JP2015053402A - 半導体装置とその製造方法、及び、半導体装置を搭載したアプリケーションボード - Google Patents
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Abstract
【課題】モールド樹脂が空気中の水分を吸収し、半導体素子の劣化を避けることができる半導体装置を提供する。【解決手段】アイランド部28と、アイランド部28から隔てられた端子部281,282とを有するリードフレーム11と、アイランド部28に搭載され、且つ、電極を有する半導体チップ12と、半導体チップ12上に形成され、且つ、電極121の少なくとも一部を露出する開口部16を持つ絶縁膜15と、開口部16によって露出された電極121を覆い、且つ、電極121と端子部281,282とを電気的に接続する板状コネクタ13とを有する。【選択図】図1
Description
本発明の実施形態は、半導体装置とその製造方法、及び、半導体装置を搭載したアプリケーションボードに関する。
半導体装置においては、半導体チップはモールド樹脂で封止されている。半導体装置を空気に触れる状態で長期保存した場合には、モールド樹脂が空気中の水分を吸収し、この水分により半導体チップ上の半導体素子が劣化するおそれがある。
半導体素子の劣化を避けることができる半導体装置を提供する。
本実施形態によれば、半導体装置は、アイランド部と、前記アイランド部から隔てられた端子部とを有するリードフレームと、前記アイランド部に搭載され、且つ、電極を有する半導体チップと、前記半導体チップ上に形成され、且つ、前記電極の少なくとも一部を露出する開口部を持つ絶縁膜と、前記開口部によって露出された前記電極を覆い、且つ、前記電極と前記端子部とを電気的に接続する板状コネクタと、を有する。
以下、図面を参照して、実施形態を説明する。ただし、本発明はこの実施形態に限定されない。なお、全図面にわたり共通する部分には、共通する符号を付し、重複する説明は省略する。また、図面は発明の説明とその理解を促すための模式図であり、その形状や寸法、比などは実際の装置とは異なる個所もあるが、これらは以下の説明と公知の技術を参酌して適宜、設計変更することができる。以下の実施形態において、半導体チップの上下方向は、半導体素子が設けられる面を上とした場合の相対方向を示し、重力加速度に従った上下方向と異なる場合がある。
(第1の実施形態)
図1(a)は、半導体装置10の上面図を示し、図1(b)は、半導体装置10の第1の板状コネクタ13側の側面図を示す。
図1(a)は、半導体装置10の上面図を示し、図1(b)は、半導体装置10の第1の板状コネクタ13側の側面図を示す。
半導体装置10は、リードフレーム11、半導体チップ12、絶縁膜15、第1の板状コネクタ13及び第2の板状コネクタ14を備える。
リードフレーム11は、アイランド部28と、アイランド部28から隔てられた第1の端子部281及び第2の端子部282とを備える。リードフレーム11は、導電体からなり、例えば、低抵抗な金属を用いて形成される。アイランド部28は、半導体チップ12を搭載する搭載部である。第1の端子部281及び第2の端子部282は、半導体チップ12の第1の電極121及び第2の電極122と電気的に接続される部分である。
半導体チップ12は、アイランド部28に搭載され、且つ、第1の電極121及び第2の電極122を備える。半導体チップ12の種類は任意で良く、特に限定されるものではない。絶縁膜15は、半導体チップ12上に形成され、且つ、開口部16を備える。絶縁膜15は、例えば、ポリイミド等の絶縁膜を用いて形成されている。第1の実施形態においては、開口部16は、第1の電極121及び第2の電極122に対応する形状及び大きさを有し、第1の電極121及び第2の電極122の全体を露出する。
第1の板状コネクタ13は、折れ曲がった帯状の金属板である。第1の板状コネクタ13は、開口部16と同様に、第1の電極121に対応する形状及び大きさを有する。従って、第1の板状コネクタ13の一方の端は、開口部16により露出された第1の電極121のほぼ全体を覆っている。第1の板状コネクタ13の他方の端は、リードフレーム11の第1の端子部281に接している。このように、第1の板状コネクタ13は、第1の電極121と第1の端子部281との間を電気的に接続する。さらに、第1の板状コネクタ13は、開口部16と同様に、第1の電極121に対応する形状及び大きさを有しているため、第1の電極121の全体を覆うことができる。これにより、第1の板状コネクタ13と第1の電極121との接触面積を広くすることができ、第1の板状コネクタ13と第1の電極121との間の接触抵抗を低くすることができる。
