JP2014169965A - マーカ、対象物識別装置、および対象物識別方法 - Google Patents
マーカ、対象物識別装置、および対象物識別方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014169965A JP2014169965A JP2013042857A JP2013042857A JP2014169965A JP 2014169965 A JP2014169965 A JP 2014169965A JP 2013042857 A JP2013042857 A JP 2013042857A JP 2013042857 A JP2013042857 A JP 2013042857A JP 2014169965 A JP2014169965 A JP 2014169965A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image data
- polarized light
- marker
- imaging
- polarization
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Input (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】複数の対象物3の表面にそれぞれ設けられる各マーカ1は、複数の偏光生成領域1a,1bを有する。複数の偏光生成領域の各々は、無偏光が入射してきた場合に無偏光から右回りの第1円偏光の反射光を生成する第1の偏光生成領域1a、または、無偏光が入射してきた場合に無偏光から左回りの第2円偏光の反射光を生成する第2の偏光生成領域1bである。マーカ1における偏光生成領域の種類、または、マーカ1における複数の偏光生成領域の配列パターンを特定することにより、複数のマーカ1を互いに識別する。
【選択図】図1
Description
しかし、幾何学的模様を、100m以上の距離から、60度以上の視野で撮像した場合には、100万画素程度のカメラを用いても、0.5m程度の幾何学的模様では、画像において、幾何学的模様の縦または横の寸法が、5画素程度以下になってしまう。その結果、幾何学的模様を認識できなくなる。従って、幾何学的模様に基づいて、対象物の位置や方向を検出できなくなる。
複数の偏光生成領域を有し、
複数の偏光生成領域の各々は、第1または第2の偏光生成領域であり、
第1の偏光生成領域は、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から右回りの第1円偏光の反射光を生成し、
第2の偏光生成領域は、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から左回りの第2円偏光の反射光を生成する、ことを特徴とするマーカが提供される。
前記マーカは、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から右回りの第1円偏光の反射光を生成する第1の偏光生成領域と、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から左回りの第2円偏光の反射光を生成する第2の偏光生成領域との少なくとも一方を有し、
マーカを含む撮像範囲を撮像するための撮像装置と、
撮像装置により得た前記撮像範囲の画像データに基づいて、前記撮像範囲内のマーカを、他のマーカから識別する画像処理装置と、を備え、
撮像装置は、光学部と、第1撮像部と、第2撮像部とを有し、
光学部は、前記撮像範囲から進行してきた光のうち、第1円偏光の成分を選択的に第1撮像部に入射させ、第2円偏光の成分を選択的に第2撮像部に入射させ、
第1撮像部は、該第1撮像部への入射光に基づいて、前記撮像範囲の第1画像データを生成し、
第2撮像部は、該第2撮像部への入射光に基づいて、前記撮像範囲の第2画像データを生成し、
画像処理装置は、
(A)第1画像データの各画素について、該画素の輝度を値Aとし、前記撮像範囲において該画素と同じ位置に相当する第2画像データの画素の輝度を値Bとし、値Aと値Bを独立変数とした関数の値f(A,B)を求め、
(B)第1および第2の偏光生成領域が互いに異なる種類の偏光生成領域であるとして、各画素の前記値f(A,B)に基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている偏光生成領域の種類、または、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている複数の偏光生成領域の配列パターンを特定し、
(C)特定した種類または配列パターンに基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内のマーカを他のマーカから識別する、ことを特徴とする対象物識別装置が提供される。
(B1)第1画像データまたは第2画像データの各画素について、前記値f(A,B)に補正値Kを乗じた値f(A,B)×K、または、前記値f(A,B)が、第1しきい値よりも大きいかどうかを判断し、当該判断が肯定である場合には、当該画素が、第1の偏光生成領域に相当すると判断し、
(B2)第1画像データまたは第2画像データの各画素について、前記値f(A,B)に補正値Kを乗じた値f(A,B)×K、または、前記値f(A,B)が、第1しきい値よりも小さい値の第2しきい値よりも小さいかどうかを判断し、当該判断が肯定である場合には、当該画素が、第2の偏光生成領域に相当すると判断し、
(B3)前記(B1)および(B2)の判断に基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている偏光生成領域の種類、または、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている複数の偏光生成領域の配列パターンを特定する。
前記マーカは、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から右回りの第1円偏光の反射光を生成する第1の偏光生成領域と、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から左回りの第2円偏光の反射光を生成する第2の偏光生成領域との少なくとも一方を有するものであり、
マーカを含む撮像範囲を撮像するための撮像装置と、撮像装置により得た前記撮像範囲の画像データに基づいて前記撮像範囲内のマーカを他のマーカから識別する画像処理装置と、を用意し、撮像装置は、光学部と、第1撮像部と、第2撮像部とを有し、
光学部により、前記撮像範囲から進行してきた光のうち、第1円偏光の成分を選択的に第1撮像部に入射させ、第2円偏光の成分を選択的に第2撮像部に入射させ、
第1撮像部により、該第1撮像部への入射光に基づいて、前記撮像範囲の第1画像データを生成し、第2撮像部により、該第2撮像部への入射光に基づいて、前記撮像範囲の第2画像データを生成し、
画像処理装置により、
(A)第1画像データの各画素について、該画素の輝度を値Aとし、前記撮像範囲において該画素と同じ位置に相当する第2画像データの画素の輝度を値Bとし、値Aと値Bを独立変数とした関数の値f(A,B)を求め、
(B)第1および第2の偏光生成領域が互いに異なる種類の偏光生成領域であるとして、各画素の前記値f(A,B)に基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている偏光生成領域の種類、または、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている複数の偏光生成領域の配列パターンを特定し、
(C)特定した種類または配列パターンに基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内のマーカを他のマーカから識別する、ことを特徴とする対象物識別方法が提供される。
撮像範囲からの光のうち、第1円偏光の成分を選択的に第1撮像部に入射させ、第2円偏光の成分を選択的に第2撮像部に入射させることにより、第1撮像部が、第1画像データを生成し、第2撮像部が、第2画像データを生成する。その後、下記(A)〜(C)の処理を行う。
(A)第1画像データの各画素について、該画素の輝度をAとし、前記領域において該画素と同じ位置に相当する第2画像データの画素の輝度をBとし、値Aと値Bを独立変数とした関数の値f(A,B)を求める。
(B)第1および第2の偏光生成領域が互いに異なる種類の偏光生成領域であるとして、各画素の前記値f(A,B)に基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている偏光生成領域の種類、または、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている複数の偏光生成領域の配列パターンを特定する。
(C)特定した種類または配列パターンに基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内のマーカを他のマーカから識別する。
このようにして、マーカを他のマーカから識別できる。
1.マーカ
2.対象物識別装置
3.対象物識別方法
4.変更例
1.1.マーカの構成
図1は、本発明の実施形態によるマーカ1の構成を示す。マーカ1は、対象物3の表面に設けられる。図1(A)は、マーカ1が設けられた対象物3の斜視図であり、図1(B)は、図1(A)のB−B線断面図である。
乱反射部9の代わりに、直線偏光部7bからの直線偏光を乱反射させずに、反射する反射部を設けてもよい。この場合、反射部は、直線偏光部7bからの直線偏光を反射し、この反射光は、直線偏光部7bとλ/4波長板7aを再び通過することにより、上述のように円偏光になる。
また、乱反射部9は、対象物3に取り付けられるもの(例えばフィルム)であってもよいし、対象物3に予め設けられているもの(例えば対象物3の表面)であってもよい。この場合、マーカ1(円偏光部7)が、対象物3の乱反射部9に取り付けられる。
上述した構成を有する複数のマーカ1を、それぞれ、複数の対象物3に設ける。これらのマーカ1は、同じ数の偏光生成領域を有している。各マーカ1が有する偏光生成領域の数は、図1の例、および、図1に対応する後述の図2の例では、2つである。代わりに、各マーカ1が有する偏光生成領域1a,1bの数は、1つであってもよいし、3つ以上であってもよい。好ましくは、同じ寸法または形状の1つまたは複数の偏光生成領域が、各マーカ1に設けられている。より好ましくは、同じ寸法と形状の1つまたは複数の偏光生成領域が、各マーカ1に設けられている。
(1)各対象物3は、ロボットや車両などの移動体である。この場合、後述する本発明の実施形態による対象物識別装置10または対象物識別方法により、複数の移動体を互いに識別できる。
(2)各対象物3は、ロボットや車両などの移動体が自己位置を認識するための指標である。この場合、既知の複数箇所にある複数の対象物3に、それぞれマーカ1を設けておき、移動体に設けた対象物識別装置10により、当該マーカ1を識別し、適宜の手段により、識別したマーカ1の位置と当該移動体との位置関係を認識し、認識した位置関係を用いて、当該移動体の位置を取得する。
(3)複数の対象物3は、それぞれ、搬送ライン(例えばベルトコンベア)により搬送されてくる複数種類の物体である。この場合、後述する本発明の実施形態による対象物識別装置10または対象物識別方法により、物体に設けられたマーカ1を識別し、ロボットハンドが、当該物品を把持して当該識別の結果に応じた位置へ移動させる。
図2は、本発明の実施形態による対象物識別装置10の構成を示す。対象物識別装置10は、複数の対象物3にそれぞれ設けられた上述の複数のマーカ1に基づいて、これらの対象物3を互いに識別することができる。
撮像装置11は、複数のマーカ1のうち少なくとも1つのマーカ1を含む撮像範囲を撮像する。撮像装置11は、光学部15と,第1撮像部17と、第2撮像部19とを有する。
マーカ1における第1の偏光生成領域1aからの反射光が光学部15に入射する場合には、次のようになる。第1の偏光生成領域1aからの反射光である第1円偏光は、λ/4波長板15aと偏光ビームスプリッタ15bにより、第1の直線偏光になって、第1撮像部17に入射する。一方、λ/4波長板15aと偏光ビームスプリッタ15bは、両者の組み合わせにより、第1の偏光生成領域1aからの第1円偏光が第2撮像部19に入射することを阻止する。これにより、第1の偏光生成領域1aからの第1円偏光は、第2撮像部19に入射しない。
マーカ1における第2の偏光生成領域1bからの反射光が光学部15に入射する場合には、次のようになる。第2の偏光生成領域1bからの反射光である第2円偏光は、λ/4波長板15aと偏光ビームスプリッタ15bにより、第2の直線偏光になって、第2撮像部19に入射する。一方、λ/4波長板15aと偏光ビームスプリッタ15bは、両者の組み合わせにより、第2の偏光生成領域1bからの第2円偏光が第1撮像部17に入射することを阻止する。これにより、第2の偏光生成領域1bからの第2円偏光は、第1撮像部17に入射しない。
このように、第1撮像部17へ入射する光は、光学部15へ入射する光のうち、第1円偏光の成分(すなわち、第1円偏光による第1の直線偏光)が最も多くなり、第2撮像部19へ入射する光は、光学部15へ入射する光のうち、第2円偏光の成分(すなわち、第2円偏光による第2の直線偏光)が最も多くなる。
画像処理装置13は、画像処理部13aと記憶部13bとを有する。
第1の偏光生成領域1aに相当する画素については、上述した光学部15の作用により、上述の比率A/Bは、他の画素と比べて大幅に大きくなる。したがって、画像処理部13aは、各画素の比率A/Bが、予め設定した第1しきい値よりも大きいかどうかを判断する。画素の比率A/Bが、第1しきい値よりも大きい場合には、画像処理部13aは、当該画素が第1の偏光生成領域1aに相当すると判断する。一方、画素の比率A/Bが、第1しきい値よりも大きくない場合には、画像処理部13aは、当該画素が第1の偏光生成領域1aに相当しないと判断する。
第2の偏光生成領域1bに相当する画素については、上述した光学部15の作用により、上述の比率A/Bは、他の画素と比べて大幅に小さくなる。したがって、画像処理部13aは、各画素の比率A/Bが、第2しきい値よりも小さいかどうかを判断する。画素の比率A/Bが、第2しきい値よりも小さい場合には、画像処理部13aは、当該画素が第2の偏光生成領域1bに相当すると判断する。一方、画素の比率A/Bが、第2しきい値よりも小さくない場合には、画像処理部13aは、当該画素が第2の偏光生成領域1bに相当しないと判断する。なお、第2しきい値は、第1しきい値よりも小さく、例えば、第1しきい値の逆数であってよい。一例では、第1しきい値は2であり、第2しきい値は1/2である。
第1および第2の偏光生成領域1a,1bのいずれにも相当しない画素については、上述した光学部15の作用により、上述の比率A/Bは、大きすぎず、かつ、小さすぎない値(1、または1に近い値)になる。したがって、画像処理部13aは、各画素の比率A/Bが、第1しきい値以下であって、第2しきい値以上であるかどうかを判断する。画素の比率A/Bが、第1しきい値以下であって、第2しきい値以上である場合には、画像処理部13aは、当該画素が第1および第2の偏光生成領域1bのいずれにも相当しないと判断する。
次に、図3を参照して、本発明の実施形態による対象物識別方法を説明する。この対象物識別方法は、上述した対象物識別装置10を用いて行われる。
本発明は上述した実施の形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更を加え得ることは勿論である。例えば、以下の変更例1〜5のいずれかを単独で採用してもよいし、変更例1〜5を任意に組み合わせて採用してもよい。この場合、以下で述べない点は、上述と同じである。
各マーカ1が、1つの偏光生成領域を有していてもよい。この場合には、互いに識別可能なマーカ1として、第1の偏光生成領域1aを有するマーカ1と、第2の偏光生成領域1bを有するマーカ1とがある。したがって、これらの2つのマーカ1を、それぞれ2つの対象物3に設けて、上述の図3に示す対象物識別方法が行われる。
なお、第1または第2の偏光生成領域1a,1bに相当すると判断される画素が1つあれば、ステップS9を実行できる。ステップS4またはステップS6で、第1または第2の偏光生成領域1a,1bに相当すると判断される画素が、互いに隣接しており、かつ、設定数以上ある場合に、ステップS9において、マーカ1の識別データを出力するようにしてもよい。
図4(A)は、対象物識別装置10の別の構成例を示す。図4(A)の例では、撮像装置11の光学部15は、λ/4波長板15aと偏光ビームスプリッタ15bの代わりに、偏光特性を有しないビームスプリッタ15bと、第1円偏光フィルタ15fと、第2円偏光フィルタ15gとを有している。
図4(B)は、対象物識別装置10の別の構成例を示す。図4(B)の例では、上述のλ/4波長板15aと偏光ビームスプリッタ15bが省略され、光学部15は、第1レンズ15cと、第1円偏光フィルタ15fと、第2レンズ15dと、第2円偏光フィルタ15gと、を有する。
撮像範囲からの光が、第1円偏光フィルタ15fを透過して第1撮像部17に入射する。同様に、同じ撮像範囲からの光が、第2円偏光フィルタ15gを透過して第2撮像部19に入射する。第1円偏光フィルタ15fと第2円偏光フィルタ15gの構成と作用は、上述の変更例2における第1円偏光フィルタ15fと第2円偏光フィルタ15gの構成と作用と同じである。
画像処理部13aは、上述の値f(A,B)に補正値Kを乗じることにより、補正後の値f(A,B)×Kを求めてもよい。補正値Kは次のように求める。均一な無偏光が、光学部15を介して第1撮像部17と第2撮像部19に入射した場合に、当該均一な無偏光の部分に相当する画素について、補正後の値f(A,B)×Kが設定値になるように、補正値Kを予め求めておく。f(A,B)がA/Bである場合には、この設定値は、例えば、1である。
上述では、値Aと値Bを独立変数とした関数の値f(A,B)は、比率A/Bであったが、適宜に定められてよい。すなわち、第1の偏光生成領域1aに相当する画素と、第2の偏光生成領域1bに相当する画素を特定できさえすれば、値f(A,B)は、比率A/Bに限定されず、他のものであってもよい。この場合、第1の偏光生成領域1aに相当する画素と、第2の偏光生成領域1bに相当する画素を特定できるように、上述した第1しきい値および第2しきい値は、f(A,B)に合わせて定められる。
例えば、値f(A,B)は、A/(A+B)であってもよいし、(A−B)/(A+B)であってもよいし、他のものであってもよい。なお、f(A,B)がA/(A+B)や(A−B)/(A+B)などである場合には、ゼロ、または、ゼロに近い分母で、分子を割る計算が避けられる。
Claims (5)
- 複数の対象物にそれぞれ設けられた複数のマーカに基づいて、これらの対象物を互いに識別するための対象物識別装置であって、
前記マーカは、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から右回りの第1円偏光の反射光を生成する第1の偏光生成領域と、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から左回りの第2円偏光の反射光を生成する第2の偏光生成領域との少なくとも一方を有し、
マーカを含む撮像範囲を撮像するための撮像装置と、
撮像装置により得た前記撮像範囲の画像データに基づいて、前記撮像範囲内のマーカを、他のマーカから識別する画像処理装置と、を備え、
撮像装置は、光学部と、第1撮像部と、第2撮像部とを有し、
光学部は、前記撮像範囲から進行してきた光のうち、第1円偏光の成分を選択的に第1撮像部に入射させ、第2円偏光の成分を選択的に第2撮像部に入射させ、
第1撮像部は、該第1撮像部への入射光に基づいて、前記撮像範囲の第1画像データを生成し、
第2撮像部は、該第2撮像部への入射光に基づいて、前記撮像範囲の第2画像データを生成し、
画像処理装置は、
(A)第1画像データの各画素について、該画素の輝度を値Aとし、前記撮像範囲において該画素と同じ位置に相当する第2画像データの画素の輝度を値Bとし、値Aと値Bを独立変数とした関数の値f(A,B)を求め、
(B)第1および第2の偏光生成領域が互いに異なる種類の偏光生成領域であるとして、各画素の前記値f(A,B)に基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている偏光生成領域の種類、または、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている複数の偏光生成領域の配列パターンを特定し、
(C)特定した種類または配列パターンに基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内のマーカを他のマーカから識別する、ことを特徴とする対象物識別装置。 - 前記値f(A,B)は、A/B、または、A/(A+B)、または、(A−B)/(A+B)である、ことを特徴とする請求項1に記載の対象物識別装置。
- 画像処理装置は、前記(B)において、
(B1)第1画像データまたは第2画像データの各画素について、前記値f(A,B)に補正値Kを乗じた値f(A,B)×K、または、前記値f(A,B)が、第1しきい値よりも大きいかどうかを判断し、当該判断が肯定である場合には、当該画素が、第1の偏光生成領域に相当すると判断し、
(B2)第1画像データまたは第2画像データの各画素について、前記値f(A,B)に補正値Kを乗じた値f(A,B)×K、または、前記値f(A,B)が、第1しきい値よりも小さい値の第2しきい値よりも小さいかどうかを判断し、当該判断が肯定である場合には、当該画素が、第2の偏光生成領域に相当すると判断し、
(B3)前記(B1)および(B2)の判断に基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている偏光生成領域の種類、または、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている複数の偏光生成領域の配列パターンを特定する、ことを特徴とする請求項1または2に記載の対象物識別装置。 - 複数の対象物にそれぞれ設けられた複数のマーカに基づいて、これらの対象物を互いに識別するための対象物識別方法であって、
前記マーカは、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から右回りの第1円偏光の反射光を生成する第1の偏光生成領域と、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から左回りの第2円偏光の反射光を生成する第2の偏光生成領域との少なくとも一方を有するものであり、
マーカを含む撮像範囲を撮像するための撮像装置と、撮像装置により得た前記撮像範囲の画像データに基づいて前記撮像範囲内のマーカを他のマーカから識別する画像処理装置と、を用意し、撮像装置は、光学部と、第1撮像部と、第2撮像部とを有し、
光学部により、前記撮像範囲から進行してきた光のうち、第1円偏光の成分を選択的に第1撮像部に入射させ、第2円偏光の成分を選択的に第2撮像部に入射させ、
第1撮像部により、該第1撮像部への入射光に基づいて、前記撮像範囲の第1画像データを生成し、第2撮像部により、該第2撮像部への入射光に基づいて、前記撮像範囲の第2画像データを生成し、
画像処理装置により、
(A)第1画像データの各画素について、該画素の輝度を値Aとし、前記撮像範囲において該画素と同じ位置に相当する第2画像データの画素の輝度を値Bとし、値Aと値Bを独立変数とした関数の値f(A,B)を求め、
(B)第1および第2の偏光生成領域が互いに異なる種類の偏光生成領域であるとして、各画素の前記値f(A,B)に基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている偏光生成領域の種類、または、第1画像データまたは第2画像データ内に含まれている複数の偏光生成領域の配列パターンを特定し、
(C)特定した種類または配列パターンに基づいて、第1画像データまたは第2画像データ内のマーカを他のマーカから識別する、ことを特徴とする対象物識別方法。 - 対象物の表面に設けられるマーカであって、
複数の偏光生成領域を有し、
複数の偏光生成領域の各々は、第1または第2の偏光生成領域であり、
第1の偏光生成領域は、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から右回りの第1円偏光の反射光を生成し、
第2の偏光生成領域は、無偏光が入射してきた場合に該無偏光から左回りの第2円偏光の反射光を生成する、ことを特徴とするマーカ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013042857A JP6195288B2 (ja) | 2013-03-05 | 2013-03-05 | マーカ、対象物識別装置、および対象物識別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013042857A JP6195288B2 (ja) | 2013-03-05 | 2013-03-05 | マーカ、対象物識別装置、および対象物識別方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014169965A true JP2014169965A (ja) | 2014-09-18 |
JP6195288B2 JP6195288B2 (ja) | 2017-09-13 |
Family
ID=51692436
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013042857A Active JP6195288B2 (ja) | 2013-03-05 | 2013-03-05 | マーカ、対象物識別装置、および対象物識別方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6195288B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019230890A1 (ja) * | 2018-05-30 | 2019-12-05 | 富士フイルム株式会社 | 信号検出システム |
WO2021111779A1 (ja) * | 2019-12-02 | 2021-06-10 | ソニーグループ株式会社 | 情報処理装置と情報処理方法およびプログラム |
US11354880B2 (en) | 2017-10-27 | 2022-06-07 | 3M Innovative Properties Company | Optical sensor systems |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4028728A (en) * | 1976-04-02 | 1977-06-07 | Western Electric Company, Inc. | Method of and video system for identifying different light-reflective surface areas on articles |
JPH0783656A (ja) * | 1993-09-09 | 1995-03-28 | Topcon Corp | レーザ基準レベル設定装置 |
JP2000230805A (ja) * | 1999-02-09 | 2000-08-22 | Toyota Motor Corp | 走行レーン検出装置及び方法 |
JP2005140547A (ja) * | 2003-11-04 | 2005-06-02 | 3D Media Co Ltd | 3次元計測方法、3次元計測装置、及びコンピュータプログラム |
-
2013
- 2013-03-05 JP JP2013042857A patent/JP6195288B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4028728A (en) * | 1976-04-02 | 1977-06-07 | Western Electric Company, Inc. | Method of and video system for identifying different light-reflective surface areas on articles |
JPH0783656A (ja) * | 1993-09-09 | 1995-03-28 | Topcon Corp | レーザ基準レベル設定装置 |
JP2000230805A (ja) * | 1999-02-09 | 2000-08-22 | Toyota Motor Corp | 走行レーン検出装置及び方法 |
JP2005140547A (ja) * | 2003-11-04 | 2005-06-02 | 3D Media Co Ltd | 3次元計測方法、3次元計測装置、及びコンピュータプログラム |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11354880B2 (en) | 2017-10-27 | 2022-06-07 | 3M Innovative Properties Company | Optical sensor systems |
WO2019230890A1 (ja) * | 2018-05-30 | 2019-12-05 | 富士フイルム株式会社 | 信号検出システム |
JPWO2019230890A1 (ja) * | 2018-05-30 | 2021-04-22 | 富士フイルム株式会社 | 信号検出システム |
JP7313346B2 (ja) | 2018-05-30 | 2023-07-24 | 富士フイルム株式会社 | 信号検出システム |
WO2021111779A1 (ja) * | 2019-12-02 | 2021-06-10 | ソニーグループ株式会社 | 情報処理装置と情報処理方法およびプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6195288B2 (ja) | 2017-09-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11486698B2 (en) | Systems and methods for estimating depth from projected texture using camera arrays | |
US9562760B2 (en) | Spatially self-similar patterned illumination for depth imaging | |
US10041787B2 (en) | Object detection device | |
US10666846B2 (en) | Imaging device | |
EP3268932B1 (en) | Active sensing spatial resolution improvement through multiple receivers and code reuse | |
CN109691092B (zh) | 用于改进的深度感测的系统和方法 | |
US9267790B2 (en) | Measuring device of measurement object, calculating device, measurement method, and method for producing item | |
CN111735413A (zh) | 三维形状测量装置 | |
JP6206560B2 (ja) | システム | |
JP2016133396A (ja) | 法線情報生成装置、撮像装置、法線情報生成方法および法線情報生成プログラム | |
JP2011191118A (ja) | 光干渉測定装置 | |
KR20090117399A (ko) | 연장된 초점 심도를 갖는 렌즈 및 이를 포함하는 광학시스템 | |
JP6195288B2 (ja) | マーカ、対象物識別装置、および対象物識別方法 | |
JP6642223B2 (ja) | 透明板表面検査装置、透明板表面検査方法、およびガラス板の製造方法 | |
JP6098975B2 (ja) | マーカ、対象物識別装置、および対象物識別方法 | |
JP2010181247A (ja) | 形状測定装置及び形状測定方法 | |
JP6273127B2 (ja) | 計測装置、および物品の製造方法 | |
JP2017135528A (ja) | 画像処理装置、撮像装置および画像処理プログラム | |
US9229211B2 (en) | Imaging apparatus, imaging control program, and imaging method | |
JP2008145121A (ja) | 三次元形状測定装置 | |
JP6436349B2 (ja) | 物体検出装置 | |
KR20150018977A (ko) | 3차원 표면 측정 장치 및 방법 | |
JP2019066186A (ja) | 撮像装置及び撮像装置の距離算出方法 | |
US11333492B2 (en) | Optical device, information processing method, and computer program product | |
JP7463313B2 (ja) | 光学検査方法、光学検査装置、および光学検査プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161215 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170208 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170725 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170809 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6195288 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |