JP2015017866A - X線検出信号処理ユニットおよびそれを備えるx線分析装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】配線をシンプルにして誤配線や接触不良、機械構造物との干渉などをなくすとともに線材重量を軽量化することができるX線検出信号処理ユニットを提供する。【解決手段】本発明のX線検出信号処理ユニット5Aは、X線検出器4の出力信号を増幅する前置増幅器50と、バッファアンプ51と、バッファアンプ51の出力端とパルスプロセッサ52とを、バッファアンプ側に第1コンデンサ53を介し、パルスプロセッサ側に第2コンデンサ54を介して接続する同軸ケーブル55と、前置増幅器50およびバッファアンプ51に電力を供給する前置増幅器電源56とを備え、前置増幅器電源56と前置増幅器50およびバッファアンプ51とが、同軸ケーブル55により接続され、第1コンデンサ53の同軸ケーブル側端とバッファアンプ51の入力端とを第3コンデンサ59を介して接続するフィードバック回路7を備える。【選択図】図1

Description

本発明は、X線分析装置におけるX線検出信号処理ユニットの配線に関するものである。
従来、X線分析装置のX線検出信号処理ユニット5Cにおいて、図5に示すようにX線検出器4の出力信号を出力する信号ケーブルである同軸ケーブル55、前置増幅器電源56からX線検出器4の前置増幅器50に電力を供給する前置増幅器電源ケーブル60、X線検出器4にバイアス電源を供給するバイアスケーブル(図示なし)がそれぞれ別々にあり、配線が煩雑で誤配線や接触不良、機械構造物との干渉などが生じる問題があった。特に、波長分散型多元素同時蛍光X線分析装置(図示なし)では、同軸ケーブル55、前置増幅器電源ケーブル60が測定チャンネルの数だけ必要であり、配線がより煩雑であり、外観上も煩雑であった。また、走査型蛍光X線分析装置(図示なし)では、走査時にX線検出器4とともに同軸ケーブル55、前置増幅器電源ケーブル60が移動するので、これらのケーブル55、60の線材重量が移動時の負荷になっていた。従来のX線検出信号処理ユニット5Cにおいては、このような様々な問題があった。
また、X線分析以外の分野で、電源線とデータ通信用の通信線とを別々に配線している分析システム(車の排気ガスに含まれる成分を分析する分析システム)において、配線が煩雑になり、接触不良などの不都合が生じ、故障の原因を増やす問題があった。そこで、電源の周波数とデータ信号の周波数との差異によって電源(供給電力)とデータ信号とを識別可能であることを利用して電源線にデータ信号を重畳させ、配線の簡素化を図った分析システムがある(特許文献1)。
特開2000−49810号公報
しかしながら、X線検出器の出力信号は、立ち上がり時の速い周波数は10MHz〜20MHz、減衰時の遅い周波数は10kHzであり、10kHz〜20MHzの広い周波数帯域を有しており、特許文献1に記載の周波数差による分離方法では、広帯域周波数を有するX線検出器の出力信号を電源と分離することができない。
そこで、本発明は前記従来の問題に鑑みてなされたもので、X線検出器の出力信号ケーブルと前置増幅器電源ケーブルとを別々に必要とせず、同軸ケーブル55のみでX線検出器4の出力信号と前置増幅器電源56からの電力とを送ることができ、配線をシンプルにして誤配線や接触不良、機械構造物との干渉などをなくすとともに線材重量を軽量化できるX線検出信号処理ユニットおよびそれを備えるX線分析装置を提供することを目的とする。
前記目的を達成するために、本発明の第1構成のX線検出信号処理ユニットは、X線検出器の出力信号をパルスプロセッサで処理するX線検出信号処理ユニットであって、X線検出器の出力信号を増幅する前置増幅器と、前記前置増幅器の出力信号を安定化するバッファアンプと、前記バッファアンプの出力端と前記パルスプロセッサとを、前記バッファアンプ側に第1コンデンサを介し、前記パルスプロセッサ側に第2コンデンサを介して接続する同軸ケーブルと、前記前置増幅器および前記バッファアンプに電力を供給する前置増幅器電源とを備える。そして、前記前置増幅器電源と前記前置増幅器および前記バッファアンプとが、前記前置増幅器電源側に第1インダクタを介し、前記前置増幅器および前記バッファアンプ側に第2インダクタを介して、前記同軸ケーブルにより接続され、前記第1コンデンサの前記同軸ケーブル側端と前記バッファアンプの入力端とを第3コンデンサを介して接続するフィードバック回路を備える。
本発明の第1構成のX線検出信号処理ユニットによれば、X線検出器の出力信号ケーブルと増幅器電源ケーブルとを別々に必要とせず、同軸ケーブルのみでX線検出器の出力信号と前記前置増幅器電源からの電力とを送ることができ、配線をシンプルにして誤配線や接触不良、機械構造物との干渉などをなくすとともに線材重量を軽量化することができる。
本発明の第2構成のX線分析装置は、本発明の第1構成のX線検出信号処理ユニットを備える。
本発明の第2構成のX線分析装置によれば、本発明の第1構成のX線検出信号処理ユニットを備えるので、本発明の第1構成のX線検出信号処理ユニットと同様の効果を奏することができる。
本発明の実施形態のX線分析装置の概略図である。 同装置のX線検出信号の入力波形と出力波形を示す図である。 実験装置のX線検出器信号の入力波形と出力波形を示す図である。 電源とデータ信号との周波数差を利用して電源ケーブルにデータ信号を重畳した実験装置のブロック配線図である。 従来のX線分析装置のX線検出信号処理ユニットのブロック配線図である。
以下、本発明の実施形態のX線分析装置について図1にしたがって説明する。この装置は、試料SにX線源1(例えば、X線管)から1次X線2を照射し、発生する2次X線3の強度を、分光素子を介さずX線検出器4で測定し、その測定されたX線強度に相当する、X線検出器4の出力信号をX線検出信号処理ユニット5Aでデータ処理して、処理された測定データに基づいて試料S中に含有される元素について定性分析、定量分析などを行う、例えば蛍光X線分析装置である。この装置はX線検出器4の出力信号をパルスプロセッサ52で処理するX線検出信号処理ユニット5Aを備える。
X線検出信号処理ユニット5Aは、X線検出器4の出力信号を増幅する前置増幅器50と、前置増幅器50の出力信号を安定化するバッファアンプ51と、バッファアンプ51の出力端B2とパルスプロセッサ52の入力端Pとを、バッファアンプ側に第1コンデンサ53を介し、パルスプロセッサ側に第2コンデンサ54を介して接続する同軸ケーブル55と、前置増幅器50およびバッファアンプ51に電力を供給する前置増幅器電源56とを備える。
X線検出信号処理ユニット5Aにおいて、前置増幅器電源56と前置増幅器50およびバッファアンプ51とが、前置増幅器電源側に第1インダクタ57を介し、前置増幅器50およびバッファアンプ側に第2インダクタ58を介して、同軸ケーブル55により接続される。詳細には、第1コンデンサ53の同軸ケーブル側端に設けられた第1端子T1と第2コンデンサ54の同軸ケーブル側端に設けられた第2端子T2とが同軸ケーブル55により接続される。さらに、X線検出信号処理ユニット5Aは、第1端子T1とバッファアンプ51の入力端B1とを第3コンデンサ59を介して接続してバッファアンプ51の出力信号をフィードバックするフィードバック回路7を備える。
次に、本実施形態のX線分析装置の動作について図1にしたがって説明する。試料台(図示なし)に載置された試料SにX線源1からの1次X線2が照射されると、試料Sから発生する2次X線3の強度がX線検出器4によって測定される。X線検出器4からの出力信号はX線検出信号処理ユニット5Aに送られ、X線検出信号処理ユニット5Aによってデータ処理される。処理された測定データに基づいて試料Sの分析結果が得られる。
X線検出信号処理ユニット5Aに送られたX線検出器4からの出力信号は、前置増幅器50に入り、前置増幅器50で電流信号から電圧信号に変換されて増幅される。増幅された前置増幅器50の出力信号はバッファアンプ51に送られて安定化される。バッファアンプ51の出力信号は、第1コンデンサ53を通り、第1端子T1を経由して同軸ケーブル55に送られるとともに、第1コンデンサ53を通り、第1端子T1から第3コンデンサ59を経由してバッファアンプ51の入力端B1にフィードバックされ、バッファアンプ51の出力波形の歪みを補正する。
同軸ケーブル55に送られたバッファアンプ51の出力信号は第2端子T2を通り、第2コンデンサ54、パルスプロセッサ52の入力端Pを経由してパルスプロセッサ52に送られ、データ処理される。パルスプロセッサ52に送られてデータ処理された測定データに基づいて試料Sの分析結果が得られる。
一方、前置増幅器電源56からの電力が、前置増幅器電源56に接続された第1インダクタ57を通り、第2端子T2を経由して同軸ケーブル55に送られ、第1端子T1を経由して第2インダクタ58を通り、前置増幅器50とバッファアンプ51とに供給される。
図2の上図はバッファアンプ51の入力端B1における信号波形(バッファアンプ51の入力波形)であり、図2の下図はパルスプロセッサ52の入力端Pにおける信号波形(バッファアンプ51の出力波形に相当する)である。信号波形の横軸は時間であり、縦軸は信号強度(電圧)である。図2に示す信号波形では、信号波形の立ち上がり時間は0.05μs(マイクロ秒)、減衰時間は10μsであり、この信号波形は10kHz〜20MHzの広い周波数帯域を有している。
図2の下図の出力波形はアンダーシュート、波形乱れなどもなく正常な出力波形を示している。この正常な出力波形より、信号ケーブルである同軸ケーブル55に前置増幅器50とバッファアンプ51とに供給する電力を重畳させても正常な波形をパルスプロセッサ52に送ることができ、パルスプロセッサ52において正常な信号処理ができる。
本実施形態のX線分析装置によれば、X線検出器の出力信号ケーブルと前置増幅器電源ケーブルとを別々に必要とせず、同軸ケーブル55のみでX線検出器4の出力信号と前置増幅器電源56からの電力とを送ることができ、配線をシンプルにして誤配線や接触不良、機械構造物との干渉などをなくすとともに線材重量を軽量化することができる。
本発明に先立って作製した実験装置のX線検出信号処理ユニット5Bについて、図4にしたがって以下に説明する。図4に示された実験装置のX線検出信号処理ユニット5Bは、本発明の実施形態のX線検出信号処理ユニット5Aが備えるフィードバック回路7を備えないだけで、他の構成は同じであり、信号ケーブルである同軸ケーブル55に、前置増幅器50とバッファアンプ51とに前置増幅器電源56から供給する電力を重畳させている。実験装置のX線検出信号処理ユニット5Bはフィードバック回路7を備えていないので、X線検出信号の流れは、フィードバック回路7に流れないが、そのことを除けば本発明の実施形態のX線検出信号処理ユニット5Aの流れと同じである。前置増幅器電源56から前置増幅器50とバッファアンプ51とに供給される電力の流れは、本発明の実施形態のX線検出信号処理ユニット5Aと同じである。
図3の上図は実験装置のX線検出信号処理ユニット5Bにおけるバッファアンプ51の入力端B1における信号波形であり、図3の下図はパルスプロセッサ52の入力端Pにおける信号波形である。図3の下図の出力波形は大きくアンダーシュートしており、このアンダーシュートした波形の入力信号がパルスプロセッサ52に送られると、パルスプロセッサ52における信号処理に大きな影響を及ぼし、正常なデータ処理を行うことができなかった。インダクタとコンデンサとで形成された一般的な回路を用いた実験装置のX線検出信号処理ユニット5Bでは、信号ケーブルである同軸ケーブル55に前置増幅器50とバッファアンプ51とに供給する電力を重畳させると、X線検出信号と前置増幅器電源56から送られる電力とを完全に分離できないことが分かった。この実験装置の結果に基づき、種々の工夫を重ねた結果、本発明に想到することができた。
本実施形態のX線分析装置は、エネルギー分散型蛍光X線分析装置として説明したが、本発明のX線検出信号処理ユニット5Aを備えるX線分析装置であればよく、波長分散型多元素同時蛍光X線分析装置、走査型蛍光X線分析装置、X線反射率測定装置、X線回折装置やこれらの装置が組み合わされた複合型のX線分析装置であってもよい。
4 X線検出器
5A、5B、5C X線検出信号処理ユニット
50 前置増幅器
51 バッファアンプ
52 パルスプロセッサ
53 第1コンデンサ
54 第2コンデンサ
55 同軸ケーブル
56 前置増幅器電源
57 第1インダクタ
58 第2インダクタ
59 第3コンデンサ

Claims (2)

  1. X線検出器の出力信号をパルスプロセッサで処理するX線検出信号処理ユニットであって、
    X線検出器の出力信号を増幅する前置増幅器と、
    前記前置増幅器の出力信号を安定化するバッファアンプと、
    前記バッファアンプの出力端と前記パルスプロセッサとを、前記バッファアンプ側に第1コンデンサを介し、前記パルスプロセッサ側に第2コンデンサを介して接続する同軸ケーブルと、
    前記前置増幅器および前記バッファアンプに電力を供給する前置増幅器電源とを備え、 前記前置増幅器電源と前記前置増幅器および前記バッファアンプとが、前記前置増幅器電源側に第1インダクタを介し、前記前置増幅器および前記バッファアンプ側に第2インダクタを介して、前記同軸ケーブルにより接続され、
    前記第1コンデンサの前記同軸ケーブル側端と前記バッファアンプの入力端とを第3コンデンサを介して接続するフィードバック回路を備えるX線検出信号処理ユニット。
  2. 請求項1に記載のX線検出信号処理ユニットを備えるX線分析装置。
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JP3460199B2 (ja) * 1994-10-14 2003-10-27 日本原子力研究所 放射線センサ等の直流高電圧供給システム
US6152877A (en) * 1998-12-16 2000-11-28 Scimed Life Systems, Inc. Multimode video controller for ultrasound and X-ray video exchange system
JP2000329854A (ja) * 1999-05-20 2000-11-30 Hitachi Ltd 放射線検出装置および電子顕微鏡および計測装置
JP4360895B2 (ja) * 2003-12-11 2009-11-11 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 中性子監視装置
JP4984811B2 (ja) * 2006-10-13 2012-07-25 株式会社日立製作所 産業用x線ct装置
JP5028367B2 (ja) * 2008-09-12 2012-09-19 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 ノイズ抑制装置及びそれを有するプラント
JP5716584B2 (ja) * 2011-07-06 2015-05-13 株式会社島津製作所 X線検出器

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