JP2015068707A - 欠陥判定装置、欠陥検査装置、および欠陥判定方法 - Google Patents
欠陥判定装置、欠陥検査装置、および欠陥判定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015068707A JP2015068707A JP2013202480A JP2013202480A JP2015068707A JP 2015068707 A JP2015068707 A JP 2015068707A JP 2013202480 A JP2013202480 A JP 2013202480A JP 2013202480 A JP2013202480 A JP 2013202480A JP 2015068707 A JP2015068707 A JP 2015068707A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polygon
- straight line
- calculation unit
- calculated
- vertex
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
Description
以下、本発明の実施形態1について、図1〜図9を用いて、詳細に説明する。
図2を用いて、欠陥検査装置1の構成を説明する。図2は、欠陥検査装置1の構成を示す概略図である。同図に示すように、欠陥検査装置1は、撮像部10、照明部20、ステージ30、および欠陥判定部40(欠陥判定装置)を備えている。
ここで、図3を用いて、欠陥検査装置1の一変形例に係る欠陥検査装置1aの構成を説明する。図3は、欠陥検査装置1aの構成を示す概略図である。同図に示すように、欠陥検査装置1aは、欠陥検査装置1の構成(図2参照)において、撮像部10および照明部20の代わりに、撮像照明部10aを備えている。撮像照明部10aは、撮像部10と同様に、検査画像を撮像する。また、撮像照明部10aは、同軸落射照明を備えており、検査対象物Qと撮像照明部10aとが並んだ軸に沿って、照明光Lを照射することができる。欠陥検査装置1aは、欠陥検査装置1と比較して、構成部材を一つ削減することによって、構成を簡素化することができるという利点を有する。
次に、図1を用いて、欠陥判定部40の詳細を説明する。図1は、欠陥判定部40の構成を示すブロック図である。同図に示すように、欠陥判定部40は、画像取得部41、エッジ点検出部42、エッジ直線算出部43、第1の多角形算出部44、頂点通過直線算出部45、近接線算出部46、第2の多角形算出部47、検査領域決定部48(欠陥判定領域決定部)、および欠陥検出部49を含んでいる。以下に、欠陥判定部40の各部の詳細を順番に説明する。
画像取得部41は、撮像部10から、該撮像部10が撮影した検査画像を取得する。あるいは、画像取得部41は、検査画像を記憶した画像記憶部(図示せず)から、検査画像を取得してもよい。画像取得部41は、取得した検査画像を、エッジ点検出部42に出力する。
エッジ点検出部42は、画像取得部41より入力された検査画像から、検査対象物Qの外周上の点(エッジ点)を検出する。ここで、検査画像では、検査対象物Qの外周は、隣接する画素との明度の差が基準値以上であるエッジ点からなる直線状の部位であるエッジに対応している。
図4を用いて、エッジ点検出部42によって実行されるエッジ点検出処理の流れを説明する。図4は、検査画像の一例を示す図であり、エッジ点検出処理を説明する図である。同図において、検査画像Xには、被検査対象物に対応する画像領域である対象物領域G1が含まれている。対象物領域G1は、丸みを帯びた4つの角を有する略長方形を有している。
エッジ直線算出部43は、エッジ点検出部42より入力されたエッジ組を用いて、エッジ直線を算出する。ここで、エッジ直線とは、1つのエッジ組に含まれる全てのエッジ点の近傍を通過する直線のことである。具体的には、エッジ直線算出部43は、以下に説明するように、最小二乗法を用いて、各エッジ組から1本のエッジ直線を算出するエッジ直線算出処理を実行する。
第1の多角形算出部44は、エッジ直線算出部43より入力されたエッジ直線によって構成される第1の多角形を算出する。詳細には、第1の多角形算出部44は、上記エッジ直線同士の交点を頂点とし、2つの上記交点の間に挟まれた上記エッジ直線の部分を辺とする第1の多角形を算出する。
頂点通過直線算出部45は、第1の多角形算出部44より入力された第1の多角形の頂点を通り、かつ、該頂点の外角を分割する直線である頂点通過直線を算出する。本実施形態では、頂点通過直線算出部45は、頂点通過直線として、第1の多角形の頂点が為す角の外角を二等分する直線である外角二等分直線を算出する。頂点通過直線算出部45は、算出した頂点通過直線を、近接線算出部46に出力する。
a・x+b・y+c=0,a´・x+b´・y+c´=0
とする。
近接線算出部46は、頂点通過直線算出部45より入力された外角二等分直線(頂点通過直線)に平行で、かつ、外角二等分直線よりも対象物領域に近接した直線である近接線を算出する。ここで、近接線は、以下のようにして算出することができる。
第2の多角形算出部47は、第1の多角形算出部44より入力された第1の多角形を構成するエッジ直線と、近接線算出部46より入力された近接線とによって構成される多角形である第2の多角形を算出する。具体的には、第2の多角形とは、近接線算出部46より入力された近接線同士の交点を頂点とし、2つの上記交点の間の上記近接線の部分を辺とする多角形で囲まれた第1の領域と、第1の多角形算出部44により算出された第1の多角形で囲まれた第2の領域との共通部分として抽出される第3の領域の形状である。
検査領域決定部48は、第2の多角形算出部47より入力された第2の多角形に基づいて、欠陥検出部49に出力するための検査領域(本発明の欠陥判定領域)を決定する。
欠陥検出部49は、被検査対象物に対応する画像領域の代わりに、検査領域決定部48より入力された検査領域を用いることによって、被検査対象物に存在する欠陥を検出する。より具体的には、欠陥検出部49は、まず、検査領域において、予め設定された画像処理を行う。そして、検査領域に対する画像処理の結果に基づき、被検査対象物が欠陥を有するか否かを判定する。
図8を用いて、欠陥判定部40が検査領域を決定する検査領域決定方法の流れを説明する。図8は、検査領域決定方法の流れを示すフローチャートである。
図9を用いて、上述した検査領域決定方法における段階的多角形算出処理αの詳細な流れを説明する。図9は、段階的多角形算出処理αの流れを示すフローチャートである。段階的多角形算出処理αは、頂点通過直線算出部45、近接線算出部46、および第2の多角形算出部47によって実行される。
本発明の他の実施形態について、図10の(a)、(b)および図11に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
図10を用いて、段階的多角形算出処理βの流れを説明する。図11は、段階的多角形算出処理βの流れを示すフローチャートである。段階的多角形算出処理βは、頂点通過直線算出部45、近接線算出部46、および第2の多角形算出部47によって実行される。なお、以下の説明において、nは変数である。また、段階的多角形算出処理βの開始時点で、n=1である。
上では、繰り返し回数Nが一般的な値である場合の段階的多角形算出処理βを説明した。ここでは、図11の(a)および(b)を用いて、繰り返し回数がN=2回である場合における段階的多角形算出処理を説明する。図11の(a)および(b)は、検査画像の一例を示す図であり、(a)は1回目の一連の処理(S2510〜S2540)において算出される第1の近接線を示す図であり、(b)は2回目の一連の処理において算出される第2の近接線を示す図である。
欠陥検査装置1の制御ブロック(特に欠陥判定部40の各部)は、集積回路(ICチップ)等に形成された論理回路(ハードウェア)によって実現してもよいし、CPU(Central Processing Unit)を用いてソフトウェアによって実現してもよい。
本発明の態様1に係る欠陥判定装置(欠陥判定部40)は、被検査対象物を撮影した検査画像に基づいて、上記被検査対象物に欠陥が存在するか否かを判定する欠陥判定装置であって、上記検査画像において、上記被検査対象物に対応する画像領域の外周の少なくとも一部と重なる直線であるエッジ直線を、3本以上算出するエッジ直線算出部(43)と、上記エッジ直線算出部により算出された複数のエッジ直線の全てによって囲まれた領域を規定する多角形を第1の多角形として算出する第1の多角形算出部(44)と、上記第1の多角形算出部により算出された上記第1の多角形の頂点を通り、かつ、該頂点の外角を分割する直線である頂点通過直線を算出する頂点通過直線算出部(45)と、上記頂点通過直線算出部により算出された上記頂点通過直線に平行で、かつ、上記頂点通過直線よりも上記画像領域に近接した直線である近接線を、上記第1の多角形の頂点ごとに算出する近接線算出部(46)と、上記近接線算出部により算出された複数の上記近接線の全てによって囲まれた領域を規定する多角形と、上記第1の多角形算出部により算出された上記第1の多角形との共通部分として抽出される第2の多角形を算出する第2の多角形算出部(47)と、上記第2の多角形算出部により算出された上記第2の多角形に基づいて、上記検査画像内において、上記被検査対象物に欠陥が存在するか否かの判定を行う対象とする画像領域である欠陥判定領域を決定する欠陥判定領域決定部(検査領域決定部48)と、を備えている。
(1)被検査対象物に対応する画像領域のエッジと重なるエッジ直線によって囲まれる第1の多角形が算出され、
(2)第1の多角形の頂点を通り、かつ、該頂点の外角を分割する直線(頂点通過直線)よりも上記画像領域に近接した近接線が取得され、
(3)近接線の全てによって囲まれる領域と、第1の多角形との共通部分として、第2の多角形が抽出される。
