JP2014120681A - 保護回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】保護対象回路をサージ電流から保護するための新たな技術を提供する。
【解決手段】電源装置から第1電源線、第2電源線及び第3電源線を通じて動作電圧が供給される保護対象回路をサージ電流から保護するための保護回路であって、第1電源線と第2電源線とを短絡するための短絡回路と、第1電源線及び第2電源線に接続された第1制御回路と、第2電源線及び第3電源線に接続された第2制御回路とを備える保護回路を提供する。第1電源線に供給される電圧は第2電源線に供給される電圧よりも高く、第2電源線に供給される電圧は第3電源線に供給される電圧よりも高く、第2制御回路は、第3電源線の電圧を基準とした第2電源線の電圧が第1しきい値よりも高い場合に第1制御回路に抑制信号を供給し、第1制御回路は、抑制信号が供給されている場合に短絡回路を短絡せず、抑制信号が供給されておらず、第2電源線の電圧を基準として第1電源線に正のサージ電圧が印加されている場合に短絡回路を短絡する。
【選択図】図1
【解決手段】電源装置から第1電源線、第2電源線及び第3電源線を通じて動作電圧が供給される保護対象回路をサージ電流から保護するための保護回路であって、第1電源線と第2電源線とを短絡するための短絡回路と、第1電源線及び第2電源線に接続された第1制御回路と、第2電源線及び第3電源線に接続された第2制御回路とを備える保護回路を提供する。第1電源線に供給される電圧は第2電源線に供給される電圧よりも高く、第2電源線に供給される電圧は第3電源線に供給される電圧よりも高く、第2制御回路は、第3電源線の電圧を基準とした第2電源線の電圧が第1しきい値よりも高い場合に第1制御回路に抑制信号を供給し、第1制御回路は、抑制信号が供給されている場合に短絡回路を短絡せず、抑制信号が供給されておらず、第2電源線の電圧を基準として第1電源線に正のサージ電圧が印加されている場合に短絡回路を短絡する。
【選択図】図1
Description
本発明は保護回路に関する。
近年、動作電圧として複数の電源を用いる集積回路が増えてきている。このような集積回路は、例えばパワー系に12Vの電圧を使用し、アナログ系に3.3Vの電圧を使用し、デジタル系に1.8Vの電圧を使用する。非特許文献1は、このように複数の電源を用いる集積回路をサージ電流から保護するための技術を提案する。具体的には、直列に接続されたダイオード列で2つの電源間を双方向に接続する。電源にサージ電圧が印加された場合には、一方のダイオード列が導通状態になり、集積回路に流れるサージ電流を抑制できる。特許文献1は、電源間にクランプ素子を配置し、各電源と基準電圧(Vss)との間をトリガ回路で接続する。このトリガ回路は電源にサージ電圧が印加されたことを検出し、クランプ素子を導通状態にすることによって、集積回路に流れるサージ電流を抑制できる。
サンジェイ・ダブラル(Sanjay Dabral)著、ティモシー・マロニー(Timothy Maloney)著、「基本ESD及びI/O設計(Basic ESD and I/O Design)」、(米国)、第1版、ワイリー・インターサイエンス(Wiley-Interscience)、1998年11月30日、p.59、Fig.2−37
非特許文献1に記載された技術では、保護対象回路の通常動作時にダイオード列が非導通状態を維持するために、電源間の電圧に応じた個数のダイオードが必要になる。例えば、12Vの電圧源と1.8Vの電圧源との間に、順方向電圧が0.7Vのダイオードを接続する場合に、少なくとも15個のダイオードが必要になる。また、サージ電流が流れることによるダイオードの破壊を防ぐために、面積の大きなダイオードを選択する必要がある。そのため、非特許文献1の技術では、面積効率が低下する。
特許文献1に記載された技術では、トリガ回路は各電源と基準電圧との間の電圧に基づいて動作する。従って、基準電圧端子がオープン状態であり、電源同士の間にサージ電圧が発生した場合には、トリガ回路が動作せず、サージ電流を抑制できない。
そこで、本発明の1つの側面は、保護対象回路をサージ電流から保護するための新たな技術を提供することを目的とする。
