全体を撮像する。

レンズ交換部４０５は、交換対物レンズ４０２と干渉発生部４０８を切換えるもので、各々の光軸を結像レンズ４０１の光軸と一致させるように切換えるターレットである。

画像取得装置２５でプレパラート１００の画像を取得するまでの動作を述べる。図１４に動作のフローチャートを示す。実施形態１のフローチャートと同様であるがいくつか異なる点があるので、異なる点について述べる。

（Ｓ９２５）統合制御部１１９は、信号線Ｖ８２２を介してレンズ交換部４０５を制御し、干渉発生部４０８の光軸を結像レンズ４０１の光軸に合わせるように交換対物レンズ４０２と交換する。

（Ｓ９２２）統合制御部１１９は、移動部１０１を制御しプレパラート１００をＸＹ方向に移動し、移動部１０１のＸＹ位置情報を干渉領域特定部１１４へ送る。また、移動部１０１を制御しプレパラート１００をＺ方向に移動し、移動部１０１のＺ位置情報を干渉領域特定部１１４へ送る。また、高解像撮像部１１０を制御し干渉像を取得し信号線Ｓ８１９を介して干渉領域特定部１１４へ送る。このＺ移動と干渉像取得を予め定めた移動部１０１のＺ範囲内で繰り返す。このＺ範囲をプレパラート１００の下面から上面が仮想面１２２を通過する範囲とする。また、Ｚ範囲内の繰り返しが完了した後、ＸＹ範囲内で繰り返す。このＸＹ範囲をプレパラート１００の全ＸＹ面を撮像する範囲とする。干渉領域特定部１１４は複数枚の干渉画像とこれらを取得したときの移動部のＸＹＺ位置から干渉領域を特定する。

（Ｓ９２４）統合制御部１１９は、移動部１０１を制御しプレパラート１００をＸＹ方向に移動し、移動部１０１のＸＹ位置情報を暗領域特定部１１６へ送る。また、高解像撮像部１１０を制御し透過光像を取得し信号線Ｓ８１９を介して暗領域特定部１１６へ送る。これをＸＹ範囲内で繰り返す。このＸＹ範囲をプレパラート１００の全ＸＹ面を撮像する範囲とする。暗領域特定部１１６は複数枚の透過光画像とこれらを取得したときの移動部のＸＹ位置から暗領域を特定する。

（Ｓ９２６）統合制御部１１９は、レンズ交換部４０５を制御し、交換対物レンズ４０２の光軸を結像レンズ４０１の光軸に合わせるように干渉発生部４０８と交換する。

他は実施形態１と同様である。実施形態８は実施形態１と同様の効果がある。

（実施形態９）
図１５（ａ）は実施形態９で観察対象とするプレパラート２６０を説明する図である。

このプレパラート２６０の観察対象から除外したい範囲を囲むように、ユーザは、円形の顔料による印２５１をカバーグラスの上面に設ける。

画像取得装置１０で、顔料による印２５１を設けたプレパラート２５０の画像を取得する動作を説明する。動作のフローチャートは図８と同様である。但し、Ｓ９０４において、統合制御部１１９は、予め不図示の手段により指定したデータに基づき、干渉領域特定部１１４にプレパラート２６０の外にある反射面を除くＸＹ領域を干渉領域として特定させる。

本実施形態の撮像領域を図１５（ｂ）に示す。図中の外側の破線はプレパラートの外形である。また、領域２６１は印を囲む矩形であり、この部分を除く試料の部分を撮像領域とする。

以上説明したように実施形態９によれば、予め観察対象としないプレパラート２６０の箇所に印をつけ、ここを撮像領域から除外することで、観察対象としない部分の像を取得する時間を削減し、画像取得時間を短縮可能である。

以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。

例えば、実施形態７又は８を、実施形態１ではなく他の実施形態（例えば、実施形態２〜５、９）に適用しても良い。

また、実施形態１等では、観察対象物を干渉計測部で計測した後に透過光計測部で計測していたが、透過光計測部で計測した後に干渉計測部で計測しても、もちろん良い。

さらに、実施形態４では、ＸＹ方向だけでなくＺ方向においても試料が存在する範囲を計測及び決定したが、Ｚ方向のみにおける試料が存在する範囲を計測及び決定することとしてもよい。その場合には、実施形態６と同様に、透過光量計測部及び暗領域特定部を画像取得装置から除いても良い。

１０ 画像取得装置
１００ 観察対象物（プレパラート）
１１３ 干渉計測部
１１５ 透過光計測部
１２０ 画像取得部
１１４ 干渉領域特定部（第１の領域特定部）
１１６ 暗領域特定部（第２の領域特定部）
１１８ 撮像領域決定部（領域決定部）

Claims (20)

1. 観察対象物の画像を取得する画像取得装置であって、
   前記観察対象物へ帯域光を照射して、前記観察対象物で反射した前記帯域光と参照光との干渉光を計測する干渉計測部と、
   前記干渉計測部の計測結果に基づいて反射面を特定することで、前記観察対象物の第１の撮像候補領域を特定する第１の領域特定部と、
   前記第１の撮像候補領域の画像を取得する画像取得部と、を備える
   ことを特徴とする画像取得装置。
2. 前記観察対象物を透過した透過光を計測する透過光計測部と、
   前記透過光計測部の計測結果に基づいて前記観察対象物の第２の撮像候補領域を特定する第２の領域特定部と、
   前記第１の撮像候補領域と前記第２の撮像候補領域とに基づいて前記観察対象物の撮像領域を決定する領域決定部と、を更に有し、
   前記画像取得部は、前記撮像領域の画像を取得し、
   前記領域決定部は、前記第１の撮像候補領域と前記第２の撮像候補領域との共通領域を前記撮像領域として決定する
   ことを特徴とする請求項１に記載の画像取得装置。
3. 前記第２の領域特定部は、前記透過光計測部で計測した前記透過光の光量が閾値以下又は閾値未満の領域を前記第２の撮像候補領域として特定する
   ことを特徴とする請求項２に記載の画像取得装置。
4. 前記第１の領域特定部は、前記観察対象物の外面と前記観察対象物の外の反射面と前記観察対象物の中の反射面とを判別する
   ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像取得装置。
5. 前記第１の領域特定部は、前記観察対象物の中の反射面を特定して、少なくとも該観察対象物の中の該反射面に囲まれている領域が前記第１の撮像候補領域に含まれないように該第１の撮像候補領域を特定する
   ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像取得装置。
6. 前記第１の領域特定部は、前記観察対象物の中の反射面を特定して、少なくとも該観察対象物の中の該反射面に囲まれている領域が前記第１の撮像候補領域に含まれるように該第１の撮像候補領域を特定する
   ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像取得装置。
7. 前記第１の領域特定部は、前記観察対象物の外の反射面を特定して、少なくとも該観察対象物の外の該反射面に囲まれている領域が前記第１の撮像候補領域に含まれないように該第１の撮像候補領域を特定する
   ことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像取得装置。
8. 前記第１の領域特定部は、前記観察対象物の外の反射面を特定して、少なくとも該観察対象物の外の該反射面に囲まれている領域が前記第１の撮像候補領域に含まれるように該第１の撮像候補領域を特定する
   ことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像取得装置。
9. 前記干渉計測部と前記透過光計測部とは撮像部を兼用しており、
   前記撮像部は、前記干渉光と前記透過光とを受光する
   ことを特徴とする請求項２又は３に記載の画像取得装置。
10. 前記干渉計測部と前記画像取得部とは、撮像部を兼用しており、該干渉計測部の前記干渉光を形成する干渉系と該画像取得部の前記観察対象物の像を形成する結像光学系とが交換可能となるように構成されている
    ことを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の画像取得装置。
11. 前記干渉計測部は、前記画像取得部の撮像部が受光可能な光の帯域の中で前記帯域光の帯域が変更可能となるように、構成されている
    ことを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の画像取得装置。
12. 前記透過光は、前記画像取得部の撮像部が受光可能な光である
    ことを特徴とする請求項２に記載の画像取得装置。
13. 前記観察対象物は、プレパラートを含む
    ことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の画像取得装置。
14. 前記観察対象物は、プレパラートを含み、
    前記観察対象物の中の反射面は、前記プレパラートの中の異物の表面を含む
    ことを特徴とする請求項５に記載の画像取得装置。
15. 前記観察対象物は、プレパラートを含み、
    前記観察対象物の中の反射面は、前記プレパラートの中の試料の表面を含む
    ことを特徴とする請求項６に記載の画像取得装置。
16. 前記観察対象物は、プレパラートを含み、
    前記観察対象物の外の反射面は、前記プレパラートの上の異物の表面を含む
    ことを特徴とする請求項７又は８に記載の画像取得装置。
17. 前記異物は、前記プレパラートの上に付加された印を含む
    ことを特徴とする請求項１６に記載の画像取得装置。
18. 前記画像取得部は、前記観察対象物の中の該画像取得部の結像光学系の光軸方向の位置が異なる複数の層の画像を取得し、
    前記第１の撮像候補領域は、前記光軸方向の範囲を含む
    ことを特徴とする請求項１乃至１７のいずれか１項に記載の画像取得装置。
19. 前記画像取得部は、前記観察対象物の中の該画像取得部の結像光学系の光軸方向に垂直な方向の位置が異なる複数の区画の画像を取得し、
    前記第１の撮像候補領域は、前記光軸方向に垂直な方向の範囲を含む
    ことを特徴とする請求項１乃至１８のいずれか１項に記載の画像取得装置。
20. 観察対象物の画像を取得する画像取得方法であって、
    前記観察対象物へ帯域光を照射して、前記観察対象物で反射した前記帯域光と参照光との干渉光を計測する計測ステップと、
    前記計測ステップの計測結果に基づいて反射面を特定することで、前記観察対象物の第１の撮像候補領域を特定する特定ステップと、
    前記第１の撮像候補領域の画像を取得する取得ステップと、を有する
    ことを特徴とする画像取得方法。

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