(4)そして、このようにして算出された第2の多角形に基づいて、欠陥判定領域が決定される。
10 撮像部
40 欠陥判定部(欠陥判定装置)
42 エッジ点検出部
43 エッジ直線算出部
44 第1の多角形算出部
45 頂点通過直線算出部
46 近接線算出部
47 第2の多角形算出部
48 検査領域決定部(欠陥判定領域決定部)
49 欠陥検出部
Claims (6)
- 被検査対象物を撮影した検査画像に基づいて、上記被検査対象物に欠陥が存在するか否かを判定する欠陥判定装置であって、
上記検査画像において、上記被検査対象物に対応する画像領域の外周の少なくとも一部と重なる直線であるエッジ直線を、3本以上算出するエッジ直線算出部と、
上記エッジ直線算出部により算出された複数のエッジ直線の全てによって囲まれた領域を規定する多角形を第1の多角形として算出する第1の多角形算出部と、
上記第1の多角形算出部により算出された上記第1の多角形の頂点を通り、かつ、該頂点の外角を分割する直線である頂点通過直線を算出する頂点通過直線算出部と、
上記頂点通過直線算出部により算出された上記頂点通過直線に平行で、かつ、上記頂点通過直線よりも上記画像領域に近接した直線である近接線を、上記第1の多角形の頂点ごとに算出する近接線算出部と、
上記近接線算出部により算出された複数の上記近接線の全てによって囲まれた領域を規定する多角形と、上記第1の多角形算出部により算出された上記第1の多角形との共通部分として抽出される第2の多角形を算出する第2の多角形算出部と、
上記第2の多角形算出部により算出された上記第2の多角形に基づいて、上記検査画像内において、上記被検査対象物に欠陥が存在するか否かの判定を行う対象とする画像領域である欠陥判定領域を決定する欠陥判定領域決定部と、
を備えたことを特徴とする欠陥判定装置。 - 上記頂点通過直線算出部は、上記第2の多角形算出部により算出された上記第2の多角形について、上記第1の多角形についての上記頂点通過直線に対応する直線である第2の頂点通過直線を算出し、
上記近接線算出部は、上記第2の頂点通過直線に平行で、かつ、上記第2の頂点通過直線よりも上記画像領域に近接した直線である第2の近接線を取得し、
上記第2の多角形算出部は、(i)上記近接線算出部により取得された上記第2の近接線の全てによって囲まれた領域を規定する多角形と、(ii)上記第2の多角形算出部により算出された上記第2の多角形と、の共通部分として抽出される第3の多角形を算出し、
上記欠陥判定領域決定部は、上記第2の多角形算出部により算出された上記第3の多角形に基づいて、上記欠陥判定領域を決定する
ことを特徴とする請求項1に記載の欠陥判定装置。 - 上記頂点通過直線算出部は、上記第2の多角形算出部により算出された第n(n=2〜N;Nは2以上の整数)の多角形について、上記第1の多角形についての上記頂点通過直線に対応する直線である第nの頂点通過直線を算出し、
上記近接線算出部は、上記第nの頂点通過直線を上記画像領域に近接する方向に平行移動させることによって得られる直線である第nの近接線を算出し、
上記第2の多角形算出部は、(i)上記近接線算出部により取得された上記第Nの近接線の全てによって囲まれた領域を規定する多角形と、(ii)上記第2の多角形算出部により算出された上記第nの多角形と、の共通部分として抽出される第n+1の多角形を算出し、
上記欠陥判定領域決定部は、上記第2の多角形算出部により算出された上記第n+1の多角形に基づいて、上記欠陥判定領域を設定する
ことを特徴とする請求項1または2に記載の欠陥判定装置。 - 上記近接線算出部は、(i)上記頂点通過直線を平行移動させた直線である平行移動直線上における画素の明度を取得し、(ii)取得した上記平行移動直線上における画素の明度に基づいて、上記頂点通過直線に平行で、かつ、上記画像領域に接する直線を、上記近接線として算出する
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の欠陥判定装置。 - 請求項1〜4のいずれか1項に記載の欠陥判定装置と、
上記被検査対象物を撮影して上記検査画像を生成する撮像部と、を備え、
上記欠陥判定装置は、上記欠陥判定領域決定部により決定された上記欠陥判定領域において、上記被検査対象物に存在する欠陥を検出する欠陥検出部をさらに備えた
ことを特徴とする欠陥検査装置。 - 被検査対象物を撮影した検査画像に基づいて、上記被検査対象物に欠陥が存在するか否かを判定する欠陥判定装置による欠陥判定方法であって、
上記検査画像において、上記被検査対象物に対応する画像領域の外周の少なくとも一部と重なる直線であるエッジ直線を、3本以上算出するエッジ直線算出ステップと、
上記エッジ直線算出ステップにおいて算出された複数のエッジ直線の全てによって囲まれた領域を規定する多角形を第1の多角形として算出する第1の多角形算出ステップと、
上記第1の多角形算出ステップにおいて算出された上記第1の多角形の頂点を通り、かつ、該頂点の外角を分割する直線である頂点通過直線を算出する頂点通過直線算出ステップと、
