JP2015012964A - 視機能解析装置、視機能解析プログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】視機能異常における矯正値を容易に得られる視機能解析装置、視機能解析プログラムを提供する。
【解決手段】自覚式検眼装置は、被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、表示部５１ｂと、検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御部とを備え、制御部は、解析基準線として、相対輻輳抑制線（ＲＣＩＬ）と、相対輻輳刺激線（ＲＣＳＬ）と、ドンダース線（ＤＬ）と、被検眼の斜位線（ＰＬ）とを表示し、プリズム量の変更操作に応じて、ドンダース線の表示位置を維持した状態で、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、斜位線の表示位置を移動する。
【選択図】図５
【解決手段】自覚式検眼装置は、被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、表示部５１ｂと、検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御部とを備え、制御部は、解析基準線として、相対輻輳抑制線（ＲＣＩＬ）と、相対輻輳刺激線（ＲＣＳＬ）と、ドンダース線（ＤＬ）と、被検眼の斜位線（ＰＬ）とを表示し、プリズム量の変更操作に応じて、ドンダース線の表示位置を維持した状態で、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、斜位線の表示位置を移動する。
【選択図】図５
Description
本発明は、視機能解析装置、視機能解析プログラムに関するものである。
従来、斜位検査等の分析結果を把握して、矯正値を得る検眼装置があった（例えば特許文献１）。
被検者眼に斜位等の視機能異常がある場合には、その視機能異常を正しく分析し、これを矯正する必要がある。特許文献１の装置では、被検者眼の水平斜位検査、上下斜位検査、開散（外寄せ）検査、輻輳（内寄せ）検査、等を行い、分析結果を表示する。検者は、この表示に基づき、視機能異常を矯正するための処方値（矯正値）を算出する。
被検者眼に斜位等の視機能異常がある場合には、その視機能異常を正しく分析し、これを矯正する必要がある。特許文献１の装置では、被検者眼の水平斜位検査、上下斜位検査、開散（外寄せ）検査、輻輳（内寄せ）検査、等を行い、分析結果を表示する。検者は、この表示に基づき、視機能異常を矯正するための処方値（矯正値）を算出する。
しかし、被検者眼の斜位等に関する検査結果の分析は、複雑である。このため、この分析は、特許文献１に開示されるような表示があっても、経験の少ない検者には難しい。このため、従来の検眼装置は、視機能異常を矯正する処方値が容易に得られない場合があった。
本発明の課題は、視機能異常における矯正値を容易に得られる視機能解析装置、視機能解析プログラムを提供することである。
本発明の課題は、視機能異常における矯正値を容易に得られる視機能解析装置、視機能解析プログラムを提供することである。
本発明は、以下のような解決手段により、課題を解決する。なお、理解を容易にするために、本発明の実施形態に対応する符号を付して説明するが、これに限定されるものではない。また、符号を付して説明した構成は、適宜改良してもよく、また、少なくとも一部を他の構成物に代替してもよい。
・第１の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線（ＲＣＩＬ）と、相対輻輳刺激線（ＲＣＳＬ）と、ドンダース線（ＤＬ）と、被検眼の斜位線（ＰＬ）とを表示し、
プリズム量の変更操作に応じて、前記ドンダース線の表示位置を維持した状態で、前記相対輻輳抑制線、前記相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を移動すること、
を特徴とする視機能解析装置である。
・第２の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線（ＲＣＩＬ）と、相対輻輳刺激線（ＲＣＳＬ）と、ドンダース線（ＤＬ）と、被検眼の斜位線（ＰＬ）とを表示し、
加入度の変更操作に応じて、前記相対輻輳抑制線、前記相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を維持した状態で、前記ドンダース線の表示位置を移動すること、
を特徴とする視機能解析装置である。
・第３の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線（ＲＣＩＬ）と、相対輻輳刺激線（ＲＣＳＬ）と、ドンダース線（ＤＬ）と、被検眼の斜位線（ＰＬ）とを表示し、
外斜位である場合には、前記斜位線及びドンダース線間の領域と、前記ドンダース線及び前記相対輻輳刺激線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示し、
内斜位である場合には、前記相対輻輳抑制線及び前記ドンダース線の領域と、前記ドンダース線及び前記斜位線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示すること、
を特徴とする視機能解析装置である。
・第４の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線（ＲＣＩＬ）と、相対輻輳刺激線（ＲＣＳＬ）と、ドンダース線（ＤＬ）とを表示し、
前記相対輻輳抑制線及び前記相対輻輳刺激線間の中央の１／３の領域と、前記中央の１／３の領域の両外側の１／３の領域とを、視覚的に識別可能に表示すること、
を特徴とする視機能解析装置である。
・第５の発明は、
第１から第４のいずれかの発明の視機能解析装置において、
前記制御部は、
前記解析基準線に対応した数値を用いて、矯正値として、近見のプリズム量、遠見のプリズム量及び加入度のうち少なくとも１つを算出すること、
を特徴とする視機能解析装置である。
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線（ＲＣＩＬ）と、相対輻輳刺激線（ＲＣＳＬ）と、ドンダース線（ＤＬ）と、被検眼の斜位線（ＰＬ）とを表示し、
プリズム量の変更操作に応じて、前記ドンダース線の表示位置を維持した状態で、前記相対輻輳抑制線、前記相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を移動すること、
を特徴とする視機能解析装置である。
・第２の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線（ＲＣＩＬ）と、相対輻輳刺激線（ＲＣＳＬ）と、ドンダース線（ＤＬ）と、被検眼の斜位線（ＰＬ）とを表示し、
加入度の変更操作に応じて、前記相対輻輳抑制線、前記相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を維持した状態で、前記ドンダース線の表示位置を移動すること、
を特徴とする視機能解析装置である。
・第３の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線（ＲＣＩＬ）と、相対輻輳刺激線（ＲＣＳＬ）と、ドンダース線（ＤＬ）と、被検眼の斜位線（ＰＬ）とを表示し、
外斜位である場合には、前記斜位線及びドンダース線間の領域と、前記ドンダース線及び前記相対輻輳刺激線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示し、
内斜位である場合には、前記相対輻輳抑制線及び前記ドンダース線の領域と、前記ドンダース線及び前記斜位線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示すること、
を特徴とする視機能解析装置である。
・第４の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線（ＲＣＩＬ）と、相対輻輳刺激線（ＲＣＳＬ）と、ドンダース線（ＤＬ）とを表示し、
前記相対輻輳抑制線及び前記相対輻輳刺激線間の中央の１／３の領域と、前記中央の１／３の領域の両外側の１／３の領域とを、視覚的に識別可能に表示すること、
を特徴とする視機能解析装置である。
・第５の発明は、
第１から第４のいずれかの発明の視機能解析装置において、
前記制御部は、
前記解析基準線に対応した数値を用いて、矯正値として、近見のプリズム量、遠見のプリズム量及び加入度のうち少なくとも１つを算出すること、
を特徴とする視機能解析装置である。
・第６の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示させ、
プリズム量の変更操作に応じて、ドンダース線の表示位置を維持した状態で、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を移動させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラムである。
・第７の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示させ、
加入度の変更操作に応じて、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を維持した状態で、ドンダース線の表示位置を移動させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラムである。
・第８の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示させ、
外斜位である場合には、前記斜位線及びドンダース線間の領域と、前記ドンダース線及び前記相対輻輳刺激線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示させ、
内斜位である場合には、前記相対輻輳抑制線及び前記ドンダース線の領域と、前記ドンダース線及び前記斜位線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラムである。
・第９の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線とを表示させ、
相対輻輳抑制線及び相対輻輳刺激線間の中央の１／３の領域と、前記中央の１／３の領域の両外側の１／３の領域とを、視覚的に識別可能に表示させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラムである。
・第１０の発明は、
第６から第９のいずれかの発明の視機能解析プログラムにおいて、
前記制御手段を、
前記解析基準線に対応した数値を用いて、矯正値として、近見のプリズム量、遠見のプリズム量及び加入度のうち少なくとも１つを算出するように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラムである。
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示させ、
プリズム量の変更操作に応じて、ドンダース線の表示位置を維持した状態で、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を移動させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラムである。
・第７の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示させ、
加入度の変更操作に応じて、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を維持した状態で、ドンダース線の表示位置を移動させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラムである。
・第８の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示させ、
外斜位である場合には、前記斜位線及びドンダース線間の領域と、前記ドンダース線及び前記相対輻輳刺激線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示させ、
内斜位である場合には、前記相対輻輳抑制線及び前記ドンダース線の領域と、前記ドンダース線及び前記斜位線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラムである。
・第９の発明は、
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線とを表示させ、
相対輻輳抑制線及び相対輻輳刺激線間の中央の１／３の領域と、前記中央の１／３の領域の両外側の１／３の領域とを、視覚的に識別可能に表示させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラムである。
・第１０の発明は、
第６から第９のいずれかの発明の視機能解析プログラムにおいて、
前記制御手段を、
前記解析基準線に対応した数値を用いて、矯正値として、近見のプリズム量、遠見のプリズム量及び加入度のうち少なくとも１つを算出するように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラムである。
本発明によれば、以下の効果を奏することができる。
・第１、第６の発明は、プリズム量の変更操作に応じて、ドンダース線の表示位置を維持した状態で、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、斜位線の表示位置を移動する。このため、検者は、プリズム量の変更に応じたグラフの変化を確認して、矯正値を容易に得ることができる。
・第２、第７の発明は、加入度の変更操作に応じて、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、斜位線の表示位置を維持した状態で、ドンダース線の表示位置を移動する。このため、検者は、プリズム量の変更に応じたグラフの変化を確認して、矯正値を容易に得ることができる。
・第３、第８の発明は、外斜位である場合には、斜位線及びドンダース線間の領域と、ドンダース線及び相対輻輳刺激線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示し、一方、内斜位である場合には、相対輻輳抑制線及びドンダース線の領域と、ドンダース線及び斜位線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示する。このため、検者は、シェアード基準解析をするためのグラフを手書きで作成することなく、表示部のグラフの変化を確認して、矯正値を容易に得ることができる。
・第４、第９の発明は、相対輻輳抑制線及び相対輻輳刺激線間の中央の１／３の領域と、中央の１／３の領域の両外側の１／３の領域とを、視覚的に識別可能に表示する。このため、検者は、パーシバル基準解析をするためのグラフを手書きで作成することなく、表示部のグラフの変化を確認して、矯正値を容易に得ることができる。
・第５、第１０の発明は、解析基準線に対応した数値を用いて、矯正値として、近見のプリズム量、遠見のプリズム量及び加入度のうち少なくとも１つを算出する。このため、検者は、自分で計算等しなくても、矯正値を容易に得ることができる。
・第１、第６の発明は、プリズム量の変更操作に応じて、ドンダース線の表示位置を維持した状態で、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、斜位線の表示位置を移動する。このため、検者は、プリズム量の変更に応じたグラフの変化を確認して、矯正値を容易に得ることができる。
・第２、第７の発明は、加入度の変更操作に応じて、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、斜位線の表示位置を維持した状態で、ドンダース線の表示位置を移動する。このため、検者は、プリズム量の変更に応じたグラフの変化を確認して、矯正値を容易に得ることができる。
・第３、第８の発明は、外斜位である場合には、斜位線及びドンダース線間の領域と、ドンダース線及び相対輻輳刺激線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示し、一方、内斜位である場合には、相対輻輳抑制線及びドンダース線の領域と、ドンダース線及び斜位線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示する。このため、検者は、シェアード基準解析をするためのグラフを手書きで作成することなく、表示部のグラフの変化を確認して、矯正値を容易に得ることができる。
・第４、第９の発明は、相対輻輳抑制線及び相対輻輳刺激線間の中央の１／３の領域と、中央の１／３の領域の両外側の１／３の領域とを、視覚的に識別可能に表示する。このため、検者は、パーシバル基準解析をするためのグラフを手書きで作成することなく、表示部のグラフの変化を確認して、矯正値を容易に得ることができる。
・第５、第１０の発明は、解析基準線に対応した数値を用いて、矯正値として、近見のプリズム量、遠見のプリズム量及び加入度のうち少なくとも１つを算出する。このため、検者は、自分で計算等しなくても、矯正値を容易に得ることができる。
（実施形態）
以下、図面等を参照して、本発明の実施形態について説明する。
図１は、実施形態の検眼システム１の構成を説明する斜視図である。
図２は、実施形態の自覚式検眼装置５０のブロック図である。
検眼システム１は、他覚式検眼装置１０の検眼情報を自覚式検眼装置５０（検眼情報解析装置）に移動して、自覚式検眼装置５０で自覚式検眼を行うシステムである。
以下、図面等を参照して、本発明の実施形態について説明する。
図１は、実施形態の検眼システム１の構成を説明する斜視図である。
図２は、実施形態の自覚式検眼装置５０のブロック図である。
検眼システム１は、他覚式検眼装置１０の検眼情報を自覚式検眼装置５０（検眼情報解析装置）に移動して、自覚式検眼装置５０で自覚式検眼を行うシステムである。
他覚式検眼装置１０は、他覚式検眼の機能を有する。他覚式検眼装置１０としては、特許公報（第４１７３２９６号）に記載されたもの等を利用できる。
他覚式検眼装置１０は、他覚式検眼するための検眼光学系、視標、チョッパ等を備える。他覚式検眼装置１０は、左右の被検眼の測定として、矯正に必要な球面度数、乱視度数、乱視軸、瞳孔間距離、加入度（ＡＤＤ）等の測定を行うことができる。他覚式検眼装置１０の検眼情報には、これらの測定情報が含まれる。
他覚式検眼装置１０は、他覚式検眼するための検眼光学系、視標、チョッパ等を備える。他覚式検眼装置１０は、左右の被検眼の測定として、矯正に必要な球面度数、乱視度数、乱視軸、瞳孔間距離、加入度（ＡＤＤ）等の測定を行うことができる。他覚式検眼装置１０の検眼情報には、これらの測定情報が含まれる。
（自覚式検眼装置５０の装置構成）
自覚式検眼装置５０（視機能解析装置）は、検者が被検者に対して自覚式検眼を行うための装置である。自覚式検眼装置５０の検眼情報５８ａには、被検眼の視機能の情報を含んでいる。自覚式検眼装置５０は、この視機能の検眼情報５８ａを解析する機能を備える
自覚式検眼装置５０（視機能解析装置）は、検者が被検者に対して自覚式検眼を行うための装置である。自覚式検眼装置５０の検眼情報５８ａには、被検眼の視機能の情報を含んでいる。自覚式検眼装置５０は、この視機能の検眼情報５８ａを解析する機能を備える
図１、図２に示すように、自覚式検眼装置５０は、卓上操作装置５１、自覚式測定部５２、記憶部５８、制御部５９を備える。
なお、本発明でいうコンピュータとは、記憶装置、制御装置等を備えた情報処理装置をいい、自覚式検眼装置５０は、記憶部５８、制御部５９等を備えた情報処理装置であり、本発明のコンピュータの概念に含まれる。
卓上操作装置５１及び自覚式検眼装置５０の本体間は、通信ケーブル５１ｃで接続されている。卓上操作装置５１は、操作部５１ａ、表示部５１ｂを備える。
操作部５１ａは、検者が自覚式検眼装置５０を操作するための操作する操作装置である。操作部５１ａは、キーボード、テンキー等を備える。また、操作部５１ａは、必要に応じて、ダイヤル等を備えていてもよい。操作部５１ａは、後述する解析処理の操作等を受け付ける。
表示部５１ｂは、液晶表示装置等である。後述するように、表示部５１ｂは、検眼結果や検眼情報の解析結果を示すグラフ等を表示する。
卓上操作装置５１は、通信ケーブル５１ｃを介して操作情報を自覚式検眼装置５０の本体に送信し、また、表示部５１ｂの表示情報を自覚式検眼装置５０の本体から受信する。
なお、本発明でいうコンピュータとは、記憶装置、制御装置等を備えた情報処理装置をいい、自覚式検眼装置５０は、記憶部５８、制御部５９等を備えた情報処理装置であり、本発明のコンピュータの概念に含まれる。
卓上操作装置５１及び自覚式検眼装置５０の本体間は、通信ケーブル５１ｃで接続されている。卓上操作装置５１は、操作部５１ａ、表示部５１ｂを備える。
操作部５１ａは、検者が自覚式検眼装置５０を操作するための操作する操作装置である。操作部５１ａは、キーボード、テンキー等を備える。また、操作部５１ａは、必要に応じて、ダイヤル等を備えていてもよい。操作部５１ａは、後述する解析処理の操作等を受け付ける。
表示部５１ｂは、液晶表示装置等である。後述するように、表示部５１ｂは、検眼結果や検眼情報の解析結果を示すグラフ等を表示する。
卓上操作装置５１は、通信ケーブル５１ｃを介して操作情報を自覚式検眼装置５０の本体に送信し、また、表示部５１ｂの表示情報を自覚式検眼装置５０の本体から受信する。
自覚式測定部５２は、被検眼を自覚式検眼するための部分である。自覚式測定部５２は、右眼及び左眼用にそれぞれ設けられている。自覚式測定部５２は、自覚式検眼するための検眼光学系等を備える。自覚式測定部５２の検眼光学系は、球面レンズ、円柱レンズ、ロータリプリズム等を備える。自覚式測定部５２としては、公知の構成（例えば、特開２０１２−８５６９７号公報に記載）を利用できる。
自覚式測定部５２による被検眼の測定は、球面度数、乱視度数、乱視軸、瞳孔間距離、加入度（ＡＤＤ）、プリズム量等である。検眼情報５８ａには、これらの測定情報が含まれる。
自覚式測定部５２は、プリズム量の測定として、遠用水平斜位検査及び近用水平斜位検査（２項目）と、遠用開散検査、遠用輻輳検査、近用開散検査及び近用輻輳検査（４項目）とを、公知の手法（例えば、特開２０１２−８５６９７号公報に記載）で行う。
自覚式測定部５２による被検眼の測定は、球面度数、乱視度数、乱視軸、瞳孔間距離、加入度（ＡＤＤ）、プリズム量等である。検眼情報５８ａには、これらの測定情報が含まれる。
自覚式測定部５２は、プリズム量の測定として、遠用水平斜位検査及び近用水平斜位検査（２項目）と、遠用開散検査、遠用輻輳検査、近用開散検査及び近用輻輳検査（４項目）とを、公知の手法（例えば、特開２０１２−８５６９７号公報に記載）で行う。
検者は、上記検査を、自覚式測定部５２を操作して、例えば、以下の手順で行う。
・遠用水平斜位検査及び近用水平斜位検査（２項目）
（１）ロータリプリズムを左検査窓５２Ｌ，右検査窓５２Ｒに配置する。
（２）縦一列視標をプリズム分離させ、左検査窓５２Ｌ，右検査窓５２Ｒにロータリプリズムを配置する。
（３）ロータリプリズムを回転してプリズム量を調整する。このとき、被検者に確認しながら、左右眼で見えている視標が縦一列に見えるように、プリズム量を調整する。
（４）被検者の斜位量として、視標が縦一列に見えたときのプリズム量を得る。
・遠用水平斜位検査及び近用水平斜位検査（２項目）
（１）ロータリプリズムを左検査窓５２Ｌ，右検査窓５２Ｒに配置する。
（２）縦一列視標をプリズム分離させ、左検査窓５２Ｌ，右検査窓５２Ｒにロータリプリズムを配置する。
（３）ロータリプリズムを回転してプリズム量を調整する。このとき、被検者に確認しながら、左右眼で見えている視標が縦一列に見えるように、プリズム量を調整する。
（４）被検者の斜位量として、視標が縦一列に見えたときのプリズム量を得る。
・遠用開散検査、遠用輻輳検査、近用開散検査及び近用輻輳検査（４項目）
（１）ロータリプリズムを左検査窓５２Ｌ，右検査窓５２Ｒに配置する（水平斜位検査と同様に縦一列視標を用いる）。
（２）ロータリプリズムを回転してプリズム量を調整する。このとき、視標がぼやけて見えたとき（ボヤケ）、視標が分離して見えたとき（分離）、視標が回復して見えたとき（再び縦一列に見えたとき）（回復）を確認し、そのときのプリズム量を得る。
なお、開散検査では、内側にプリズム量を加え（ベースイン、基底内方向）、被検者の開散力（融像幅）を得る。一方、輻輳検査では、外側にプリズム量を加え（ベースアウト、基底外方向）、被検者の輻輳力（融像幅）を得る。
（１）ロータリプリズムを左検査窓５２Ｌ，右検査窓５２Ｒに配置する（水平斜位検査と同様に縦一列視標を用いる）。
（２）ロータリプリズムを回転してプリズム量を調整する。このとき、視標がぼやけて見えたとき（ボヤケ）、視標が分離して見えたとき（分離）、視標が回復して見えたとき（再び縦一列に見えたとき）（回復）を確認し、そのときのプリズム量を得る。
なお、開散検査では、内側にプリズム量を加え（ベースイン、基底内方向）、被検者の開散力（融像幅）を得る。一方、輻輳検査では、外側にプリズム量を加え（ベースアウト、基底外方向）、被検者の輻輳力（融像幅）を得る。
記憶部５８は、自覚式検眼装置５０の動作に必要なプログラム、情報等を記憶するためのハードディスク、半導体メモリ素子等の記憶装置である。
記憶部５８は、検眼情報５８ａ、解析プログラム５８ｂ（視機能解析プログラム）を記憶する。
記憶部５８は、検眼情報５８ａ、解析プログラム５８ｂ（視機能解析プログラム）を記憶する。
検眼情報５８ａは、他覚式検眼装置１０で測定した測定情報に基づいて、自覚式検眼装置５０でさらに自覚式検眼したものを用いる。他覚式検眼装置１０から自覚式検眼装置５０への検眼情報の移動は、記憶装置（ＵＳＢメモリー等）を介する方法、他覚式検眼装置１０及び自覚式検眼装置５０間を通信ケーブで接続して通信する方法等を用いることができる。
解析プログラム５８ｂは、検眼情報５８ａに対して、後述する解析処理をするためのプログラムである。解析プログラム５８ｂは、後述する解析処理に必要な演算式、各種テーブル等を記憶する。
解析プログラム５８ｂは、検眼情報５８ａに対して、後述する解析処理をするためのプログラムである。解析プログラム５８ｂは、後述する解析処理に必要な演算式、各種テーブル等を記憶する。
制御部５９は、自覚式検眼装置５０を統括的に制御するための演算装置、制御装置である。制御部５９は、例えば、ＣＰＵ等から構成される。制御部５９は、記憶部５８に記憶された各種プログラムを適宜読み出して実行することにより、前述したハードウェアと協働し、本発明に係る各種機能を実現している。
（視機能の解析処理）
視機能の解析処理について説明する。
図３は、実施形態の自覚式検眼装置５０の解析処理を示すフローチャートである。
図４から図９は、実施形態の解析処理時の表示画面を示す図である。
解析処理では、以下の状態を前提とする。
・検者が、自覚式検眼装置５０の自覚式測定部５２を用いて、被検者の検眼を終えている。
・自覚式検眼装置５０は、検眼情報５８ａを記憶部５８に記憶している。
ステップＳ（以下Ｓという）１において、検者が検眼情報５８ａをグラフ表示するための操作をすると、制御部５９は、この操作を受け付けて、Ｓ２に進む。
Ｓ２において、制御部５９は、記憶部５８に記憶された検眼情報を読み出す。
視機能の解析処理について説明する。
図３は、実施形態の自覚式検眼装置５０の解析処理を示すフローチャートである。
図４から図９は、実施形態の解析処理時の表示画面を示す図である。
解析処理では、以下の状態を前提とする。
・検者が、自覚式検眼装置５０の自覚式測定部５２を用いて、被検者の検眼を終えている。
・自覚式検眼装置５０は、検眼情報５８ａを記憶部５８に記憶している。
ステップＳ（以下Ｓという）１において、検者が検眼情報５８ａをグラフ表示するための操作をすると、制御部５９は、この操作を受け付けて、Ｓ２に進む。
Ｓ２において、制御部５９は、記憶部５８に記憶された検眼情報を読み出す。
図５に示すように、制御部５９は、検眼情報５８ａに基づいて初期表示のグラフを生成し、これを表示部５１ｂに表示する。
図５（Ａ）は、被検眼が外斜位である場合の初期表示の例である。
図５（Ｂ）は、被検眼が内斜位である場合の初期表示の例である。
グラフは、ＤＬ（Ｄｏｎｄｅｒ’ｓ Ｌｉｎｅ：ドンダース線）、ＲＣＩＬ（Ｒｅｌａｔｉｖｅ Ｃｏｎｖｅｒｇｅｎｃｅ Ｉｎｈｉｂｉｔｏｒｙ Ｌｉｎｅ：相対輻輳抑制線：）、ＲＣＳＬ（Ｒｅｌａｔｉｖｅ Ｃｏｎｖｅｒｇｅｎｃｅ Ｓｔｉｍｕｌａｔｏｒｙ Ｌｉｎｅ：相対輻輳刺激線）、ＰＬ（Ｐｈｏｒｉａ Ｌｉｎｅ：斜位線）を備える。
縦軸は、距離（単位：Ｄｉｏｐｔｅｒ）であり、横軸は、プリズム度数（単位：プリズムＤｉｏｐｔｅｒ）である。
ＤＬは、予め規定された線である。ＤＬは、遠見及び近見において、被検眼が視標をはっきり、かつ、１つに見るために理想的な調節刺激及び輻輳刺激の関係を示す。つまり、ＤＬは、理想的な眼位（つまり、斜位のない眼位）を示す。ＤＬは、近見の基準点と遠見の基準点とを通る直線となる。
図５（Ａ）は、被検眼が外斜位である場合の初期表示の例である。
図５（Ｂ）は、被検眼が内斜位である場合の初期表示の例である。
グラフは、ＤＬ（Ｄｏｎｄｅｒ’ｓ Ｌｉｎｅ：ドンダース線）、ＲＣＩＬ（Ｒｅｌａｔｉｖｅ Ｃｏｎｖｅｒｇｅｎｃｅ Ｉｎｈｉｂｉｔｏｒｙ Ｌｉｎｅ：相対輻輳抑制線：）、ＲＣＳＬ（Ｒｅｌａｔｉｖｅ Ｃｏｎｖｅｒｇｅｎｃｅ Ｓｔｉｍｕｌａｔｏｒｙ Ｌｉｎｅ：相対輻輳刺激線）、ＰＬ（Ｐｈｏｒｉａ Ｌｉｎｅ：斜位線）を備える。
縦軸は、距離（単位：Ｄｉｏｐｔｅｒ）であり、横軸は、プリズム度数（単位：プリズムＤｉｏｐｔｅｒ）である。
ＤＬは、予め規定された線である。ＤＬは、遠見及び近見において、被検眼が視標をはっきり、かつ、１つに見るために理想的な調節刺激及び輻輳刺激の関係を示す。つまり、ＤＬは、理想的な眼位（つまり、斜位のない眼位）を示す。ＤＬは、近見の基準点と遠見の基準点とを通る直線となる。
ＲＣＩＬ、ＲＣＳＬ、ＰＬは、被検眼の検眼情報に基づいて作成される。ＲＣＩＬ、ＲＣＳＬ、ＰＬは、被検眼の視機能を示す。
ＲＣＩＬは、遠見における分離のプリズム量と近見におけるボヤケ又は分離のプリズム量とを結んだ直線である。ＲＣＩＬは、被検眼の開散力を示す。
ＲＣＳＬは、遠見の輻輳検査におけるボヤケ又は分離のプリズム量と近見の輻輳検査におけるボヤケ又は分離のプリズム量とを結んだ直線である。ＲＣＳＬは、被検眼の輻輳力を示す。
ＰＬは、被検眼の検眼情報に基づいて作成される。ＰＬは、遠見の水平斜位遠と近見の水平斜位とを結んだ線である。ＰＬは、被検眼の斜位の傾向を示す。
ＲＣＩＬは、遠見における分離のプリズム量と近見におけるボヤケ又は分離のプリズム量とを結んだ直線である。ＲＣＩＬは、被検眼の開散力を示す。
ＲＣＳＬは、遠見の輻輳検査におけるボヤケ又は分離のプリズム量と近見の輻輳検査におけるボヤケ又は分離のプリズム量とを結んだ直線である。ＲＣＳＬは、被検眼の輻輳力を示す。
ＰＬは、被検眼の検眼情報に基づいて作成される。ＰＬは、遠見の水平斜位遠と近見の水平斜位とを結んだ線である。ＰＬは、被検眼の斜位の傾向を示す。
（シェアード基準解析）
ここで、検者は、操作部５１ａを操作することにより、シェアード基準の解析をすることを選択できる。
Ｓ１０において、制御部５９は、シェアード基準の解析の選択操作を受け付けたと判定した場合には（Ｓ１０：ＹＥＳ）、Ｓ１１に進み、一方、受け付けていないと判定した場合には（Ｓ１０：ＮＯ）、Ｓ２０に進む。
ここで、検者は、操作部５１ａを操作することにより、シェアード基準の解析をすることを選択できる。
Ｓ１０において、制御部５９は、シェアード基準の解析の選択操作を受け付けたと判定した場合には（Ｓ１０：ＹＥＳ）、Ｓ１１に進み、一方、受け付けていないと判定した場合には（Ｓ１０：ＮＯ）、Ｓ２０に進む。
図４に示すように、Ｓ１１において、制御部５９は、シェアード基準の解析処理を行う。
Ｓ１２〜Ｓ１４では、制御部５９は、近見の処理を行う。
Ｓ１５〜Ｓ１６では、制御部５９は、遠見の処理を行う。
Ｓ１２〜Ｓ１４では、制御部５９は、近見の処理を行う。
Ｓ１５〜Ｓ１６では、制御部５９は、遠見の処理を行う。
Ｓ１２において、制御部５９は、近見において、被検眼が外斜位であるか、内斜位であるかを判定する。制御部５９は、被検眼が外斜位であると判定した場合には（Ｓ１２：ＹＥＳ）、Ｓ１３ａに進み、一方、被検眼が外斜位ではないと判定した場合（Ｓ１２：ＮＯ）、つまり内斜位であると判定した場合には、Ｓ１４ａに進む。
（シェアード基準解析の外斜位表示）
Ｓ１３ａにおいて、図６（Ａ）に示すように、制御部５９は、近見の基準線上において、斜位量の範囲Ｐ（ＰＬ及びＤＬの領域）の色彩と、輻輳余力の範囲Ｒ（ＤＬ及びＲＣＳＬの領域）の色彩とを異なる色彩にして表示する。
（シェアード基準解析の内斜位表示）
Ｓ１４ａにおいて、図６（Ｂ）に示すように、制御部５９は、近見において、開散余力の範囲Ｒ（ＲＣＩＬ及びＤＬ間の領域）の色彩と、斜位量の範囲Ｐ（ＤＬ及びＰＬ間の領域）の色彩とを異なる色彩にして表示する。
Ｓ１３ａにおいて、図６（Ａ）に示すように、制御部５９は、近見の基準線上において、斜位量の範囲Ｐ（ＰＬ及びＤＬの領域）の色彩と、輻輳余力の範囲Ｒ（ＤＬ及びＲＣＳＬの領域）の色彩とを異なる色彩にして表示する。
（シェアード基準解析の内斜位表示）
Ｓ１４ａにおいて、図６（Ｂ）に示すように、制御部５９は、近見において、開散余力の範囲Ｒ（ＲＣＩＬ及びＤＬ間の領域）の色彩と、斜位量の範囲Ｐ（ＤＬ及びＰＬ間の領域）の色彩とを異なる色彩にして表示する。
Ｓ１４〜Ｓ１５では、制御部５９は、遠見について、Ｓ１１〜Ｓ１３の近見と同様に、シェアード基準解析の外斜位表示、内斜位表示に関する処理を行う。
（シェアード基準解析の矯正値算出処理）
ここで、シェアード基準解析の矯正値算出処理について説明する。
シェアード基準の判定基準では、斜位量の適正判断は、以下の取りである。
・外斜位の場合：輻輳余力Ｒが斜位量Ｐの２倍以上でなければならない。
・内斜位の場合：開散余力Ｒが斜位量Ｐの２倍以上でなければならない。
自覚式検眼装置５０は、図６に示すようにグラフ表示する。このため、検者は、グラフを参照することにより、被検眼がこの判定基準からどの程度外れているかを確認できる。
例えば、図６（Ａ）の外斜位の例は、近見、遠見ともに、輻輳余力Ｒが斜位量Ｐの２倍以上ではないので、適正ではないことを示す。
また、図６（Ｂ）の内斜位の例も、近見、遠見ともに、開散余力Ｒが斜位量Ｐの２倍以上ではないので、適正ではないことを示す。
ここで、シェアード基準解析の矯正値算出処理について説明する。
シェアード基準の判定基準では、斜位量の適正判断は、以下の取りである。
・外斜位の場合：輻輳余力Ｒが斜位量Ｐの２倍以上でなければならない。
・内斜位の場合：開散余力Ｒが斜位量Ｐの２倍以上でなければならない。
自覚式検眼装置５０は、図６に示すようにグラフ表示する。このため、検者は、グラフを参照することにより、被検眼がこの判定基準からどの程度外れているかを確認できる。
例えば、図６（Ａ）の外斜位の例は、近見、遠見ともに、輻輳余力Ｒが斜位量Ｐの２倍以上ではないので、適正ではないことを示す。
また、図６（Ｂ）の内斜位の例も、近見、遠見ともに、開散余力Ｒが斜位量Ｐの２倍以上ではないので、適正ではないことを示す。
制御部５９は、以下の式によって、矯正プリズム量を算出できる（矯正プリズム量算出処理）。
Δ＝（２Ｐ−Ｒ−シミュレーションプリズム量）／３・・・（式１）
Δ：矯正プリズム量
シミュレーションプリズム量：通常はゼロであるが、シミュレーションのための仮の数値である。Ｓ１１（Ｓ１２〜Ｓ１６）の処理では、ゼロを用いる。
外斜位の場合（Ｓ１３、Ｓ１５）
Ｐ：斜位量
Ｒ：輻輳余力
内斜位の場合（Ｓ１４、Ｓ１５）
Ｐ：斜位量
Ｒ：開散余力（虚相対輻輳量）
Δ＝（２Ｐ−Ｒ−シミュレーションプリズム量）／３・・・（式１）
Δ：矯正プリズム量
シミュレーションプリズム量：通常はゼロであるが、シミュレーションのための仮の数値である。Ｓ１１（Ｓ１２〜Ｓ１６）の処理では、ゼロを用いる。
外斜位の場合（Ｓ１３、Ｓ１５）
Ｐ：斜位量
Ｒ：輻輳余力
内斜位の場合（Ｓ１４、Ｓ１５）
Ｐ：斜位量
Ｒ：開散余力（虚相対輻輳量）
また、視機能は、プリズム量ではなく、矯正加入度（ＡＤＤ）によっても矯正できる。制御部５９は、以下の式によって、矯正値として矯正加入度（ＡＤＤ）を算出できる（矯正加入度算出処理）。
Ｓ＝Δ／（ＡＣ／Ａ）・・・（式２）
Ｓ：矯正加入度ＡＤＤ
Δ：矯正プリズム量
ＡＣ／Ａ：ＡＣ／Ａ比（ＰＬの傾き）
Ｓ＝Δ／（ＡＣ／Ａ）・・・（式２）
Ｓ：矯正加入度ＡＤＤ
Δ：矯正プリズム量
ＡＣ／Ａ：ＡＣ／Ａ比（ＰＬの傾き）
Ｓ１３ｂ，Ｓ１４ｂにおいて、制御部５９は、上記算出式に基づいて、矯正に必要な矯正プリズム量、矯正加入度（ＡＤＤ）を算出する。制御部５９は、矯正プリズム量、矯正加入度（ＡＤＤ）を表示部５１ｂに表示する。制御部５９は、これらを表示した後、Ｓ２０に進む。
後述するように、検者は、プリズム量、加入度を変更して、上記シェアード基準の判定基準を満たすように、シミュレーションをすることができる。このシミュレーションにおいて、検者は、これらのグラフの情報や、算出した矯正プリズム量、矯正加入度（ＡＤＤ）を参照することができる。
後述するように、検者は、プリズム量、加入度を変更して、上記シェアード基準の判定基準を満たすように、シミュレーションをすることができる。このシミュレーションにおいて、検者は、これらのグラフの情報や、算出した矯正プリズム量、矯正加入度（ＡＤＤ）を参照することができる。
（パーシバル基準解析）
ここで、検者は、操作部５１ａを操作することにより、パーシバル基準の解析をすることを選択できる。
図３に示すように、Ｓ２０において、制御部５９は、パーシバル基準の解析の選択操作を受け付けたと判定した場合には（Ｓ２０：ＹＥＳ）、Ｓ２１に進み、一方、受け付けていないと判定した場合には（Ｓ２０：ＮＯ）、Ｓ３０に進む。
ここで、検者は、操作部５１ａを操作することにより、パーシバル基準の解析をすることを選択できる。
図３に示すように、Ｓ２０において、制御部５９は、パーシバル基準の解析の選択操作を受け付けたと判定した場合には（Ｓ２０：ＹＥＳ）、Ｓ２１に進み、一方、受け付けていないと判定した場合には（Ｓ２０：ＮＯ）、Ｓ３０に進む。
Ｓ２１において、図７に示すように、制御部５９は、近見において、輻輳幅のうち中央の１／３の範囲Ｂと、その両側の範囲とを、異なる色彩にして表示する。また、制御部５９は、遠見において、輻輳幅のうち中央の１／３の範囲と、その両側の１／３の範囲とを、異なる色彩にして表示する。
ここで、パーシバル基準の解析について説明する。
パーシバル基準の判定基準は、以下の通りである。
・ＤＬが、輻輳幅（ＲＣＩＬ及びＲＣＳＬ間の長さ）のうち中央の１／３の範囲Ｂを通る。
自覚式検眼装置５０は、図７に示すようにグラフ表示する。図７では、近見、遠見ともに、ＤＬが範囲Ｂを通っていない。検者は、グラフを参照することにより、ＤＬが範囲Ｂからどの程度外れているかを確認できる。
パーシバル基準の判定基準は、以下の通りである。
・ＤＬが、輻輳幅（ＲＣＩＬ及びＲＣＳＬ間の長さ）のうち中央の１／３の範囲Ｂを通る。
自覚式検眼装置５０は、図７に示すようにグラフ表示する。図７では、近見、遠見ともに、ＤＬが範囲Ｂを通っていない。検者は、グラフを参照することにより、ＤＬが範囲Ｂからどの程度外れているかを確認できる。
また、制御部５９は、以下の式によって、矯正プリズム量を算出できる（矯正プリズム量算出処理）。
Δ＝（Ｇ−２Ｌ−シミュレーションプリズム量）／３・・・（式１１）
シミュレーションプリズム量：通常はゼロであるが、シミュレーションのための仮の数値（内斜位、外斜位の区別なし）。Ｓ２０、Ｓ２１の処理では、ゼロを用いる。
Ｇ：数量的に大きい相対輻輳量（虚性相対輻輳量、実性相対輻輳量のうち大きい方）
Ｌ：数量的に小さい相対輻輳量（虚性相対輻輳量、実性相対輻輳量のうち小さい方）
Δ＝（Ｇ−２Ｌ−シミュレーションプリズム量）／３・・・（式１１）
シミュレーションプリズム量：通常はゼロであるが、シミュレーションのための仮の数値（内斜位、外斜位の区別なし）。Ｓ２０、Ｓ２１の処理では、ゼロを用いる。
Ｇ：数量的に大きい相対輻輳量（虚性相対輻輳量、実性相対輻輳量のうち大きい方）
Ｌ：数量的に小さい相対輻輳量（虚性相対輻輳量、実性相対輻輳量のうち小さい方）
また、シェアード基準と同様に、加入度によって視機能を調整する場合には、制御部５９は、以下の式によって、加入度を算出する（矯正加入度算出処理）。
Ｓ＝Δ／（ＡＣ／Ａ）・・・（式１２）
なお、式（１２）は、式（２）と同様に定義できる。
制御部５９は、上記算出式に基づいて、制御部５９は、上記判定基準に基づいて、矯正に必要な矯正プリズム量、矯正加入度を算出する。制御部５９は、矯正プリズム量、矯正加入度を表示部５１ｂに表示する。
Ｓ＝Δ／（ＡＣ／Ａ）・・・（式１２）
なお、式（１２）は、式（２）と同様に定義できる。
制御部５９は、上記算出式に基づいて、制御部５９は、上記判定基準に基づいて、矯正に必要な矯正プリズム量、矯正加入度を算出する。制御部５９は、矯正プリズム量、矯正加入度を表示部５１ｂに表示する。
なお、図７は、被検眼が外斜位の場合のパーシバル基準解析の例である。つまり、ＰＬがＤＬよりも左側に位置する例である。一方、内斜位の場合には、ＰＬがＤＬよりも右側に位置することになる。制御部５９は、被検眼が内斜位の場合にも、外斜位と同様にパーシバル基準解析を行うことができる。内斜位の場合の詳細な説明は、省略する。
後述するように、検者は、プリズム量、加入度を変更して、上記パーシバル基準の判定基準を満たすように、シミュレーションをすることができる。このシミュレーションにおいて、検者は、これらのグラフの情報や、算出した矯正プリズム量、矯正加入度を参照することができる。
（シミュレーション）
ここで、検者は、操作部５１ａを操作して、矯正値であるプリズム量、加入度の変更値を入力することにより、表示されたグラフをシミュレーションできる。プリズム量、加入度の変更値の入力は、表示画面の矢印ボタン５１ｄ（図６参照）を操作部５１ａで選択すればよい。
ここで、検者は、操作部５１ａを操作して、矯正値であるプリズム量、加入度の変更値を入力することにより、表示されたグラフをシミュレーションできる。プリズム量、加入度の変更値の入力は、表示画面の矢印ボタン５１ｄ（図６参照）を操作部５１ａで選択すればよい。
（プリズム量のシミュレーション）
Ｓ３０において、制御部５９は、矯正値としてシミュレーションプリズム量の入力操作を受け付けたと判定した場合には（Ｓ３０：ＹＥＳ）、Ｓ３１に進み、一方、受け付けていないと判定した場合には（Ｓ３０：ＮＯ）、Ｓ４０に進む。
Ｓ３０において、制御部５９は、矯正値としてシミュレーションプリズム量の入力操作を受け付けたと判定した場合には（Ｓ３０：ＹＥＳ）、Ｓ３１に進み、一方、受け付けていないと判定した場合には（Ｓ３０：ＮＯ）、Ｓ４０に進む。
Ｓ３１において、制御部５９は、シミュレーションプリズム量を反映して、以下の処理を行う。
・制御部５９は、シミュレーションプリズム量を反映して、上記シェアード基準解析又はパーシバル基準解析と同様に解析を行う。制御部５９は、シミュレーション以前のグラフを、ＤＬを維持した状態で、ＲＣＩＬ、ＲＣＳＬ、ＰＬをシミュレーションプリズム量だけ、左右方向に移動したグラフに更新する。検者は、このグラフを、処方値決定の参考にできる。
・制御部５９は、シミュレーションプリズム量を反映した移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、さらに矯正が必要な再矯正値（再矯正プリズム量、再矯正加入度）を算出する。制御部５９は、これらを表示部５１ｂに表示する。
なお、シェアード基準解析においては、前述した式（１）、（２）に基づいて、これらの再矯正値を算出する。
一方、パーシバル基準解析においては、前述した式（１１）、（１２）に基づいて、これらの再矯正値を算出する。
・制御部５９は、シミュレーションプリズム量を反映して、上記シェアード基準解析又はパーシバル基準解析と同様に解析を行う。制御部５９は、シミュレーション以前のグラフを、ＤＬを維持した状態で、ＲＣＩＬ、ＲＣＳＬ、ＰＬをシミュレーションプリズム量だけ、左右方向に移動したグラフに更新する。検者は、このグラフを、処方値決定の参考にできる。
・制御部５９は、シミュレーションプリズム量を反映した移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、さらに矯正が必要な再矯正値（再矯正プリズム量、再矯正加入度）を算出する。制御部５９は、これらを表示部５１ｂに表示する。
なお、シェアード基準解析においては、前述した式（１）、（２）に基づいて、これらの再矯正値を算出する。
一方、パーシバル基準解析においては、前述した式（１１）、（１２）に基づいて、これらの再矯正値を算出する。
（シェアード基準解析におけるシミュレーションプリズム量の表示処理）
図８（Ａ）は、図６（Ａ）において外斜位のシェアード基準解析をグラフ表示している場合に、シミュレーションプリズム量として、「プリズム量３．０ΔＢＩ」の入力を受け付けた場面である。制御部５９は、この「プリズム量３．０ΔＢＩ」を反映して、グラフのＲＣＩＬ、ＲＣＳＬ、ＰＬを移動する。
また、制御部５９は、移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、再矯正プリズム量、再矯正加入度を算出する。図８（Ａ）の場面では、再矯正プリズム量、再矯正加入度が不要であるため、制御部５９は、「ｕｎｎｅｃｅｓｓａｒｙ」と表示する。
図８（Ａ）は、図６（Ａ）において外斜位のシェアード基準解析をグラフ表示している場合に、シミュレーションプリズム量として、「プリズム量３．０ΔＢＩ」の入力を受け付けた場面である。制御部５９は、この「プリズム量３．０ΔＢＩ」を反映して、グラフのＲＣＩＬ、ＲＣＳＬ、ＰＬを移動する。
また、制御部５９は、移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、再矯正プリズム量、再矯正加入度を算出する。図８（Ａ）の場面では、再矯正プリズム量、再矯正加入度が不要であるため、制御部５９は、「ｕｎｎｅｃｅｓｓａｒｙ」と表示する。
なお、制御部５９は、図６（Ｂ）において内斜位をグラフ表示している場合にも、同様に、シミュレーションプリズム量の入力を受け付けて、これを反映してグラフ表示し、また、再矯正値を表示する。詳細な説明は、省略する。
（パーシバル基準解析におけるプリズム量シミュレーションの表示処理）
図８（Ｂ）は、図７おいて外斜位のパーシバル基準解析をグラフ表示している場合に、シミュレーションプリズム量として、「プリズム量２．０ΔＢＩ」の入力を受け付けた場面である。制御部５９は、この「プリズム量２．０ΔＢＩ」を反映して、グラフのＲＣＩＬ、ＲＣＳＬ、ＰＬを移動する。
また、制御部５９は、「プリズム量２．０ΔＢＩ」を反映して、移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、再矯正プリズム量、再矯正加入度を算出する。図８（Ｂ）の場面では、プリズム量、加入度の再矯正が不要であるため、制御部５９は、「ｕｎｎｅｃｅｓｓａｒｙ」と表示する。
なお、制御部５９は、内斜位をグラフ表示している場合にも、同様に、シミュレーションプリズム量の入力を受け付けて、これを反映してグラフ表示し、また、再矯正値を表示する。詳細な説明は、省略する。
図８（Ｂ）は、図７おいて外斜位のパーシバル基準解析をグラフ表示している場合に、シミュレーションプリズム量として、「プリズム量２．０ΔＢＩ」の入力を受け付けた場面である。制御部５９は、この「プリズム量２．０ΔＢＩ」を反映して、グラフのＲＣＩＬ、ＲＣＳＬ、ＰＬを移動する。
また、制御部５９は、「プリズム量２．０ΔＢＩ」を反映して、移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、再矯正プリズム量、再矯正加入度を算出する。図８（Ｂ）の場面では、プリズム量、加入度の再矯正が不要であるため、制御部５９は、「ｕｎｎｅｃｅｓｓａｒｙ」と表示する。
なお、制御部５９は、内斜位をグラフ表示している場合にも、同様に、シミュレーションプリズム量の入力を受け付けて、これを反映してグラフ表示し、また、再矯正値を表示する。詳細な説明は、省略する。
（加入度のシミュレーション）
Ｓ４０において、制御部５９は、矯正値としてシミュレーション加入度の入力操作を受け付けたと判定した場合には（Ｓ４０：ＹＥＳ）、Ｓ４１に進み、一方、受け付けていないと判定した場合には（Ｓ４０：ＮＯ）、Ｓ５０に進む。
Ｓ４０において、制御部５９は、矯正値としてシミュレーション加入度の入力操作を受け付けたと判定した場合には（Ｓ４０：ＹＥＳ）、Ｓ４１に進み、一方、受け付けていないと判定した場合には（Ｓ４０：ＮＯ）、Ｓ５０に進む。
Ｓ４１において、制御部５９は、シミュレーション加入度を反映して、以下の処理を行う。
・制御部５９は、シミュレーション加入度を反映して、上記シェアード基準解析又はパーシバル基準解析と同様に解析を行う。制御部５９は、シミュレーション以前のグラフを、ＲＣＩＬ、ＲＣＳＬ、ＰＬの表示位置を維持し、かつ、ＤＬ、近見の基準線の表示位置を入力された加入度だけ上下方向に移動したグラフに更新する。検者は、このグラフを、処方値決定の参考にできる。
なお、加入度による矯正は、近見の状態のみ必要である。このため、制御部５９は、もとのＤＬは、残した状態で、新たなＤＬであるＮＤＬを作成し、これを上下方向に移動する。
・制御部５９は、近見において、シミュレーション加入度を反映した移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、さらに矯正が必要な再矯正値（再矯正プリズム量、再矯正加入度）を算出する。制御部５９は、これらを表示部５１ｂに表示する。
なお、シェアード基準解析においては、前述した式（１）、（２）に基づいて、これらの再矯正値を算出する。
一方、パーシバル基準解析においては、前述した式（１１）、（１２）に基づいて、これらの再矯正値を算出する。
・制御部５９は、シミュレーション加入度を反映して、上記シェアード基準解析又はパーシバル基準解析と同様に解析を行う。制御部５９は、シミュレーション以前のグラフを、ＲＣＩＬ、ＲＣＳＬ、ＰＬの表示位置を維持し、かつ、ＤＬ、近見の基準線の表示位置を入力された加入度だけ上下方向に移動したグラフに更新する。検者は、このグラフを、処方値決定の参考にできる。
なお、加入度による矯正は、近見の状態のみ必要である。このため、制御部５９は、もとのＤＬは、残した状態で、新たなＤＬであるＮＤＬを作成し、これを上下方向に移動する。
・制御部５９は、近見において、シミュレーション加入度を反映した移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、さらに矯正が必要な再矯正値（再矯正プリズム量、再矯正加入度）を算出する。制御部５９は、これらを表示部５１ｂに表示する。
なお、シェアード基準解析においては、前述した式（１）、（２）に基づいて、これらの再矯正値を算出する。
一方、パーシバル基準解析においては、前述した式（１１）、（１２）に基づいて、これらの再矯正値を算出する。
（シェアード基準解析におけるシミュレーション加入度の表示処理）
図９（Ａ）は、図６（Ａ）において外斜位のシェアード基準解析をグラフ表示している場合に、シミュレーション加入度として、「加入度−０．２５Ｄ」の入力を受け付けた場面である。制御部５９は、この「加入度−０．２５Ｄ」を反映して、ＮＤＬ、近見の基準線の表示位置を上側に移動する。
また、制御部５９は、移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、再矯正プリズム量、再矯正加入度を算出する。図９（Ａ）の場面では、再矯正プリズム量「１．４ΔＢＩ」、再矯正加入度「−０．２２Ｄ」を表示している。
図９（Ａ）は、図６（Ａ）において外斜位のシェアード基準解析をグラフ表示している場合に、シミュレーション加入度として、「加入度−０．２５Ｄ」の入力を受け付けた場面である。制御部５９は、この「加入度−０．２５Ｄ」を反映して、ＮＤＬ、近見の基準線の表示位置を上側に移動する。
また、制御部５９は、移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、再矯正プリズム量、再矯正加入度を算出する。図９（Ａ）の場面では、再矯正プリズム量「１．４ΔＢＩ」、再矯正加入度「−０．２２Ｄ」を表示している。
なお、制御部５９は、図６（Ｂ）において内斜位をグラフ表示している場合にも、同様に、加入度の入力を受け付けて、これを反映してグラフ表示し、また、再矯正値を表示する。詳細な説明は、省略する。
（パーシバル基準解析におけるシミュレーション加入度の表示処理）
図９（Ｂ）は、図７において外斜位のパーシバル基準解析をグラフ表示している場合に、シミュレーション加入度として、「加入度−０．２５Ｄ」の入力を受け付けた場面である。制御部５９は、この「加入度−０．２５Ｄ」を反映して、ＮＤＬ、近見の基準線の表示位置を上側に移動する。図９（Ｂ）では、近見において、ＤＬが範囲Ｂを通っている。検者は、グラフを参照することにより、判定基準を満たしていると確認できる。
また、制御部５９は、移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、再矯正プリズム量、再矯正加入度を算出する。図９（Ｂ）の場面では、近見において、プリズム量、加入度の再矯正が不要であるため、制御部５９は、「ｕｎｎｅｃｅｓｓａｒｙ」と表示する。
図９（Ｂ）は、図７において外斜位のパーシバル基準解析をグラフ表示している場合に、シミュレーション加入度として、「加入度−０．２５Ｄ」の入力を受け付けた場面である。制御部５９は、この「加入度−０．２５Ｄ」を反映して、ＮＤＬ、近見の基準線の表示位置を上側に移動する。図９（Ｂ）では、近見において、ＤＬが範囲Ｂを通っている。検者は、グラフを参照することにより、判定基準を満たしていると確認できる。
また、制御部５９は、移動後のグラフ表示に対応した各数値に基づいて、再矯正プリズム量、再矯正加入度を算出する。図９（Ｂ）の場面では、近見において、プリズム量、加入度の再矯正が不要であるため、制御部５９は、「ｕｎｎｅｃｅｓｓａｒｙ」と表示する。
なお、制御部５９は、内斜位をグラフ表示している場合にも、同様に、加入度の入力を受け付けて、これを反映してグラフ表示し、また、再矯正値を表示する。詳細な説明は、省略する。
ここで、検者は、操作部５１ａを操作して、解析を終了するか否かを選択できる。
Ｓ５０において、制御部５９は、解析終了の操作を受け付けたと判定した場合には（Ｓ５０：ＹＥＳ）、Ｓ６０に進み、一方、受け付けていないと判定した場合には（Ｓ５０：ＮＯ）、Ｓ１０からの処理を繰り返す。
Ｓ６０において、制御部５９は、一連の処理を終了する。
Ｓ５０において、制御部５９は、解析終了の操作を受け付けたと判定した場合には（Ｓ５０：ＹＥＳ）、Ｓ６０に進み、一方、受け付けていないと判定した場合には（Ｓ５０：ＮＯ）、Ｓ１０からの処理を繰り返す。
Ｓ６０において、制御部５９は、一連の処理を終了する。
Ｓ１０から繰り返す処理では、制御部５９は、これまでの入力を反映させた処理を行う。
例えば、制御部５９は、最初の処理で、シェアード基準の解析を行って（Ｓ１０：ＹＥＳ→Ｓ１１）、加入度の変更を受け付けた場合には（Ｓ４０：ＹＥＳ→Ｓ４１）、その後のＳ１０から繰り返す処理では、その変更後の加入度等を反映する。すなわち、制御部５９は、繰り返す処理でパーシバル基準が選択された場合（Ｓ２０：ＹＥＳ→Ｓ２１）や、加入度の変更を受け付けた場合には（Ｓ３０：ＹＥＳ→Ｓ３１）、その前の処理の加入度等の変更を反映させる。
これにより、検者は、プリズム量、加入度の両方を変更してシミュレーションできるし、かつ、パーシバル基準、シェアード基準の両方を解析できる。
例えば、制御部５９は、最初の処理で、シェアード基準の解析を行って（Ｓ１０：ＹＥＳ→Ｓ１１）、加入度の変更を受け付けた場合には（Ｓ４０：ＹＥＳ→Ｓ４１）、その後のＳ１０から繰り返す処理では、その変更後の加入度等を反映する。すなわち、制御部５９は、繰り返す処理でパーシバル基準が選択された場合（Ｓ２０：ＹＥＳ→Ｓ２１）や、加入度の変更を受け付けた場合には（Ｓ３０：ＹＥＳ→Ｓ３１）、その前の処理の加入度等の変更を反映させる。
これにより、検者は、プリズム量、加入度の両方を変更してシミュレーションできるし、かつ、パーシバル基準、シェアード基準の両方を解析できる。
このように、処理を繰り返すことによって、検者は、例えば、シェアード基準解析と、パーシバル基準解析とを比較できる。
例えば、図９（Ａ）、図９（Ｂ）のシミュレーション加入度を比較すると、図９（Ａ）のシェアード基準解析では、近見の再矯正が必要であるのに対して、図９（Ｂ）のパーシバル基準解析では、近見の再矯正が不要である。このような場合、検者は、処理を繰り返すことによって、様々にシミュレーションしながら、処方値を決めることができる。また、検者は、２つの基準のうちどの基準を適用するか、又は両方の基準を適用するか等を、被検者の特徴（年齢、眼鏡の使用方法）を考慮しながら、処方値を決めることができる。
例えば、図９（Ａ）、図９（Ｂ）のシミュレーション加入度を比較すると、図９（Ａ）のシェアード基準解析では、近見の再矯正が必要であるのに対して、図９（Ｂ）のパーシバル基準解析では、近見の再矯正が不要である。このような場合、検者は、処理を繰り返すことによって、様々にシミュレーションしながら、処方値を決めることができる。また、検者は、２つの基準のうちどの基準を適用するか、又は両方の基準を適用するか等を、被検者の特徴（年齢、眼鏡の使用方法）を考慮しながら、処方値を決めることができる。
以上説明したように、実施形態の自覚式検眼装置５０は、視機能の検眼結果を分りやすく表示し、また、視機能異常の矯正値を自動で算出するので、経験の少ない検者でも処方値を容易に得ることができる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は前述した実施形態に限定されるものではなく、例えば、後述する変形形態等のように種々の変形や変更が可能であって、それらも本発明の技術的範囲内である。また、実施形態に記載した効果は、本発明から生じる最も好適な効果を列挙したに過ぎず、本発明による効果は、実施形態に記載したものに限定されない。なお、前述した実施形態及び後述する変形形態は、適宜組み合わせて用いることもできるが、詳細な説明は省略する。
（変形形態）
（１）実施形態において、視機能の解析処理は、自覚式検眼装置５０が行う例を示したが、これに限定されない。この解析処理は、解析プログラムを記憶する記憶装置、これを実行する制御装置等を備える情報端末（例えばパーソナルコンピュータ等）であれば行うことができる。また、卓上操作装置にこのような情報端末の機能を設けて、卓上操作装置がこの解析処理を行ってもよい。
（１）実施形態において、視機能の解析処理は、自覚式検眼装置５０が行う例を示したが、これに限定されない。この解析処理は、解析プログラムを記憶する記憶装置、これを実行する制御装置等を備える情報端末（例えばパーソナルコンピュータ等）であれば行うことができる。また、卓上操作装置にこのような情報端末の機能を設けて、卓上操作装置がこの解析処理を行ってもよい。
（２）実施形態において、自覚式測定装置は、シミュレーションとしてグラフ表示、再矯正値の算出等のみを行う例を示したが、これに限定されない。例えば、自覚式測定部は、検者からの操作を受け付けて、自覚式測定部を、再矯正値（再矯正プリズム量、再矯正加入度）を反映するように駆動してもよい。これにより、自覚式測定装置は、シミュレーション後の再矯正値に対応した検眼光学系を作成できる。この場合には、被検者は、作製する眼鏡等の見え具合を確認でき、適切であるかを確認できる。
５０ 自覚式検眼装置
５１ｂ 表示部
５２ 自覚式測定部
５８ 記憶部
５８ｂ 解析プログラム
５９ 制御部
５１ｂ 表示部
５２ 自覚式測定部
５８ 記憶部
５８ｂ 解析プログラム
５９ 制御部
Claims (10)
- 被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示し、
プリズム量の変更操作に応じて、前記ドンダース線の表示位置を維持した状態で、前記相対輻輳抑制線、前記相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を移動すること、
を特徴とする視機能解析装置。 - 被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示し、
加入度の変更操作に応じて、前記相対輻輳抑制線、前記相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を維持した状態で、前記ドンダース線の表示位置を移動すること、
を特徴とする視機能解析装置。 - 被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示し、
外斜位である場合には、前記斜位線及びドンダース線間の領域と、前記ドンダース線及び前記相対輻輳刺激線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示し、
内斜位である場合には、前記相対輻輳抑制線及び前記ドンダース線の領域と、前記ドンダース線及び前記斜位線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示すること、
を特徴とする視機能解析装置。 - 被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、
表示部と、
前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、
前記制御部は、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線とを表示し、
前記相対輻輳抑制線及び前記相対輻輳刺激線間の中央の１／３の領域と、前記中央の１／３の領域の両外側の１／３の領域とを、視覚的に識別可能に表示すること、
を特徴とする視機能解析装置。 - 請求項１から請求項４のいずれかに記載の視機能解析装置において、
前記制御部は、
前記解析基準線に対応した数値を用いて、矯正値として、近見のプリズム量、遠見のプリズム量及び加入度のうち少なくとも１つを算出すること、
を特徴とする視機能解析装置。 - 被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示させ、
プリズム量の変更操作に応じて、ドンダース線の表示位置を維持した状態で、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を移動させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラム。 - 被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示させ、
加入度の変更操作に応じて、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を維持した状態で、ドンダース線の表示位置を移動させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラム。 - 被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示させ、
外斜位である場合には、前記斜位線及びドンダース線間の領域と、前記ドンダース線及び前記相対輻輳刺激線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示させ、
内斜位である場合には、前記相対輻輳抑制線及び前記ドンダース線の領域と、前記ドンダース線及び前記斜位線間の領域とを、視覚的に識別可能に表示させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラム。 - 被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析するコンピュータの視機能解析プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御手段として機能させ、
前記制御手段を、
解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線とを表示させ、
相対輻輳抑制線及び相対輻輳刺激線間の中央の１／３の領域と、前記中央の１／３の領域の両外側の１／３の領域とを、視覚的に識別可能に表示させるように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラム。 - 請求項６から請求項９のいずれかに記載の視機能解析プログラムにおいて、
前記制御手段を、
前記解析基準線に対応した数値を用いて、矯正値として、近見のプリズム量、遠見のプリズム量及び加入度のうち少なくとも１つを算出するように機能させること、
を特徴とする視機能解析プログラム。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013140861A JP2015012964A (ja) | 2013-07-04 | 2013-07-04 | 視機能解析装置、視機能解析プログラム |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2013140861A JP2015012964A (ja) | 2013-07-04 | 2013-07-04 | 視機能解析装置、視機能解析プログラム |
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|---|---|
| JP2015012964A true JP2015012964A (ja) | 2015-01-22 |
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| JP2013140861A Pending JP2015012964A (ja) | 2013-07-04 | 2013-07-04 | 視機能解析装置、視機能解析プログラム |
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|---|---|
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Citations (4)
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|---|---|---|---|---|
| JPH1119041A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-26 | Nidek Co Ltd | 検眼装置 |
| WO2010090144A1 (ja) * | 2009-02-05 | 2010-08-12 | Hoya株式会社 | 眼鏡レンズの評価方法、眼鏡レンズの設計方法、眼鏡レンズの製造方法、眼鏡レンズの製造システム、及び眼鏡レンズ |
| WO2012014810A1 (ja) * | 2010-07-27 | 2012-02-02 | Hoya株式会社 | 眼鏡レンズの評価方法、眼鏡レンズの設計方法、眼鏡レンズの製造方法、眼鏡レンズの製造システム、及び眼鏡レンズ |
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-
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- 2013-07-04 JP JP2013140861A patent/JP2015012964A/ja active Pending
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| TAKASHI SHIBATA ET. AL.: ""The zone of comfort: Predicting visual discomfort with stereo displays"", JOURNAL OF VISION, vol. 11, no. 8, JPN6017009701, 21 July 2011 (2011-07-21), pages 11 - 1, XP055171846, ISSN: 0003523417, DOI: 10.1167/11.8.11 * |
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