JP2015023149A - インプリント装置、インプリント方法、プログラム、インプリントシステム、それらを用いた物品の製造方法 - Google Patents

インプリント装置、インプリント方法、プログラム、インプリントシステム、それらを用いた物品の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2015023149A
JP2015023149A JP2013150089A JP2013150089A JP2015023149A JP 2015023149 A JP2015023149 A JP 2015023149A JP 2013150089 A JP2013150089 A JP 2013150089A JP 2013150089 A JP2013150089 A JP 2013150089A JP 2015023149 A JP2015023149 A JP 2015023149A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
imprint
substrate
processing
unit
processing unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013150089A
Other languages
English (en)
Inventor
森本 修
Osamu Morimoto
修 森本
哲也 小御門
Tetsuya Shomikado
哲也 小御門
易 杉山
Yasushi Sugiyama
易 杉山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2013150089A priority Critical patent/JP2015023149A/ja
Publication of JP2015023149A publication Critical patent/JP2015023149A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】簡単な構成で生産性を向上させるのに有利なインプリント装置を提供する。【解決手段】インプリント装置200は、前処理装置300から供給される基板1上に樹脂のパターンを形成する複数のインプリント処理部210を有する。また、インプリント装置200は、前処理装置300から複数のインプリント処理部210のそれぞれに基板1を搬送する搬送部220と、インプリント処理部210の内部に搬送部220が基板1を搬入するための基板搬入口22とは異なる位置に設置され、インプリント処理部210でパターンが形成された基板1を、インプリント処理部210の外部に搬出するための基板搬出口23とを備える。【選択図】図1

Description

本発明は、インプリント装置およびインプリント方法、プログラム、インプリントシステム、ならびにそれらを用いた物品の製造方法に関する。
インプリント装置は、半導体デバイスやMEMSなどの物品の製造工程に含まれるリソグラフィ工程において、基板上の未硬化樹脂を型(モールド)で成形し、樹脂のパターンを基板上に形成する。例えば光硬化法を採用したインプリント装置では、まず、基板上のインプリント領域であるショットに紫外線硬化樹脂(インプリント材、光硬化性樹脂)を塗布する。次に、樹脂(未硬化樹脂)を型により成形する。そして、紫外線を照射して樹脂を硬化させたうえで引き離すことにより、樹脂のパターンが基板上に形成される。
ここで、インプリント装置では、パターンを形成する前に、基板上に密着層をスピン塗布する(前処理を行う)必要があり、このような塗布処理を行う塗布装置(前処理装置)は、インプリント装置と直接接続される。特許文献1は、単位設置面積あたりの生産効率を向上させるために、1台の塗布装置と、複数のインプリント装置と、これらの装置間を移動する搬送ロボットとを含むクラスタ型のインプリントシステムを開示している。このインプリントシステムでは、塗布装置で塗布処理された基板は、搬送ロボットを用いて各インプリント装置(インプリント処理部)に搬入される。そして、各インプリント装置でインプリント処理された基板は、搬入時に用いられた搬送ロボットを再度経由して塗布装置に戻されてインプリントシステム外部に搬出され、次のプロセス工程(エッチング処理など)の処理装置に搬送される。
特開2012−9831号公報
