JP2015027872A - タイヤ均一性装置を評価するためのシステム、及び、評価の使用方法 - Google Patents

タイヤ均一性装置を評価するためのシステム、及び、評価の使用方法 Download PDF

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Abstract

【課題】タイヤ均一性装置を評価するためのシステム及びその評価の使用方法を提供する。
【解決手段】タイヤ均一性装置10は、タイヤを受け取ると共に回転させるための装置を含む。装置は、タイヤを受け取り、膨張させ、回転させるための対向するスピンドルと、タイヤ試験結果を得るべく回転しているタイヤに対して押し当てられる負荷ホイール70と、を有する。スピンドル整列アセンブリは、タイヤが受け取られる度に、前記対向するスピンドルを互いに整列するべく前記対向するスピンドルに関連付けられている。少なくとも1つの評価装置は、前記対向するスピンドルの力を評価するべく前記装置の要素に関連付けられ、前記評価される力は、タイヤ試験結果の調整に用いられる。
【選択図】図1

Description

(関連された出願の相互参照)
この出願は、2012年2月10日に出願された、米国特許出願第13/370,541の一部継続出願であり、参照によって、当該米国特許出願は、ここに援用される。
本発明は、概して、タイヤ試験装置に関連する。特に、本発明は、タイヤ均一性装置の要素を評価することに、関連する。とりわけ、本発明は、通常の試験手順の間にタイヤを評価するためのタイヤ均一性装置の評価を用いることに関連する。
理想的には、タイヤは完全な円であることが望まれる。その内部剛性、寸法及び重量配分ならびに他の特徴は、タイヤの周まわりで一様(均一)であるべきである。しかしながら、通常のタイヤ構造及び製造工程は、そのような理想的なタイヤを大量生産することを困難にしている。つまり、内部剛性、寸法及び重量配分ならびに他の特徴において、ある程度の量の不均一性が、製造されたタイヤに生じる。結果的に、車両の走行の間に、望ましくない加振力が、タイヤにおいて生成される。この加振力によって生成される振動は、車両のシャーシに伝達され、車両の内部にタイヤ振動が伝達される際の震動、ばたつき及び音を含む、様々な車両振動及び騒音を引き起こす。
タイヤの不均一性を評価するための業界標準が、利用可能である。ある方法では、道路面のための代用物として機能する、回転するドラムが、予め定められた押圧力(数百キログラム重)で回転可能に保持されたタイヤを押す、または、タイヤが、回転するドラムに対して予め定められた押圧力で押される。タイヤ及び回転するドラムは、それらの各回転スピンドルのまわりに回転することが可能であり、いずれか1つが回転するときに、他のものも回転させられる。
この状態では、タイヤまたは回転するドラムは、回転可能に駆動され、タイヤは、1分間に60回転で回転する。タイヤが回転することで、タイヤの不均一性によって生成される加振力が生じる。この加振力は、タイヤまたは回転するドラムを回転可能に支持するベアリングに設置される、あるいは、このベアリングに取り付けられた部材に設置される、1つまたは複数の力計測装置(例えば、ロードセル)によって計測される。計測された値から、タイヤの不均一性を評価するように機能する指標が計算される。この測定は、均一性の測定と呼ばれている。
測定が実行されたタイヤは、指標から得られる不均一性が許容限界内である場合と、そうでない場合と、に分類される。可能な範囲において、不均一性が許容限界から外れるタイヤは、不均一性を減少させるための処理を受ける。処理されたタイヤは、次に均一性の測定を再度受けて、不均一性が許容限界内の場合は、そうでないタイヤから分離される。
上述された手順を通して、「不均一性が許容限界内」と判断されたタイヤのみが選択され、消費者に出荷される(または、タイヤ評価手順の次の工程に送られる)。
現在のタイヤ均一性装置は、効果的であるとは考えられるが、一層の向上が得られ得ると考えられる。現在のタイヤ均一性装置は、時々、矛盾する試験結果を提供する。均一性装置が信頼できるか否かを決定する際、装置が一貫してタイヤの不均一性を検出及び測定することを確認するために、同じタイヤが5回試験されるだろう。追加的なサンプリングのタイヤもまた、次に、同じ均一性試験を受ける。試験結果のこの収集から、実際の結果を抽出するために、様々なフィルターが生成され得て、製品タイヤに適用され得る。当業者は、試験結果のフィルタリングが不所望に試験手順に時間を付加することを、認識するであろう。フィルタリングはまた、許容可であるタイヤを除外するようにフィルターが設定され得るとか、さらに問題なのは、不可であるタイヤが許容されて通過し得る、という心配も生じさせる。
1つの手法は、試験下のタイヤの実際の均一性に悪影響を与えるタイヤ均一性装置の要素の評価プロットを生成することである。均一性装置の要素によって与えられた力はそれぞれ、装置ごとに変わる、それら自身の特有の評価(特徴)を有することが、決定される。例えば、ある均一性装置における回転するドラムは、他の装置における回転するドラムとは異なる特徴を有する。タイヤの表面に接する回転ドラムの各々、及び、タイヤのビード(内縁)に係合する上側及び下側のスピンドルとチャックアセンブリの各々は、装置によって検出される均一性の測定にエラーを与える特有の力の特徴を有していると、考えられる。また、負荷ホイール及びスピンドルの特徴を適切に評価するための従来の試みは、不十分であると考えられる。特に、従来の方法は、上側及び下側のスピンドルとチャックアセンブリの角度位置または回転位置の間の違いを適切に考慮していない。結果的に、スピンドル及びチャックアセンブリの異なる角度位置は、タイヤ均一性測定を正確に表さないというように、適切にフィルタリングされない、または、フィルタリングされた測定をゆがめる、タイヤ均一性測定への力付与に帰結してしまう。したがって、この分野においては、スピンドル及びチャックアセンブリの正確な評価を生成することの必要性、及び、この分野においては、前記評価が一貫して試験されるタイヤに適用されるように、上側及び下側のチャックアセンブリを整列する必要性が、ある。
上記の観点において、本発明の第1の態様は、タイヤ均一性装置を評価するためのシステム及びその評価の使用方法を提供することである。
本発明の他の態様は、タイヤ均一性装置であって、タイヤを受け取ると共に回転させるための装置であって、前記タイヤを受け取り、膨張させ、回転させるための対向するスピンドルと、タイヤ試験結果を得るべく回転しているタイヤに対して押し当てられる負荷ホイールと、を有する装置と、タイヤが受け取られる度に、前記対向するスピンドルを互いに整列するべく前記対向するスピンドルに関連付けられたスピンドル整列アセンブリと、前記対向するスピンドルの力を評価するべく前記装置の要素に関連付けられた少なくとも1つの評価装置と、を備え、前記評価される力は、タイヤ試験結果の調整に用いられることを特徴とするタイヤ均一性装置を提供すること、である。
本発明のさらに他の態様は、タイヤを試験するための方法であって、装置内に一度に少なくとも1つの制御タイヤを受け取る工程であって、前記制御タイヤの各々は、公知の特性を有する、という工程と、受け取られた前記少なくとも1つの制御タイヤの各々のために、同じ角度位置に、スピンドルを角度に関して整列する工程と、前記少なくとも1つの制御タイヤに負荷ホイールを押し当てて、負荷ホイール力を発生させる工程と、前記負荷ホイールの角度位置を検出する工程と、前記負荷ホイールの前記角度位置に、前記負荷ホイール力を関連付ける工程と、前記角度に関して整列されたスピンドル、前記負荷ホイールの角度位置、及び、前記負荷ホイール力から、前記スピンドルの評価波形を生成する工程と、を備えることを特徴とする方法を提供すること、である。
本発明のこの及び他の特徴ならびに利点は、以下の詳細な説明、添付された請求項、及び付随する図面に関して、より理解され得るだろう。
図1は、本発明の概念によるタイヤ均一性装置の概略図である。 図2は、タイヤ均一性装置に用いられる負荷ホイールの斜視図である。 図3は、本発明の概念による負荷ホイール評価処理を示すフローチャートである。 図4は、タイヤ均一性装置によって試験されるタイヤの解析に用いられる予想波形を得るために、公知の弾性係数のタイヤを使う負荷ホイール評価波形である。 図5Aは、本発明の概念によるスピンドル評価処理を示すフローチャートである。 図5Bは、本発明の概念による代替的なスピンドル評価処理を示すフローチャートである。 図6は、タイヤ均一性装置によって試験されるタイヤの解析に用いられる、例示的なスピンドル評価波形である。 図7は、装置評価波形を用いるタイヤ試験を示すフローチャートである。 図8は、図1に示されたタイヤ均一性装置に用いられる、本発明の概念によるスピンドル整列アセンブリの正面図である。 図8Aは、タイヤ均一性装置の一部であるリムの下側に係合するスピンドル整列アセンブリのローラーアセンブリの代替的な実施の形態の拡大図である。 図9は、スピンドル整列アセンブリの側面図である。 図10は、スピンドル整列アセンブリの斜視図である。 図11は、本発明の概念及び関連のタイヤ試験処理による代替的なスピンドル評価処理を示すフローチャートである。
図面、特に図1を参照し、符号10によって概略的に示されるタイヤ評価装置が理解され得る。当該装置は、水平ボトムフレームメンバ14及び水平トップフレームメンバ16によってそれぞれの端部で接続された、サイドフレームメンバ12を含んでいる。サイドフレームメンバ12及びフレームメンバ14,16は、その内側で、大文字のTによって概略的に示されるタイヤが受け取られ、試験され、解放される、箱状の構造を形成している。
コンベヤ18が、それらの間にタイヤTが装置10に運ばれる開口を有するローラーを有して構成されている。それぞれのタイヤTは、タイヤの内径を形成する内縁(ビード)28を有する実質的に平行な側壁26に、隣接するトレッド(設置面)24を含む。
装置10は、タイヤを受け取ると共に回転させるための装置、特に、下側スピンドル及びチャックアセンブリ32と、上側スピンドル及びチャックアセンブリ34と、を備える。下側及び上側のスピンドル及びチャックアセンブリは両方とも、必要に応じて、タイヤの内縁の径に整合するように様々なサイズであり得る、取り外し可能なリム30及び48が装着されている。下側スピンドル及びチャックアセンブリ32は、フレームメンバ12及び14によって移動及び支持され、且つ、コンベヤ18によってタイヤが支持されたときにタイヤに係合するように、位置決めされている。特に、下側スピンドル及びチャックアセンブリ32は、シリンダ44の中に収容されたピストン42を保持するシャフト40を提供する油圧ユニット38を含む。適切なタイミングで、前記油圧ユニットは、タイヤを試験位置に動かすために、コンベヤ18における開口を通して、タイヤ、特に、下側の内縁28に係合する。
上側スピンドル及びチャックアセンブリ34は、下側スピンドル及びチャックアセンブリが、当該下側スピンドル及びチャックアセンブリに取り付けられたリム30で、タイヤの内縁28に対向する側壁26に係合するときに、リム48で、タイヤTの他方の側を受け取る。上側スピンドル及びチャックアセンブリ34は、スピンドル50によって回転されるリム48を含み、アセンブリ34はまた、スピンドル受け、リム結合部、及び他の関連される要素を、含み得る。スピンドル50は、モータ52、及び、スピンドル50をモータに接続する関連し合うベルトドライブ54、によって駆動される。
要するに、操作において、タイヤは、コンベヤ18に沿って搬送されると共に、適切な位置で停止され、下側スピンドル及びチャックアセンブリが、タイヤTの下側の対向面に係合し得る。下側リムアセンブリは、次に、タイヤ試験処理を始めるべく、そこにおいてタイヤが膨張されると共に次に回転される、上側リムアセンブリとの係合状態にタイヤを動かす。
タイヤエンコーダ56は、回転の間、タイヤTの回転位置を監視するべく、上側スピンドル50によって支持される。エンコーダ56は、タイヤの円周を均等の領域に分割する信号A、及び、時間通りに、与えられたポイントで円周に固定された単一の信号を指示する信号Bを生成する。したがって、モータの操作は、エンコーダ56によって監視され得る。
タイヤ膨張システム64は、望ましい圧力にタイヤ圧力を制御するべく、タイヤの空気圧及び空気圧制御装置66を監視する空気圧変換器65を含んでいる。前に示されたように、チャックアセンブリがタイヤに係合した後、タイヤは、タイヤの試験の前に、望ましい圧力に、膨張システムによって膨張される。空気圧変換器65は、圧力信号Cを生成する。
負荷ホイール70は、タイヤに負荷をかけると共にタイヤ均一性のための試験をするために、タイヤTとの接触の状態の内外に水平に移動する。図2において最も良く理解されるように、負荷ホイールは、シャフト72を含み、シャフト72は、これを貫通する穴74を有する。負荷ホイールは、少なくとも2つの実質的に平行であり、離れて配置されたプレート78によって構成されているが、1つのプレートまたは複数のプレートが用いられ得ることは、認識され得る。プレート78の各々は、負荷ホイールの重さを減少させるために、複数の開口80を設けられ得る。プレート78の外径は、図1に示されるようなタイヤトレッドに係合する半径方向表面82を支持する。当業者は、材質、溶接、及び機械加工等を含む負荷ホイールの全体の構造が、負荷ホイール70及びそして装置10の評価及び操作に影響を与えることを、理解し得る。同じ構造的な懸念が、タイヤ、上側スピンドル及びチャックアセンブリ34、上側リム48、下側スピンドル及びチャックアセンブリ32、下側リム30、及び、タイヤ膨張システム64に接触及び係合する装置10の他の要素にも当てはまる。これらの要素は、どんなにわずかであっても、その試験処理の間、タイヤから収集される試験データに、影響を与える。
図1に戻り、フレームメンバによって保持されたキャリッジ88内に設置され、またフレームメンバ12によって搬送されるモータ及びギヤアセンブリ76によってタイヤに係合するための位置の内外に動かされる、負荷ホイールが理解され得る。少なくとも1つのロードセル84が、負荷ホイール70に関連付けられ、回転運動の間、タイヤによってホイールに及ぼされる力を検出する。ロードセルの各々が、ロードセル信号D及びD’を生成する。1つのロードセルが用いられ得るが、第1のロードセルの読み取りを確認するため、または、負荷の力を分けるため、または、タイヤ構造におけるわずかな変動を検出するために、追加のロードセル84が設けられる得ることが、理解され得る。
負荷ホイールエンコーダ86が、負荷ホイールの回転または角度位置を検出するために、キャリッジ88によって運ばれる。エンコーダ86は、エンコーダ信号Eを生成する。
コンピュータ92は、タイヤ均一性装置の特定の要素を評価するために、及び/または、試験処理の間に生成された他に検出された測定値を入手するために、コントローラ90を通して、信号A−Eを受信する。したがって、これら信号は、試験下で、タイヤによって及ぼされる可変の力を監視し、また、試験の間、タイヤに力を与えるタイヤ均一性装置の要素を解析するべく、それらの公知の機能を実行する。コントローラ90はまた、試験のためにタイヤTを装置へ動かすと共に準備するのに必要とされる、モータ、バルブ、サーボ、及びコンベヤを操作する信号を生成するために用いられる。コントローラ90は、データを表示できると共に収集でき、且つ、信号A−F及び収集された他のデータ信号によって表現されるものとして収集されたデータを演算できると共に解析できるという、コンピュータ92に接続される。当業者は、コントローラ90及びコンピュータ92が、装置の要素を制御するべく同時にまたは別々に動作し得て、かつ製造業者によって使用可能なフォーマットに、収集されたデータを処理及び表現し得ることを理解するだろう。さらに、コンピュータ及びコントローラは、装置の操作及び説明されるべき評価処理を実行及び実施するために必要である必要なハードウェア、ソフトウェア、メモリーを含む。
一般的に、タイヤ均一性装置の特定の要素の監視は、装置の機械的な挙動を評価するためになされ、そこで、コンピュータは、製品タイヤの試験の間、装置の機械的な状況によって引き起こされる望ましくない影響を除去する。装置の評価の利用は、検出された測定が、有効な試験結果として用いることに適しているかどうかを決定し、そして、装置の機械的な評価に基づく解析によって、装置の機械的部分、測定装置等が原因と考えられる望ましくない波形特性が、除去され得る。これら望ましくない波形特性は、いま、コンピュータ及びソフトウェアの処理によって、特別に特定され得る。したがって、測定の精度及び前回の測定への一致性(繰り返し性)の両方を落とす、波形の望ましくない一部は、調整され得る。
評価処理を実行するために、図3が参照されると、そこには、負荷ホイール評価処理が、符号100によって概略的に示されている。この処理では、公知のばね定数値を有する、低ばね定数のタイヤが、装置に載置されている。ステップ102において、例えば、800ポンド/インチのばね定数のタイヤが、装置10に載置される。次に、ステップ104で、バッファメモリを保持すると共に、評価処理を実行するために必要とされる、ハードウェア、ソフトウェア、及び他のメモリー要素を提供するコンピュータ92が、タイヤ均一性装置の要素のいずれかによって収集されるデータ、特に、信号A−E及びとりわけロードセル信号D,D’並びにエンコーダ信号E、の受け取りためのバッファを準備する。ここに用いられているように、「ばね定数」は、回転するタイヤを保持するスピンドルに向けて前進された負荷ホイールの距離の各単位に対しての、載置され膨張されたタイヤで測定されたときの半径方向の力における増加分のことである。
負荷ホイールは、完全な円であることは決してないので、負荷ホイールによって回転するタイヤに押し付けられるいくらかの量のずれは、したがって、タイヤのばね定数に直接的に関連する測定可能な半径方向の力に及ぶ。負荷ホイール周りでのN個の均等に間隔をあけられた角度の分割のために、この力は、その特定のばね定数で負荷ホイールの力の影響を評価する、N個のポイントの波形、に測定及び編集される。N個のポイントのうちのいくつかが、使われ得るが、ほとんどの実施の形態において、少なくとも100個のN個のポイントが要求される。したがって、ステップ104においてバッファの準備が完了した後、タイヤを回転させる装置は、ステップ106で、負荷ホイールの様々な角度位置で角度波形の力を記録する。
本実施の形態の負荷処理の間、タイヤが暖まって、且つ負荷ホイールでの静的位置に落ち着くために、タイヤが少なくとも100回転まで回転されることが許容されることは、認識され得る。バッファが確立された後、タイヤは少なくとも600回転以上まで回転されることが許容され、そこで、タイヤ周りでのM個の均等に間隔をあけられた角度による、M個のポイントの半径方向の力の波形(通常100ポイント)、および、負荷ホイール周りでのN個の均等に間隔をあけられた角度による、それぞれの波形収集の開始地点での負荷ホイールの回転位置が、それぞれの回転数のために、記録される。次に、ステップ108において、コンピュータは、N個の波形の平均波形を計算する。これは、記録された各波形のためにセーブされた負荷ホイールの回転位置を調査することによって、なされる。この回転位置は、最も近い整数のモジューロNに丸められて、これは、位置Pとして示される。各位置Pのために、コンピュータ92は、負荷ホイールの開始の回転位置がPであるところで収集された、全ての波形の中間値を計算する。この結果的な平均波形は、「平均波形」バッファのPTHの波形として、次に、蓄積される。
次に、ステップ109で、コンピュータ92は、「ベース波形」を計算する。これは、N個の波形の平均波形バッファの全ての指標に跨って蓄えられた全ての波形の中間値を計算すること、及び、「ベース波形」としての結果を蓄えることによって、なされる。
次に、ステップ110で、コンピュータ92は、N個のポイントの「合計された波形」を計算し、その後の比較のために、これをコンピュータ92における適切なメモリーファイルにセーブする。特に、「平均波形」バッファにおけるN個の波形の各々のために、どのように波形が記録されたかに対応する、半径方向の力と負荷ホイールのずれとを含む、M個のポイントのデータ(負荷ホイール位置Pで始まる)が存在する。この負荷ホイールのずれを抽出するために、次のステップがコンピュータによって実行される。「平均波形」バッファにおけるN個の波形の各々における各指標Q(0~M−1)毎に、当該ポイントのための負荷ホイール位置は、最も近い整数Nに丸められた方程式(P+Q×N÷(Nに関して、タイヤの1回転によって占められる負荷ホイール角度の値))によって決定され、これが指定された指標Sである。N個の波形の各々におけるQTHの指標でのポイントは、「ベース波形」のQTHの指標でのポイントによって減算され、次に、「合計された波形」におけるSTHの指標に加算され、そして同時に、STHの指標のための値のカウントが、またインクリメントされる。ループが完結された後、「合計された波形」における各々の指標でのポイントが、その指標に加算された値の全カウントによって、除算され、したがって、「合計された波形」における個々の指標の各々に加算されたポイントの平均が計算できる。最終的に、コンピュータは、結果である「合計された波形」と、ステップ102からのばね定数の値を、選択されたばね定数タイヤのための最終的な負荷ホイールの評価として、コンピュータのメモリーにセーブする。
ステップ114で、低ばね定数タイヤは、装置10からおろされる。次に、ステップ116で、高ばね定数タイヤが、装置に載置される。例えば、高ばね定数タイヤは、1450ポンド/インチ(pounds/inch)のばね定数を有する。
次に、ステップ118で、ステップ104−110が、高ばね定数タイヤのための対応する平均波形と合計された波形を収集するために、高ばね定数タイヤのために繰り返される。次に、ステップ120で、高ばね定数タイヤがおろされる。
ステップ122で、次回の(後の)比較のために、合計された波形からの負荷ホイール評価波形が、生成される。結果となる負荷ホイールの評価波形は、次に、試験される最新のタイヤに適用される。これは、記録されたタイヤ試験波形から負荷ホイールの評価波形を減ずることによって、なされる。
図4を参照し、符号130によって概略的に示される低ばね定数タイヤのための評価波形、及び、符号132によって概略的に示される高ばね定数タイヤのための評価波形が示されていることが、理解され得る。これら評価は、装置10の負荷ホイールの特定の真円度(out of roundness)を示している。したがって、当業者によれば、負荷ホイールのそれぞれが、低ばね定数タイヤ及び高ばね定数タイヤで試験されたときとで異なる評価波形を有することが認識されるだろう。いずれにしても、これら2つの高、低のばね定数波形は、中間のばね定数タイヤに関連付けられる評価波形を予想するべく、推定(外挿)され得る。タイヤ均一性装置によって試験下とされるのは、これら中間のばね定数タイヤであり、この予想値は、通常の試験の下でロードセルによって検出される均一性測定を調整するために、利用され得る。
ここで用いられるように、スピンドル評価という用語は、上側スピンドル、スピンドル受け、リム結合部(それは、この説明において上側チャックとして呼ばれる)、及びリムの全体の評価を指す。スピンドル評価の基本的な概念は、ちょうど負荷ホイールのようなスピンドルのずれであり、結果となる半径方向の力の試験波形において観察されるずれの量が、負荷ホイールの場合と同じように、タイヤのばね定数に直接的に関連付けられること、である。しかしながら、スピンドル評価は、負荷ホイールのそれとは異なり、なぜならば、タイヤは、スピンドル「に」設置されるからである。したがって、タイヤ位置に対するスピンドル位置の割合は、常に、1:1である。異なることになるこの割合は、負荷ホイール評価は、タイヤを600回、回転させること及び負荷ホイールでの異なる位置にそれが接地するところで測定することによって、得られ得るからである。結果として、スピンドル評価を測定するために、異なる方法論が、発展される。
ここに開示された両方の方法のために、負荷ホイールがスピンドルに向けてタイヤに進むインチ毎に対して、負荷ホイールによって見られる半径方向の力のポンド(lbs)によって規定されるばね定数をタイヤが有することを考慮する。試験の間、負荷ホイールの位置が適当なところで固定されたとき、スピンドル及び/またはリムの直径差(out of round)はまた、タイヤの1回転と同等の周期によって繰り返す形式で、タイヤを、負荷ホイールに向けてまたは離すように押し得る。タイヤを把持する上側及び下側リムのずれに結合された、スピンドルの不規則な軌道の振れ回りが、試験の間にタイヤの試験波形の各々に加算された半径方向の力の波形を生成して、不正確な試験結果を結果とするということが、直接的に想定/結論とされ得る。次の手順は、このスピンドル波形をどのように計算(評価)するかを、説明する。一度評価されると、前記波形は、試験データから数学的に減じられ得て、このことが、試験データの正確性が増加される結果に帰結する。
図5Aを参照し、スピンドル評価処理の一実施の形態が、符号150によって概略的に示されている。この処理では、大量の数(L)のタイヤが、タイヤのばね定数に基づき一般化され得る波形のテーブルを生成するために、試験される。しかし、Lは、ある数を表現し得るが、Lの数は、正確なスピンドル評価を提供するために、少なくとも750であるべきと考えられる。いずれにしても、波形のテーブルから平均を用いることによって、コントローラまたはコンピュータは、記録された試験波形から減ずるべく、及び、タイヤの特性の正確な描写(picture)を生成するべく直接的に使われ得る、スピンドル評価波形を計算し得る。
処理150は、大量のタイヤが負荷ホイール70によって試験されると共に、各タイヤのための波形がバッファにセーブされるステップ152で始まる。このバッファは、「タイヤ波形」として呼ばれ得る。負荷ホイール評価処理においては、各波形が、タイヤエンコーダ56によって検出されたものとしてのタイヤ周りのM個の位置に関連付けられ得る。本実施の形態においては、各試験波形が、既にその波形(負荷ホイール評価波形)が取り除かれた負荷ホイール評価手順を有することが、理解され得る。しかし、ある実施の形態では、スピンドル評価波形のみが、試験されるタイヤの波形を調整するべく用いられ得る。いずれにしても、この時には、スピンドル評価は、取り除かれない。ステップ154で、試験波形におけるM個のポイントの各々が、現在の試験下のタイヤのばね定数によって分割される。ある実施の形態では、現在の試験下のタイヤがまた、「タイヤ波形」バッファにデータを加えることに用いられる制御タイヤとして呼ばれ得る。ステップ154において、タイヤ波形バッファにおけるタイヤ波形の全ては、同じばね定数に標準化される。言い換えると、各タイヤが試験されるとき、そのタイヤのばね定数は、新しく挿入される波形の各データポイントを分割するべく用いられる。当業者は、試験下のタイヤのばね定数が、ロードセル84,84’によって生成される信号D,D’によって決定されることを、理解するだろう。ステップ156で、結果となる波形は、「タイヤ波形」バッファにおける新しく入手可能な指標の中に蓄積される。「タイヤ波形」バッファにおける全ての入力(entries)が溢れたならば、次に、最も古い波形試験結果が、バッファから消去され、最も新しい波形、つまり追加されるものが、保持され、常に、「タイヤ波形」バッファには、L個の入力がある。
ステップ158で、「タイヤ波形」バッファがL個の入力を一度有すると、そのバッファは、スピンドル評価を計算するために用いられ得る。これは、「タイヤ波形」バッファにおけるL個の波形全ての平均をとること、及び、この「平均波形」を呼び出すことによって、成し遂げられる。ステップ160で、「平均波形」におけるM個のポイント各々は、次に、現在の試験下のばね定数によってかけ算される。言い換えると、平均波形の標準化された平均は、現在のタイヤのばね定数によって、かけ算される。これは、現在のタイヤのばね定数に基づくスピンドル評価波形の生成する結果となる。
結果となるスピンドル評価波形によって、当該波形は、試験されている現在のタイヤに適用され得る。これは、記録されたタイヤ試験波形からスピンドル評価波形を減ずることによって、なされる。
図5Bを参照し、スピンドル評価処理の他の実施の形態が、符号170によって概略的に示されている。この処理では、前の実施の形態よりも比較的少ない数が、スピンドル評価波形を生成するべく試験され得る。
処理170は、ある単一のタイヤを試験することによって始まり、好ましくは、タイヤは、負荷ホイール評価の間に望まれることについて同等の低いRPPを有する。試験パラメータは、通常の試験膨張圧で操作すると共に、選択されたタイヤを載置するために、立ち上げられる(セットアップされる)。N個(いくつかの数)の別個の試験は、実行されるべきであり、そこで、タイヤは、スピンドル周りにN個の異なる位置(角度)に回転される。N個の試験のそれぞれは、平均化され、結果となる平均波形は、その特定のばね定数のタイヤのためのスピンドル評価として、示される。ステップ172で、技術者は、チョークまたは他の同等のマーキング物質によって制御タイヤ周りにN個の等間隔をあけて配置される角度に印を付与するだろう。タイヤは、第1の角度でスピンドルに配置されるように向けられる。次に、ステップ174で、技術者は、タイヤをつかんで膨張させ、制御タイヤに接触するように、適切な試験位置に負荷ホイールを前進させる。予め定められた数(例えば、10)の回転の後、タイヤは、負荷ホイール評価と同様の態様で、負荷ホイールでの位置に落ち着く。そして、ステップ174で、コンピュータは、それが次々に回転しているときの制御タイヤからのタイヤ波形(回転力データ)の15のような数を記録する。各回転の測定は、同じ正確なスピンドル位置で、始まると共に終わる。各記録された波形は、全ての負荷ホイールの影響を減じられなければならない。言い換えると、負荷ホイールは、この手順を始める前に、既に評価されていなければならない。15個の波形の各々が記録されたとき、各波形は、波形の平均によって波形における全ての値を減じることによって、ステップ176で標準化される。15個の標準化された波形の全ては、次に、角度位置「N」で、結果となる波形を計算するために、一緒に平均化される。次に、ステップ178で、負荷ホイールが下ろされ、収縮されたタイヤ及びタイヤチャックが、下方に移動される。ステップ180で、コントローラ及び/または技術者は、全ての角度位置「N」が評価されたか否かを、決定する。そうでなければ、次にステップ182で、適所にスピンドルアセンブリの上側及び下側のリムが固定されるように保持する(つまり、スピンドルの上側及び下側のリムは移動されてない)一方、技術者は、タイヤを、1/N(つまり、次のマークされた角度に)回転だけ回転させ、タイヤの残り(N−1)の角度のために、ステップ174−ステップ180を繰り返す。
次に、ステップ184で、コントローラは、与えられたばね定数のタイヤのためのスピンドル評価波形を計算するために、N個の波形全てを一緒に平均化する。最後に、ステップ186で、コントローラは、タイヤのばね定数によってスピンドル評価波形における各値を分割し、次に、コントローラによって保持されているコンピュータメモリに結果となる波形に蓄積する。
試験される、後の製品タイヤ全てのために、蓄積された波形における全ての値は、各タイヤの特有のばね定数によってかけ算され、タイヤのばね定数は、前もって引き出される。これは、その特定のタイヤのためのスピンドルの結果を減じるべく用いられ得る、新しい個別の波形を生成する。タイヤが試験されるとき、タイヤの試験波形における各値は、次に、個別のスピンドル評価波形における関連する値によって減じられる。後の試験タイヤ波形は、以下に説明されるように、オリジナルスピンドル評価が計算されたときに、同じスピンドルエンコーダ位置で始まると共に終わるように向けられることが、想定される。
本スピンドル評価の実施の形態では、スピンドル評価波形の得られた「解決策」は、スピンドル周りに測定される追加的なN個の異なる角度の各々のために、増加する。N個のために選択された値は、タイヤの構成または構造において繰り返す特徴に、等しくないべきであり、または、当該特徴の倍数でないべきであることは知っておくべきである。例えば、タイヤが9分割された金型を使って製造された場合、N個のために9の値を使うことは、スピンドルにおけるリムのずれではなく、金型における各区分の欠陥またはパターンに向けて偏るスピンドル評価波形を生成し得る。例えば、9分割に成形されたタイヤでは、N=7または11の異なる角度によって、良い結果が得られる。Nが少なくとも7及び31もの数となる最適な数値が、全て良い選択であることは、知っておくべきである。
図6に示されるように、例示的なスピンドル評価波形が示されている。したがって、各タイヤの波形は、タイヤ均一性のための公知の望ましいパラメータに比較される最終の結果を提供するために、試験されたタイヤの公知のばね定数の値に基づくスピンドル評価波形によって、埋め合わされる。当業者は、タイヤ均一性装置が、リムや上側チャックアセンブリの他の要素の交換のような、機械的な変化または応力を経るか、または物理的な衝撃の事象が起こる場合に、「タイヤ波形」バッファが再起動され、且つ、スピンドル評価を再計算する前に制御タイヤがもう一度試験されるべきことを、理解するだろう。
図7を参照し、装置評価波形を利用するタイヤ試験が、符号200によって概略的に示されている。この処理では、試験下のタイヤが、ステップ202で装置の中に載置され、負荷力が、負荷ホイールを、それが回転している時のタイヤと接触するところまで動かすことによって、測定される。これら負荷力は、ステップ204で測定され、ステップ206で、コンピュータは、負荷ホイール評価処理100及び/またはスピンドル評価処理150において決定された、推定された評価波形によって、測定された負荷力を調整する。これら負荷力が調整された後、ステップ208で、調整された波形が、試験下のタイヤの特定の値が許容範囲内であるか否かを規定する試験標準に対して、チェックされる。そして、ステップ210で、試験下のタイヤは、合格/不合格の指定によって、許容可能または許容不能のいずれかとして、マークされる。合格されたそれらのタイヤは、タイヤ製造処理に進むことを許容される一方、許容不能のタイヤは、製造処理から外されて、更なる評価を経る。
図8乃至10を参照し、スピンドル整列アセンブリが、符号300によって概略的に示されている。スピンドル整列アセンブリ300は、図1乃至7に前に説明されると共に示されたタイヤ均一性装置10に協働して、用いられる。説明が進むに従って明らかになるように、スピンドル整列装置300は、次により正確にタイヤを試験する結果となる、より正確なスピンドル評価を得るために、上側スピンドルに下側スピンドルを整列するべく、利用される。アセンブリ300は、フレームメンバ12、14または16に設置され得るが、示される実施の形態では、アセンブリ300は、フレームメンバ14に取り付けられている。スピンドル整列アセンブリは、下側スピンドル及びチャックアセンブリ32及び特にリム30に係合するために作動する。装置300は、次にリム30を、予め定められた回転または角度位置に回転させる。説明されるように、この回転整列は、下側スピンドル及びチャックアセンブリを上側スピンドル及びチャックアセンブリ34に整列するように、なされる。言い換えると、上側スピンドル及び下側スピンドルは、タイヤが装置10内に受け取られ、試験される度に、互いに角度に関して整列される。言い換えると、新しいタイヤが受け取られる度に、上側スピンドル及びチャックアセンブリ、下側スピンドル及びチャックアセンブリは、互いに同じ関連する位置にある。
スピンドル整列アセンブリ300は、フレームメンバ14またはタイヤ均一性装置10の他の構造要素に、溶接または別の方法で固定され得る設置ブラケット302を含む。設置ブラケット302から実質的に垂直に延びるのは、静止フレーム304である。少なくとも1つの垂直ガイドレール306は、前記静止フレームに固定され得る。示される実施の形態では、2つの垂直ガイドレールが、設置ブラケット302の反対側の静止フレーム304の側にある。複数のガイドレール306が設けられる場合には、それらは平行に配列され得ることは、理解されるだろう。さらに、他の実施の形態が、スロット(溝)またはその他の特徴のような、他のガイド機構を利用し得ることは、理解されるだろう。ベースプレート308が、静止フレーム304の端部に固定され、スピンドル受け面を提供する。ある実施の形態では、ベースプレートは、装置10も支持する床によって構造的に支持され得る。
直線レールアセンブリ310は、静止フレーム304に滑り移動可能に設置されている。アセンブリ310は、要素面320の反対側のガイド面318を有する荷台プレート312を含む。荷台プレート312はまた、ベースプレート308に最も近い端部の反対側であるローラー端部322が設けられている。少なくとも1つの荷台レール326が、ガイド面318に設けられ、静止フレーム304によって設けられた垂直ガイドレール306に滑り移動可能に係合する。荷台レール306が、荷台プレート312に垂直移動を許容することが、理解されるだろう。言い換えると、荷台プレート312は、静止フレーム304に関して上下移動し得る。
要素面320に設置されているのは、そこからピストン332がスピンドル方向に延びる空気シリンダ330であり得る。ピストン332の一端は、ベースプレート308に設置された整列カップリング(結合部)334に接続されている。整列カップリング334は、空気シリンダの操作、結果として、フレーム304についての直線レールアセンブリ310の垂直位置を制御するために、コントローラ90から入力Fを受け取る。当業者は、シリンダ330が、油圧的にまたは電気的に作動するように構成され得ることを理解するだろう。
ローラーアセンブリ340はまた、要素面320、特にローラー端部322に、設置されている。ローラーアセンブリ340は、要素面320に設置されたプーリーモータ342を含む。プーリーモータ342からスピンドル方向に延びているのは、駆動スピンドル342である。モータ342は、モータの操作を制御するために、コントローラ90から入力Gを受け取る。駆動プーリー348は、駆動シャフト344に接続され、タイミングベルト350の回転位置を制御するために、何かしらの態様で、構成され得る。
ローラーアセンブリ340に関連付けられているのは、ローラー端部322に設置された移動可能フレーム352である。移動可能フレーム352は、ガイド面318、要素面320、及びローラー端部322のうちの少なくとも1つに、または、これら3つの面全てに、設置され得る。いずれにしても、移動可能フレーム352は、それぞれが支承部356を保持する、一対の対向されたフランジ354を含む。ゴムローラ360が、対向されたフランジ354の間に受け入れられ、スピンドル362が、関連する支承部356内に回転可能に受け入れられた両端部からスピンドル方向に延びる。スピンドル362は、フランジ354を通して延び、タイミングベルト350によって駆動プーリー348に結合されている被動プーリー364を含む。
図8Aに示される代替的な実施の形態では、ローラー360が、複数のギア歯365を設けられ得る。歯365は、リム30の下側によって設けられた係合ソケット366にかみ合うように構成されている。歯365及びかみ合いソケット366は、互いによって容易に係合されるように構成され得る。そして、歯はリムによって設けられ得て、ソケットはローラによって設けられ得ることが、理解されるだろう。
フラグ368または他の同様のしるしが、リム30の下側に設置され得る。近接スイッチ366は、リム30が特定の向きに回転されるときにフラグ368を検出できるようにするために、下側スピンドル及びチャックアセンブリ32に設置され得る。近接スイッチ366は、コントローラ90によって受信される入力Hを検出する。したがって、入力Hが、フラグ368が近接スイッチ366によって検出されたことを指示するとき、下側リム、したがって、接続された下側スピンドル及びチャックアセンブリの正確な角度向きは、知られる。言い換えると、スピンドルの角度向きは、フラグの位置を知ることによって、決定され得て、関連されたスピンドル及びリムを望ましい位置に回転させる。
操作においては、コントローラ90は、下側スピンドルを上側スピンドルに整列するために、操作される。前述したように、コントローラは、上側スピンドル50の正確な角度向きを知るために、エンコーダ56から入力を受け取る。知られた上側スピンドルの角度位置によって、コントローラは、スピンドル整列アセンブリ300の操作を制御し、下側リム30が、上側スピンドルの角度向きに整列された角度向きに動かされ得る。とりわけ、エンコーダ56から上側スピンドルの角度向きを知っているコントローラ90は、直線レールアセンブリ310を、ローラーアセンブリ340がリム30に係合するような位置に動かすために、信号を生成する。言い換えると、コントローラ90は、整列カップリング334によって受信される入力信号Fを生成し、そして、油圧または空気圧のいずれかが、シリンダピストン332を動かすために利用され、ゴムローラ360がリム30に係合する。この係合が一度完了すると、コントローラ90は、ラバーローラー360を回転させるために、ベルト350によって被動プーリー364の回転を次に引き起こす駆動プーリー348の回転を開始するプーリーモータ342によって受信される信号を生成する。この回転は、リムに伝達され、リムは、上側スピンドルの角度位置に整合するために、角度に関して傾く。追加的な力が必要とされる場合、ローラー360及びリム30は、リムを動かすためのより大きい摩擦力を提供するために、ギア歯365及びかみ合いソケット366を設けられ得る。いずれのバリエーションにおいても、回転は、近接スイッチ366がフラグ368を検出するまで、または、リムがフラグの検出後に予め定められた量まで回転されるまで、続く。このとき、コントローラは、駆動プーリー348の回転を止め、リムから離れるようにローラーアセンブリを下げるようにピストンに信号を送る。整列されたスピンドルによって、コントローラは、チャックアセンブリ32及び34によってタイヤを適所に固定するべく、望まれる操作を初期化し、望ましい試験操作を完了する。
説明された上側スピンドルを下側スピンドルに整列する機械的な操作及び手順によって、負荷ホイールによってそれが試験されているときに、タイヤに上側及び下側スピンドルの両方によって与えられた力の評価が、決定され得ることが、理解されるだろう。
したがって、図11を参照し、タイヤ均一性装置10に協働した、スピンドル整列操作アセンブリの操作のための方法論が、符号400によって概略的に示されている。ステップ402で、上側スピンドルの角度位置が決定される。説明したように、これは、コントローラ90によって受信される入力を生成するエンコーダに56よって与えられる。次に、ステップ404で、下側スピンドルの角度位置が決定され、まだ上側スピンドルに整列されていない状態の場合、次に、ステップ406で、上側スピンドルの角度位置に整合するように、前述したように、下側スピンドルが、整列アセンブリ300によって回転される。整列が完了したとき、整列アセンブリは、リム30から離脱する。このとき、試験を経るべきタイヤは、チャックアセンブリを、それらの適切な方向に移動し、タイヤを膨張させ、回転させることによって、リムの間に固定される。次に、試験下のタイヤは、負荷ホイール70によって係合され、タイヤは、ステップ412で適用される評価波形によって試験される。この評価処理は、前述したように図5A及び図5Bにおいて完全に示されている。
当業者は、上側スピンドル及び下側スピンドルの両方を互いに整列することによって、そのリムの真円度、または、上側及び下側スピンドルアセンブリにおける他の構造的特徴、及び、それらが試験タイヤにどのように力を適用するかのいずれかが、評価波形において考察され補償され得る、ということを理解するだろう。したがって、スピンドル力が適切に評価された後、試験を経るべき各タイヤのために、ステップ406でスピンドルが整列される。言い換えると、評価波形が得られた後、その波形は、図7に関して説明された態様で、試験タイヤにおいて利用され得る。
前述に基づき、本発明の利点は、容易に明らかである。装置の要素を評価することによって、それらの評価が、タイヤを試験する装置の評価を正確に決定するために、負荷ホイールでの高い地点及び低い地点を正確に特定するべく、及び/または、スピンドル変化のために調整するべく、使用され得る。さらに、上側及び下側スピンドルを互いに整列することによって、それらの力が、より正確に評価され得る。言い換えると、評価及び/または試験処理の間、上側及び下側スピンドルが互いに整列されていない場合、スピンドル力を誤って評価すると共に望ましくないタイヤ均一性試験の結果を起こす角度と力の組合せが、起こり得る。いずれにしても、これらの改良された手順によって、評価は、負荷ホイール、スピンドル要素、または他の装置が、検出される測定が正確であることを保証するために、交換される間に、更新され得る。これは、装置に伴う真円度または他の問題を取り除くために、負荷ホイール及び装置の他の要素における欠陥に基づく試験パラメータを調整することを許容する。装置評価波形を利用するタイヤの不均一性を正確に決定することによって、タイヤ試験結果の信頼性は、増加する。
したがって、本発明の目的は、上で表現された使用のための構造及びその方法によって満足されたことは、理解され得る。特許法に関連し、ベストモード及び好ましい実施の形態だけが詳細に表現されると共に説明されたが、本発明は、それにまたはそれによって限定されないことは理解されるべきである。したがって、発明の実際の範囲及び幅の理解のために、以下の請求項への参照がなされるべきである。

Claims (14)

  1. タイヤ均一性装置であって、
    タイヤを受け取ると共に回転させるための装置であって、前記タイヤを受け取り、膨張させ、回転させるための対向するスピンドルと、タイヤ試験結果を得るべく回転しているタイヤに対して押し当てられる負荷ホイールと、を有する装置と、
    タイヤが受け取られる度に、前記対向するスピンドルを互いに整列するべく前記対向するスピンドルに関連付けられたスピンドル整列アセンブリと、
    前記対向するスピンドルの力を評価するべく前記装置の要素に関連付けられた少なくとも1つの評価装置と、を備え、
    前記評価される力は、タイヤ試験結果の調整に用いられることを特徴とするタイヤ均一性装置。
  2. コンピュータを更に備え、
    前記少なくとも1つの評価装置は、前記コンピュータによって受信する評価信号を生成し、前記コンピュータは、タイヤ試験結果を調整するべく前記評価信号を用いる
    ことを特徴とする請求項1に記載のタイヤ均一性装置。
  3. 前記対向するスピンドルのうちの1つに関連付けられたフラグと、
    前記フラグを監視すると共に前記コンピュータによって受信される近接信号を生成する近接スイッチと、
    を更に備え、
    前記近接信号に基づいて前記第1及び第2のスピンドルが互いに整列されるように、前記コンピュータは、前記スピンドル整列アセンブリを制御する
    ことを特徴とする請求項2に記載のタイヤ均一性装置。
  4. 前記装置は、前記スピンドルの各々に関連付けられたリムを含み、
    前記スピンドル整列アセンブリは、
    滑り移動可能で、前記コンピュータによって制御される直線レールアセンブリと、
    前記直線レールアセンブリに設置されたローラーアセンブリと、
    を有し、
    前記ローラーアセンブリは、コンピュータによって制御され、前記直線レールアセンブリの動作によって前記リムに係合する駆動ローラーを有し、
    前記駆動ローラーは、関連された前記スピンドルと前記リムとを前記他のスピンドルと一列に並べて動かす
    ことを特徴とする請求項3に記載のタイヤ均一性装置。
  5. 前記駆動ローラーは、複数の歯を有し、
    前記リムは、前記リムを動かすのを促進するべく前記複数の歯によって係合される複数のソケットを有する
    ことを特徴とする請求項4に記載のタイヤ均一性装置。
  6. 前記負荷ホイールに関連付けられると共に、前記コンピュータによって受信されるロードセル信号を生成する少なくとも1つのロードセルと、
    チャックアセンブリの1つから延びる第1のスピンドルに関連付けられると共に、前記コンピュータによって受信される位置信号を生成するエンコーダと、
    を更に備え、
    前記コンピュータは、参照タイヤのためのスピンドル評価波形を生成するべく、整列後に、前記位置信号及び前記ロードセル信号を処理する
    ことを特徴とする請求項3に記載のタイヤ均一性装置。
  7. 前記コンピュータは、各参照タイヤのために、前記位置信号及び前記ロードセル信号を受信し、タイヤ波形バッファを生成する
    ことを特徴とする請求項6に記載のタイヤ均一性装置。
  8. 前記コンピュータは、整列されたスピンドルによって回転される製品タイヤに適用される平均波形を生成するべく、前記タイヤ波形バッファにおける値を平均化する
    ことを特徴とする請求項7に記載のタイヤ均一性装置。
  9. タイヤを試験するための方法であって、
    装置内に一度に少なくとも1つの制御タイヤを受け取る工程であって、前記制御タイヤの各々は、公知の特性を有する、という工程と、
    受け取られた前記少なくとも1つの制御タイヤの各々のために、同じ角度位置に、スピンドルを角度に関して整列する工程と、
    前記少なくとも1つの制御タイヤに負荷ホイールを押し当てて、負荷ホイール力を発生させる工程と、
    前記負荷ホイールの角度位置を検出する工程と、
    前記負荷ホイールの前記角度位置に、前記負荷ホイール力を関連付ける工程と、
    前記角度に関して整列されたスピンドル、前記負荷ホイールの角度位置、及び、前記負荷ホイール力から、前記スピンドルの評価波形を生成する工程と、を備える
    ことを特徴とする方法。
  10. 前記装置内で試験タイヤを受け取る工程と、
    前記スピンドルを角度に関して整列し、次に前記試験タイヤを固定する工程と、
    前記負荷ホイールを前記試験タイヤに押し当てて、試験タイヤ負荷力を生成する工程と、
    前記負荷ホイールの角度位置を検出する工程と、
    前記負荷ホイールの角度位置及び前記整列されたスピンドルの角度位置に、前記試験タイヤ負荷力を関連付ける工程と、
    前記負荷ホイールの前記角度位置、前記整列されたスピンドルの角度位置、及び、前記試験タイヤ負荷力から、試験タイヤ波形を生成する工程と、
    前記評価波形によって前記試験タイヤ波形を調整する工程と、
    を更に備える
    ことを特徴とする請求項9に記載の方法。
  11. 上側のスピンドルの角度位置を決定する工程と、
    前記上側のスピンドルの角度位置に整合する角度位置に下側のスピンドルを回転する工程と、
    前記制御タイヤを固定し、次に回転する工程と、
    を更に備えることを特徴とする請求項9に記載の方法。
  12. 下側のスピンドルに結合された下側のリムに近接する状態に、レールアセンブリを直線移動させる工程と、
    上側のスピンドルの角度位置に整合するべく、前記下側のリム及び前記下側のスピンドルを角度に関して再度整列するために、前記レールアセンブリに結合されたローラーアセンブリによって保持されるローラーを回転する工程と、
    前記下側及び上側のスピンドルが整列された後、前記下側のリムに近接する状態から外れるように前記レールアセンブリを移動させる工程と、
    を更に備える
    ことを特徴とする請求項11に記載の方法。
  13. 前記下側のリムにフラグを取り付ける工程と、
    前記下側のスピンドルの角度位置を決定するべく前記フラグの近接スイッチとの接触を検出する工程と、
    前記下側のスピンドルの角度位置が前記上側のスピンドルの角度位置に整合したとき、前記ローラーの回転を停止する工程と、
    を更に備える
    ことを特徴とする請求項12に記載の方法。
  14. 複数の歯または複数のソケットのいずれかを前記ローラーに設ける工程と、
    複数のソケットまたは複数の歯のいずれかを前記リムに設ける工程と、
    前記回転工程の間、前記下側のリム及び前記下側のスピンドルを角度に関して再度整列するのを促進するべく、前記複数の歯を前記複数のソケットに係合させる工程と、
    を更に備える
    ことを特徴とする請求項12に記載の方法。
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