JP2014236110A - プリント基板層間接続部の検査方法およびプリント基板層間接続部検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1の工程では、スルーホール21の開口部周辺の基板2上に、メッキ層24とつながった状態で形成されたランド22に、予め定められた時間レーザ光Lを照射する。第2の工程では、レーザ光Lの照射により加熱されたプリント基板2のランド22周辺を赤外線カメラ5で撮影する。第3の工程では、赤外線カメラ5で撮影されたランド22周辺の画像から温度上昇に対応した輝度のデータを取得すると共に、当該輝度のデータに基づいてスルーホール21の良否を判定する。
【選択図】図1
Description
前記層間接続部の一部に、予め定められた時間レーザ光を照射する第1の工程と、
レーザ光の照射により加熱された前記プリント基板の層間接続部の周辺を赤外線カメラで撮影する第2の工程と、
前記赤外線カメラで撮影された前記層間接続部周辺の画像から温度上昇に対応した輝度のデータを取得すると共に、当該輝度のデータに基づいて前記層間接続部の良否を判定する第3の工程と、を含むことを特徴とする。
レーザ光を放射するレーザ光源と、
前記レーザ光源から放射されたレーザ光を回転可能なミラーで反射し、前記層間接続部の一部に照射するミラー駆動部と、
レーザ光の照射により加熱された前記プリント基板の赤外線画像を撮影する赤外線カメラと、
前記赤外線カメラで撮影された前記層間接続部周辺の画像から、温度上昇に対応した輝度のデータを取得すると共に、当該輝度のデータに基づいて前記層間接続部の良否を判定するプロセッサと、を備えたことを特徴とする。
前記プロセッサは、前記層間接続部の良否判定の結果に関するデータを、当該層間接続部の位置に関するデータと関連付けて前記記憶装置に格納することが好ましい。
<プリント基板層間接続部検査装置の構成と機能>
図1に、本実施の形態にかかるプリント基板層間接続部検査装置の概略の構成を示す。プリント基板層間接続部検査装置(以降、単に「検査装置」という)1は、検査対象であるプリント基板2が載置される、水平面内で移動可能なテーブル3、テーブル3に載置されたプリント基板2のランド22にレーザ光Lを照射するためのレーザ光源4、レーザ光Lによって加熱されたプリント基板2の赤外線画像を撮影する赤外線カメラ5、および検査装置各部の制御と赤外線カメラ5で撮影された画像を処理してスルーホール21の良否を判定する装置本体6で構成されている。
次に、図3〜図6を参照して、本発明におけるスルーホールの良否判定の原理について説明する。図3は、スルーホール21が形成されたプリント基板の一部を示す。また図4は、スルーホールが形成された一層構造のプリント基板の断面を示す。
ラインや電源ライン、信号ラインとして用いられるものである。なお、本発明において、層間接続層はスルーホール21とランド22によって構成されるものとする。
次に、前述の図1および図2を参照して、本発明にかかる層間接続部の検査方法における各工程について説明する。
画像を切り出さなくても、最大輝度の画素の輝度データを取得することができる。
実施の形態1では、ランド周辺の赤外線画像から取得した輝度変化量の最大値によってスルーホールの良否を判定した。大半のスルーホールでは、良品と不良品の輝度変化量の最大値に有意差があり、かつスルーホール毎に閾値を設定しているため、良否の判定に支障が生じることはない。しかし、ランドの形状や周囲の配線のパターンによっては、良否の判定を行う閾値Thの設定が難しい場合がある。
2 プリント基板
3 テーブル
4 レーザ光源
5 赤外線カメラ
6 装置本体
7 テーブル駆動部
8 レンズ
9 ミラー
10 ミラー駆動部
21 スルーホール
22 ランド
23 樹脂部
24 メッキ層
25 配線
26 切り出しエリア
27 輝度変化量が所定の値以上のエリア
60 プロセッサ
61 画像認識部
62 良否判定部
63 制御部
64 入力部
65 記憶装置
66 表示部
Claims (8)
- 少なくとも2層の配線層が絶縁層を介して積層され、かつ前記配線層間が層間接続部により接続されたプリント基板における層間接続部の検査方法であって、
前記層間接続部の一部に、予め定められた時間レーザ光を照射する第1の工程と、
レーザ光の照射により加熱された前記プリント基板の層間接続部の周辺を赤外線カメラで撮影する第2の工程と、
前記赤外線カメラで撮影された前記層間接続部周辺の画像から温度上昇に対応した輝度のデータを取得すると共に、当該輝度のデータに基づいて前記層間接続部の良否を判定する第3の工程と、を含むことを特徴とするプリント基板層間接続部の検査方法。 - 前記第3の工程として、前記層間接続部周辺の画像からレーザ光を照射する前と照射した後の輝度変化量の最大値のデータを取り出し、その輝度変化量の最大値が予め定めた値を超えているか否かにより、前記層間接続部の良否を判定することを特徴とする、請求項1に記載のプリント基板層間接続部の検査方法。
- 前記第3の工程として、前記層間接続部周辺の画像からレーザ光を照射する前と照射した後の輝度変化量が所定の値を超える画素の数を計数し、その画素の数が予め定めた値を超えているか否かにより、前記スルーホールの良否を判定することを特徴とする、請求項1に記載のプリント基板層間接続部の検査方法。
