JP2015090292A - 放射線撮像装置および放射線撮像システム - Google Patents

放射線撮像装置および放射線撮像システム Download PDF

Info

Publication number
JP2015090292A
JP2015090292A JP2013229718A JP2013229718A JP2015090292A JP 2015090292 A JP2015090292 A JP 2015090292A JP 2013229718 A JP2013229718 A JP 2013229718A JP 2013229718 A JP2013229718 A JP 2013229718A JP 2015090292 A JP2015090292 A JP 2015090292A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
partition
radiation imaging
substrate
imaging apparatus
substrates
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013229718A
Other languages
English (en)
Inventor
航太 西部
Kota Nishibe
航太 西部
井上 正人
Masato Inoue
正人 井上
竹田 慎市
Shinichi Takeda
慎市 竹田
覚 澤田
Satoru Sawada
覚 澤田
石井 孝昌
Takamasa Ishii
孝昌 石井
大希 武井
Daiki Takei
大希 武井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2013229718A priority Critical patent/JP2015090292A/ja
Priority to PCT/JP2014/005389 priority patent/WO2015068348A1/ja
Publication of JP2015090292A publication Critical patent/JP2015090292A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2002Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers

Abstract

【課題】複数の隔壁基板を撮像基板に貼り合わせた構造を有する放射線撮像装置において、隔壁基板の配置を原因とする感度分布劣化を抑制する。【解決手段】放射線撮像装置100は、複数の光電変換素子232がマトリクス状に配置された撮像基板230と、壁415により複数の区画に所定のピッチで分割された複数の隔壁基板411,412と、区画に形成された蛍光体440とを有し、複数の隔壁基板411,412は、区画のピッチが一定となるよう配置されている。【選択図】図4

Description

本発明は、放射線を検出する放射線撮像装置および放射線撮像システムに関する。特には、医療画像診断装置や分析装置等に用いられる放射線撮像装置および放射線撮像システムに関する。
デジタル方式の放射線撮像装置は、患者を通過した放射線を蛍光体で可視光に変換し、撮像基板上に配置された光電変換素子などの変換素子により可視光を電気信号に変換することで画像データを取得する。このような放射線撮像装置においては、患者の身体情報をより正確に検出するため、鮮鋭度が高いことが望ましい。そこで、特許文献1には、シリコンエッチング技術により形成された隔壁部材により蛍光体を区分し、蛍光体内での光散乱を低減させる技術が知られている。
ところで、シリコンウェハの大きさは最大で直径30cmである。このため、最大で40cm×40cm程度の大きさを持つ大型の放射線撮像装置にシリコンウェハ製の隔壁基板を採用する場合には、シリコンウェハから複数の隔壁基板を切り出し、これら複数の隔壁基板を撮像パネルに貼り合わせている。しかしながら、場合によっては、感度低下をまねくおそれがあり、検討の余地がある。
米国特許第6744052号明細書
上述の実情に鑑み、本発明は、複数の隔壁基板を撮像パネルに貼り合わせた構造を有する放射線撮像装置において、感度分布の低下を抑制することを目的とする。
上記課題に鑑みて、本発明は、複数の光電変換素子がマトリクス状に配置された撮像基板と、隔壁部材により複数の区画に所定のピッチで分割された複数の隔壁基板と、前記区画に形成された蛍光体とを有する放射線撮像装置であって、前記複数の隔壁基板は、前記区画のピッチが一定となるよう配置されていることを特徴とする。
上記手段により、複数の隔壁基板を撮像パネルに貼り合わせた構造を有する放射線撮像装置において、感度分布の低下を抑制できる。
本発明の第1実施形態に係る放射線撮像装置の概略構成図である。 本発明の第1実施形態に係る撮像パネルの平面図である。 本発明の第1実施形態に係る放射線撮像装置の断面図である。 本発明の第1実施形態に係る放射線撮像装置の平面図である。 本発明の第1実施形態に係る放射線撮像装置の平面図である。 本発明の第2実施形態に係る放射線撮像装置の断面図である。 本発明の第2実施形態に係る放射線撮像装置の平面図である。 本発明の第3実施形態に係る放射線撮像装置の概略構成図である。 本発明の第3実施形態に係る放射線撮像装置の断面図である。 本発明の第3実施形態に係る放射線撮像装置の平面図である。 本発明の第3実施形態に係る放射線撮像装置の平面図である。 本発明の第4実施形態に係る放射線撮像装置の断面図である。 本発明の第4実施形態に係る放射線撮像装置の平面図である。 本発明の第4実施形態に係る放射線撮像装置の平面図である。 本発明の第5実施形態に係る放射線撮像装置の平面図である。 本発明の放射線撮像装置の放射線撮像システムを例示する概略構成図である。
添付の図面を参照しつつ、本発明の各実施形態について説明する。以下では、本発明の各実施形態として、医療画像診断装置、分析装置等に用いられる放射線撮像装置を例に示して説明する。本発明において、光は可視光及び赤外線を含み、放射線はX線、α線、β線およびγ線を含む。なお、各実施形態において共通の要素には同一の参照符号を付し、重複する説明を省略する。
(第1の実施形態)
図1を参照して、本発明の第1実施形態に係る放射線撮像装置100の概略構成例を説明する。放射線撮像装置100は、撮像基板230と、粘着材300と、隔壁パネル400とを備える。なお、図1においては説明のため、撮像基板230と隔壁パネル400とが分離している状態を示すが、実際には粘着材300を介して接続されている。撮像基板230は、マトリクス状に配置された複数の光電変換素子を備えており、蛍光体で変換された光を電気信号に変換する。撮像基板230の材料には、ガラスや耐熱プラスチックなどが好適に用いられる。光電変換素子には、例えば、非結晶シリコンを用いたPIN型センサやMIS型センサを用いることができる。隔壁パネル400は、複数の隔壁基板411,412と、粘着材420と、基台430とを含む。なお、説明の便宜上、隣り合う隔壁基板411,412には異なる符号を付してあるが、これらの隔壁基板411,412は、共通の構成を有する。隔壁基板411,412は、シリコンウェハにエッチングによって所定のピッチで分割された複数の区画を形成し、その後、ダイシングにより小さいサイズに切り出すことによって製作される。隔壁パネル400の材料は、たとえばシリコンなどの半導体が含まれる材料が適用できる。ただし、高反射かつ遮光性の高い材料で、高いアスペクト比でのエッチングが可能な材料であれば、適宜用いることができる。たとえば、半導体のほかに金属が含まれる材料が適用できる。隔壁基板411,412の各区画には蛍光体440が充填されている。蛍光体の材料としては、酸硫化ガドリニウムにテルビウムをドープしたものが例として挙げられる。
撮影の際には、矢印500の方向から放射線を曝射し、被写体による減衰を受けた放射線を隔壁パネル400に入射させる。隔壁パネル400の各区画には蛍光体440が充填されており、入射した放射線を光電変換素子が検出可能な波長に変換する。変換された光は光電変換素子にて電気信号に変換され、変換された電気信号をもとに画像が生成される。