上記課題に鑑みて、本発明の1つの実施形態は、電源装置から第1電源線、第2電源線及び第3電源線を通じて動作電圧が供給される保護対象回路をサージ電流から保護するための保護回路であって、前記第1電源線と前記第2電源線とを短絡するための短絡回路と、前記第1電源線及び前記第2電源線に接続された第1制御回路と、前記第2電源線及び前記第3電源線に接続された第2制御回路とを備え、前記第1電源線に供給される電圧は前記第2電源線に供給される電圧よりも高く、前記第2電源線に供給される電圧は前記第3電源線に供給される電圧よりも高く、前記第2制御回路は、前記第3電源線の電圧を基準とした前記第2電源線の電圧が第1しきい値よりも高い場合に前記第1制御回路に抑制信号を供給し、前記第1制御回路は、前記抑制信号が供給されている場合に前記短絡回路を短絡せず、前記抑制信号が供給されておらず、前記第2電源線の電圧を基準として前記第1電源線に正のサージ電圧が印加されている場合に前記短絡回路を短絡することを特徴とする保護回路を提供する。
上記手段により、保護対象回路をサージ電流から保護するための新たな技術が提供される。
添付の図面を参照しつつ本発明の実施形態について以下に説明する。様々な実施形態を通じて同様の要素には同一の参照符号を付して重複する説明を省略する。また、各実施形態は適宜変更、組み合わせが可能である。
図1を参照して、本発明の実施形態に係る保護回路100の機能ブロックの例を説明する。保護回路100は静電気などに起因するサージ電流が保護対象回路150に流れることを抑制する。保護対象回路150は例えば半導体集積回路(IC)を含み、電源装置140から第1電源線110、第2電源線120及び第3電源線130を通じて動作電圧が供給される。本実施形態では、電源装置140は、保護対象回路150の動作電圧として、第1電源線110、第2電源線120、第3電源線130の順に高い電圧を印加する。すなわち、電源装置140は、第3電源線130に基準電圧GND(例えば、0V)を印加し、第2電源線120に低電圧VL(例えば、1.8V)を印加し、第1電源線110に高電圧VH(例えば、12V)を印加する。低電圧VLは基準電圧GNDよりも高く、高電圧VHは低電圧VLよりも高い。本実施形態では、このような電圧が各電源線に印加されており、サージ電圧が発生していない状態を通常状態と呼ぶ。図1の例では電源装置140は3本の電源線を通じて保護対象回路150に動作電圧を供給するが、3本以上の電源線を通じて動作電圧が供給されれば本発明を適用可能である。
保護回路100は、第1電源線110、第2電源線120及び第3電源線130のそれぞれに接続される。図1に示すように、保護回路100は、第1制御回路101、短絡回路102、クランプ回路103及び第2制御回路104を含みうる。第1制御回路101は駆動回路105及び検出回路106を含みうる。
クランプ回路103は、第2電源線120を基準とした第1電源線110の電圧がしきい値(第2しきい値)よりも高い場合に非導通状態となり、しきい値よりも小さい場合に導通状態となる。そのため、第2電源線120を基準として第1電源線110に負のサージ電圧が印加された場合にクランプ回路103が導通状態になり、第2電源線120から第1電源線110へ電流が流れる。
短絡回路102は制御端子を有し、制御端子に供給された駆動信号に応じて、短絡状態・非短絡状態を切り替える。第1制御回路101は、第2電源線120の電圧を基準とした第1電源線110の電圧に基づいて、短絡回路102の短絡状態・非短絡状態を切り替えるための駆動信号を生成する。検出回路106は、第2電源線120の電圧を基準として第1電源線110の電圧に正のサージ電圧が印加されたことを検出する。駆動回路105は、この検出結果に基づいて、短絡回路102に供給する駆動信号を生成する。
第2制御回路は、第3電源線130の電圧を基準とした第2電源線120の電圧に基づいて、抑制信号を第1制御回路101に供給する。第2制御回路104から抑制信号が第1制御回路101に供給されている場合に、第1制御回路101は短絡回路102を短絡する動作を行わない。短絡回路102及びクランプ回路103の何れも、通常状態において非導通状態となる。
続いて、図2を参照して、図1の保護回路100の回路構成例を説明する。まず、図2(a)に示される保護回路100の回路構成例を説明する。短絡回路102はアナログスイッチ221を含む。アナログスイッチ221の第1入出力端子は第1電源線110に接続され、アナログスイッチ221の第2入出力端子は第2電源線120に接続される。アナログスイッチ221は例えばPMOSトランジスタ及びNMOSトランジスタにより構成される。このNMOSトランジスタはトリプルウェル構造を有し、NMOSトランジスタのバックゲートは基板から分離されており、第3電源線130に接続される。アナログスイッチ221の制御端子は、短絡回路102の短絡状態・非短絡状態を切り替えるための、短絡回路102の制御端子として機能する。
クランプ回路103は、直接に接続された1つ以上のダイオード231からなるダイオード列を含む。ダイオード列の一端のカソードが第1電源線110に接続され、ダイオード列の他端のアソードが第2電源線120に接続される。図2(a)では3つのダイオード231を示しているが、ダイオード231の個数は高電圧VHの値及び低電圧VLの値に応じて調整される。
駆動回路105はインバータ251とインバータ252とを含む。インバータ251とインバータ252とは直列に接続される。具体的には、インバータ251の出力端子がインバータ252の入力端子に接続される。インバータ251の入力端子が駆動回路105の入力端子として機能し、インバータ251の出力端子及びインバータ252の出力端子が駆動回路105の出力端子として機能する。インバータ251及びインバータ252の第1電源端子は第1電源線110に接続され、第2電源端子は第2電源線120に接続され、これら電源線から動作電圧が供給される。インバータ251の出力端子はアナログスイッチ221の第1制御端子に接続され、インバータ252の出力端子はアナログスイッチ221の第2制御端子に接続される。インバータ251の一部を構成するNMOSトランジスタはトリプルウェル構造を有し、NMOSトランジスタのバックゲートは基板から分離されて第3電源線130に接続される。インバータ252についても同様である。
検出回路106はキャパシタ261と抵抗262とを含む。キャパシタ261と抵抗262とは直列に接続され、キャパシタ261が第1電源線110に接続され、抵抗262が第2電源線120に接続される。キャパシタ261と抵抗262との間のノードは検出回路106の出力端子として機能する。この出力端子は、駆動回路105の入力端子(具体的には、インバータ251の入力端子)に接続される。このような構成により、検出回路106は第1電源線110と第2電源線120との間の電圧を入力とするハイパスフィルタとして機能する。
第2制御回路104は抵抗241とNMOSトランジスタ242とを含む。抵抗241の第1端は第2電源線120に接続され、抵抗241の第2端はNMOSトランジスタ242のゲート電極(制御電極)に接続される。NMOSトランジスタ242のソース電極(第1主電極)は第3電源線130に接続される。NMOSトランジスタ242のドレイン電極(第1主電極)は第2制御回路104の出力端子として機能する。この出力端子は、駆動回路105の入力端子(具体的には、インバータ251の入力端子)に接続される。
続いて、図2(a)の保護回路100の動作例を説明する。まず、通常状態における保護回路100の動作を説明する。この場合、第3電源線130には接地電圧GNDが供給され、第2電源線120には低電圧VLが供給される。従って、NMOSトランジスタ242に印加される電圧はNMOSトランジスタ242のしきい値電圧(第2しきい値)よりも大きくなり、NMOSトランジスタ242は導通状態となる。これにより、第2制御回路104から駆動回路105の入力端子に第3電源線130の接地電圧GNDがローレベルの信号として供給される。このローレベルの信号が上述の抑制信号として機能する。駆動回路105の入力端子にローレベルの信号が供給された場合に、アナログスイッチ221は非導通状態となり、短絡回路102は非短絡状態となる。
また、クランプ回路103のダイオード231には逆方向バイアスが印加されるため、クランプ回路103も非導通状態となる。そのため、通常状態において、保護回路100は電源装置140及び保護対象回路150の動作に影響を与えない。
次に、第2電源線120を基準として第1電源線110に正のサージ電圧(すなわち、第1電源線110の電圧を上げるサージ電圧)が印加された場合の保護回路100の動作を説明する。サージ電圧は例えば静電気パルスである。このようなサージ電圧が印加されると、検出回路106の出力端子からハイレベルの信号が駆動回路105の入力端子に供給される。
第1電源線110に正のサージ電圧が印加されているので、インバータ251及びインバータ252には、第1電源線110及び第2電源線120から動作電圧が供給され続ける。そのため、入力端子にハイレベルの信号が供給されたインバータ251は出力端子からローレベルの信号を出力し、この出力された信号がアナログスイッチ221の第1制御端子及びインバータ252の入力端子に供給される。また、入力端子にローレベルの信号が供給されたインバータ252は出力端子からハイレベルの信号を出力し、この出力された信号がアナログスイッチ221の第2制御端子に供給される。また、NMOSトランジスタ242は非導通状態になり、第2制御回路104から上述の抑制信号が第1制御回路101に供給されなくなる。
このような信号がインバータ251及びインバータ252から供給されたアナログスイッチ221は導通状態に切り替わり、第1電源線110と第2電源線120とを短絡する。その結果、サージ電圧に起因するサージ電流は第1電源線110から短絡回路102を通じて第2電源線120へ流れるので、保護回路100は保護対象回路150にサージ電流が流れることを抑制できる。
次に、第2電源線120を基準として第1電源線110に負のサージ電圧(すなわち、第1電源線110の電圧を下げるサージ電圧)が印加された場合の保護回路100の動作を説明する。このようなサージ電圧が印加されると、検出回路106から駆動回路105へローレベルの信号が供給され、また、インバータ251及びインバータ252は非動作状態になるので、アナログスイッチ221は非導通状態を維持する。一方、第1電源線110の電圧が下がることによって、クランプ回路103の各ダイオード231は順方向にバイアスされるので、クランプ回路103は導通状態になる。その結果、サージ電圧に起因するサージ電流は第2電源線120からクランプ回路103を通じて第1電源線110へ流れるので、保護回路100は保護対象回路150にサージ電流が流れることを抑制できる。
続いて、図2(b)に示される保護回路100の回路構成例を説明する。図2(b)の保護回路100は、駆動回路105及び短絡回路102の構成が図2(a)の保護回路100とは異なる。図2(b)の保護回路100の他の回路構成は図2(a)の保護回路100のものと同様であってもよく、重複する説明を省略する。
短絡回路102はサイリスタ222を含む。サイリスタ222のアノードは第1電源線110に接続され、サイリスタ222のカソードは第2電源線120に接続される。サイリスタ222のゲート電極が短絡回路102の制御端子として機能する。
駆動回路105はキャパシタ253と抵抗254とを含む。キャパシタ253と抵抗254とは直列に接続され、キャパシタ253が検出回路106のキャパシタ261と抵抗262との間のノードに接続され、抵抗254が第2電源線120に接続される。検出回路106に接続されたキャパシタ253の電極は、駆動回路105の入力端子として機能する。キャパシタ253と抵抗254との間のノードは、駆動回路105の出力端子として機能する。この出力端子は、短絡回路102の制御端子(具体的には、サイリスタ222のゲート電極)に接続される。このような構成により、駆動回路105は検出回路106の出力と第2電源線120との間の電圧を入力とするハイパスフィルタとして機能する。第2制御回路104の出力端子(具体的には、NMOSトランジスタ242のドレイン電極)は駆動回路105の出力端子に接続される。
続いて、図2(b)の保護回路100の動作例を説明する。まず、通常状態における保護回路100の動作を説明する。図2(a)の場合と同様に、第2制御回路104から、基準電位GNDの電圧が抑制信号として第1制御回路101に供給される。図2(b)の例では、抑止信号は、駆動回路105の出力端子に供給され、駆動回路105の出力と共に、サイリスタ222の制御端子に供給される。この結果、サイリスタ222は非導通状態となり、短絡回路102は非短絡状態となる。抑止信号をサイリスタ222の制御端子に供給することによって、電源ノイズによるサイリスタ222の誤動作が抑制される。
次に、第2電源線120を基準として第1電源線110に正のサージ電圧が印加された場合の保護回路100の動作を説明する。図2(b)の例では、駆動回路105と検出回路106との両方がハイパスフィルタとして機能する。従って、性のサージ電圧が印加された場合に、駆動回路105の出力端子からサイリスタ222の制御端子にハイレベルの信号が供給される。駆動回路105と検出回路106との両方がハイパスフィルタとして機能することで、フィルタ特性の急峻にすることができる。さらに、キャパシタ261とキャパシタ253の容量比によって、サイリスタ222を導通状態にするのに必要が大きさの駆動パルスを生成できる。
このような信号が供給されたサイリスタ222は導通状態に切り替わり、第1電源線110と第2電源線120とを短絡する。その結果、サージ電圧に起因するサージ電流は第1電源線110から短絡回路102を通じて第2電源線120へ流れるので、保護回路100は保護対象回路150にサージ電流が流れることを抑制できる。
次に、第2電源線120を基準として第1電源線110に負のサージ電圧が印加された場合の保護回路100の動作を説明する。クランプ回路103は上述と同様に動作して、導通状態になる。また、サイリスタ222には、駆動回路105からローレベルの信号が供給される。
本実施形態では、基準電圧が供給される第3電源線130がオープン状態である場合に、第1電源線110と第2電源線120との間にサージ電圧が発生した場合にも、保護対象回路150にサージ電流が流れることを抑制できる。
Claims (8)
- 電源装置から第1電源線、第2電源線及び第3電源線を通じて動作電圧が供給される保護対象回路をサージ電流から保護するための保護回路であって、
前記第1電源線と前記第2電源線とを短絡するための短絡回路と、
前記第1電源線及び前記第2電源線に接続された第1制御回路と、
前記第2電源線及び前記第3電源線に接続された第2制御回路とを備え、
前記第1電源線に供給される電圧は前記第2電源線に供給される電圧よりも高く、前記第2電源線に供給される電圧は前記第3電源線に供給される電圧よりも高く、
前記第2制御回路は、前記第3電源線の電圧を基準とした前記第2電源線の電圧が第1しきい値よりも高い場合に前記第1制御回路に抑制信号を供給し、
前記第1制御回路は、
前記抑制信号が供給されている場合に前記短絡回路を短絡せず、前記抑制信号が供給されておらず、
前記第2電源線の電圧を基準として前記第1電源線に正のサージ電圧が印加されている場合に前記短絡回路を短絡することを特徴とする保護回路。 - 前記第1制御回路は、前記第1電源線の電圧及び前記第2電源線の電圧を入力とするハイパスフィルタを含み、前記ハイパスフィルタからの出力に応じて前記短絡回路を短絡することを特徴とする請求項1に記載の保護回路。
- 前記第1制御回路は、入力端子、出力端子及び2つの電源端子を有するインバータを含み、
前記インバータの前記第1電源線及び前記第2電源線を通じて前記2つの電源端子に動作電圧が供給され、
前記インバータの前記入力端子に前記ハイパスフィルタからの出力が供給され、
前記第1制御回路は、前記ハイパスフィルタの前記出力端子からの出力に応じて前記短絡回路を短絡することを特徴とする請求項2に記載の保護回路。 - 前記第2制御回路は、前記抑制信号として、前記第3電源線の電圧を前記インバータの前記入力端子に供給することを特徴とする請求項3に記載の保護回路。
- 前記短絡回路は、前記第1電源線と前記第2電源線との間に接続されたスイッチを含み、
前記第1制御回路は、前記スイッチを導通状態にするために、前記アナログスイッチの制御端子に信号を供給することを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の保護回路。 - 前記短絡回路はサイリスタを含み、前記サイリスタのアノードは前記第1電源線に接続され、前記サイリスタのカソードは前記第2電源線に接続され、
前記第1制御回路は、前記サイリスタを導通状態にするために、前記サイリスタの制御端子に信号を供給することを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の保護回路。 - 前記第2制御回路は、前記抑制信号として、前記第3電源線の電圧を前記サイリスタの制御端子に供給することを特徴とする請求項6に記載の保護回路。
- 前記第1電源線と前記第2電源線との間に接続されたクランプ回路をさらに備え、
前記クランプ回路は、前記第2電源線の電圧を基準とした前記第1電源線の電圧が第2しきい値よりも低い場合に導通状態になることを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項に記載の保護回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family
ID=51175262
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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