JP2015104555A5 - - Google Patents

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  1. 被検眼に対して斜め方向から測定光を投光する投光光学系と、
    前記測定光が前記被検眼の角膜前面で反射されることによって形成される第1角膜反射像と、前記測定光が前記被検眼の角膜後面で反射されることによって形成される第2角膜反射像を二次元受光素子にて受光する受光光学系と、
    前記二次元受光素子から出力された受光信号における前記第1角膜反射像と前記第2角膜反射像の位置情報に基づいて被検眼の角膜厚を得る演算処理手段と、
    を備え、
    前記演算処理手段は、
    前記第1角膜反射像と前記第2角膜反射像の少なくともいずれかの位置情報を二次元的に検出し、二次元的に検出された位置情報を用いて角膜厚を得ることを特徴とする眼科測定装置。
  2. 演算処理手段は、前記第1角膜反射像と前記第2角膜反射像の少なくともいずれかの二次元的な輪郭情報を検出し、検出された前記二次元輪郭情報に基づいて規定された反射像の位置情報を用いて角膜厚を得ることを特徴とする請求項1の眼科測定装置。
  3. 前記演算処理手段は、
    角膜の厚み方向に沿った少なくとも2つ以上のライン上での前記第1角膜反射像と前記第2角膜反射像の位置情報を検出し、各ラインでの位置情報を用いて角膜厚を得ることを特徴とする請求項1記載の眼科測定装置。
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