上記頂点通過直線算出ステップにおいて算出された上記頂点通過直線に平行で、かつ、上記頂点通過直線よりも上記画像領域に近接した直線である近接線を、上記第1の多角形の頂点ごとに算出する近接線算出ステップと、
上記近接線算出ステップにおいて算出された複数の上記近接線の全てによって囲まれた領域を規定する多角形と、上記第1の多角形算出ステップにおいて算出された上記第1の多角形との共通部分として抽出される第2の多角形を算出する第2の多角形算出ステップと、
上記第2の多角形算出ステップにおいて算出された上記第2の多角形に基づいて、上記検査画像内において、上記被検査対象物に欠陥が存在するか否かの判定を行う対象とする画像領域である欠陥判定領域を決定する欠陥判定領域決定ステップと、
を含むことを特徴とする欠陥判定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013202480A JP6114154B2 (ja) | 2013-09-27 | 2013-09-27 | 欠陥判定装置、欠陥検査装置、および欠陥判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013202480A JP6114154B2 (ja) | 2013-09-27 | 2013-09-27 | 欠陥判定装置、欠陥検査装置、および欠陥判定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015068707A true JP2015068707A (ja) | 2015-04-13 |
JP6114154B2 JP6114154B2 (ja) | 2017-04-12 |
Family
ID=52835517
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013202480A Active JP6114154B2 (ja) | 2013-09-27 | 2013-09-27 | 欠陥判定装置、欠陥検査装置、および欠陥判定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6114154B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019132720A (ja) * | 2018-01-31 | 2019-08-08 | 日本特殊陶業株式会社 | 外観検査装置及び外観検査方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07260701A (ja) * | 1994-03-23 | 1995-10-13 | Sekisui Chem Co Ltd | 検査範囲認識方法 |
JP2002350127A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-04 | Seiko Instruments Inc | ディスプレイ顕微鏡画像を用いたパターン測定方法及び測定システム |
JP2007058634A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Ricoh Co Ltd | 画像処理方法及び装置、デジタルカメラ装置、並びに画像処理プログラムを記録した記録媒体 |
JP2009047446A (ja) * | 2007-08-14 | 2009-03-05 | Omron Corp | 画像検査装置、画像検査方法、コンピュータを画像検査装置として機能させるためのプログラム、およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2011034387A (ja) * | 2009-08-03 | 2011-02-17 | Sharp Corp | 画像出力装置、携帯端末装置、撮像画像処理システム、画像出力方法、プログラムおよび記録媒体 |
-
2013
- 2013-09-27 JP JP2013202480A patent/JP6114154B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07260701A (ja) * | 1994-03-23 | 1995-10-13 | Sekisui Chem Co Ltd | 検査範囲認識方法 |
JP2002350127A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-04 | Seiko Instruments Inc | ディスプレイ顕微鏡画像を用いたパターン測定方法及び測定システム |
JP2007058634A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Ricoh Co Ltd | 画像処理方法及び装置、デジタルカメラ装置、並びに画像処理プログラムを記録した記録媒体 |
