JP2014107271A - サンプルをサンプリングし得られた情報の表示方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ビーム232はサンプル202をスキャンし、シグナルを検出装置242で検出する。一系列のN個のサブフレームをスキャンし、各サブフレームはMn個のスキャン位置を含み、各サブフレームのスキャン位置は他のサブフレームのスキャン位置と重ならず、NxMn個の位置が視野を形成し、少なくともNxMn画素を持つ表示装置244上に視野を表示する。例えば、第1サブフレームのスキャン後、各画素が第1サブフレームのスキャン位置から得られる情報を表示し、第2サブフレームのスキャン後、各画素が、第1サブフレーム、第2サブフレーム、又は両方のサブフレームのスキャンで得た情報を表示する。このスキャン法によりサンプルの電荷分布をより均一にし、電荷効果がより小さくなり、第1のサブフレームのスキャン後でも解釈しやすい画像を与える。
【選択図】図2
Description
・一系列のNの重なるサブフレームで、1つのサブフレームを一度に、前記サンプルをビームスキャンすることを含み、それぞれのサブフレームはMnのスキャン位置を含み、それぞれのサブフレームのスキャン位置は他のサブフレームの前記スキャン位置と重ならず、それにより前記ビームは前記サンプルをNxMn位置で照射し、前記NxMnスキャン位置が視野を形成し;
・前記ビームにより前記サンプルの照射に応じた前記サンプルから生じるシグナルを検出する検出装置を用いることを含み、前記シグナルはそれぞれのスキャン位置でサンプリングされ;及び
・前記サブフレームを少なくともNxMn画素を持つ表示装置上に、前記画素それぞれの一系列のNのスキャン後に、1又複数のスキャン位置からのシグナルから誘導される情報を表示するように、表示することを含む。
Claims (10)
- サンプルをサンプリングし、得られた情報を表示装置上へ表示する方法であり、前記方法は:
・一系列のNの重なるサブフレームで、1つのサブフレームを一度に、前記サンプルをビームスキャンすることを含み、それぞれのサブフレームはMnのスキャン位置を含み、それぞれのサブフレームのスキャン位置は他のサブフレームの前記スキャン位置と重ならず、それにより前記ビームは前記サンプルをNxMn位置で照射し、前記NxMnスキャン位置が視野を形成し;
・前記ビームにより前記サンプルの照射に応じた前記サンプルから生じるシグナルを検出する検出装置を用いることを含み、前記シグナルはそれぞれのスキャン位置でサンプリングされ;及び
・前記サブフレームを少なくともNxMn画素を持つ表示装置上に、前記画素それぞれの一系列のNのスキャン後に、1又複数のスキャン位置からのシグナルから得られる情報を表示するように表示することを含み、
・前記画素の第1のサブフレームのスキャン後、それぞれの画素が、前記第1のサブフレームの前記スキャン位置から得られる情報を表示し;及び
・前記第2のサブフレームのスキャン後、それぞれの画素が、前記第1のサブフレーム、前記第2のサブフレーム又は両方のサブフレームのスキャンの際に得られた情報を表示すること、を特徴とする、方法。 - 請求項1に記載の方法であり、サブフレームあたりの前記スキャン位置及び画素数が全てのサブフレームで同じである、方法。
- 請求項1又は2のいずれか一項に記載の方法であり、N=(kxxky)であり、ここでkx及びkyは生正整数であり、kx及びkyの少なくとも1つは1より大きく、より具体的にはN=k2でありここでkは1より大きい整数である、方法。
- 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の方法であり、前記ビームが、赤外線光、可視光又はX線、又は電子、イオン、電荷クラスタ、電荷分子、原子又は分子からなる郡から選択されるビームである、方法。
- 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の方法であり、前記少なくとも1つのN系列サブフレームについて、他の1又は複数のサブフレームに関して前記サブフレームの位置が、前記サンプルのドリフト及び/又は振動及び/又は変位について補正される、方法。
- 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の方法であり、サブフレームの新しい系列が、既定の値よりも大きい変位が前記最後に得られたサブフレームと少なくとも1つのより前に得られたサブフレーム間で検出された後に、開始される、方法。
- 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法であり、ユーザーが新しいサブフレームの系列を開始するか、又は新しいサブフレーム系列が、サンプルが載せられているサンプルステージが動いた後、前記視野の変化後、又は検出器設定の変更後に開始される、方法。
- 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の方法であり、前記第1のサブフレームのスキャン後に少なくとも1つの画素が、2以上の位置から得られる情報を示す、方法。
- 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の方法であり、前記検出器が、前記サンプルからの、X線光子、光光子、二次電子又は後方散乱電子の数及び/又はエネルギー及び/又は角度分布を検出する、方法。
- 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の方法であり、前記それぞれのサブフレームのスキャン時間が、お互いのサブフレームのスキャン時間と等しい、方法。
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