JP2014184485A - レーザ溶接装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】レーザ溶接装置10は、被加工物87の突き合わせ界面86に沿ってレーザ光LBを照射するガルバノスキャナ33と、レーザ光LBの照射開始に先立ちレーザ光LBの照射位置と突き合わせ界面86との相対的な位置ずれを検出する位置ずれ検出手段60と、位置ずれが検出された場合にレーザ光LBの照射位置を補正する照射位置補正手段70とを有する。溶接加工位置Pに次々と供給される圧着端子87の突き合わせ界面86の位置のばらつきを許容して、全ての圧着端子87を高品質にレーザ溶接できる。
【選択図】図1
Description
突き合わせ界面を有する被加工物を溶接加工位置に供給し、当該被加工物の突き合わせ界面をレーザ照射により溶接するレーザ溶接装置であって、
前記レーザ光の照射開始に先立ち、前記レーザ光の照射位置と前記突き合わせ界面の位置との位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、
前記位置ずれが検出された場合に、前記レーザ光の照射位置を前記突き合わせ界面の位置に補正する照射位置補正手段と、
前記突き合わせ界面にレーザ光を照射するレーザ掃引照射手段と、を有することを特徴とする。
ここで、補正するとは、突き合わせ界面の位置とレーザ光の照射位置との間の距離Dを測定し、測定された距離が許容誤差(閾値)より大か小かを判定し、大であれば、レーザ光の照射位置と突き合わせ界面の位置との間に相対的な位置ずれが生じていると判断し、レーザ光の照射位置を突き合わせ界面の位置に移動させ、測定された距離が許容誤差より小となるようにすることを言う。
前記位置ずれ検出手段は、
前記被加工物を撮像するための撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された画像に基づいて前記位置ずれを検出するための画像処理手段と、
前記被加工物の像を前記撮像手段の受光部に導く位置ずれ観測用光学装置と、を有し、
前記位置ずれ観測用光学装置の光路の一部は、
前記レーザ光を前記突き合わせ界面に導くための光学装置の光路と同軸に配置されていることが望ましい。
この実施形態では、図8に例示する圧着端子80を製造するための装置構成について説明する。この圧着端子80は、図9に示すように、(a)帯状の金属板81をその長手方向(矢印Aの向き)に一定のピッチで順送しつつ、(b)キャリア部82と展開状態の端子素材83とを打ち抜き、(c)端子素材83を打ち抜き及び曲げ加工することにより箱状のコネクタ部84と筒状の圧着部85とを一体成型し、(d)圧着部85にできる板材両端の突き合わせ界面86及び先端封止部分の重ね合わせ部100をレーザ溶接により接合する、という一連の工程を経て製造される。ここで、突き合わせ界面とは、圧着部を構成する板材の曲げ方向における一方の端面と、もう一方の端面とを突き合わせて接触させた部分のことを言う。また、レーザ溶接は、重ね合わせ部100の長手方向の中間を端子幅方向に溶接するように行う。
図1は本発明のレーザ溶接装置の第1の実施形態を示すシステム構成図である。このレーザ溶接装置10は、被加工物である未溶接の圧着端子87を溶接加工位置に順次供給し、その圧着端子87の圧着部85の突き合わせ界面86をレーザ照射により溶接する装置である。圧着端子87は、図9(c)に示すように一定の間隔でキャリア部82に片持ち支持された連鎖端子88の形態で溶接加工位置Pに順次送り込まれて、レーザ照射による溶接加工が施される。
また、送りローラ41A、42Aの外周面には送り爪45が突設されているため、圧着端子87の搬送時に送り爪45がキャリア部82の送り孔89に係合する。これによって、送りローラ41A、42Aとキャリア部82との間の僅かな隙間に起因する圧着端子87の搬送量のずれを防止することができ、高精度な位置決めを行うことができる。
また、クランプ装置50の背面側にバックライト53を設けたので、このバックライト53からの光の照射により圧着端子87の輪郭がより明瞭となるため、より高精度な位置決めを行うことができる。
図4は本発明のレーザ溶接装置の第2の実施形態を示すシステム構成図である。以下、第1の実施形態と共通の構成要素については図中に同一符号を付し、説明を適宜省略する。第1の実施形態では、溶接加工位置Pの近傍に照明装置62を設け、照明装置62の照明光で圧着部85を直接照らすようにしているが、図4に示す第2の実施形態では、光路軸シフト光学装置31の誘電体多層膜平面ミラー31Aに臨ませて照明装置66が設けられ、照明装置66から出射された照明光が、レーザ照射光学装置30の光路軸を通って溶接加工位置Pに導かれるようになっている。すなわち、この例では、光路軸シフト光学装置31の両多層膜平面ミラー31A、31B間の光路37と、誘電体多層膜平面ミラー31Bからガルバノスキャナ32に至る光路35と、レーザ照射光学装置30の落射光路36とを、照明光の光路として利用している。照明光の光路としてレーザ光LBの落射光路36を利用することにより、レーザ光LBの照射位置において発生する飛散粒子や煙などの影響を受けない位置に照明装置66を配置することができる。また、確実に材料表面をむらなく照明でき、送り装置40やクランプ装置50との位置的干渉をさけることができる。
図5は本発明のレーザ溶接装置の第3の実施形態を示すシステム構成図である。第1の実施形態では、ガルバノスキャナ32を備え、レーザ光源20からのレーザ光LBをガルバノスキャナ32内の2つのミラー32X、32YでXY方向(水平方向)に振ることにより、圧着端子87の突き合わせ界面86に沿ってレーザ光LBを掃引する構成を採用しているが、図5に示す第3の実施形態では、レーザ加工ヘッド90を備え、そのレーザ加工ヘッド90自体をXY方向(水平方向)に移動させることにより、レーザ光LBを掃引する。レーザ加工ヘッド90内には、レーザ光源20からのレーザ光LBを下向きに直角に反射させて溶接加工位置Pに落射させる誘電体多層膜平面ミラー91と、誘電体多層膜平面ミラー91からのレーザ光LBを圧着端子87の突き合わせ界面86の位置に集光させる集光レンズ92とが設けられている。さらに、レーザ加工ヘッド90内には、撮像装置61と、結像レンズ65とが設けられている。撮像装置61及び結像レンズ65は、落射光路36と同軸に配置されており、溶接加工位置Pにある圧着端子87の圧着部85の像が集光レンズ92、誘電体多層膜平面ミラー91、結像レンズ65を順次経て、撮像装置61の受光部に結像される。
図6は本発明のレーザ溶接装置の第4の実施形態を示すシステム構成図である。第3の実施形態では、溶接加工位置Pの近傍に照明装置62を設け、照明装置62の照明光で圧着部85を直接照らすようにしているが、図6に示す第4の実施形態では、照明装置66が溶接加工位置Pから遠く離れたレーザ光源20の近傍に設けられている。レーザ光源20の近傍には、レーザ光源20から出力されたレーザ光LBを反射させてレーザ加工ヘッド90内の誘電体多層膜平面ミラー91に導く誘電体多層膜平面ミラー67が設けられている。照明装置66は両誘電体多層膜平面ミラー67、91と同軸に配置されている。そして、照明装置66から出射された照明光が、レーザ照射光学装置30の光路軸を通って溶接加工位置Pに導かれるようになっている。すなわち、この例では、レーザ照射光学装置30の両多層膜平面ミラー67、91間の光路38と、落射光路36とを、照明光の光路として利用している。照明光の光路としてレーザ光LBの落射光路36を利用することにより、レーザ光63の照射位置において発生する飛散粒子や煙などの影響を受けない位置に照明装置66を配置することができる。
本発明の構成は上記実施形態の構成に限定されるものではない。たとえば、ミラーやレンズの配置などは適宜変更可能である。また、上記の例では、レーザ光源20としてファイバレーザを使用した場合について説明したが、レーザ光源20はファイバレーザに限定されない。上記の例では、位置ずれ検出装置60が照明装置62、66を有しているが、溶接加工位置Pに供給された圧着端子87の圧着部85の像を誘電体多層膜平面ミラー31B、91を透過させて撮像装置61で受光できる十分な明るさが得られているならば、照明装置62、66は省略可能である。被加工物についても圧着端子に限るものではない。
なお、同軸観測系と組み合わせられるZ軸フォーカスシステムは、レーザ光源とガルバノスキャナもしくはレーザ加工ヘッドの間にあってもよい。具体的には、図1、4、7のレーザ光源20と誘電体多層膜平面ミラー31Aとの間、図5のレーザ光源20と誘電体多層膜平面ミラー91との間、図6のレーザ光源20と誘電体多層膜平面ミラー67との間に設置すればよい。
すなわち、本発明は金属板材相互の突合せ界面を有する被加工物全般のレーザ溶接装置に適用できる。
20 レーザ光源
30 レーザ照射光学装置
31 光路軸シフト光学装置
32 ガルバノスキャナ(レーザ掃引照射手段)
33 集光レンズ
36 落射光路
40 送り装置
50 クランプ装置(隙間解消装置)
60 位置ずれ検出装置
61 撮像装置
63 位置ずれ観測用光学装置
64 画像処理系
70 制御装置(照射位置補正手段)
80 圧着端子
85 圧着部
86 突き合わせ界面
87 圧着端子(被加工物)
LB レーザ光
P 溶接加工位置
Claims (2)
- 突き合わせ界面を有する被加工物を溶接加工位置に供給し、当該被加工物の突き合わせ界面をレーザ照射により溶接するレーザ溶接装置であって、
前記レーザ光の照射開始に先立ち、前記レーザ光の照射位置と前記突き合わせ界面の位置との位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、
前記位置ずれが検出された場合に、前記レーザ光の照射位置を前記突き合わせ界面の位置に補正する照射位置補正手段と、
前記突き合わせ界面にレーザ光を照射するレーザ掃引照射手段と、
を有するレーザ溶接装置。 - 前記位置ずれ検出手段は、
前記被加工物を撮像するための撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された画像に基づいて前記位置ずれを検出するための画像処理手段と、
前記被加工物の突き合わせ界面の像を前記撮像手段の受光部に導く位置ずれ観測用光学装置と、を有し、
前記位置ずれ観測用光学装置の少なくとも一部の光路は、
前記レーザ光を前記突き合わせ界面に導くための光学装置の光路と同軸に配置されている、請求項1記載のレーザ溶接装置。
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JP2004111058A (ja) * | 2002-09-13 | 2004-04-08 | Furukawa Electric Co Ltd:The | アルミ電線用端子及びコネクタ |
JP2005014027A (ja) * | 2003-06-24 | 2005-01-20 | Enshu Ltd | 溶接部のイメージ処理方法、溶接管理システム、溶接機のためのフィードバックシステム、突合わせ線検出システム |
WO2012025235A1 (de) * | 2010-08-26 | 2012-03-01 | Audi Ag | Verfahren und vorrichtung zum verbinden eines elektrischen leiters mit einem elektrischen kontaktteil |
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- 2014-02-24 JP JP2014033160A patent/JP5981472B2/ja active Active
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