JP2015009263A - レーザ加工装置およびレーザ光軸調整方法 - Google Patents

レーザ加工装置およびレーザ光軸調整方法 Download PDF

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Abstract

【課題】ノズル穴32の中心位置とレーザ光の光軸との位置とを一致させる芯だし処理の精度の向上を図る。
【解決手段】レーザ発振器からの加工レンズ4で集光されたレーザ光1をノズル穴32から被加工物6に照射させるノズル5と、ノズル5が先端に設けられた加工ヘッド3と、被加工物6に対して配置された光源7と、光源7から加工ヘッド3に入射する光の強度を検知する光検知器8と、検知した光の強度に基づいて、ノズル5とレーザ光1で形成したピアス穴16との相対位置の変化による光の強度の変化を検知し、ノズル穴32の中心位置とレーザ光の光軸との位置ずれを算出する信号処理部14とを備えている。
【選択図】図2

Description

本発明は、レーザ加工装置およびレーザ光軸調整方法に関するものである。
従来のレーザ加工装置においては、レーザ発振器から出力されたレーザ光を複数のミラーを介して加工ヘッドへ導き、加工ヘッド内の集光レンズによって集光されたレーザ光とアシストガスを同時に被加工物(ワーク)に照射することにより切断、溶接等の加工が行われる。
ここで、安定したレーザ加工を行うためには、レーザ光の光軸が加工ヘッドの先端部に設けられたノズル穴の中心を通る必要がある。ノズル穴の中心とレーザ光の光軸がずれていると加工に異方性が生じ、加工精度が落ちたり、加工が不安定になる。
このため、通常は加工を実施する前にノズル穴の中心とレーザ光の光軸を一致させる「芯だし」とよばれる調整作業を行う。従来の芯だしの方法は薄いアクリル板やテープにレーザ光で穴を開けて、加工穴の位置やガスの流れを作業者が目視で判断しながら、加工レンズの位置あるいはノズルの位置を調整していた。
一方で、作業者によらず自動的に芯だしを行う方法も各種提案されている。例えば特許文献1では、加工ヘッド内部に光検知器を備え、レーザ光が被加工物に照射されたときに被加工物から生じる光の強度を検出することが提案されている。被加工物から生じる光の強度はノズル穴と被加工物へのレーザ光照射位置の相対位置によって変化するため、これをあらかじめ求めておいたノズル穴中心と光軸が一致しているときの輝度のデータと比較し、これらが一致するようにノズル位置を自動的に調整している。特許文献1では、さらに、加工ヘッド内にCCDカメラ等の撮像手段を設け、被加工物にレーザ光で穴を開けた後に、加工ヘッド内からノズル穴と加工穴を同時に撮影し、これらの相対位置を画像処理によって算出し、ノズル穴中心と加工穴が一致するように自動的にノズル位置を調整する手段が示されている。
特許第3761657号公報
上記の従来のアクリル板やテープにレーザ光で穴を開けて手動で芯だしを行う方法では、作業者の熟練度により調整精度にばらつきがでたり、調整に時間がかかってしまう場合があるという問題点があった。
また、特許文献1に記載されている光検知器を使う方法では、あらかじめ求めたおいたノズル穴中心と光軸が一致しているときの被加工物からの光強度の基準データとの比較となるため、レーザ加工装置が上記の基準データを取得したときと状態が異なると、光検知器への光の入射強度が変化し、調整が困難となる可能性がある。例えば光検知器は加工レンズの上部に取り付けられているため、加工レンズが汚れると加工レンズの光の透過率が低下し、光検知器に入射する光の強度が弱まる。また、被加工物の材質の違いにより被加工物で生じる光の強度が変化する可能性もある。また、光検知器は1つであるため、レーザ光軸がノズル穴中心と一致しているときに光強度が最も強くなる保証はなく、光軸位置の検出精度が落ちるという問題点があった。
さらに、特許文献1に記載されている撮像手段を使う方法では、加工ヘッド内からノズルと加工穴が直接撮像できる位置にCCDカメラ等を設置する必要があるが、CCDカメラは光軸と同軸上には設置できないため、ノズルの形状によっては加工ヘッド内から被加工物が直接撮像できない恐れがある。また、加工レンズを介しているため、焦点距離の異なる加工レンズと交換するときなどは、その都度、CCDカメラ等のフォーカスを合わせる必要があり、このための機構も必要となる。これは装置のコスト増大を招くという問題点がある。
本発明は、かかる問題点を解決するためになされたものであり、芯だしの精度の向上を図ることが可能なレーザ加工装置およびレーザ光軸調整方法を得ることを目的としている。
本発明は、レーザ光を発生するレーザ発振器と、前記レーザ光を集光するための集光光学系と、被加工物に向けてガスを供給するとともに、前記集光光学系により集光された前記レーザ光をノズル穴から前記被加工物に照射させるためのノズルと、前記集光光学系を支持するとともに、前記ノズルが先端に設けられた加工ヘッドと、前記被加工物に対して配置された光源と、前記加工ヘッド内に設けられ、前記ノズルと前記被加工物に前記レーザ光により形成されたピアス穴との相対位置を変化させたときの前記光源から前記加工ヘッドに入射する光の強度を検知する光検知器と、前記光検知器で検知した前記光の強度に基づいて、前記ノズルと前記ピアス穴との相対位置の変化による当該光の強度の変化を検知し、当該検知結果に基づいて、前記ノズル穴の中心位置と前記レーザ光の光軸との位置ずれを算出する信号処理部とを備えたレーザ加工装置である。
本発明は、レーザ光を発生するレーザ発振器と、前記レーザ光を集光するための集光光学系と、被加工物に向けてガスを供給するとともに、前記集光光学系により集光された前記レーザ光をノズル穴から前記被加工物に照射させるためのノズルと、前記集光光学系を支持するとともに、前記ノズルが先端に設けられた加工ヘッドと、前記被加工物に対して配置された光源と、前記加工ヘッド内に設けられ、前記ノズルと前記被加工物に前記レーザ光により形成されたピアス穴との相対位置を変化させたときの前記光源から前記加工ヘッドに入射する光の強度を検知する光検知器と、前記光検知器で検知した前記光の強度に基づいて、前記ノズルと前記ピアス穴との相対位置の変化による当該光の強度の変化を検知し、当該検知結果に基づいて、前記ノズル穴の中心位置と前記レーザ光の光軸との位置ずれを算出する信号処理部とを備えたレーザ加工装置であるため、芯だしの精度の向上を図ることができる。
本発明の実施の形態1によるレーザ加工装置を示す図である。 本発明の実施の形態1によるレーザ光軸調整方法及びレーザ加工装置の要部を示す断面図である。 本発明の実施の形態1によるレーザ光軸調整方法及びレーザ加工装置の要部を示す断面図である。 本発明の実施の形態1によるレーザ光軸調整方法のフローチャートである。 本発明の実施の形態1による光検知器の出力信号とノズル位置との関係をグラフで示す図である。 本発明の実施の形態1による光検知器の設置位置の例を示す図である。 非対称な強度分布を持つレーザ光とピアス穴の関係を示す図である。 本発明の実施の形態2によるレーザ光軸調整方法及びレーザ加工装置の要部を示す断面図である。 本発明の実施の形態3によるレーザ加工装置を示す図である。 本発明の実施の形態4によるレーザ光軸調整方法及びレーザ加工装置の要部を示す断面図である。 本発明の実施の形態5によるレーザ光軸調整方法及びレーザ加工装置の要部を示す断面図である。 本発明の実施の形態6によるレーザ光軸調整方法及びレーザ加工装置の要部を示す断面図である。 本発明の実施の形態7によるレーザ光軸調整方法及びレーザ加工装置の要部を示す断面図である。 本発明の実施の形態7によるレーザ光軸調整方法及びレーザ加工装置の要部を示す断面図である。 本発明の実施の形態7によるレーザ光軸調整方法のフローチャートである。 本発明の実施の形態7による光検知器の出力信号とノズル位置との関係をグラフで示す図である。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係るレーザ光軸調整方法(芯だし方法)を用いたレーザ加工装置を示す図である。本実施の形態1に係るレーザ加工装置は、図1に示すように、レーザ光1を発生するレーザ発振器11と、レーザ発振器11から出力されたレーザ光1を反射させる最終折り返しミラー2と、最終折り返しミラー2で反射されたレーザ光1を被加工物13に照射する加工ヘッド3とを備えている。さらに、本実施の形態1では、レーザ加工装置に、レーザ光軸調整用の芯だしエリア12が設けられており、芯だしエリア12において芯だしを実施する構成となっている。
本実施の形態1に係るレーザ加工装置においては、レーザ発振器11から出力されたレーザ光1は図示しない複数のミラーを介して加工ヘッド3上部の最終折り返しミラー2に照射される。最終折り返しミラー2で反射されたレーザ光1は加工ヘッド3に入射され、加工ヘッド3によって被加工物13に照射される。このとき、加工ヘッド3が被加工物13上を2次元(X、Y方向)に走査することにより、被加工物13の切断および溶接等の加工が行われる。なお、加工ヘッド3には、加工ヘッド3をX,Y,Z方向に移動させるための加工ヘッド駆動部(図示せず)が設けられており、当該駆動部によるZ方向の高さの制御およびX、Y方向の走査の制御は、後述する信号処理部14が行うか、あるいは、駆動部を駆動するための制御部を別個に設けるようにしてもよい。以下では、信号処理部14が行うこととして説明する。
図2は、芯だしエリア12で実施する芯だし処理の様子を示す図であり、加工ヘッド3の断面図を示している。加工ヘッド3は略円筒型を有している。あるいは、加工ヘッド3の外形が角柱型で、内部の空洞が円柱型になっていてもよい(図6参照)。加工ヘッド3内部の空洞内には、加工ヘッド3の内壁に支持されて、最終折り返しミラー2で反射されたレーザ光1を集光するための加工レンズ4が設けられている。なお、加工レンズ4は、レーザ光1を集光するための集光光学系を構成している。また、加工ヘッド3には、加工レンズ4を光軸方向(Z方向)に移動させるためのZ方向1軸アクチュエータ9と、光軸に直交する被加工物6,13の平面と平行で且つ互いに直交する2軸方向(X方向、Y方向)に加工レンズ4を移動させるためのX、Y方向2軸アクチュエータ10が設置されている。
加工ヘッド3の先端部分は、図2に示すようにテーパ状になっており、円錐状に、先に行くほど細くなるように形成されている。加工ヘッド3の最先端部分には、加工レンズ4で集光されたレーザ光1が通過すると共に被加工物に向けてアシストガスを供給するためのノズル5が設けられている。最終折り返しミラー2で反射されたレーザ光1は、加工ヘッド3内の加工レンズ4によって集光され、加工ヘッド3の先端に固定されたノズル5の先端に設けられた穴(以下、ノズル穴32とする。)を通って、被加工物6,13に照射される。なお、図2に示す被加工物6は、芯だし用の被加工物で、芯だしエリア12にクランプ15により挟持されて固定されている。
また、芯だしエリア12においては、被加工物6を介して加工ヘッド3の反対側に(すなわち、被加工物6の下側に)、光源7が設置されている。図2に示すように、光源7は、少なくとも2個設けられており、その取付箇所は、光源7同士が互いに対向するように、芯だしエリア12内の対向する2つの内壁にそれぞれ1つずつ設けられている。光源7は例えば発光ダイオード、レーザダイオード、蛍光灯、白熱電球などから構成される。
また、加工ヘッド3内部には、光源7からの光の強度を検知するための光検知器8が取り付けられている。光検知器8は、図2に示すように、少なくとも2個設けられており、その設置箇所は、互いに対向するように、加工ヘッド3内の対向する内壁にそれぞれ1つずつ設けられている。また、レーザ加工装置には、信号処理部14が設けられている。信号処理部14は、光検知器8に接続され、光検知器8からの信号に基づいて、ノズル5の中心位置に対するレーザ光1の光軸の位置ずれを算出する。また、信号処理部14は、X、Y方向2軸アクチュエータ10に接続され、算出した位置ずれに基づいて、X、Y方向2軸アクチュエータ10を駆動させて、加工レンズ4を移動させ、レーザ光軸とノズル穴32の中心位置とを一致させる。さらに、信号処理部14は(図2では、図の簡略化を図るため、信号線の図示を省略しているが)Z方向1軸アクチュエータ9にも接続されており、必要に応じて、Z方向1軸アクチュエータ9を駆動させて、加工レンズ4をZ方向に移動させることもできる。
本実施の形態1では、芯だし処理を行う際には、まず、レーザ光1にて被加工物6へピアス穴16を開け、その後、レーザ光1の発振を停止する。なお、ピアス穴16とは、非常に小さな微小貫通穴のことである。ピアス穴16の穴径は、ノズル穴32の穴径よりも小さい(例えば、図3参照)。ピアス穴16を開けた状態で、光源7をONすると、光源7からの光は、ピアス穴16を通って、光検知器8に到達する。光検知器8の検知信号は信号処理部14に送られ、信号処理部14で処理される。被加工物6はクランプ15により芯だしエリア12に固定されている。ここで、光源7が発生する光の波長は光検知器8で検知できる波長とし、被加工物6はこの波長の光を遮る材質とする。当該材質としては、例えば、不透明のアクリル板等樹脂材料、薄い鉄板、ステンレス等の金属材料などを用いる。
ここで、本実施の形態1による芯だし処理の手順を図2、図3、および、図4に基づいて詳細に説明する。図3は、本実施の形態1による芯だし処理を詳細に示すノズル5部分の拡大図である。また、図4は、信号処理部14による芯だし処理の手順を示したフローチャートである。まず、図2に示すように、作業者が、芯だしエリア12に芯だし用の被加工物6を設置してクランプ15で固定させると、信号処理部14は、加工ヘッド駆動部(図示せず)を駆動させて、加工ヘッド3を芯だしエリア12に移動させる(ステップS1)。次に、加工ヘッド3を、レーザ光軸方向(Z軸)に移動させて、被加工物6に近づけ、ノズル5と被加工物6とが接触しない程度に、それらの間の距離が、できるだけ短い距離になるように調整する(ステップS2)。その後、レーザ発振器11を用いて、レーザ光1を短い時間だけ被加工物6に照射し、ピアス穴16を形成する。ピアス穴16形成後は、レーザ光1の出力を停止する。ピアス穴16形成時のノズル5の位置は、図3(a)に示す通りであり、信号処理部14は、図3(a)に示す状態のノズル穴32の中心位置22(X、Y)を、自身に設けられた記憶装置(図示せず)に記録しておく(ステップS3)。このときのノズル5の位置は、初期位置である。このとき、光源7をONにし、光源7から光を発するようにすると、被加工物6の下部に設置してある光源7からの光17は、レーザ光1で空けられた被加工物6のピアス穴16を通って、加工ヘッド3内に入り、光検知器8はこの光17を受光して、光17の強度を検知し、光の強度を示す出力信号(検知信号)を出力する。このとき、加工ヘッド3内に入った光17は、図2に示すように、加工レンズ4を通って直接光検知器8に入る光もあれば、加工ヘッド3内の壁面等に当たって、その反射光または散乱光が、光検知器8に入る場合もある。
ここで、図3(a)は、ステップS3において被加工物6に空けられたピアス穴16の中心位置21が、ノズル穴32の中心位置22(X)からX軸+側(右方向)にずれている場合である(また、同時に、ピアス穴16の中心位置21が、ノズル穴32の中心位置22(Y)からY軸+側にずれている場合である。)。
そこで、図3(b)に示すように、ノズル5をX軸−側(左方向)に移動しつつ光検知器8の出力信号を計測する。ここで、図3(b)の破線23は、ノズル5の初期位置である。ノズル5が距離18だけX軸−側(左方向)に移動すると、ノズル穴32の位置が、ピアス穴16に対応する範囲から外れ、被加工物6下部からの光源7による光17がノズル5の外壁に当たり、ノズル穴32に入らなくなり、ノズル5の外部に散乱する光20となる。このとき、光検知器8には、光が入ってこないため、光検知器8の出力信号は0となる。信号処理部14は、出力信号が0になったときのノズル穴32の中心位置Xaを記憶装置(図示せず)に記録する(ステップS4)。
次に、図3(c)に示すように、ノズル5を上記とは逆のX軸+側(右方向)に移動しつつ光検知器8の出力信号を計測する。ノズル5が距離19だけ移動すると、ノズル穴32の位置がピアス穴16に対応する範囲からから外れ、被加工物6下部からの光源7による光がノズル5の外壁に当たり、ノズル穴32内部に入らなくなり、ノズル5の外部に散乱する光20となる。このとき、光検知器8には光が入ってこないため、光検知器8の出力信号は0となる。信号処理部14は、出力信号が0になったときのノズル穴32の中心位置Xbを記憶装置(図示せず)に記録する(ステップS5)。
このときのノズル位置と光検知器8の出力信号の関係を図5に示す。図5に示すように、ノズル5をX軸−側(左方向)またはX軸+側(右方向)に移動させると、ピアス穴16がノズル5で徐々に覆われていくので、光検知器8が検出する光17の光強度は徐々に低下していき、図3(b)または図3(c)のように、ノズル穴32がピアス穴16に対応する範囲から外れて、ピアス穴16がノズル5で完全に覆われると、その段階で、光検知器8が検出する光17の光強度は0になる。従って、本実施の形態では、図4におけるステップS4およびステップS5で、光検知器8の出力信号が0となるノズル位置Xa、Xbを求め、ステップS6で、それらの値の平均位置Xmを求める。この平均値Xmは、ピアス穴16の中心位置となり、すなわち、レーザ光1の光軸の位置となる。よって、本実施の形態1では、光検知器8の出力信号が0となるノズル位置Xa、Xbの平均位置Xmを求め、求められた平均位置Xmをレーザ光1の光軸位置として、ノズル穴32の中心位置Xと光軸位置としての平均位置Xmとの差を求める。当該差がノズル5の中心位置とレーザ光軸位置とのズレ量となり、レーザ光軸をこの量だけ移動させれば、レーザ光軸とノズル5の中心位置とがX方向において一致することになるため、信号処理部14は、レーザ光軸をこの量だけX方向に移動させる(ステップS6)。本実施の形態1では、当該レーザ光軸の移動を、信号処理部14の制御により、X、Y方向2軸アクチュエータ10を駆動させて、加工レンズ4を移動させることによって行う。加工レンズ4を移動させる方向は、図3において、X軸−側(左方向)となる。
その後、X軸と直交するY軸方向においても、上記のステップS4〜S6と同様の処理を行う(ステップS7)。すなわち、ノズル5をY軸−側に移動しつつ光検知器8の出力信号を計測し、出力信号が0になったときのノズル穴32の中心位置(Ya)を記録し、ノズル5をY軸+側に移動しつつ光検知器8の出力信号を計測し、出力信号が0になったときのノズル穴32の中心位置(Yb)を記録し、それらの平均値Ymをレーザ光軸位置として求め、YとYmとの差を計算し、当該差の分だけ、加工レンズ4をY方向に移動させて、ノズル穴32の中心とレーザ光軸とを一致させる。このことにより、Y方向においても、ノズル穴32の中心とレーザ光軸が一致し、芯だし処理が完了する。
なお、芯だし時にはノズル5のノズル穴32の穴径はレーザ光軸がずれていてもレーザ光1がノズル5に当たらない大きさのものを使用する。例えば通常の金属切断時にはノズル穴32の穴径はΦ1mm程度のものを使用するが、芯だし作業時にこのような径のものを使用するとレーザ光1がノズルに当たってしまう場合がある。このため、ノズル5は例えば穴径Φ2mm以上のものを使用すると良い。
ここで、上記ではノズル位置Xa、Xbは光検知器8の出力信号が0となる位置としたが、この場合に限らず、例えば、閾値を予め設定しておき、光検知器8の出力信号が当該閾値となるノズル位置をXa、Xbとしても良い。なお、その場合の閾値としては、ノズル穴32の中心位置とレーザ光軸が一致している場合の光検知器8の出力信号に比べて、当該閾値が十分低い値になるように設定することが望ましい。
なお、より正確に芯だしを行うためには、最初は穴径の大きなノズル5を使用し、次に穴径の小さなノズルに交換して、ステップS2〜S7の処理を実施する(ステップS8)。この場合のように、繰り返し、芯だし操作を実施する場合は先に空けたピアス穴16とは別の場所にピアス穴16を開けて行えばよい。このときは予想されるノズル移動量を考慮して、ノズル5を移動したときに先に空けたピアス穴16にノズル位置が重ならない位置で行う。例えばX、Y方向両方ずらして斜めの位置で実施するとよい。なお、ステップS8の処理は、必ずしも行う必要はなく、省略してもよい。
上記の説明では、光検知器8が2つの場合を示したが、本実施の形態1では、光検知器8は、ピアス穴16からの光の強度(光の強弱)を検知出来ればよいため、1つでも十分機能するため、1つとしてもよい。また、光源7とピアス穴16の位置関係により、ピアス穴16からノズル5内部に入射する光強度に角度依存性が発生する場合もあり、その場合は、光検知器8を3つ以上を用いて、ノズル穴32の中心を中心軸とした同心円状に、互いに均等な距離を開けて配置させることが望ましい。これを図6に示す。図6(a),(b)は、加工ヘッド3を上から(Z軸方向)見た図であり、図6(a)では、3つの光検知器8をノズル5の中心(Z軸)を中心として均等間隔で配置しており、図6(b)では、4つの光検知器8をノズル5の中心(Z軸)を中心として均等間隔で配置している。
上記の説明では、ピアス穴16の中心がレーザ光軸と一致する場合を示しているが、実際には、レーザ光1の強度分布によって、レーザ光軸位置Xmと実際のピアス穴16の中心とがずれるような場合もある。
例えば、図7に示すように、レーザ光軸の測定方法によっては、レーザ光軸がレーザ強度分布24の重心位置で定義される場合(XL)、または、レーザ強度分布のピーク位置で定義される場合(XP)などがあるが、本実施の形態1においては、レーザ光軸(Xm)は加工穴(ピアス穴16)の中心位置で定義されることになる。実際に、高精度加工に必要なのは、ピアス穴16の中心位置とノズル穴32の中心位置とが一致することであり、そのようにすれば、図7に示すように、レーザ光の強度分布が非対称な場合でも高精度加工に有効である。
また、本実施の形態1では、ノズル5の位置をずらしたときに、ピアス穴16からの光の強度比が検知できれば良いため、ノズル5をずらしたときの光検知強度は必ずしも0になる必要はない。このことから、芯だし用の被加工物6の材質は光源7からの光を完全に遮断される材料でなくてもよい。
また、図3では、光源7はX方向から光が当たるように示したが、実際には、被加工物6のピアス穴16へ均等に光が当たるようにY方向からも光が当たるようにすることがさらに望ましい。また、被加工物6の下の光源7が設置してある空間は内面を光源7の光を反射、散乱させるように表面処理するとピアス穴16へ均等に光が照射されピアス穴16から加工ヘッド3内へ光が届きやすくなる。
実施の形態1では、光検知器8を加工レンズ4の上に設置しており、この場合、高圧のアシストガスに光検知器8がさらされることがない上、被加工物6,13のスパッタによる汚れの影響も考慮する必要がないという利点がある。
以上のように、本実施の形態1に係るレーザ加工装置は、レーザ光1を発生するレーザ発振器11と、レーザ光1を集光するための集光光学系としての加工レンズ4と、被加工物6,13に向けてアシストガスを供給するとともに、加工レンズ4により集光されたレーザ光1をノズル穴32から被加工物6,13に照射させるためのノズル5と、加工レンズ4を支持するとともに、ノズル5が先端に設けられた加工ヘッド3と、被加工物6,13に対して配置された光源7と、加工ヘッド3内に設けられ、光源7から加工ヘッド3に入射した光の強度を検知する光検知器8と、光検知器8で検知した光の強度に基づいてノズル5と被加工物6,13との相対位置の変化による当該光の強度の変化を検知し、当該検知結果に基づいて、ノズル穴32の中心とレーザ光1の光軸との位置ずれを算出する信号処理部14とを備えているので、ノズル5と被加工物6,13との相対位置を変化させながら、光源7から加工ヘッド3に入射した光の強度を光検知器8で検知して、当該光の強度が変化した時点のノズル位置Xa、Xbの平均値Xmをレーザ光1の光軸の位置として求め、Xmと初期のノズル位置Xとの差を位置ずれ量として算出し、当該位置ずれ量の分だけ加工レンズ4を移動させて、レーザ光軸とノズル穴32の中心位置とを一致させるようにしたため、ノズル穴32の中心位置とレーザ光1の光軸とを精度よく一致させることができる。
また、本実施の形態においては、信号処理部14は、図4のフローチャートに示すように、被加工物6にピアス穴16を形成したときのノズル穴32の中心位置(X、Y)を記録し、被加工物6の平面と平行な軸方向(X軸、Y軸)の一方の側(+側)に向かってノズル5とピアス穴16との相対位置を変化させた場合の、光検知器8による光の強度が予め設定した値(0または閾値)になったときのノズル穴32の中心位置(Xa、Ya)を、レーザ光1の光軸位置検出用の第1の位置として記録し、被加工物6の平面と平行な軸方向(X軸、Y軸)の他方の側(−側)に向かってノズル5とピアス穴16との相対位置を変化させた場合の、光検知器8による光の強度が予め設定した値(0または閾値)になったときのノズル穴32の中心位置(Xb、Yb)を、レーザ光1の光軸位置検出用の第2の位置として記録し、第1の位置(Xa、Ya)と第2の位置(Xb、Yb)との平均値(Xm、Ym)をレーザ光1の光軸の位置として算出して、ノズル穴32の中心位置(X、Y)とレーザ光1の光軸の位置(Xm、Ym)との位置ずれを算出して、芯だしを行うようにしたので、ノズル穴32の中心位置とレーザ光1の光軸とを精度よく一致させることができる。
実施の形態2.
上記の実施の形態1では、光検知器8を加工レンズ4の上側に設置した場合について説明したが、本実施の形態2においては、図8に示すように、光検知器8を加工レンズ4の下側に設置した場合について説明する。なお、他の構成および動作については、実施の形態1と同じであるため、ここではその説明を省略する。
図8に示すように、加工レンズ4の下側に光検知器8を設置した場合、ピアス穴16からの光強度が高くなり、光検知器8の検知精度を向上させることができる。あるいは、光源7の発光強度を小さくすることができる。また、光検知器8の光感度が十分ならば、芯だしエリア12の下部に光源7を設置する必要はなく、外光が入るようにして明るくしておけば、光検知器8での光強度の検知が可能である。
なお、上記の実施の形態1、2では、芯だしエリア12を設置したが、図1に示す被加工物13が設置されている加工エリアでも、被加工物13が設置される加工テーブルの下部が光検知器8が検知できる程度に十分明るければ、同様に、芯だし処理が実施可能であるため、その場合には、芯だしエリア12を設置する必要はない。
実施の形態3.
上記の実施の形態1,2では、光走査型と呼ばれる、被加工物13上を加工ヘッド3が走査するタイプのレーザ加工装置を示したが、本実施の形態3では、図9に示すように、加工ヘッド3と被加工物13との両方が走査するハイブリッド型とよばれるレーザ加工装置について説明する。なお、他の構成および動作については、上記の実施の形態1,2と同じであるため、ここでは、その説明を省略する。
本実施の形態3に係るレーザ加工装置においては、図9に示すように、加工ヘッド3を1軸方向(例えば、X軸方向)に走査させるとともに、被加工物13を搭載させた加工テーブルをそれと直交する他の1軸方向(例えば、Y軸方向)に走査させる。本実施の形態3においても、上記の実施の形態1,2と同様の方法で、芯だし処理が可能である。但し、図4のステップS1において、加工ヘッド3を芯だしエリアに設置させる際に、1軸方向(例えば、X軸方向)に加工ヘッド駆動装置(図示せず)で移動させ、他の1軸方向(例えば、Y軸方向)に加工テーブルを移動させて、加工ヘッド3が芯だしエリア12の上部にくるように調整する。
あるいは、X軸方向を加工ヘッド3が走査する光走査型、Y軸方向を加工テーブルが走査する加工テーブル走査型とした場合、X軸方向については上記の実施の形態1,2で示した図4のステップS4〜S6の処理で芯だし処理を実施するが、Y軸方向については、ステップS7で、ステップS4〜S6の処理を行う際に、加工レンズ4ではなく、加工テーブルを移動させて、ノズル5のノズル穴32の中心位置とレーザ光軸との位置ずれ量を検出するようにしてもよい。この場合には、芯だしエリア12を加工テーブルと一体となって動くようにするか、あるいは、芯だしエリア12のみ独立してY軸方向に可動させる機構を設ける必要がある。
実施の形態4.
上記の実施の形態1〜3では、図4のステップS6で加工レンズ4を移動させる際に、加工レンズ4はX、Y方向2軸アクチュエータ10を利用して移動させたが、本実施の形態4では、図10に示すように、操作画面を有する表示部26を設けて、当該表示部26の操作画面に、信号処理部14で算出したずれ量(必要なレンズ位置調整量)を、X軸方向およびY軸方向ごとに表示し、当該表示されたレンズ位置調整量に基づいて作業者が手動でマイクロメータ25により加工レンズ4のレンズ位置を調整する構成とする。従って、本実施の形態4では、X、Y方向2軸アクチュエータ10は設けられておらず、代わりに、マイクロメータ25が加工レンズ4に対して設けられている。なお、他の構成および動作については、上記の実施の形態1〜3と同様であるため、ここではその説明を省略する。
本実施の形態4においては、図4のステップS1〜S5までは実施の形態1と同様に行うが、ステップS6における加工レンズ4の移動をマイクロメータ25による手動で行うことになる。本実施の形態4の場合は、加工ヘッド3に、X、Y方向2軸アクチュエータ10を設置する必要がないため、加工ヘッド3がその分だけ軽量化できる。
なお、図10では、光検知器8は、加工レンズ4の下にある場合を示したが、その場合に限らず、光検知器8が加工レンズ4の上にある場合でも同様の効果が期待できる。
実施の形態5.
本発明の実施の形態5について図11に基づいて説明する。図11は、実施の形態5による芯だし処理を示す図である。本実施の形態5においては、上記の実施の形態1で示した、加工レンズ4移動用のX、Y方向2軸アクチュエータ10の代わりに、ノズル5移動用の2軸(XY軸)アクチュエータ27が設置されている。2軸(XY軸)アクチュエータ27は、(図の簡略化のため、信号線の図示を省略しているが)信号処理部14に接続されており、信号処理部14の制御により駆動されて、信号処理部14で算出したずれ量に基づいて、当該ずれ量分だけノズル5をX方向およびY方向に移動させる。他の構成および動作については、上記の実施の形態1〜4と同じであるため、ここでは説明を省略する。
また、芯だし処理も、図4のステップS1からS5までは実施の形態1と同じである。図4のステップS6において、実施の形態1では、ノズル位置Xa、Xbからレーザ光軸位置Xmを算出した後、XとXmの差だけ加工レンズ4を移動させたが、実施の形態5では、加工レンズ4の代わりに、2軸(XY軸)アクチュエータ27を用いてノズル5を動かしてノズル5の位置Xとレーザ光軸位置Xmを一致させる。Y方向についても、同様に、2軸(XY軸)アクチュエータ27を用いてノズル5を動かしてノズル5の位置Yとレーザ光軸位置Ymを一致させる。
本実施の形態においては、加工レンズ4にZ方向1軸アクチュエータ9を、ノズル5に2軸(XY軸)アクチュエータ27を、それぞれ、独立に設置すればよく、2つのアクチュエータ9,10を加工レンズ4部分に設置する場合に比べて、構造が簡単となる。また、実施の形態4の加工レンズ4に設けたマイクロメータ25と同様に、2軸(XY軸)アクチュエータ27の代わりに、マイクロメータをノズル5に設置して、表示部26による表示に基づいて、作業員が手動で、ノズル5を移動させるようにしてもよい。
実施の形態6.
本発明の実施の形態6に係るレーザ加工装置について図12を用いて説明する。図12は、実施の形態6による芯だし処理を示す図である。本実施の形態6においては、実施の形態1で示した、加工レンズ移動用のX、Y方向2軸アクチュエータ10の代わりに、加工ヘッド3の上方に設けられた最終折り返しミラー2に、2軸(XY軸)アクチュエータ28が設置されている。2軸(XY軸)アクチュエータ28は、(図の簡略化のため、信号線の図示を省略しているが)信号処理部14に接続されて、信号処理部14の制御により駆動されて、信号処理部14で算出したずれ量に基づいて、当該ずれ量分だけ最終折り返しミラー2を移動させる。他の構成および動作については、実施の形態1(図2)と同じであるため、ここではその説明を省略する。
また、芯だし処理も、図4のステップS1からS5までは実施の形態1と同じである。実施の形態1では、図4のステップS6において、ノズル位置Xa、Xbからレーザ光軸位置Xmを算出した後、XとXmの差だけ加工レンズ4を移動させたが、実施の形態6では、加工レンズ4の代わりに、2軸(XY軸)アクチュエータ28を用いて、最終折り返しミラー2を動かして、ノズル位置Xとレーザ光軸位置Xmを一致させる。Y方向についても同様である。
本実施の形態においては、加工レンズ4にZ方向1軸アクチュエータ9を、最終折り返しミラー2に2軸(XY軸)アクチュエータ28を、それぞれ、独立に設置すればよく、2つのアクチュエータ9,10を加工レンズ4部分に設置する場合に比べて、構造が簡単となる。また、実施の形態4に示したのと同様に、2軸(XY軸)アクチュエータ28の代わりに、マイクロメータを最終折り返しミラー2に設置して、手動で最終折り返しミラー2を移動させる構成としてもよい。
実施の形態7.
本発明の実施の形態7にかかるレーザ加工装置について図13を用いて説明する。図13は、実施の形態7による芯だし処理を示す図である。上記の実施の形態1では、図2に示すように、光源7を被加工物6の下側に設置したが、実施の形態7では、光源7の代わりに、図13に示すように、光源29を被加工物6の上側に配置する。他の構成については、実施の形態1〜6と同じであるため、ここでは、その説明を省略する。
また、実施の形態1では、図4のステップS2で、ノズル5と被加工物6の距離はできるだけ小さくしたが、実施の形態7では、ある程度距離を離して、光源29からの光がノズル5と被加工物6との間に入るようにする。なお、当該距離については、2mm程度、5mm程度、あるいは、1cm程度など、適宜、決定すればよい。このとき、被加工物6としては、光源29の光が反射あるいは散乱するような材料を使用する。当該材料は、例えば、金属光沢のある鉄材、ステンレス等の金属材料、アクリル板等の樹脂材料である。
ここで、実施の形態7による芯だし処理の手順を図13、図14、図15により示す。図14は、本発明の実施の形態7による芯だし処理を詳細に示すノズル5部分の拡大図である。また、図15は、本実施の形態7による信号処理部14の芯だし処理の手順を示したフローチャートである。なお、図15において、図4と同じ処理内容のステップについては、図4と同じ符号(S1,S3など)を付して示す。
まず、作業員が、芯だしエリア12に、芯だし用の被加工物6を設置し、クランプ15で固定すると、信号処理部14は、加工ヘッド3を芯だしエリア12に移動させる(ステップS1)。その後、加工ヘッド3を、レーザ光軸方向(Z軸)に移動させて、被加工物6に近づけるが、このとき、ノズル5と被加工物6とはある程度距離を離して光源29からの光がノズル5と被加工物6との間に入るようにする(ステップS12)。
その後、レーザ光1を短い時間だけ被加工物6に照射し、ピアス穴16を形成する。ピアス穴16形成後は、レーザ光1の出力を停止する。そうして、図14(a)に示す状態の、ピアス穴16形成時のノズル穴32の中心位置22(X、Y)を記憶装置(図示せず)に記録しておく(ステップS3)。このときのノズル5の位置は、初期位置である。
ここで、光源29をONにすると、被加工物6の下部に設置してある光源29からの光30の一部の光17は、被加工物6の表面で反射し、ノズル穴32から加工ヘッド3内に入り、光検知器8はこの光17を受光し信号を出力する。また、光源29からの光30の残りの一部はピアス穴16から被加工物6の下へ抜ける光31となる。
このとき、加工ヘッド3内に入った光17は、図13に示すように、加工レンズ4を通って、直接、光検知器8に入る光もあれば、加工ヘッド3内の壁面等に当たって、その反射光または散乱光が、光検知器8に入る場合もある。
ここで、図14(a)は、ステップS3により被加工物6に空けられたピアス穴16の中心位置21が、ノズル穴32の中心位置22(X)からX軸+側(右方向)にずれている場合である(また、同時に、ピアス穴16の中心位置21が、ノズル穴32の中心位置22(Y)からY軸+側にずれている場合である)。
そこで、図14(b)に示すように、ノズルをX軸−側(左方向)に移動しつつ光検知器8の出力信号を計測する。ここで、図14(b)の破線23は、ノズル5の初期位置である。ノズル5が距離18だけX軸−側(左方向)に移動すると、ノズル穴32の位置が、ピアス穴16に対応する範囲から外れる。このとき、ノズル5により、ピアス穴16が完全に覆われ、ノズル穴32の径内にある被加工物6部分にはピアス穴16が存在しないため、この部分から被加工物6の下に抜ける光31は存在しない。
ここで、図14(a)と図14(b)の光検知器8に入る光を比較すると、図14(a)は、光源29からの光の一部が被加工物6の下側へ抜けるため、その分だけ光強度は減少するが、図14(b)では、被加工物6の下側へ抜ける光は存在しないため、図14(b)の方が光検知器8に入る光は強くなる。つまり、ノズル5を移動しつつ、光検知器8の出力信号を測定することにより、ノズル穴32と被加工物6のピアス穴16の位置関係が分かる。光検知器8の出力信号が強くなって、予め設定した閾値に達したときのノズル穴32の中心位置Xaを記憶装置(図示せず)に記録する(ステップS14)。
次に、図14(c)に示すように、ノズル5を上記とは逆のX軸+側(右方向)に移動しつつ、光検知器8の出力信号を計測する。上記と同様にノズル5が距離19だけ移動すると、ノズル穴32の位置がピアス穴16に対応する範囲から外れ、ノズル穴32の径内において被加工物6の下方への光31がなくなり、ノズル穴32内部に入る光17が増加し、光検知器8の出力信号も増加する。こうして、光検知器8の出力信号が強くなって、予め設定した閾値に達したときのノズル穴32の中心位置Xbを記憶装置(図示せず)に記録する(ステップS15)。
このときのノズル位置と光検知器8の出力信号の関係を図16に示す。図16において、ステップS14およびステップS15で求めた光検知器8の出力信号が増加したときのノズル位置Xa、Xbの平均位置をXmとすると、これはピアス穴16の中心位置つまりレーザ光軸位置となる。よって、本実施の形態では、信号処理部14が、ステップS14およびステップS15で求めたノズル位置Xa,Xbの平均位置Xmを求め、求められた平均位置Xmをレーザ光軸位置として、ノズル穴32の中心位置Xとレーザ光軸位置としての平均位置Xmとの差を求める。当該差がノズル5の中心とレーザ光軸位置とのズレ量となり、レーザ光軸をこの量だけ移動すれば、レーザ光軸とノズル5の中心位置とがX方向において一致することになるため、レーザ光軸をこの量だけ移動させる(ステップS6)。実施の形態7では、当該レーザ光軸の移動を、図13に示すX、Y方向2軸アクチュエータ10によって、加工レンズ4を移動することによって行う。加工レンズ4を移動する方向は、図14において、X軸−側(左方向)となる。
その後、これとは直交するY軸方向においても、上記のステップS14,S15,S6と同様の処理を行う(ステップS7)。すなわち、ノズル5をY軸−側に移動しつつ光検知器8の出力信号を計測し、出力信号が0になったときのノズル穴32の中心位置(Ya)を記録し、次に、ノズル5をY軸+側に移動しつつ光検知器8の出力信号を計測し、出力信号が0になったときのノズル穴32の中心位置(Yb)を記録し、それらの平均値Ymをレーザ光軸位置として求め、YとYmとの差を計算し、当該差の分だけ、加工レンズ4を移動させて、ノズル穴32の中心とレーザ光軸とを一致させる。このことにより、Y軸方向においても、ノズル穴32の中心とレーザ光軸が一致し、芯だしが完了する。
なお、図14において、光源29はX軸方向のみ示したが、実際には、ノズル5の周囲から均等に光が当たるようにY軸方向からも光を当てるようにすることが望ましい。
芯だし時にはノズル5の穴径はレーザ光軸がずれていてもレーザ光がノズルに当たらない大きさのものを使用するのは実施の形態1と同様である。
実施の形態7では光検知器8が2つの場合を示したが、実施の形態1と同様に光検知器の数は3つ以上を用いてノズル穴中心を中心軸とした同心円状に互いに均等な距離となるように配置させるようにしてもよい。
以上のように、本実施の形態7に係るレーザ加工装置は、レーザ光1を発生するレーザ発振器11と、レーザ光1を集光するための集光光学系としての加工レンズ4と、被加工物6,13に向けてガスを供給するとともに、加工レンズ4により集光されたレーザ光1をノズル穴32から被加工物6,13に照射させるためのノズル5と、加工レンズ4を支持するとともに、ノズル5が先端に設けられた加工ヘッド3と、被加工物6,13に対して配置された光源29と、加工ヘッド3内に設けられ、光源29から加工ヘッド3に入射した光の強度を検知する光検知器8と、光検知器8で検知した光の強度に基づいてノズル5と被加工物6,13との相対位置の変化による当該光の強度の変化を検知し、当該検知結果に基づいて、ノズル穴32の中心とレーザ光1の光軸との位置ずれを算出する信号処理部14とを備えているので、ノズル5と被加工物6,13との相対位置を変化させながら、光源29から加工ヘッド3に入射した光の強度を光検知器8で検知して、当該光の強度の変化に基づいて、ピアス穴16の中心位置Xmをレーザ光1の光軸の位置として求め、Xmと初期のノズル位置Xとの差を位置ずれ量として算出し、当該位置ずれ量の分だけ加工レンズ4を移動させて、レーザ光軸とノズル穴32の中心位置とを一致させるようにしたため、ノズル穴32の中心位置とレーザ光1の光軸とを精度よく一致させることができる。
また、本実施の形態においては、信号処理部14は、図15のフローチャートに示すように、被加工物6にピアス穴16を形成したときのノズル穴32の中心位置(X、Y)を記録し、被加工物6の平面と平行な軸方向(X軸、Y軸)の一方の側(−側)に向かってノズル5とピアス穴16との相対位置を変化させた場合の、光検知器8による光の強度が予め設定した閾値になったときのノズル穴32の中心位置(Xa、Ya)を、レーザ光1の光軸位置検出用の第1の位置として記録し、被加工物6の平面と平行な軸方向(X軸、Y軸)の他方の側(+側)に向かってノズル5とピアス穴16との相対位置を変化させた場合の、光検知器8による光の強度が予め設定した閾値になったときのノズル穴32の中心位置(Xb、Yb)を、レーザ光1の光軸位置検出用の第2の位置として記録し、第1の位置(Xa、Ya)と第2の位置(Xb、Yb)との平均値(Xm、Ym)をレーザ光1の光軸の位置として算出して、ノズル穴32の中心位置(X、Y)とレーザ光1の光軸の位置(Xm、Ym)との位置ずれを算出して、芯だしを行うようにしたので、ノズル穴32の中心位置とレーザ光1の光軸とを精度よく一致させることができる。
なお、上記の実施の形態1〜7ではいずれも加工レンズによりビームを集光しているが、これを方物面ミラーなどの反射光学系で構成しても同じ効果が期待できる。
また、上記の実施の形態1,7に対し、実施の形態2〜6のうちの複数の実施の形態を自在に組み合わせてもよいこととし、その場合も、同様の効果が得られることは言うまでもない。
1 レーザ光、2 最終折り返しミラー、3 加工ヘッド、4 加工レンズ、5 ノズル、6 被加工物、7 光源、8 光検知器、9 Z方向1軸アクチュエータ、10 X、Y方向2軸アクチュエータ、11 レーザ発振器、12 芯だしエリア、13 被加工物、14 信号処理部、15 クランプ、16 ピアス穴、17 光、20 光、25 マイクロメータ、26 表示部、27 2軸(XY軸)アクチュエータ、28 2軸(XY軸)アクチュエータ、29 光源、30 光、31 光。

Claims (9)

  1. レーザ光を発生するレーザ発振器と、
    前記レーザ光を集光するための集光光学系と、
    被加工物に向けてガスを供給するとともに、前記集光光学系により集光された前記レーザ光をノズル穴から前記被加工物に照射させるためのノズルと、
    前記集光光学系を支持するとともに、前記ノズルが先端に設けられた加工ヘッドと、
    前記被加工物に対して配置された光源と、
    前記加工ヘッド内に設けられ、前記ノズルと前記被加工物に前記レーザ光により形成されたピアス穴との相対位置を変化させたときの前記光源から前記加工ヘッドに入射する光の強度を検知する光検知器と、
    前記光検知器で検知した前記光の強度に基づいて、前記ノズルと前記ピアス穴との相対位置の変化による当該光の強度の変化を検知し、当該検知結果に基づいて、前記ノズル穴の中心位置と前記レーザ光の光軸との位置ずれを算出する信号処理部と
    を備えたレーザ加工装置。
  2. 前記信号処理部は、
    前記ピアス穴を形成したときのノズル穴の中心位置を記録しておき、前記光検知器が検知した前記光の強度を用いて、前記ノズルと前記被加工物に形成されたピアス穴との相対位置の変化による当該光の強度の変化を検知し、当該光の強度が予め設定した値になるときの前記ノズル穴の中心位置を2以上求め、それらの値から前記ピアス穴の中心位置を算出し、算出した前記ピアス穴の中心位置を前記レーザ光の光軸の位置として、前記ピアス穴形成時の前記ノズル穴の中心位置と前記レーザ光の光軸との位置ずれを算出する
    請求項1に記載のレーザ加工装置。
  3. 前記光源は、前記被加工物を介在させて前記加工ヘッドの反対側に配置され、
    前記光検知器は、前記被加工物に形成されたピアス穴を通って到達した前記光源からの光の強度を検知する
    請求項1または2に記載のレーザ加工装置。
  4. 前記光源は、前記被加工物に対して前記加工ヘッド側に配置され、
    前記光検知器は、前記被加工物の表面で反射した前記光源からの光の強度を検知する
    請求項1または2に記載のレーザ加工装置。
  5. 前記信号処理部で算出された前記位置ずれに基づいて、前記被加工物の平面と平行な互いに直交する2軸方向に前記加工レンズを移動させるための加工レンズ移動用2軸アクチュエータを備えた
    請求項1から4までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
  6. 前記信号処理部で算出された前記位置ずれに基づいて、前記被加工物の平面と平行な互いに直交する2軸方向に前記ノズルを移動させるためのノズル移動用2軸アクチュエータを備えた
    請求項1から4までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
  7. 前記レーザ発振器と前記集光光学系との間に設けられ、前記レーザ発振器からの前記レーザ光を反射させて前記集光光学系に入射させるミラーを備え、
    前記ミラーは、前記信号処理部で算出された前記位置ずれに基づいて、前記被加工物の平面と平行な互いに直交する2軸方向に前記レーザ光の光軸を移動させるための光軸移動用の2軸アクチュエータを有している
    請求項1から4までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
  8. 前記信号処理部で算出された前記ノズル穴の中心と前記レーザ光の光軸との位置ずれを表示する表示部
    を備えた請求項1から7までのいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
  9. ノズルを用いてノズル穴からレーザ光を被加工物に照射してピアス穴を形成し、そのときのノズル穴の中心位置を記録するステップと、
    前記被加工物に対して設けた光源から光を放射させた状態で、前記ノズルと前記被加工物に形成されたピアス穴との相対位置を変化させながら、前記ノズルが先端に設けられた加工ヘッド内に入射する光の強度を検知するステップと、
    検知した前記光の強度に基づいて、前記ノズルと前記被加工物に形成されたピアス穴との相対位置の変化による当該光の強度の変化を検知し、当該検知結果に基づいて前記ピアス穴の中心位置を前記レーザ光の光軸の位置として求めるステップと、
    前記ピアス形成時の前記ノズル穴の中心位置と前記レーザ光の光軸の位置との位置ずれを算出するステップと、
    算出した前記位置ずれに基づいて、ノズル穴の中心位置と前記レーザ光の光軸の位置とを一致させるステップと
    を備えたレーザ光軸調整方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019155402A (ja) * 2018-03-12 2019-09-19 株式会社アマダホールディングス レーザ光の芯出し方法及びレーザ加工装置
JP2021013939A (ja) * 2019-07-10 2021-02-12 株式会社片岡製作所 レーザ処理装置
CN112692428A (zh) * 2019-10-23 2021-04-23 Nps株式会社 激光装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60221187A (ja) * 1984-04-18 1985-11-05 Mitsubishi Electric Corp レ−ザ光とノズルの軸合せ装置
JPH05253685A (ja) * 1992-03-11 1993-10-05 Toshiba Corp レーザ加工装置
JPH10249566A (ja) * 1997-03-10 1998-09-22 Amada Co Ltd レーザ加工方法および装置
JPH11513935A (ja) * 1995-10-27 1999-11-30 イー・アイ・デユポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー 材料をレーザー切断するための方法及び装置
JP2002210730A (ja) * 2001-01-19 2002-07-30 Tokyo Instruments Inc レーザ支援加工方法
JP2004223561A (ja) * 2003-01-22 2004-08-12 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザ加工方法及び装置
JP2004223553A (ja) * 2003-01-22 2004-08-12 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザ加工方法及び装置
JP2011115806A (ja) * 2009-12-01 2011-06-16 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60221187A (ja) * 1984-04-18 1985-11-05 Mitsubishi Electric Corp レ−ザ光とノズルの軸合せ装置
JPH05253685A (ja) * 1992-03-11 1993-10-05 Toshiba Corp レーザ加工装置
JPH11513935A (ja) * 1995-10-27 1999-11-30 イー・アイ・デユポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー 材料をレーザー切断するための方法及び装置
JPH10249566A (ja) * 1997-03-10 1998-09-22 Amada Co Ltd レーザ加工方法および装置
JP2002210730A (ja) * 2001-01-19 2002-07-30 Tokyo Instruments Inc レーザ支援加工方法
JP2004223561A (ja) * 2003-01-22 2004-08-12 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザ加工方法及び装置
JP2004223553A (ja) * 2003-01-22 2004-08-12 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザ加工方法及び装置
JP2011115806A (ja) * 2009-12-01 2011-06-16 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019155402A (ja) * 2018-03-12 2019-09-19 株式会社アマダホールディングス レーザ光の芯出し方法及びレーザ加工装置
WO2019176786A1 (ja) * 2018-03-12 2019-09-19 株式会社アマダホールディングス レーザ光の芯出し方法及びレーザ加工装置
JP2021013939A (ja) * 2019-07-10 2021-02-12 株式会社片岡製作所 レーザ処理装置
CN112692428A (zh) * 2019-10-23 2021-04-23 Nps株式会社 激光装置

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