CN107003207B - 用于测试齿轮的方法和设备 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于实施用于齿轮的光学测试方法的测试设备,其具有:第一相机(1),用于探测待测试的齿轮(5a)的第一类型的齿面的图像数据;位置传感器(6),其用于确定待测试的齿轮的转动位置;控制装置,其用于评估由所述位置传感器(6)确定的转动位置并且用于基于该转动位置操控所述相机(1);和第一照明装置,所述第一照明装置设立用于照亮待测试的齿轮(5a)的设置用于图像数据探测的区域。

Description

用于测试齿轮的方法和设备
技术领域
本发明涉及一种用于借助至少一种光学测试方法来测试齿轮的方法和设备。用于实施上述内容的光学测试方法和设备从现有技术中、尤其是从DE 10 2009 023 722 A1中已知。
背景技术
下面结合用于机动车的大型主传动器的锥齿轮和双曲线齿轮描述本发明,然而这不应理解为对本发明的限制。
用于这种类型的主转动器的齿轮在其使用之前在所谓的运行测试机上关于几何结构偏差、例如圆跳动进行测试,并且关于其它参数、例如齿面接触区的位置和大小进行测试。因此,在实际使用所述齿轮之前就应已经对相互接合的齿轮的运行特性和噪声特性进行了评估。
除了所提及的参数以外,运行特性和噪声特性还与其它影响因素有关。这些影响因素例如包括:齿面上的剥蚀或材料堆积,即通常为表面损伤;和齿面的精加工的方式和方法,即所谓的齿面的微观几何结构。
至今为止的光学测试方法通常基于色彩涂覆方法,其中,将测试色彩涂覆到其中至少一个齿轮上,并且在此尤其是涂覆到齿面上。此后,两个齿轮在运行测试机上相互接合并且被加载测试转矩。通过辊轧齿轮,将下述区域中的色彩涂覆去除,在所述区域中所述齿轮进行接触以传递运动。只要设定所述色彩去除的稳定状态,那么当齿轮处于稳定时,借助相机系统探测齿面的各个图像数据。通过相应的图像数据评估,能够自动化地评估齿面接触区位置和大小。
发明内容
本发明的任务在于,提供用于齿轮对、尤其是具有交叉的轴线的齿轮对的一种改进的测试方法,以及提供一种设备,在所述设备上可执行所述方法。
根据本发明,所述任务通过一种设备和一种方法来解决。
根据本发明,执行用于评估齿轮对的运行特性和噪声特性的两个不同的光学测试方法中的至少一个光学测试方法。在此,在待测试的齿轮以测试转速旋转期间,执行所述光学测试方法,但至少探测图像数据。在本发明的意义中,齿轮尤其是理解为用于形锁合地传递运动和功率的齿轮,优选为正齿轮、锥齿轮或双曲线齿轮、涡轮或螺旋齿轮和冠状齿轮。
为了能够实现特别精确的图像数据探测,设有至少一个位置传感器,所述位置传感器探测待测试的齿轮的转动位置,只要所述齿轮处于测试位置中,那么就操控所述相机,使得其探测所述齿轮的一个齿面的图像数据并且将其提供用于通过光学测试方法之一进行进一步处理。
进一步地,第一光学测试方法尤其是设置用于评估在待测试的齿面上、尤其是在所述齿面的表面上的损伤,并且第二光学测试方法尤其是设置用于评估齿面接触区的构造,或者评估在待测试的齿轮和另一齿轮之间的接触面的大小和位置,所述另一齿轮与待测试的齿轮接合。在此,被证实为有利的是,在执行第二光学测试方法之前将测试介质层、尤其是齿面接触区漆施加到齿轮的待测试的区域上。
更有利地规定,所述光学测试方法之一可至少部分地与另一测试方法同时执行,所述另一测试方法尤其是涉及测量齿轮几何结构。这种类型的另一测试方法尤其是可理解为圆跳动测试、单侧辊轧测试或其它的、尤其标准化的齿轮测量程序。
由于测试介质层在第二光学测试方法之前并且优选在两个光学测试方法之间涂覆,因此借助第一测试方法能够特别良好地评估齿面中的至少一个齿面的微观几何结构、尤其是评估其表面特性,而借助第二测试方法,尤其是可特别良好地评估齿面接触区位置和大小。进一步优选地,执行多个第一测试方法和/或多个第二测试方法。
在本发明的意义中,用于实施光学测试方法的测试设备可与齿轮测试机、尤其是具有交叉或平行的轴的齿轮测试机组合或可集成到其中。优选的是,这种类型的测试设备设置用于测试至少一个齿轮对,并且对此能够以可预设的转速驱动所述齿轮对,并且能以可预设的转矩进行加载。更优选的是,测试设备设立用于接收测量值,尤其使设立用于实施圆跳动测试和单侧辊轧测试,更优选的是,测试设备构成为运行测试机、尤其是用于锥齿轮或双曲线齿轮的运行测试机或者构成为用于测试正齿轮的测试机。
在本发明的意义中,测试位置可理解为待测试的齿轮的位置,在该位置中可由相机之一拍摄齿轮的设置用于检查的区域的图像数据。优选的是,测试位置可理解为一个特定的转动行程,在探测图像数据的相机的曝光时间期间待探测的齿轮经过转动行程。
在本发明的意义中,齿面可理解为齿轮的下述区域,所述区域能够直接由另一齿轮接触,以传递运动到该另一齿轮上。在本发明的意义中,第一类型的齿面可理解为齿轮的第一组齿面,所述第一组齿面关于其几何结构特性至少是类似的或相同的。优选的是,第一类型的齿面可理解为齿轮的所有的前齿面,而第二类型的齿面可理解为齿轮的所有的后齿面。更优选的是,第一类型的齿面可理解为推力齿面或拉力齿面,而第二类型的齿面可理解为拉力齿面或推力齿面,使得通过这两种类型的齿面尤其时探测齿轮的所有的齿面。
在本发明的意义中,图像数据探测可理解为对至少一个齿面的或至少一种类型的齿面的尤其是光学的成像的探测。更优选的是,所探测的图像数据可理解为待测试的齿轮的至少一个齿面的照片,并且优选为这种齿面的至少一个彩色图像,更优选的是多个齿面的并且特别优选的是所有的齿面的至少一个彩色图像。
更优选的是,这样探测图像数据,使得所述图像数据可间接或直接地存储在数据处理设备上并且可由所述数据处理设备处理,尤其是所述图像数据以至少一个数字图像的形式存在。优选的是,图像数据探测由此可理解为拍摄数字图像,优选拍摄数字彩色图像。
在本发明的意义中,第一测试方法可理解为基于所探测到的图像数据的方法,其中,对于第一测试方法,在将测试介质层涂覆到齿面上之前探测图像数据。
进一步地,在本发明的意义中,第二测试方法可理解为基于所探测到的图像数据的方法,其中,对于第二测试方法,在将测试介质层涂覆到齿面上之后探测图像数据。更优选的是,能够执行多个第一测试方法和/或多个第二测试方法。
优选的是,根据本发明的测试设备能够作为基于相机的测试系统集成到运行测试机中。优选的是,测试设备具有至少一个、但优选两个相机、尤其是数码相机。所述相机设置在具有优选至少一个保护盖的一个或多个保护壳体中。更优选的是,基于相机的测试系统具有照明装置。在此,保护壳体构成为,使得相机被保护免受污染和外部的机械影响。进一步地,照明装置设立为,借助所述照明装置可照亮设置用于图像数据探测的至少一个齿面。优选的是,照明装置具有照明装置壳体,以免受抵御外部影响,优选的是,照明装置连同至少一个所述相机设置在所述保护壳体中。优选的是,照明装置构成为频闪光源。优选地对此可理解为,照明装置间歇式地发射用于照亮设置用于图像数据探测的齿面的光束(第一工作模式),并且间歇式地不发射用于所述照亮的光束(第二工作模式)。
优选的是,测试设备具有多个照明装置,照明装置的数量优选对应于相机的数量,所述相机设置用于图像数据探测。优选的是,能够为多个照明装置设有一个光源,优选的是,每个照明装置具有自身的光源。更优选的是,照明装置的数量小于相机的数量。优选设有一个、优选两个,并且特别优选三个或更多个照明装置。
已证实的是,尤其是基于齿轮的表面性质,照明装置的特定的照明强度有助于特别有利的图像数据探测。优选的是,照明装置的照明强度从特定的范围中选择,所述范围优选大于200000勒克斯、更优选大于400000勒克斯、优选大于550000勒克斯,并且还优选小于1200000勒克斯、优选小于750000勒克斯并且优选小于650000勒克斯、并且非常特别优选的是,照明强度至少基本上为610000勒克斯。更优选的是,至少两个照明装置的照明强度是同样大的,并且优选的是,所有照明装置的照明强度是相同的。更优选的是,照明装置的照明强度是可控制的、优选是可变暗的。
进一步证实的是,当照明装置设置在距待测试的齿轮的设置用于图像数据探测的区域特定的间距范围中时,可有利地影响图像数据探测。优选的是,照明装置距该区域的间距大于10mm、更优选的是大于25mm、优选大于50mm、并且特别优选大于125mm,并且还优选小于750mm、优选小于500mm、优选小于300mm、并且特别优选小于250mm、并且非常特别优选至少基本上为200mm。更优选地证实的是,照明强度和照明装置的间距的组合特别有利地作用于所探测到的图像数据。
进一步地,光学测试系统设立为,使得借助所述相机之一可探测待测试的齿轮的推力侧的齿面(推力齿面)的图像数据,并且借助另一相机可探测待测试的齿轮的拉力侧的齿面(拉力齿面)。尤其是通过相机的这种划分能够实现特别有效地测试齿轮。
优选的是,在特定的曝光持续时间或曝光时间内探测图像数据,所述曝光持续时间或曝光时间选自下面描述的范围。在本发明的意义中,曝光持续时间/曝光时间可理解为下述时间段,在所述时间段中感光介质(例如CMOS或CCD传感器)为了记录图像、即为了探测图像数据而暴露于光中。已证实的是,在短暂的曝光持续时间中,所探测到的图像数据的质量是不足的,尤其是因为已知的光学相机不能够足够快地探测图像数据。进一步已证实的是,长的曝光持续时间同样引起所探测的图像数据的质量不足。研究已表明,曝光持续时间选自下述范围,所述范围优选大于2μs(微秒)、更优选大于25μs、并且优选大于70μs,并且还优选小于500μs、更优选小于250μs、优选小于120μs、并且更特别优选的是,曝光时间至少基本上为100μs。尤其在这种类型的曝光持续时间中能实现,以较短的时间探测具有足够质量的图像数据。优选规定的是,两个相机以选自用于曝光持续时间的该范围中的曝光持续时间进行工作,优选的是,所述相机以相同的曝光持续时间进行工作。
为了拍摄齿面的在质量方面足够好的图像,优选规定,所述相机中的至少一个相机、优选两个相机借助于所述至少一个位置传感器被操控,或者借助于所述位置传感器触发图像数据探测。在此,所述操控尤其是可理解为,相机探测齿轮的待测试区域的图像数据。位置传感器因此设立用于,探测齿轮中的至少一个齿轮的转动位置、优选待测试的齿轮的转动位置。转动位置的所述探测能够直接在所述齿轮之一上进行,或者间接地在轴上进行,所述轴直接或经由传动装置与所述齿轮之一连接。更优选的是,照明装置同样基于该所探测到的转动位置被操控。优选的是,照明装置根据待测试的齿轮的旋转频率或者说测试转速来发射光束,以照亮设置用于图像数据探测的区域。优选的是,曝光装置的操控能够间接地经由相机之一实现。
例如,在第一测试过程期间,在该第一测试过程中例如执行圆跳动测试,通过相机系统(第一和/或第二相机和至少一个照明装置)在没有涂覆测试介质层、即没有涂覆齿面接触区漆的情况下拍摄齿面(图像数据探测)。然后通过这种图像数据可特别良好地评估齿面的表面性质。所述图像数据尤其是用于测试:在齿面表面上是否存在损伤,例如用于评估齿面是否被磨合。齿面的这样的“误差”尤其是能够借助第一光学测试方法之一进行识别。
优选的是,在执行第一光学测试方法之后,或者在探测到用于其的图像数据之后,能够将测试介质层涂覆到待测试的齿轮上,尤其是以便探测用于第二光学测试方法之一的图像数据。
更优选地也能实现,探测用于第二光学测试方法的图像数据,而无需事先探测用于第一光学测试方法之一的图像数据。
在涂覆色彩之后,即尤其是在施加测试介质层之后,例如在单侧辊轧测试期间探测待测试的齿轮的齿面接触区。所述图像数据用于进行齿面接触区探测和评估或者用于测试:是否存在斑痕(Fresser)。尤其是可通过这种类型的测试过程可进一步提高效率。
借助于所建议的方法,既能够为齿面测试损伤和磨合的齿面,也能够尤其是通过将测试介质层涂覆到待测试的齿轮上来在齿面接触区构造方面进行测试。根据本发明,这能够在无需重新变换并且更优选地在没有由此引起测试过程中的中断的情况下实现。
根据本发明,保护壳体保护测试设备并且尤其是保护相机并且更优选地也保护照明装置。优选的是,这样保护测试设备,使得没有测试介质到达相机,并且优选也不到达照明装置。尤其是通过所述保护壳体可实现所述设备的特别高的维修自由度,进而可提高测试系统的效率。
优选的是,探测呈彩色图像的形式的图像数据。已证实的是,借助彩色图像能够实现对齿面表面的特别良好的误差识别。
所产生的图像数据的评估和处理在不同的测试方法中、尤其是在第一和第二测试方法中根据优选不同的算法自动地执行。
优选的是,为了识别误差,尤其是为了识别在齿冠的区域中的损失,并且优选为了识别在待测试的齿轮的齿冠边缘处的误差,执行下述第一测试方法:
1.借助于滤波器可突出对象细节,优选的是,可突出齿冠边缘(反锐化掩模);
2.将图像数据变换成灰度图像;
3.将色彩值或灰度值反转;
4.通过中值滤波减少噪声进而突出损伤部位;
5.借助于切分法通过适应性的阈值法来产生二进制图像;
6.将二进制图像还原到齿面的相应的待检查的区域、尤其是齿冠边缘的区域上;
7.并且再次滤波,以便在图像上仅还显示可能的损伤部位;
8.并且因而可在齿面的被检查的区域中识别损伤位置的面积。
从所拍摄的数据图像中可计算用于单个、多个单个的或所有的齿面的误差面积。在此,误差面积尤其是引起与可预设的平均值的色彩或灰度值的偏差。
因此能实现,优选计算累积的或优选单个误差面积,并且在超过用于单个误差或整个误差面积的阈值时,将其解释为所检查的齿面区域的损伤。在此,这种类型的阈值优选描述关于齿面的整个面积的相对面积或绝对面积大小。借助差分法也可根据误差面积评估误差的阈值。
下面描述一种测试方法,该测试方法适用于对未完全磨合的齿面上的误差,即适用于识别待测试的齿面的表面损伤。这样的测试方法能够用作为第一测试方法。
在此,所述测试方法基于,将磨合的齿面通过较亮的和反射光的表面表征,其能够通过相应的测试方法识别。对于这种误差的识别建议:
1.借助于滤波器突出齿面的对象细节(反锐化掩模);
2.将图像变换成灰度图像;
3.填充孔(由较亮像素包围的具有暗像素的区域);
4.通过中值滤波减少噪声;
5.借助于切分法通过适应性的阈值法来产生二进制图像;
6.将二进制图像还原到相应的待检查的区域(在该情况下为齿面);
7.将所找到的面积的小的异常值滤出;
8.并且因而识别重叠区域的面积。
在另一方法步骤中,能够将这样处理的图像数据与用于精加工的额定区域、尤其是与额定磨合区域比较。该比较尤其是能够以形成比率或形成差分的形式进行。最后,将比较结果与阈值进行比较,如果达到所述阈值或者低于所述阈值,那么将齿面定义为未磨合的。
借助所拍摄的图像数据也能够评估齿面的其它误差。在本发明的意义中,所谓的斑痕是通过在齿面的表面上的材料堆积和材料去除或材料凸起而引起的点状压痕。为了探测所述斑痕,建议另一光学测试方法,该测试方法同样基于图像数据,所述图像数据优选在涂覆测试介质层、尤其是齿面接触区漆之前、或者优选在在涂覆测试介质层、尤其是齿面接触区漆之后被探测到。对于该测试方法建议:
1.借助于滤波器突出齿面的对象细节(反锐化掩模);
2.将图像变换成灰度图像;
3.通过中值滤波减少噪声;
4.借助于切分法通过适应性的阈值法来产生二进制图像;
5.将二进制图像还原到相应的待检查的区域(在该情况下为齿面);
6.将小的异常值滤出;
7.并且因此确定损伤部位。
如果借助该测试方法确定的损伤部位的面积大于可预设的阈值,那么所述损伤部位可识别为在齿面上的斑痕。
至今为止的用于评估齿面接触区的光学测试方法,如其例如在DE 102009023722A1中建议的,基于下述内容:从所拍摄到的彩色图像-图像数据中产生灰度值图像,并且借助于已知的切分方法通过全局的阈值法生成二进制图像。所述二进制图像可用于评估和评价齿面接触区。
对于所述第二光学测试方法,即在将测试介质层施加到齿面上之后所应用的测试方法,尤其是为了获得齿面接触区的更高质量的二进制图像,建议应用具有齿面的有效轮廓的切分方法。在该第二光学测试方法中,对象轮廓、尤其是通过在优化方法中确定的或可预设的参数曲线来描述进而可更准确地限定齿面接触区的面积。
然后将这样产生的实际图像优选与额定标准进行比较,所述额定标准例如为最小齿面接触区大小、齿面接触区的特定的重心位置或其它几何结构方面的最小或最大延伸。尤其是通过这种比较能够推断出齿面接触区的可能的误差。
在一个优选的实施形式中,测试设备可应用于用于测试正齿轮(小齿轮/轮)的装置。这种装置为了承载正齿轮对而具有轴线平行的轴。优选的是,至少一个相机和至少一个照明装置为了探测用于所述光学测试方法中的至少一个光学测试方法而定向到待测试的正齿轮的一种类型的齿面上、例如小齿轮后齿面、小齿轮前齿面、轮后齿面、轮前齿面。优选地将多个相机并且更优选地将多个照明装置设置在所述装置上,优选的是,对于每个待测试类型的齿面,将至少一个相机和至少一个照明装置设置在所述装置上。优选的是,为了测试正齿轮,将两个相机和两个照明装置设置在所述装置上。
附图说明
在下面示出的附图中以部分示意性的方式和方法示出本发明的优选的实施形式和特征。
在附图中:
图1示出测试装置的透视图;
图2示出示例性的方法流程;
图3示出另一测试装置的透视图。
具体实施方式
在图1中示出作为冠状齿轮5a的待测试的齿轮对5,所述冠状齿轮可通过锥形小齿轮5b接触。借助运行测试机(未示出)对冠状齿轮5a的齿面进行测试,为此,所述运行测试机具有交叉的轴。为了探测齿面的图像数据,第一相机1和第二相机2设置在保护壳体3中。在该保护壳体3中也设置有照明装置4。
第一相机1设立用于探测齿面的推力侧的图像数据,第二相机2设立用于探测齿面的拉力侧的图像数据。
进一步地,测试设备具有至少一个非接触式的位置传感器6,用于探测冠状齿轮5a的转动位置。借助于由位置传感器6探测到的转动位置这样控制图像数据探测,使得当图像数据位于分别相同的位置中时,从不同的齿面探测图像数据。由相机1、2探测到的图像数据被传输到电子数据处理设备(未示出)上。进一步地,能够在所述数据处理设备上执行根据本发明的测试方法。
在图2中示例性地示出根据本发明的测试方法的流程。在此,在图2a中示出运行测试机关于时间的转速,在图2b中示出相机关于时间的活动性,在图2c中示出数据处理设备关于时间的评估活动。
首先,将待测试的齿轮对承载在运行测试机上并且定向。此后例如对齿轮对的圆跳动进行测试,为此,以第一测试转速n1驱动所述齿轮对。在此,齿面优选是有金属光泽的。进一步地,借助第一和第二相机对拉力齿面(Zugflanken)和推力齿面(Schubflanken)的图像数据进行探测1K。所述图像数据被输送给至少一个第一测试方法,在该第一测试方法中由此尤其是可特别良好地识别这样的误差,所述误差涉及齿面的精细几何形状/表面性质。
尤其是优选直接在探测之后对所探测到的图像数据进行评估1W。由此可实现,当所识别的齿面上的误差超过阈值时,在该处结束测试流程。进一步也能够实现,仅一部分所探测到的图像数据被评估或者在该时间点还不评估所述图像数据。
在继续测试方法之后,首先将测试介质层施加到齿面上,这优选在相对小的转速n2时发生,优选的是,该转速小于测试转速n1,以便由此尤其能够实现均匀的层涂覆。
在测试方法的进一步历程中,依次地通过图像数据探测和执行第二光学测试方法中的一个光学测试方法来检查拉力齿面2K以及推力齿面3K的齿面接触区(Tragbild)。为此,将齿轮对以测试转速n3驱动并且加载测试转矩。图像数据探测和评估2W、2K、3W、3K可同时借助另外的测试方法实施,例如借助单侧辊轧测试实施。
因此,根据本发明的测试方法可集成到“正常的”测试流程中,并且尽管改进了对齿轮的评估,但实际上不会产生时间方面的缺点。
在此,所示出的测试流程是示例性的。通过根据本发明的设备和根据本发明的方法能够实现,将各光学测试方法单独地并且独立地执行或者以相互组合的方式执行,在此优选的是,首先在没有涂覆测试介质层的情况下执行第一光学测试方法之一,并且在所述第一光学测试方法之后在涂覆测试介质层的情况下执行第二光学测试方法。
图3示出根据本发明的用于测试齿轮的设备的另一实施形式。所述设备包括具有照明装置4a的第一相机1和具有另一照明装置4b的第二相机2。第一照明装置4a以第一照明间距l1设置以照亮第一类型的齿面,第二照明装置以第二照明间距l2设置以照亮第二类型的齿面。第一相机因此设立用于探测待测试的齿轮5a的拉力侧的齿面的图像数据,而第二相机2设立用于探测推力侧的第二类型的齿面的图像数据。位置传感器6以无接触的方式探测待测试的齿轮5a的转动位置,并且当齿轮5a的设置用于图像数据探测的区域、即待测试的齿面处于测试位置中时,则操控相机1、2之一和与该相机相关联的照明装置4a、4b。
如果通过位置传感器6识别到所述测试位置,则照明装置置于其第一运行状态中并且照亮所述齿面,使得能够由相关联的相机探测图像数据。在探测到图像数据之后,照明装置再次置于其第二运行状态中。

Claims (31)

1.用于借助测试设备测试至少一个齿轮(5a、5b)的方法,其中,该测试设备包括:
第一相机(1),其用于探测待测试的齿轮(5a)的第一类型的齿面的图像数据;
位置传感器(6),其用于确定待测试的齿轮(5a)的转动位置;
控制装置,其用于评估由所述位置传感器(6)确定的转动位置并且用于基于所述转动位置操控所述第一相机(1);和
第一照明装置(4a),该第一照明装置设立用于照亮待测试的齿轮(5a)的设置用于图像数据探测的区域,
所述测试设备设立用于为齿轮(5a、5b)加载可预先确定的测试转矩并且设立用于以可预先确定的测试转速(n1、n3)驱动所述齿轮,并且所述测试设备具有用于执行光学测试方法的基于相机的测试装置,在所述测试装置中能探测和评估图像数据,
所述光学测试方法包括第一光学测试方法和第二光学测试方法,第一光学测试方法设置用于评估在待测试的齿面上的损伤,第二光学测试方法设置用于评估齿面接触区的构造,
所述用于借助测试设备测试至少一个齿轮的方法具有下述步骤:
-提供具有两个齿轮(5a、5b)的齿轮对(5);
-将所述齿轮(5a、5b)承载在所述测试设备上;
-以第一测试转速(n1)驱动所述齿轮(5a、5b);
-借助于位置传感器(6)探测待测试的齿轮(5a)的转动位置;
-评估所述转动位置,并且当待探测的齿轮(5a)处于测试转动位置中时,操控所述第一相机(1)以进行图像数据探测;
-借助于第一光学测试方法处理所探测到的图像数据以评估在待测试的齿面上的损伤;
-当识别到在待测试的齿面上存在损伤时结束测试流程;
-在执行第一光学测试方法之后并且当未识别到在待测试的齿面上存在损伤时,将测试介质层涂覆到至少一个第一类型的齿面上;
-针对第二光学测试方法,以第二测试转速(n3)驱动所述齿轮(5a、5b)并且对所述齿轮加载测试转矩,该测试转矩引起至少部分地去除在第一类型的齿面上的测试介质层,当已形成测试介质层的近似稳定的状态时,探测这种类型的齿面的图像数据以进行评估。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试介质层是齿面接触区漆。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试设备还包括:
第二相机(2),其用于探测第二类型的齿面的图像数据;和
第二照明装置(4b),该第二照明装置设立用于照亮待测试的齿轮(5a)的另一区域,使得该另一区域设置用于借助于第二相机(2)进行图像数据探测。
4.根据权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,
所述照明装置(4a、4b)具有第一运行状态和第二运行状态,
所述照明装置(4a、4b)在第一运行状态中发出用于照亮待测试的齿轮(5a)的设置用于图像数据探测的区域的光辐射,
所述照明装置(4a、4b)在第二运行状态中不发出这种光辐射,
在探测所述区域的图像数据之前将所述照明装置(4a、4b)置于所述第一运行状态中,
在探测所述区域的图像数据之后将所述照明装置(4a、4b)置于所述第二运行状态中。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,
在探测所述区域的图像数据之后立即将所述照明装置(4a、4b)置于所述第二运行状态中。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,
将所述测试介质涂覆到待测试的齿轮(5a)的两种类型的齿面的齿面上。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在第二光学测试方法的第一阶段中对所述齿轮加载正测试转矩,该正测试转矩引起至少部分地去除在第一类型的齿面上的测试介质层,当已形成测试介质层的近似稳定的状态时,探测这种类型的齿面的图像数据以进行评估,并且在所述第二光学测试方法的第二阶段中,对所述齿轮(5a、5b)加载负测试转矩,该负测试转矩引起至少部分地去除在第二类型的齿面上的测试介质层,当已形成所述测试介质层的近似稳定的状态时,探测该类型的齿面的另外的图像数据以进行评估。
8.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,
将所述测试介质涂覆到所述齿轮(5a)的所有的齿面上。
9.根据权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,
在第一光学测试方法的第一阶段中对所述齿轮加载第一正测试转矩,并且探测待测试的齿轮(5a)或两个齿轮(5a、5b)的至少一个前齿面的图像数据。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,
在第一光学测试方法的第二阶段期间以与所述第一测试转矩反向定向的第二测试转矩加载所述齿轮,并且在第一光学测试方法的第二阶段期间从待测试的齿轮(5a)或两个齿轮(5a、5b)的至少一个后齿面探测图像数据。
11.用于实施根据权利要求1至10之一所述的方法的测试设备,该测试设备包括:
第一相机(1),其用于探测待测试的齿轮(5a)的第一类型的齿面的图像数据;
位置传感器(6),其用于确定待测试的齿轮(5a)的转动位置;
控制装置,其用于评估由所述位置传感器(6)确定的转动位置并且用于基于所述转动位置操控所述第一相机(1);和
第一照明装置(4a),该第一照明装置设立用于照亮待测试的齿轮(5a)的设置用于图像数据探测的区域。
12.根据权利要求11所述的设备,其特征在于,所述测试设备还包括:
第二相机(2),其用于探测第二类型的齿面的图像数据;和
第二照明装置(4b),该第二照明装置设立用于照亮待测试的齿轮(5a)的另一区域,使得该另一区域设置用于借助于第二相机(2)进行图像数据探测。
13.根据权利要求12所述的测试设备,其特征在于,
所述照明装置(4a、4b)中的至少一个照明装置具有处于下述范围的照明强度,所述照明强度大于200000勒克斯并且还小于1000000勒克斯。
14.根据权利要求13所述的测试设备,其特征在于,
所述照明强度大于400000勒克斯并且还小于750000勒克斯。
15.根据权利要求13所述的测试设备,其特征在于,
所述照明强度大于550000勒克斯并且还小于650000勒克斯。
16.根据权利要求13所述的测试设备,其特征在于,
所述照明强度基本上等于610000勒克斯。
17.根据权利要求12至16之一所述的测试设备,其特征在于,
所述照明装置中的至少一个照明装置与待测试的齿轮上的用于被所述至少一个照明装置照亮的区域以一个照明间距间隔开地设置,所述照明间距选自下述范围:所述照明间距大于10mm并且还小于750mm。
18.根据权利要求17所述的测试设备,其特征在于,
所述照明间距大于25mm并且还小于500mm。
19.根据权利要求17所述的测试设备,其特征在于,
所述照明间距大于50mm并且还小于300mm。
20.根据权利要求17所述的测试设备,其特征在于,
所述照明间距大于125mm并且还小于250mm。
21.根据权利要求17所述的测试设备,其特征在于,
所述照明间距基本上为200mm。
22.根据权利要求12至16之一所述的测试设备,其特征在于,
所述位置传感器(6)根据非接触式测量方法工作。
23.根据权利要求22所述的测试设备,其特征在于,
所述位置传感器(6)根据电容式的测量方法工作。
24.根据权利要求22所述的测试设备,其特征在于,
所述位置传感器(6)根据光学的测量方法工作。
25.根据权利要求22所述的测试设备,其特征在于,
所述位置传感器(6)根据电感式的测量方法工作。
26.根据权利要求12至16之一所述的测试设备,其特征在于,
所述相机(1、2)中的至少一个相机针对曝光时间设立为,从下述范围中选择所述曝光时间:所述曝光时间大于2μs并且还小于500μs。
27.根据权利要求26所述的测试设备,其特征在于,
所述曝光时间大于25μs并且还小于250μs。
28.根据权利要求26所述的测试设备,其特征在于,
所述曝光时间大于70μs并且还小于120μs。
29.根据权利要求26所述的测试设备,其特征在于,
所述曝光时间基本上为100μs。
30.根据权利要求12至16之一所述的测试设备,其特征在于,
所述相机(1、2)中的至少一个相机或者两个相机借助于保护装置(3)相对于所述齿轮(5a、5b)受保护,并且
所述保护装置(3)至少部分地设置在所述齿轮(5a、5b)和一个或两个所述相机(1、2)之间。
31.根据权利要求12至16之一所述的测试设备,其特征在于,所述齿轮(5a、5b)能够被承载在两个彼此垂直设置的轴上,并且所述测试设备设立用于测试锥齿轮或双曲线齿轮。
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