JP2014522319A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2014522319A5
JP2014522319A5 JP2014512856A JP2014512856A JP2014522319A5 JP 2014522319 A5 JP2014522319 A5 JP 2014522319A5 JP 2014512856 A JP2014512856 A JP 2014512856A JP 2014512856 A JP2014512856 A JP 2014512856A JP 2014522319 A5 JP2014522319 A5 JP 2014522319A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mounting unit
control device
energy control
repaired
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014512856A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014522319A (ja
JP6068453B2 (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US13/117,439 external-priority patent/US8430707B2/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2014522319A publication Critical patent/JP2014522319A/ja
Publication of JP2014522319A5 publication Critical patent/JP2014522319A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6068453B2 publication Critical patent/JP6068453B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (14)

  1. 電子エネルギー制御デバイスの欠陥を修理する装置であって、
    装着ユニットであって、前記装着ユニットを固定配置すべく支持面に装着する手段を含む装着ユニットと、
    修理すべき欠陥を含む電子エネルギー制御デバイスの一部に対して前記装着ユニットを固定配置する位置を指示するための位置指示手段であって、修理すべき前記電子エネルギー制御デバイスが所定の位置に固定される位置指示手段と、
    光学撮像範囲およびレーザ修理範囲を有する撮像/修理アセンブリと、
    を備え、前記アセンブリが、
    画像を取得する光学撮像手段、および前記光学撮像範囲内から画像を取得するように前記光学撮像手段を移動させる手段、
    電子エネルギー制御デバイスの材料を切除できる光ビームを放射するレーザ手段、および前記修理範囲内で前記光ビームを移動させる手段、を含み、
    前記装着ユニットが、前記位置指示手段によって指示される前記位置に前記装着ユニットを固定配置すべく前記支持面に装着され、前記撮像/修理アセンブリが前記装着ユニットに取り付けられるとき、修理すべき前記電子エネルギー制御デバイスの前記一部が、前記撮像範囲および前記修理範囲内にある、装置。
  2. 前記撮像/修理アセンブリ、位置指示手段、または撮像/修理アセンブリと位置指示手段との両方が、前記装着ユニットに脱着可能に取り付けられる、請求項1に記載の装置。
  3. 前記光学撮像手段によって取得された修理すべき前記電子エネルギー制御デバイスの前記一部の画像と、修理すべき前記電子エネルギー制御デバイスの前記一部内で、修理すべき前記電子エネルギー制御デバイスの前記一部に交わるように前記ビームを移動させるための経路の印とを表示する表示ユニットをさらに備える、請求項1に記載の装置。
  4. 前記欠陥における修理すべき前記電子エネルギー制御デバイスの前記一部中の材料の少なくとも1つの層を切除するように前記ビームの移動を制御する制御ユニット
    をさらに備える、請求項1に記載の装置。
  5. 前記制御ユニットが、前記欠陥を完全に囲む修理すべき前記電子エネルギー制御デバイス中の経路を切除するように前記ビームの移動を制御する、請求項4に記載の装置。
  6. 欠陥探索プロセスの一部として、修理すべき前記電子エネルギー制御デバイスの前記一部の複数の画像を取得するように、前記光学撮像手段を移動させる前記光学撮像手段を移動させる前記手段を制御する入力情報を供給する入力デバイス
    をさらに備える、請求項1に記載の装置。
  7. 前記装着する手段が吸引手段または締め付け手段を含む、請求項1に記載の装置。
  8. 前記位置指示手段が、前記装着ユニットに取り付けられる前記アセンブリの前記光学撮像手段および前記レーザ手段の角度の位置決めを指示するためのものである、請求項1に記載の装置。
  9. 記電子エネルギー制御デバイスが、エレクトロクロミックデバイスである、請求項1〜8のいずれか一項に記載の装置。
  10. 電子エネルギー制御デバイスの欠陥を修理する方法であって、
    電子エネルギー制御デバイスの一部に対して装着ユニットを固定配置する位置に従って前記装着ユニットを固定配置すべく前記装着ユニットを支持面に装着するステップと、
    電子エネルギー制御デバイスの欠陥の光学的画像を取得するステップであって、前記光学的画像が装着ユニットに結合した画像化ユニットにより取得される光学的画像を取得するステップと、
    電子エネルギー制御デバイスの欠陥に対応した材料を切除するために、装着ユニットに結合された修理ユニットから光ビームを放射するステップと、を含む、方法。
  11. 前記光ビームの放射に先だって、修理すべき前記電子エネルギー制御デバイスの前記一部が、前記装着ユニットに取り付けられる前記アセンブリの撮像範囲およびレーザ修理範囲内にあると決定するステップを更に含む、方法。
  12. 記電子エネルギー制御デバイスが、エレクトロクロミックデバイスである、請求項10または11に記載の方法。
  13. 前記電子エネルギー制御デバイスが、エレクトロクロミックデバイス製品の一部であり、
    前記光ビームの放射は、前記エレクトロクロミックデバイス製品が建物の中に設置された時に実施される、請求項12に記載の方法。
  14. エレクトロクロミック製品の欠陥を修理する装置であって、
    装着ユニットを固定配置すべく支持面に装着する吸引手段を含む装着ユニットと、
    修理すべき欠陥を伴うエレクトロクロミックデバイスを含むエレクトロクロミックデバイス製品の一部に対して前記装着ユニットを固定配置する位置を指示するためのレーザポインタユニットであって、修理すべき前記エレクトロクロミックデバイス製品が所定の位置に固定され、レーザポインタユニットが前記装着ユニットに脱着可能に取り付けられ、レーザポインタユニットから放射される指示ビームが前記欠陥に重なる前記エレクトロクロミックデバイス製品の外面上の印に交わるときに前記位置が指示されるように構成されたレーザポインタユニットと、
    光学撮像範囲およびレーザ修理範囲を有する撮像/修理アセンブリと、を備え、
    前記アセンブリが、前記装着ユニットに脱着可能に取り付けられ、
    画像を取得する光学撮像手段、および前記光学撮像範囲内から画像を取得するように前記光学撮像手段を移動させる手段と、
    エレクトロクロミックデバイスの層の一部を切除できる光ビームを放射するレーザ手段、および前記修理範囲内で前記光ビームを移動させる手段と、を含み、
    前記装着ユニットが、指示される前記位置に前記装着ユニットを固定配置すべく前記支持面に装着され、前記撮像/修理アセンブリが前記装着ユニットに取り付けられるとき、修理すべき前記エレクトロクロミック製品の前記一部が、前記撮像範囲および前記修理範囲内にある、装置。
JP2014512856A 2011-05-27 2012-05-04 電子エネルギー制御または表示デバイスの欠陥を修理する装置および方法 Active JP6068453B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/117,439 US8430707B2 (en) 2011-05-27 2011-05-27 Apparatus and method for repair of defects in an electronic energy control or display device
US13/117,439 2011-05-27
PCT/US2012/036585 WO2012166292A1 (en) 2011-05-27 2012-05-04 Apparatus and method for repair of defects in an electronic energy control or display device

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014522319A JP2014522319A (ja) 2014-09-04
JP2014522319A5 true JP2014522319A5 (ja) 2015-06-18
JP6068453B2 JP6068453B2 (ja) 2017-01-25

Family

ID=46148969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014512856A Active JP6068453B2 (ja) 2011-05-27 2012-05-04 電子エネルギー制御または表示デバイスの欠陥を修理する装置および方法

Country Status (4)

Country Link
US (3) US8430707B2 (ja)
EP (1) EP2714321B1 (ja)
JP (1) JP6068453B2 (ja)
WO (1) WO2012166292A1 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8164818B2 (en) 2010-11-08 2012-04-24 Soladigm, Inc. Electrochromic window fabrication methods
US8430707B2 (en) * 2011-05-27 2013-04-30 Sage Electrochromics, Inc. Apparatus and method for repair of defects in an electronic energy control or display device
US9885934B2 (en) * 2011-09-14 2018-02-06 View, Inc. Portable defect mitigators for electrochromic windows
WO2013039915A1 (en) * 2011-09-14 2013-03-21 Soladigm, Inc. Portable defect mitigator for electrochromic windows
US9341912B2 (en) 2012-03-13 2016-05-17 View, Inc. Multi-zone EC windows
EP4134733A1 (en) 2012-03-13 2023-02-15 View, Inc. Pinhole mitigation for optical devices
CN104302437B (zh) * 2012-05-18 2017-09-05 唯景公司 限制光学装置中的缺陷
FR2993484A1 (fr) * 2012-07-23 2014-01-24 Aerolia Procede de metallisation et dispositif associe
KR102153914B1 (ko) * 2013-07-31 2020-09-09 엘지디스플레이 주식회사 표시장치의 휴대용 리페어 시스템 및 이의 동작방법
EP3036092B1 (en) 2013-08-22 2024-02-14 The Coca-Cola Company Repair of polymer-based packaging
JP6626036B2 (ja) * 2017-04-18 2019-12-25 ファナック株式会社 測定機能を有するレーザ加工システム
US11132787B2 (en) * 2018-07-09 2021-09-28 Instrumental, Inc. Method for monitoring manufacture of assembly units
CN109848545B (zh) * 2019-01-08 2021-06-22 北京科迈启元科技有限公司 一种集成对象异常区域识别与热作用的激光处理方法
CA3167003A1 (en) * 2020-02-05 2021-08-12 Madhura R. GADRE Mitigating defects using polygon ablation pattern
CN116072778A (zh) * 2023-03-27 2023-05-05 河北光兴半导体技术有限公司 直显模组芯片更换装置和直显模组生产线

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0321826Y2 (ja) * 1986-07-29 1991-05-13
JPH0369914A (ja) 1989-08-09 1991-03-26 Toshiba Corp 液晶ディスプレイの修正装置
US5321544A (en) 1991-09-04 1994-06-14 Sun Active Glass Electrochromics, Inc. Electrochromic structures and methods
CN1087424A (zh) * 1992-09-29 1994-06-01 昆士兰大学 检测的玻璃中缺陷
EP0937532B1 (en) * 1998-02-19 2002-11-06 M J Technologies Limited Laser drilling with optical feedback
FR2781084B1 (fr) 1998-07-10 2007-08-31 Saint Gobain Vitrage Procede de traitement d'un dispositif electrochimique
JP2001053443A (ja) * 1999-08-06 2001-02-23 Hitachi Ltd 電子回路基板の製造方法,電子回路基板の製造装置及び電子回路基板
CA2397315C (en) 2000-01-27 2009-07-07 National Research Council Of Canada Method and apparatus for repair of defects in materials with short laser pulses
JP4335422B2 (ja) * 2000-07-31 2009-09-30 Ntn株式会社 パターン修正装置
US6909111B2 (en) 2000-12-28 2005-06-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing a light emitting device and thin film forming apparatus
FR2821937B1 (fr) 2001-03-07 2003-06-06 Saint Gobain Dispositif electrocommandable a proprietes optiques et/ou energetiques variables
US6856444B2 (en) 2002-05-10 2005-02-15 Sage Electrochromics, Inc. Inferential temperature measurement of an electrochromic device
FR2845684B1 (fr) * 2002-10-09 2006-12-15 Saint Gobain Procede de suppression des defauts ponctuels inclus au sein d'un dispositif electrochimique
US7057134B2 (en) * 2003-03-18 2006-06-06 Loma Linda University Medical Center Laser manipulation system for controllably moving a laser head for irradiation and removal of material from a surface of a structure
TWI241934B (en) * 2003-12-03 2005-10-21 Quanta Display Inc Apparatus and method for inspecting and repairing circuit defect
US7372610B2 (en) 2005-02-23 2008-05-13 Sage Electrochromics, Inc. Electrochromic devices and methods
JP4723915B2 (ja) 2005-06-03 2011-07-13 株式会社東芝 液晶パネルのリペア方法及びリペア装置
US7593154B2 (en) 2005-10-11 2009-09-22 Sage Electrochromics, Inc. Electrochromic devices having improved ion conducting layers
GB2437113B (en) 2006-04-12 2008-11-26 Cambridge Display Tech Ltd Light-emissive display and method of manufacturing the same
DE202007012687U1 (de) 2007-09-11 2008-01-03 Ofer, Vladislav, Dr. Laserschweißvorrichtung
CN101697040A (zh) 2009-11-02 2010-04-21 嘉兴市伟博工贸有限公司 一种基于光纤激光的液晶面板修复装置
US8430707B2 (en) * 2011-05-27 2013-04-30 Sage Electrochromics, Inc. Apparatus and method for repair of defects in an electronic energy control or display device
WO2013039915A1 (en) * 2011-09-14 2013-03-21 Soladigm, Inc. Portable defect mitigator for electrochromic windows

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014522319A5 (ja)
CN103963995B (zh) 用于自动化裂缝检查和修理的系统和方法
JP6068453B2 (ja) 電子エネルギー制御または表示デバイスの欠陥を修理する装置および方法
JP5531148B1 (ja) 構造物の点検装置
JP6550620B2 (ja) 貼付位置検査装置
TWI623724B (zh) Shape measuring device, structure manufacturing system, stage system, shape measuring method, structure manufacturing method, shape measuring program, and computer readable recording medium
US20160291354A1 (en) Composite repairing apparatus for liquid crystal panel
JP2012529999A5 (ja)
JP2011097121A5 (ja) 露光装置、及び方法
JP2009078280A5 (ja)
JP2015161776A5 (ja) 撮像装置、撮像システム、発光装置及び焦点検出方法
EP2706523A3 (en) Device and method for repairing display device
JP2010139461A (ja) 目視検査システム
CN104978916A (zh) Oled面板显示缺陷修复方法
CN105627919A (zh) 图像测量设备和测量设备
KR20160142273A (ko) 광학 이미징 시스템의 정렬을 위한 방법 및 디바이스
JP2013154541A (ja) プリプレグの貼着状態検査装置
KR20160125548A (ko) 피검사물 상에서 원격 제어로 이동 가능한 방사선 비파괴 검사장치
JP2016057139A5 (ja)
JP2016003959A (ja) 非破壊検査装置
JP2016118445A5 (ja)
JP2012237729A5 (ja)
JP2011212206A5 (ja)
JP2014233469A5 (ja)
JP2007147343A (ja) 防眩度の評価方法、及び防眩度評価装置