JP2014179143A - 不揮発性半導体記憶装置、および不揮発性半導体記憶装置の書き込み制御方法 - Google Patents
不揮発性半導体記憶装置、および不揮発性半導体記憶装置の書き込み制御方法 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】データの再書き込みを含む書き込み動作及び読み出し動作を、少ないクロック数のアドレスやデータの入出力で可能とする不揮発性半導体記憶装置及びその書き込み制御方法を提供すること。
【解決手段】不揮発性メモリセルを有する第1〜第4メモリ領域11〜14を備える。第1メモリ領域11は、入力されるアドレスに応じて選択される。第3メモリ領域13は、第1メモリ領域11と同じロウアドレスで選択される。第2メモリ領域12は、第3メモリ領域13から読み出される指標データSに応じて第1メモリ領域11に代えて選択される。この時、第2メモリ領域12とロウアドレスが共通で同じ指標データSに応じて選択される第4メモリ領域14に格納される使用済みフラグFに基づいて、第2メモリ領域12が使用済みか否かが判断される。必要最小限の読み出し動作でデータの再書き込み動作及び再書き込みデータの読み出し動作を行うことができる。
【選択図】図1
【解決手段】不揮発性メモリセルを有する第1〜第4メモリ領域11〜14を備える。第1メモリ領域11は、入力されるアドレスに応じて選択される。第3メモリ領域13は、第1メモリ領域11と同じロウアドレスで選択される。第2メモリ領域12は、第3メモリ領域13から読み出される指標データSに応じて第1メモリ領域11に代えて選択される。この時、第2メモリ領域12とロウアドレスが共通で同じ指標データSに応じて選択される第4メモリ領域14に格納される使用済みフラグFに基づいて、第2メモリ領域12が使用済みか否かが判断される。必要最小限の読み出し動作でデータの再書き込み動作及び再書き込みデータの読み出し動作を行うことができる。
【選択図】図1
Description
本願に開示の技術は、不揮発性半導体記憶装置へのデータの書き込みに関し、特に、データの再書き込みに対応する技術に関する。
フローティングゲートへの電荷の有無によりメモリセルへのデータの記憶を行うものがある。いわゆるフラッシュメモリに代表される不揮発性メモリである。この場合、メモリセルへのデータの記憶は、消去動作と書き込み動作とにより行われることが一般的である。消去動作では、メモリセルアレイの全体、あるいはセクタなどに分割された分割メモリセルアレイを選択して、選択された領域にある全てのメモリセルのフローティングゲートから電荷を引き抜く。消去動作によりメモリセルに記憶されるデータは、例えば“1”となる。一方、書き込み動作では、アドレスにより選択された対象メモリセルに対してプログラム動作を行う。すなわち、対象メモリセルが備えるフローティングゲートに対して電荷の注入を行う。書き込み動作によりメモリセルに記憶されるデータは、例えば“0”となる。
フラッシュメモリに代表される不揮発性メモリに対する再書き込みを検討する。メモリセルごとに可能な再書き込みは、書き込み動作で行われる“0”書き込みに限定される。“1”書き込みについては、消去動作により対象となるメモリセルを含む所定の領域にある全てのメモリセルを一括して“1”にした後、対象外のメモリセルで消去動作前に“0”を保持していたメモリセルについて個別に書き込み動作を行い“0”を書き込むといった複雑な制御が必要となる。事前にデータを読み出し、読み出したデータを保持し、消去動作を行い、読み出したデータのうち“0”を保持していたメモリセルに対して個別に書き込み動作を行う、といった多段階の複雑な制御を経たうえでないと実現することはできない。大規模な制御回路や多大な制御時間を要することとなる。
従来より、こうしたフラッシュメモリの特性を考慮した書き込み動作に関する技術が開示されている。例えば、特許文献1では、メモリ領域として複数のブロックを有する非揮発性メモリへのデータの書き込みに関する技術が開示されている。書き込み命令が発せられると、データをレジスタに書き込むとともにアドレスがデコードされて論理書き込み目的アドレスが取得される。レジスタには、初期状態において複数のブロックのうちいずれか一つのブロックに関するマッピングコントロールフィールド(MCF)表が格納されている。このMCF表を参照して、論理書き込み目的アドレスに対応したMCF値の一部内容を実体書き込みアドレスとする。この実体書き込みアドレスが示すブロック内のメモリでのデータの有無を判断する。データが存在すると判断されれば、このメモリには更に書き込むことはできないので、次のブロックを置換ブロックとして選択する。選択された置換ブロックに対応する新たなMCF表を参照して、置換ブロックのデータの有無が判断される。こうした処理を複数のブロックに対して順次行い、データを書き込むことができるブロックを見出してデータの書き込みが完了する。
しかしながら、特許文献1に例示される従来の技術では、データの書き込み先として、入力されるアドレスがデコードされて論理書き込み目的アドレスは確定するものの、論理書き込み目的アドレスに対応する実体書き込みアドレスを特定するために多大な時間を要してしまい問題である。ここで、データの書き込みが可能な特定のブロック内のメモリのアドレスが実体書き込みアドレスである。すなわち、論理書き込み目的アドレスに対応する各ブロック内のメモリに対して書き込みが可能であるか否かを、複数のブロックを順次選択してデータを読み出しながら確認しなければならない。最終的には全てのブロックに対してブロックごとに読み出し動作を含む確認を行う必要があり、実体書き込みアドレスの確定に多大な時間が必要となる。
また、特許文献1には、論理書き込み目的アドレスと書き込みが行われた実体書き込みアドレスとの対応付けに関しては何ら開示はない。このため、データの読み出し時においても、書き込み時と同様のシーケンスにより読み出しデータが格納されているブロックを特定することが必要となる。読み出し時おいても、入力されたデータに対応して実際にデータが格納されているブロック内のメモリを示す実体書き込みアドレスを特定するまでに多大な時間を要することとなる。
また、フラッシュメモリに代表される不揮発性メモリでは、書き込み動作および読み出し動作を少ないクロック数で実行することが好ましい。特許文献1の技術では、入力されたアドレスに対応する実体書き込みアドレスを特定するために、複数のブロックに対して順次読み出し動作を繰り返しながら書き込み可能なブロックを特定していくことが必要であり、到底、少ないクロック数での動作を行うことはできない。
本願に開示される技術は、上記の課題に鑑み提案されたものであって、データの再書き込みを含めた書き込み動作および読み出し動作を、少ないクロック数の外部とのアドレスやデータの入出力で可能とする不揮発性半導体記憶装置および不揮発性半導体記憶装置の書き込み制御方法を提供することを目的とする。
本願に開示される技術に係る不揮発性半導体記憶装置は、不揮発性メモリセルを有する通常メモリ部、第1制御メモリ部、および再書き込みメモリ部を備えている。通常メモリ部は、入力されるアドレスに応じて選択される。第1制御メモリ部は、通常メモリ部に対応づけて設けられ、通常メモリ部を選択するアドレスに応じて選択される。再書き込みメモリ部は、第1制御メモリ部から読み出される指標データに応じて、通常メモリ部に代えて選択される。
また、本願に開示される技術に係る不揮発性半導体記憶装置の書き込み制御方法は、書き込み時に、アドレスにより選択される通常メモリ部と共に選択される第1制御メモリ部から、指標データを読み出し、読みだされた指標データに応じて、通常メモリ部または通常メモリ部を代替する再書き込みメモリ部の何れかを指定する。指定の際は、通常メモリ部を指標する場合と、再書き込みメモリ部を指標する場合とで、各々異なる処理を有している。
通常メモリ部を指標する場合、アドレスに対応する通常メモリ部への書き込みが可能な場合には、その通常メモリ部へデータを書き込む。不可能な場合には、再書き込みメモリ部が未だ未使用であるか既に書き込みが行われて使用済みであるかを示す使用済みフラグを順次読み出して、未使用を示すフラグに対応する再書き込みメモリ部を選択し、選択された再書き込みメモリ部にデータを書き込み、書き込みが行われた再書き込みメモリ部に対応する使用済みフラグを使用済みを示すフラグに書き換え、およびアドレスに対応する第1制御メモリ部の指標データを書き込みが行われた再書き込みメモリ部を指標するデータに書き換える。
再書き込みメモリ部を指標する場合、指標データにより指標された再書き込みメモリ部への書き込みが可能な場合には、その再書き込みメモリ部へデータを書き込む。不可能な場合には、書き込み不可能を報知する。
通常メモリ部を指標する場合、アドレスに対応する通常メモリ部への書き込みが可能な場合には、その通常メモリ部へデータを書き込む。不可能な場合には、再書き込みメモリ部が未だ未使用であるか既に書き込みが行われて使用済みであるかを示す使用済みフラグを順次読み出して、未使用を示すフラグに対応する再書き込みメモリ部を選択し、選択された再書き込みメモリ部にデータを書き込み、書き込みが行われた再書き込みメモリ部に対応する使用済みフラグを使用済みを示すフラグに書き換え、およびアドレスに対応する第1制御メモリ部の指標データを書き込みが行われた再書き込みメモリ部を指標するデータに書き換える。
再書き込みメモリ部を指標する場合、指標データにより指標された再書き込みメモリ部への書き込みが可能な場合には、その再書き込みメモリ部へデータを書き込む。不可能な場合には、書き込み不可能を報知する。
本願に開示される技術に係る不揮発性半導体記憶装置および不揮発性半導体記憶装置の書き込み制御方法によれば、メモリ部への読み出し動作を必要最小限に留めて、データの再書き込み動作、および再書き込みされたデータの読み出し動作を行うことができる。
図1に示すメモリセルアレイ1は、本願の実施形態に係る不揮発性メモリのメモリセルアレイの論理的な一部配置を模式的に示すものである。データが格納される不揮発性メモリセルを有する領域は第1メモリ領域11および第2メモリ領域12である。第1メモリ領域11は、通常のデータ書き込みが行われる領域であり、最初の書き込みはこの領域に配置されているメモリセルに対して行われる。一般的な不揮発性メモリが備える通常のメモリセルアレイに対応する。第2メモリ領域12は、再書き込みの際に第1メモリ領域11に代えてデータが書き込まれる領域である。この領域にあるメモリセルは、第1メモリ領域11に配置されているメモリセル群への書き込みが不可能であると判断された場合に、第1メモリ領域11のメモリセル群に代えて選択されるメモリセル群が配置されている。第1メモリ領域11の再書き込み用の領域である。
第1、第2メモリ領域11、12のコラム方向のメモリセルの並びは両者で共通である。ともに1回のアクセス動作でデータの入出力が行われる入出力(I/O)端子に対応してメモリセル群が配置されている。yビットのビット幅を有するI/O端子IO0〜IO(y−1)(不図示)の各々に選択的に接続されるyビットのメモリセルである。
第1、第2メモリ領域11、12のロウ方向のメモリセルの並びは両者で異なっている。第1メモリ領域11のロウ方向は、アドレス入力により選択されるx本のワード線WL0〜WL(x−1)の各々により選択されるメモリセルが配置されている。ワード線の選択により、I/O端子IO0〜IO(y−1)に入出力されるデータが格納されるアクセス対象のメモリセル群が選択される。第1メモリ領域11は、x×yのメモリセルがマトリクス状に配置されるメモリセルアレイである。
一方、第2メモリ領域12のロウ方向は、後述する指標データSにより指標される(2のn乗―1)(=m)本の拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)の各々により選択されるメモリセル群が配置されている。拡張ワード線により、I/O端子IO0〜IO(y−1)に入出力されるデータが格納されるアクセス対象のメモリセル群が選択される。第2メモリ領域12は、m×yのメモリセルがマトリクス状に配置されるメモリセルアレイである。ここで、拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)は、指標データSに応じて識別されるワード線であり、外部から入力されるアドレスは割り当てられておらず外部から直接にアクセスすることはできない。
メモリセルアレイ1には、データ格納領域である第1、第2メモリ領域11、12の他に、再書き込み動作および再書き込みされたデータの読み出し動作の制御用に備えられる第3、第4メモリ領域13、14が備えられている。第3メモリ領域13は、再書き込み動作において、第1メモリ領域11へのデータの書き込みが不可能である場合にデータの書き込み先として第2メモリ領域12を選択する指標データSを格納する領域である。第4メモリ領域14は、第2メモリ領域12が「未使用」であるか既に書き込みが行われて「使用済み」であるかを示す使用済みフラグFを格納する領域である。
第3メモリ領域13のロウ方向は、第1メモリ領域11と共通である。ワード線WL0〜WL(x−1)で共通に識別される。第3メモリ領域13のコラム方向はnビットのビット幅を有し、nビットの指標データSが格納されている。nビットの指標データSは、‘0’値から昇べきに順次、拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)を指標して割り当てられ、更に、指標データSの‘1’値は、指標データSが読み出された第3メモリ領域13のワード線を指標して割り当てられる。
ここで、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリに備えられるメモリセルにおいて、データ‘1’値とは、フローティングゲートへの電荷の未注入の状態であり、データの書き込みが行われていない初期状態にあることを示す。したがって、指標データSが‘1’値であるとは、第3メモリ領域13の対応するメモリセル群への書き込みが未だ行われていない状態であり、第1メモリ領域11のメモリセル群を指標することと整合する。
指標データSは、拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)で識別される第2メモリ領域12のメモリセル群と、指標データSが読み出された第3メモリ領域13に対応する第1メモル領域11のメモリセル群との、(m+1)(=2のn乗)の何れかのメモリセル群を指標する。第3メモリ領域13は、x×nのメモリセルがマトリクス状に配置されるメモリセルアレイである。
第4メモリ領域14のロウ方向は、第2メモリ領域12と共通である。拡張ワード線eWL0〜eWL(x−1)で共通に識別される。第4メモリ領域14のコラム方向は、メモリセルアレイ1では、第3メモリ領域13と共通である。nビットのビット幅を有する。nビットの使用済みフラグFが格納されており、第4メモリ領域14に対応する第2メモリ領域12が「未使用」であるかに既にデータが書き込まれて「使用済み」であるか未だデータが書き込まれておらず「未使用」であるかの別を示すフラグである。使用済みフラグFは、対応する第2メモリ領域12のメモリセル群が「使用済み」であるか「未使用」であるかの2状態の何れかを識別すればよく、少なくとも1ビットを備えれば足りる。第4メモリ領域14では、第2メモリ領域12ごとにnビットのビット幅を備える構成である。第4メモリ領域14は、m×nのメモリセルがマトリクス状に配置されるメモリセルアレイである。
ここで、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリに備えられるメモリセルを前提とすれば、使用済みフラグFにおいて、「未使用」を示すフラグは‘1’値を、「使用済み」を示すフラグは‘0’とすることが、指標データSの場合と同様に整合的である。すなわち、書き込みが行われておらずメモリセルのフローティングゲートへの電荷が未注入の状態である‘1’値を「未使用」の状態とし、電荷が注入され書き込みが行われた状態である‘0’値を「使用済み」の状態とする。第2メモリ領域12への書き込みが行われると同時に同じ拡張ワード線でアクセスされる第4メモリ領域14に対して使用済みフラグFの書き換えを行うことが効率よく書き込みを行う上で好都合である。このため、「未使用」のフラグを‘1’としておき「使用済み」の場合に‘0’を書き込むことが好都合である。
次に、メモリセルアレイ1に対する書き込み動作の動作フロー(図2)、および読み出し動作の動作フロー(図3)を説明する。図2に示す書き込み動作の動作フローは、第2メモリ領域12に書き込みが行われる再書き込み動作を含む書き込み動作の動作フローである。また、図3に示す読み出し動作の動作フローは、第2メモリ領域12に書き込まれた再書き込みデータの読み出しを含む読み出し動作の動作フローである。これらの動作フローは、不揮発性メモリに搭載されている不図示の制御部により実行される。
まず、図2を参照して書き込み動作の動作フローについて説明する。書き込み動作の開始に伴いアドレスが入力される(S11)。入力されたアドレスはデコードされ、ワード線WL0〜WL(x−1)のうちの何れかのワード線が選択される。ワード線の選択により、対応する第1メモリ領域11のメモリセル群からデータが読み出されると共に、対応する第3メモリ領域13から指標データSが読み出される(S13)。読み出された指標データSが‘1’値を示し、第2メモリ領域12が未だ「未使用」であると判断されれば(S15:Y)、書き込み対象のメモリセル群はアドレスにより選択される第1メモリ領域11にある。第1メモリ領域11のメモリセル群に格納されているデータ値と入力されるデータ値とを比較し、書き込みが可能か否かの判断をする(S17)。また、読み出された指標データSが‘1’ではなく拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)(m=2のn乗―1)の何れかのワード線を指標する場合には(S15:N)、既に指標される拡張ワード線により選択される第2メモリ領域12のメモリセル群が使用されていることを示している。この場合には、ステップ(S21)に移行して、指標されている第2メモリ領域12のメモリセル群への書き込み処理に移行する。
ここで、フラッシュメモリ等を構成する不揮発性メモリセルでは、電荷の注入である書き込み動作はデータ‘0’値を書き込む動作であるが、この動作はセルごとに行うことができる。これに対して、電荷の放出である消去動作はデータ‘1’値を書き込む動作であるが、この動作はセクタ単位など複数のメモリセルに対して一括して行うものでありメモリセル単位で行うことはできない。
したがって、ステップ(S17)において、‘0’値から‘1’値にデータ値が変更されるビットがなければ書き込みは可能と判断され(S17:Y)、第1メモリ領域11の対応するメモリセル群に対して書き込みが実行される(S19)。これは、一般的な書き込み動作である。一方、‘0’値から‘1’値にデータ値が変更されるビットがあれば、書き込みは不可能と判断される(S17:N)。この場合は、ステップ(S25)に移行して、第2メモリ領域12のメモリセル群のうち未使用のメモリセル群を選択して書き込みを行う処理に移行する。
ステップ(S21)では、指標データSが指標している拡張ワード線に対応する第2メモリ領域12のメモリセル群について書き込みが可能か否かの判断を行う。前述したように、‘0’値から‘1’値への変更をメモリセル単位で行うことができないので、書き換えデータの中に‘0’値から‘1’値への変更を要求するビットがあれば(S21:N)、書き込みは不可能であることを報知して(S39)処理を終了する。
書き換えデータの中に‘0’値から‘1’値への変更を要求するビットがなければ(S21:Y)、第2メモリ領域12の対応するメモリセル群への書き込みを実行して(S23)処理を終了する。
ステップ(S25)以降では、第2メモリ領域12内の「未使用」のメモリセル群の有無を検索する。ステップ(S25)において、拡張ワード線を指標するカウンタを初期化する(i=0)。カウンタ値(i)で指標される拡張ワード線に対応する第4メモリ領域14に格納されている使用済みフラグFが「使用済み」(=‘1’)であるか否かを判断する(S27)。使用済みフラグFが‘1’であり「未使用」を示せば(S27:Y)、カウンタ値(i)で指標される拡張ワード線に対応する第2メモリ領域12のメモリセル群に対してデータの書き込みを行う(S29)。合わせて、選択された第4メモリ領域14に対応する第2メモリ領域12に格納されている使用済みフラグFを‘0’に書き換え「使用済み」とする(S31)。更に、アドレス入力により選択された第3メモリ領域13に格納されている指標データSにカウンタ値(i)を書き込む(S33)。その後、処理を終了する。
カウンタ値(i)に対応する第4メモリ領域14の使用済みフラグFが‘0’であり「使用済み」であれば(S27:N)、カウンタ値(i)インクリメントし(i=i+1)(S35)、インクリメントされたカウント値(i)が最大値(2のn乗−1)に満たないうちは(S37:N)、ステップ(S27)に戻って書き込み可能な第2メモリ領域12の検索と書き込み動作を継続する。インクリメントされたカウント値(i)が最大値(2のn乗−1)に等しくなれば(s37:Y)、これ以上の第2メモリ領域12はないので、書き込みは不可能であることを報知して(S39)処理を終了する。
次に、図3を参照して読み出し動作の動作フローについて説明する。読み出し動作の開始に伴いアドレスが入力される(S51)。入力されたアドレスはデコードされ、ワード線WL0〜WL(x−1)のうちの何れかのワード線が選択される。ワード線の選択により、対応する第1メモリ領域11のメモリセル群からデータが読み出されると共に、対応する第3メモリ領域13から指標データSが読み出される(S53)。読み出された指標データSが‘1’値を示し、未だ第2メモリ領域12が「未使用」であることを示せば(S55:Y)、読み出し対象のメモリセル群はアドレスにより選択された第1メモリ領域11にある。第1メモリ領域11のメモリセル群に格納されているデータを読み出し(S57)処理は終了する。また、読み出された指標データSが‘1’ではなく拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)(m=2のn乗―1)の何れかを指標する場合には(S55:N)、指標される拡張ワード線により選択される第2メモリ領域12のメモリセル群を選択し(S59)、そこからデータを読み出して(S61)処理を終了する。
図4〜図12は、実施形態のメモリセルアレイ1に具体的な数値をあてはめ、実施形態における書き込み動作/読み出し動作を具体的に示した図である。
メモリセルアレイ1(図1)において、x=4、y=16、n=2、m=(2の2乗−1)=3とし多場合の例である。ここで、指標データSおよび使用済みフラグFはともに2ビットであるところ、下位ビットをS0,上位ビットをS1とする。また、データは4桁の16進数表記で示す。
図4は、初期状態である。左側の表は、メモリセルアレイに格納されているデータの状態を示し、右側の表はワード線WL0〜WL3ごとに読み出した際の読み出しデータを示す。以下では、アドレスを指定してデータを書き込んだ場合の各メモリセルに格納されているデータの変化を示す。初期状態では、全てのメモリセルは未書き込みの状態、すなわち、データ‘1’にセットされているものとする。
図5は、初期状態(図4)に対して、ワード線WL3にデータ0x0000を書き込んだ場合を示す。第1メモリ領域11のワード線WL3で選択されるメモリセル群がデータ0x0000に書き換えられる。この段階で読み出し動作が行われると、全て第1メモリ領域11からデータが読みだされる。
図6は、図5の状態に対して、ワード線WL1にデータ0xEEEEを書き込んだ場合を示す。ワード線WL1により選択される第1メモリ領域11のメモリセル群が書き換えられる。この段階で読み出し動作が行われると、全て第1メモリ領域11からデータが読みだされる。図7は、図6の状態に対して、ワード線WL2にデータ0x0F0Fを書き込んだ場合を示す。ワード線WL2により選択される第1メモリ領域11のメモリセル群が書き換えられる。この段階で読み出し動作が行われると、全て第1メモリ領域11からデータが読みだされる。
図8は、図7の状態に対して、ワード線WL3にデータ0xFFFEを書き込んだ場合を示す。ワード線WL3はすでにデータ0x0000が書き込まれており、‘0’を‘1’に書き換える書き込み動作は困難である。そのため、第2メモリ領域12のメモリセル群に書き込む。この段階では、第2メモリ領域12は何れも未使用であるため、第2メモリ領域12のうち最も下位に対応する拡張ワード線eWL00が使用される。第2メモリ領域12の拡張ワード線eWL00に対応するメモリセル群に対してデータ0xFFFEが書き込まれる。そして、拡張ワード線eWL00により選択される第4メモリ領域14のメモリセル群に格納されている使用済みフラグFを「使用済み」に書き換える((S1、S0)=(0,0))。さらに、アドレス入力により選択されたワード線WL3により選択される第3メモリ領域13のメモリセル群に指標データS(S1、S0)=(0,0))を書き込む。これにより、拡張ワード線eWL00が指標される。この段階で読み出し動作が行われると、アドレス入力によるワード線WL3の選択について第2メモリ領域12の拡張ワード線eWL00が選択され、ワード線WL3に対応するデータが再書き込みにより更新されることとなる。
図9は、図8の状態に対して、ワード線WL0にデータ0x5555を書き込んだ場合を示す。ワード線WL0のデータが書き換えられる。図10は、図9の状態に対して、ワード線WL3にデータ0xEEEEを書き込んだ場合を示す。ワード線WL3はすでに拡張ワード線eWL00により選択される第2メモリ領域12のメモリセル群に書き込みがなされているため、まずはこのメモリセル群への書き込みが可能か否かが判断される。この場合は、‘1’から‘0’への書き換えのみを含むため書き換えは可能である。これにより、拡張ワード線eWL00により選択される第2メモリ領域12の内容が書き換えられる。
図11は、図10の状態に対して、ワード線WL1にデータ0x0FEFを書き込んだ場合を示す。ワード線WL1はすでにデータ0xEEEEが書き込まれている。データ0x0FEFへの書き換えは‘0’を‘1’に書き換える書き込み動作を含むため書き込みはできないと判断される。そのため、第2メモリ領域12において拡張アドレスをインクリメントして、未使用の領域を検索する。拡張ワード線eWL01により選択されるメモリセル群が未使用であることが判別され、ここにデータ0x0FEFが書き込まれる。同時に、拡張ワード線eWL01により選択される第4メモリ領域14に格納されている使用済みフラグFを書き換える((S1、S0)=(0、0))。さらに、アドレス入力により選択されたワード線WL1により選択される第3メモリ領域13のメモリセル群に指標データS(S1、S0)=(0,1))を書き込む。これにより、拡張ワード線eWL01が指標される。この段階で読み出し動作が行われると、アドレス入力によるワード線WL1、WL3の選択について、それぞれ、第2メモリ領域12の拡張ワード線eWL01、eWL00 が選択され、ワード線WL1、WL3に対応するデータが再書き込みにより更新されることとなる。
図12は、図11の状態に対して、ワード線WL2にデータ0xAAAAを書き込んだ場合を示す。ワード線WL2はすでにデータ0x0F0Fが書き込まれている。データ0x0F0F をデータ0xAAAAに書き換えるには‘0’から‘1’への書き換えを含むので、書き込み動作はできない。そのため、第2メモリ領域12において拡張アドレスをインクリメントして、未使用の領域を検索する。拡張ワード線eWL00、eWL01までは使用済みであり、次にインクリメントされた拡張ワード線eWL10により選択されるメモリセル群が未使用であることが判別される。ここにデータ0xAAAAが書き込まれる。同時に、第4メモリ領域14に格納されている使用済みフラグFを((S1、S0)=(0、0))に書き換え、ワード線WL2により選択される第3メモリ領域13のメモリセル群に指標データSとして(S1、S0)=(1,0))を書き込むことは、図11の場合と同様である。これにより、拡張ワード線eWL10が指標され、読み出し動作が行われると、アドレス入力によるワード線WL1〜WL3の各々の選択について、それぞれ、第2メモリ領域12の拡張ワード線eWL01、eWL10、eWL00が選択され、ワード線WL1〜WL3に対応するデータが再書き込みにより更新されることとなる。
ここで、本願に係る実施形態の別例を示す。第1の別例は、拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)により選択される第2、第4メモリ領域12、14に対応して第1、第2レジスタ(不図示)を備える構成である。第1レジスタは第2メモリ領域12と同じ記憶領域を備えており、第2レジスタは第4メモリ領域14と同じ記憶領域を備えている。第1、第2レジスタは、不揮発性メモリにおいて各種の論理回路を構成する一般的なMOSトランジスタで形成されるものである。
不揮発性メモリの起動時に、第2、第4メモリ領域12、14の内容が、それぞれ、第1、第2レジスタにロードされる。不揮発性メモリの稼働中は、第2、第4メモリ領域12、14への書き換えに応じて第1、第2レジスタの内容も書き換えられ、第2、第4メモリ領域12、14の内容と第1、第2レジスタの内容とは一致した状態に維持される。これにより、読み出し動作において、第2、第4メモリ領域12、14にアクセスすべきところを第1、第2レジスタからの読み出しで代替することができる。
書き込み動作において、第1メモリ領域11への書き込みが不可能であると判断され第1メモリ領域11に代えて第2メモリ領域12に書き込みを行う場合、使用できる第2メモリ領域12を拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)ごとに検索する必要がある。この場合に、拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)ごとに第4メモリ領域14に格納されている使用済みフラグFを検索することは、都度、メモリセル群への追加の読み出し動作に当たり、多大な時間を要してしまう恐れがある。第1の別例では、第2レジスタに使用済みフラグFが記憶されているので、第2レジスタから使用済みフラグFを読み出せばよく、メモリセルアレイに対する追加の読み出し動作が発生することないため、順次の検索を迅速に行うことができる。書き込み動作を少ないクロック数で実行することができる。
また、読み出し動作において、アドレス入力に伴い選択された第3メモリ領域13の指標データSが第2メモリ領域12を指標している場合、追加の読み出し動作を対応する第2メモリ領域12のメモリセル群に対して行わなければならず、データの読み出しに多大な時間を要してしまう恐れがある。第1の別例では、第1レジスタに再書き込みされたデータが記憶されているので、第1レジスタからデータを読み出せばよく追加の読み出し動作を行うことがないため、遅延なくデータを読み出すことができる。読み出し動作を少ないクロック数で実行することができる。
また、読み出し動作において、アドレス入力に伴い選択された第3メモリ領域13の指標データSが第2メモリ領域12を指標している場合、追加の読み出し動作を対応する第2メモリ領域12のメモリセル群に対して行わなければならず、データの読み出しに多大な時間を要してしまう恐れがある。第1の別例では、第1レジスタに再書き込みされたデータが記憶されているので、第1レジスタからデータを読み出せばよく追加の読み出し動作を行うことがないため、遅延なくデータを読み出すことができる。読み出し動作を少ないクロック数で実行することができる。
第2の別例は、ワード線に対して拡張ワード線の割り当てを変更するものである。実施形態では、ワード線WL0〜WL(x−1)で識別される第1メモリ領域11のxのメモリセル群を、拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)で識別される第2メモリ領域12のm(2のn乗―1)のメモリセル群で置き換える構成を示している。この場合、拡張ワード線eWL0〜eWL(m−1)を識別するために、第3メモリ領域13のコラム方向にnビットのビット幅を確保しnビットの指標データSを格納する領域を確保している。
この構成において、x、nの数値を選べば種々の書き換えの構成を実現することができる。たとえば、xの数値を小さくして書き換え対象の単位である第1メモリ領域11のメモリセル群の数を小さくする場合を考える。この場合、書き換え対象の第1メモリ領域11のメモリセル群の数の減少に応じて第2メモリ領域12のメモリセル群の数を減らしても書き換え可能な割合を一定に保つことができる。これにより、第3メモリ領域13に確保される指標データSのビット幅nを小さくすることができ、第3メモリ領域13のメモリセルアレイのサイズを圧縮することができる。また、指標データSのビット幅nを一定に保てば、書き換え対象の第1メモリ領域11のメモリセル群の数に対して第2メモリ領域12のメモリセル群の数を多く確保することができる。これにより、書きかけ可能な回数を増大させることができる。
ここで、第1メモリ領域11は通常メモリ部の一例であり、第2メモリ領域12は第1制御メモリ部の一例であり、第3メモリ領域13は再書き込みメモリ部の一例であり、第4メモリ領域14はフラグメモリ部の一例である。また、制御部は再書き込み制御部の一例である。
以上、詳細に説明したように、本願に開示される技術に係る実施形態によれば、外部からのアドレス入力に対して選択されデータが格納される第1メモリ領域11に加えて、再書き込みの際に第1メモリ領域11に代えてデータが書き込まれる第2メモリ領域12、再書き込み動作において、第1メモリ領域11へのデータの書き込みが不可能である場合にデータの書き込み先として第2メモリ領域12を選択する指標データSを格納する第3メモリ領域13、および第2メモリ領域12が「未使用」であるか既に書き込みが行われて「使用済み」であるかを示す使用済みフラグFを格納する第4メモリ領域14を備えている。第3メモリ領域13に格納されている指標データSにより、対応する第1メモリ領域11か第1メモリ領域11に代えてデータが書き込まれている第2メモリ領域12かの何れか一方が指標される。これにより、当初は第1メモリ領域11にデータを書き込み、第1メモリ領域11の書き換えが不可能となったら第2メモリ領域12に代えてデータの再書き込みを行うことができる。アドレス入力に応じた最初のアクセスで再書き込みの場合も含めたデータの書き込み先が指標されるので、追加の読み出し動作を行うことなく再書き込みも含めたデータの書き込み動作を最小クロック数で実行することができる。
第1メモリ領域11へのデータの書き込みが不可能であると判断された場合には、第2メモリ領域12の書き込み先を特定することになるところ、第2メモリ領域12を読み出すと同時にアクセスされる第4メモリ領域14に格納されている使用済みフラグFにより、対応する第2メモリ領域12が未使用であるか否かが判別できる。使用済みフラグFが「未使用」を示すフラグである第2メモリ領域12のメモリセル群を書き換えの対象として選択することができる。
また、読み出し動作においても、アドレス入力により読み出される第3メモリ領域13に格納されている指標データSにより、データの格納先が指標されるので、再書き込み先も含めて必要最小限の追加の読み出し動作によりデータの読み出しを行うことができる。
書き込み動作および読み出し動作において、第1、第2メモリ領域11、12の何れのメモリセル群にアクセスすべきかは、第3メモリ領域13の指標データSにより指標されているため、メモリセル群へのアクセス先を直ちに特定することができ、迅速なアクセス動作を実現することができる。メモリ部への読み出し動作を必要最小限に留めて、データの再書き込み動作、および再書き込みされたデータの読み出し動作を行うことができる。書き込み動作および読み出し動作を少ないクロック数で実行することができる。
また、第1の別例によれば、第2、第4メモリ領域12、14と同じ記憶領域を備えて、それぞれ、第1、第2レジスタ(不図示)を備えておき、起動時に、第2、第4メモリ領域12、14の内容が、それぞれ、第1、第2レジスタにロードされる。稼働中は、第2、第4メモリ領域12、14への書き換えに応じて、同じデータが、それぞれ、第1、第2レジスタにも書き込まれ、両者は内容が一致した状態に維持される。これにより、読み出し動作において、第2、第4メモリ領域12、14へのアクセスに代えて第1、第2レジスタからの読み出しにより、迅速な読み出しを行うことができる。
また、書き込み動作において、第1メモリ領域11への書き込みが不可能であると判断され第1メモリ領域11に代えて第2メモリ領域12に書き込みを行う場合に、使用済みフラグFは、第4メモリ領域14から読み出すことに代えて、第2レジスタから読み出すことができる。メモリセルアレイに対する追加の読み出し動作が発生することないため、順次の検索を迅速に行うことができ、書き込み動作を少ないクロック数で実行することができる。
また、読み出し動作において、データが第1メモリ領域11から第2メモリ領域12に書き換えられている場合、追加の読み出し動作で第2メモリ領域12をアクセスすることなく、第1レジスタからデータを読み出すことができる。追加の読み出し動作を行うことなく遅延なくデータを読み出すことができる。読み出し動作を少ないクロック数で実行することができる。
また、書き込み動作において、第1メモリ領域11への書き込みが不可能であると判断され第1メモリ領域11に代えて第2メモリ領域12に書き込みを行う場合に、使用済みフラグFは、第4メモリ領域14から読み出すことに代えて、第2レジスタから読み出すことができる。メモリセルアレイに対する追加の読み出し動作が発生することないため、順次の検索を迅速に行うことができ、書き込み動作を少ないクロック数で実行することができる。
また、読み出し動作において、データが第1メモリ領域11から第2メモリ領域12に書き換えられている場合、追加の読み出し動作で第2メモリ領域12をアクセスすることなく、第1レジスタからデータを読み出すことができる。追加の読み出し動作を行うことなく遅延なくデータを読み出すことができる。読み出し動作を少ないクロック数で実行することができる。
尚、本願に開示される技術は前記実施形態に限定されるものではなく、趣旨を逸脱しない範囲内での種々の改良、変更が可能であることは言うまでもない。
例えば、実施形態では、第1の別例に示す第1、第2レジスタを備えないため、書き込み動作において、第4メモリ領域14に格納されている使用済みフラグFの検索に読み出し動作が繰り返される場合があり、読み出し動作において、第2メモリ領域12にデータが書き込まれている場合には追加の読み出し動作が必要になることが考えられる。しかしながら、本願はこれに限定されるものではない。書き込み動作において、第4メモリ領域14からの使用済みフラグFの読み出しを、全ての拡張ワード線に対して一斉に行う構成とすれば、追加の読み出し動作に係る時間を圧縮することができる。
また、第4メモリ領域14の全ての拡張ワード線に対して行う使用済みフラグFの読み出しを、第1メモリ領域からのデータの読み出しと同時に行えば、追加の読み出し動作に係る新たな時間は要しない。
また、読み出し動作において、第2メモリ領域11からのデータの読み出しを、第1メモリ領域からのデータの読み出しと同時に、全ての拡張ワード線に対して一斉に行う構成としてやれば、追加の読み出し動作に係る新たな時間は要しない。
また、実施形態においては、第4メモリ領域14は、コラム方向において第3メモリ領域13と同じnビットのビット幅を有しており、第4メモリ領域14に格納されている使用済みフラグFはnビットである場合について説明した。しかしながら、本願はこれに限定されるものではない。使用済みフラグFは、対応する第2メモリ領域12のメモリセル群が「未使用」か「使用済み」かの2状態の何れであるかを示すフラグであり、少なくとも1ビットを備えればよい。使用済みフラグFは、1〜nビットの間で構成することができる。
例えば、実施形態では、第1の別例に示す第1、第2レジスタを備えないため、書き込み動作において、第4メモリ領域14に格納されている使用済みフラグFの検索に読み出し動作が繰り返される場合があり、読み出し動作において、第2メモリ領域12にデータが書き込まれている場合には追加の読み出し動作が必要になることが考えられる。しかしながら、本願はこれに限定されるものではない。書き込み動作において、第4メモリ領域14からの使用済みフラグFの読み出しを、全ての拡張ワード線に対して一斉に行う構成とすれば、追加の読み出し動作に係る時間を圧縮することができる。
また、第4メモリ領域14の全ての拡張ワード線に対して行う使用済みフラグFの読み出しを、第1メモリ領域からのデータの読み出しと同時に行えば、追加の読み出し動作に係る新たな時間は要しない。
また、読み出し動作において、第2メモリ領域11からのデータの読み出しを、第1メモリ領域からのデータの読み出しと同時に、全ての拡張ワード線に対して一斉に行う構成としてやれば、追加の読み出し動作に係る新たな時間は要しない。
また、実施形態においては、第4メモリ領域14は、コラム方向において第3メモリ領域13と同じnビットのビット幅を有しており、第4メモリ領域14に格納されている使用済みフラグFはnビットである場合について説明した。しかしながら、本願はこれに限定されるものではない。使用済みフラグFは、対応する第2メモリ領域12のメモリセル群が「未使用」か「使用済み」かの2状態の何れであるかを示すフラグであり、少なくとも1ビットを備えればよい。使用済みフラグFは、1〜nビットの間で構成することができる。
1 メモリセルアレイ
11 第1メモリ領域
12 第2メモリ領域
13 第3メモリ領域
14 第4メモリ領域
eWL0〜eWL(m−1) 拡張ワード線
IO0〜IO(y−1) I/O端子
WL0〜WL(x−1) ワード線
F 使用済みフラグ
S 指標データ
11 第1メモリ領域
12 第2メモリ領域
13 第3メモリ領域
14 第4メモリ領域
eWL0〜eWL(m−1) 拡張ワード線
IO0〜IO(y−1) I/O端子
WL0〜WL(x−1) ワード線
F 使用済みフラグ
S 指標データ
Claims (6)
- 入力されるアドレスに応じて選択される不揮発性メモリセルを有する通常メモリ部と、
前記通常メモリ部に対応づけて設けられ、前記アドレスに応じて選択される不揮発性メモリセルを有する第1制御メモリ部と、
前記第1制御メモリ部から読み出される指標データに応じて、前記通常メモリ部に代えて選択される不揮発性メモリセルを有する再書き込みメモリ部とを備えることを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 前記再書き込みメモリ部に対応づけて設けられ、該再書き込みメモリ部が未使用であるか使用済みであるかを示す使用済みフラグを格納する不揮発性メモリセルを有するフラグメモリ部を備えることを特徴とする請求項1に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記再書き込みメモリ部を(2のn乗−1)(nは自然数)備え、
前記第1制御メモリ部に格納されている前記指標データはnビットのビット幅であり、
前記指標データは、前記第1制御メモリ部ごとに、データの格納先が前記通常メモリ部あるいは(2のn乗−1)の前記再書き込みメモリ部の何れであるかを識別することを特徴とする請求項1または2に記載の不揮発性半導体記憶装置。 - 再書き込み動作を制御する再書き込み制御部を備え、
前記再書き込み制御部は、
入力される前記アドレスに対応する前記第1制御メモリ部から前記指標データを読み出し、
読みだされた前記指標データが前記通常メモリ部を指標している場合には、
前記アドレスに対応する前記通常メモリ部への書き込みが可能な場合に、該通常メモリ部へデータを書き込み、
前記アドレスに対応する前記通常メモリ部への書き込みが不可能な場合に、前記使用済みフラグを順次読み出して未使用を示すフラグに対応する前記再書き込みメモリ部を選択し、
選択された前記再書き込みメモリ部にデータを書き込み、
書き込みが行われた該再書き込みメモリ部に対応する前記フラグメモリ部に格納されている前記使用済みフラグを使用済みを示すフラグに書き換え、
前記アドレスに対応する前記第1制御メモリ部の前記指標データを選択された前記再書き込みメモリ部を指標するデータに書き換え、
読みだされた前記指標データが前記再書き込みメモリ部を指標している場合には、
前記指標データにより指標された前記再書き込みメモリ部への書き込みが可能な場合に、該再書き込みメモリ部へデータを書き込み、
前記指標データにより指標された前記再書き込みメモリ部への書き込みが不可能な場合に、書き込み不可能を報知することを特徴とする請求項2または3に記載の不揮発性半導体記憶装置。 - 前記再書き込みメモリ部と同じデータ格納領域を有する第1レジスタと、
前記フラグメモリ部と同じデータ格納領域を有する第2レジスタとを備え、
前記第1および第2レジスタは、起動時、前記再書き込みメモリ部および前記フラグメモリ部からデータが各々転送され、書き込み動作時、前記再書き込みメモリ部および前記フラグメモリ部への書き込みに同期して同じデータが各々にコピーされ、
読み出し動作時、読み出された前記第1制御メモリ部の前記指標データに応じて、読み出しデータとして、前記通常メモリ部から読み出されたデータまたは前記第1レジスタに格納されているデータの何れか一方を選択するセレクタを備えることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の不揮発性半導体記憶装置。 - 書き込み時に、アドレスにより選択される通常メモリ部と共に選択される第1制御メモリ部から、指標データを読み出し、
読みだされた前記指標データに応じて、前記通常メモリ部または前記通常メモリ部を代替する再書き込みメモリ部の何れかを指標し、
前記通常メモリ部を指標する場合に、
前記アドレスに対応する前記通常メモリ部への書き込みが可能な場合に、該通常メモリ部へデータを書き込み、
前記アドレスに対応する前記通常メモリ部への書き込みが不可能な場合に、前記再書き込みメモリ部が未だ未使用であるか既に書き込みが行われて使用済みであるかを示す使用済みフラグを順次読み出して、未使用を示すフラグに対応する前記再書き込みメモリ部を選択し、
選択された前記再書き込みメモリ部にデータを書き込み、
書き込みが行われた該再書き込みメモリ部に対応する前記使用済みフラグを使用済みを示すフラグに書き換え、
前記アドレスに対応する前記第1制御メモリ部の前記指標データを書き込みが行われた前記再書き込みメモリ部を指標するデータに書き換え、
前記再書き込みメモリ部を指標する場合に、
前記指標データにより指標された前記再書き込みメモリ部への書き込みが可能な場合に、該再書き込みメモリ部へデータを書き込み、
前記指標データにより指標された前記再書き込みメモリ部への書き込みが不可能な場合に、書き込み不可能を報知することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置の書き込み制御方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013052669A JP2014179143A (ja) | 2013-03-15 | 2013-03-15 | 不揮発性半導体記憶装置、および不揮発性半導体記憶装置の書き込み制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2013052669A JP2014179143A (ja) | 2013-03-15 | 2013-03-15 | 不揮発性半導体記憶装置、および不揮発性半導体記憶装置の書き込み制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2014179143A true JP2014179143A (ja) | 2014-09-25 |
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ID=51698926
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2013052669A Pending JP2014179143A (ja) | 2013-03-15 | 2013-03-15 | 不揮発性半導体記憶装置、および不揮発性半導体記憶装置の書き込み制御方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2014179143A (ja) |
-
2013
- 2013-03-15 JP JP2013052669A patent/JP2014179143A/ja active Pending
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