- 前記第1の工程に先立ち、前記プリント基板が載置されたテーブルを移動させて、検査対象である層間接続部が前記赤外線カメラの撮影エリアに含まれるようにすることを特徴とする、請求項1ないし3のいずれかに記載のプリント基板層間接続部の検査方法。
- 前記第1の工程において、回転可能なミラーを用い、レーザ光源から放射されたレーザ光の方向を変えて前記層間接続部に照射することを特徴とする、請求項4に記載のプリント基板層間接続部の検査方法。
- 少なくとも2層の配線層が絶縁層を介して積層され、かつ前記配線層間が層間接続部により接続されたプリント基板の層間接続部検査装置であって、
レーザ光を放射するレーザ光源と、
前記レーザ光源から放射されたレーザ光を回転可能なミラーで反射し、前記層間接続部の一部に照射するミラー駆動部と、
レーザ光の照射により加熱された前記プリント基板の赤外線画像を撮影する赤外線カメラと、
前記赤外線カメラで撮影された前記層間接続部周辺の画像から、温度上昇に対応した輝度のデータを取得すると共に、当該輝度のデータに基づいて前記層間接続部の良否を判定するプロセッサと、を備えたことを特徴とするプリント基板層間接続部検査装置。 - 前記プリント基板に形成された複数の層間接続部の位置に関するデータが格納された記憶装置を更に備え、
前記プロセッサは、前記層間接続部の良否判定の結果に関するデータを、当該層間接続部の位置に関するデータと関連付けて前記記憶装置に格納することを特徴とする、請求項6に記載のプリント基板層間接続部検査装置。 - 前記プロセッサは、
前記赤外線カメラで撮影した画像から前記層間接続部周辺の画像を切り出す画像認識部と、
前記画像認識部で切り出された画像から温度上昇に対応した輝度のデータを取得すると共に、当該輝度のデータに基づいて前記層間接続部の良否を判定する良否判定部と、で構成されていることを特徴とする、請求項6または7に記載のプリント基板層間接続部検査装置。
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JP2013116729A JP2014236110A (ja) | 2013-06-03 | 2013-06-03 | プリント基板層間接続部の検査方法およびプリント基板層間接続部検査装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019208039A1 (ja) * | 2018-04-27 | 2019-10-31 | 三菱電機株式会社 | はんだ付け監視装置、はんだ付け監視方法およびはんだ付け装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63305238A (ja) * | 1987-06-05 | 1988-12-13 | Denyo Kk | 電子部品の接合部検査方法 |
JPH0480645A (ja) * | 1990-07-23 | 1992-03-13 | Nissan Motor Co Ltd | 欠陥検査装置 |
JPH0483152A (ja) * | 1990-07-25 | 1992-03-17 | Shuji Nakada | 電子部品の接合部検査方法および検査装置 |
JP2000261137A (ja) * | 1999-03-12 | 2000-09-22 | Nec Corp | 電子部品接続状態検査装置及び電子部品接続状態検査方法 |
-
2013
- 2013-06-03 JP JP2013116729A patent/JP2014236110A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63305238A (ja) * | 1987-06-05 | 1988-12-13 | Denyo Kk | 電子部品の接合部検査方法 |
JPH0480645A (ja) * | 1990-07-23 | 1992-03-13 | Nissan Motor Co Ltd | 欠陥検査装置 |
JPH0483152A (ja) * | 1990-07-25 | 1992-03-17 | Shuji Nakada | 電子部品の接合部検査方法および検査装置 |
JP2000261137A (ja) * | 1999-03-12 | 2000-09-22 | Nec Corp | 電子部品接続状態検査装置及び電子部品接続状態検査方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019208039A1 (ja) * | 2018-04-27 | 2019-10-31 | 三菱電機株式会社 | はんだ付け監視装置、はんだ付け監視方法およびはんだ付け装置 |
CN112004629A (zh) * | 2018-04-27 | 2020-11-27 | 三菱电机株式会社 | 钎焊监视装置、钎焊监视方法以及钎焊装置 |
CN112004629B (zh) * | 2018-04-27 | 2022-05-03 | 三菱电机株式会社 | 钎焊监视装置、钎焊监视方法以及钎焊装置 |
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