JP2015082095A - 画像処理装置、顕微鏡システム、画像処理方法およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】試料について3次元計測を行う際の計測位置を容易に指定可能とする画像処理装置を提供する。【解決手段】制御装置2は、顕微鏡1において対物レンズと試料3との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの対物レンズと試料との間の距離とを関連付けて記憶装置31に記憶する。制御装置2は、記憶装置31に記憶されている複数の画像のうち一つの画像を表示部34に表示する。制御装置2は、操作者により操作可能な操作手段の操作に応じて画像を記憶装置31から読み出して表示部34に表示させる。制御装置2は表示部34に複数の画像のうちのいずれかの画像が表示されている状態で試料3のサイズを計測するための複数の計測点を指定し、指定された複数の計測点に基づきサイズを決定する決定手段を有する。【選択図】図2
Description
本発明は、試料について3次元計測を行う際の計測対象箇所指定する技術に関する。
顕微鏡システムでは対物レンズと試料との間の距離を少しずつ変えながら試料を撮像して複数の画像を取得し、得られた複数の画像をスタックしていわゆるZスタック画像が作成される(特許文献1)。
Zスタック画像は試料の高さ方向の情報を有しているため、Zスタック画像から試料の3次元画像を構築することもできる。ところで、観察者は、3次元画像から試料の3次元構造の外形を視覚的に把握することができるが、さらに、試料の各部位のサイズ(長さ、面積、体積など)を3次元画像から計測したいと考えることがある。この場合に観察者は計測対象となる位置を指定しなければならない。しかし、3次元画像においては試料の各部位が複雑に交差していることがあるため、たとえ3次元画像を3D回転させたとしても正確に計測位置を指定することは困難であった。たとえば、計測位置を指定したい部位が他の部位によって隠されてしまっていたり、手前の部位に計測位置が指定されているのか奥の部位に計測位置が指定されているのかが分かりにくかったりする。
そこで、本発明は、試料について3次元計測を行う際の計測位置を容易に指定可能な技術を提供することを目的とする。
本発明は、たとえば、
顕微鏡において対物レンズと試料との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの前記対物レンズと前記試料との間の距離とを関連付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されている前記複数の画像のうち一つの画像を表示する画像表示手段と、
操作者により操作可能な操作手段と、
前記操作手段の操作に応じて前記複数の画像から前記画像表示手段に表示する画像を特定する特定手段と、
前記特定手段により特定された画像を前記記憶手段から読み出して前記画像表示手段に表示させる表示制御手段と、
前記画像表示手段に前記複数の画像のうちのいずれかの画像が表示されている状態で前記試料のサイズを計測するための複数の計測点を指定する指定手段と、
前記指定手段により指定された複数の計測点に基づき前記サイズを決定する決定手段と
を有することを特徴とする画像処理装置を提供する。
顕微鏡において対物レンズと試料との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの前記対物レンズと前記試料との間の距離とを関連付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されている前記複数の画像のうち一つの画像を表示する画像表示手段と、
操作者により操作可能な操作手段と、
前記操作手段の操作に応じて前記複数の画像から前記画像表示手段に表示する画像を特定する特定手段と、
前記特定手段により特定された画像を前記記憶手段から読み出して前記画像表示手段に表示させる表示制御手段と、
前記画像表示手段に前記複数の画像のうちのいずれかの画像が表示されている状態で前記試料のサイズを計測するための複数の計測点を指定する指定手段と、
前記指定手段により指定された複数の計測点に基づき前記サイズを決定する決定手段と
を有することを特徴とする画像処理装置を提供する。
本発明によれば、試料について3次元計測を行う際の計測位置を容易に指定可能となる。
以下に本発明の一実施形態を示す。以下で説明される個別の実施形態は、本発明の上位概念、中位概念および下位概念など種々の概念を理解するために役立つであろう。また、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によって確定されるのであって、以下の個別の実施形態によって限定されるわけではない。
図1(A)および図1(B)は顕微鏡システムの中核をなす顕微鏡1の斜視図である。図1(A)が示すように顕微鏡1は、筐体自体を暗室として利用するため、ユーザーが暗室を用意する必要がない。ユーザー(操作者)は、上面カバー190を開けると、透過照明光学系5の下方に配置されたXYステージ6にアクセス可能となる。上面カバー190を閉じることで、暗室が形成される。ユーザーは前面カバー191を開けることでフィルタターレット14に搭載されたフィルタキューブ(カラーフィルタなど)を交換できる。
図2は、顕微鏡システム100を構成する主要部を示すブロック図である。顕微鏡1は図2に示す制御装置2によって制御される。制御装置2は、たとえば、制御プログラムをインストールされた情報処理装置(パーソナルコンピュータ:PC)である。つまりPCが顕微鏡1の制御装置2として機能する。このように顕微鏡システム100は、顕微鏡1と制御装置2とを有している。
顕微鏡1は、試料3のモノクロ画像、カラー画像および蛍光画像を取得することができる顕微鏡であるが、このうち1つの画像のみを取得する顕微鏡であってもよい。XYステージ6には試料3を保持するための容器ユニット7が固定される。試料3は標本、サンプル、検体またはワークと呼ばれることもある。容器ユニット7は、プレパラート、ディッシュまたはウェル等の容器とこの容器を支持するホルダとを有している。透過照明光源4が出力された照明光はコンデンサレンズなどを含む透過照明光学系5を介して試料3に照射される。透過照明光学系5には遮光用のメカシャッタが設けられていてもよい。透過照明光源4からの照明光は、試料3のモノクロ画像やカラー画像を取得する際に使用される。試料3について蛍光観察を実行する際は、蛍光落射照明光源8から励起光が出力される。励起光は、蛍光落射照明光学系9および励起フィルタ10を通過する。蛍光落射照明光学系9には遮光用のメカシャッタが設けられていてもよい。励起フィルタ10は、蛍光落射照明光源8から出力された光のうち励起光となる波長成分のみを透過させる波長選択性フィルタである。励起光はさらにダイクロックミラー11で反射され、対物レンズユニット12の対物レンズを通過して試料3に照射される。ダイクロックミラー11も波長選択性のミラーであり、励起光を反射するが、試料3に添加された蛍光試薬(蛍光染料や蛍光色素とも呼ばれる)が発光する蛍光については透過する。対物レンズユニット12は、モータ13によって回転する電動レボルバと、電動レボルバに搭載された複数の対物レンズとを有している。フィルタターレット14は、4つの開口を有し、そのうち3つの開口には励起フィルタ10、ダイクロイックミラー11、吸収フィルタ16を有するそれぞれ異なるフィルタキューブが取り付けられているが、残りの1つの開口は何も取り付けられていない。フィルタの取り付けられていない開口は、明視野画像を取得する際に使用される。フィルタターレット14は、モータ15によって回転する。吸収フィルタ16は、試料3からの光のうち必要な波長成分のみを透過させる波長選択性フィルタである。結像光学系17は、試料3を撮像装置18の撮像面に結像させるレンズである。カラーフィルタ24は、たとえば、液晶チューナブルフィルタであり、透過波長を切り替えることにより順にR、G、Bの画像を取得、これらを画像処理部19で合成することでカラー画像を作成する。なお、カラーフィルタとしては上述した液晶チューナブルフィルタに限られず、異なる透過波長のフィルタを機械的に切り替えるカラーフィルタターレットを配置してもよい。画像処理部19は、撮像装置18から出力される画像信号を増幅してA/D変換し、さらにシェーディング補正を行ったりするなど、様々な画像処理を行う。制御部20は、制御装置2からの指示にしたがって顕微鏡1の各部を制御する。たとえば、制御部20は、モータ群21を制御してXYステージ6をX軸方向またはY軸方向へ移動させたり、モータ22を制御してZステージと呼ばれることもある対物レンズユニット12をZ軸方向に移動させたりする。対物レンズユニット12をZ軸方向に移動させることで合焦位置が変化し、オートフォーカスが実行される。XYステージ6およびZステージは手動調整機構を有していてもよい。ここで、Z軸方向は対物レンズの光軸方向であり、X軸方向およびY軸方向はZ軸方向に直交した方向である。通信部23は、制御装置2からの指示を受信したり、制御部20からの情報や画像データを制御装置2へ送信したりするユニットである。制御部20は、たとえば、マイクロプロセッサやCPU、LSI、FPGA、ASICなどで構成される。つまり、制御部20はソフトウエアとその実行手段で実現されてもよいし、ハードウエアのみで実現されてもよいし、前者と後者との混在によって実現されてもよい。
制御装置2においてCPU30は、記憶装置31に記憶された制御プログラムを実行して顕微鏡1を制御したり、通信インタフェース32を通じて受信した画像データを表示部34に表示させたりする。記憶装置31は、ROM、RAMなどのメモリやハードディスク記憶装置などを含んでいる。操作部33は、キーボードやポインティングデバイスなどの入力装置である。表示部34は、顕微鏡1を制御するための制御パラメータを設定するユーザーインタフェース(UI)や観察結果(静止画または動画)を表示するUIを提供する。
顕微鏡システム100はZスタック画像の撮像やタイムラプス撮影を実行できる。Zスタック画像とは、Zステージを少しずつ移動させることで合焦位置をずらしながら各合焦位置において取得された試料3の複数の画像(レイヤー画像/スライス画像)をいう。微生物などの試料3は観察中にX軸方向やY軸方向だけでなくZ軸方向にも移動する。よって、Z軸方向に少量ずつ合焦位置をずらして複数の画像を取得することで、試料3に合焦した画像を取得しやすくなる。タイムラプス撮影とは、一定時間ごとに1枚または複数枚の画像を取得する撮影方法をいう。微生物などの試料3は観察中に成長したり変化したりする。そのため、その経過を知る上でタイムラプス撮影は有効である。
[Zスタック画像]
操作部33を通じてZスタック画像の取得が指示されると、CPU30は、Zスタック画像の取得を顕微鏡1の制御部20に指示する。この際に、CPU30は、操作部33を通じて設定された制御パラメータ(たとえば、露光時間、撮像枚数、撮像開始時刻、光源の種類、フィルタ、対物レンズの倍率、Zステージの移動範囲など)も制御部20に送信される。制御部20は、制御パラメータにしたがって露光時間などを撮像装置18に設定するとともに、Zステージ(対物レンズユニット12)を撮像開始位置に移動させるためにモータ13を制御する。制御部20は、撮像開始時刻になると光源を点灯させて撮像を開始する。制御部20は、移動範囲(移動距離)を撮像枚数で除算して、一回の移動距離を求め、それに応じてモータ13を駆動してZステージを移動させる。これにより、指定された枚数の画像が取得される。制御部20は、各画像を撮像したときの制御パラメータ(撮像時刻、対物レンズ、Zステージの位置)を含むメタデータを作成して各画像に添付してもよい。なお、メタデータはCPU30によって作成されてもよい。制御部20は、レイヤー画像を取得するたびに、または複数のレイヤー画像を一括して通信部23を通じて制御装置2に送信する。Zステージの位置は、顕微鏡1において対物レンズと試料3との間の距離を示している。CPU30は、通信インタフェース32を通じて受信した複数のレイヤー画像を記憶装置31に記憶する。このように、記憶装置31は、顕微鏡1において対物レンズと試料3との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの対物レンズと試料との間の距離とを関連付けて記憶する記憶手段として機能する。この複数のレイヤー画像がZスタック画像である。CPU30は、操作部33からの指示に応じてZスタック画像から3次元画像を構築して表示部34に表示してもよい。
操作部33を通じてZスタック画像の取得が指示されると、CPU30は、Zスタック画像の取得を顕微鏡1の制御部20に指示する。この際に、CPU30は、操作部33を通じて設定された制御パラメータ(たとえば、露光時間、撮像枚数、撮像開始時刻、光源の種類、フィルタ、対物レンズの倍率、Zステージの移動範囲など)も制御部20に送信される。制御部20は、制御パラメータにしたがって露光時間などを撮像装置18に設定するとともに、Zステージ(対物レンズユニット12)を撮像開始位置に移動させるためにモータ13を制御する。制御部20は、撮像開始時刻になると光源を点灯させて撮像を開始する。制御部20は、移動範囲(移動距離)を撮像枚数で除算して、一回の移動距離を求め、それに応じてモータ13を駆動してZステージを移動させる。これにより、指定された枚数の画像が取得される。制御部20は、各画像を撮像したときの制御パラメータ(撮像時刻、対物レンズ、Zステージの位置)を含むメタデータを作成して各画像に添付してもよい。なお、メタデータはCPU30によって作成されてもよい。制御部20は、レイヤー画像を取得するたびに、または複数のレイヤー画像を一括して通信部23を通じて制御装置2に送信する。Zステージの位置は、顕微鏡1において対物レンズと試料3との間の距離を示している。CPU30は、通信インタフェース32を通じて受信した複数のレイヤー画像を記憶装置31に記憶する。このように、記憶装置31は、顕微鏡1において対物レンズと試料3との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの対物レンズと試料との間の距離とを関連付けて記憶する記憶手段として機能する。この複数のレイヤー画像がZスタック画像である。CPU30は、操作部33からの指示に応じてZスタック画像から3次元画像を構築して表示部34に表示してもよい。
図3はZスタック画像の一例を示す図である。このZスタック画像は、6枚のレイヤー画像から構成されている。各レイヤー画像のメタデータにはZステージの位置が書き込まれている。
