JP2015049362A - アクチュエータの制御装置およびそれを備えた装置 - Google Patents

Abstract

【課題】アクチュエータの駆動を高精度に制御すること【解決手段】制御装置１００は、磁気検出素子２３と、検出されたレンズ保持枠１２の位置とレンズ保持枠の目標位置との差分に基づいてアクチュエータを駆動制御するＣＰＵ１０１と、を有する。ＣＰＵは、アクチュエータの駆動制御で使用される、磁気検出素子の出力とレンズ保持枠の実際の位置とレンズ保持枠の目標位置を指示する信号の相関を取得する位置出し調整を行う。この位置出し調整では、ＣＰＵは、レンズ保持枠の可動ストロークの中心付近における磁気検出素子の出力の変化をレンズ保持枠の検出された位置の変化で割った傾きα_centが変化した位置からレンズ保持枠と機械的に接触することによってレンズ保持枠の移動を規制する可動ストロークの両端A、Bの位置、可動ストローク、両端に対応する磁気検出素子の出力を取得する。【選択図】図４

Description

本発明は、アクチュエータの制御装置およびそれを備えた装置に関する。

デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラなどの撮像装置に使用される手振れ補正ユニットや絞りユニットにおいて、被駆動部の位置を磁気検出素子で検出し、それと目標位置との差分が零になるようにフィードバック制御することは知られている。しかしながら、被駆動部をコイル励磁によって駆動する場合、磁気検出素子の検出結果にコイル励磁による偽の信号が加わって検出精度が低下してしまう。特に、近年のレンズ鏡筒の小型化によって駆動コイルと磁気検出素子の距離が近づくと、この影響は顕著になる。一方で、高倍率化や高解像度化が進み、アクチュエータの高精度な駆動制御が求められている。

特許文献１は、コイル励磁信号を位置検出手段に戻して偽の位置信号を打ち消す駆動装置を提案している。特許文献２は、磁気検出素子とアクチュエータの間に磁気遮蔽部材を設け、コイル励磁による磁場が磁気検出素子に到達するのを低減したレンズ鏡筒を提案している。

特開平１０−６２６７６号公報 特開２００８−０１５１５９号公報

特許文献１は、ストローク全域で偽の位置信号は完全に打ち消すことは困難であり、可動ストロークが長くなり、コイルに印加する電圧が高くなるほど、偽の位置信号の影響が大きくなる。特許文献２は、磁気を遮断するほどの遮蔽部材を追加することは、駆動装置の大型化とコストアップを招き、実用的ではない。

本発明は、アクチュエータの駆動を高精度に制御することが可能な制御装置およびそれを備えた装置を提供することを目的とする。

本発明の制御装置は、コイル励磁による電磁力を利用してアクチュエータによって駆動される、被駆動部の位置によって変化する磁気を検出する磁気検出手段と、前記磁気検出手段によって検出された前記被駆動部の位置と、前記被駆動部の目標位置との差分に基づいて前記アクチュエータを駆動制御する制御手段と、を有し、前記制御手段は、前記アクチュエータの駆動制御で使用される、前記磁気検出手段の出力と前記被駆動部の実際の位置と前記被駆動部の目標位置を指示する信号の相関を取得する位置出し調整を行い、前記位置出し調整では、前記制御手段は、前記被駆動部の可動ストロークの中心における前記磁気検出手段の前記出力の変化を前記被駆動部の検出された位置の変化で割った第１の傾きが変化した位置から、前記被駆動部と機械的に接触することによって前記被駆動部の移動を規制する前記可動ストロークの両端の位置、前記可動ストローク、前記両端の位置に対応する前記磁気検出手段の前記出力を取得することを特徴とする。

本発明によれば、アクチュエータの駆動を高精度に制御することが可能な制御装置およびそれを備えた装置を提供することができる。

本発明の手振れ補正ユニットの斜視図、断面図、磁極配置を示す図である。（実施例１、２） 図１に示す手振れ補正ユニットの制御装置のブロック図である。（実施例１、２） 偽の位置信号による影響が無い場合と有る場合の、目標位置と位置検出信号と被駆動部の実際の位置の関係を示す図である。 本発明の位置出し調整方法を示すフローチャートである。（実施例１） 図４のＳ２０１の概要を示す図である。（実施例１、２） 図４のＳ２０２を示すフローチャートである。（実施例１、２） 図４のＳ２０４、Ｓ２０５を示すフローチャートである。（実施例１、２） 本発明の位置出し調整方法を示すフローチャートである。（実施例２）

駆動装置を用いて被駆動部を任意の位置へ移動させるためには、被駆動部を移動させ、被駆動部の実際の位置と位置指令信号と磁気検出素子信号の相関を取る位置出し調整を行う。

例えば、任意の位置から位置指令信号Cnt_posを変化させ、被駆動部をメカストローク（可動ストローク）のメカ端Aまで移動させ、次いで、メカ端B側まで移動させる。なお、可動ストロークのメカ端は被駆動部と機械的に接触することによって移動を規制する。

この場合、理論的には、磁気検出素子の出力Hall_out（縦軸）と被駆動部の検出された位置（横軸）は図３（ａ）に示すようになる。即ち、Cnt_posが変化すると被駆動部が移動し、Hall_outが変化する。そして、被駆動部がメカ端A又はBに到達し、それ以上移動出来なくなると、Cnt_posが変化してもHall_outは変化せず一定値となる。メカ端Aで一定となったHall_outをHall_out_A、メカ端Bで一定となったHall_outをHall_out_Bとする。また、メカ端A到達時のCnt_posをCnt_pos_A、メカ端B到達時のCnt_posをCnt_pos_Bとする。

ストローク内ではHall_outとCnt_posが比例し、かつ、被駆動部の可動ストロークは設計値で決まっている。このため、Cnt_posに対するHall_outの変化率、移動距離に対するHall_outの変化率を算出し、それらの相関をとることによって被駆動部を任意の位置へ移動させることができる。

このとき、１Cnt_posあたりのHall_outの変化量をαとすると、αは次式で表される。

α＝（Hall_out_B−Hall_out_A）／（Cnt_pos_B−Cnt_pos_A）
また、可動ストロークをABとすると、単位距離あたりのHall_outβは次式で表される。

β＝（Hall_out_B−Hall_out_A）／AB（可動ストローク）
これに対し、偽の位置信号の影響を受けた場合に上記と同様の駆動を行うとCnt_posとHall_outは図３（ｂ）に示すようになる。

可動ストローク内ではCnt_posが変化すると被駆動部が移動し、Hall_outが変化する。被駆動部がメカ端A側に駆動するとき、メカ端Aに到達するとそれ以上移動できないが、Cnt_posが変化するに従って駆動コイルに流れる電流が増加するため、コイル励磁による磁場、即ち、偽の位置信号によりHall_outは増加する。その後、駆動コイルに印加する電圧が制御上の上限になると駆動コイルに流れる電流が一定になり、コイル励磁による磁場が安定するため、Hall_outも一定値Hall_out_A’となる。

このようなメカ端Aで生じるHall_outの変化はメカ端B側の駆動でも同様である。即ち、被駆動部がメカ端Bに到達した後もコイル励磁による偽の信号によりHall_outは増加し、制御上駆動コイルに流れる電流値が一定になるとHall_outも一定値Hall_out_B’となる。また、メカ端到達時のCnt_posについては、偽の信号を受けない場合と同様となる。即ち、メカ端A側で一定値のHall_out_A’が変化し始める箇所のCnt_posをCnt_pos_A’、メカ端B側で一定値のHall_out_B’が変化し始める箇所のCnt_posをCnt_pos_B’とする。

その結果、Hall_outはメカ端AではΔAだけの偽の位置信号を、メカ端BではΔBだけの偽の位置信号の影響を受けるため、
１Cnt_posあたりのHall_outの変化量をα’とすると、α’は次式で表される。

α’＝{(Hall_out_B’＋ΔB)−(Hall_out_A’＋ΔA)}／（Cnt_pos_B’−Cnt_pos_A’）
また、可動ストロークをABとすると、単位距離あたりのHall_outβ’は次式で表される。

β’ ＝ {(Hall_out_B’＋ΔB)−(Hall_out_A’＋ΔA)}／（可動ストローク）
このように、α’、β'は、偽の信号無し時のα、βと異なっている。α’、β’はメカ端到達時のCnt_pos、Hall_outが正しく求められていないために、Cnt_posとHall_outと被駆動部の検出位置との相関が正しくとれない。

そこで、本実施形態は、アクチュエータの駆動制御で使用される、磁気検出手段の出力と被駆動部の実際の位置と被駆動部の目標位置を指示する信号の相関を正しく取得する位置出し調整方法を行う。

図１（ａ）は手振れ補正ユニット１０の斜視図、図１（ｂ）は手振れ補正ユニット１０の一点鎖線に沿った断面図、図１（ｃ）は図１（ｂ）に示す磁極配置を示す図である。図１（ａ）のA、Bはメカ端を表している。メカ端は、駆動方向ｘに被駆動部（可動部）であるレンズ保持枠１２が移動する場合に、レンズ保持枠１２が固定部である固定枠１３に機械的に接触して、それ以上の、その駆動方向への移動を規制する端部をいう。

手振れ補正ユニット１０は、デジタルスチルカメラ、デジタルビデオカメラ、顕微鏡などの撮像装置やそのレンズ鏡筒に使用される。手振れ補正ユニット１０は、像ぶれを補正する補正レンズ１１を保持するレンズ保持枠１２と、レンズ保持枠１２をコイル励磁による電磁力を利用して駆動するアクチュエータを有する。即ち、レンズ鏡筒とカメラ本体からなるカメラシステムにおいは、手振れ補正ユニット１０はレンズ鏡筒に設けられ、レンズ一体型の撮像装置においては撮像装置に設けられる。

なお、本発明は手振れ補正ユニットに限定されるものではない。光量を調節する絞りを保持する絞りユニットにも適用することができ、アクチュエータがコイル励磁による電磁力によって駆動する被駆動部の位置を磁気検出手段で磁気的に検出するものに広く適用可能である。

補正レンズ１１は、一または複数のレンズ群を含み、本実施形態では２つのレンズから構成されている。補正レンズ１１を保持するレンズ保持枠１２は、固定枠１３に対して移動可能に取り付けられている。補正レンズ１１は、被写体の光学像を形成する撮影光学系の一部を構成し、撮影光学系の光軸に垂直な方向に移動されて像ぶれを補正する。また、「光軸に垂直な方向」は光軸に垂直な成分を持てば足り、光軸に対して斜めであってもよい。本実施形態は、補正レンズ１１は、ｚ方向である光軸に垂直なｘｙ平面上で移動し、駆動方向をｘ方向に設定している。

アクチュエータはレンズ保持枠（レンズ保持部材）１２をｘ方向に駆動する。アクチュエータは、レンズ保持枠１２に設けられたマグネット（磁石）２２、バックヨーク２５と、固定枠１３に設けられた磁気検出素子（磁気検出手段）２３、（駆動）コイル２４、磁性体のヨーク２６を有する。

磁気検出素子２３はレンズ保持枠１２に設けられたマグネット２２ａ・２２ｂが発生する磁気を検出し、磁気はアクチュエータによって駆動されるレンズ保持枠１２の位置によって変化する。本実施例では、磁気検出素子２３はホール素子であるが、ＡＭＲセンサ、ＭＲセンサ、ハネウェルセンサなど限定されない。レンズ保持枠１２の可動ストロークは、一方の端をメカ端A、もう一方をメカ端Bとする。マグネット２２は二体化されており、図１（ｃ）に示すような極配置となっている。即ち、マグネット２２ａのＮ極はマグネット２２ｂのＳ極に対向し、マグネット２２ａのＳ極はマグネット２２ｂのＮ極に対向している。

図２は、本実施形態の制御装置１００を示すブロック図である。制御装置１００は、被駆動部の目標位置を表す位置指令信号と位置検出信号との差分がゼロになるようにアクチュエータを駆動制御（フィードバック制御）する。

制御装置１００は、ＣＰＵ１０１、減算回路１０２、増幅回路１０３、ドライバ回路（駆動回路）１０４、増幅回路１０５、検出回路１０６を有する。また、磁気検出素子２３も制御装置１００の一部を構成する。

ＣＰＵ１０１は、制御手段の一例であり、ＭＰＵ、プロセッサ、マイクロコンピュータなどを問わない。また、ＣＰＵ１０１には不図示の記憶手段（メモリ）が接続されている。ＣＰＵ１０１は、レンズ鏡筒とカメラ本体からなるカメラシステムにおいては、レンズ鏡筒のレンズＣＰＵ（レンズ制御手段）として構成されてもよい。また、レンズ一体型のカメラにおいては、撮像装置の制御手段として構成されてもよい。

ＣＰＵ１０１は、アクチュエータの駆動制御で使用される、磁気検出素子２３の出力とレンズ保持枠１２の位置とレンズ保持枠１２の目標位置を指示する位置指令信号の相関を取得する位置出し調整を行う。位置出し調整では、ＣＰＵ１０１は、レンズ保持枠１２の可動ストロークの中心付近における磁気検出素子２３の出力の変化をレンズ保持枠１２の位置の変化で割った傾きが変化した位置を取得する。そして、その位置から可動ストローク、その両端の位置、両端に対応する磁気検出手段の出力を取得する。これについては後述する実施例で詳細に説明する。

ＣＰＵ１０１からの目標信号（位置指令信号）が減算回路（減算手段）１０２に入力され、磁気検出素子２３がレンズ保持枠１２の位置を表す磁気を検出する。そして、増幅回路１０５を経て検出回路１０６が磁気検出素子２３の出力から得られるレンズ保持枠１２の位置を表す位置検出信号を減算回路１０２に出力する。減算回路１０２は、目標信号と位置検出信号との差分を増幅回路１０３に出力する。差分は増幅回路１０３により増幅され、ドライバ回路１０４で電圧に変換される。この電圧は手振れ補正ユニット１０のコイル２４に印加され、上記差分が減少するように（好ましくはゼロになるように）補正レンズ１１を駆動する。

従来は、磁気検出素子２３がコイル励磁による磁場も受けて、検出回路１０６はマグネット２２の磁場に伴う真の位置信号に、コイル２４の励磁による偽の位置信号を加えて出力してしまい、位置検出精度が低下してしまうおそれがあった。また、近年のレンズ鏡筒の小型化に伴ってコイル２４と磁気検出素子２３の距離も近づく傾向にあるため、磁気検出素子２３はコイル励磁による磁場の影響を受け易く位置検出精度の低下を招いていた。

そこで、実施例１では、図４に示す位置出し調整を行い、被駆動部の実際の位置と、位置指令信号Cnt_posと、磁気検出素子２３の出力Hall_outの相関を取る。図４は、実施例１の位置出し調整方法を示すフローチャートである。「Ｓ」はステップを表し、これは後述する他のフローチャートにも当てはまる。図４に示す方法は、コンピュータ（ＣＰＵ１０１）に各ステップの機能を実行させるためのプログラムとして具現化が可能であり、かかるプログラムはＣＰＵ１０１に接続された不図示の記憶手段に格納されてもよい。これも後述する他のフローチャートにも当てはまる。

位置出し調整がスタートすると、まず、調整用にレンズ保持枠１２が駆動される（Ｓ２０１）。図５（ａ）は、Ｓ２０１の概要を示す図であり、横軸は時間、縦軸は可動部（レンズ保持枠１２）の位置である。Ｓ２０１では、目標駆動位置Cnt_posを変化させることで被駆動部を任意の位置から端Aまで移動させ、被駆動部を端Aに十分に突き当て、その後、端Bまで移動し、端Bに十分に突き当てる。もちろん、これは単なる一例であり、被駆動部を任意の位置から端Bまで移動させ、被駆動部を端Bに十分に突き当て、その後、端Aまで移動し、端Aに十分に突き当ててもよい。

また、移動と共に目標駆動位置Cnt_pos(t)と磁気検出素子２３の出力Hall_out(t)を記録する。図５（ｂ）の横軸は時間、縦軸は磁気検出素子２３の出力Hall_out(t)である。図３（ｂ）と同様に、Hall_out_AとHall_out_A’はずれており、Hall_out_B4とHall_out_B’はずれており、中央の実線はメカ中心に相当する。図５（ｃ）の横軸は時間、縦軸は逐次目標駆動位置Cnt_pos(t)である。tは単位時間で、移動スタート時はt=0、終了時はt=t_endとする。図５に示すグラフに対応する情報はＣＰＵ１０１に接続された不図示の記憶手段に格納される。

Ｓ２０１が終了すると、変化率が算出される（Ｓ２０２）。図６は、変化率算出方法を示すフローチャートである。Ｓ２０２では、Ｓ２０１によって得た図５に示すCnt_pos(t)とHall_out(t)に基づいて変化率が算出される。まず、t=0が設定され（Ｓ４０１）、tを任意の時間Δtずつ変化させながら（Ｓ４０４）微小時間ΔtあたりのCnt_posとHall_outの変化量、即ちCnt_posに対するHall_outの変化率α(t)を次式に従って算出する（Ｓ４０３）。t=t_endになるまで（Ｓ４０２）、Ｓ２０１で移動した全域で、変化率αを算出する。

α(t)＝{Hall_out(t+Δt)−Hall_out(t)}/ {Cnt_pos(t+Δt)−Cnt_pos(t)}
Ｓ２０２が終了すると、ストローク中心付近の変化率α_centを決定される（Ｓ２０３）。Ｓ２０３では、Ｓ２０２で算出されたα(t)のうち、可動ストロークの中心付近（図５（ａ）に示すメカ中心近傍）でのα(t)をα_centとして設定する。偽の信号があるとメカ端に到達してもHall_outは一定にならずに変化し続けるが、可動ストロークにおける傾きαよりも絶対値が小さい値となる。即ち、α_centはHall_out_AからHall_out_Bまでの間の図３（ａ）に示す傾きαであるので、メカ端Aからメカ端Bまでの間の傾きであるが、端部は傾きの変化の影響を受けるので可動ストロークの中心付近としている。Hall_out_AとHall_out_A’の間の傾きとHall_out_BとHall_out_B’の間の傾きはα_centよりも本実施例では絶対値が小さくなる。このため、α_centが変化した位置でメカ端A、メカ端Bに到達したか否かを判断することができる。但し、測定誤差Δαを含めて、(α(t)−Δα) <α_cent <（α(t)＋Δα）と設定してもよい。

Ｓ２０３が終了すると、メカ端Aが検出される（Ｓ２０４）。図７はＳ２０４におけるメカ端A検出方法とＳ２０５におけるメカ端B検出方法を示すフローチャートである。Ｓ２０４では、Ｓ２０１で得た図５に示すCnt_pos(t)とHall_out(t)と、Ｓ２０３で得たα_centを用いる。まず、移動開始（t＝0）からメカ端Aに到達する前の任意の位置を図５（ｂ）に示すようにPoint_Aとし、このときの時間t_aをt_pos=t_aとする。Ｓ２０４がスタートするとt＝t_posと設定され（Ｓ５０１）、α(t)がα_centに一致しなくなるまで（Ｓ５０２）t=t+Δtとし（Ｓ５０３）、変化率α(t)からメカ端Aに到達した時間を検索する。Ｓ５０２が終了した時点でのtをt_tan=tとすると（Ｓ５０４）、t_tanはメカ端Aに到達した時間となる。また、メカ端A到達時の目標駆動位置はCnt_pos_A=Cnt_pos(t_tan)、このときの位置検出信号はHall_out_A=Hall_out(t_tan)となる。これらの情報は不図示の記憶手段に格納される。

Ｓ２０４が終了すると、メカ端Aと同様にメカ端Bが検出される（Ｓ２０５）。Ｓ２０５では、まず、Ｓ２０１にてメカ端Aに到達してからメカ端Bに到達する前の任意の位置を図５（ｂ）に示すようにPoint_Bとし、このときの時間t_bをt_posとする。Ｓ２０５がスタートするとt＝t_posと設定され（Ｓ５０１）、α(t)がα_centに一致しなくなるまで（Ｓ５０２）、t=t+Δtとする（Ｓ５０３）。そして、Ｓ５０２が終了した時点でのtをt_tan=tとすると（Ｓ５０４）、t_tanはメカ端Bに到達した時間となる。また、メカ端B到達時の目標駆動位置はCnt_pos_B=Cnt_pos(t_tan)、位置検出信号はHall_out_B=Hall_out(t_tan)となる。これらの情報は不図示の記憶手段に格納される。

Ｓ２０５が終了すると、この時点でメカ端A到達時の目標駆動位置Cnt_pos_Aと位置信号Hall_out_A、メカ端B到達時の目標駆動位置Cnt_pos_Bと位置信号Hall_out_Bが得られたことになる。ゆえに、これらを用いて以下のように目標駆動位置と位置検出信号、移動距離の相関をとることができる（Ｓ２０６）。

１Cnt_posあたりのHall_outの変化量をαとすると
α＝｜Hall_out_B−Hall_out_A｜／｜Cnt_pos_B−Cnt_pos_A｜
可動ストロークをABとすると、単位距離当たりのHall_outの変化量βは
β＝｜Hall_out_B−Hall_out_A｜／AB（可動ストローク）
不図示の記憶手段に格納されたα、βを使用することで、磁気検出素子２３がコイル励磁による偽の位置信号の影響を受けても、目標駆動位置と位置検出信号、補正レンズ１１の位置の相関が正確にとれているため、高精度な位置制御が可能となる。

実施例２は変化率α_centの定義方法のみが実施例１と異なる。図８は、図４に対応する実施例２の位置出し調整方法を示すフローチャートであり、図４と同様のステップには同一の参照符号を付している。

実施例１ではＳ２０２の後でＳ２０３を行っているが、多数台の調整を行う場合のＳ２０３の計算時間を短縮するために、実施例２では、Ｓ２０３を行わずにα_centを予め設定しておく（Ｓ２１３）。α_centはマグネット２２と磁気検出素子２３の寸法や位置精度などによってばらつきが発生するので、α１＜α_cent＜α２のように、予めα１、α２を定義しておく。α１、α２は、Hall_out_AとHall_out_A’の間の傾き（第２の傾き）とHall_out_BとHall_out_B’の間の傾き（第２の傾き）から第１の傾きα_centを区別するように（第２の傾きが取り得ないように）設定する。Ｓ２１３の後で、Ｓ２０１、Ｓ２０２、Ｓ２０４、Ｓ２０５、Ｓ２０６が行われる。

なお、実施例１、実施例２ともに図４に示す制御装置を用いているが、減算回路１０２を加算回路に置き換えても良い。その場合、Hall_outとCnt_outが逆位相となるため、変化率αを絶対値として扱えば良い。

本発明は、アクチュエータの制御装置に適用可能である。

１２…レンズ保持枠（被駆動部）、２３…磁気検出素子（磁気検出手段）、２４…コイル、１００…制御装置、１０１…ＣＰＵ（制御手段）

Claims (12)

1. コイル励磁による電磁力を利用してアクチュエータによって駆動される、被駆動部の位置によって変化する磁気を検出する磁気検出手段と、
   前記磁気検出手段によって検出された前記被駆動部の位置と、前記被駆動部の目標位置との差分に基づいて前記アクチュエータを駆動制御する制御手段と、
   を有し、
   前記制御手段は、前記アクチュエータの駆動制御で使用される、前記磁気検出手段の出力と前記被駆動部の実際の位置と前記被駆動部の目標位置を指示する信号の相関を取得する位置出し調整を行い、前記位置出し調整では、前記制御手段は、前記被駆動部の可動ストロークの中心における前記磁気検出手段の前記出力の変化を前記被駆動部の検出された位置の変化で割った第１の傾きが変化した位置から、前記被駆動部と機械的に接触することによって前記被駆動部の移動を規制する前記可動ストロークの両端の位置、前記可動ストローク、前記両端の位置に対応する前記磁気検出手段の前記出力を取得することを特徴とする制御装置。
2. 前記制御手段は、前記両端の前記位置をCnt_pos_A、Cnt_pos_B、前記両端の位置に対応する前記磁気検出手段の前記出力をHall_out_A、Hall_out_B、可動ストロークをABとすると、前記位置出し調整において
   α＝｜Hall_out_B−Hall_out_A｜／｜Cnt_pos_B−Cnt_pos_A｜
   β＝｜Hall_out_B−Hall_out_A｜／AB
   で表されるα、βを取得することを特徴とする請求項１に記載の制御装置。
3. 前記制御手段は、前記被駆動部を移動させ、移動した全域で微小時間あたりの前記被駆動部の前記検出された位置に対する前記磁気検出手段の前記出力の変化率を算出することによって、前記第１の傾きを取得することを特徴とする請求項１または２記載の制御装置。
4. 前記第１の傾きをα_cent、前記変化率をα(t)、測定誤差をΔαとすると、前記第１の傾きは
   (α(t)−Δα) <α_cent <（α(t)＋Δα）
   と設定されることを特徴とする請求項３に記載の制御装置。
5. 前記制御手段は、前記第１の傾きを予め設定することを特徴とする請求項１または２に記載の制御装置。
6. 前記第１の傾きをα_centとすると、α_centは前記被駆動部が前記両端に到達しても前記磁気検出手段の前記出力が変化する第２の傾きが取り得ないα１、α２を用いて
   α１＜α_cent＜α２
   と設定されることを特徴とする請求項５に記載の制御装置。
7. 前記磁気検出手段はホール素子であることを特徴とする請求項１乃至６のうちいずれか１項に記載の制御装置。
8. 被駆動部を駆動するアクチュエータと、
   前記アクチュエータを駆動制御する、請求項１乃至７のうちいずれか１項に記載の制御装置と、
   を有することを特徴とする装置。
9. レンズ鏡筒であることを特徴とする請求項８に記載の装置。
10. 撮像装置であることを特徴とする請求項８に記載の装置。
11. 前記被駆動部を更に有し、前記被駆動部は像ぶれを補正する補正レンズを保持するレンズ保持部材であることを特徴とする請求項９または１０に記載の装置。
12. 前記被駆動部を更に有し、前記被駆動部は光量を調整する絞りを保持する絞りユニットであることを特徴とする請求項９または１０に記載の装置。