JP2014194350A - 孔の検査方法及び検査装置 - Google Patents
孔の検査方法及び検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014194350A JP2014194350A JP2013069971A JP2013069971A JP2014194350A JP 2014194350 A JP2014194350 A JP 2014194350A JP 2013069971 A JP2013069971 A JP 2013069971A JP 2013069971 A JP2013069971 A JP 2013069971A JP 2014194350 A JP2014194350 A JP 2014194350A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- hole
- inspected
- inspection object
- holes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【解決手段】中空の円筒形状を備えた被検査体Wにおいて、当該被検査体Wの周方向に並べて形成された複数の孔Hを検査する検査方法であって、照明部33から被検査体Wの内部に光を照射しながら、回転機構32によって被検査体Wの軸を中心に当該被検査体Wを回転させ、撮像部34において被検査体Wを撮像して、画像処理部35において被検査体Wの画像処理を行い、孔Hから出た光を検出して当該孔Hを検査する。この際、先ず、被検査体Wを低速回転させて、複数の孔Hのうち正常な一の孔Hを特定し、当該一の孔Hの位置を検査開始位置として決定し、その後、被検査体Wを高速回転させて、複数の孔Hのうち前記一の孔H以外の他の孔Hを検査する。
【選択図】図4
Description
L≧ωrt ・・・・(1)
但し、L:被検査体の撮像範囲、ω:被検査体の回転速度、r:被検査体の半径、t:被検査体の回転時間
L≧ωrt ・・・・(1)
但し、L:被検査体の撮像範囲、ω:被検査体の回転速度、r:被検査体の半径、t:被検査体の回転時間
L≧ωrt ・・・・(1)
但し、L:被検査体Wの撮像範囲、ω:被検査体Wの回転速度、r:被検査体Wの半径、t:被検査体Wの回転時間
L≧ω1rt1 ・・・・(2)
10 載置台
11 キャスタ
20 検査装置
21 搬入部
22 搬出部
30 ベースプレート
31 支持台
32 回転機構
33 照明部
34 撮像部
35 画像処理部
36 ブザー
37 パトライト(登録商標)
38 タッチパネル
39 制御部
H 孔
W 被検査体
W1 第1の歯車部
W2 第2の歯車部
W3 連結部
Claims (10)
- 中空の円筒形状を備えた被検査体において、当該被検査体の周方向に並べて形成された複数の孔を検査する検査方法であって、
被検査体の内部に光を照射しながら、被検査体の軸を中心に当該被検査体を回転させ、被検査体を撮像して当該被検査体の画像処理を行い、前記孔から出た光を検出して当該孔を検査するにあたり、
先ず、被検査体を低速回転させて、前記複数の孔のうち正常な一の孔を特定し、当該一の孔の位置を検査開始位置として決定し、
その後、被検査体を高速回転させて、前記複数の孔のうち前記一の孔以外の他の孔を検査することを特徴とする、孔の検査方法。 - 前記検査開始位置を決定する際、所定光量以上の光が所定回数検出された最初の孔を前記一の孔と特定することを特徴とする、請求項1に記載の孔の検査方法。
- 前記検査開始位置を決定する際、前記被検査体が撮像される撮像範囲は下記式(1)を満たすことを特徴とする、請求項1又は2に記載の孔の検査方法。
L≧ωrt ・・・・(1)
但し、L:被検査体の撮像範囲、ω:被検査体の回転速度、r:被検査体の半径、t:被検査体の回転時間 - 前記他の孔を検査する場合において、前記他の孔を移動させる際の被検査体の回転速度は、当該他の孔を撮像する際の被検査体の回転速度より速いことを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の検査方法。
- 被検査体は自動変速機用のギヤであることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の孔の検査方法。
- 中空の円筒形状を備えた被検査体において、当該被検査体の周方向に並べて形成された複数の孔を検査する検査装置であって、
被検査体の内部に光を照射する照明部と、
被検査体の軸を中心に当該被検査体を回転させる回転機構と、
被検査体を撮像する撮像部と、
前記撮像部で撮像された画像を処理し、前記孔から出た光を検出して当該孔を検査する画像処理部と、
先ず、被検査体の内部に光を照射しながら被検査体を低速回転させて、前記複数の孔のうち正常な一の孔を特定し、当該一の孔の位置を検査開始位置として決定し、その後、被検査体の内部に光を照射しながら被検査体を高速回転させて、前記複数の孔のうち前記一の孔以外の他の孔を検査するように、前記照明部、前記回転機構、前記撮像部及び前記画像処理部を制御する制御部と、を有することを特徴とする、孔の検査装置。 - 前記画像処理部は、前記検査開始位置を決定する際、所定光量以上の光が所定回数検出された最初の孔を前記一の孔と特定することを特徴とする、請求項6に記載の孔の検査装置。
- 前記検査開始位置を決定する際、前記撮像部によって被検査体が撮像される撮像範囲は、下記式(1)を満たすことを特徴とする、請求項6又は7に記載の孔の検査装置。
L≧ωrt ・・・・(1)
但し、L:被検査体の撮像範囲、ω:被検査体の回転速度、r:被検査体の半径、t:被検査体の回転時間 - 前記制御部は、前記他の孔を検査する場合において、前記他の孔を移動させる際の被検査体の回転速度が、当該他の孔を撮像する際の被検査体の回転速度より速くなるように前記回転機構を制御することを特徴とする、請求項6〜8のいずれかに記載の孔の検査装置。
- 被検査体は自動変速機用のギヤであることを特徴とする、請求項6〜9のいずれかに記載の孔の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013069971A JP6040082B2 (ja) | 2013-03-28 | 2013-03-28 | 孔の検査方法及び検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013069971A JP6040082B2 (ja) | 2013-03-28 | 2013-03-28 | 孔の検査方法及び検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014194350A true JP2014194350A (ja) | 2014-10-09 |
JP6040082B2 JP6040082B2 (ja) | 2016-12-07 |
Family
ID=51839695
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013069971A Active JP6040082B2 (ja) | 2013-03-28 | 2013-03-28 | 孔の検査方法及び検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6040082B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5290269B2 (ja) * | 2010-12-28 | 2013-09-18 | 株式会社エルクエスト | 錠剤供給装置および除包システム |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5119550A (en) * | 1974-08-07 | 1976-02-16 | Koyo Seiko Co | Sokosunhono jidosokuteikensasochi |
JPS5234761A (en) * | 1975-08-21 | 1977-03-16 | Babcock & Wilcox Ltd | Burner tip tester |
JPS6211141A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-20 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 異物検査装置 |
JPH0287441A (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-28 | Toshiba Seiki Kk | 物体の孔位置検出方法 |
JP2006267000A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Teijin Cordley Ltd | 孔内異物の検出方法及びその検出プログラム |
JP2010052255A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Mayekawa Mfg Co Ltd | 樹脂成型品のバリ検出装置 |
-
2013
- 2013-03-28 JP JP2013069971A patent/JP6040082B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5119550A (en) * | 1974-08-07 | 1976-02-16 | Koyo Seiko Co | Sokosunhono jidosokuteikensasochi |
JPS5234761A (en) * | 1975-08-21 | 1977-03-16 | Babcock & Wilcox Ltd | Burner tip tester |
JPS6211141A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-20 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 異物検査装置 |
JPH0287441A (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-28 | Toshiba Seiki Kk | 物体の孔位置検出方法 |
JP2006267000A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Teijin Cordley Ltd | 孔内異物の検出方法及びその検出プログラム |
JP2010052255A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Mayekawa Mfg Co Ltd | 樹脂成型品のバリ検出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6040082B2 (ja) | 2016-12-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107003207B (zh) | 用于测试齿轮的方法和设备 | |
JP2018159705A (ja) | 自動光学検査システム及びその操作方法 | |
EP2891879A1 (en) | Automated nital etch inspection system | |
JP2020038066A (ja) | 歯車の歯面の外観検査システム | |
JP6827060B2 (ja) | ガラスびんの検査装置 | |
CN110857923A (zh) | 在具有弯曲表面或圆柱形表面的工件中检测缺陷的方法 | |
JP2015163843A (ja) | 航空機用リベット検査装置 | |
KR20120069047A (ko) | 블라인드원단 검사시스템 및 검사방법 | |
JP2007071661A (ja) | 外観検査装置 | |
JP2008082900A (ja) | 外観検査装置 | |
JP2012173045A (ja) | 表面検査装置の評価装置及び表面検査装置の評価方法 | |
JP6040082B2 (ja) | 孔の検査方法及び検査装置 | |
JP6630912B1 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
JP6521227B2 (ja) | 部品検査装置 | |
JP2010112806A (ja) | 塗布分布測定方法 | |
JP6761377B2 (ja) | 異物検査装置及び方法 | |
JP2855851B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
JPH01165940A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
KR20160031812A (ko) | 엘이디 패키지의 엑스레이 검사 장치 | |
JP5415162B2 (ja) | 円筒体の表面検査装置 | |
KR20190070478A (ko) | 엔진 실린더 내부 자동 검사장치 | |
KR20140031687A (ko) | 기판 표면 검사 시스템 및 검사 방법 | |
JP2004125396A (ja) | 駆動伝達ベルトの検査方法 | |
JP5477227B2 (ja) | 管端開先加工部の検査方法及び装置 | |
JP7107008B2 (ja) | 検査装置および検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160128 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161019 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161025 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161107 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6040082 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |