JP2014232065A - 測定器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】測定器1は、第1の部材10aと、第1の部材10aに対して摺動するように設けられた第2の部材11と、第1の部材10aと第2の部材11との変位を示す表示部17と、を備え、第1の部材10aは第2の部材11と摺動する面である第1の摺動面を有し、第2の部材は第1の部材と摺動する面である第2の摺動面11f−hを有し、第1の摺動面及び第2の摺動面のうち一方か又は両方に微細周期構造が設けられたものである。
【選択図】図1
Description
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
図1は、ノギスを示す図である。図1(a)は、ノギス1の全体を示す図である。なおここではノギスの構造をわかりやすくするため、図1(a)はスライダ11の一部を切断し、断面を図示している。
この点、微細周期構造を本尺10の下面10eに形成すれば、摺動力の最大値が抑制され、ノギス1の摺動力のばらつきが抑えられる。ノギス1の摺動力のばらつきが小さくなることで、より正確に測定対象を測定することができる。
本実施の形態にかかるダイヤルゲージ2について説明する。本実施の形態では、実施の形態1にかかる微細周期構造をダイヤルゲージに応用した場合について説明する。
本実施の形態にかかるマイクロメータについて説明する。本実施の形態では、実施の形態1及び2にかかる微細周期構造を、マイクロメータに応用した場合について説明する。図5はマイクロメータ3を示す図である。マイクロメータ3は、フレーム31と、スピンドル32と、シンブル33と、を備える。
また、微細周期構造は、摺動面のみでなく、測定器の他の面に設けられるようにしてもよい。ここでは、一例としてハイトゲージに微細周期構造を設けた場合について説明する。また、ハイトゲージに適用する場合、微細周期構造を、ハイトゲージのベースの底面に設ける。
2 ダイヤルゲージ
3 マイクロメータ
4 ハイトゲージ
10 本尺
10a 本体部
11 スライダ
11c〜11e 支持部材
11f〜11h 摺動面
12 デプスバー
13 クランプねじ
14 板ばね
15a、15b 外側ジョウ
16a、16b 内側ジョウ
17 本尺目盛
18 バーニヤ目盛
19 スライダ本体部
21 ケース本体部
22 スピンドル
23 ステム
24 動力伝達部
25 スピンドル案内部
31 フレーム
32 スピンドル
33 シンブル
41 支柱
42 スライダ
43 ベース
44 取付部
45 ネジ
46 連結部材
47 測定子
48 定盤
211 軸受部
221 ラック
222 接触部
241 ピニオン
242 大歯車
243 指針軸
244 バックスラッシュ防止歯車
251 スピンドル案内溝
252 スピンドル案内軸
311 アンビル
312 アーム
313 スリーブ
314 主尺目盛
321 おねじ
315 めねじ
331 副尺目盛
Claims (13)
- 第1の部材と、
前記第1の部材に対して摺動するように設けられた第2の部材と、
前記第1の部材と前記第2の部材との変位を示す表示部と、を備え、
前記第1の部材は前記第2の部材と摺動する面である第1の摺動面を有し、
前記第2の部材は前記第1の部材と摺動する面である第2の摺動面を有し、
前記第1の摺動面及び前記第2の摺動面のうち一方か又は両方に微細周期構造が設けられた測定器。 - 前記微細周期構造は、摺動面にピコ秒以下のレーザを照射することにより形成されるものである、請求項1記載の測定器。
- 前記微細周期構造は、摺動面にディンプル加工することにより形成されるものである、請求項1記載の測定器。
- 前記微細周期構造は、前記摺動面上に形成された低摺動膜層に形成されるものである、請求項1乃至3のうちいずれか1項記載の測定器。
- 前記低摺動膜層は、ダイヤモンドライク膜である、請求項4に記載の測定器。
- 前記第1の部材と前記第2の部材のうちいずれか1つ以上は、樹脂材料で形成される、請求項4に記載の記載の測定器。
- 前記第1の摺動面と、前記第2の摺動面と、の両方に前記微細周期構造が設けられた場合、
前記第1の摺動面に設けられた微細周期構造の溝の長手方向と、前記第2の摺動面に設けられた微細周期構造の溝の長手方向と、が接触する面で平行にならないよう設けられる、請求項1乃至6のうちいずれか1項記載の測定器。 - 前記測定器はノギスであり、
前記第1の部材は本尺であって、
前記第2の部材はスライダであって、
前記本尺は、長手方向に沿った長さを有する直方体形状の本体部を有し、
前記スライダは、前記本尺を覆うように形成された角筒形状であって、
前記第2の摺動面は、前記スライダの角筒形状の内側に設けられる、請求項1乃至7のうちいずれか1項記載の測定器。 - 前記測定器はインジケータであり、
前記第1の部材はケース本体部の軸受部であり、
前記第2の部材はスピンドルである請求項1乃至7のうちいずれか1項記載の測定器。 - 前記測定器はインジケータであり、
前記第1の部材はインジケータのケース本体部のスピンドル案内部であり、
前記第2の部材はスピンドルに設けられたスピンドル案内軸である請求項1乃至7のうちいずれか1項記載の測定器。 - 前記測定器はマイクロメータであり、
前記第1の部材はスリーブであり、
前記第2の部材は前記スリーブに挿通するように設けられたスピンドルであり、
前記第1の摺動面は前記スリーブの内側に形成され、前記スピンドルのおねじに螺合するめねじの表面であり、
前記第2の摺動面は、前記スリーブのめねじに螺合する、前記スピンドルの前記おねじの表面である、請求項1乃至7のうちいずれか1項記載の測定器。 - 前記測定器はハイトゲージであり、
前記第1の部材は支柱であり、
前記第2の部材は前記支柱に沿って摺動するスライダである、請求項1乃至7のうちいずれか1項記載の測定器。 - 前記ハイトゲージは、前記支柱を立てたベースの底面に前記微細周期構造を更に有する、請求項12記載の測定器。
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- 2013-05-30 JP JP2013113826A patent/JP6144116B2/ja active Active
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