JP2014517305A - 眼科用レンズの複数放射検査 - Google Patents
眼科用レンズの複数放射検査 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014517305A JP2014517305A JP2014513664A JP2014513664A JP2014517305A JP 2014517305 A JP2014517305 A JP 2014517305A JP 2014513664 A JP2014513664 A JP 2014513664A JP 2014513664 A JP2014513664 A JP 2014513664A JP 2014517305 A JP2014517305 A JP 2014517305A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- image
- ophthalmic lens
- irradiated
- storage area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
- G01M11/0257—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8845—Multiple wavelengths of illumination or detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
- G01N2021/9583—Lenses
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Geometry (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Eyeglasses (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
Description
(a)眼科用レンズに、可視放射、紫外線放射、又は赤外線放射からなる群の1つ又は複数の要素を含む放射を照射して第1の像を形成することと、
(b)第1の像を中間記憶領域に転送することと、
(c)眼科用レンズに、可視放射、紫外線放射、又は赤外線放射からなる群の1つ又は複数の要素を含む放射を照射して第2の像を生成することであって、工程(c)の照射放射が工程(a)の照射放射とは異なることを条件とし、
前記工程(c)の照射は、工程(a)の照射から実質的に短い時間で行なう、生成することと、
(d)第1の像を中間記憶領域から画像取り込みデバイスに転送することと、
(e)第2の像を中間記憶領域に転送することと、
(f)第2の像を画像取り込みデバイスに転送することと、
(g)画像取り込みデバイスから見たときに、第1の像を第2の像と比較して、眼科用レンズに欠陥が含まれていることを判定することと、を含む、方法が提供される。
(1) 製造ラインを通って移動する、容器内にパッケージング溶液とともに収容されたシリコーンハイドロゲル眼科用レンズを検査する方法であって、
(a)前記眼科用レンズに、可視放射、紫外線放射、又は赤外線放射からなる群の1つ又は複数の要素を含む放射を照射して第1の像を形成することと、
(b)前記第1の像を中間記憶領域に転送することと、
(c)前記眼科用レンズに、可視放射、紫外線放射、又は赤外線放射からなる群の1つ又は複数の要素を含む放射を照射して第2の像を生成することであって、前記工程(c)の照射放射が前記工程(a)の照射放射とは異なることを条件とし、
前記工程(c)の照射は、前記工程(a)の照射から実質的に短い時間で行なう、生成することと、
(d)前記第1の像を前記中間記憶領域から画像取り込みデバイスに転送することと、
(e)前記第2の像を前記中間記憶領域に転送することと、
(f)前記第2の像を前記画像取り込みデバイスに転送することと、
(g)前記画像取り込みデバイスから見たときに、前記第1の像を前記第2の像と比較して、前記眼科用レンズに欠陥が含まれていることを判定することと、を含む、方法。
(2) 工程(a)において、前記眼科用レンズに可視放射を照射する、実施態様1に記載の方法。
(3) 工程(a)において、前記眼科用レンズに波長が約400nm〜約500nmの放射を照射する、実施態様1に記載の方法。
(4) 工程(a)において、前記眼科用レンズに波長が約465nmの放射を照射する、実施態様1に記載の方法。
(5) 工程(c)において、前記眼科用レンズに波長が約365〜約385nmの放射を照射する、実施態様1に記載の方法。
(7) 前記実質的に短い時間は、約1マイクロセカンド〜300マイクロセカンドである、実施態様1に記載の方法。
(8) 前記中間記憶領域は、インタライン記憶領域(interline storage area)である、実施態様1に記載の方法。
(9) 前記製造ラインの速度は、約200mm/秒である、実施態様1に記載の方法。
(10) 工程(a)において、前記眼科用レンズに紫外線放射を照射する、実施態様1に記載の方法。
(12) 前記異なる波長の放射のパルスを異なる時間に発生させ、それらの間の時間は実質的に短い時間である、実施態様11に記載の方法。
Claims (12)
- 製造ラインを通って移動する、容器内にパッケージング溶液とともに収容されたシリコーンハイドロゲル眼科用レンズを検査する方法であって、
(a)前記眼科用レンズに、可視放射、紫外線放射、又は赤外線放射からなる群の1つ又は複数の要素を含む放射を照射して第1の像を形成することと、
(b)前記第1の像を中間記憶領域に転送することと、
(c)前記眼科用レンズに、可視放射、紫外線放射、又は赤外線放射からなる群の1つ又は複数の要素を含む放射を照射して第2の像を生成することであって、前記工程(c)の照射放射が前記工程(a)の照射放射とは異なることを条件とし、
前記工程(c)の照射は、前記工程(a)の照射から実質的に短い時間で行なう、生成することと、
(d)前記第1の像を前記中間記憶領域から画像取り込みデバイスに転送することと、
(e)前記第2の像を前記中間記憶領域に転送することと、
(f)前記第2の像を前記画像取り込みデバイスに転送することと、
(g)前記画像取り込みデバイスから見たときに、前記第1の像を前記第2の像と比較して、前記眼科用レンズに欠陥が含まれていることを判定することと、を含む、方法。 - 工程(a)において、前記眼科用レンズに可視放射を照射する、請求項1に記載の方法。
- 工程(a)において、前記眼科用レンズに波長が約400nm〜約500nmの放射を照射する、請求項1に記載の方法。
- 工程(a)において、前記眼科用レンズに波長が約465nmの放射を照射する、請求項1に記載の方法。
- 工程(c)において、前記眼科用レンズに波長が約365〜約385nmの放射を照射する、請求項1に記載の方法。
- 工程(c)において、前記眼科用レンズに波長が約375の放射を照射する、請求項1に記載の方法。
- 前記実質的に短い時間は、約1マイクロセカンド〜300マイクロセカンドである、請求項1に記載の方法。
- 前記中間記憶領域は、インタライン記憶領域である、請求項1に記載の方法。
- 前記製造ラインの速度は、約200mm/秒である、請求項1に記載の方法。
- 工程(a)において、前記眼科用レンズに紫外線放射を照射する、請求項1に記載の方法。
- 前記眼科用レンズに異なる波長の放射のパルスを照射する、請求項1に記載の方法。
- 前記異なる波長の放射のパルスを異なる時間に発生させ、それらの間の時間は実質的に短い時間である、請求項11に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201161492932P | 2011-06-03 | 2011-06-03 | |
US61/492,932 | 2011-06-03 | ||
PCT/US2012/039995 WO2012166797A1 (en) | 2011-06-03 | 2012-05-30 | Multiple radiation inspection of ophthalmic lenses |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014517305A true JP2014517305A (ja) | 2014-07-17 |
JP5960252B2 JP5960252B2 (ja) | 2016-08-02 |
Family
ID=46384465
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014513664A Active JP5960252B2 (ja) | 2011-06-03 | 2012-05-30 | 眼科用レンズの複数放射検査 |
Country Status (14)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8860936B2 (ja) |
EP (1) | EP2715306B1 (ja) |
JP (1) | JP5960252B2 (ja) |
KR (1) | KR101823855B1 (ja) |
CN (1) | CN103620365B (ja) |
AR (1) | AR086646A1 (ja) |
AU (1) | AU2012262324B2 (ja) |
BR (1) | BR112013031035B1 (ja) |
CA (1) | CA2837969C (ja) |
HK (1) | HK1196665A1 (ja) |
MY (1) | MY166303A (ja) |
RU (1) | RU2586391C2 (ja) |
TW (1) | TWI577987B (ja) |
WO (1) | WO2012166797A1 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI451076B (zh) * | 2013-02-08 | 2014-09-01 | Benq Materials Corp | 光學鏡片髒汙檢測方法 |
CN103245676B (zh) * | 2013-03-23 | 2015-05-20 | 明基材料有限公司 | 光学镜片脏污检测方法 |
SG11201602776PA (en) * | 2013-10-08 | 2016-05-30 | Emage Vision Pte Ltd | System and method for inspection of wet ophthalmic lens |
WO2016038056A1 (en) * | 2014-09-09 | 2016-03-17 | Novartis Ag | Method for detecting the presence or absence of an ophthalmic lens, in particular a contact lens, within a receptacle |
JP6769605B2 (ja) * | 2016-08-16 | 2020-10-14 | 株式会社トーメーコーポレーション | レンズメータ |
EP3522771B1 (en) | 2016-10-25 | 2022-04-06 | Amo Groningen B.V. | Realistic eye models to design and evaluate intraocular lenses for a large field of view |
SG10201701099XA (en) | 2017-02-10 | 2018-09-27 | Emage Vision Pte Ltd | Contact lens inspection in a plastic shell |
US10739227B2 (en) | 2017-03-23 | 2020-08-11 | Johnson & Johnson Surgical Vision, Inc. | Methods and systems for measuring image quality |
EP3687447A1 (en) | 2017-11-30 | 2020-08-05 | AMO Groningen B.V. | Intraocular lenses that improve post-surgical spectacle independent and methods of manufacturing thereof |
WO2019155034A1 (en) * | 2018-02-08 | 2019-08-15 | Amo Groningen B.V. | Multi-wavelength wavefront system and method for measuring diffractive lenses |
CA3090575A1 (en) | 2018-02-08 | 2019-08-15 | Amo Groningen B.V. | Wavefront based characterization of lens surfaces based on reflections |
KR20230019052A (ko) * | 2021-07-30 | 2023-02-07 | 존슨 앤드 존슨 비젼 케어, 인코포레이티드 | 밀봉된 렌즈 패키지를 위한 품질 관리 |
US12014480B2 (en) * | 2021-10-19 | 2024-06-18 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Defect detection using synthetic data and machine learning |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001304835A (ja) * | 2000-04-26 | 2001-10-31 | Toshiba Eng Co Ltd | 凹凸測定用照明装置、凹凸測定装置、欠陥検査用照明装置、欠陥検査装置およびその照明方法 |
JP2005518537A (ja) * | 2002-02-21 | 2005-06-23 | ジョンソン・アンド・ジョンソン・ビジョン・ケア・インコーポレイテッド | 光学素子検査方法及び装置 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL107601A (en) | 1992-12-21 | 1997-09-30 | Johnson & Johnson Vision Prod | Illumination and imaging subsystems for a lens inspection system |
NZ250042A (en) | 1992-12-21 | 1997-01-29 | Johnson & Johnson Vision Prod | Robotic inspection of ophthalmic lenses |
GR1002072B (en) | 1992-12-21 | 1995-11-30 | Johnson & Johnson Vision Prod | Illumination system for opthalmic lens inspection. |
GR1002789B (el) | 1992-12-21 | 1997-10-17 | Johnson & Johnson Vision Products Inc. | Μια συσκευη για την μεταφορα οφθαλμικων φακων. |
IL107602A0 (en) | 1992-12-21 | 1994-02-27 | Johnson & Johnson Vision Prod | Method of inspecting ophthalmic lenses |
IL107513A (en) | 1992-12-21 | 1997-07-13 | Johnson & Johnson Vision Prod | Ophthalmic lens inspection system and method |
IL107605A (en) | 1992-12-21 | 1998-01-04 | Johnson & Johnson Vision Prod | Lens test system |
JPH06249749A (ja) | 1993-02-26 | 1994-09-09 | Topcon Corp | レンズメータ |
US5568715A (en) | 1994-05-31 | 1996-10-29 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | Automated inspection system with transport and ejector conveyor |
US5640464A (en) | 1994-05-31 | 1997-06-17 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | Method and system for inspecting packages |
US5649410A (en) | 1994-06-10 | 1997-07-22 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | Post-hydration method and apparatus for transporting, inspecting and packaging contact lenses |
US5500732A (en) | 1994-06-10 | 1996-03-19 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | Lens inspection system and method |
US5578331A (en) | 1994-06-10 | 1996-11-26 | Vision Products, Inc. | Automated apparatus for preparing contact lenses for inspection and packaging |
US5995213A (en) | 1995-01-17 | 1999-11-30 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | Lens inspection system |
EP1105707B1 (de) * | 1998-08-17 | 2009-06-03 | Novartis AG | Prüfmodul zum prüfen von optischen teilen auf fehler |
US6246062B1 (en) | 1998-11-05 | 2001-06-12 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Missing lens detection system and method |
DE29901791U1 (de) * | 1999-02-02 | 2000-07-06 | Novartis Ag, Basel | Linsenmesseinrichtung |
US6577387B2 (en) | 2000-12-29 | 2003-06-10 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Inspection of ophthalmic lenses using absorption |
WO2003073060A2 (en) * | 2002-02-21 | 2003-09-04 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Dual inspection of ophthalmic lenses |
GB0322640D0 (en) * | 2003-09-26 | 2003-10-29 | 1800 Contacts | Process |
FR2878973B1 (fr) * | 2004-12-03 | 2007-04-20 | Essilor Int | Dispositif de mesure automatique de caracteristiques d'une lentille ophtalmique |
US7990531B2 (en) * | 2008-06-05 | 2011-08-02 | Coopervision International Holding Company, Lp | Multi-imaging automated inspection methods and systems for wet ophthalmic lenses |
-
2012
- 2012-05-30 KR KR1020137034891A patent/KR101823855B1/ko active IP Right Grant
- 2012-05-30 MY MYPI2013702318A patent/MY166303A/en unknown
- 2012-05-30 US US13/484,039 patent/US8860936B2/en active Active
- 2012-05-30 AU AU2012262324A patent/AU2012262324B2/en not_active Ceased
- 2012-05-30 CA CA2837969A patent/CA2837969C/en not_active Expired - Fee Related
- 2012-05-30 RU RU2013158876/28A patent/RU2586391C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2012-05-30 JP JP2014513664A patent/JP5960252B2/ja active Active
- 2012-05-30 WO PCT/US2012/039995 patent/WO2012166797A1/en active Application Filing
- 2012-05-30 BR BR112013031035-9A patent/BR112013031035B1/pt not_active IP Right Cessation
- 2012-05-30 CN CN201280027211.3A patent/CN103620365B/zh active Active
- 2012-05-30 EP EP12730078.8A patent/EP2715306B1/en active Active
- 2012-06-01 AR ARP120101944A patent/AR086646A1/es active IP Right Grant
- 2012-06-01 TW TW101119667A patent/TWI577987B/zh active
-
2014
- 2014-10-06 HK HK14109901.3A patent/HK1196665A1/xx unknown
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001304835A (ja) * | 2000-04-26 | 2001-10-31 | Toshiba Eng Co Ltd | 凹凸測定用照明装置、凹凸測定装置、欠陥検査用照明装置、欠陥検査装置およびその照明方法 |
JP2005518537A (ja) * | 2002-02-21 | 2005-06-23 | ジョンソン・アンド・ジョンソン・ビジョン・ケア・インコーポレイテッド | 光学素子検査方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
HK1196665A1 (en) | 2014-12-19 |
AU2012262324A1 (en) | 2014-01-09 |
JP5960252B2 (ja) | 2016-08-02 |
CN103620365A (zh) | 2014-03-05 |
TWI577987B (zh) | 2017-04-11 |
CN103620365B (zh) | 2016-11-16 |
TW201307831A (zh) | 2013-02-16 |
CA2837969A1 (en) | 2012-12-06 |
US20120327396A1 (en) | 2012-12-27 |
EP2715306B1 (en) | 2015-07-01 |
AU2012262324B2 (en) | 2016-02-11 |
AR086646A1 (es) | 2014-01-15 |
WO2012166797A1 (en) | 2012-12-06 |
BR112013031035B1 (pt) | 2020-10-06 |
US8860936B2 (en) | 2014-10-14 |
EP2715306A1 (en) | 2014-04-09 |
KR20140033175A (ko) | 2014-03-17 |
RU2013158876A (ru) | 2015-07-20 |
MY166303A (en) | 2018-06-25 |
CA2837969C (en) | 2019-01-08 |
RU2586391C2 (ru) | 2016-06-10 |
BR112013031035A2 (pt) | 2016-11-29 |
KR101823855B1 (ko) | 2018-02-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5960252B2 (ja) | 眼科用レンズの複数放射検査 | |
US7990531B2 (en) | Multi-imaging automated inspection methods and systems for wet ophthalmic lenses | |
US20140092395A1 (en) | Method for automated inline determination of the refractive power of an ophthalmic lens | |
CN103649722B (zh) | 药剂检查装置和药剂检查方法 | |
US20070273945A1 (en) | Wafer Inspection Using Short-Pulsed Continuous Broadband Illumination | |
TW201522933A (zh) | 用於檢查潮溼眼用鏡片的系統及方法 | |
JP6759699B2 (ja) | 被検査物の外観検査方法および外観検査装置 | |
KR20130121729A (ko) | 농산물 검사장치 및 농산물 검사방법 | |
US20070164222A1 (en) | Method and apparatus for detecting presence of an opthalmic lens in a package | |
US20170038308A1 (en) | Apparatus and method for inspecting containers | |
JP3340413B2 (ja) | ペットボトル内沈殿異物検査方法及びその装置 | |
EP2167910B1 (en) | Method of detecting the orientation of an ophthalmic lens in its package | |
US11450576B2 (en) | Laser processing method, method for manufacturing semiconductor device, and inspecting device | |
CN106970082A (zh) | 检查装置 | |
JP2008544299A (ja) | 眼用レンズ離型後処理助剤 | |
JPH0634575A (ja) | 瓶検査方法 | |
TWM483255U (zh) | 片劑檢查機之六面檢驗機構 | |
JPH09133640A (ja) | 欠陥検査方法およびその装置 | |
US20220044969A1 (en) | Laser processing method, semiconductor device manufacturing method, and examination device | |
TW201310113A (zh) | 眼用鏡片邊緣的成像及檢查方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150303 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20151021 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20151110 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160210 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160524 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160622 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5960252 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |