JP2015052477A - バッテリ制御装置、バッテリ充電容量診断方法およびバッテリ充電容量診断プログラム - Google Patents

バッテリ制御装置、バッテリ充電容量診断方法およびバッテリ充電容量診断プログラム Download PDF

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Abstract

【課題】再起動時の充電容量診断の診断精度を向上させる。
【解決手段】BBU1は、バッテリ12と、電源が切断された電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶する不揮発記憶部16と、電源が再起動された際、不揮発記憶部16に記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態での前記バッテリ12の温度およびバッテリ12の劣化度に基づいて、再起動時のバッテリ12の充電容量を診断するMCU17と、を備える。
【選択図】図2

Description

本発明は、バッテリ制御装置などに関する。
RAID(Redundant Array of Inexpensive Disks)装置では、外部電源の停電が発生した場合、キャッシュメモリ上のデータを喪失しないように、バックアップ用のバッテリ電源を利用してキャッシュメモリからディスクドライブに書き戻す。
しかし、停電発生時にバッテリ電源の充電容量が不足していると、RAID装置は、キャッシュメモリ上のデータのバックアップに失敗し、データ消失を招く。これを防止するために、RAID装置を制御するRAIDコントローラは、常時、監視機構経由でバッテリ電源の充電容量を監視し、キャッシュメモリ上のデータを全て書き戻すために必要な充電容量が確保されているか否かを判定する。
バッテリ電源の充電容量がキャッシュメモリのバックアップに必要な容量以上ある場合、RAID装置は、ライトバック(Write Back)モードで動作する。ライトバックモードとは、RAID装置がホストからWriteコマンドを受信した場合、受信データがキャッシュメモリ上に到達した時点で、ホストに対してWriteコマンドの完了を報告する動作モードである。一方、バッテリ電源の充電容量がキャッシュメモリのバックアップに必要な容量以上ない場合、RAID装置は、ライトスルー(Write Through)モードで動作する。ライトスルーモードとは、受信データがキャッシュメモリからディスクドライブに書き戻されるまで、ホストに対してWriteコマンドの完了を報告しない動作モードである。このため、RAID装置がライトスルーモードで動作すると、Writeコマンドのホストに対する完了応答の性能が著しく低下する。
バッテリ電源は、何らかの原因で放電され、バックアップに必要な容量未満となると、RAID装置は、ライトスルーモードに移行し、性能低下が発生する。この後、再びバッテリ電源は、充電され、バックアップに必要な容量を満たせば、RAID装置は、ライトバックモードに戻る。したがって、バッテリ電源の容量を正確に把握できれば、RAID装置の性能を向上させる。
バッテリ電源が放電される原因には、停電によるバックアップが実行された場合と、RAID装置の電源切断などによりバッテリの充電が停止する際の自己放電の場合がある。停電によるバックアップが実行された場合、監視機構がバッテリ電源の放電電力と放電時間を監視できるので、放電容量が容易に特定でき、RAID装置は、放電後の充電容量を把握できる。一方、自己放電の場合、電源切断時には監視機構も休止するため、RAID装置は、自己放電後の充電容量を把握できない。
そこで、従来では、例えば、システム起動時のバッテリ電圧から求めた充電率初期値と、前回起動終了時に記憶させておいた充電率初期値などとを、バッテリ停止時間に基づいて選択し、システム起動時の充電容量を把握する技術が開示されている(例えば、特許文献1〜4を参照)。
特開2008−145349号公報 特開2009−139184号公報 特開2001−56362号公報 特開平7−160433号公報
しかしながら、再起動時の充電容量診断の診断精度が悪いという問題がある。例えば、システム起動時のバッテリ電圧が同値であっても、電源切断前のバッテリ充電状態や電源切断時の状態(時間、温度)などにより実際の充電容量は異なるものである。ところが、再起動時の充電容量診断は、システム起動時のバッテリ電圧に対して最も厳しい条件を当てはめた場合の充電容量を算出する。これは、RAID装置が、停電時に、データのバックアップに失敗し、データ消失を招くことを回避するためである。したがって、再起動時の充電容量診断によって算出された充電容量と実際の充電容量に、乖離が発生することになる。すなわち、再起動時の充電容量診断では、診断精度が悪いことになる。
かかる問題を、図7を参照して説明する。図7は、再起動時の充電容量について説明する図である。ここでは、バッテリ電源は、電源切断時に100%の充電容量であったとする。図7に示すように、バッテリ電源は、電源切断により放電される。ところが、電源が投入され、バッテリ電源が再起動された時に、実際の充電容量が60%(C2)であったとしても、充電容量診断は、システム起動時のバッテリ電圧に対して最も厳しい条件を当てはめるので、20%(C1)を算出する。この結果、再起動時から、引き続き行われる充電容量診断によってC2の充電容量に到達されるまでの期間、時間を要してしまう。仮に充電容量C2がライトバックモード可能な境界であるとすると、RAID装置は、この期間ライトスルーモードで稼動することとなり、性能劣化を招いてしまう。
なお、上記課題は、RAID装置だけでなく、バッテリ電源全般に同様に生じる課題である。
1つの側面では、本発明は、再起動時の充電容量診断の診断精度を向上させることを目的とする。
本願の開示するバッテリ制御装置は、1つの態様において、バッテリと、電源が切断された電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶する記憶部と、電源が再起動された際、前記記憶部に記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態での前記バッテリの温度および前記バッテリの劣化度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を診断する診断部と、を備える。
本願の開示するバッテリ制御装置の1つの態様によれば、再起動時の充電容量診断の診断精度を向上させる。
図1は、実施例1に係るRAID装置のハードウェア構成を示す図である。 図2は、実施例1に係るBBUのハードウェア構成を示す図である。 図3は、バッテリ自己放電曲線の一例を示す図である。 図4は、再起動時における充電容量診断処理のフローチャートを示す図である。 図5は、実施例2に係るRAID装置のハードウェア構成を示す図である。 図6は、実施例2に係るBBUのハードウェア構成を示す図である。 図7は、再起動時の充電容量について説明する図である。
以下に、本願の開示するバッテリ制御装置、バッテリ充電容量診断方法およびバッテリ充電容量診断プログラムの実施例を図面に基づいて詳細に説明する。本実施例では、バッテリ制御装置を備えるRAID装置に適用するものとする。なお、本実施例によりこの発明が限定されるものではない。
[実施例1に係るRAID装置のハードウェア構成]
図1は、実施例1に係るRAID装置のハードウェア構成を示す図である。図1に示すように、RAID装置9は、PSU(Power Supply Unit)3およびホストサーバ4とそれぞれ接続する。PSU3は、外部からRAID装置9に電源を供給する電源供給装置である。ホストサーバ4は、RAID装置9に対してデータを書き戻すWriteコマンドを発行する。ホストサーバ4は、データを読み出すReadコマンドを発行する。そして、ホストサーバ4は、WriteコマンドまたはReadコマンドの発行に対する応答をRAID装置9から受け取る。なお、以降では、ホストサーバ4からWriteコマンドが発行された場合について説明する。
また、RAID装置9は、BBU(Battery Backup Unit)1およびRAID制御部2を有する。
BBU1は、PSU3から電源が供給されない場合に、予め貯蓄された電気を後述するRAID制御部2に供給する二次電池である。PSU3から電源が供給されない場合とは、例えば、電源切断された場合や停電の場合がある。以降では、PSU3から電源が供給されない場合を、電源切断された場合として説明する。なお、BBU3の詳細な構成は、後述する。
RAID制御部2は、RAID装置9を制御する。RAID制御部2は、ホストインターフェース21、ディスクドライブ22、キャッシュメモリ23、RAIDコントローラ24および監視機構25を有する。
ホストインターフェース21は、ホストサーバ4との間のインターフェースである。
ディスクドライブ22は、例えば、HDD(Hard Disk Drive)やSSD(Solid State Drive)などの不揮発性メモリである。ディスクドライブ22は、データを記憶する。
キャッシュメモリ23は、例えば、DIMM(Dual Inline Memory Module)やDDR SDRAM(Double Date Rate Synchronous DRAM)などの揮発性メモリである。キャッシュメモリ23は、ディスクドライブ22に書き戻すデータを一時的に記憶する。
RAIDコントローラ24は、Writeコマンドに対するデータをディスクドライブ22に書き戻す。例えば、RAIDコントローラ24は、ホストサーバ4からWriteコマンドを受け取ると、受け取ったWriteコマンドに対するデータをキャッシュメモリ23に書き込む。そして、RAIDコントローラ24は、監視機構25からBBU1に備えられたバッテリの充電容量を取得し、取得したバッテリの充電容量がキャッシュメモリ23上のデータを書き戻すために必要な容量であるか否かを判定する。
また、RAIDコントローラ24は、取得したバッテリの充電容量がキャッシュメモリ23上のデータを書き戻すために必要な容量である場合、データがキャッシュメモリ23に到達した時点で、ホストサーバ4にWriteコマンドの完了報告を応答する。そして、RAIDコントローラ24は、完了報告を応答した後、キャッシュメモリ23上のデータをディスクドライブ22に書き戻す。すなわち、RAIDコントローラ24は、受信データをライトバックモードで処理する。
また、RAIDコントローラ24は、取得したバッテリの充電容量がキャッシュメモリ23上のデータを書き戻すために必要な容量でない場合、キャッシュメモリ23からディスクドライブ22に書き戻す。そして、RAIDコントローラ24は、ディスクドライブ22に書き戻した後、ホストサーバ4にWriteコマンドの完了報告を応答する。すなわち、RAIDコントローラ24は、受信データをライトスルーモードで処理する。
監視機構25は、BBU1に備えられたバッテリの充電容量を監視する。また、監視機構25は、PSU3が切断された時(以降、「電源切断時」という)に、BBU1に備えられたバッテリの充電容量をRAIDコントローラ24に通知しない。監視機構25は、電源切断時に休止しているからである。
[BBUのハードウェア構成]
図2は、実施例1に係るBBUのハードウェア構成を示す図である。図2に示すように、BBU1は、充放電回路11、バッテリ12、RTC(Real Time Clock)13およびRTCバックアップ用小型バッテリ14を有する。また、BBU1は、温度センサ15、不揮発記億部16およびMCU(Micro Controller Unit)17を有する。
充放電回路11は、電源切断時でない場合、電源ラインを介してPSU3から電源を供給し、供給した電源をバッテリ12に充電する。また、充放電回路11は、電源切断時の場合、電源ラインを介してPSU3から電源を供給しないので、バッテリ12に充電しない。
バッテリ12は、電源切断時でない場合、充放電回路11を介してPSU3から充電する。また、バッテリ12は、電源切断時の場合、充放電回路11を介してPSU3から電源を供給しないので、グラウンドに放電する。また、バッテリ12は、再起動時の場合、バッテリ12の解放電圧の値を後述するMCU17に通知する。ここでいう解放電圧とは、充放電回路11とバッテリ12との間のライン上の電流が流れていない状態の電圧のことをいう。
RTC13は、計時専用のチップである。RTC13は、電源切断時でない場合、PSU3から電源の供給を受けて、計時動作を行う。RTC13は、電源切断時の場合、後述するRTCバックアップ用小型バッテリ14から電源の供給を受けて、計時動作を行う。RTC13は、時刻情報をMCU17に通知する。
RTCバックアップ用小型バッテリ14は、RTC13がPSU3から電源の供給を受けられない場合、例えば電源切断時に、RTC13に対して電源を供給する。
温度センサ15は、バッテリ12の温度を測定するために用いられるセンサである。温度センサ15は、バッテリ12の近傍に搭載される。温度センサ15は、温度情報をMCU17に通知する。
不揮発記憶部16は、例えばフラッシュメモリ(Flash Memory)やFRAM(登録商標)(Ferroelectric Random Access Memory)などの不揮発性の半導体メモリ素子などの記憶装置に対応する。さらに、不揮発記憶部16は、電源切断時刻情報161、電源切断時点充電容量162、電源切断時点温度163および温度履歴情報164をそれぞれ記憶する。電源切断時刻情報161は、電源切断時点の時刻情報を記憶する。電源切断時点充電容量162は、電源切断時点のバッテリ12の充電容量を記憶する。電源切断時点温度163は、電源切断時点のバッテリ12の温度を記憶する。温度履歴情報164は、バッテリ12の温度の履歴を記憶する。温度履歴情報164には、所定時間間隔のバッテリ12の温度が記憶される。所定時間間隔は、一例として、1時間であるが、これに限定されない。
MCU17は、再起動時に、バッテリ12の充電容量を診断する。
例えば、MCU17は、PSU3の電源切断を検出すると、電源切断の検出時にRTC13から取得した時刻情報を電源切断時刻情報161に保持する。また、MCU17は、電源切断時点のバッテリ12の充電容量を電源切断時点充電容量162に保持する。また、MCU17は、電源切断の検出時に温度センサ15から通知された温度情報を電源切断時点温度163に保持する。また、MCU17は、温度センサ15から通知される温度情報を所定時間間隔で温度履歴情報164に保持する。
また、MCU17は、PSU3の再起動を検出すると、検出時のバッテリ12の解放電圧の値からバッテリ12の充電容量を算出する。かかる場合、MCU17は、バッテリ12の解放電圧値に対して最も厳しい条件を当てはめた場合の充電容量を算出する。これは、RAID装置9が、その後の停電時に、データのバックアップに失敗し、データ消失を招くことを回避するためである。そして、MCU17は、算出した再起動時のバッテリ12の充電容量を第1の候補として、不揮発記憶部16に保持する。なお、MCU17は、PSU3の再起動を検出した場合にバッテリ12の充電容量を算出する場合を説明したが、これに限定されず、監視機構25からの指示によりバッテリ12の充電容量を算出するようにしても良い。
また、MCU17は、PSU3の再起動の検出時にRTC13から取得した時刻情報と電源切断時刻情報161とから、電源切断時間を算出する。そして、MCU17は、算出した電源切断時間が所定の時間より短い場合、電源切断時点充電容量162を再起動時の充電容量とする。所定の時間とは、バッテリ12が自己放電なしと判断できる時間を示す。一例として、第1の時間は、1時間であるが、これに限定されるものではない。
さらに、MCU17は、算出した電源切断時間が所定の時間より長い場合、当該電源切断時間に応じて、電源切断状態でのバッテリ12の温度から推定されるバッテリ12の充電容量を算出する。一例として、MCU17は、電源切断状態での温度を算出する。電源切断状態での温度は、例えば、温度履歴情報164から推定される。そして、MCU17は、例えば、バッテリ12の温度に対する自己放電特性曲線を利用して、電源切断状態での温度で、バッテリ12を電源切断時間放置した際の充電容量を算出する。そして、MCU17は、算出した再起動時のバッテリ12の充電容量を第2の候補として、不揮発記憶部16に保持する。
また、MCU17は、第2の候補として保持された充電容量が第1の候補として保持された充電容量より大きい場合、第2の候補として保持された充電容量を再起動時の充電容量とする。すなわち、MCU17は、第2の候補として保持された、バッテリ12の温度を考慮した充電容量を再起動時の充電容量に適用する。また、MCU17は、第2の候補として保持された充電容量が第1の候補として保持された充電容量以下である場合、第1の候補として保持された充電容量を再起動時の充電容量とする。すなわち、MCU17は、バッテリ12の解放電圧値に対して最も厳しい条件を当てはめた場合の充電容量を再起動時の充電容量に適用する。
なお、MCU17は、算出した電源切断時間が、バッテリ12の充電容量が温度に依存しない程長い場合や電源切断時間が算出できない場合、第1の候補として保持された充電容量を再起動時の充電容量とする。すなわち、かかる場合、MCU17は、電源切断による自己放電の推定を適用せず、バッテリ12の解放電圧値に対して最も厳しい条件を当てはめた場合の充電容量を再起動時の充電容量に適用する。
また、MCU17は、算出した再起動時の充電容量を、バッテリ12の内部抵抗値に基づいて補正する。例えば、MCU17は、前回充電時に測定したバッテリ12の内部抵抗値から、寿命状態に劣化するまでの劣化前後の放電容量の差分を算出する。そして、MCU17は、算出した放電容量の差分を用いて、適用された再起動時の充電容量を補正する。
ここで、バッテリ12の温度に対する自己放電特性曲線の一例について、図3を参照して説明する。図3は、バッテリ自己放電曲線の一例を示す図である。図3に示すように、X軸は放置期間(月)であり、Y軸は充電容量の容量保存率(%)である。バッテリ自己放電特性曲線は、バッテリ12の温度に応じた曲線であり、放置期間に対する容量保存率を示す曲線である。図3の例では、バッテリ12の温度が高くなる程、放置期間に対する容量保存率が低くなる。かかるバッテリ自己放電特性曲線を用いて、MCU17は、バッテリ12の温度で、電源切断時間に対応する容量保存率を算出する。例えば、MCU17は、電源切断時点充電容量162に対応する容量保存率を算出する。そして、MCU17は、バッテリ自己放電特性曲線を用いて、算出した容量保存率に対応する放置期間を求める。そして、MCU17は、バッテリ自己放電特性曲線を用いて、求めた放置期間から電源切断時間経過した場合の容量保存率を求める。そして、MCU17は、求めた容量保存率に対応する充電容量を求めれば良い。
[充電容量診断処理のフローチャート]
次に、BBU1の再起動時における充電容量診断処理のフローチャートを、図4を参照して説明する。図4は、再起動時における充電容量診断処理のフローチャートを示す図である。なお、前回充電時に測定したバッテリ12の内部抵抗値が、不揮発記憶部16に記憶されているとする。
BBU1のMCU17は、PSU3の再起動を検出したか否かを判定する(ステップS10)。PSU3の再起動を検出していないと判定した場合(ステップS10;No)、MCU17は、判定処理を繰り返す。
一方、PSU3の再起動を検出したと判定した場合(ステップS10;Yes)、MCU17は、検出時のバッテリ12の解放電圧の値から充電容量(C1)を算出する(ステップS11)。例えば、MCU17は、検出時のバッテリ12の解放電圧を検出し、検出した解放電圧および電源切断時点充電容量162に保持された充電容量で定まるおおまかな充電容量を算出する。すなわち、MCU17は、バッテリ12の解放電圧値に対して最も厳しい条件を当てはめた場合の充電容量を算出する。なお、C1は、前述した第1の候補に対応する。
そして、MCU17は、電源切断前後のRTC13の時刻情報から電源切断時間(T)を算出する(ステップS12)。例えば、MCU17は、再起動の検出時の時刻情報をRTC13から取得し、取得した時刻情報と電源切断時刻情報161に保持された時刻情報とから、電源切断時間を算出する。
続いて、MCU17は、電源切断時間(T)が算出できたか否かを判定する(ステップS13)。電源切断時間(T)が算出できないと判定した場合(ステップS13;No)、MCU17は、おおまかな充電容量を適用すべく、ステップS23に移行する。