図4はZスタック画像から構築された3次元画像の一例である。本実施形態の顕微鏡1は倒立型の顕微鏡であるため、図4に示されている3次元画像は、試料3を下側から見た様子を示している。CPU30は、各レイヤー画像のメタデータからZステージの位置を読み出して、その位置を基準に各レイヤー画像を配置して3次元画像を構築する。レイヤー画像における画素の座標はX軸方向の位置とY軸方向の位置に対応しており、Zステージの位置はZ軸方向の位置に対応している。CPU30は、操作部33からの指示にしたがって3次元画像を3D回転させて表示部34に表示してもよい。
ところで、図4の3次元画像において試料3の部位のサイズを計測するために、ユーザーは、操作部33を通じて、計測対象部位の起点、途中点および終点を指定しなければならない。各部位の輝度値を元に起点から終点までを自動で連結して起点から終点までの距離を求めてもよいが、この場合は、計測誤差が大きくなることがある。たとえば、試料3が一部で分岐している場合にどちらの部位を辿ればよいかを画像処理で自動的に判別することは簡単ではない。よって、ユーザーが計測したいと思う部位についてはユーザーが手動で指定したほうが正しい計測結果が得られるであろう。しかし、上述したように、3次元画像では複数の部位が重なり合っている場合に所望の部位に計測位置を指定することは簡単ではない。そこで、以下のユーザーインタフェースによりユーザーにとって計測位置の指定を容易にする。
図5は計測位置を指定するユーザーインタフェースの一例を示す図である。図5においてZスタック画像50は6つのレイヤー画像I1からI6によって構成されている。ユーザーインタフェース60にはレイヤー画像を表示する画像表示部61とスライドバー65とを有している。画像表示部61は記憶手段に記憶されている複数の画像のうち一つの画像を表示する画像表示手段の一例である。スライドバー65は操作者により操作可能な操作手段の一例であり、操作部33の操作量に連動して移動するポインタ62によって上下に移動する。とりわけ、本実施形態では、スライドバー65の位置に対応したレイヤー画像が画像表示部61に表示される。CPU30は、操作手段の操作に応じた画像を特定する特定手段として機能する。たとえば、CPU30は、スライドバー65の位置(スライドバー65の操作量)をZステージの位置(距離)に換算し、換算された距離に対応したレイヤー画像を特定して記憶装置31から読み出して画像表示部61に表示する。このようにCPU30は操作手段の操作量を距離に換算する換算手段として機能する。また、記憶装置31は顕微鏡において対物レンズと試料との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの対物レンズと試料との間の距離とを関連付けて記憶する記憶手段の一例である。さらに、CPU30は換算手段により換算された距離に対応した画像を記憶手段から読み出して画像表示手段に表示させる表示制御手段として機能する。たとえば、スライドバー65が移動可能な範囲のうちで最上位に位置しているときは、Zスタック画像50において最上位に位置しているレイヤー画像I1が表示される。また、スライドバー65が移動可能な範囲のうちで最下位に位置しているときは、Zスタック画像50において最下位に位置するレイヤー画像I6が表示される。このように、ユーザーはレイヤー画像を切り替えることで、計測位置を指定したい部位が含まれているレイヤー画像を選択できるため、計測位置を指定しやすくなる。
図6(A)および図6(B)はレイヤー画像に計測位置を指定する様子を示している。CPU30は、画像表示手段に複数の画像のうちのいずれかの画像が表示されている状態で試料のサイズを計測するための複数の計測点を指定する指定手段として機能する。たとえば、CPU30は、操作部33によってクリックされた位置の座標とそのときのスライドバーの位置とをPi(xi,yi,xi)として記憶装置31に記憶する(iは計測位置を示す番号)。図6(A)ではスライドバー65によって最上位から数えて2番目のレイヤー画像I2が表示されている。また、図6(B)ではスライドバー65によって最上位から数えて5番目のレイヤー画像I5が表示されている。このようにスライドバー65によってレイヤー画像を切り替えながら、複数の計測位置が順番に指定される。
図7は、複数の計測位置を線で結ぶことで計測対象部位63を3次元画像51において強調表示した図である。CPU30は、操作部33を通じて指定された複数の指定位置を順番に線で結び、各線の距離を加算することで計測対象部位63の長さを算出する。
図8は、計測処理の工程を示すフローチャートである。S11で、制御装置2のCPU30はZスタック画像の取得を顕微鏡1に指示する。顕微鏡1はZスタック画像を取得して制御装置2に転送する。CPU30はZスタック画像を記憶装置31に記憶する。
S12で、CPU30は、記憶装置31からZスタック画像を構成する複数のレイヤー画像のうちスライドバー65の位置に対応したレイヤー画像を選択してユーザーインタフェース60に配置し、ユーザーインタフェース60を表示部34に表示する。ここでは、デフォルトのスライドバー65の位置(最上位、中央、最下位など)に対応したレイヤー画像が選択される。
S13で、CPU30は、スライドバー65の位置の変更を検出すると、スライドバー65の位置に対応したレイヤー画像をユーザーインタフェース60に表示する。
S14で、CPU30は、画像表示部61に表示されているレイヤー画像に計測位置を指定する。たとえば、CPU30は、レイヤー画像に対して操作部33を通じて指定された計測位置の座標Pi(xi,yi,xi)を記憶装置31に記憶して行く。なお、1つのレイヤー画像に対して複数の計測位置が指定されてもよい。また、第1のレイヤー画像に対して複数の計測位置が指定され、第2のレイヤー画像に対して複数の計測位置が指定され、さらに第1のレイヤー画像に戻って複数の計測位置が指定されてもよい。つまり、試料3の立体形状に沿って計測位置を順番に設定することができる。
S15で、CPU30は、操作部33を通じて計測位置の指定終了が指示されたかどうかを判定する。指定終了はユーザーインタフェース60に配置された特定のボタンを操作することで指示されてもよい。指定終了が指示されていなければ、S13、S14を繰り返し実行する。指定終了が指示されるとS16に進む。
S16で、CPU30は、計測処理を実行する。たとえば、CPU30は、最初の計測位置である座標P1(x1,y1,x1)と2番目の計測位置である座標P2(x2,y2,x2)とを結ぶ線分の距離L1を算出する。次に、CPU30は、2番目の計測位置である座標P2(x2,y2,x2)と3番目の計測位置である座標P3(x3,y3,x3)とを結ぶ線分の距離L2を算出する。これを最後の計測位置の座標Pn(xn,yn,xn)まで順番に繰り返す。CPU30は、距離L1から距離Ln−1までを加算して全体の長さLaを算出する。このようにCPU30は指定手段により指定された複数の計測点に基づきサイズを決定する決定手段として機能する。
S17で、CPU30は、計測結果を表示する。たとえば、CPU30は、計測結果である長さLaを表示する。また、図7に例示したようにCPU30はZスタック画像から3次元画像51を構築し、さらに、最初の計測位置P1から最後の計測位置Pnまでを結んだ線(計測対象部位63)を表示してもよい。
図9はユーザーインタフェースの他の例を示している。ユーザーインタフェース70はXY断面画像Ixyとしてレイヤー画像を表示する。されに、CPU30はZスタック画像からYZ断面画像IyzとXZ断面画像Ixyを作成してユーザーインタフェース70に配置する。CPU30はYZ断面画像IyzにXY断面画像Ixyの位置を示す指標線71を配置する。CPU30はXZ断面画像IxzにXY断面画像Ixyの位置を示す指標線72を配置する。さらに、CPU30は計測位置を指定するための2本の指定線73、74をXY断面画像Ixyに重ね合わせて表示する。操作部33によってポインタ62が操作されるが、指定線73をポインタ62によってドラッグすることで計測位置Pのx座標が決定される。また、指定線74をポインタ62によってドラッグすることで計測位置Pのy座標が決定される。XY断面画像Ixyはレイヤー画像そのものであり、指標線71、72のどちらかをポインタ62によってドラッグすることで、指標線71、72の位置に対応したレイヤー画像が記憶装置31から読み出される。なお、指標線71、72は連動して移動する。これは両者がz座標を示しているからである。このように、指標線71、72の位置またはレイヤー画像のメタデータから計測位置Pのz座標が確定する。このように、XY断面画像Ixy、YZ断面画像IyzおよびXZ断面画像Ixyを表示することで、ユーザーは、計測位置Pの座標を確認しながら正確に所望の位置にセットすることができる。CPU30は、操作部33からの指示に応じて断面画像80および断面画像82を切り替えながら複数の計測位置を指定する。
図10は3次元画像51を利用した断面画像の作成方法を示している。CPU30は、Zスタック画像から構築した3次元画像51を表示する。CPU30は、ポインタ62によって3次元画像がドラッグされると、ドラッグ量に応じて3次元画像51を3D回転させるとともに、平面81に切断(スライス)された断面画像80を取得する。3次元画像は、輝度値と座標(x、y、z)との集合であるため、CPU30は、平面81の座標に基づき3次元画像から断面画像80を作成する。なお、CPU30は、断面画像80を断面の法線方向から見た断面画像82に変換して表示してもよい。CPU30は、この断面画像82に対してポインタ62でクリックされた位置の座標を計測位置の座標として決定する。
図11は3次元画像51を利用した断面画像の他の作成方法を示している。この例では、3次元画像51に対して断面画像80を指定するための2つのピン91、92を採用している。CPU30は、操作部33からの操作によって2つのピン91、92を3次元画像51に対して重ね合わせて表示する。そして、CPU30は、2つのピン91、92を結ぶ平面によって3次元画像51から切り取られる断面を断面画像80とする。なお、2つのピン91、92の配置位置や角度は操作部33からの操作によって自由に変更される。CPU30は、操作部33からの指示に応じて断面画像80および断面画像82を切り替えながら複数の計測位置を指定する。
上述した実施形態では長さを求める例を示したが、面積や体積を求めてもよい。つまり、CPU30は、操作部33によって面積計測が指定されると、たとえば、3つ以上の計測位置をユーザーに指定させ、指定された計測位置を順番に結び、さらに最初の計測位置と最後の計測位置とを結ぶことで閉じた形状を求め、この形状の面積を算出してもよい。
CPU30は、操作部33によって体積計測が指定されると、たとえば、2つの矩形の座標を計測位置としてユーザーに指定させ、2つの矩形を上面と下面とする直方体の体積として算出してもよい。もちろん、矩形は一例にすぎず、三角形や多角形であってもよいし、円形や雲形などの自由形状であってもよい。また、CPU30は、多面体を構成する複数の頂点を計測位置として操作部33を通じて指定させ、多面体の体積や表面積を算出してもよい。なお、CPU30は、操作部33を通じて試料3の密度を受け付け、体積に密度を乗算して質量を算出してもよい。
(まとめ)
本実施形態では制御装置2が画像処理装置として機能する。すなわち、制御装置2は、顕微鏡1において対物レンズと試料3との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの対物レンズと試料との間の距離とを関連付けて記憶装置31に記憶する。制御装置2は、記憶装置31に記憶されている複数の画像のうち一つの画像を表示部34に表示する。制御装置2は、操作者により操作可能な操作手段の操作に応じて複数の画像から表示部34に表示する画像を特定する。上述した事例に加えて、さらに、マウスなどのポインティングデバイスによるアイコンのクリック操作に応じて上層のスライス画像に移動したり、下層のスライス画像に移動したりしてもよい。この場合、ユーザーインタフェースには、上層移動用のアイコンと下層移動用のアイコンが設けられてもよい。制御装置2は、マウスに搭載されたホイールの操作に応じて上層のスライス画像に移動したり、下層のスライス画像に移動したりしてもよい。また、制御装置2は、マウスの左クリックを検知すると上層のスライス画像に移動し、右クリックを検知すると下層のスライス画像に移動してもよい。また、制御装置2は、操作量を距離に換算し、距離に対応した画像を特定して記憶装置31から読み出して表示部34に表示させる。制御装置2は表示部34に複数の画像のうちのいずれかの画像が表示されている状態で試料3のサイズを計測するための複数の計測点を指定し、指定された複数の計測点に基づきサイズを決定する決定手段する。このように、本実施形態では、Zスタック画像などから容易に計測位置を指定することが可能となり、試料3に関する様々なサイズ(寸法や質量など)を計測することが可能となる。
本実施形態では制御装置2が画像処理装置として機能する。すなわち、制御装置2は、顕微鏡1において対物レンズと試料3との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの対物レンズと試料との間の距離とを関連付けて記憶装置31に記憶する。制御装置2は、記憶装置31に記憶されている複数の画像のうち一つの画像を表示部34に表示する。制御装置2は、操作者により操作可能な操作手段の操作に応じて複数の画像から表示部34に表示する画像を特定する。上述した事例に加えて、さらに、マウスなどのポインティングデバイスによるアイコンのクリック操作に応じて上層のスライス画像に移動したり、下層のスライス画像に移動したりしてもよい。この場合、ユーザーインタフェースには、上層移動用のアイコンと下層移動用のアイコンが設けられてもよい。制御装置2は、マウスに搭載されたホイールの操作に応じて上層のスライス画像に移動したり、下層のスライス画像に移動したりしてもよい。また、制御装置2は、マウスの左クリックを検知すると上層のスライス画像に移動し、右クリックを検知すると下層のスライス画像に移動してもよい。また、制御装置2は、操作量を距離に換算し、距離に対応した画像を特定して記憶装置31から読み出して表示部34に表示させる。制御装置2は表示部34に複数の画像のうちのいずれかの画像が表示されている状態で試料3のサイズを計測するための複数の計測点を指定し、指定された複数の計測点に基づきサイズを決定する決定手段する。このように、本実施形態では、Zスタック画像などから容易に計測位置を指定することが可能となり、試料3に関する様々なサイズ(寸法や質量など)を計測することが可能となる。
操作手段としてスライドバー65を採用することで、計測位置を指定するためのレイヤー画像を容易に切り替えることが可能となる。
本実施形態では、対物レンズの光軸の方向がZ軸方向であり、Z軸方向と直交する方向がX軸方向およびY軸方向である。図9を用いて説明したように、表示部34は、複数の画像に基づき、XY断面画像と、YZ断面画像と、XZ断面画像とを表示してもよい。操作部33は、YZ断面画像またはXZ断面画像においてZ軸方向の位置を指定するための操作手段として利用されてもよい。CPU30は、操作部33により指定された位置に対応した画像を記憶装置31から読み出してXY断面画像として表示部34に表示させてもよい。さらに、CPU30は、XY断面画像において計測点のXY座標を指定し、操作部33により指定された位置を計測点のZ座標として指定してもよい。このようにZスタック画像などから断面画像を作成し、その断面画像において計測位置を指定できるようになる。断面画像を用いることで計測位置を正確に設定できるようになる。
CPU30は、指定手段により指定された順番に従って複数の計測点のうち最初に指定された計測点から最後に指定された計測点までの線分の距離を算出してもよい。これにより計測対象物の長さを正確に求められるようになる。CPU30は、指定手段により指定された順番に従って複数の計測点を結んでできる面の面積を算出してもよい。これにより計測対象物の面積を正確に求められるようになる。CPU30は、指定手段により指定された順番に従って複数の計測点を結んでできる多面体の体積を算出してもよい。これにより計測対象物の体積を正確に求められるようになる。CPU30は、指定手段により指定された順番に従って複数の計測点を結んでできる多面体の表面積を算出してもよい。これにより計測対象物の表面積を正確に求められるようになる。
なお、図9ないし図11などを用いて説明したように、CPU30は、複数の画像を重ね合わせて試料の3次元画像を作成する3次元画像作成手段として機能し、表示部34は複数の画像から作成された3次元画像を表示する3次元画像表示手段として機能してもよい。また、操作部33は、3次元画像表示手段に表示されている3次元画像において断面を指定する断面指定手段として機能してもよい。CPU30は複数の画像に基づき指定された断面を示す断面画像を作成する断面画像作成手段として機能してもよい。表示部34は断面画像を表示する断面画像表示手段として機能してもよい。CPU30は、断面画像において試料のサイズを計測するための複数の計測点を指定して、複数の計測点に基づきサイズを決定してもよい。図9や図10を用いて説明したように、表示部34は、断面を含む矩形の枠線を表示してもよい。図11を用いて説明したように、CPU30は断面を特定するための2つのピンを表示部34に表示してもよい。これらはユーザーが断面を指定することを手助けするであろう。
Claims (15)
- 顕微鏡において対物レンズと試料との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの前記対物レンズと前記試料との間の距離とを関連付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されている前記複数の画像のうち一つの画像を表示する画像表示手段と、
操作者により操作可能な操作手段と、
前記操作手段の操作に応じて前記複数の画像から前記画像表示手段に表示する画像を特定する特定手段と、
前記特定手段により特定された画像を前記記憶手段から読み出して前記画像表示手段に表示させる表示制御手段と、
前記画像表示手段に前記複数の画像のうちのいずれかの画像が表示されている状態で前記試料のサイズを計測するための複数の計測点を指定する指定手段と、
前記指定手段により指定された複数の計測点に基づき前記サイズを決定する決定手段と
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 前記操作手段の操作量を距離に換算する換算手段をさらに有し、
前記特定手段は、前記換算手段により換算された距離に対応した画像を特定することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。 - 前記操作手段はスライドバーであることを特徴とする請求項1または2に記載の画像処理装置。
- 前記対物レンズの光軸の方向がZ軸方向であり、前記Z軸方向と直交する方向がX軸方向およびY軸方向であり、
前記画像表示手段は、前記複数の画像に基づき、XY断面画像と、YZ断面画像と、XZ断面画像とを表示し、
前記操作手段は、YZ断面画像またはXZ断面画像においてZ軸方向の位置を指定するための操作手段であり、
前記表示制御手段は、前記操作手段により指定された位置に対応した画像を前記記憶手段から読み出して前記XY断面画像として前記画像表示手段に表示させ、
前記指定手段は、前記XY断面画像において前記計測点のXY座標を指定し、前記操作手段により指定された位置を前記計測点のZ座標として指定することを特徴とすることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記決定手段は、前記指定手段により指定された順番に従って前記複数の計測点のうち最初に指定された計測点から最後に指定された計測点までの線分の距離を算出することを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記決定手段は、前記指定手段により指定された順番に従って前記複数の計測点を結んでできる面の面積を算出することを特徴とすることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記決定手段は、前記指定手段により指定された順番に従って前記複数の計測点を結んでできる多面体の体積を算出することを特徴とすることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記決定手段は、前記指定手段により指定された順番に従って前記複数の計測点を結んでできる多面体の表面積を算出することを特徴とすることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 顕微鏡において対物レンズと試料との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの前記対物レンズと前記試料との間の距離とを関連付けて記憶する記憶手段と、
前記複数の画像を重ね合わせて前記試料の3次元画像を作成する3次元画像作成手段と、
前記複数の画像から作成された前記3次元画像を表示する3次元画像表示手段と、
前記3次元画像表示手段に表示されている前記3次元画像において断面を指定する断面指定手段と、
前記複数の画像に基づき前記指定された断面を示す断面画像を作成する断面画像作成手段と、
前記断面画像を表示する断面画像表示手段と、
前記断面画像において前記試料のサイズを計測するための複数の計測点を指定する指定手段と、
前記指定手段により指定された複数の計測点に基づき前記サイズを決定する決定手段と
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 前記断面画像表示手段は、前記断面を含む矩形の枠線を表示することを特徴とする請求項9に記載の画像処理装置。
- 前記断面画像表示手段は、前記断面を特定するための2つのピンを表示することを特徴とする請求項9または10に記載の画像処理装置。
- 顕微鏡と、
請求項1ないし11のいずれか1項に記載の画像処理装置と
を有することを特徴とする顕微鏡システム。 - プログラムであって、コンピュータを請求項1ないし11のいずれか1項に記載の画像処理装置として機能させることを特徴とするプログラム。
- 顕微鏡において対物レンズと試料との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの前記対物レンズと前記試料との間の距離とを関連付けて記憶手段に記憶する記憶工程と、
前記記憶手段に記憶されている前記複数の画像のうち一つの画像を表示手段に表示する画像表示工程と、
操作者により操作可能な操作手段の操作に応じて前記複数の画像から前記表示手段に表示する画像を特定する特定工程と、
前記特定工程において特定された画像を前記記憶手段から読み出して前記表示手段に表示させる表示制御工程と、
前記表示手段に前記複数の画像のうちのいずれかの画像が表示されている状態で前記試料のサイズを計測するための複数の計測点を指定する指定工程と、
前記指定工程において指定された複数の計測点に基づき前記サイズを決定する決定工程と
を有することを特徴とする画像処理方法。 - 顕微鏡において対物レンズと試料との間の距離を変えながら撮像された複数の画像と、各画像を撮像したときの前記対物レンズと前記試料との間の距離とを関連付けて記憶手段に記憶する記憶工程と、
前記複数の画像を重ね合わせて前記試料の3次元画像を作成する3次元画像作成工程と、
前記複数の画像から作成された前記3次元画像を表示手段に表示する3次元画像表示工程と、
前記表示手段に表示されている前記3次元画像において断面を指定する断面指定工程と、
前記複数の画像に基づき前記指定された断面を示す断面画像を作成する断面画像作成工程と、
前記断面画像を前記表示手段に表示する断面画像表示工程と、
前記断面画像において前記試料のサイズを計測するための複数の計測点を指定する指定工程と、
前記指定工程において指定された複数の計測点に基づき前記サイズを決定する決定工程と
を有することを特徴とする画像処理方法。
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