図2を参照して、撮像基板230に形成された光電変換素子の配置について説明する。撮像基板230は、複数のマトリクス状に配置される画素231を有する。なお、図2においては説明のため、画素の輪郭を実線で示しているが、実際の撮像基板230には、このような実線は存在しない。各々の画素231は、光電変換素子232を有する。隣り合う光電変換素子232どうしの間隔は、いずれも距離Pに維持されている。距離Pを維持することで、得られる画像の歪み等を軽減することができる。なお、ここでは、距離Pは隣接する光電変換素子の重心の間の距離とする。
図3を参照して、放射線撮像装置100の断面構造について説明する。図3は、第1の実施形態に係る放射線撮像装置100の構成例を示す断面模式図である。隔壁基板411,412には、隔壁部材の例である壁415が形成される。そして隔壁基板411,412は、壁415(隔壁部材)によって、複数の区画に分割される。壁415の厚さは10μm程度である。そして、隣り合う隔壁基板411,412は、境界における区画のピッチが一定となるように(境界でない部分と同じピッチとなるように)、所定の距離をおいてタイリングされる。すなわち、複数の隔壁基板411及び412に跨って、区画のピッチが略一定となるように、複数の隔壁基板411及び412が配置されている。このようにすることによって、複数の隔壁基板411及び412に跨って設けられた区画のピッチが、光電変換素子の距離Pと対応させることができ、光電変換素子の距離Pと略一対一と(略等しく)することができる。そして、タイリングの際は、隣り合う光電変換素子232どうしの間に隔壁基板411,412の壁415を配置する。このように配置にすることで、隔壁基板411,412の各区画中(隔壁部材の例である壁415に囲まれた領域)に形成された蛍光体440の重心が、対応する光電変換素子232の真上に配置される。このため、感度分布の低下を抑制できる。また、タイリングのマージンも十分確保されるため、壁415が光電変換素子に乗り上げることで生じる感度分布の低下も抑制できる。隔壁基板411,412が粘着材300を介して撮像基板230上に貼り合わされ、その後に蛍光体440が形成される。そしてその上に、粘着材420を介して基台430が貼り合わせられる。なお、隔壁基板の厚さは1700μm以下の値をとる。実際に医療現場において使用する管電圧下においては、蛍光体の厚さがおおよそ1700μmであるとX線吸収率が100%に達する。すなわち、これ以上膜厚を大きくしてもX線吸収率に変化がないためである。
図4は、放射線撮像装置100の平面模式図である。図4では、説明の便宜上、粘着材300と、粘着材420と、基台430と、蛍光体440とを省略してある。本実施形態においては、隣り合う光電変換素子232どうしの間に隔壁基板411,412の壁415が配置されている。そして、隔壁基板411,412は、区画のピッチが、隣り合う隔壁基板411,412どうしの境界を含めて一定となるようにタイリングされている。
図5は、放射線撮像装置100の平面模式図であり、複数の隔壁基板411,412の配置の変形例である。図5においても、説明の便宜上、粘着材300と、粘着材420と、基台430と、蛍光体440とを省略してある。第1の実施形態においては、複数の隔壁基板411,412は、それらに形成される区画が一定になるように配置される。すなわち、隣り合う隔壁基板411,412の境界とそれ以外の部分とにおいて、区画のピッチが一定であればよい。このため、図5に示すように、複数の隔壁基板411,412の端部は揃っていなくてもよい。
(第2の実施形態)
図6と図7を参照して、第2実施形態に係る放射線撮像装置100の構成例を説明する。図6は、第2の実施形態に係る放射線撮像装置100の断面模式図であり、図7は平面模式図である。なお、図7においては、説明の便宜上、粘着材300と、粘着材420と、基台430と、蛍光体440とを省略してある。放射線撮像装置100の動作原理や、撮像基板230中の光電変換素子232の配置に関しては、第1実施形態と同様である。このため説明を省略する。また、第1実施形態と共通の構成には同じ記号を付す。
前述の第1の実施形態では、隣り合う隔壁基板411,412どうしの間には壁415が存在しない。このため、鮮鋭度が局所的に劣化する行と列が存在する。そこで、第2の実施形態では、鮮鋭度の劣化を抑制するために、隣り合う隔壁基板411,412の端部に、隔壁部材としての突起部416が設けられる。突起部416を設ける方法としては、壁415の形成と同様に、シリコンウェハにエッチングにより形成する方法が適用できる。そして、エッチングにより突起部416を形成したのち、ダイシングを行う。これにより、突起部416を有する隔壁基板411,412を製作できる。その後、第1の実施形態に記載の間隔で隔壁基板411,412をタイリングし、蛍光体の形成を行う。突起部416の存在により、隣り合う隔壁基板411、412の間においても、光の散乱を抑制することができる。このため、局所的な鮮鋭度の劣化を抑制することができる。