しかしながら、特許文献1に示すインプリントシステムでは、各インプリント装置の処理時間と塗布装置の処理時間とが拮抗してくると、搬送ロボットによる基板の搬入出にかかる時間(搬送時間)がボトルネックとなる。すなわち、各インプリント装置および塗布装置における各処理が、搬送ロボットによる基板の搬送待ちになる状態が生じ得る。これに対して、例えば、搬送経路上に往路と復路とで複数の搬送ロボットを配置する構成も考え得るが、双方が交錯しないよう、鉛直方向に多段構成の経路を長距離に渡って設置する必要があり、システム構成が複雑になる。また、このように複数の搬送ロボットを用いたとしても、インプリント装置から処理済みの基板を搬出後、直ちに次の基板を搬入するには、結果的に、往路用と復路用との各搬送ロボットが同一のインプリント装置の手前でともに待機することに変わりはない。同様に、この場合、他のインプリント装置で処理済みの基板も、この間往路用の搬送ロボットの到着を待つことになるため、これらのことを考慮すれば、インプリントシステム全体として大幅な処理速度改善にはつながらない。
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、例えば、簡単な構成で生産性を向上させるのに有利なインプリント装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明は、前処理装置から供給される基板上に樹脂のパターンを形成する複数のインプリント処理部を有するインプリント装置であって、前処理装置から複数のインプリント処理部のそれぞれに基板を搬送する搬送部と、インプリント処理部の内部に搬送部が基板を搬入するための基板搬入口とは異なる位置に設置され、インプリント処理部でパターンが形成された基板を、インプリント処理部の外部に搬出するための基板搬出口と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、例えば、簡単な構成で生産性を向上させるのに有利なインプリント装置を提供することができる。
本発明の一実施形態に係るインプリント装置の構成を示す図である。 1つのインプリント処理部の構成を示す図である。 本発明の他の実施形態に係るインプリント装置の構成を示す図である。
以下、本発明を実施するための形態について図面などを参照して説明する。
まず、本発明の一実施形態に係るインプリント装置について説明する。本実施形態に係るインプリント装置は、複数のインプリント処理部を含む、いわゆるクラスタ型のインプリント装置である。図1は、本実施形態に係るクラスタ型インプリント装置200と、このクラスタ型インプリント装置200を含むインプリントシステム100との構成を示す概略平面図である。インプリントシステム100は、クラスタ型インプリント装置200と、前処理装置300とを含む。クラスタ型インプリント装置200は、複数(本実施形態では一例として6つ)のインプリント処理部210(210A〜210F)と、基板搬送部220と、複数の基板搬出部230(230A〜230F)と、クラスタ制御部240とを含む。
図2は、1つのインプリント処理部(以下、単に「処理部」と表記する)210の構成を示す概略図である。処理部210は、物品としての半導体デバイスなどの製造工程のうちのリソグラフィ工程を実施するもので、被処理基板であるウエハ1上(基板上)の未硬化樹脂15をモールド(型)5で成形し、ウエハ1上に樹脂15のパターンを形成する。なお、処理部210は、ここでは光硬化法を採用する。また、以下の図においては、ウエハ1上の樹脂15に対して紫外線を照射する照明系6の光軸に平行にZ軸を取り、Z軸に垂直な平面内に互いに直交するX軸およびY軸を取っている。処理部210は、照明系6と、モールド保持機構16と、アライメント計測系11と、ウエハステージ3と、塗布部17と、処理部内制御部18とを備える。
照明系6は、インプリント処理時に、光源から発せられた紫外線19をインプリントに適切な光に調整し、モールド5に照射する。光源は、水銀ランプなどのランプ類を採用可能であるが、モールド5を透過し、かつ樹脂(紫外線硬化樹脂)15が硬化する波長の光を発する光源であれば、特に限定するものではない。なお、本実施形態では、光硬化法を採用するので照明系6を設置しているが、例えば熱硬化法を採用する場合には、照明系6に換えて、熱硬化性樹脂を硬化させるための熱源部を設置することとなる。
モールド5は、外周形状が多角形(好適には、矩形または正方形)であり、ウエハ1に対する面には、例えば回路パターンなどの転写すべき凹凸パターンが3次元状に形成されたパターン部5aを含む。なお、パターンサイズは、製造対象となる物品により様々であるが、微細なものでは十数ナノメートルのパターンも含まれる。また、モールド5の材質は、紫外線19を透過させることが可能で、かつ熱膨張率の低いことが望ましく、例えば石英とし得る。
モールド保持機構16は、それぞれ不図示であるが、モールド5を保持するモールドチャックと、モールドチャックを保持し、モールド5を移動させるモールド駆動機構とを有する。モールドチャックは、モールド5における紫外線19の照射面の外周領域を真空吸着力や静電力により引き付けることでモールド5を保持し得る。また、モールドチャックおよびモールド駆動機構は、照明系6から照射された紫外線19がモールド5を透過してウエハ1に向かうように、中心部(内側)に開口領域を有する。モールド駆動機構は、モールド5とウエハ1上の樹脂15との押し付けまたは引き離しを選択的に行うようにモールド5を各軸方向に移動させる。モールド駆動機構に採用可能な動力源としては、例えばリニアモーターまたはエアシリンダーがある。また、モールド5の高精度な位置決めに対応するために、粗動駆動系や微動駆動系などの複数の駆動系から構成されていてもよい。さらに、Z軸方向だけでなく、X軸方向やY軸方向、またはθ(Z軸周りの回転)方向の位置調整機能や、モールド5の傾きを補正するためのチルト機能などを有する構成もあり得る。なお、インプリント処理時の押し付けおよび引き離し動作は、モールド5をZ軸方向に移動させることで実現してもよいが、ウエハステージ3をZ軸方向に移動させることで実現してもよく、または、その双方を相対的に移動させてもよい。
アライメント計測系11は、モールド5に予め形成されているアライメントマークと、ウエハ1に予め形成されているアライメントマークとを光学的に観察し、両者の相対位置関係を計測する。
ウエハ1は、例えば、単結晶シリコン基板やSOI(Silicon on Insulator)基板であり、この被処理面には、紫外線硬化樹脂であり、モールド5に形成されたパターン部5aにより成形される樹脂15が塗布される。
ウエハステージ3は、ウエハ1を保持し、モールド5とウエハ1上の樹脂15との押し付けに際して、モールド5と樹脂15との位置合わせを実施する。ウエハステージ3は、ウエハ1を吸着力により保持するウエハチャック2と、ウエハチャック2を機械的手段により保持し、定盤4上で少なくともウエハ1の表面に沿う方向に移動可能とするステージ駆動機構とを有する。ステージ駆動機構に採用可能な動力源としては、例えばリニアモーターや平面モーターがある。ステージ駆動機構も、X軸およびY軸の各方向に対して、粗動駆動系や微動駆動系などの複数の駆動系から構成されていてもよい。さらに、Z軸方向の位置調整のための駆動系や、ウエハ1のθ方向の位置調整機能、またはウエハ1の傾きを補正するためのチルト機能などを有する構成もあり得る。
塗布部17は、モールド保持機構16の近傍に設置され、ウエハ1上に存在するパターン形成領域としてのショット上に、樹脂(未硬化樹脂)15を塗布する。塗布部17は、吐出部7と、樹脂15を収容するタンク8と、タンク8から吐出部7へ樹脂を供給する供給配管9と、吐出部7を移動可能とする移動部10とを備える。移動部10は、吐出部7を、通常の吐出時には吐出位置に位置決めし、メンテナンス(クリーニングや交換)時には退避位置(メンテナンス位置)に移動させる。ここで、樹脂15は、紫外線19を受光することにより硬化する性質を有する光硬化性樹脂(インプリント材)であり、デバイス製造工程などの各種条件により適宜選択される。また、塗布部17から塗布(吐出)される樹脂15の量も、ウエハ1上に形成される樹脂15の所望の厚さや、形成されるパターンの密度などにより適宜決定される。
処理部内制御部18は、処理部210の各構成要素の動作および調整などを制御する。処理部内制御部18は、不図示であるが、CPUまたはDSPなどの計算部と、レシピなどを記憶するメモリーやハードディスクなどの記憶部とを含む。ここで、レシピは、ウエハ1、または同一の処理を行うウエハ群であるロットを処理する際の一連の処理パラメーターからなる情報(データ)である。処理パラメーターとしては、例えば、ショットのレイアウト、インプリント処理されるショットの順番、各ショットでのインプリント条件などである。また、インプリント条件としては、例えば、ウエハ1上に塗布した樹脂15にモールド5を押し付ける時間である充填時間や、紫外線19を照射して樹脂15を硬化させる時間である露光時間がある。インプリント条件として、さらには各ショット当たりに塗布する樹脂15の量である樹脂塗布量などもある。処理部内制御部18は、クラスタ制御部240からレシピを受信し、このレシピに基づいて、基板搬送部220により搬入されたウエハ1に対してインプリント処理を実施させる。
図1に戻り、基板搬送部(搬送部)220は、前処理装置300から各処理部210へウエハ1を搬送(受け渡し)する。基板搬送部220は、例えば、レールまたは走行ガイドである搬送路13と、搬送路13上を走行し、ウエハ1を保持するハンドを支持したアームを有する搬送ロボット24とを含む。アームは、伸縮可能であり、かつZ軸方向およびZ軸周り(θz方向)にも移動可能である。搬送ロボット24は、1ロットのウエハ1を格納する基板格納容器(FOUP)14から前処理済みのウエハ1を受け取った後、処理を担当する処理部210の基板搬入口22まで移動して、ウエハ1をその処理部210の内部へ受け渡す。なお、FOUPは、Front Opening Unified Podの略語である。
基板搬出部230は、各処理部210のすべてにおいて、インプリント処理が完了したすべてのウエハ1を一旦保管し、その後各処理部210の外部へ、順次、搬出する。基板搬出部230は、処理部210内に設置されている搬出用ハンド21と、基板搬出口23を含む基板保管部20とを含む。搬出用ハンド21は、インプリント処理が完了したウエハ1をウエハステージ3から受け取り、基板保管部20内に移動させる。基板保管部20は、処理部210内に備えられる収納棚であってもよいし、FOUPのような格納容器を一時的に載置する台(載置部)であってもよい。このように基板保管部20に保管されているウエハ1は、不図示であるが、例えばOHTやAGVを用いて、直ちに次工程の処理装置に搬送され得る。なお、OHTは、Over Head Transferの、AGVは、Automatic Guided Vehicleのそれぞれ略語である。ここで、基板搬出部230が設置される位置は、上記のようなOHTやAGVからのアクセス性、および処理部210内で基板搬入口22との干渉を避ける搬出用ハンド21の機構の簡素化などの観点から、基板搬入口22とは異なる側面とすることが望ましい。
クラスタ制御部240は、クラスタ型インプリント装置200の各構成要素の動作などを制御する。クラスタ制御部240は、例えば情報処理装置(コンピューター)で構成される。そして、本実施形態に係る処理(インプリント方法)は、プログラムとして上記情報処理装置に実行させ得る。また、クラスタ制御部240と、各処理部210、基板搬送部220、および各基板搬出部230との間では、不図示の通信回線を介して制御信号および各種情報(処理レシピ、搬出スケジュールなど)が送受信される。
前処理装置300は、各処理部210にてインプリント処理を行う前の処理として、例えば、クラスタ型インプリント装置200が指定したロットのウエハ1に対して密着層をスピン塗布する塗布装置である。密着層は、ウエハ1の全面に、樹脂15とウエハ1との密着性の改善、およびウエハ1表面での未硬化状態の樹脂15の拡がり性の改善のために形成される層であり、例えば、光反応性単分子膜または反応性官能基などを含む材料からなる。また、前処理装置300は、各処理部210にそれぞれ対応する複数の基板格納容器14を設置(収容)し得る。なお、ここでは、一例として前処理装置300が塗布装置であるとしているが、前処理装置300は、各処理部210にてインプリント処理がなされる前の処理を実施する装置であれば、特に限定するものではない。例えば、前処理装置300は、成膜などの化学処理を行った後にウエハ1に膜を定着させるための熱処理を行う装置であってもよい。
なお、クラスタ制御部240と、前処理装置300の各種制御を実行する不図示の前処理装置側制御部とは、信号配線を介して直接接続されて、処理動作のための信号の送受信を行ってもよい。または、クラスタ制御部240および前処理装置側制御部のそれぞれに信号配線を介して接続され、インプリントシステム100全体を統括する不図示の統括制御部が存在する場合もある。この場合には、統括制御部が、クラスタ制御部240と前処理装置側制御部とに独立して処理動作のための信号の送受信を行ってもよい。さらに、クラスタ制御部240(あるいは統括制御部)は、インプリント工程の次の工程を担う装置としてのエッチング装置400と信号配線を介して接続される。なお、次の工程を担う装置(基板処理装置)が行う処理は、エッチング処理に限られない。
ここで、従来のインプリントシステムでは、インプリント処理が完了したウエハは、その処理部に搬入されたときと同一の搬送ロボット(搬送経路)により前処理装置に戻り、システム外に搬出される。そして、上記のとおり、各処理部での処理時間と塗布装置での処理時間とが拮抗してくると、搬送ロボットによる搬送時間がボトルネックとなる。また別の観点から見ると、例えばクラスタ型露光装置では、露光処理後のウエハに対して後処理である現像処理を行うので、前処理である塗布処理と後処理とを同一のユニット内で実施する塗布現像装置にそのウエハを戻す必要がある。これに対して、クラスタ型インプリント装置200では、処理部210内で処理が完結するので(すなわち現像処理などの後処理を要しないので)、インプリント処理後に前処理装置300側にウエハ1を必ずしも戻す必要はない。そこで、本実施形態では、インプリント処理が完了した後のウエハ1を基板搬入口22とは異なる基板搬出口23からクラスタ型インプリント装置200の外部に搬出させ、パターン形成後の次の処理工程(エッチング工程など)を直ちに実施させる。次の処理工程を直ちに実施させるために、クラスタ制御部240(あるいは統括制御部)は、次の工程を行う基板処理装置にウエハ1の搬出に応じた信号を送信することが好ましい。
これにより、基板搬送部220は、各処理部210へのウエハ1の搬入動作だけに専念すればよいことになり、1つの処理部210の基板搬入口22での滞在時間を短くすることができる。そして、クラスタ型インプリント装置200は、単位時間あたりの処理枚数を増やすことができるので、結果的に生産性を向上させることができる。また、装置構成の観点では、クラスタ型インプリント装置200に基板搬出部230を設置するとしても、例えば搬出用ハンド21は、ウエハステージ3から基板保管部20へウエハ1を単純に載せ替える機構のみ備えればよく、複雑な構成を要しない。すなわち、例えば、基板搬送部220の搬送路13上にさらに搬送ロボットを設置して対応するよりも容易に実現できる。
以上のように、本実施形態によれば、簡単な構成で生産性を向上させるのに有利なインプリント装置およびインプリント方法、ならびにインプリントシステムを提供することができる。
なお、上記実施形態では、各処理部210に基板搬出部230を設置する構成としているが、特に基板保管部20を設置することについては必ずしも要しない。これに関し、図3は、上記実施形態に係るクラスタ型インプリント装置200(インプリントシステム100)を変形した場合の構成を示す概略図である。ここでは、各処理部210にある基板搬出口23に、直接、インプリント工程の次の工程を担うエッチング装置400が接続される。図3に示す例では、基板搬送部220に対して同じ側の一方に設置されている3つの処理部210A〜210Cに1つのエッチング装置400Aが接続され、他方に設置されている3つの処理部210D〜210Fに1つのエッチング装置400Bが接続されている。そして、各処理部210と各エッチング装置400とは、不図示の通信回線を直接介して、またはさらにクラスタ制御部240を介して、インプリント処理とエッチング処理とを自動処理し得る。このような構成によれば、基板保管部20を要しないので、クラスタ型インプリント装置200の構成がさらに簡単になり、かつ、OHTやAGVなどの搬送機構も使用しないので、生産性をさらに向上させることができる。
なお、図3に示す構成に関し、各処理部210内の搬出用ハンド21も、必ずしも要しない。例えば、ウエハステージ3が処理部210内で基板搬出口23付近まで移動可能であれば、エッチング装置400に設置されている不図示のハンドが、代わりにインプリント処理済みのウエハ1の受け渡し動作を行うものとしてもよい。これにより、クラスタ型インプリント装置200の構成をさらに簡単にし得る。また、ここでは一例として、インプリント工程の次の工程を担う装置をエッチング装置400としたが、エッチング処理とは異なる処理を行う基板処理装置が接続されてもよい。本実施形態においても、クラスタ制御部240(あるいは統括制御部)は、インプリント工程の次の工程を担う装置としての基板処理装置と信号配線を介して接続される。そして、次の処理工程を直ちに実施させるために、クラスタ制御部240(あるいは統括制御部)は、次の工程を行う基板処理装置にウエハ1の搬出に応じた信号を送信することが好ましい。
(物品の製造方法)
物品としてのデバイス(半導体集積回路素子、液晶表示素子等)の製造方法は、上述したインプリント装置を用いて基板(ウエハ、ガラスプレート、フィルム状基板)にパターンを形成する工程を含む。さらに、該製造方法は、パターンを形成された基板をエッチングする工程を含み得る。なお、パターンドメディア(記録媒体)や光学素子などの他の物品を製造する場合には、該製造方法は、エッチングの代わりにパターンを形成された基板を加工する他の処理を含み得る。本実施形態の物品の製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、これらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。
1 ウエハ
5 モールド
15 樹脂
22 基板搬入口
23 基板搬出口
200 クラスタ型インプリント装置
210 インプリント処理部
220 基板搬送部
300 前処理装置

Claims (12)

  1. 前処理装置から供給される基板上に、樹脂のパターンを形成する複数のインプリント処理部を有するインプリント装置であって、
    前記前処理装置から前記複数のインプリント処理部のそれぞれに前記基板を搬送する搬送部と、
    前記インプリント処理部の内部に前記搬送部が基板を搬入するための基板搬入口とは異なる位置に設置され、前記インプリント処理部で前記パターンが形成された基板を前記インプリント処理部の外部に搬出するための基板搬出口と、
    を備えることを特徴とするインプリント装置。
  2. 前記基板搬出口を介して前記基板を搬出させるべく前記基板を移動させる搬出用ハンドと、
    前記インプリント処理部で前記パターンが形成された基板を、順次、移動させるように、前記搬出用ハンドの動作を制御する制御部と、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載のインプリント装置。
  3. 前記基板搬出口は、前記インプリント処理部の前記基板搬入口が設置されている側とは異なる側に設置されることを特徴とする請求項1または2に記載のインプリント装置。
  4. 前記インプリント処理部で前記パターンが形成された基板を、前記基板搬出口から前記基板が搬出される前で保管する基板保管部を備えることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載のインプリント装置。
  5. 前記基板保管部は、前記基板を保持する棚、または複数の前記基板を格納する基板格納容器を載置する載置部であることを特徴とする請求項4に記載のインプリント装置。
  6. 前記基板搬出口は、前記インプリント処理部によるインプリント工程の次の工程における処理を実施する基板処理装置に直接接続されることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載のインプリント装置。
  7. 前記基板処理装置は、前記インプリント処理部と通信回線を介して直接接続されることを特徴とする請求項6に記載のインプリント装置。
  8. 前記基板処理装置は、エッチング処理を行う装置であることを特徴とする請求項6または7に記載のインプリント装置。
  9. 前処理装置から供給される基板上に、未硬化樹脂を塗布して型で成形し、前記基板上に樹脂のパターンを形成する処理を複数のインプリント処理部にて行うインプリント方法であって、
    前記前処理装置から前記複数のインプリント処理部のそれぞれに前記基板を搬送する工程と、
    前記インプリント処理部の内部に前記基板を搬入する基板搬入口とは異なる位置に設置された基板搬出口から、前記インプリント処理部で前記パターンが形成された基板を、前記インプリント処理部の外部に搬出する工程と、
    を含むことを特徴とするインプリント方法。
  10. 請求項9に記載のインプリント方法を情報処理装置に実行させるためのプログラム。
  11. 請求項1ないし8のいずれか1項に記載のインプリント装置と、該インプリント装置にて処理される基板に前処理を行う前処理装置とを有するインプリントシステム。
  12. 請求項1ないし8のいずれか1項に記載のインプリント装置、または請求項9に記載のインプリント方法を用いて基板上に樹脂のパターンを形成する工程と、
    前記工程で前記パターンを形成された基板を加工する工程と、
    を含むことを特徴とする物品の製造方法。
JP2013150089A 2013-07-19 2013-07-19 インプリント装置、インプリント方法、プログラム、インプリントシステム、それらを用いた物品の製造方法 Pending JP2015023149A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013150089A JP2015023149A (ja) 2013-07-19 2013-07-19 インプリント装置、インプリント方法、プログラム、インプリントシステム、それらを用いた物品の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013150089A JP2015023149A (ja) 2013-07-19 2013-07-19 インプリント装置、インプリント方法、プログラム、インプリントシステム、それらを用いた物品の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2015023149A true JP2015023149A (ja) 2015-02-02

Family

ID=52487352

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013150089A Pending JP2015023149A (ja) 2013-07-19 2013-07-19 インプリント装置、インプリント方法、プログラム、インプリントシステム、それらを用いた物品の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2015023149A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160112961A (ko) * 2015-03-18 2016-09-28 캐논 가부시끼가이샤 임프린트 시스템 및 물품의 제조 방법
JP2018195801A (ja) * 2017-05-12 2018-12-06 キヤノン株式会社 インプリント方法、インプリント装置、インプリントシステム、および物品の製造方法
US11520226B2 (en) 2017-05-12 2022-12-06 Canon Kabushiki Kaisha Imprint method, imprint apparatus, imprint system, and method of manufacturing article

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160112961A (ko) * 2015-03-18 2016-09-28 캐논 가부시끼가이샤 임프린트 시스템 및 물품의 제조 방법
CN105988287A (zh) * 2015-03-18 2016-10-05 佳能株式会社 压印系统及物品的制造方法
US10451965B2 (en) 2015-03-18 2019-10-22 Canon Kabushiki Kaisha Imprint system and method of manufacturing article
KR102048608B1 (ko) * 2015-03-18 2020-01-08 캐논 가부시끼가이샤 임프린트 시스템 및 물품의 제조 방법
JP2018195801A (ja) * 2017-05-12 2018-12-06 キヤノン株式会社 インプリント方法、インプリント装置、インプリントシステム、および物品の製造方法
KR20210125464A (ko) * 2017-05-12 2021-10-18 캐논 가부시끼가이샤 평탄화 방법, 평탄화 시스템 및 물품 제조 방법
KR102357572B1 (ko) 2017-05-12 2022-02-08 캐논 가부시끼가이샤 평탄화 방법, 평탄화 시스템 및 물품 제조 방법
JP7112220B2 (ja) 2017-05-12 2022-08-03 キヤノン株式会社 方法、装置、システム、および物品の製造方法
US11520226B2 (en) 2017-05-12 2022-12-06 Canon Kabushiki Kaisha Imprint method, imprint apparatus, imprint system, and method of manufacturing article

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102032017B1 (ko) 리소그래피 장치, 리소그래피 방법, 프로그램, 리소그래피 시스템 및 물품 제조 방법
JP6312379B2 (ja) リソグラフィ装置、リソグラフィ方法、リソグラフィシステム、プログラム、物品の製造方法
JP5754965B2 (ja) インプリント装置、および、物品の製造方法
JP6399839B2 (ja) インプリント装置、および物品の製造方法
US9915881B2 (en) Lithography apparatus and article manufacturing method
JP2011210992A (ja) リソグラフィーシステム、及びリソグラフィーシステムの制御方法、それを用いたデバイスの製造方法及び物品の製造方法
JP2015023149A (ja) インプリント装置、インプリント方法、プログラム、インプリントシステム、それらを用いた物品の製造方法
KR102174207B1 (ko) 마이크로리소그래피에서 로딩하는 기판
JP6513125B2 (ja) ステージ装置、リソグラフィ装置及び物品の製造方法
JP2015079954A (ja) リソグラフィシステムおよび物品の製造方法
JP6703785B2 (ja) 基板処理装置、および物品製造方法
JP2015023151A (ja) インプリント装置、インプリント方法、プログラム、インプリントシステム、それらを用いた物品の製造方法
JP7023744B2 (ja) インプリント方法及び製造方法
KR102240226B1 (ko) 임프린트 장치 및 물품 제조 방법
US9927725B2 (en) Lithography apparatus, lithography method, program, lithography system, and article manufacturing method
JP2020107863A (ja) 膜形成装置および物品製造方法
JP7341694B2 (ja) 搬送装置、搬送方法、リソグラフィ装置、リソグラフィシステム、および物品製造方法
KR102296682B1 (ko) 리소그래피 장치 및 물품 제조 방법
JP2016051862A (ja) インプリント装置、および物品の製造方法
JP2018006554A (ja) パターン形成装置、インプリント装置および物品の製造方法
JP2023056322A (ja) 基板搬送方法、基板搬送装置、及び物品の製造方法
JP2021174858A (ja) 温度調整装置、リソグラフィ装置、温度調整方法、および物品製造方法
JP5871627B2 (ja) インプリントシステム、およびインプリント方法
JP2019046937A (ja) 基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、プログラム、および物品製造方法
KR20180123630A (ko) 반송 장치, 시스템 및 물품의 제조 방법