JP2014525572A - テラヘルツ放射線の使用により物質を確定するための方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
Claims (18)
- テラヘルツ放射線の適用により物質を確定する方法であって、第1の測定及び第2の測定を実行し、前記物質の特性を測定するべく前記テラヘルツ放射線を前記物質の方向に放出し、前記物質の前記方向から来る前記テラヘルツ放射線の部分を検出し、
前記物質は、液体であり、前記液体に加えて気体を含む閉じた容器中にあり、
前記容器の壁は前記テラヘルツ放射線に対して透明であり、
前記第1の測定においては、前記気体または前記気体を含有する気泡が前記壁と接触する前記壁の位置に前記テラヘルツ放射線を向け、
前記第1の測定によって検出される前記テラヘルツ放射線の前記部分は、前記壁と前記気体または前記気泡との間の境界面において反射され、
前記第2の測定においては、前記液体が前記壁と接触する前記壁の位置に前記テラヘルツ放射線を向け、
前記第2の測定によって検出される前記テラヘルツ放射線の前記部分は、前記壁と前記液体との間の境界面で反射され、
前記第1の測定は、前記第2の測定の測定結果に対する基準測定として作用する方法。 - 前記第2の測定において前記テラヘルツ放射線が向けられる前記壁の前記位置は、前記第1の測定において前記テラヘルツ放射線が向けられる前記壁の前記位置と同一であり、
前記第1の測定においては前記気体または前記気泡が、前記第2の測定においては前記液体が、前記位置において前記壁と接触するように、前記容器を動かす請求項1に記載の方法。 - 前記第2の測定をまず実行し、
続いて前記第1の測定に適した配置へと前記容器を動かし、
次いで、所定の時間間隔で連続的に、前記壁の同一の前記位置に対して前記テラヘルツ放射線が向けられる複数の測定をさらに実行し、
さらに実行された前記複数の測定の測定結果から、前記壁の前記位置における濡れ変化の速度を確定させる請求項2に記載の方法。 - 前記第1の測定及び前記第2の測定において、横たわる態様、及び、前記気体が前記容器の1つの領域内に集まる態様の少なくとも一方の態様で前記容器を配置し、
前記容器の前記壁の垂直な断面は、円形及び等厚の少なくとも一方である請求項1から3のいずれか1項に記載の方法。 - 前記第1の測定によって測定され前記気体または前記気泡との前記境界面において反射される前記部分のビーム強度を基準値として使用し、
前記第2の測定によって測定され前記液体との前記境界面において反射される前記部分のビーム強度と、前記基準値との比率に基づいて、前記液体の屈折率を確定する請求項1から4のいずれか1項に記載の方法。 - 前記第1の測定及び前記第2の測定の少なくとも一方によって前記壁を形成する材料の屈折率を確定し、
前記壁を形成する前記材料の確定された前記屈折率に基づいて評価される前記第2の測定の結果によって、前記液体の前記屈折率を確定する請求項5に記載の方法。 - 前記部分に加えて、前記容器の外表面で反射されるビーム部分を前記第1の測定及び前記第2の測定の少なくとも一方によって検出し、
前記壁と前記気体または前記液体との間の対応する前記境界面において反射される前記部分と、前記外表面において反射される前記ビーム部分との間の伝播時間差及び強度差の少なくとも一方を確定する請求項1から6のいずれか1項に記載の方法。 - 前記伝播時間差に基づいて前記壁の光学的厚みを確定し、
前記強度差に基づいて前記壁を形成する材料の吸収挙動の量を確定する請求項7に記載の方法。 - 前記第1の測定及び前記第2の測定の少なくとも一方を、それぞれの場合において、前記壁の異なる位置、及び、前記テラヘルツ放射線の異なる周波数の少なくとも一方において、複数回実行する請求項1から8のいずれか1項に記載の方法。
- 前記第1の測定及び前記第2の測定をそれぞれの場合において、前記壁の異なる位置において実行し、
前記第1の測定の結果と前記第2の測定の結果との間の差の形成または比率の形成により画像を生成する請求項1から9のいずれか1項に記載の方法。 - 少なくとも1つの光学的に活性化可能なテラヘルツ放出器アンテナと、前記テラヘルツ放出器アンテナによって生成される前記テラヘルツ放射線のコヒーレントな検出のための少なくとも1つの光学的に活性化可能なテラヘルツ受容器アンテナとを有し、位相に対して感度を有するテラヘルツシステムにより実行され、
前記テラヘルツ放出器アンテナ及び前記テラヘルツ受容器アンテナを、共通の光源により活性化する請求項1から10のいずれか1項に記載の方法。 - 閉じた容器中にある液体を確定するための機構であって、
テラヘルツ放射線を生成する少なくとも1つのテラヘルツ放出器と、
前記テラヘルツ放射線を検出する少なくとも1つのテラヘルツ受容器と、
前記少なくとも1つのテラヘルツ受容器に接続され、前記テラヘルツ受容器の出力信号を評価する評価ユニットと、
を備え、
前記テラヘルツ放出器によって生成される前記テラヘルツ放射線が、前記容器の壁の内表面の1つ以上の所定の位置において反射された後に、前記テラヘルツ受容器によって適切に検出されるように、前記テラヘルツ放出器と前記テラヘルツ受容器とが互いに対して配置され、
プログラミング技術に関して前記評価ユニットは、前記壁と気体との間の境界面において反射される前記テラヘルツ放射線の部分が検出される第1の測定の前記出力信号、及び、前記壁と前記液体との間の境界面において反射される前記テラヘルツ放射線の部分が検出される第2の測定の前記出力信号を評価することにより、
前記第1の測定の前記出力信号から、検出される前記テラヘルツ放射線の強度に対する基準値を導出し、
前記容器中にある前記液体の屈折率の導出、及び、前記液体に対する液体の種類の割り当ての少なくとも一方のために、前記基準値に基づいて前記第2の測定の前記出力信号を評価する機構。 - 前記容器、前記テラヘルツ放出器、及び前記テラヘルツ受容器を互いに対して固定するための保持装置を備え、
前記容器、前記テラヘルツ放出器、及び前記テラヘルツ受容器は、前記第1の測定における第1の配置と前記第2の測定における第2の配置との間で、前記保持装置により一緒に回転可能または旋回可能であり、前記第1の測定及び前記第2の測定の両者に対して同一である前記壁の前記内表面における測定点が、前記第1の配置においては前記液体に加えて前記容器中にある気体または前記気体を含有する気泡によって接触され、前記第2の配置においては前記液体によって覆われる請求項12に記載の機構。 - それぞれがテラヘルツ放出器及びテラヘルツ受容器を有する対を2対備え、
前記対の一方は他方より高く配置され、
より高く配置される前記一方の対は、前記液体に加えて前記容器中にある気体に対する前記第1の測定用に設けられ、
前記他方の対は、前記液体に対する前記第2の測定用に設けられる請求項12に記載の機構。 - 前記評価ユニットは、それぞれの場合において、前記容器の前記壁の外表面において反射される部分の強度、前記容器の前記壁の前記内表面において反射される前記テラヘルツ放射線の前記部分の強度、及び、2つの前記部分の間の伝播時間差を前記出力信号から導出する請求項12から14のいずれか1項に記載の機構。
- 前記評価ユニットは、
前記伝播時間差から前記容器の前記壁の光学的厚みを導出し、
前記光学的厚みに基づいて、前記壁の前記外表面で反射される前記部分及び前記壁の前記内表面で反射される前記部分の前記強度から、前記壁の材料の吸収挙動の量を導出し、
前記量に基づいて、特定の物質に対応するもの、または、特定の物質の種類に属するものとして前記壁の前記材料を同定し、
前記物質または前記物質の前記種類に対してメモリに格納される値に対応するように前記壁の前記材料の前記屈折率を確定し、
前記壁の前記材料に対して確定された前記屈折率に基づいて、前記第2の測定の結果を評価することにより、前記液体の前記屈折率を確定する請求項15に記載の機構。 - 前記評価ユニットは、異なる周波数において前記テラヘルツ放射線を連続的にまたは同時に生成するように前記テラヘルツ放出器を活性化するためのテラヘルツ放出器用活性化装置を備え、
前記評価ユニットは、それぞれの前記周波数における前記出力信号を評価することにより、前記異なる周波数のそれぞれに対し、前記2つの測定の少なくとも一方を実行する請求項12から16のいずれか1項に記載の機構。 - 測定位置への前記容器の自動的な搬送、及び、前記測定位置における前記容器の回転または旋回の少なくとも一方のための搬送装置を備える請求項12から17のいずれか1項に記載の機構。
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