第1の板状コネクタ13と同様に、第2の板状コネクタ14も、折れ曲がった帯状の金属板である。第2の板状コネクタ14は、開口部16と同様に、第2の電極122に対応する形状及び大きさを有する。従って、第2の板状コネクタ14の一方の端は、開口部16により露出された第2の電極122のほぼ全体を覆っている。第2の板状コネクタ14の他方の端は、リードフレーム11の第2の端子部282に接している。このように、第2の板状コネクタ14は、第2の電極122と第2の端子部282との間を電気的に接続する。さらに、第2の板状コネクタ14は、開口部16と同様に、第2の電極122に対応する形状及び大きさを有しているため、第2の電極122の全体を覆うことができる。これにより、第2の板状コネクタ14と第2の電極122との接触面積を広くすることができ、第2の板状コネクタ14と第2の電極122との間の接触抵抗を低くすることができる。
ここで、半導体装置10の半導体チップ12、第1及び第2の板状コネクタ13、14等は、モールド樹脂によって封止されていない。半導体チップの電極とリードフレームの端子部との間を糸状構造のワイヤによって電気的に接続した場合、半導体装置の外部から力を印加すると、糸状構造のワイヤは容易に変形する。ワイヤの変形は、他のワイヤとの短絡や切断を導くものである。従って、半導体装置においては、ワイヤが変形することを避けるために、モールド樹脂によりワイヤを固定する必要がある。さらに、モールド樹脂は、半導体チップの表面を覆うことにより、半導体チップを汚染から保護する機能を併せ持っている。
しかしながら、上述の通り、モールド樹脂は吸湿性を持つため、空気中の水分を吸収する。そのため、水分によって半導体チップ上の半導体素子が劣化するおそれがある。
そこで、第1の実施形態による半導体装置10は、ワイヤの代わりに、第1及び第2の板状コネクタ13、14を備える。第1及び第2の板状コネクタ13、14は、板状構造の金属板であり、糸状構造のワイヤに比べて機械的強度が高い。従って、第1及び第2の板状コネクタ13、14は、外部からの力で変形し難い。そのため、第1及び第2の板状コネクタ13、14を、モールド樹脂によって固定する必要はない。
さらに、半導体装置10においては、第1及び第2の電極121、122は、第1及び第2の板状コネクタ13、14により覆われ、第1及び第2の電極121、122以外の半導体チップ12の表面は、絶縁膜15により覆われている。これにより、第1及び第2の電極121、122を含む半導体チップ12の表面は、絶縁膜15と第1及び第2の板状コネクタ13、14とにより保護され得る。従って、半導体装置10においては、半導体チップ12の表面を保護するためのモールド樹脂を設ける必要がない。
以上により、第1の実施形態の半導体装置10は、モールド樹脂によって封止される必要がない。従って、半導体装置10は、吸湿性を持つモールド樹脂を含んでいないため、水分に起因する半導体素子の劣化を抑制することができる。
また、第1及び第2の板状コネクタ13、14は、ワイヤに比べて断面積が広いため、導電性が良好である。従って、第1及び第2の板状コネクタ13、14を用いることにより、第1及び第2の電極121、122と、第1及び第2の端子部281、282とを低抵抗で電気的に接続することができる。
(半導体装置の製造方法)
図2は、半導体装置10の製造方法のフローチャートを示す。
図2は、半導体装置10の製造方法のフローチャートを示す。
ステップS1において、金属板をプレス、エッチング及び切断することにより、第1及び第2の板状コネクタ13、14を形成する。この際、第1及び第2の板状コネクタ13、14は、第1及び第2の電極121、122の形状、大きさに対応するように形成される。これにより、半導体チップ12の第1及び第2の電極121、122の上に第1及び第2の板状コネクタ13、14をそれぞれ接続した際、第1及び第2の板状コネクタ13、14が第1及び第2の電極121、122の全体を覆うことができる。
ステップS2において、半導体チップ12上に、絶縁膜15を形成する。さらに、絶縁膜15に、半導体チップ12上の第1及び第2の電極121及び122の全体を露出する開口部16を形成する。
ステップS3において、導電性接着剤を用いて、半導体チップ12をリードフレーム11のアイランド部28に搭載する。
ステップS4において、導電性接着剤を用いて、第1の板状コネクタ13を、開口部16によって露出された第1の電極121の上と第1の端子部281の上とに固定する。同様に、第2の板状コネクタ14を、開口部16によって露出された第2の電極122の上と第2の端子部282の上とに固定する。
ステップS5において、リードフレーム11により繋がった複数の半導体装置10を切り離す(個片化する)。
これにより、第1の実施形態の半導体装置10が完成する。この製造方法によれば、モールド樹脂による封止を行わないため、製造工程及び製造コストを削減することができる。
(アプリケーションボード)
図3(a)及び図3(b)は、第1の実施形態の半導体装置10を備えるアプリケーションボード40の例をそれぞれ示す。