図6と図7に示すように、本実施形態においては、突起部416は、壁415と同じピッチで形成される。そして、隔壁基板411,412の突起部416は、タイリングされた状態で互いに干渉しないように形成される。たとえば、突起部416は、隔壁基板411,412がタイリングされた状態で、隣り合う隔壁基板411,412の突起部416先端に接触しないように形成される。
(第3の実施形態)
図8は、本発明の第3実施形態に係る放射線撮像装置100の概略構成を示す。図8は、第3の実施形態に係る放射線撮像装置100の構成例を示す分解斜視図である。第3の実施形態は、前述の第1および第2の実施形態と比較して、複数の撮像基板230が1つの撮像面を形成するという構成が異なる。このような撮像基板230の例としては、結晶シリコンを用いたCMOSセンサが挙げられる。これら複数の撮像基板230は、基板210に粘着材220を介して接続されている。
図9と図10を参照して、本発明の第3実施形態の構成例を詳細に説明する。図9は、第3の実施形態に係る放射線撮像装置100の構成例を示す断面模式図であり、図10は平面模式図である。図10においては、説明の便宜上、粘着材300と、粘着材420と、基台430と、蛍光体440とは省略してある。放射線撮像装置100の動作原理や、撮像基板230の光電変換素子232の配置は、第1の実施形態と同様であるため説明を省略する。また、第1の実施形態と共通の構成には同じ記号を付す。
第3の実施形態においては、複数の隔壁基板411,412が複数の撮像基板230上にタイリングされる。図10において、一点鎖線が、複数の撮像基板230の輪郭を示す。タイリングの際は、平面視において(図9の矢印Z方向視において)、隣り合う撮像基板230どうしの間に隔壁基板411,412の壁415を配置する。そして、隔壁基板411,412を、境界においても区画のピッチが一定となるようにタイリングする。第1および第2の実施形態で述べたように、このようにタイリングを行うことで、感度分布の低下を抑制できる。
図11は、第3の実施形態の変形形態を示す平面模式図である。図11においても、説明の便宜上、粘着材300と、粘着材420と、基台430と、蛍光体440とを省略している。図11において、一点鎖線が、複数の撮像基板の輪郭を示す。図11に示す変形形態では、図10に示される位置関係と比較して、隔壁基板411,412と撮像基板230とが縦横それぞれ1画素ずつずれている。第3の実施形態においては、隔壁基板411,412の区画のピッチが境界を含めて一定になればよい。このため、図11に示すような構造も第3の実施形態に含まれる。
(第4の実施形態)
図12と図13を参照して、第4実施形態に係る放射線撮像装置100の構成例を説明する。図12は、第4の実施形態に係る放射線撮像装置100の断面模式図であり、図13は平面模式図である。図13においては、説明の便宜上、粘着材300と、粘着材420と、基台430と、蛍光体440とを省略してある。放射線撮像装置100の動作原理や、撮像基板230中の光電変換素子232の配置は、第1の実施形態と同様である。このため説明を省略する。また、第1の実施形態と共通の構成には同じ記号を付す。
第4の実施形態においては、第3の実施形態と同様に、撮像面が複数の撮像基板230により形成される。そして、複数の撮像基板230で形成された撮像面上に、複数の隔壁基板411,412がタイリングされる。第4の実施形態においても、前述の実施形態と同様に、隔壁基板411,412は、平面視において撮像基板230の間に壁415が配置されるようにタイリングされる。かつ、隔壁基板411,412は、区画のピッチが一定となるようにタイリングされる。
第1の実施形態では、隣り合う隔壁基板411,412どうしの間には隔壁部材としての壁415が存在しないため、局所的に鮮鋭度が劣化する行と列が複数存在する。そこで、第2の実施形態では、鮮鋭度の劣化を防ぐために、隣り合う隔壁基板411,412の端部に隔壁部材としての突起部416を設けた。ただし、突起部416を有する隔壁基板411、412のタイリングは、光電変換素子232どうしの距離Pが短くなるにつれて難しくなる。そこで第4の実施形態においては、隣り合う隔壁基板411,412の端部のそれぞれに、区画のピッチの二倍のピッチで突起部417を形成する。そして、隣り合う隔壁基板411,412の突起部417が交互に並ぶように、隔壁基板411,412がタイリングされる。なお、突起部417を有する隔壁基板411,412の作成方法は、第2の実施形態と同様であるので省略する。突起部417の突き出し量は、ダイシング精度と隔壁基板411,412のタイリング精度により規定される。たとえば、ダイシング精度が±5μmであり、タイリング精度が±5μmであれば、突き出し量は25μm程度が適用できる。隔壁基板411,412のタイリング後のプロセスは、前述の実施形態と同じであるので省略する。
図14は、第4の実施形態の変形形態を示す平面模式図である。図14においても、説明の便宜上、粘着材300と、粘着材420と、基台430と、蛍光体440とを省略してある。また、図14において、一点鎖線は、撮像基板230の輪郭を示す。図14に示す変形形態では、隔壁基板411には、隣り合う隔壁基板412に対向する端部(たとえば四辺のうちの三辺)に突起部417が形成される。一方、隔壁基板412には、隣り合う隔壁基板411に対向する端部に突起部417が形成されない。突起部417の長さは区画のピッチよりも短く、タイリングにおいて隔壁基板41,412どうしが干渉しない。そして、突起部417が形成される隔壁基板411と、突起部が形成されない隔壁基板412とが、交互に並べて配置される。このような構成によっても、隣り合う隔壁基板411,412どうしの境界に位置する行と列に隔壁部材としての突起部417が設けられるため、これらの行と列における鮮鋭度の劣化を抑制できる。
(第5の実施形態)
図15を参照して、第5の実施形態に係る放射線撮像装置100の構成例を説明する。第5の実施形態では、隔壁基板413,414の配置方法について説明している。放射線撮像装置では、有効画素領域の中心部分を診断に用いることが多い。このため、特にこの中心部分の鮮鋭度が高いことが望ましい。第5の実施形態においては、有効画素領域の中心部分およびその付近の鮮鋭度劣化を抑制する形態である。すなわち、図15に示すように、中心部分に大判の隔壁基板413が配置され、その周辺に大判の隔壁基板413よりもサイズが小さい小判の隔壁基板414が並べられる。図15においては、有効画素領域を40cm×40cmとし、その中心部分に20cm×20cmの大判の隔壁基板413が配置される。さらに周辺部分は、2cm×20cmの小判の隔壁基板414を30枚配置される。なお、隔壁基板413,414の寸法はこの限りではなく、異なる寸法を持つ大判の隔壁基板413と小判の隔壁基板414を用いてもよい。
このような構成であれば、有効画素領域の中心付近に隔壁基板413,414の繋ぎ目がなくなる。隔壁基板413,414の繋ぎ目においては鮮鋭度の劣化が生じやすい。そこで、有効画素領域の中心部分において繋ぎ目をなくすことで、診断時に重要な中心部分の鮮鋭度の劣化を抑制できる。図15においては、撮像基板230を省略してあるが、複数枚の撮像基板230で1つの撮像面が形成される構成であってもよく、一枚の撮像基板230で1つの撮像面が形成される構成であってもよい。
(第7の実施形態)
本発明の第7の実施形態は、前述の放射線撮像装置100が適用されたX線診断システム(放射線撮像システム)への応用形態である。図16は、放射線用の検出装置のX線診断システム(放射線撮像システム1)の実施形態の例を示す模式図である。
放射線撮像システム1において、X線チューブ620(放射線源)で発生した放射線としてのX線621は、被検者または患者610の胸部611を透過し、本発明の実施形態に係る放射線撮像装置100に入射する。入射したX線には、患者610の体内部の情報が含まれている。放射線撮像装置100においては、X線の入射に対応して蛍光体440は発光し、光電変換素子232がこれを光電変換する。これにより体内部の情報を含む電気的信号が得られる。放射線撮像装置100は、この電気的信号をデジタル信号に変換して、信号処理手段となるイメージプロセッサ630に送信する。イメージプロセッサ630は、この電気的信号に画像処理を施し、制御室の表示手段となるディスプレイ641に送信する。これにより、検者は、ディスプレイ641を用いて電気的信号の内容を観察できる。なお、放射線撮像システム1は、検出装置と、検出装置からの信号を処理する信号処理手段とを少なくとも有する。本実施形態では、放射線撮像装置100が検出装置の例として機能し、イメージプロセッサ630が信号処理手段の例として機能する。
また、このイメージプロセッサ630は、この電気的信号を電話回線650等の伝送処理手段を介して遠隔地へ転送できる。X線ルームとは別の場所のドクタールームなどの表示手段であるディスプレイ642は、転送された電気的信号の内容を表示することができる。また、光ディスク等の記録手段は、転送された電気的信号を保存できる。これにより、遠隔地の医師が診断することも可能である。また記録手段となるフィルムプロセッサ660は、転送された電気的信号を記録媒体となるフィルム661に記録することもできる。
以上、本発明の実施形態を、図面を参照して詳細に説明したが、前記実施形態は、本発明の実施にあたっての具体例を示したに過ぎない。本発明の技術的範囲は、前記実施形態に限定されるものではない。本発明は、その趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変更が可能であり、それらも本発明の技術的範囲に含まれる。
100:放射線撮像装置、200:撮像パネル、210:基台、220:粘着材、230:撮像基板、231:画素、232:光電変換素子、300:粘着材、400:隔壁パネル、411,412,413,414:隔壁基板、420:粘着材、430:基台、440:蛍光体、500:放射線、610:患者または被検者、611:患者または被検者の胸部、620:X線チューブ、621:X線、630:イメージプロセッサ(信号処理手段)、641,642:ディスプレイ(表示手段)、650:電話回線(伝送処理手段)、660:フィルムプロセッサ(記録手段)、661:フィルム(記録媒体)

Claims (12)

  1. 複数の光電変換素子がマトリクス状に配置された撮像基板と、隔壁部材により複数の区画に所定のピッチで分割された複数の隔壁基板と、前記区画に形成された蛍光体とを有する放射線撮像装置であって、
    前記複数の隔壁基板は、前記区画のピッチが一定となるよう配置されていることを特徴とする放射線撮像装置。
  2. 前記隔壁基板の材料には、半導体または金属が含まれることを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
  3. 前記隔壁基板の厚さは1700μm以下であることを特徴とする請求項1または2に記載の放射線撮像装置。
  4. 複数の前記撮像基板を有し、複数の前記撮像基板により一つの撮像面が形成されることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  5. 一枚の前記撮像基板を有し、一枚の前記撮像基板により一つの撮像面が形成されることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  6. 前記隔壁基板の端部には、突起部が設けられていることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  7. 前記隔壁基板の端部には、前記隔壁部材のピッチの二倍のピッチで突起部が設けられ、ある前記隔壁基板に設けられる前記突起部どうしの間に、隣り合う前記隔壁基板の突起部が配置されることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  8. 前記隔壁基板の端部には、前記隔壁部材のピッチと同じピッチで突起部が設けられ、隣り合う前記隔壁基板の前記突起部と干渉しないように前記撮像基板に配置されていることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  9. 前記隔壁部材のピッチと同じピッチで端部に突起部が設けられた前記隔壁基板と、前記突起部が設けられない前記隔壁基板とが交互に前記撮像基板に配置されていることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  10. あるサイズの前記隔壁基板と前記あるサイズよりも小さいサイズの前記隔壁基板を有し、前記あるサイズの隔壁基板が、前記撮像基板から構成される撮像面の有効画素領域の中心部に配置され、前記あるサイズよりも小さいサイズの隔壁基板が前記有効画素領域の残りの部分に配置されていることを特徴とする請求項1から9のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
  11. 複数の光電変換素子がマトリクス状に配置された撮像基板と、隔壁部材により複数の区画に所定のピッチで分割された複数の隔壁基板と、前記区画に形成された蛍光体とを有する放射線撮像装置であって、
    前記複数の隔壁基板は、前記区画のピッチが隣接する前記光電変換素子の間の距離と対応するように配置されていることを特徴とする放射線撮像装置。
  12. 請求項1から11のいずれか1項に記載の放射線撮像装置と、
    前記放射線撮像装置によって得られた信号を処理する信号処理手段と、
    を備えることを特徴とする放射線撮像システム。
JP2013229718A 2013-11-05 2013-11-05 放射線撮像装置および放射線撮像システム Pending JP2015090292A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013229718A JP2015090292A (ja) 2013-11-05 2013-11-05 放射線撮像装置および放射線撮像システム
PCT/JP2014/005389 WO2015068348A1 (ja) 2013-11-05 2014-10-23 放射線撮像装置および放射線撮像システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013229718A JP2015090292A (ja) 2013-11-05 2013-11-05 放射線撮像装置および放射線撮像システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2015090292A true JP2015090292A (ja) 2015-05-11

Family

ID=53041146

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013229718A Pending JP2015090292A (ja) 2013-11-05 2013-11-05 放射線撮像装置および放射線撮像システム

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2015090292A (ja)
WO (1) WO2015068348A1 (ja)

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0560871A (ja) * 1991-09-04 1993-03-12 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出素子
US6194726B1 (en) * 1994-12-23 2001-02-27 Digirad Corporation Semiconductor radiation detector with downconversion element
JP2001141894A (ja) * 1999-08-30 2001-05-25 Fuji Photo Film Co Ltd 画像撮影方法および画像撮影装置
JP4283427B2 (ja) * 2000-08-03 2009-06-24 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器およびシンチレータパネル
JP2002303675A (ja) * 2001-04-04 2002-10-18 Canon Inc 放射線検出装置及びそれを用いた放射線撮像システム
JP4647828B2 (ja) * 2001-05-07 2011-03-09 浜松ホトニクス株式会社 シンチレータパネルおよびそれを用いた放射線検出器
JP4818870B2 (ja) * 2006-10-17 2011-11-16 ヤハギ緑化株式会社 土砂又は植物の敷設ユニット
JP2012132768A (ja) * 2010-12-21 2012-07-12 Fujifilm Corp 放射線検出パネル及びシンチレータの製造方法
JP2012223159A (ja) * 2011-04-21 2012-11-15 Daiken Corp 緑化ボード及び緑化システム

Also Published As

Publication number Publication date
WO2015068348A1 (ja) 2015-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5043374B2 (ja) 変換装置、放射線検出装置、及び放射線検出システム
JP6100045B2 (ja) 放射線検出装置、放射線検出システム及び放射線検出装置の製造方法
JP5693173B2 (ja) 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP4908947B2 (ja) 変換装置、放射線検出装置、及び放射線検出システム
JP4845352B2 (ja) 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線撮像システム
JP6000680B2 (ja) 放射線検出装置、その製造方法及び撮像システム
JP2007201246A (ja) 光電変換装置及び放射線撮像装置
US20130187054A1 (en) Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JP2010034520A (ja) 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP5700973B2 (ja) 検出装置及び放射線検出システム
US20190313525A1 (en) Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JP2007103578A (ja) 光電変換装置及び放射線検出装置
CN109324341B (zh) 放射线检测装置及其制造方法和放射线成像系统
JP2012145537A (ja) 放射線検出装置、放射線検出システム、及び放射線検出装置の製造方法
US9971043B2 (en) Radiation detection apparatus, radiation imaging system, and manufacturing method
US20140319361A1 (en) Radiation imaging apparatus, method of manufacturing the same, and radiation inspection apparatus
WO2015068348A1 (ja) 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP2004061116A (ja) 放射線検出装置及びシステム
US11269087B2 (en) Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JP2017203695A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2018021828A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2007281690A (ja) 電磁波検出装置及び放射線撮像システム
JP2014032124A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2018119891A (ja) 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP2015148446A (ja) 放射線撮像装置及び放射線検査装置