一方、電源切断時間(T)が算出できたと判定した場合(ステップS13;Yes)、MCU17は、電源切断時間(T)が第1の時間(Ta)より短いか否かを判定する(ステップS14)。ここでいう第1の時間(Ta)とは、バッテリ12が自己放電なしと判断できる時間を意味する。電源切断時間(T)が第1の時間(Ta)より短いと判定した場合(ステップS14;Yes)、MCU17は、バッテリ12の自己放電がないと判断し、電源切断時点充電容量162に保持された電源切断前の充電容量を充電容量C2とする(ステップS15)。そして、MCU17は、ステップS22に移行する。
一方、電源切断時間(T)が第1の時間(Ta)より短くないと判定した場合(ステップS14;No)、MCU17は、電源切断時間(T)が第1の時間(Ta)以上且つ第2の時間(Tb)未満であるか否かを判定する(ステップS16)。ここでいう第2の時間(Tb)とは、電源切断状態でのバッテリ12の温度を切断時点の温度と再起動時点の温度の平均と判断できる時間を意味する。電源切断時間(T)が第1の時間(Ta)以上且つ第2の時間(Tb)未満であると判定した場合(ステップS16;Yes)、MCU17は、バッテリ12について、電源切断時点温度163に保持された電源切断前の温度と再起動時の温度との平均を電源切断状態での温度THとする(ステップS17)。そして、MCU17は、充電容量を算出すべく、ステップS20に移行する。
一方、電源切断時間(T)が第2の時間(Tb)より大きいと判定した場合(ステップS16;No)、MCU17は、電源切断時間(T)が第2の時間(Tb)以上且つ第3の時間(Tc)未満であるか否かを判定する(ステップS18)。ここでいう第3の時間(Tc)とは、電源切断状態でのバッテリ12の温度を切断前後の温度履歴から推定できる時間を意味する。電源切断時間(T)が第3の時間(Tc)以上であると判定した場合(ステップS18;No)、MCU17は、おおまかな充電容量を適用すべく、ステップS23に移行する。
一方、電源切断時間(T)が第2の時間(Tb)以上且つ第3の時間(Tc)未満であると判定した場合(ステップS18;Yes)、MCU17は、以下の処理を行う。すなわち、MCU17は、バッテリ12について、温度履歴情報164に保持された電源切断前後の温度情報から電源切断状態での温度THを推定する(ステップS19)。例えば、MCU17は、温度履歴情報164に記憶された温度履歴を用いて、電源切断前所定時間と再起動時の温度との平均を電源切断状態での温度THとする。そして、MCU17は、充電容量を算出すべく、ステップS20に移行する。
ステップS20では、MCU17は、電源切断状態での温度THで、バッテリ12を電源切断時間(T)放置した際の充電容量C2を算出する(ステップS20)。例えば、MCU17は、電源切断状態での温度THに対応する自己放電特性曲線を利用して、バッテリ12を電源切断時間(T)放置した際のバッテリ12の充電容量C2を算出する。
そして、MCU17は、充電容量C2が充電容量C1より大きいか否かを判定する(ステップS21)。すなわち、MCU17は、電源切断時点充電容量162に保持された電源切断前の充電容量を充電容量(C2)が解放電圧の値から算出されたおおまかな充電容量(C1)より大きいかを判定する。充電容量C2が充電容量C1より大きいと判定した場合(ステップS21;Yes)、MCU17は、ステップS22に移行する。
ステップS22では、MCU17は、ステップS15またはステップS20で求めた充電容量C2を再起動時のバッテリ12の充電容量C´とする(ステップS22)。そして、MCU17は、バッテリ12の充電容量を補正すべく、ステップS24に移行する。
ステップS23では、MCU17は、ステップS11で求めた充電容量C1を再起動時のバッテリ12の充電容量C´とする(ステップS23)。そして、MCU17は、バッテリ12の充電容量を補正すべく、ステップS24に移行する。
ステップS24では、MCU17は、バッテリ12の充電容量C´をバッテリ12の劣化度に基づいて補正する(ステップS24)。例えば、MCU17は、不揮発記憶部16に記憶されたバッテリ12の内部抵抗値から、寿命状態に劣化するまでの劣化前後の放電容量の差分を算出する。そして、MCU17は、算出した放電容量の差分を用いて、再起動時の充電容量C´をC(=C´+α)に補正する。ここでいう「α」は、バッテリ劣化度による補正量である。そして、MCU17は、再起動時における充電容量診断処理を終了する。
その後、MCU17は、算出した再起動時の充電容量Cを起点に、充電時間分の充電容量を積算し、充電時間に対応する充電容量を把握する。この結果、MCU17からバッテリ12の充電容量が通知されたRAID制御部9では、RAIDコントローラ24が、監視機構25からバッテリ12の充電容量を取得する。そして、RAIDコントローラ24は、取得したバッテリ12の充電容量がキャッシュメモリ23上のデータを書き戻すために必要な容量であるか否かを判定する。そして、RAIDコントローラ24は、取得したバッテリの充電容量がキャッシュメモリ23上のデータを書き戻すために必要な容量である場合、データがキャッシュメモリ23に到達した時点で、ホストサーバ4にWriteコマンドの完了報告を応答する。すなわち、RAIDコントローラ24は、受信データをライトバックモードで処理することになる。一方、RAIDコントローラ24は、取得したバッテリの充電容量がキャッシュメモリ23上のデータを書き戻すために必要な容量でない場合、ディスクドライブ22に書き戻した後、ホストサーバ4にWriteコマンドの完了報告を応答する。すなわち、RAIDコントローラ24は、受信データをライトスルーモードで処理することになる。