図3(a)及び図3(b)は、第1の実施形態の半導体装置10を備えるアプリケーションボード40の例をそれぞれ示す。
図3(a)に示すように、アプリケーションボード40は、基板41と、半導体装置10と、複数の電子部品42とを備える。基板41は、例えばプリント基板でよい。電子部品42は、プリント基板41上の配線パターンを介して半導体装置10と電気的に接続されている。さらに、プリント基板41、半導体装置10及び複数の電子部品42を一体的にモールド樹脂47で封止して、図3(b)に示すようなアプリケーションボード50としても良い。
第1の実施形態によれば、半導体装置10は、機械的強度の高い第1及び第2の板状コネクタ13、14を用いているため、モールド樹脂によって封止しなくとも、短絡及び切断の不具合を避けることができる。さらに、第1の実施形態によれば、第1及び第2の電極121、122は、第1及び第2の板状コネクタ13、14により覆われ、第1及び第2の電極121、122以外の半導体チップ12の表面は、絶縁膜15により覆われている。そのため、モールド樹脂によって封止しなくとも、第1及び第2の電極121、122を含む半導体チップ12の表面を保護することができる。
以上により、第1の実施形態によれば、半導体装置10はモールド樹脂による封止を必要としない。従って、半導体装置10は、吸湿性を持つモールド樹脂を含んでいないため、水分に起因する半導体素子の劣化を抑制することができる。
さらに、第1の実施形態によれば、モールド樹脂による封止を行わないため、製造工程及び製造コストを削減することができる。
また、第1の実施形態によれば、ワイヤに比べて導電性が良好な第1及び第2の板状コネクタ13、14を用いることにより、第1及び第2の電極121、122と、第1及び第2の端子部281、282とを低抵抗で電気的に接続することができる。
(第2の実施形態)
図4(a)は、第2の実施形態による半導体装置20の上面図を示し、図4(b)は、第2の実施形態による半導体装置20の第1の板状コネクタ23側の側面図を示す。
図4(a)は、第2の実施形態による半導体装置20の上面図を示し、図4(b)は、第2の実施形態による半導体装置20の第1の板状コネクタ23側の側面図を示す。
第2の実施形態は、第1の板状コネクタ23の形状において第1の実施形態と異なる。第2の実施形態のその他の構成は、第1の実施形態の対応する構成と同様でよい。第1の電極121と接続される第1の板状コネクタ23の接続部は、第1の電極131の形状及び大きさではなく、絶縁膜15の開口部16の形状及び大きさに対応するように形成されている。そのため、開口部16により第1の電極121が部分的に露出されている場合、第1の板状コネクタ23は、第1の電極121を全体的ではなく部分的に覆う。すなわち、第1の電極121は、第1の板状コネクタ23及び絶縁膜15の両方により全体的に覆われている。図4(a)においては、絶縁膜15で覆われている第1の電極121の部分は破線で示されている。
また、逆に、絶縁膜15の開口部16についても、第1の電極121ではなく、第1の板状コネクタ23の形状及び大きさに対応するように形成されている。
第1の電極121は、製品ごとにその形状及び大きさが異なることがある。従って、第1の電極121の全体を覆うために、第1の板状コネクタ13を各製品の第1の電極121の形状及び大きさに対応させようとする場合、第1の板状コネクタ13は、製品ごとに専用のコネクタとして製造する必要がある。
それに対して、第2の実施形態によれば、第1の電極121の全体を第1の板状コネクタ23及び絶縁膜15の両方で覆っている。すなわち、第1の板状コネクタ23が第1の電極121の一部を覆い、絶縁膜15が第1の電極121の残りの部分を覆っている。そのため、第1の板状コネクタ23の形状及び大きさは、開口部16の形状及び大きさに対応させる必要があるものの、第1の電極121の形状及び大きさに対応させる必要はない。よって、第1の板状コネクタ23の形状及び大きさは、異なる製品に対して等しくすることができる。従って、第1の板状コネクタ23は、専用コネクタとしてではなく、多くの製品に用いることができる汎用コネクタとして大量に製造することができ、その製造コストを減らすことができる。なお、第2の板状コネクタ14についても、第1の板状コネクタと同様に、第2の電極122を部分的に覆う汎用コネクタにすることができる。
さらに、第2の実施形態によれば、第1の実施形態と同様に、モールド樹脂による封止が必要ないことから、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。なお、第2の実施形態においては、第1及び第2の電極121、122を含む半導体チップ12の表面全体は、絶縁膜15、第1及び第2の板状コネクタ23、14により覆われている。従って、モールド樹脂によって封止しなくとも、第1及び第2の電極121、122を含む半導体チップ12の表面は保護され得る。
本発明の実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、組み合わせを行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
10、20 半導体装置
11 リードフレーム
12 半導体チップ
13、14、23 板状コネクタ
15 絶縁膜
16 開口部
28 アイランド部
40、50 アプリケーションボード
41 プリント基板
42 電子部品
47 モールド樹脂
121、122 電極
281、282 端子部
11 リードフレーム
12 半導体チップ
13、14、23 板状コネクタ
15 絶縁膜
16 開口部
28 アイランド部
40、50 アプリケーションボード
41 プリント基板
42 電子部品
47 モールド樹脂
121、122 電極
281、282 端子部
Claims (5)
- アイランド部と、前記アイランド部から隔てられた端子部とを有するリードフレームと、
前記アイランド部に搭載され、且つ、電極を有する半導体チップと、
前記半導体チップ上に形成され、且つ、前記電極の少なくとも一部を露出する開口部を持つ絶縁膜と、
前記開口部によって露出された前記電極を覆い、且つ、前記電極と前記端子部とを電気的に接続する板状コネクタと、
を備えることを特徴とする半導体装置。 - 前記開口部及び前記板状コネクタは、前記電極に対応した形状及び大きさを持つ、ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- アイランド部と、前記アイランド部から隔てられた端子部とを有するリードフレームを準備し、
前記アイランド部に、電極を有する半導体チップを搭載し、
前記電極の少なくとも一部を露出する開口部を持つ絶縁膜を、前記半導体チップ上に形成し、
前記開口部によって露出された前記電極を覆うように、前記電極と前記端子部とを電気的に接続する板状コネクタを設ける、
ことを特徴する半導体装置の製造方法。 - 半導体装置及び電子部品が搭載されたアプリケーションボードであって、
前記半導体装置は、
アイランド部と、前記アイランド部から隔てられた端子部とを有するリードフレームと、
前記アイランド部に搭載され、且つ、電極を有する半導体チップと、
前記半導体チップ上に形成され、且つ、前記電極の少なくとも一部を露出する開口部を持つ絶縁膜と、
前記開口部によって露出された前記電極を覆い、且つ、前記電極と前記端子部とを電気的に接続する板状コネクタと、
を備える、ことを特徴とするアプリケーションボード。 - 前記半導体装置と前記電子部品とを一体的に封止するモールド樹脂をさらに備える、請求項4に記載のアプリケーションボード。
Priority Applications (3)
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JP2013185616A JP2015053402A (ja) | 2013-09-06 | 2013-09-06 | 半導体装置とその製造方法、及び、半導体装置を搭載したアプリケーションボード |
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US14/199,515 US20150069592A1 (en) | 2013-09-06 | 2014-03-06 | Semiconductor device, method of manufacturing same, and application board mounted with same |
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Family Applications (1)
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JP2013185616A Pending JP2015053402A (ja) | 2013-09-06 | 2013-09-06 | 半導体装置とその製造方法、及び、半導体装置を搭載したアプリケーションボード |
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- 2013-09-06 JP JP2013185616A patent/JP2015053402A/ja active Pending
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2014
- 2014-02-28 CN CN201420091111.3U patent/CN204011406U/zh not_active Expired - Fee Related
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