JP2014165223A - 光送信器 - Google Patents

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Abstract

【課題】外部変調器集積半導体レーザの活性領域と光学的に結合する光導波路を設けて、その光導波路の屈折率を変調して戻り光雑音を抑制する素子において、戻り光の位相が変化しても、定常的に安定な光送信波形を提供すること。
【解決手段】光源として分布帰還型レーザ101を用い、外部変調器として電界吸収型変調器102を用いる。DFB−LD101の後方出射部は、DFB−LD101の発振光を透過する光導波路103に接続され、金属反射面104で終端する。BPF113の出力電圧振幅Vfを、GND電位Vrと比較器114で比較し、出力電圧振幅Vfと目標値であるGND電位Vrとの偏差をPID制御器115によって操作して偏差に相関する信号を制御導波路駆動回路116に出力する。制御導波路駆動回路116は、PID制御器115の出力信号に基づき制御導波路101に印加する電圧Vcntを出力する。
【選択図】図1

Description

本発明は、主に光通信分野に用いられる半導体レーザ出力光の劣化補償技術に関する。
光通信システム構成部品の一つである光送信モジュールは、光源として半導体レーザを使用する。光送信モジュールは、シングルモードで発振する半導体レーザを使用する場合、モジュール外部からレーザの活性領域に帰還する光(以下戻り光と称す)が存在すると、発振モードが不安定となり送信波形が劣化する。通常、その戻り光を遮断するために、モジュール内部に光アイソレータを装備する。アイソレータは、光モジュールにおいて、それが占める部品コストの割合が大きく、コリメート系を構成するための調芯工程を要し、また、モジュールサイズの縮小化を制限する。従って、低コスト化、小型化のためには、アイソレータを使用しないことが望ましい。アイソレータを除いた場合、戻り光によって雑音成分が誘起され、送信波形は著しく劣化する。
図10に、従来の送信波形劣化を補償する手段を備えた半導体レーザ装置の構成を示す。この半導体レーザ装置300は、レーザ信号電流発生装置401で生成した信号電流を活性導波路領域301に印加することで信号光を発生させ、活性導波路領域301と光学的に結合した光導波路302を設けて、光導波路302の屈折率を変調信号発生装置402で生成した電圧または電流によって変調し、戻り光雑音を抑制する(特許文献1参照)。
特開平11−087853号公報
しかしながら、半導体レーザ装置300では光伝送路の環境温度や応力によって戻り光の位相は時間的に変化し送信波形は不安定になるため、光導波路302の屈折率の変調信号を常時調整する必要があるという課題がある。
本発明は、このような課題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、外部変調器集積半導体レーザの活性領域と光学的に結合する光導波路を設けて、その光導波路の屈折率を変調して戻り光雑音を抑制する素子において、戻り光の位相が変化しても、定常的に安定な光送信波形を提供することにある。
上記の課題を解決するために、本発明は、任意の波長で発振する分布帰還型半導体レーザと、前記分布帰還型半導体レーザの前方出射部と光学的に結合した電界吸収型変調器と、前記分布帰還型半導体レーザの後方出射部と光学的に結合し、出射光を該分布帰還型半導体レーザの活性領域に帰還させる光伝送路と、前記分布帰還型半導体レーザの出射光を分波する光分波器と、前記光分波器の分波光の所定の周波数帯の光強度を検出する検波部と、前記検波部の出力値と目標値の偏差に相関する信号を出力する制御部と、前記光分波器の分波光の雑音強度が最小になるように、前記制御部の出力を前記光伝送路に電界として印加するための駆動部とを具備することを特徴とする光送信器。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の光送信器において、前記光伝送路は、前記分布帰還型半導体レーザの発振波長を透過する材料から成る光導波路を具備することを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の光送信器において、前記検波部は、バンドパスフィルタを具備し、該バンドパスフィルタの透過帯域内に、前記分布帰還型半導体レーザの緩和振動周波数と共振周波数成分の一部を含むことを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1乃至3のいずれかに記載の光送信器において、前記制御部は、比較器およびPID制御器を具備し、該比較器は前記検波部の出力値と目標値の偏差を検出し、該PID制御器は該偏差をPIDによって操作して前記出射光の雑音強度を最小にすることを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項1乃至4のいずれかに記載の光送信器において、前記検波部は、バンドパスフィルタを具備し、該バンドパスフィルタの透過率の最大値を得る周波数は、前記外部変調器を変調する基本周波数以上かつ前記分布帰還型半導体レーザの緩和振動周波数の2倍以下であることを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、分布帰還型半導体レーザと、前記分布帰還型半導体レーザの前方出射部と光学的に結合した電界吸収型変調器と、前記分布帰還型半導体レーザの後方出射部と光学的に結合し、出射光を該分布帰還型半導体レーザの活性領域に帰還させる光伝送路とを備えた半導体光集積素子において該光伝送路内を伝播する光波の位相を負帰還制御する方法であって、前記半導体レーザの出射光の所定の周波数帯の光強度を検出するステップと、前記検出された光強度と目標値の偏差を検出するステップと、前記半導体レーザの出射光の雑音強度が最小になるように、前記偏差に相関する電界を前記光伝送路に印加するステップとを備えたことを特徴とする。
本発明は、外部変調器集積半導体レーザの活性領域と光学的に結合する光導波路を設けて、その光導波路の屈折率を変調して戻り光雑音を抑制する素子において、戻り光の位相が変化しても、光送信波形を定常的に安定化する効果を奏する。
本発明の一実施形態に係る光送信器の構成を示す図である。 EAの変調電圧波形を示す図である。 光伝送路内の反射点からの戻り光が存在しない場合における、EA−DFB100の光出力波形(アイダイアグラム)を示す図である。 光伝送路内の反射点からの戻り光が存在しない場合における、EA−DFB100のスペクトラムを示す図である。 反射戻り光が存在する場合における、EA−DFB100の光出力波形(アイダイアグラム)を示す図である。 反射戻り光が存在する場合における、EA−DFB100のスペクトラムを示す図である。 本発明の一実施形態に係るBPF113の透過特性を示す図である。 本発明の一実施形態に係る制御導波路101を伝搬する光波の位相変化量φに対するEA−DFB100の光出力波形を示す図である。 本発明の一実施形態に係る制御導波路101を伝搬する光波の位相変化量φに対するBPF出力電圧波形を示す図である。 従来の送信波形劣化を補償する手段を備えた半導体レーザ装置の構成を示す図である。
本発明は、戻り光によって発生する緩和振動周波数を有する振動成分とその高次成分を、それらの振動成分を包含する帯域を有するバンドパスフィルタによって検出し、半導体レーザの外部に備えられた光導波路内を伝搬する光波の位相を負帰還制御することにより、波形劣化の原因となる振動成分を抑圧することを特徴とする。
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
図1に、本発明の一実施形態に係る光送信器の構成を示す。光源として分布帰還型レーザ101(以下DFB−LDと称す)を用い、外部変調器として電界吸収型変調器102(以下EAと称す)を用いる。DFB−LD101は、信号電流発生装置201で生成さした信号電流を活性領域に印加することで信号光を発生させ、EA102は、変調信号発生装置202で生成した電圧または電流によって変調を制御する。
DFB−LD101の後方出射部は、DFB−LD101の発振光を透過する光導波路103(以下制御導波路と称す)に接続され、金属反射面104で終端する。制御導波路103の上下層にクラッド層、その最表面に電極面が形成され、電界印加によって制御導波路103の屈折率を変化させる。
尚、制御導波路103の材料としては、半導体、絶縁体、強誘電体のいずれでも可能であるが、半導体材料はDFB−LD101以上のバンドギャップを有するものとする。また、制御導波路103の構成は、半波長電圧Vπと素子長の積が小さいものが望ましい。本実施形態では、素子長500μm、Vπ=10Vの半導体導波路を制御導波路103として用いて集積する。
また、本実施形態では、直線状の光導波路である制御導波路103を金属反射面104で終端しているが、これに代えて、リング状の光導波路によってDFB−LD101の後方出射光を周回させてDFB−LD101の活性領域に帰還させても良い。
図2に、EAの変調電圧波形を示す。EA102の変調電圧は、ビットレート10Gb/sのNRZ(PRBS 2−1)とする。図3、4に、光伝送路内の反射点からの戻り光が存在しない場合における、EA−DFB100の光出力波形(アイダイアグラム)、スペクトラムをそれぞれ示す。
一方、図5、6に、反射戻り光が存在する場合における、EA−DFB100の光出力波形とスペクトラムをそれぞれ示す。図5が示す様に、反射戻り光が存在する場合にはEA変調信号の周波数成分の他に、複数の振動モードが誘起されていることから、反射戻り光が雑音強度の増大する原因となっていることが分かる。また、図4、6を比較すると、スペクトラムに観測される変調周波数以上の振動モードは、DFB−LD101の緩和振動周波数frの近傍から発生しており、DFB−LD101の緩和振動が戻り光の雑音強度増大の一要因であることが分かる。
ここで図1に戻り、本発明の制御系111〜116の構成について説明する。EA−DFB100の光出力を10:1の光カップラ111によって分波し、低出力側をDFB−LDの緩和振動周波数以上の帯域を有するフォトダイオード112で受光し、光電変換して電圧信号を出力し、バンドパスフィルタ113(以下BPFと称す)によって、戻り光によって誘起された振動成分を含む所定の周波数帯の電圧振幅を検出する。
図7に、本発明の一実施形態に係るBPF113の透過特性を示す。本実施形態ではBPF113の透過率を、EA変調信号の基本周波数以上かつ緩和振動周波数frの2倍以下の周波数でピークを持つように設定したが、DFB−LD101の緩和振動周波数frと共振周波数成分の一部を含むものであれば良い。
BPF113の出力電圧振幅Vfを、GND電位Vrと比較器114で比較し、その差分(Vr−Vf)、すなわち、出力電圧振幅Vfと目標値であるGND電位Vrとの偏差をPID(比例、積分、微分)制御器115によって操作して偏差に相関する信号を制御導波路駆動回路116に出力する。制御導波路駆動回路116は、PID制御器115の出力信号に基づき制御導波路101に印加する電圧Vcntを出力する。Vcntの可変量は、2Vπ以上となるように設定する。Vcntに応じて、制御導波路101を伝搬する光波の位相が変化する。
図8、9に、本発明の一実施形態に係る制御導波路101を伝搬する光波の位相変化量φに対するEA−DFB100の光出力波形、BPF出力電圧波形をそれぞれ示す。制御系111〜116は、戻り光位相が変化しても、BPF出力電圧がGND電位に収束する方向に動作するため、EA−DFB100の光出力波形に誘起された雑音強度が抑圧される。戻り光位相変化より高速な応答速度で制御することにより、定常的に安定な光出力波形を得ることができる。
100 EA−DFB
101 分布帰還型レーザ(DFB−LD)
102 電界吸収型変調器(EA)
103 制御導波路
104 金属反射面
111 光カプラ
112 フォトダイオード
113 バンドパスフィルタ(BPF)
114 比較器
115 PID制御器
116 制御導波路駆動回路
201、401 信号電流発生装置
202,402 変調信号発生装置
301 活性導波路領域
302 光導波路領域

Claims (6)

  1. 任意の波長で発振する分布帰還型半導体レーザと、
    前記分布帰還型半導体レーザの前方出射部と光学的に結合した電界吸収型変調器と、
    前記分布帰還型半導体レーザの後方出射部と光学的に結合し、出射光を該分布帰還型半導体レーザの活性領域に帰還させる光伝送路と、
    前記分布帰還型半導体レーザの出射光を分波する光分波器と、
    前記光分波器の分波光の所定の周波数帯の光強度を検出する検波部と、
    前記検波部の出力値と目標値の偏差に相関する信号を出力する制御部と、
    前記光分波器の分波光の雑音強度が最小になるように、前記制御部の出力を前記光伝送路に電界として印加するための駆動部と
    を具備することを特徴とする光送信器。
  2. 前記光伝送路は、前記分布帰還型半導体レーザの発振波長を透過する材料から成る光導波路を具備することを特徴とする請求項1に記載の光送信器。
  3. 前記検波部は、バンドパスフィルタを具備し、該バンドパスフィルタの透過帯域内に、前記分布帰還型半導体レーザの緩和振動周波数と共振周波数成分の一部を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の光送信器。
  4. 前記制御部は、比較器およびPID制御器を具備し、該比較器は前記検波部の出力値と目標値の偏差を検出し、該PID制御器は該偏差をPIDによって操作して前記出射光の雑音強度を最小にすることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の光送信器。
  5. 前記検波部は、バンドパスフィルタを具備し、該バンドパスフィルタの透過率の最大値を得る周波数は、前記外部変調器を変調する基本周波数以上かつ前記分布帰還型半導体レーザの緩和振動周波数の2倍以下であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の光送信器。
  6. 分布帰還型半導体レーザと、前記分布帰還型半導体レーザの前方出射部と光学的に結合した電界吸収型変調器と、前記分布帰還型半導体レーザの後方出射部と光学的に結合し、出射光を該分布帰還型半導体レーザの活性領域に帰還させる光伝送路とを備えた半導体光集積素子において該光伝送路内を伝播する光波の位相を負帰還制御する方法であって、
    前記半導体レーザの出射光の所定の周波数帯の光強度を検出するステップと、
    前記検出された光強度と目標値の偏差を検出するステップと、
    前記半導体レーザの出射光の雑音強度が最小になるように、前記偏差に相関する電界を前記光伝送路に印加するステップと
    を備えたことを特徴とする負帰還制御する方法。
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