JP2015011729A - 半導体装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】リフレッシュ中に無アクセス期間が生じたとしても、リフレッシュ動作を継続することを可能にする。
【解決手段】アイドル信号IDLEを生成するアイドル信号生成回路45と、リフレッシュ動作の開始に応じて活性化し、アイドル信号IDLEの活性化に応じて非活性となるリフレッシュ状態信号を生成するとともに、リフレッシュ状態信号が活性化している場合に、アクトコマンドIACTRF<7:0>のうちの少なくとも1つを順次活性化するリフレッシュ制御回路37と、リフレッシュ状態信号の活性化に応じて活性化し、リフレッシュ制御回路37が該リフレッシュ状態信号に対応して最後に活性化するアクトコマンドの活性化後に非活性となる信号REFAPSを生成するアクティブ保護回路44とを備え、アイドル信号生成回路45は、信号REFAPSが活性化している場合にはアイドル信号IDLEを活性化しないよう構成される。
【選択図】図1

Description

本発明は半導体装置に関し、特に、リフレッシュ動作を必要とする半導体装置に関する。
DRAM(Dynamic Random Access Memory)などの半導体装置では、メモリセル内のデータを保持するため、定期的にデータの再書き込みを行う必要がある。これは「リフレッシュ」と呼ばれる動作であり、セルフリフレッシュとオートリフレッシュの2種類がある。さらに、複数バンクを有する半導体装置の場合、オートリフレッシュは、オールバンクリフレッシュとパーバンクリフレッシュの2種類に分けることができる。
セルフリフレッシュは、半導体装置が自律的にリフレッシュ動作を行う方式である。この場合のリフレッシュ動作は、クロックイネーブル信号の電位レベルがローとなって半導体装置が停止している間、リフレッシュカウンタによって順次に生成されるロウアドレスを対象として、繰り返し行われる。クロックイネーブル信号の電位レベルがハイになると、セルフリフレッシュは終了する。
一方、オートリフレッシュは、リフレッシュ動作の実行を、外部から都度指示する方式である。この場合、1つのリフレッシュコマンドに対して1回のリフレッシュ動作が行われるので、複数回のリフレッシュ動作を実行するためには、リフレッシュコマンドを複数回供給する必要がある。オートリフレッシュにおいても、リフレッシュ対象のロウアドレスはリフレッシュカウンタによって生成される。
オールバンクリフレッシュは、すべてのバンクを対象として行われるオートリフレッシュである。これに対し、パーバンクリフレッシュは、複数のバンクのうちの1つのみを対象として行われるオートリフレッシュであり、リフレッシュ対象のバンクを示すバンクアドレスは、バンクカウンタによって順次に生成される。k個のバンクを有する半導体装置の全メモリセルのリフレッシュをパーバンクリフレッシュで行うと、オールバンクリフレッシュの場合と比べてk倍の回数のコマンド入力が必要となる。
複数のバンクを有する半導体装置でセルフリフレッシュ及びオールバンクリフレッシュを行う場合、原則としてすべてのバンクがリフレッシュ対象となる。つまり、一度のリフレッシュ動作により、リフレッシュカウンタによって生成されたロウアドレスに対応するワード線が、すべてのバンクでそれぞれ活性化される。ただし、外部からリフレッシュ対象外のバンクを指定することも可能である。この場合、指定されたバンク以外のバンクに対してのみ、リフレッシュ動作が行われる。
特許文献1には、セルフリフレッシュ及びオールバンクリフレッシュを行うメモリ装置が開示されている。このメモリ装置では、セルフリフレッシュに関して、外部からリフレッシュ対象のバンクを指定することを可能にするPASR(パーシャルアレイセルフリフレッシュ)方式が採用されている。そして、すべてのバンクがセルフリフレッシュの対象とされた場合には、各バンクのリフレッシュ動作を少しずつ時間をずらしながら行い(パイルドリフレッシュ動作)、一部のバンクのみがセルフリフレッシュの対象とされた場合には、対象とされた1又は複数のバンクのリフレッシュ動作を同時に行う(バーストリフレッシュ動作)こととされている。これは、すべてのバンクのリフレッシュ動作を同時に行った場合の最大消費電力が大きくなりすぎるということに着目したもので、上記のようにすることにより、最大消費電力の増加を抑制することが可能になる。
特開2006−147123号公報
近年、情報機器の高度化に伴って半導体装置のメモリ容量がますます増加しており、リフレッシュ時の消費電力も大きくなる傾向にある。その結果、一部のバンクのみを対象としてセルフリフレッシュを行う場合であっても、特許文献1に記載の技術のようにバーストリフレッシュ動作を行うこととすると、最大消費電力が大きくなりすぎる場合が生じている。したがって、一部のバンクのみを対象としてセルフリフレッシュを行う場合であっても、バーストリフレッシュ動作ではなくパイルドリフレッシュ動作によりリフレッシュ動作を行うことが必要となっている。
ところで、パイルドリフレッシュ動作を行う場合、各バンクに対するアクセスは、バンクごとの内部アクトコマンド(後述するリフレッシュ用のアクトコマンドIACTRF)の活性化によって開始され、バンクごとの内部プリチャージコマンド(後述するリフレッシュ用のプリチャージコマンドIPRERF)の活性化によって終了する。半導体装置は、内部アクトコマンドを所定の時間間隔で活性化するように構成されており、したがって、各バンクへのアクセスは所定の時間間隔で順次開始される。一方、内部プリチャージコマンドは、全バンクを複数のグループに分け、グループごとにまとめて活性化されることが通常である。したがって、バンクごとにアクセス継続時間が異なることになる。
しかしながら、このように内部プリチャージコマンドをグループごとに活性化することとすると、一部のバンクのみがリフレッシュの対象とされている場合に、まだアクセスを開始していないバンクが残っているにも関わらず、いずれのバンクにもアクセスがなされていない期間(以下、「無アクセス期間」と称する)が生じてしまう可能性がある。
一例を挙げて説明すると、8個のバンク0〜バンク7に対して順次内部アクトコマンドを活性化するよう構成され、かつ、内部プリチャージコマンドを、バンク0〜バンク3からなるグループと、バンク4〜バンク7からなるグループとに対して順次活性化するよう構成される半導体装置において、バンク0〜バンク3及びバンク7のみがリフレッシュ対象とされた場合、バンク7に対応する内部アクトコマンドが活性化される前に、バンク0〜バンク3に対して内部プリチャージコマンドが活性化される可能性がある。この場合、バンク0〜バンク3に対するアクセスが終了した後、バンク7へのアクセスが開始される前に、無アクセス期間が生ずることになる。
従来の半導体装置においては、このような無アクセス期間が生じた場合、そこでリフレッシュ動作が中断されてしまう。したがって、無アクセス期間をまたいでリフレッシュ動作を継続できるようにすることが求められている。以下、詳しく説明する。
セルフリフレッシュを行う場合に半導体装置の内部で生成される内部信号には、アイドル信号(後述するアイドル信号IDLE)と、リフレッシュ状態信号(後述するリフレッシュ状態信号RAREFST)とが含まれる。アイドル信号は、すべてのバンクがアイドル状態である場合に活性化され、その他の場合に非活性とされる信号である。一方、リフレッシュ状態信号は、1つのロウアドレスに対するリフレッシュ動作を実施する都度、そのリフレッシュ動作の開始に応じて活性化され、そのリフレッシュ動作の終了に応じて非活性化される信号である。
上述した無アクセス期間が生ずる場合は別として、通常は、リフレッシュ動作中にはいずれかのバンクに対するアクセスが必ずなされている。したがって、リフレッシュ動作中、アイドル信号は非活性状態を維持する。これに鑑み、リフレッシュ状態信号は、アイドル信号が活性化したことに応じて非活性化するように構成されている。
セルフリフレッシュでは、さらにいくつかの他の内部信号(上述したリフレッシュ用のアクトコマンドIACTRFなど)も用いられる。これらの生成は、リフレッシュ状態信号が活性化していることを前提として行われる。したがって、万一、何らかの理由でリフレッシュ動作が終了していないのにリフレッシュ状態信号が非活性となってしまった場合、その後、リフレッシュ動作を継続することは不可能になる。
従来の半導体装置においては、上述した無アクセス期間が生じると、アイドル信号が活性化されることになる。アイドル信号が活性化するということはリフレッシュ状態信号が非活性状態に戻ってしまうということを意味するので、上述したように、その後、リフレッシュ動作を継続することが不可能になる。したがって、無アクセス期間が生じたとしても、リフレッシュ動作を継続できるようにすることが求められている。
本発明の一側面による半導体装置は、複数のバンクと、前記複数のバンクのすべてがアイドル状態である場合に活性化するアイドル信号を生成するアイドル信号生成回路と、リフレッシュ動作の開始に応じて活性化し、前記アイドル信号の活性化に応じて非活性となるリフレッシュ状態信号を生成するリフレッシュ状態生成回路と、前記リフレッシュ状態信号が活性化している場合に、前記複数のバンクにそれぞれ対応する複数のアクトコマンドのうちの少なくとも1つを順次活性化するアクトコマンド生成回路と、前記リフレッシュ状態信号の活性化に応じて活性化し、前記アクトコマンド生成回路が該リフレッシュ状態信号に対応して最後に活性化する前記アクトコマンドの活性化後に非活性となるアイドル信号活性化抑止信号を生成するアクティブ保護回路とを備え、前記アイドル信号生成回路は、前記アイドル信号活性化抑止信号が活性化している場合には前記アイドル信号を活性化しないよう構成されることを特徴とする。
本発明によれば、セルフリフレッシュの対象となる1又は複数のバンクのすべてに対するアクトコマンドが活性化される前に、アイドル信号が活性化してしまうことが防止される。したがって、リフレッシュ状態信号が非活性に戻ることも防止されるので、無アクセス期間が生じたとしても、リフレッシュ動作を継続することが可能になる。
本発明の実施の形態による半導体装置の構成を示す略ブロック図である。 図1に示したコマンド発生回路34の内部回路を示す略ブロック図である。 (a)は、図1に示したコマンド発生回路31の内部回路を示す略ブロック図であり、(b)は、(a)に示したアクトコマンド生成回路92<i>の内部回路を示す略ブロック図である。 図1に示したリフレッシュ制御回路37の内部回路を示す略ブロック図である。 (a)は、図4に示したリフレッシュ状態信号生成回路60の内部回路の一部を示す略ブロック図であり、(b)は、(a)に示したリフレッシュ状態生成器66,67の内部回路を示す略ブロック図であり、(c)は、(b)に示したリフレッシュ状態生成器66,67に関わる各種信号の変化を示すタイムチャートである。 (a)は、図4に示したリフレッシュ状態信号生成回路60の内部回路の他の一部を示す略ブロック図であり、(b)は、(a)に示したリフレッシュ状態信号生成回路60の内部回路に関わる各種信号の変化を示すタイムチャートである。 図4に示したバンク信号生成回路62の内部回路を示す略ブロック図である。 (a)は、図7に示したバンクセット信号生成回路72<i>の内部回路を示す略ブロック図であり、(b)は、図7に示したプリチャージバンクラッチ回路73<i>の内部回路を示す略ブロック図であり、(c)は、図7に示したアクティベートバンクラッチ回路74<i>の内部回路を示す略ブロック図である。 (a)は、図7に示したバンク信号生成回路62に関わる各種信号の変化を、セルフリフレッシュの場合について示すタイムチャートであり、(b)は、図7に示したバンク信号生成回路62に関わる各種信号の変化を、オールバンクリフレッシュの場合について示すタイムチャートである。 図7に示したバンク信号生成回路62に関わる各種信号の変化を、パーバンクリフレッシュの場合について示すタイムチャートである。 (a)は、図4に示したリフレッシュ時アクトコマンド生成回路63の内部回路を示す略ブロック図であり、(b)は、(a)に示したアクト生成器81<i>の内部回路を示す略ブロック図である。 図1に示したアクティブ保護回路44の内部回路を示す略ブロック図である。 図11(a)に示したリフレッシュ時アクトコマンド生成回路63と、図12に示したアクティブ保護回路44とに関わる各種信号の変化を示すタイムチャートである。 (a)は、図1に示したロウ制御回路43の内部回路の一部を示す略ブロック図であり、(b)は、図1に示したロウ制御回路43の内部回路の他の一部を示す略ブロック図である。 図14(a)(b)に示したロウ制御回路43に関わる各種信号の変化を示すタイムチャートである。 図15に示したプリチャージコマンドIPRERF<7:0>の生成について説明するためのタイムチャートである。 図1に示したアイドル信号生成回路45の内部回路を示す略ブロック図である。 図17に示したアイドル信号生成回路45に関わる各種信号の変化を示すタイムチャートである。
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施の形態について詳細に説明する。
本発明の好ましい実施の形態による半導体装置10は、シンクロナスDRAMの半導体チップであり、図1に示すように、クロック端子11、アドレス端子12、及びコマンド端子13を備えて構成される。その他にも、半導体装置10には、データ入出力端子や電源端子などの各種の端子を備えているが、図示を省略している。
クロック端子11は、図示しない外部のコントローラから、それぞれ外部クロック信号CK,/CK及びクロックイネーブル信号CKEが供給される複数の端子によって構成される。供給された外部クロック信号CK,/CK及びクロックイネーブル信号CKEは、クロック入力回路20を介して、クロックコントロール回路21に供給される。なお、本明細書において信号名の先頭に「/」が付されている信号は、対応する信号の反転信号又はローアクティブな信号であることを意味する。したがって、外部クロック信号CK,/CKは互いに相補の信号である。
クロックコントロール回路21は、外部クロック信号CK,/CKに基づいて内部クロック信号ICLKを生成するとともに、クロックイネーブル信号CKEに基づいて内部クロックイネーブル信号PCKEを生成し、これらを半導体装置10の各回路に供給する機能を有している。内部クロックイネーブル信号PCKEには、クロックイネーブル信号CKEの活性状態が反映される。内部クロックイネーブル信号PCKEが非活性(ローレベル)となっている場合、後述するコマンド発生回路30〜35はコマンドの生成を行うことができなくなる。詳しくは後述するが、セルフリフレッシュはこの状態で実行される。
アドレス端子12は、複数ビットからなるアドレス信号ADDの各ビットがそれぞれ供給される複数の端子によって構成される。アドレス端子12に供給されたアドレス信号ADDは、アドレス入力回路22に供給される。
ここで、半導体装置10は8個のバンクBA<7:0>を有し、バンクBA<7:0>ごとにメモリセルアレイ53が設けられた構成を備えている。メモリセルアレイ53の内部では、複数のワード線WLと複数のビット線BLとが交差しており、その交点にメモリセルMCが配置されている。なお、本明細書において符号の末尾に<n:0>という記述が付加されている場合、対応する構成が0番目からn番目までのn+1個存在することを意味する。これらn+1個の構成のうちの特定の構成に言及する場合には、符号に<i>などの表記を付加して表す。
アドレス信号ADDは、8個のバンクBA<7:0>のうちのひとつを特定する、3ビットのバンクアドレスBAA<2:0>を含んで構成される。バンクアドレスBAA<2:0>は、アドレス入力回路22からコマンド発生回路30,31のそれぞれに供給される。
また、アドレス信号ADDは、メモリセルアレイ53に含まれる複数のワード線WLのうちのひとつを特定するロウアドレスX、及び、メモリセルアレイ53に含まれる複数のビット線BLのうちのひとつを特定するカラムアドレスYのいずれかを含んで構成される。具体的には、後述するコマンド端子13にアクトコマンドが供給されている場合、アドレス信号ADDはロウアドレスXを含んで構成される。ロウアドレスXは、アドレス入力回路22からロウアドレス制御回路42に供給される。一方、後述するコマンド端子13にカラムアクセスコマンド(リードコマンド又はライトコマンド)が供給されている場合、アドレス信号ADDはカラムアドレスYを含んで構成される。カラムアドレスYは、アドレス入力回路22からカラムアドレス制御回路41に供給される。
半導体装置10がモードレジスタセットモードにエントリーしている場合のアドレス信号ADDは、図示しないモードレジスタに供給される。モードレジスタに設定される情報には、セルフリフレッシュでリフレッシュの対象外とするバンクを示すリフレッシュ対象外バンク情報が含まれる。
コマンド端子13は、それぞれロウアドレスストローブ信号、カラムアドレスストローブ信号、ライトイネーブル信号、オンダイターミネーション信号などが供給される複数の端子によって構成される。これらコマンド端子13を構成する各端子に外部のコントローラから供給される電位レベルは、コマンド入力回路23を介して、コマンド発生回路30〜35のそれぞれに供給される。コマンド発生回路30〜35はそれぞれ、特定の1又は複数の端子の電位レベルに基づいて、所定の内部コマンドを生成するよう構成される。
具体的に説明すると、例えばコマンド発生回路34(セルフリフレッシュコマンド発生回路)は、図2に示すように、それぞれコマンド端子13を構成する複数の端子のうちの4つに供給された電位レベルCSR,CA0R,CA1R,CA2Rに基づいて、セルフリフレッシュの開始を示すセルフリフレッシュコマンドRSREFを生成するように構成される。具体的には、図2から明らかなように、内部クロック信号ICLKがハイレベルになっているタイミングで、電位レベルCSR,CA0R,CA1R,CA2Rがそれぞれロー、ロー、ロー、ハイ、内部クロックイネーブル信号PCKEがハイ、後述するアイドル信号IDLE(すべてのバンクBA<7:0>がアイドル状態である場合にハイレベルに活性化する信号)がハイである場合に、セルフリフレッシュコマンドRSREFをハイレベルに活性化するよう構成される。セルフリフレッシュコマンドRSREFはパルス信号であり、ハイとなる期間は、パルス幅拡張回路90によって調節される。
また、例えばコマンド発生回路31は、図3(a)に示すように、電位レベルCSR,CA0R,CA1Rと後述するリフレッシュ状態信号REFSTとに基づいて中間信号ACTDECを生成し、さらに、この中間信号ACTDECとバンクアドレスBAA<2:0>とに基づいて、バンクBA<7:0>ごとのアクトコマンドIACT<7:0>を生成するよう構成される。なお、リフレッシュ状態信号REFSTは、半導体装置10がリフレッシュ動作中である場合にハイレベルに活性化される信号であり、リフレッシュ制御回路37によって生成される。詳しくは、後ほど図11を参照しながら、説明する。
コマンド発生回路31の構成について具体的に説明すると、コマンド発生回路31は、図3(a)に示すように、バンクアドレスBAA<2:0>をバンクBA<7:0>ごとのバンクアドレス信号IBA<7:0>にデコードするバンクアドレスデコーダ91と、中間信号ACTDEC及びバンクアドレス信号IBA<i>に基づいてアクトコマンドIACT<i>を生成するアクトコマンド生成回路92<i>とを有して構成される。
図3(a)から明らかなように、中間信号ACTDECは、内部クロック信号ICLKがハイレベルになっているタイミングで、リフレッシュ状態信号REFST及び電位レベルCSR,CA0R,CA1Rがそれぞれロー、ロー、ロー、ハイである場合に、ハイレベルに活性化する信号である。リフレッシュ状態信号REFSTがローであるので、中間信号ACTDECは、リフレッシュ動作中には活性化されない。また、アクトコマンド生成回路92<i>は、図3(b)に示すように、中間信号ACTDECが活性化している場合に、内部クロック信号ICLKがハイレベルになっているタイミングでバンクアドレス信号IBA<i>をラッチし、アクトコマンドIACT<i>として出力する回路である。したがって、アクトコマンドIACT<i>は、コマンド端子13にアクトコマンドが供給されるとともに、対応するバンクBA<i>がバンクアドレスBAA<2:0>により指定され、かつ、リフレッシュ動作実行中でない場合にハイレベルに活性化され、その他の場合に非活性とされる信号となる。なお、アクトコマンドIACT<i>もパルス信号である。
なお、コマンド発生回路31は、詳細な内部回路は図示していないが、図1に示すようにプリチャージコマンドIPRE<7:0>を生成する機能も有している。プリチャージコマンドIPRE<i>もパルス信号であり、コマンド発生回路31は、外部のコントローラから供給されるプリチャージコマンドに応じてプリチャージコマンドIPRE<i>を生成するよう、構成される。
その他、図1に戻り、コマンド発生回路30はリードコマンドREAD及びライトコマンドWRITEを生成し、コマンド発生回路32はパーバンクリフレッシュコマンドRPBREFを生成し、コマンド発生回路33(オールバンクリフレッシュコマンド発生回路)はオールバンクリフレッシュコマンドRAREFを生成し、コマンド発生回路35(バンクマスクコマンド生成回路)は、バンクBA<7:0>ごとのバンクマスクコマンドBMASK<7:0>を生成するよう、それぞれ構成される。
リードコマンドREAD及びライトコマンドWRITEはそれぞれ、ライト及びリードのカラムアクセスの開始を示すパルス信号であり、対応するカラムアクセスを行う場合にハイレベルに活性化される。パーバンクリフレッシュコマンドRPBREF及びオールバンクリフレッシュコマンドRAREFはそれぞれ、パーバンクリフレッシュ及びオールバンクリフレッシュの開始を示すパルス信号であり、対応するリフレッシュを行う場合にハイレベルに活性化される。バンクマスクコマンドBMASK<7:0>は、セルフリフレッシュを行う際、当該バンクがリフレッシュ対象である場合にロー、対象外である場合にハイとなる信号である。コマンド発生回路35は、図示しないモードレジスタに記憶される上述したリフレッシュ対象外バンク情報に基づいて、バンクマスクコマンドBMASK<7:0>を生成する。
図1に示すロウデコーダ50は、バンクBA<7:0>ごとに設けられ、対応するメモリセルアレイ53に含まれる複数のワード線WLのうちのひとつを、ロウアドレス制御回路42の制御に基づいて選択する役割を果たす。ロウアドレス制御回路42は、コマンド端子13にアクトコマンドが供給された場合に、上述したロウアドレスXに基づいて、ロウデコーダ50を制御する。
一方、カラムデコーダ51は、バンクBA<7:0>ごとに設けられ、対応するメモリセルアレイ53に含まれる複数のビット線BLのうちのひとつを、カラムアドレス制御回路41の制御に基づいて選択する役割を果たす。ビット線BLはそれぞれセンス回路52内のセンスアンプに接続されており、カラムデコーダ51によって選択されたビット線BLは、図示しないリードライトアンプなどを通じて、図示しないデータ入出力端子に接続される。カラムアドレス制御回路41は、コマンド端子13にカラムアクセスコマンドが供給された場合に、上述したカラムアドレスYに基づいて、カラムデコーダ51を制御する。
ロウ制御回路43は、コマンド発生回路31によって生成されるアクトコマンドIACT<7:0>に基づいてロウデコーダ50及びロウアドレス制御回路42を制御することにより、ロウデコーダ50がワード線WLの選択を開始するタイミングを制御するとともに、コマンド発生回路31によって生成されるプリチャージコマンドIPRE<7:0>に基づいてロウデコーダ50及びロウアドレス制御回路42を制御することにより、ロウデコーダ50がワード線WLの選択を終了するタイミングを制御する回路である。詳しくは後述するが、ロウ制御回路43によるこの制御は、ロウアドレスストローブ信号RAS_BK<7:0>を用いて行われる(図14を参照)。
同様に、カラム制御回路40は、コマンド発生回路30によって生成されるリードコマンドREAD及びライトコマンドWRITEに基づいてカラムデコーダ51及びカラムアドレス制御回路41を制御することにより、カラムデコーダ51がビット線BLを選択するタイミングを制御する回路である。
オートプリチャージ回路36は、リードコマンドREAD及びライトコマンドWRITEがオートプリチャージ付きのものであった場合に、プリチャージコマンドIPRE<7:0>に替わるオートプリチャージコマンドIPREAP<7:0>を生成して、ロウ制御回路43に供給する回路である。ロウ制御回路43は、オートプリチャージコマンドIPREAP<7:0>が供給された場合には、プリチャージコマンドIPRE<7:0>ではなくオートプリチャージコマンドIPREAP<7:0>に基づいて、ロウデコーダ50がワード線WLの選択を終了するタイミングを制御する。
以下、リフレッシュに関する構成について詳しく説明する。
図1に示すように、半導体装置10は、リフレッシュに関連して、リフレッシュ制御回路37、アクティブ保護回路44、及びアイドル信号生成回路45を備えて構成される。また、ロウアドレス制御回路42内にリフレッシュカウンタ42aを有している。
リフレッシュ制御回路37は、図4に示すように、リフレッシュ状態信号生成回路60、セルフリフレッシュタイマー61、バンク信号生成回路62、リフレッシュ時アクトコマンド生成回路63、及びリフレッシュ時プリチャージコマンド生成回路64を有して構成される。
リフレッシュ状態信号生成回路60は、図5(a)に示すように、セルフリフレッシュ又はオールバンクリフレッシュに関してリフレッシュ動作の開始を示すリフレッシュセット信号RAREFSETを活性化するリフレッシュセット信号生成回路65と、リフレッシュセット信号RAREFSET及びアイドル信号IDLEに基づいてリフレッシュ状態信号RAREFSTを生成するリフレッシュ状態生成器66(リフレッシュ状態生成回路)と、パーバンクリフレッシュコマンドRPBREF及びアイドル信号IDLEに基づいてリフレッシュ状態信号RPBREFSTを生成するリフレッシュ状態生成器67とを含んで構成される。
リフレッシュセット信号生成回路65は、図5(a)に示すように、オールバンクリフレッシュコマンドRAREF、セルフリフレッシュコマンドRSREF、及び、図4に示したセルフリフレッシュタイマー61の出力信号SRFDMRの論理和を算出し、リフレッシュセット信号RAREFSETとして出力する機能を有している。上述したように、オールバンクリフレッシュコマンドRAREF及びセルフリフレッシュコマンドRSREFはそれぞれ、対応するリフレッシュを開始する場合にハイレベルとなるパルス信号である。また、セルフリフレッシュタイマー61(図4)は、内部クロックイネーブル信号PCKEが非活性となっていることを条件として、セルフリフレッシュコマンドRSREFからの経過時間を計時し、所定時間が経過するごとに、出力信号SRFDMRをハイレベルに活性化する回路である。したがって、セルフリフレッシュを行う場合には、後に説明する図6(b)などに示すように、セルフリフレッシュコマンドRSREFの到来後、周期的にリフレッシュセット信号RAREFSETが活性化することになる。一方、オールバンクリフレッシュを行う場合には、オールバンクリフレッシュコマンドRAREFの到来後、一度だけリフレッシュセット信号RAREFSETが活性化することになる。
リフレッシュ状態生成器66,67の内部回路は、互いに同一である。これらはそれぞれ、図5(b)に示すように、入力端子として端子RREF、端子IDLE、及び端子resetを有し、出力端子として端子REFSTを有して構成される。端子resetの電位レベルがローである場合、図5(c)にも示すように、端子REFSTの電位レベルは、端子RREFの電位がハイレベルになったことに応じてハイレベルとなり、アイドル信号IDLEがハイレベルになったことに応じてローレベルとなる。なお、図5(b)に示した回路C1は、入力信号のライジングエッジを遅延させる回路である(後掲する各図でも同様)。したがって、図示した中間信号IDLE2は、図5(c)にも示すように、アイドル信号IDLEのライジングエッジでローレベルに活性化されるパルス信号となる。
リフレッシュ状態生成器66が上記構成を有することにより、リフレッシュ状態信号RAREFSTは、リフレッシュセット信号RAREFSETの活性化に応じて活性化し、アイドル信号IDLEの活性化に応じて非活性となる信号となる。また、リフレッシュ状態生成器67が上記構成を有することにより、リフレッシュ状態信号RPBREFSTは、パーバンクリフレッシュコマンドRPBREFの活性化に応じて活性化し、アイドル信号IDLEの活性化に応じて非活性となる信号となる。
リフレッシュ状態信号生成回路60には、図6(a)に示す回路も含まれる。この回路は、セルフリフレッシュコマンドRSREF、内部クロックイネーブル信号PCKE、及びリフレッシュ状態信号RAREFSTに基づいて、セルフリフレッシュ実行中を示すリフレッシュ実行中信号SSRSDを生成する回路である。
具体的に説明すると、リフレッシュ状態信号生成回路60は、図6(a)(b)に示すように、まずラッチ回路によって中間信号SSRSを生成するよう構成される。中間信号SSRSは、セルフリフレッシュコマンドRSREFがハイレベルとなり、かつ内部クロックイネーブル信号PCKEがローレベルとなった場合にハイレベルとなり、その後、内部クロックイネーブル信号PCKEがハイレベルに戻った場合にローレベルとなる信号である。
リフレッシュ状態信号生成回路60はさらに、中間信号SSRSの反転信号SSRS2を生成し、これを、中間信号RAREFST2によってラッチするよう構成される。中間信号RAREFST2は、リフレッシュ状態信号RAREFSTのライジングエッジを遅らせ、さらに反転してなる信号である。これにより、図6(b)に示すように、セルフリフレッシュコマンドRSREFの活性化に同期してローレベルに活性化され、内部クロックイネーブル信号PCKEがローレベルとなった後に初めて到来する中間信号RAREFST2のライジングエッジに同期して非活性に戻る中間信号SSRS3が生成される。
リフレッシュ状態信号生成回路60は、さらに中間信号SSRS2,SSRS3の否定論理積を算出し、その結果をリフレッシュ実行中信号SSRSDとして出力する。こうして生成されたリフレッシュ実行中信号SSRSDは、セルフリフレッシュコマンドRSREFの活性化に同期して活性化し、内部クロックイネーブル信号PCKEがハイレベルに戻り、かつ、すべてのリフレッシュ動作が終了してアイドル信号IDLEが活性状態に戻った後に非活性に戻る信号となる。
図4に戻り、バンク信号生成回路62は、リフレッシュの対象となるバンクを特定し、リフレッシュ時アクトコマンド生成回路63及びリフレッシュ時プリチャージコマンド生成回路64に通知する役割を果たす回路である。通知には、バンクBA<7:0>ごとのバンクイネーブル信号IBKENBL<7:0>と、バンクBA<7:0>ごとのプリチャージバンク指示信号RFPREBK<7:0>とが用いられる。
具体的に説明すると、バンク信号生成回路62は、図7に示すように、パーバンクリフレッシュバンクカウンタ70、バンクアドレスデコーダ71、バンクセット信号生成回路72<7:0>、プリチャージバンクラッチ回路73<7:0>、及びアクティベートバンクラッチ回路74<7:0>を含んで構成される。
パーバンクリフレッシュバンクカウンタ70は、パーバンクリフレッシュコマンドRPBREFが供給される都度、カウント値を1ずつ増加させる機能を有するカウンタ回路である。ただし、カウント値は0〜7の整数であり、パーバンクリフレッシュバンクカウンタ70は、カウント値が7を上回った場合に、カウント値を0に戻すよう構成される。
バンクアドレスデコーダ71は、バンクBA<7:0>ごとの中間信号PBREFBKB<7:0>を生成する回路である。バンクアドレスデコーダ71は、パーバンクリフレッシュバンクカウンタ70のカウント値がiである場合に、対応する中間信号PBREFBKB<i>をローレベルに活性化し、その他を非活性(ハイレベル)とするよう構成される。したがって、中間信号PBREFBKB<i>は、対応するバンクBA<i>がパーバンクリフレッシュの対象となっている間だけローレベルに活性化されることとなる。
バンクセット信号生成回路72<7:0>はそれぞれ、リフレッシュ状態信号RAREFST及びリフレッシュ実行中信号SSRSDと、中間信号PBREFBKB<7:0>のうちの対応するものとに基づいて、中間信号IREFBK<7:0>を生成する回路である。
具体的に説明すると、バンクセット信号生成回路72<i>は、図8(a)に示すように、リフレッシュ状態信号RAREFST及びリフレッシュ実行中信号SSRSDの否定論理和信号と、中間信号PBREFBKB<i>との論理積信号を、中間信号IREFBK<i>として出力するよう構成される。これにより中間信号IREFBK<i>は、リフレッシュ状態信号RAREFST及びリフレッシュ実行中信号SSRSDがともにローレベルであり、かつ、対応する中間信号PBREFBKB<i>がハイレベル(非活性状態)である場合にローレベル(非活性状態)となり、その他の場合にハイレベルに活性化される信号となる。
プリチャージバンクラッチ回路73<7:0>は、リフレッシュ状態信号RAREFST及びリフレッシュセット信号RFBKLATと、中間信号IREFBK<7:0>のうちの対応するものとに基づいて、プリチャージバンク指示信号RFPREBK<7:0>を生成する回路である。なお、リフレッシュセット信号RFBKLATは、図7に示すように、リフレッシュセット信号RAREFSET及びパーバンクリフレッシュコマンドRPBREFの論理和信号である。
具体的に説明すると、プリチャージバンクラッチ回路73<i>は、図8(b)に示すように、リフレッシュ状態信号RAREFSTが供給されるセット端子と、リフレッシュセット信号RFBKLATが供給されるクロック端子と、中間信号IREFBK<i>が供給される入力端子とを有するラッチ回路によって構成される。したがって、まずセルフリフレッシュ又はオールバンクリフレッシュを行う場合、図9(a)(b)に例示するように、プリチャージバンク指示信号RFPREBK<i>は、リフレッシュ状態信号RAREFSTがハイレベルになるタイミングでハイレベルに活性化されることになる。この活性化は、後述するバンクイネーブル信号IBKENBL<i>とは異なり、対応するバンクBA<i>がリフレッシュの対象であるか否かに関わらず、実行される。なお、この場合の中間信号IREFBK<i>はハイレベルとなっているが、プリチャージバンク指示信号RFPREBK<i>の電位レベルには影響しない。また、プリチャージバンク指示信号RFPREBK<i>がハイレベルである状態は、リフレッシュ動作が終了した後も、リフレッシュ状態信号RAREFSTがローレベルである状態でリフレッシュセット信号RFBKLATがハイレベルになり、かつ、そのときの中間信号IREFBK<i>がローレベルであるタイミングまで継続するが、後段のリフレッシュ時アクトコマンド生成回路63及びリフレッシュ時プリチャージコマンド生成回路64が、後述するように、リフレッシュ状態信号RAREFST又はリフレッシュ状態信号RPBREFSTが活性化していないと出力を活性化できないように構成されていることから、特に問題とはならない。
一方、パーバンクリフレッシュを行う場合(この場合のリフレッシュ状態信号RAREFSTはローレベル)には、図10に例示するように、リフレッシュセット信号RFBKLATがハイレベルに活性化しているタイミングで中間信号IREFBK<i>がラッチされ、プリチャージバンク指示信号RFPREBK<i>として出力される。中間信号IREFBK<i>は、上述したように、対応するバンクBA<i>がパーバンクリフレッシュの対象となっている間だけローレベルに活性化される信号である。したがって、プリチャージバンク指示信号RFPREBK<i>は、対応するバンクBA<i>がリフレッシュの対象である間だけ、ハイレベルに活性化されることになる。
図7に戻り、アクティベートバンクラッチ回路74<7:0>は、リフレッシュ実行中信号SSRSD及びパーバンクリフレッシュコマンドRPBREFと、バンクマスクコマンドBMASK<7:0>及び中間信号IREFBK<7:0>それぞれのうちの対応するものとに基づいて、バンクイネーブル信号IBKENBL<7:0>を生成する回路である。
具体的に説明すると、アクティベートバンクラッチ回路74<i>は、図8(c)に示すように、リフレッシュ実行中信号SSRSD及び対応するバンクマスクコマンドBMASK<i>の論理積信号が供給されるリセットバー端子と、リフレッシュセット信号RFBKLATが供給されるクロック端子と、中間信号IREFBK<i>が供給される入力端子とを有するラッチ回路によって構成される。したがって、まずリフレッシュ実行中信号SSRSD及び対応するバンクマスクコマンドBMASK<i>の論理積信号がローである場合(すなわち、セルフリフレッシュを行う場合であって、かつ対応するバンクBA<i>がリフレッシュ対象とされている場合、或いは、オールバンクリフレッシュ又はパーバンクリフレッシュを行う場合)、図9(a)のバンクBA<3:0>及びバンクBA<7>、図9(b)のバンクBA<7:0>、及び図10に例示するように、バンクイネーブル信号IBKENBL<i>は、リフレッシュセット信号RFBKLATのライジングエッジでラッチされ、ハイレベルに活性化される。
一方、リフレッシュ実行中信号SSRSD及び対応するバンクマスクコマンドBMASK<i>の論理積信号がハイである場合、すなわち、セルフリフレッシュを行う場合であって、かつ対応するバンクBA<i>がリフレッシュ対象とされていない場合、図9(a)のバンクBA<6:4>に例示するように、対応するバンクイネーブル信号IBKENBL<i>は非活性の状態で維持されることになる。
図4に戻り、リフレッシュ時アクトコマンド生成回路63は、リフレッシュ動作を行う場合のアクトコマンドIACTRF<7:0>を生成する回路(アクトコマンド生成回路)である。具体的には、リフレッシュ状態信号RAREFST又はリフレッシュ状態信号RPBREFSTが活性化している場合に、アクトコマンドIACTRF<7:0>のうちの少なくとも1つ(リフレッシュの対象とされているもの)を順次活性化するよう構成される。
より具体的に説明すると、リフレッシュ時アクトコマンド生成回路63は、図11に示すように、リフレッシュ状態信号RAREFST及びリフレッシュ状態信号RPBREFSTの論理和信号であるリフレッシュ状態信号REFSTを生成するリフレッシュ状態信号生成回路80と、バンクBA<7:0>ごとに設けられ、それぞれアクトコマンドIACTRF<7:0>のうちの対応するものを生成するアクト生成器81<7:0>とを有して構成される。
アクト生成器81<7:0>それぞれの内部回路は、互いに同一である。これらはそれぞれ、図11(b)に示すように、入力端子として端子REFSTD<i−1>、端子REFST、端子RPBREFST、及び端子IBKENBL<i>を有し、出力端子として端子IACTRF<i>及び端子REFSTD<i>を有して構成される。
各アクト生成器81<7:0>の端子REFSTには、リフレッシュ状態信号REFSTが共通に供給される。また、各アクト生成器81<7:0>の端子RPBREFSTには、リフレッシュ状態信号RPBREFSTが共通に供給される。さらに、アクト生成器81<i>の端子IBKENBL<i>には、対応するバンクイネーブル信号IBKENBL<i>が供給される。端子IACTRF<i>は、アクトコマンドIACTRF<i>が出力される端子であり、端子REFSTD<i>は、バンク状態信号REFSTD<i>が出力される端子である。
アクト生成器81<7:0>はカスケード接続されており、アクト生成器81<i>の端子REFSTD<i−1>には、前段のアクト生成器81<i−1>の端子REFSTD<i>から出力されたバンク状態信号REFSTD<i−1>が供給される。ただし、初段のアクト生成器81<0>の端子REFSTD<i−1>には、ハイレベルに相当する電位が固定的に供給される。
以下、図11(b)及び図13を参照して、アクト生成器81<i>の動作について説明する。なお、図13では、アクト生成器81<0>,81<4>についてのみ、内部で生成される中間信号REFST2<i>,REFST<3>を示している。また、同図には、セルフリフレッシュを行う場合であって、バンクBA<3:0>及びバンクBA<7>のみがリフレッシュ対象であり、バンクBA<6:4>はリフレッシュ対象とされていない場合を示している。
図11(b)に示すように、アクト生成器81<i>はまず、端子REFSTD<i−1>の入力信号及び端子RPBREFSTの入力信号の論理和信号と、端子REFSTの入力信号との論理積信号を中間信号REFST2<i>として生成し、さらに、中間信号REFST2<i>のライジングエッジを遅延させてなる中間信号REFST3<i>を生成する。そして、中間信号REFST2<i>、中間信号REFST3<i>の反転信号、及び端子IBKENBL<i>の入力信号の論理積信号を生成してアクトコマンドIACTRF<i>として出力するとともに、中間信号REFST3<i>のライジングエッジをさらに遅延させてなる信号を、バンク状態信号REFSTD<i>として出力する。
これにより、図13に示すように、アクトコマンドIACTRF<7:0>それぞれの出力タイミングは、アクトコマンドIACTRF<0>〜アクトコマンドIACTRF<7>の順で、順に到来することになる。これは、上述したパイルドリフレッシュ動作に相当する。リフレッシュ対象であるバンクBA<i>に対応するアクトコマンドIACTRF<i>は、その出力タイミングでハイレベルに活性化されるパルス信号となる。一方、リフレッシュ対象でないバンクBA<i>に対応するアクトコマンドIACTRF<i>は、出力タイミングが到来しても非活性のまま維持される。
これに対し、バンク状態信号REFSTD<i>は、対応するバンクBA<i>がリフレッシュ対象であるか否かに関わらず、活性化される。活性化は、対応するアクトコマンドIACTRF<i>の出力タイミングから所定時間が経過したタイミングでなされ、活性状態は、リフレッシュ状態信号REFSTが非活性に戻るタイミングまで維持される。
アクト生成器81<7>から出力されるバンク状態信号REFSTD<7>は、図1に示すように、アクティブ保護回路44に供給される。アクティブ保護回路44は、リフレッシュ動作の間、アイドル信号IDLEが活性状態に戻ることを抑止するためのアイドル信号活性化抑止信号REFAPSを生成する回路である。
具体的に説明すると、アクティブ保護回路44は、図12に示すように、バンク状態信号REFSTD<7>の反転信号と、リフレッシュ状態信号REFSTとの論理積信号を生成し、アイドル信号活性化抑止信号REFAPSとして出力するよう構成される。これにより、アイドル信号活性化抑止信号REFAPSは、図13に示すように、リフレッシュ状態信号REFSTが活性化するタイミングでハイレベルに活性化し、バンク状態信号REFSTD<7>が活性化するタイミングで非活性に戻る信号となる。したがって、アイドル信号活性化抑止信号REFAPSが非活性に戻るタイミングは、必ず、リフレッシュ時アクトコマンド生成回路63が最後に活性化するアクトコマンドIACTRF<i>(図13の例ではアクトコマンドIACTRF<7>)の活性化後となる。
図4に戻り、リフレッシュ時プリチャージコマンド生成回路64は、リフレッシュ動作を行う場合のプリチャージコマンドIPRERF<7:0>を生成する回路である。リフレッシュ時プリチャージコマンド生成回路64には、ロウ制御回路43から、バンクBA<7:0>ごとのタイミング信号RRTO<7:0>が供給される。詳しくは後述するが、タイミング信号RRTO<i>は、対応するアクトコマンドIACTRF<i>の活性化から所定時間が経過した後に活性化される信号である。リフレッシュ時プリチャージコマンド生成回路64は、これらタイミング信号RRTO<7:0>に基づいて、プリチャージコマンドIPRERF<7:0>を生成する(図14(b)及び図16を参照)。
なお、リフレッシュ時プリチャージコマンド生成回路64は、全バンクに共通する1つのタイミングではなく、複数のタイミングで、プリチャージコマンドIPRERF<7:0>を活性化するよう構成される。ここでは、バンクBA<3>に対応するタイミング信号RRTO<3>に基づくタイミングでプリチャージコマンドIPRERF<3:0>を活性化し、バンクBA<7>に対応するタイミング信号RRTO<7>に基づくタイミングでプリチャージコマンドIPRERF<7:4>を活性化するよう構成される。このように複数のタイミングでプリチャージコマンドIPRERF<7:0>を活性化しているのは、全バンクを同じタイミングでプリチャージする例に比べ、最大消費電力を低減するためである。
図1に戻る。上記のようにして生成されたアクトコマンドIACTRF<7:0>及びプリチャージコマンドIPRERF<7:0>は、ロウ制御回路43に供給される。ロウ制御回路43は、バンクBA<7:0>ごとのロウアクセスのタイミングを示すロウアドレスストローブ信号RAS_BK<7:0>を生成する回路である。
ロウ制御回路43には、図14(a)から理解されるように、他にもアクトコマンドIACT<7:0>、プリチャージコマンドIPRE<7:0>、及びオートプリチャージコマンドIPREAP<7:0>が供給される。アクトコマンドIACT<7:0>は、上述したようにコマンド発生回路31によって生成されるコマンドであり、通常のロウアクセス(リフレッシュではなく、リード/ライトのためのロウアクセス)の際に活性化される。したがって、アクトコマンドIACTRF<7:0>とアクトコマンドIACT<7:0>とが同時に活性化されることはない。同様に、プリチャージコマンドIPRE<7:0>及びオートプリチャージコマンドIPREAP<7:0>も、通常のロウアクセスの際に活性化されるコマンドであり、これらとプリチャージコマンドIPRERF<7:0>とが同時に活性化されることはない。
ロウ制御回路43は、図14(a)に示すように、バンクBA<7:0>ごとのロウアドレスストローブ信号生成回路82<i>を有して構成される。ロウアドレスストローブ信号生成回路82<i>には、アクトコマンドIACT<i>及びアクトコマンドIACTRF<i>の否定論理和信号と、プリチャージコマンドIPRE<i>、オートプリチャージコマンドIPREAP<i>、及びプリチャージコマンドIPRERF<i>の否定論理和信号とが供給される。これにより、ロウアドレスストローブ信号生成回路82<i>は、アクト及びプリチャージを行う理由(リード/ライトであるか或いはリフレッシュであるか)に関わらず、同様にロウアドレスストローブ信号RAS_BK<i>を生成できるように構成されている。
リフレッシュを行う場合の具体的なロウアドレスストローブ信号RAS_BK<i>は、図15に例示するように、対応するアクトコマンドIACTRF<i>の活性化タイミングでハイレベルに活性化し、対応するプリチャージコマンドIPRERF<i>の活性化タイミングで非活性に戻る信号となる。図15の例では、プリチャージコマンドIPRERF<3:0>が共通のタイミングで活性化され、さらに、それから遅れてプリチャージコマンドIPRERF<7:4>が共通のタイミングで活性化されていることから、ロウアドレスストローブ信号RAS_BK<3:0>が共通のタイミングで非活性化され、遅れて、ロウアドレスストローブ信号RAS_BK<7:4>が共通のタイミングで非活性化されている。
ロウ制御回路43が生成したロウアドレスストローブ信号RAS_BK<7:0>は、図1に示したロウアドレス制御回路42に供給される。ロウアドレス制御回路42は、リフレッシュを行う場合にはリフレッシュカウンタ42aから供給されるロウアドレス、リード/ライトを行う場合にはアドレス入力回路22から供給されるロウアドレスXにそれぞれ対応するワード線WLを、ロウアドレスストローブ信号RAS_BK<7:0>により示されるタイミングで活性化する。なお、リフレッシュカウンタ42aは、リフレッシュ動作の都度ロウアドレスを出力する回路であり、循環的にすべてのロウアドレスを出力するよう構成される。
ロウ制御回路43は他に、図14(b)に示す遅延回路を有して構成される。この遅延回路は、入力側から順にインバータ回路、ライジングエッジ遅延回路、インバータ回路、ライジングエッジ遅延回路、インバータ回路、及びインバータ回路を直列に接続した構成を有しており、図16に例示するように、ロウアドレスストローブ信号RAS_BK<7:0>それぞれのライジングエッジを所定時間tRASにわたって遅延させるとともに、フォーリングエッジを所定時間tRPにわたって遅延させることにより、上述したタイミング信号RRTO<7:0>を生成し、リフレッシュ時プリチャージコマンド生成回路64に供給する。なお、遅延回路の具体的な構成(回路の順序など)は、波形消失を防止する観点から決定されているものである。タイミング信号RRTO<7:0>を受けたリフレッシュ時プリチャージコマンド生成回路64は、図16に例示するように、これに基づいてプリチャージコマンドIPRERF<7:0>を生成する。
図1に戻り、アイドル信号生成回路45は、ロウ制御回路43が生成するロウアドレスストローブ信号RAS_BK<7:0>と、アクティブ保護回路44が生成するアイドル信号活性化抑止信号REFAPSとに基づいて、アイドル信号IDLEを生成する回路である。具体的には、図17に示すように、ロウアドレスストローブ信号RAS_BK<7:0>それぞれの反転信号と、アイドル信号活性化抑止信号REFAPSとがいずれもローレベルである場合に、アイドル信号IDLEをハイレベルに活性化し、それ以外の場合にアイドル信号IDLEを非活性状態とするよう構成される。したがって、アイドル信号活性化抑止信号REFAPSが活性状態(ハイレベル)である場合には、仮にすべてのバンクBA<7:0>がアイドル状態(ロウアドレスストローブ信号RAS_BK<7:0>がすべてローである状態)であったとしても、アイドル信号IDLEは非活性状態(ローレベル)で維持されることになる。
図18を参照して、アイドル信号IDLEの生成の具体例について説明する。この例では、セルフリフレッシュを行う場合であって、かつ、リフレッシュ対象がバンクBA<3:0>及びバンクBA<7>のみであるとする。この場合、図18に示すように、ロウアドレスストローブ信号RAS_BK<3:0>が非活性に戻った後、ロウアドレスストローブ信号RAS_BK<7>が活性化されるまでの間に、リフレッシュ動作中であるにも関わらず、いずれのバンクにもアクセスされていない無アクセス期間Bが生じている。従来の半導体装置であれば、このような場合のアイドル信号IDLE(図18ではIDLE(conv.)と表記している)は、無アクセス期間Bでハイレベルに戻ることになる。これに対し、本実施の形態による半導体装置10では、無アクセス期間Bにおいてもアイドル信号IDLEはローレベルのまま維持される。
図5(a)〜(c)を参照して説明したように、リフレッシュ状態信号RAREFSTは、アイドル信号IDLEがハイレベルに戻ると、ローレベルに戻ることになる。そして、リフレッシュ状態信号RAREFSTがローレベルに戻ると、図11(a)(b)に示した回路図から明らかなように、その後、アクトコマンドIACTRF<i>が生成されなくなる。したがって、図18に示したアイドル信号IDLE(conv.)のように、無アクセス期間Bでアイドル信号IDLEがハイレベルに戻ってしまうと、その後のリフレッシュ動作(図18の例ではバンクBA<7>のリフレッシュ動作)が行われないことになってしまう。
また、コマンド生成回路34は、図2に示したように、アイドル信号IDLEがハイレベルである場合に、セルフリフレッシュコマンドRSREFを生成するように構成されている。逆に言えば、アイドル信号IDLEがローレベルであることは、セルフリフレッシュコマンドRSREFが生成されないようにするための防止機構として機能している。無アクセス期間Bでアイドル信号IDLEがハイレベルに戻ってしまうと、この防止機構が働かなくなるため、万一、誤ってコマンド端子13にセルフリフレッシュコマンドが投入され、かつ、クロックイネーブル信号CKEがハイレベルに戻された場合、リフレッシュ動作の実行中であるにも関わらず、セルフリフレッシュコマンドRSREFが生成されてしまうことになる。これは、半導体装置10が誤動作する原因となる。
これに対し、本実施の形態による半導体装置10によれば、無アクセス期間Bにアイドル信号IDLEがハイレベルに戻ることがないので、バンクBA<7>のリフレッシュ動作が確実に行われ、また、リフレッシュ動作の実行中であるにも関わらず、セルフリフレッシュコマンドRSREFが生成されてしまうことも防止される。
以上説明したように、本実施の形態による半導体装置10によれば、セルフリフレッシュの対象となる1又は複数のバンクBA<i>のすべてに対するアクトコマンドIACTRF<i>が活性化される前に、アイドル信号IDLEが活性化してしまうことが防止される。したがって、リフレッシュ状態信号RAREFSTが非活性に戻ることも防止されるので、無アクセス期間が生じたとしても、リフレッシュ動作を継続することが可能になる。また、リフレッシュ動作の実行中であるにも関わらず、セルフリフレッシュコマンドRSREFが生成されてしまうことも防止される。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
例えば、上記実施の形態では8バンク構成のDRAMの例を取り上げて説明したが、本発明を適用可能な半導体装置のバンクの数が8に限られるものではない。また、DRAM以外の半導体装置であっても、バンクごとのリフレッシュ動作が必要とされるものであれば、本発明は適用可能である。
10 半導体装置
11 クロック端子
13 コマンド端子
20 クロック入力回路
21 クロックコントロール回路
22 アドレス入力回路
23 コマンド入力回路
30〜35 コマンド発生回路
36 オートプリチャージ回路
37 リフレッシュ制御回路
40 カラム制御回路
41 カラムアドレス制御回路
42 ロウアドレス制御回路
42a リフレッシュカウンタ
43 ロウ制御回路
44 アクティブ保護回路
45 アイドル信号生成回路
50 ロウデコーダ
51 カラムデコーダ
52 センス回路
53 メモリセルアレイ
60 リフレッシュ状態信号生成回路
61 セルフリフレッシュタイマー
62 バンク信号生成回路
63 リフレッシュ時アクトコマンド生成回路
64 リフレッシュ時プリチャージコマンド生成回路
65 リフレッシュセット信号生成回路
66,67 リフレッシュ状態生成器
70 パーバンクリフレッシュバンクカウンタ
71 バンクアドレスデコーダ
72 バンクセット信号生成回路
73 プリチャージバンクラッチ回路
74 アクティベートバンクラッチ回路
80 リフレッシュ状態信号生成回路
81 アクト生成器
82 ロウアドレスストローブ信号生成回路
90 パルス幅拡張回路
91 バンクアドレスデコーダ
92 アクトコマンド生成回路
ADD アドレス信号
B 無アクセス期間
BA バンク
BAA バンクアドレス
BL ビット線
BMASK バンクマスクコマンド
CK,/CK 外部クロック信号
CKE クロックイネーブル信号
IACT,IACTRF アクトコマンド
IBA バンクアドレス信号
IBKENBL バンクイネーブル信号
ICLK 内部クロック信号
IDLE アイドル信号
IPRE,IPRERF プリチャージコマンド
IPREAP オートプリチャージコマンド
MC メモリセル
PCKE 内部クロックイネーブル信号
RAREF オールバンクリフレッシュコマンド
RAREFSET,RFBKLAT リフレッシュセット信号
RAREFST,REFST,RPBREFST リフレッシュ状態信号
RAS_BK ロウアドレスストローブ信号
READ リードコマンド
REFAPS アイドル信号活性化抑止信号
REFSTD バンク状態信号
RFPREBK プリチャージバンク指示信号
RPBREF パーバンクリフレッシュコマンド
RRTO タイミング信号
RSREF セルフリフレッシュコマンド
SSRSD リフレッシュ実行中信号
WL ワード線
WRITE ライトコマンド
X ロウアドレス
Y カラムアドレス

Claims (9)

  1. 複数のバンクと、
    前記複数のバンクのすべてがアイドル状態である場合に活性化するアイドル信号を生成するアイドル信号生成回路と、
    リフレッシュ動作の開始に応じて活性化し、前記アイドル信号の活性化に応じて非活性となるリフレッシュ状態信号を生成するリフレッシュ状態生成回路と、
    前記リフレッシュ状態信号が活性化している場合に、前記複数のバンクにそれぞれ対応する複数のアクトコマンドのうちの少なくとも1つを順次活性化するアクトコマンド生成回路と、
    前記リフレッシュ状態信号の活性化に応じて活性化し、前記アクトコマンド生成回路が該リフレッシュ状態信号に対応して最後に活性化する前記アクトコマンドの活性化後に非活性となるアイドル信号活性化抑止信号を生成するアクティブ保護回路とを備え、
    前記アイドル信号生成回路は、前記アイドル信号活性化抑止信号が活性化している場合には前記アイドル信号を活性化しないよう構成される
    ことを特徴とする半導体装置。
  2. セルフリフレッシュコマンドを生成するセルフリフレッシュコマンド発生回路をさらに備え、
    前記リフレッシュセット信号生成回路は、前記セルフリフレッシュコマンドの到来後、周期的に前記リフレッシュセット信号を活性化するよう構成される
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記セルフリフレッシュコマンドが生成されたことに応じて、計時を開始するセルフリフレッシュタイマーをさらに備え、
    前記リフレッシュセット信号生成回路は、前記セルフリフレッシュタイマーの計時結果に応じて、前記リフレッシュセット信号の周期的な活性化を実行する
    ことを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
  4. オールバンクリフレッシュコマンドを生成するオールバンクリフレッシュコマンド発生回路をさらに備え、
    前記リフレッシュセット信号生成回路は、前記オールバンクリフレッシュコマンドが生成された場合に、前記リフレッシュセット信号を一度活性化するよう構成される
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の半導体装置。
  5. 前記アクトコマンド生成回路は、前記リフレッシュ状態信号が活性化している場合に、前記複数のバンクのそれぞれに対応するバンク状態信号を順次活性化するよう構成され、
    前記アイドル信号活性化抑止信号は、前記リフレッシュ状態信号の活性化に応じて活性化し、前記アクト生成回路が該リフレッシュ状態信号に対応して最後に活性化する前記バンク状態信号の活性化に応じて非活性となる信号である
    ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の半導体装置。
  6. 前記バンク状態信号は、対応する前記バンクがリフレッシュの対象であるか否かに関わらず活性化される
    ことを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。
  7. 前記アクトコマンド生成回路は、対応する前記アクトコマンドを活性化する前記バンクに関して、対応する前記アクトコマンドの活性化後に、対応する前記バンク状態信号を活性化するよう構成される
    ことを特徴とする請求項5又は6に記載の半導体装置。
  8. 前記複数のバンクのうちの1つ以上を特定するバンクマスクコマンドを生成するバンクマスクコマンド生成回路をさらに備え、
    前記アクトコマンド生成回路は、前記バンクマスクコマンドによって特定される1又は複数の前記バンクのそれぞれに対応する1又は複数の前記アクトコマンドを活性化するよう構成される
    ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の半導体装置。
  9. 前記アクトコマンド生成回路は、前記バンクマスクコマンドによって特定される1又は複数の前記バンクに関して、対応する前記アクトコマンドが活性化した後、対応する前記バンク状態信号が活性化するよう構成される
    ことを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。
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