JP2009047446A (ja) * | 2007-08-14 | 2009-03-05 | Omron Corp | 画像検査装置、画像検査方法、コンピュータを画像検査装置として機能させるためのプログラム、およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2011034387A (ja) * | 2009-08-03 | 2011-02-17 | Sharp Corp | 画像出力装置、携帯端末装置、撮像画像処理システム、画像出力方法、プログラムおよび記録媒体 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019132720A (ja) * | 2018-01-31 | 2019-08-08 | 日本特殊陶業株式会社 | 外観検査装置及び外観検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6114154B2 (ja) | 2017-04-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5568277B2 (ja) | パターンマッチング方法、及びパターンマッチング装置 | |
US9865046B2 (en) | Defect inspection method and defect inspection device | |
JP6043662B2 (ja) | 検査方法および検査装置 | |
US9171364B2 (en) | Wafer inspection using free-form care areas | |
JP6472447B2 (ja) | フォトマスク欠陥性における変化の監視 | |
TWI734720B (zh) | 檢查晶圓之系統及方法 | |
JP2014190821A (ja) | 欠陥検出装置および欠陥検出方法 | |
JP2016145887A (ja) | 検査装置および検査方法 | |
US20070172111A1 (en) | Inspection apparatus of object to be inspected | |
JP2008051617A (ja) | 画像検査装置、その方法、及びその記録媒体 | |
TW201721483A (zh) | 用於半導體遮罩檢測之基於多邊形之幾何分類 | |
JP4910128B2 (ja) | 対象物表面の欠陥検査方法 | |
KR101889833B1 (ko) | 패턴 측정 장치 및 컴퓨터 프로그램 | |
CN109752390B (zh) | 用于检测光掩模和裸片中的缺陷的检查设备及检查方法 | |
TW202024619A (zh) | 在一晶圓上偵測一邏輯區域中之缺陷 | |
JP2007298376A (ja) | 境界の位置決定装置、境界の位置を決定する方法、当該装置としてコンピュータを機能させるためのプログラム、および記録媒体 | |
JP6114154B2 (ja) | 欠陥判定装置、欠陥検査装置、および欠陥判定方法 | |
JP6647903B2 (ja) | 画像検査装置、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 | |
JP4629086B2 (ja) | 画像欠陥検査方法および画像欠陥検査装置 | |
KR102264682B1 (ko) | 검사를 위한 장치, 방법 및 명령을 기록한 기록 매체 | |
JP4967132B2 (ja) | 対象物表面の欠陥検査方法 | |
JP3803677B2 (ja) | 欠陥分類装置及び欠陥分類方法 | |
TW201839519A (zh) | 檢查方法 | |
JP2009145161A (ja) | 欠陥検出方法および欠陥検出装置 | |
JP2019158711A (ja) | 画像処理システム、画像処理装置、画像処理プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160401 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170215 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170301 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170314 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170316 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6114154 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |