JP2014519198A - 剥離技法を用いたグラフェンパターンの形成方法及びその装置 - Google Patents

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Abstract

本発明は、高分子スタンプを用いる剥離技法を用いて目標とする任意のパターンを有するグラフェンパターンを形成するのに適した剥離技法を用いたグラフェンパターンの形成技法に関する。本発明は、高分子スタンプを用いて基板上に形成されたグラフェン層の一部を物理的に選択剥離させることで、基板上に均一な線幅を有する所望の形態のグラフェンパターンを簡単、且つ、容易に製作でき、また、回転体スタンプを用いるロールツーロール方式又は大面積スタンプを用いる方式で基板上に形成されたグラフェン層の一部を物理的に選択剥離させることで、大面積の基板上に均一な線幅を有する所望の形態のグラフェンパターンを簡単、且つ、容易に製作できる。

Description

本発明はグラフェン製造技法に関し、更に詳しくは、高分子スタンプを用いる剥離技法を通じて基板上に目標とする任意のパターンを有するグラフェンパターンを形成するのに適した剥離技法を用いたグラフェンパターンの形成方法及びその装置に関する。
周知のように、グラフェンは、炭素原子が二次元の格子内に詰められた平面単一層構造(炭素ナノ構造)を有する素材である。グラフェンは、他の素材に比べて相対的に優れた電荷移動度、低い面抵抗及び機械的物性、そして熱的、化学的安定性など多様な固有の特性を有していることから、近年、グラフェンの物理的、化学的、機械的な固有の特性を利用した多くの応用関連の研究結果が報告されている。
特に、グラフェンの透明性、曲げ特性、伝導度、電荷移動度などの特性は、グラフェンを次世代電子素子の透明電極、TFTチャネルなどに適用するにおいて最適の素材として評価されている。
従って、グラフェンを多様な素子として応用するにおけるグラフェンのパターニング技術は、電極、チャネル層などあらゆる応用部分において共通して必ず解決すべき技術である。
現在、グラフェンのパターニングは、主に半導体工程技術であるフォトリソグラフィ技術に基づいて行われているが、このような技術は、大面積のパターニング、工程単価及び時間などにおいてかなり制約を受けている。
ここで、グラフェンのパターニングは、均一な電気的特性が得られるように均一な線幅の製作が可能でなければならず、所望の位置に所望のパターンで形成できなければならず、低価格の大量生産が可能でなければならないという条件を満たさなければならない。
このために、従来は基板上にグラフェンを形成(成長)した後、基板からグラフェンの一部を選択的に除去する多様な技法が試みられてはいるが、何れも実験室的な水準に止まっているのが現状である。
そこで、本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、均一な線幅、所望のパターン及び大量生産の条件を満たせるグラフェンのパターニング製法が切実に求められている状況であるが、現在としては、これに対するいかなる提案や提示もないのが現状である。
本発明は、一観点によって、基板上に形成されたグラフェン層の一部を物理的に選択剥離させることで、前記基板上にグラフェンパターン層を形成する有機溶媒を用いたグラフェンパターンの形成方法を提供する。
本発明は、他の観点によって、基板上にグラフェン層を形成する過程と、陽刻パターンを有する高分子スタンプのパターン面にグラフェン剥離層を形成する過程と、前記高分子スタンプのパターン面を前記グラフェン層の目標位置に整列させて接着させる過程と、前記基板から前記高分子スタンプを分離して前記高分子スタンプの陽刻パターン部分に接着されたグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させることで、前記基板上にグラフェンパターン層を形成する過程とを含む剥離技法を用いたグラフェンパターンの形成方法を提供する。
本発明は、更に他の観点によって、外周面に沿って陽刻パターンが形成され、前記陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布された高分子の回転体スタンプを準備する過程と、上部にグラフェン層が形成された基板を準備する過程と、前記回転体スタンプをグラフェン層に接着させて回転させる方式を通じて前記陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させることで、前記基板上にグラフェンパターン層を形成する過程とを含む剥離技法を用いたグラフェンパターンの形成方法を提供する。
本発明は、更に別の観点によって、外周面に沿って陽刻パターンが形成され、前記陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布された高分子の回転体スタンプを準備する過程と、上部にグラフェン層が形成された基板を準備する過程と、前記回転体スタンプをグラフェン層に接着させて回転させる方式を通じて陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させることで、前記基板上にグラフェンパターン層を形成する過程と、前記回転体スタンプの回転によって前記基板から剥離されたグラフェン層が接着されているグラフェン剥離層を除去する過程と、前記回転体スタンプの回転によって前記基板の進入方向に進む陽刻パターンの表面に前記グラフェン剥離層を再塗布する過程とを含む剥離技法を用いたグラフェンパターンの形成方法を提供する。
本発明は、更に他の観点によって、外周面に沿って陽刻パターンが形成され、前記陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布され、基板に形成されたグラフェン層への回転接着を通じて陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させる回転体スタンプと、前記回転体スタンプの回転によって前記基板から剥離されたグラフェン層が接着されているグラフェン剥離層を除去する剥離層除去ユニットと、前記回転体スタンプの回転によって前記基板の進入方向に進む陽刻パターンの表面に前記グラフェン剥離層を再塗布する剥離層塗布ユニットとを含むグラフェンパターンの形成装置を提供する。
本発明は、更に別の観点によって、陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布された高分子の大面積スタンプを準備する過程と、上部にグラフェン層が形成された基板を準備する過程と、前記大面積スタンプをグラフェン層に接着させて陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させることで、前記基板上にグラフェンパターン層を形成する過程と、前記大面積スタンプの陽刻パターン部分にある前記グラフェン剥離層とグラフェン層を除去する過程と、前記大面積スタンプの陽刻パターンの表面に前記グラフェン剥離層を再塗布する過程とを含む剥離技法を用いたグラフェンパターンの形成方法を提供する。
本発明は、更に他の観点によって、陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布され、基板に形成されたグラフェン層へのパターン面の接着を通じて陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させる大面積スタンプと、前記基板から剥離されたグラフェン層が接着されている陽刻パターン部分のグラフェン剥離層を除去する剥離層除去ユニットと、前記大面積スタンプの陽刻パターンの表面に前記グラフェン剥離層を再塗布する剥離層塗布ユニットとを含むグラフェンパターンの形成装置を提供する。
本発明は、高分子スタンプを用いて基板上に形成されたグラフェン層の一部を物理的に選択剥離させる技法を通じて基板上に均一な線幅を有する所望の形態のグラフェンパターンを簡単、且つ、容易に製作でき、これを通じて多様な素子の製作にグラフェンを活用できるという効果を奏する。
また、本発明は、回転体スタンプを用いるロールツーロール方式又は大面積スタンプを用いる方式で基板上に形成されたグラフェン層の一部を物理的に選択剥離させる技法を通じて大面積の基板上に均一な線幅を有する所望の形態のグラフェンパターンを簡単、且つ、容易に製作できる。
本発明の一実施形態によって高分子スタンプを用いて基板上にグラフェンパターン層を形成する過程を示す工程順序図である。 本発明の一実施形態によって高分子スタンプを用いて基板上にグラフェンパターン層を形成する過程を示す工程順序図である。 本発明の一実施形態によって高分子スタンプを用いて基板上にグラフェンパターン層を形成する過程を示す工程順序図である。 本発明の一実施形態によって高分子スタンプを用いて基板上にグラフェンパターン層を形成する過程を示す工程順序図である。 本発明の他の実施形態によって回転体スタンプを用いてロールツーロール(roll to roll)方式で基板上にグラフェンパターン層を形成する装置の一例に対する模式図である。 本発明の他の実施形態によって回転体スタンプを用いてロールツーロール方式で基板上にグラフェンパターン層を形成する装置の他の例に対する模式図である。 本発明の他の実施形態によって回転体スタンプを用いて基板上にグラフェンパターン層を形成する装置の更に他の例に対する模式図である。 本発明の他の実施形態によって回転体スタンプを用いてロールツーロール方式で基板上にグラフェンパターン層を形成する装置の更に別の例に対する模式図である。 本発明の他の実施形態によって大面積スタンプを用いて基板上にグラフェンパターン層を形成する装置の更に他の例に対する模式図である。 大面積スタンプを用いて大面積基板上にグラフェンパターン層を順次形成する過程を説明するための模式図である。 本発明による実験を通じてパターニングされたグラフェンをラマン分光法で分析した結果を示すグラフである。
本発明の技術の要旨は、高分子スタンプを用いて基板上に形成されたグラフェン層の一部を物理的に選択剥離させることで、基板上にグラフェンパターン層を形成するということであり、本発明は、このような技術的な手段を通じて半導体特性を有するグラフェンを製造するか、或いはグラフェンを用いた半導体素子を製造できる。
また、本発明は、外周面に沿って陽刻パターンが形成され、陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布された高分子の回転体スタンプを基板のグラフェン層に接着させて回転させる方式を通じて陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を基板から選択的に剥離させることで、基板上にグラフェンパターン層を形成する技術思想を含むことができるが、これは大面積基板上に目標とするパターンを有するグラフェンパターン層を形成する技法として利用され得る。
更に、本発明は、陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布された高分子の大面積スタンプをグラフェン層に接着させて剥がす(分離させる)方式を通じて陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を大面積基板から選択的に剥離させることで、大面積の基板上にグラフェンパターン層を形成する技術思想を含むことができる。
ここで、グラフェン層はCVD方法で形成されるか、或いは基板上に酸化グラフェンをコーティングした後、グラフェン層に還元する方法を通じて形成され得、高分子スタンプ又は高分子の回転体スタンプは、PDMS(polydimethylsiloxane)スタンプなどが利用され得る。また、グラフェン剥離層は、スピンコーティング工程を適用できるDMSO(dimethyl sulfoxide)又はTHF溶媒などのような有機溶媒が利用され得る。
そして、グラフェンパターン層はグラフェン抵抗、グラフェン配線、グラフェンチャネル層、メモリ用グラフェン電荷トラップ層、トランジスタのオン/オフスイッチ、センサ素子、光検出素子、放熱素子、発熱素子のうちの何れか1つとして機能できる。
更に、以下の本発明を説明するにおいて公知の機能又は構成などに関する具体的な説明が本発明の要旨を不要に曖昧にするおそれがあると判断される場合には、その詳細な説明を省略する。そして、後述する用語は、本発明での機能を考慮して定義された用語であって、これはユーザ、運用者などの意図又は慣例などによって変わり得ることはもちろんである。従って、その定義は、本明細書の全般に亘って記述される技術思想に基づいて行われるべきである。
以下、添付する図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
図1a〜図1dは、本発明の一実施形態によって高分子スタンプを用いて基板上にグラフェンパターン層を形成する過程を示す工程順序図である。
図1aを参照すれば、基板102上にグラフェン層104aを形成するが、このようなグラフェン層104aは、例えばCVD(化学気相蒸着法)方法を通じて基板102上に形成するか、或いは基板102上に酸化グラフェンをコーティングした後、グラフェン層に還元する方法を通じて形成できる。
次に、スピンコーティング工程などを施すことで、一例として図1Bに示すように、陽刻パターンを有する高分子スタンプ106のパターン面にグラフェン剥離層108を形成する。ここで用いられるグラフェン剥離層104aとしては、例えばDMSO(dimethyl sulfoxide)又はTHF(Tetrahydrofuran)溶媒などのような有機溶媒が利用され得、高分子スタンプ106としては、例えばPDMSスタンプなどが利用され得る。
次に、一例として図1cに示すように、高分子スタンプ106のパターン面、即ちグラフェン剥離層108が形成されたパターン面をグラフェン層104aの目標位置に整列させて接触させ、既に設定された一定時間その接触状態を維持する。その後、高分子スタンプ106を基板102から分離させることで、一例として図1dに示すように、基板102上にグラフェンパターン層104を形成する。即ち、高分子スタンプの陽刻パターン部分に接着されたグラフェン層104aのみを基板102から選択的に剥離させることで、基板102上に目標とするグラフェンパターン層104を形成する。
ここで、基板102上にグラフェンパターン層104を形成するためのスタンピング工程(又はパターニング工程)は、グラフェン剥離層108として用いられる有機溶媒が蒸発しない程度の室温で行われることができる。
そして、スタンピング工程を通じて基板102上に形成されたグラフェンパターン層104は、例えばグラフェン抵抗、グラフェン配線、グラフェンチャネル層、メモリ用グラフェン電荷トラップ層、トランジスタのオン/オフスイッチ、センサ素子、光検出素子、放熱素子、発熱素子のうちの何れか1つとして利用され得る。
一方、本発明は、高分子スタンプを用いる方式ではない高分子の回転体スタンプを用いるロールツーロール方式で大面積基板上に目標とするグラフェンパターン層を形成できるが、このようなパターニング技法については、添付する図2〜図5を参照して、以下で詳細に説明する。
図2は、本発明の他の実施形態によって回転体スタンプを用いてロールツーロール方式で基板上にグラフェンパターン層を形成する装置の一例に対する模式図である。
図2を参照すれば、本実施形態のグラフェンパターンの形成装置は、その外周面に沿って陽刻パターン204が形成され、各陽刻パターン204の表面にグラフェン剥離層204aが形成(塗布)され得る高分子の回転体スタンプ202、ロールツーロール方式のスタンピング工程が行われるとき、剥離層の除去手段として機能する洗浄用回転体206、洗浄液210(例えば、水など)が入っている水槽208、乾燥手段として機能する送風器212、剥離層の塗布手段として機能する噴射器214を含むことができる。図2において、参照番号216は基板を、218aはグラフェン層を、218はグラフェンパターン層をそれぞれ示す。ここで、グラフェン層218aは、図1に示すグラフェン層と同じ方法で形成され得、グラフェン剥離層204aは、図1に示すグラフェン剥離層と同じ材質であり得る。
まず、スタンピング工程(回転体スタンプを用いたパターニング工程)が開始されれば、基板216が既に設定された進入速度で矢印Aの方向に進み、高分子の回転体スタンプ202が矢印Bの方向(時計回り)に回転し、洗浄用回転体206が矢印Cの方向(時計回り)に回転した後、目標位置(例えば、1つの特定の陽刻パターンの表面がグラフェン層に接着される位置)で既に設定された一定時間停止状態を維持するが、このような基板216の進入速度及び回転体スタンプ202と洗浄用回転体206の回転速度は、互いに同期化された速度で進行され得る。
ここで、基板216の前進方向への進行(進入)、回転体スタンプ202と洗浄用回転体206の回転などは、たとえ図面での図示は省略していても、動力源(例えば、モータ、モータドライブ、回転軸など)から伝達される動力により進行され得る。
即ち、基板216が矢印Aの方向に進み、回転体スタンプ202が時計回りに回転して目標位置(例えば、1つの陽刻パターンの表面がグラフェン層に接着される位置)に到達した後、一定時間の停止状態を維持する。その次に、一定時間が経過した後、再び基板216の進行と回転体スタンプ202の回転進行を開始すれば、回転体スタンプ202の陽刻パターン部分に接着されていたグラフェン層218aが基板216から選択的に剥離されることで、基板216上にグラフェンパターン層218が形成される。ここで、回転体スタンプ202の陽刻パターン204部分がグラフェン層218aに接着された後、その接着状態を維持する既に設定された一定時間は、例えば1分、1分30秒、2分などになり得るが、これはグラフェン剥離層204aの材質などを考慮して決定され得る。
その後、回転体スタンプ202の回転によって基板216から剥離されたグラフェン層218aが接着されたグラフェン剥離層204aを有する陽刻パターンが洗浄用回転体206方向に進行されるようになるが、洗浄用回転体206では、陽刻パターン204に塗布されているグラフェン層218aが接着されたグラフェン剥離層204aを完全に除去(洗浄)する。即ち、洗浄用回転体206は、その回転体の一部が水槽208内に入っている洗浄液210中に湛水されているが、スタンピング工程が行われるとき、回転体スタンプ202の陽刻パターン部分に塗布されているグラフェン剥離層204aを洗浄液が付いている回転体206の外周面でふき取る方式(当接回転でグラフェン剥離層をふき取る方式)で陽刻パターン204に塗布及び接着されているグラフェン剥離層204aとグラフェン層218aを完全に除去する。このために、洗浄用回転体206の外周面は、一定程度の洗浄液を吸収しながら、ある程度の柔軟性と弾性を有する材質で形成できる。
次に、洗浄液を用いる洗浄用回転体206を通じてグラフェン剥離層が完全に除去された陽刻パターン204は、回転体スタンプ202の回転によって送風器212側に進行されるが、送風器212では、例えば熱風を噴射する方式で陽刻パターンの表面を乾燥させる。
そして、回転体スタンプ202の回転によって送風器212を通過しながら、洗浄液が完全に除去された陽刻パターン204は、噴射器214側に進行されるが、噴射器214では、噴射ノズルを介してグラフェン剥離物質を噴射する方式で陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層204aを形成(再塗布)する。
即ち、本実施形態のグラフェンパターンの形成装置によれば、回転体スタンプを用いるロールツーロール方式を通じて、グラフェン層の選択的剥離→陽刻パターンの表面洗浄(グラフェン剥離層の除去)→陽刻パターンの表面乾燥→陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層を再塗布→グラフェン層の選択的剥離に循環する一連のプロセスを連続的に行うことで、大面積基板上に目標とするグラフェンパターン層を容易に形成できる。
図3は、本発明の他の実施形態によって回転体スタンプを用いてロールツーロール方式で基板上にグラフェンパターン層を形成する装置の他の例に対する模式図である。
図3を参照すれば、本実施形態のグラフェンパターンの形成装置は、その外周面に沿って陽刻パターン304が形成され、各陽刻パターン304の表面にグラフェン剥離層304aが形成(塗布)され得る高分子の回転体スタンプ302、ロールツーロール方式のスタンピング工程が行われるとき、剥離層の除去手段として機能する噴射ノズルを有する洗浄液噴射器306、剥離層の塗布手段として機能するコンベヤベルト308、グラフェン剥離物質312が入っている水槽310などを含むことができる。図3において、参照番号314は基板を、316aはグラフェン層を、316はグラフェンパターン層をそれぞれ示す。ここで、グラフェン層316aは、図1に示すグラフェン層と同じ方法で形成され得、グラフェン剥離層304aは、図1に示すグラフェン剥離層と同じ材質であり得る。
まず、スタンピング工程(回転体スタンプを用いたパターニング工程)が開始されれば、基板314が既に設定された進入速度で矢印Aの方向に進み(進入し)、高分子の回転体スタンプ302が矢印Bの方向(時計回り)に回転し、コンベヤベルト308が矢印Cの方向(時計回り)に回転した後、目標位置(例えば、1つの陽刻パターンの表面がグラフェン層に接着される位置)で既に設定された一定時間停止状態を維持する。このような基板314の進入速度及び回転体スタンプ302とコンベヤベルト308の回転速度は、互いに同期化された速度で進行され得る。
ここで、基板314の前進方向への進行(進入)、回転体スタンプ302とコンベヤベルト308の回転などは、たとえ図面での図示は省略していても、動力源(例えば、モータ、モータドライブ、回転軸など)から伝達される動力により進行され得る。
即ち、基板314が矢印Aの方向に進み、回転体スタンプ302が時計回りに回転して目標位置(例えば、1つの陽刻パターンの表面がグラフェン層に接着される位置)に到達した後、一定時間の停止状態を維持する。その次に、一定時間が経過した後、再び基板314の進行と回転体スタンプ302の回転進行を開始すれば、回転体スタンプ302の陽刻パターン部分に接着されていたグラフェン層316aが基板314から剥離(選択的な剥離)されることで、基板314上にグラフェンパターン層316が形成される。ここで、回転体スタンプ302の陽刻パターン部分がグラフェン層316aに接着された後、その接着状態を維持する既に設定された一定時間は、例えば1分、1分30秒、2分などになり得るが、これはグラフェン剥離層304aの材質などを考慮して決定され得る。
その後、回転体スタンプ302の回転によって基板314から剥離されたグラフェン層316aが接着されたグラフェン剥離層304aを有する陽刻パターン304が洗浄液噴射器306側に進行されるようになるが、洗浄液噴射器306では、噴射ノズルを介して洗浄液を噴射する方式で陽刻パターンの表面にあるグラフェン剥離層304aとグラフェン層316aを完全に除去する。
次に、洗浄液の噴射を通じてグラフェン剥離層が完全に除去された陽刻パターン304は、回転体スタンプ302の回転によってコンベヤベルト308側に進行されるが、コンベヤベルト308側では、陽刻パターン304の表面にグラフェン剥離層304aを再形成(再塗布)する。即ち、コンベヤベルト308は、その回転体の一部が水槽310内に入っているグラフェン剥離物質312中に湛水されているが、スタンピング工程が行われるとき、陽刻パターン304の表面がコンベヤベルト308に当接して回転する方式でグラフェン剥離層304aが陽刻パターン304の表面に再塗布される。このために、コンベヤベルト308は、一定程度のグラフェン剥離物質を吸収しながら、ある程度の柔軟性と弾性を有する材質で形成できる。
即ち、本実施形態のグラフェンパターンの形成装置によれば、回転体スタンプを用いるロールツーロール方式を通じて、グラフェン層の選択的剥離→陽刻パターンの表面洗浄(グラフェン剥離層の除去)→陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層を再塗布→グラフェン層の選択的剥離に循環する一連のプロセスを連続的に行うことで、大面積基板上に目標とするグラフェンパターン層を容易に形成できる。
一方、本実施形態では、洗浄液噴射器を用いた洗浄液の噴射を通じて回転体スタンプの陽刻パターン表面に塗布及び接着されたグラフェン剥離層とグラフェン層を除去した後、コンベヤベルトを用いて陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層を再塗布すると説明したが、本実施形態が必ずしもこれに限定されるものではなく、図2に示す装置と同様に、洗浄液噴射器とコンベヤベルトとの間に乾燥用送風器を設けて陽刻パターンの表面を乾燥させた後、グラフェン剥離層を再塗布するように設計することもできることはもちろんである。
図4は、本発明の他の実施形態によって回転体スタンプを用いて基板上にグラフェンパターン層を形成する装置の更に他の例に対する模式図である。
図4を参照すれば、本実施形態のグラフェンパターンの形成装置は、その外周面に沿って陽刻パターン404が形成され、各陽刻パターン404の表面にグラフェン剥離層404aが形成(塗布)され得る高分子の回転体スタンプ402、スタンピング工程が行われるとき、剥離層の除去手段として機能する噴射ノズルを有する洗浄液噴射器406、剥離層の塗布手段として機能する水槽形態の塗布部材(又は塗布繊維)408などを含むことができる。このような塗布部材408の一側(即ち、回転体スタンプの陽刻パターンが当接しながら通過する部分)には、水槽から提供されるグラフェン剥離物質410を吸収可能な柔軟性の繊維束(又はブラッシュ)412が形成されている。図4において、参照番号414は基板を、416aはグラフェン層を、416はグラフェンパターン層をそれぞれ示す。ここで、グラフェン層416aは、図1に示すグラフェン層と同じ方法で形成され得、グラフェン剥離層404aは、図1に示すグラフェン剥離層と同じ材質であり得る。
まず、スタンピング工程(回転体スタンプを用いたパターニング工程)が開始されれば、基板414が既に設定された進入速度で矢印Aの方向に進み(進入し)、高分子の回転体スタンプ402が矢印Bの方向(時計回り)に回転した後、目標位置(例えば、1つの陽刻パターンの表面がグラフェン層に接着される位置)で既に設定された一定時間停止状態を維持する。このような基板414の進入速度及び回転体スタンプ402の回転速度は、互いに同期化された速度で進行され得る。
ここで、基板414の前進方向への進行(進入)、回転体スタンプ402の回転などは、たとえ図面での図示は省略していても、動力源(例えば、モータ、モータドライブ、回転軸など)から伝達される動力により進行され得る。
即ち、基板414が矢印Aの方向に進み、回転体スタンプ402が時計回りに回転して目標位置(例えば、1つの陽刻パターンの表面がグラフェン層に接着される位置)に到達した後、一定時間の停止状態を維持する。その次に、一定時間が経過した後、再び基板414の進行と回転体スタンプ402の回転進行を開始すれば、回転体スタンプ402の陽刻パターン部分に接着されていたグラフェン層416aが基板414から剥離(選択的な剥離)されることで、基板414上にグラフェンパターン層416が形成される。ここで、回転体スタンプ402の陽刻パターン部分がグラフェン層416aに接着された後、その接着状態を維持する既に設定された一定時間は、例えば1分、1分30秒、2分などになり得るが、これはグラフェン剥離層404aの材質などを考慮して決定され得る。
その後、回転体スタンプ402の回転によって基板414から剥離されたグラフェン層416aが接着されたグラフェン剥離層404aを有する陽刻パターン404が洗浄液噴射器406側に進行されるようになるが、洗浄液噴射器406では、噴射ノズルを介して洗浄液を噴射する方式で陽刻パターン404の表面にあるグラフェン剥離層404aとグラフェン層416aを完全に除去する。
次に、洗浄液の噴射を通じてグラフェン剥離層が完全に除去された陽刻パターン404は、回転体スタンプ402の回転によって塗布部材408の繊維束412側に進行されるが、繊維束412側では陽刻パターン404の表面にグラフェン剥離層404aを再形成(再塗布)する。即ち、繊維束412は、水槽から提供されるグラフェン剥離物質410が吸収された柔軟性の繊維束であって、回転体スタンプ402の陽刻パターン404が当接しながら通過するとき(回転するとき)、その表面にグラフェン剥離物質を再塗布する方式でグラフェン剥離層404aを再形成する。
即ち、本実施形態のグラフェンパターンの形成装置によれば、回転体スタンプを用いる方式を通じて、グラフェン層の選択的剥離→陽刻パターンの表面洗浄(グラフェン剥離層の除去)→陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層を再塗布→グラフェン層の選択的剥離に循環する一連のプロセスを連続的に行うことで、大面積基板上に目標とするグラフェンパターン層を容易に形成できる。
一方、本実施形態では、洗浄液噴射器を用いた洗浄液の噴射を通じて回転体スタンプの陽刻パターン表面に塗布及び接着されたグラフェン剥離層とグラフェン層を除去した後、繊維束を含む塗布部材を用いて陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層を再塗布すると説明したが、本実施形態が必ずしもこれに限定されるものではなく、図2に示す装置と同様に、洗浄液噴射器と塗布部材との間に乾燥用送風器を設けて陽刻パターンの表面を乾燥させた後、グラフェン剥離層を再塗布するように設計することもできることはもちろんである。
図5は、本発明の他の実施形態によって回転体スタンプを用いてロールツーロール方式で基板上にグラフェンパターン層を形成する装置の別の例に対する模式図である。
図5を参照すれば、本実施形態のグラフェンパターンの形成装置は、その外周面に沿って陽刻パターン504が形成され、各陽刻パターン504の表面にグラフェン剥離層504aが形成(塗布)され得る高分子の回転体スタンプ502、ロールツーロール方式のスタンピング工程が行われるとき、剥離層の除去手段として機能し、その外周面に繊維束508が形成された洗浄用回転体506、洗浄液512(例えば、水など)が入っている水槽510、剥離層の塗布手段として機能する噴射器514などを含むことができる。図5において、参照番号516は基板を、518aはグラフェン層を、518はグラフェンパターン層をそれぞれ示す。ここで、グラフェン層518aは、図1に示すグラフェン層と同じ方法で形成され得、グラフェン剥離層504aは、図1に示すグラフェン剥離層と同じ材質であり得る。
まず、スタンピング工程(回転体スタンプを用いたパターニング工程)が開始されれば、基板516が既に設定された進入速度で矢印Aの方向に進み、高分子の回転体スタンプ502が矢印Bの方向(反時計回り)に回転し、洗浄用回転体506が矢印Cの方向(反時計回り)に回転した後、目標位置(例えば、1つの陽刻パターンの表面がグラフェン層に接着される位置)で既に設定された一定時間停止状態を維持する。このような基板516の進入速度及び回転体スタンプ502と洗浄用回転体506の回転速度は、互いに同期化された速度で進行され得る。
ここで、基板516の前進方向への進行(進入)、回転体スタンプ502と洗浄用回転体506の回転などは、たとえ図面での図示は省略していても、動力源(例えば、モータ、モータドライブ、回転軸など)から伝達される動力により進行され得る。
即ち、基板516が矢印Aの方向に進み、回転体スタンプ302が反時計回りに回転して目標位置(例えば、1つの陽刻パターンの表面がグラフェン層に接着される位置)に到達した後、一定時間の停止状態を維持する。その次に、一定時間が経過した後、再び基板516の進行と回転体スタンプ502の回転進行を開始すれば、回転体スタンプ502の陽刻パターン部分に接着されていたグラフェン層518aが基板516から剥離(選択的な剥離)されることで、基板516上にグラフェンパターン層518が形成される。ここで、回転体スタンプ502の陽刻パターン部分がグラフェン層518aに接着された後、その接着状態を維持する既に設定された一定時間は、例えば1分、1分30秒、2分などになり得るが、これはグラフェン剥離層504aの材質などを考慮して決定され得る。
その後、回転体スタンプ502の回転によって基板516から剥離されたグラフェン層518aが接着されたグラフェン剥離層504aを有する陽刻パターンが洗浄用回転体506方向に進行されるようになるが、洗浄用回転体506では、その外周面に形成された繊維束508が陽刻パターン504に塗布されているグラフェン層518aが接着されたグラフェン剥離層504aを完全に除去(洗浄)する。ここで、繊維束508は、水槽510から有して供給される洗浄液512を吸収できる柔軟性の繊維束である。
即ち、洗浄用回転体506は、スタンピング工程が行われるとき、回転体スタンプ502の陽刻パターン部分に塗布及び接着されているグラフェン剥離層504aとグラフェン層518aを洗浄液が吸収されている繊維束508でふき取る方式で除去する。
次に、洗浄液を用いる洗浄用回転体506を通じてグラフェン剥離層が完全に除去された陽刻パターン504は、回転体スタンプ502の回転によって噴射器514側に進行されるが、噴射器514では、噴射ノズルを介してグラフェン剥離物質を噴射する方式で陽刻パターン504の表面にグラフェン剥離層504aを形成(再塗布)する。
即ち、本実施形態のグラフェンパターンの形成装置によれば、回転体スタンプを用いるロールツーロール方式を通じて、グラフェン層の選択的剥離→陽刻パターンの表面洗浄(グラフェン剥離層の除去)→陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層を再塗布→グラフェン層の選択的剥離に循環する一連のプロセスを連続的に行うことで、大面積基板上に目標とするグラフェンパターン層を容易に形成できる。
一方、本実施形態では、その外周面に繊維束が形成された洗浄用回転体を用いて回転体スタンプの陽刻パターン表面に塗布及び接着されたグラフェン剥離層とグラフェン層を除去した後、噴射器を用いたグラフェン剥離物質の噴射を通じて陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層を再塗布すると説明したが、本実施形態が必ずしもこれに限定されるものではなく、図2に示す装置と同様に、洗浄用回転体と噴射器との間に乾燥用送風器を設けて陽刻パターンの表面を乾燥させた後、グラフェン剥離層を再塗布するように設計することもできることはもちろんである。
図6は、本発明の他の実施形態によって大面積スタンプを用いて基板上にグラフェンパターン層を形成する装置の更に他の例に対する模式図であり、図7は、大面積スタンプを用いて大面積基板上にグラフェンパターン層を順次形成する過程を説明するための模式図である。
図6を参照すれば、矢印Aの方向へ移動可能な移送ユニット(例えば、コンベヤベルトなど)602にパターニングしようとする基板、例えばその上部にグラフェン層が形成された大面積基板604を搭載した後、移送ユニットを矢印A方向へ移送させてパターニング位置(大面積スタンプとの対向位置)に停止させる。ここで、グラフェン層は、図1に示すグラフェン層と同じ方法で大面積基板604上に形成され得る。
次に、陽刻パターン610の表面にグラフェン剥離層612が塗布された大面積スタンプ608を大面積基板604が位置整列された下方向へ移送させて大面積スタンプ608のパターン面をグラフェン層に接着させる。ここで、グラフェン剥離層612は、図1に示すグラフェン剥離層と同じ材質であり得る。
その後、既に設定された一定時間接着状態を維持した後、大面積スタンプ608を上方向へ移送させる方式で大面積基板604から分離させて陽刻パターン610のグラフェン剥離層612に接触したグラフェン層606aのみを選択的に剥離(除去)させることで、大面積基板604上に目標とするグラフェンパターン層606を形成できる。ここで、大面積スタンプ608の接着状態を維持する既に設定された一定時間は、例えば1分、1分30秒、2分などになり得るが、これはグラフェン剥離層612の材質などを考慮して決定され得る。
そして、移送ユニットの移送及び大面積スタンプの上下移送などは、たとえ図面での図示は省略していても、動力源(例えば、モータ、モータドライブ、移送部材など)から伝達される動力により進行され得る。
その後、移送ユニット602を矢印A方向へ移送させてグラフェンパターン層606が形成された大面積基板604をパターニング位置から離脱させ、洗浄ユニットを用いて陽刻パターン610の表面にあるグラフェン剥離層612とグラフェン層606aを除去し、乾燥ユニットを用いて陽刻パターンの表面を乾燥させ、剥離層塗布ユニットを用いて陽刻パターン610の表面にグラフェン剥離層を再塗布する。
ここで、洗浄ユニットは、例えば噴射ノズルを介して大面積スタンプのパターン面に洗浄液を噴射する洗浄液噴射器であるか、或いは外周面に沿って洗浄液吸湿性の繊維束が形成された回転移動式ローラなどになり得、乾燥ユニットは、例えば熱風を吐出する送風器などになり得、剥離層塗布ユニットは、例えば噴射ノズルを介して大面積スタンプのパターン面にグラフェン剥離物質を噴射する噴射器であるか、或いは外周面に沿ってグラフェン剥離物質吸湿性の繊維束が形成された回転移動式ローラなどになり得る。
また、陽刻パターンに対するグラフェン剥離物質の再塗布が完了すれば、移送手段を矢印A方向へ移送させてパターニングのための他の大面積基板をパターニング位置に位置させ、以後の過程を繰り返し行うことで、該当大面積基板上にグラフェンパターン層を形成する。
図7を参照すれば、多数の大面積基板S1〜S6をコンベヤベルト702に所定間隔だけ離隔させて搭載し、コンベヤベルト702の間欠的な移送、大面積スタンプ704の上下移送、陽刻パターンのグラフェン剥離層とグラフェン層の除去、陽刻パターンのグラフェン剥離層の再塗布などを繰り返し行うことで、コンベヤベルト702の移送をパターニング整列位置に順次進入するそれぞれの大面積基板上にグラフェンパターン層を形成できる。
図7において、P1〜P6区間は、大面積スタンプ704の上下移送を通じて大面積基板上にグラフェンパターン層を形成する区間を意味し、T1〜T5区間は、大面積スタンプ704の陽刻パターンにあるグラフェン剥離層とグラフェン層を除去し、再び陽刻パターンにグラフェン剥離層を再塗布する区間を意味する。
即ち、本実施形態のグラフェンパターンの形成装置によれば、コンベヤベルトの移送→パターニング位置に大面積基板を整列→大面積スタンプの上下移送を通じたグラフェンパターン層の形成→コンベヤベルトの移送→陽刻パターンの表面洗浄(グラフェン剥離層の除去)→陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層を再塗布→コンベヤベルトの移送に循環する一連のプロセスを連続的に行うことで、多数の大面積基板上に目標とするグラフェンパターン層を容易に形成できる。
一方、本実施形態では、移送手段が水平へ移送されるようにし、大面積スタンプが上下方向へ移送する方式を通じて大面積基板上にグラフェンパターン層を形成すると説明したが、これは単に例示的な提示に過ぎず、本発明が必ずしもこれに限定されるものではなく、移送手段と大面積スタンプを向かい合うように縦方向に立てる形態でシステムを構成し、大面積スタンプを左右方向へ移送させて大面積基板上にグラフェンパターン層を形成するように設計することもできることはもちろんである。この場合、大面積スタンプの陽刻パターンに形成されたグラフェン剥離層とグラフェン層の除去及びグラフェン剥離層の再塗布などの容易性が増進されることもあり得る。
実験例
本発明の発明者らは、室温条件で高分子スタンプのパターン面に有機溶媒を2,000rpmで20秒、2回スピンコーティングし、このような高分子スタンプをP型シリコンウエハ上に形成されたグラフェンに1分間のスタンピング維持時間でスタンピングする実験を行い、その実験結果は、図8に示す通りである。
図8は、本発明による実験を通じてパターニングされたグラフェンをラマン分光法で分析した結果を示すグラフである。
図8を参照すれば、本発明者らは、実験を通じて得たグラフからパターンされた部分では、グラフェン関連のラマンピークが観察されるが、グラフェンがパターンされた領域では、グラフェン関連のラマンピークが観察されないことが明確に分かった。
以上の説明では、本発明の好適な実施形態を提示し説明したが、本発明が必ずしもこれに限定されるものではなく、本発明の属する技術分野における通常の知識を有する者であれば、本発明の技術的思想から逸脱しない範囲内で様々な置換、変形及び変更が可能であることが容易に分かるはずである。

Claims (21)

  1. 基板上にグラフェン層を形成する過程と、
    陽刻パターンを有する高分子スタンプのパターン面にグラフェン剥離層を形成する過程と、
    前記高分子スタンプのパターン面を前記グラフェン層の目標位置に整列させて接着させる過程と、
    前記基板から前記高分子スタンプを分離して前記高分子スタンプの陽刻パターン部分に接着されたグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させることで、前記基板上にグラフェンパターン層を形成する過程と
    を含む剥離技法を用いたグラフェンパターンの形成方法。
  2. 前記グラフェン層は、CVD方法で形成される剥離技法を用いたことを特徴とする請求項1に記載のグラフェンパターンの形成方法。
  3. 前記グラフェン層は、前記基板上に酸化グラフェンをコーティングした後、前記グラフェン層に還元する方法を通じて形成される剥離技法を用いたことを特徴とする請求項1に記載のグラフェンパターンの形成方法。
  4. 前記高分子スタンプは、PDMS(polydimethylsiloxane)スタンプである剥離技法を用いたことを特徴とする請求項1に記載のグラフェンパターンの形成方法。
  5. 前記グラフェン剥離層は有機溶媒であり、
    前記有機溶媒は、DMSO(dimethyl sulfoxide)又はTHF(tetrahydrofuran)溶媒である剥離技法を用いたことを特徴とする請求項1に記載のグラフェンパターンの形成方法。
  6. 前記グラフェン剥離層は、スピンコーティング工程を通じて形成される剥離技法を用いた請求項5に記載のグラフェンパターンの形成方法。
  7. 外周面に沿って陽刻パターンが形成され、前記陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布された高分子の回転体スタンプを準備する過程と、
    上部にグラフェン層が形成された基板を準備する過程と、
    前記回転体スタンプをグラフェン層に接着させて回転させる方式を通じて前記陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させることで、前記基板上にグラフェンパターン層を形成する過程と
    を含む剥離技法を用いたグラフェンパターンの形成方法。
  8. 前記グラフェンパターン層を形成する過程は、
    前記回転体スタンプを回転させて特定の陽刻パターン部分を前記グラフェン層に接着させる過程と、
    前記特定の陽刻パターン部分とグラフェン層との接触を既に設定された一定時間維持する過程と、
    前記既に設定された一定時間が経過した後、前記回転体スタンプを回転させることで、前記グラフェン層の一部を選択的に剥離させる過程と
    を含む剥離技法を用いた請求項7に記載のグラフェンパターンの形成方法。
  9. 前記回転体スタンプの回転によって前記基板から剥離されたグラフェン層が接着されているグラフェン剥離層を除去する過程と、
    前記回転体スタンプの回転によって前記基板の進入方向に進む陽刻パターンの表面に前記グラフェン剥離層を再塗布する過程と
    を更に含む剥離技法を用いたことを特徴とする請求項7に記載のグラフェンパターンの形成方法。
  10. 前記方法は、前記グラフェン剥離層の再塗布の前に、前記グラフェン剥離層が除去された陽刻パターンの表面を乾燥させる過程を更に含む剥離技法を用いたことを特徴とする請求項9に記載のグラフェンパターンの形成方法。
  11. 外周面に沿って陽刻パターンが形成され、前記陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布され、基板に形成されたグラフェン層への回転接着を通じて陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させる回転体スタンプと、
    前記回転体スタンプの回転によって前記基板から剥離されたグラフェン層が接着されているグラフェン剥離層を除去する剥離層除去ユニットと、
    前記回転体スタンプの回転によって前記基板の進入方向に進む陽刻パターンの表面に前記グラフェン剥離層を再塗布する剥離層塗布ユニットと
    を含むグラフェンパターンの形成装置。
  12. 前記装置は、
    前記グラフェン剥離層の再塗布の前に、前記グラフェン剥離層が除去された陽刻パターンの表面を乾燥させる乾燥ユニットを更に含むことを特徴とする請求項11に記載のグラフェンパターンの形成装置。
  13. 前記剥離層除去ユニットは、
    前記回転体スタンプの回転方向と同一方向に陽刻パターンの表面への当接回転を通じて水槽から提供される洗浄液で陽刻パターンの表面に形成されたグラフェン剥離層とその上に接着されたグラフェン層を除去する洗浄用回転体であることを特徴とする請求項11に記載のグラフェンパターンの形成装置。
  14. 前記剥離層除去ユニットは、噴射ノズルを用いた洗浄液の噴射を通じて陽刻パターンの表面に形成されたグラフェン剥離層とその上に接着されたグラフェン層を除去する洗浄液噴射器であることを特徴とする請求項11に記載のグラフェンパターンの形成装置。
  15. 前記剥離層塗布ユニットは、
    噴射ノズルを用いたグラフェン剥離物質の噴射を通じて陽刻パターンの表面に前記グラフェン剥離層を再塗布する噴射器であることを特徴とする請求項11に記載のグラフェンパターンの形成装置。
  16. 前記剥離層塗布ユニットは、
    前記回転体スタンプの回転方向と同一方向に陽刻パターンの表面への当接回転を通じて水槽から提供されるグラフェン剥離物質で陽刻パターンの表面に前記グラフェン剥離層を再塗布するコンベヤベルトであることを特徴とする請求項11に記載のグラフェンパターンの形成装置。
  17. 前記剥離層塗布ユニットは、
    前記回転体スタンプが回転するとき、水槽から提供されて繊維束に吸収されたグラフェン剥離物質を陽刻パターンの表面に印加して前記グラフェン剥離層として再塗布する塗布部材であることを特徴とする請求項11に記載のグラフェンパターンの形成装置。
  18. 陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布された高分子の大面積スタンプを準備する過程と、
    上部にグラフェン層が形成された基板を準備する過程と、
    前記大面積スタンプをグラフェン層に接着させて陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させることで、前記基板上にグラフェンパターン層を形成する過程と、
    前記大面積スタンプの陽刻パターン部分にある前記グラフェン剥離層とグラフェン層を除去する過程と、
    前記大面積スタンプの陽刻パターンの表面に前記グラフェン剥離層を再塗布する過程と
    を含む剥離技法を用いたグラフェンパターンの形成方法。
  19. 前記方法は、前記グラフェン剥離層の再塗布の前に、前記グラフェン剥離層が除去された陽刻パターンの表面を乾燥させる過程を更に含む剥離技法を用いたことを特徴とする請求項18に記載のグラフェンパターンの形成方法。
  20. 陽刻パターンの表面にグラフェン剥離層が塗布され、基板に形成されたグラフェン層へのパターン面の接着を通じて陽刻パターン部分に接着されるグラフェン層を前記基板から選択的に剥離させる大面積スタンプと、
    前記基板から剥離されたグラフェン層が接着されている陽刻パターン部分のグラフェン剥離層を除去する剥離層除去ユニットと、
    前記大面積スタンプの陽刻パターンの表面に前記グラフェン剥離層を再塗布する剥離層塗布ユニットと
    を含むグラフェンパターンの形成装置。
  21. 前記装置は、
    前記グラフェン剥離層の再塗布の前に、前記グラフェン剥離層が除去された陽刻パターンの表面を乾燥させる乾燥ユニットを更に含むことを特徴とする請求項20に記載のグラフェンパターンの形成装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017521850A (ja) * 2014-04-23 2017-08-03 ザ トラスティーズ オブ ザ ユニバーシティ オブ ペンシルバニア 拡張可能、印刷可能である、パターン化された可撓性基板上における高移動度グラフェンシート

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101406085B1 (ko) * 2013-07-11 2014-06-11 전남대학교산학협력단 그래핀/pdms 복합체의 제조방법 및 이에 의해 제조된 그래핀/pdms 복합체
KR101602843B1 (ko) * 2014-02-18 2016-03-11 한국화학연구원 유연소재 히터를 포함하는 그래핀 가스센서
US10622934B1 (en) * 2014-03-13 2020-04-14 Carlos Goyco Photovoltaic generator cover and cable method of manufacture
KR101649788B1 (ko) * 2014-04-22 2016-08-19 박득일 그래핀 제조 장치
CN107330428B (zh) * 2017-06-15 2020-12-25 中国科学院成都有机化学有限公司 一种红外显示装置
CN109932867A (zh) * 2017-12-15 2019-06-25 无锡格菲电子薄膜科技有限公司 石墨烯薄膜转移同时图案化的方法
CN111432509B (zh) * 2020-04-15 2022-02-11 广东康烯科技有限公司 一种钛量子点掺杂石墨烯基电加热板及电加热装置
CN115818631B (zh) * 2022-11-21 2023-08-29 中国铝业股份有限公司 一种石墨烯剥离系统

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006037058A (ja) * 2004-07-30 2006-02-09 Hitachi Chem Co Ltd 印刷インキ組成物、凸版反転オフセット法、レジストパターンの形成法、電子部品の製造法及び電子部品
JP2006179214A (ja) * 2004-12-21 2006-07-06 Toppan Printing Co Ltd 高分子有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法及び高分子有機エレクトロルミネッセンス素子
WO2007049494A1 (ja) * 2005-10-25 2007-05-03 National University Corporation Hokkaido University パターニングされた物質の製造方法
JP2007529884A (ja) * 2004-03-12 2007-10-25 エイコス・インコーポレーテッド カーボンナノチューブ剥離溶液および方法
JP2009091174A (ja) * 2007-10-04 2009-04-30 Univ Of Fukui グラフェンシートの製造方法
JP2010040392A (ja) * 2008-08-06 2010-02-18 Fuji Xerox Co Ltd パターニング方法、有機電気素子、有機電界発光素子、及び有機半導体トランジスタ
JP4527194B1 (ja) * 2009-12-11 2010-08-18 エンパイア テクノロジー ディベロップメント エルエルシー グラフェン構造体、グラフェン構造体の製造方法、及び電子デバイス
JP2010222245A (ja) * 2009-03-20 2010-10-07 Northrop Grumman Systems Corp 高沸点溶剤中でのグラフェン酸化物のグラフェンへの還元
JP2011006265A (ja) * 2009-06-23 2011-01-13 Oki Data Corp グラフェン層の剥離方法、グラフェンウエハの製造方法、グラフェンウエハ、及び、グラフェン素子の製造方法
JP2011032156A (ja) * 2009-07-06 2011-02-17 Kaneka Corp グラフェンまたは薄膜グラファイトの製造方法
JP2011096980A (ja) * 2009-11-02 2011-05-12 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NO311797B1 (no) * 1999-05-12 2002-01-28 Thin Film Electronics Asa Fremgangsmåter til mönstring av polymerfilmer og anvendelse av fremgangsmåtene
KR100537722B1 (ko) * 2002-10-11 2005-12-20 강신일 미세형상 구조물의 연속 성형장치 및 방법 그리고 그 미세형상의 성형을 위한 스탬퍼 제작방법
KR20050078279A (ko) * 2004-01-29 2005-08-05 주식회사 미뉴타텍 고분자 몰드를 이용한 미세 패턴 형성 방법
KR100652217B1 (ko) * 2004-04-30 2006-12-01 엘지.필립스 엘시디 주식회사 인쇄방식을 이용한 패턴 형성방법
US20080233489A1 (en) * 2007-03-22 2008-09-25 Graciela Beatriz Blanchet Method to form a pattern of functional material on a substrate using a stamp having a surface modifying material
FI20085113A0 (fi) * 2008-02-08 2008-02-08 Valtion Teknillinen Menetelmä grafiinirakenteiden valmistamiseksi alustoille
US20110186789A1 (en) * 2008-05-22 2011-08-04 The University Of North Carolina At Chapel Hill Synthesis of graphene sheets and nanoparticle composites comprising same
KR20100130695A (ko) * 2009-06-04 2010-12-14 한양대학교 산학협력단 산소 플라즈마를 이용한 탄소 패턴 형성방법
KR101087829B1 (ko) * 2009-06-12 2011-11-30 한양대학교 산학협력단 전기화학반응을 이용한 탄소 패턴 형성방법
KR20110043335A (ko) * 2009-10-21 2011-04-27 에이티엘(주) 기판 패턴 형성장치
KR20110047769A (ko) * 2009-10-30 2011-05-09 엘지디스플레이 주식회사 플렉서블 디스플레이용 배선 형성방법
US20110272838A1 (en) * 2010-05-06 2011-11-10 Matt Malloy Apparatus, System, and Method for Nanoimprint Template with a Backside Recess Having Tapered Sidewalls

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007529884A (ja) * 2004-03-12 2007-10-25 エイコス・インコーポレーテッド カーボンナノチューブ剥離溶液および方法
JP2006037058A (ja) * 2004-07-30 2006-02-09 Hitachi Chem Co Ltd 印刷インキ組成物、凸版反転オフセット法、レジストパターンの形成法、電子部品の製造法及び電子部品
JP2006179214A (ja) * 2004-12-21 2006-07-06 Toppan Printing Co Ltd 高分子有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法及び高分子有機エレクトロルミネッセンス素子
WO2007049494A1 (ja) * 2005-10-25 2007-05-03 National University Corporation Hokkaido University パターニングされた物質の製造方法
JP2009091174A (ja) * 2007-10-04 2009-04-30 Univ Of Fukui グラフェンシートの製造方法
JP2010040392A (ja) * 2008-08-06 2010-02-18 Fuji Xerox Co Ltd パターニング方法、有機電気素子、有機電界発光素子、及び有機半導体トランジスタ
JP2010222245A (ja) * 2009-03-20 2010-10-07 Northrop Grumman Systems Corp 高沸点溶剤中でのグラフェン酸化物のグラフェンへの還元
JP2011006265A (ja) * 2009-06-23 2011-01-13 Oki Data Corp グラフェン層の剥離方法、グラフェンウエハの製造方法、グラフェンウエハ、及び、グラフェン素子の製造方法
JP2011032156A (ja) * 2009-07-06 2011-02-17 Kaneka Corp グラフェンまたは薄膜グラファイトの製造方法
JP2011096980A (ja) * 2009-11-02 2011-05-12 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法
JP4527194B1 (ja) * 2009-12-11 2010-08-18 エンパイア テクノロジー ディベロップメント エルエルシー グラフェン構造体、グラフェン構造体の製造方法、及び電子デバイス

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017521850A (ja) * 2014-04-23 2017-08-03 ザ トラスティーズ オブ ザ ユニバーシティ オブ ペンシルバニア 拡張可能、印刷可能である、パターン化された可撓性基板上における高移動度グラフェンシート
JP2020124705A (ja) * 2014-04-23 2020-08-20 ザ トラスティーズ オブ ザ ユニバーシティ オブ ペンシルバニア 拡張可能、印刷可能である、パターン化された可撓性基板上における高移動度グラフェンシート
JP6992106B2 (ja) 2014-04-23 2022-01-13 ザ トラスティーズ オブ ザ ユニバーシティ オブ ペンシルバニア 拡張可能、印刷可能である、パターン化された可撓性基板上における高移動度グラフェンシート
US11546987B2 (en) 2014-04-23 2023-01-03 The Trustees Of The University Of Pennsylvania Scalable, printable, patterned sheet of high mobility graphene on flexible substrates

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