[実施例1の効果]
上記実施例1によれば、BBU1は、電源が切断された電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶する。そして、BBU1は、電源が再起動された際、記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態でのバッテリ12の温度およびバッテリ12の劣化度に基づいて、再起動時のバッテリ12の充電容量を診断する。かかる構成によれば、BBU1は、電源切断状態でのバッテリ12の温度およびバッテリ12の劣化度を考慮して、再起動時のバッテリ12の充電容量を診断するので、診断精度を向上させることができる。
また、上記実施例1によれば、BBU1は、電源が再起動された際、記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断時間および電源切断状態でのバッテリ12の温度に基づいて、再起動時のバッテリ12の充電容量を算出する。そして、BBU1は、バッテリ12の内部抵抗値に基づいて、算出されたバッテリ12の充電容量を補正する。かかる構成によれば、BBU1は、バッテリの寿命診断に用いられるバッテリ12の内部抵抗値に基づいてバッテリ12の充電容量を補正することで、バッテリ12の寿命劣化を加味した充電容量を算出できる。この結果、BBU1は、バッテリ12の充電容量の診断精度を向上させることができる。
また、上記実施例1によれば、BBU1は、電源切断期間および電源切断状態でのバッテリ12の温度に基づいて、再起動時のバッテリ12の充電容量を算出する。そして、BBU1は、バッテリ12の抵抗値を測定し、測定した抵抗値に基づいて、算出したバッテリ12の充電容量を補正する。かかる構成によれば、BBU1は、バッテリの寿命診断に用いられるバッテリ12の内部抵抗値に基づいて、充電容量を補正することで、バッテリ12の寿命劣化を加味した充電容量を算出できる。この結果、BBU1は、バッテリ12の充電容量の診断精度を向上させることができる。
また、上記実施例1によれば、BBU1は、さらに、バッテリの温度を所定期間毎に温度の履歴として記憶する。そして、BBU1は、記憶された温度の履歴から、電源切断状態でのバッテリ12の温度を推定し、電源切断期間および該推定した温度に基づいて、再起動時のバッテリ12の充電容量を算出する。かかる構成によれば、BBU1は、再起動時のバッテリ12の充電容量の算出に、温度の履歴から推定されるバッテリ12の温度および電源切断期間を用いることで、温度および電源切断期間によって変化するバッテリ12の充電容量を精度良く推定できる。
また、上記実施例1によれば、BBU1は、電源切断期間に応じて、電源切断状態でのバッテリ12の温度に対応する、バッテリ12の自己放電特性から推定されるバッテリ12の充電容量を算出する。かかる構成によれば、BBU1は、バッテリ12の充電容量の算出に、バッテリ12の温度に対応する自己放電特性を用いることで、バッテリ12の充電容量を精度良く推定できる。
ところで、実施例1では、RAID装置9では、BBU1が、RTC13およびRTCバックアップ用小型バッテリ14を内蔵した場合を説明した。しかしながら、RAID装置9は、これに限定されず、RAID制御部2が、RTC13およびRTCバックアップ用小型バッテリ14を内蔵するようにしても良い。
そこで、実施例2では、RAID制御部2が、RTC13およびRTCバックアップ用小型バッテリ14を内蔵する場合について説明する。
[実施例2に係るRAID装置のハードウェア構成]
図5は、実施例2に係るRAID装置のハードウェア構成を示す図である。なお、図1に示すRAID装置9と同一の構成については同一符号を示すことで、その重複する構成および動作の説明については省略する。実施例1と実施例2とが異なるところは、RAID制御部2の監視機構25にRTC251およびRTCバックアップ用小型バッテリ252を追加した点にある。
[実施例2に係るBBUのハードウェア構成]
図6は、実施例2に係るBBUのハードウェア構成を示す図である。なお、図2に示すBBU1と同一の構成については同一符号を示すことで、その重複する構成および動作の説明については省略する。実施例1と実施例2とが異なるところは、BBU1からRTC13およびRTCバックアップ用小型バッテリ14を削除した点にある。
MCU17は、時刻情報をRAID制御部2の監視機構25にあるRTC251から取得する。例えば、MCU17は、PSU3の電源切断を検出すると、電源切断の検出時にRTC251から取得した時刻情報を電源切断時刻情報161に保持する。また、MCU17は、PSU3の再起動を検出すると、RTC251から取得した時刻情報と電源切断時刻情報161とから、電源切断時間を算出する。
そして、MCU17は、算出した電源切断時間および電源切断状態でのバッテリ12の温度に基づいて、再起動時のバッテリ12の充電容量を算出する。さらに、MCU17は、バッテリ12の抵抗値を測定し、測定した抵抗値に基づいて、算出したバッテリ12の充電容量を補正する。
[実施例2の効果]
上記実施例2によれば、RTC251およびRTCバックアップ用小型バッテリ252は、BBU1内に代えてBBU1外に搭載されるようにした。BBU1は、RTC251から取得される、電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶する。そして、BBU1は、電源が再起動された際、以下の処理を行う。すなわち、BBU1は、記憶された切断時刻とRTC251から取得される再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態でのバッテリ12の温度およびバッテリ12の劣化度に基づいて、再起動時のバッテリ12の充電容量を診断する。かかる構成によれば、RTC251およびRTCバックアップ用小型バッテリ252をBBU1外に備えるようにしても、BBU1は、電源切断状態でのバッテリ12の温度およびバッテリ12の劣化度を考慮して、再起動時のバッテリ12の充電容量を診断できる。したがって、BBU1は、診断精度を向上させることができる。
[その他]
なお、図示したBBU1は、RAID装置9に内蔵する場合を説明した。しかしながら、BBU1は、これに限定されず、RAID装置9の外部装置としてRAID装置9と接続される場合であっても良い。また、BBU1は、RAID装置9以外の装置であって、自装置を内蔵可能な別の装置に内蔵される場合であっても良いし、別の装置と接続される場合であっても良い。
また、図示したRAID装置9の各構成要素は、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、RAID装置9の分散・統合の具体的態様は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況等に応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。例えば、RTC13とRTCバックアップ用小型バッテリ14とを1個の部に統合しても良い。MCU17による処理を、電源切断を検知した場合の処理を実行する処理部と、電源の再起動を検知した場合の処理を実行する処理部とに分散しても良い。
以上の実施例を含む実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1)バッテリと、
電源が切断された電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶する記憶部と、
電源が再起動された際、前記記憶部に記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態での前記バッテリの温度および前記バッテリの劣化度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を診断する診断部と、
を備えることを特徴とするバッテリ制御装置。
(付記2)前記診断部は、
前記電源切断期間および電源切断状態での前記バッテリの温度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を算出する算出部と、
前記バッテリの抵抗値を測定し、測定した抵抗値に基づいて、前記算出部によって算出されたバッテリの充電容量を補正する補正部と
を備えることを特徴とする付記1に記載のバッテリ制御装置。
(付記3)前記記憶部は、さらに、所定期間毎のバッテリの温度を温度の履歴として記憶し、
前記算出部は、前記記憶部に記憶された温度の履歴から、電源切断状態での前記バッテリの温度を推定し、前記電源切断期間および該推定した温度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を算出する
ことを特徴とする付記2に記載のバッテリ制御装置。
(付記4)前記算出部は、前記電源切断期間に応じて、電源切断状態での前記バッテリの温度に対応する、バッテリの自己放電特性から推定される前記バッテリの充電容量を算出する
ことを特徴とする付記2または付記3に記載のバッテリ制御装置。
(付記5)バッテリ制御装置が、
電源が切断された電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶部に記憶し、
電源が再起動された際、前記記憶する処理によって前記記憶部に記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態でのバッテリの温度および前記バッテリの劣化度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を診断する
処理を実行することを特徴とするバッテリ充電容量診断方法。
(付記6)コンピュータに、
電源が切断された電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶部に記憶し、
電源が再起動された際、前記記憶する処理によって前記記憶部に記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態でのバッテリの温度および前記バッテリの劣化度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を診断する
処理を実行させることを特徴とするバッテリ充電容量診断プログラム。
(付記7)データを記憶するストレージと、
前記ストレージに対する予備の電源であるバッテリを制御するバッテリ制御装置と、を備え、
前記バッテリ制御装置は、
前記バッテリと、
電源が切断された電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶する記憶部と、
電源が再起動された際、前記記憶部に記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態での前記バッテリの温度および前記バッテリの劣化度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を診断する診断部と、
を備えることを特徴とするストレージ装置。
1 BBU
11 充放電回路
12 バッテリ
13 RTC
14 RTCバックアップ用小型バッテリ
15 温度センサ
16 不揮発記憶部
161 電源切断時刻情報
162 電源切断時点充電容量
163 電源切断時点温度
164 温度履歴情報
17 MCU
2 RAID制御部
21 ホストインターフェース
22 ディスクドライブ
23 キャッシュメモリ
24 RAIDコントローラ
25 監視機構
251 RTC
252 RTCバックアップ用小型バッテリ
3 PSU
4 ホストサーバ
9 RAID装置

Claims (6)

  1. バッテリと、
    電源が切断された電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶する記憶部と、
    電源が再起動された際、前記記憶部に記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態での前記バッテリの温度および前記バッテリの劣化度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を診断する診断部と、
    を備えることを特徴とするバッテリ制御装置。
  2. 前記診断部は、
    前記電源切断期間および電源切断状態での前記バッテリの温度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を算出する算出部と、
    前記バッテリの抵抗値を測定し、測定した抵抗値に基づいて、前記算出部によって算出されたバッテリの充電容量を補正する補正部と
    を備えることを特徴とする請求項1に記載のバッテリ制御装置。
  3. 前記記憶部は、さらに、所定期間毎のバッテリの温度を温度の履歴として記憶し、
    前記算出部は、前記記憶部に記憶された温度の履歴から、電源切断状態での前記バッテリの温度を推定し、前記電源切断期間および該推定した温度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を算出する
    ことを特徴とする請求項2に記載のバッテリ制御装置。
  4. 前記算出部は、前記電源切断期間に応じて、電源切断状態での前記バッテリの温度に対応する、バッテリの自己放電特性から推定される前記バッテリの充電容量を算出する
    ことを特徴とする請求項2または請求項3に記載のバッテリ制御装置。
  5. バッテリ制御装置が、
    電源が切断された電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶部に記憶し、
    電源が再起動された際、前記記憶する処理によって前記記憶部に記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態でのバッテリの温度および前記バッテリの劣化度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を診断する
    処理を実行することを特徴とするバッテリ充電容量診断方法。
  6. コンピュータに、
    電源が切断された電源切断時点の時刻を示す切断時刻を記憶部に記憶し、
    電源が再起動された際、前記記憶する処理によって前記記憶部に記憶された切断時刻と再起動時の時刻とから得られる電源切断期間、電源切断状態でのバッテリの温度および前記バッテリの劣化度に基づいて、再起動時の前記バッテリの充電容量を診断する
    処理を実行させることを特徴とするバッテリ充電容量診断プログラム。
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