JP2014095688A - 撮像装置及び撮像システム - Google Patents

撮像装置及び撮像システム Download PDF

Info

Publication number
JP2014095688A
JP2014095688A JP2013156748A JP2013156748A JP2014095688A JP 2014095688 A JP2014095688 A JP 2014095688A JP 2013156748 A JP2013156748 A JP 2013156748A JP 2013156748 A JP2013156748 A JP 2013156748A JP 2014095688 A JP2014095688 A JP 2014095688A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
filter
spectral
imaging device
imaging
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013156748A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Yamanaka
祐治 山中
Kensuke Masuda
憲介 増田
Takeshi Maruyama
剛 丸山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2013156748A priority Critical patent/JP2014095688A/ja
Priority to US14/031,388 priority patent/US9531963B2/en
Publication of JP2014095688A publication Critical patent/JP2014095688A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/30Transforming light or analogous information into electric information
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/55Optical parts specially adapted for electronic image sensors; Mounting thereof

Abstract

【課題】ノイズに対するロバスト性の高い撮像装置を提供する。
【解決手段】メインレンズ24の絞り付近(ここでは中心)には、分光透過率が空間的に連続的に変化するフィルタ26が配置されている。メインレンズ24の集光位置付近には、複数のマイクロレンズから構成されるMLA3が配置されている。符号6はセンサを示す。フィルタ26を通過した光線は、MLA3付近で一旦結像するが、その後MLA3により、それぞれセンサの別位置に到達するため、物体1のある一点の分光反射率を同時に測定することができる。連続的な分光反射率を撮影と同時に直接得ることができるため、推定処理は不要となり、ノイズに対するロバスト性の高い二次元分光反射率を測定することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、物体からの分光情報を取得する撮像装置、該撮像装置を備えた撮像システムに関する。
物体のスペクトルを評価することにより、物体の本来の分光反射率特性、状態を観察することができる。
スペクトルを測定する装置としては、プリズムや回折格子(グレーティング)、液晶チューナブルフィルタ等を利用した分光器が一般的に知られている。
これまでの分光器は、リアルタイム(瞬時的)に点、線分のスペクトルを測定することはできるが、面を一度に測定することでできない、といった問題があった。
面を計測する場合には、線測定の分光器を用いてスキャンすることで測定していた。
この方式では、細胞などのスペクトルを測定する場合は、被写体自身が動いてしまうために、被写体に対応したスペクトルを正確に測定することができないといった問題があった。
特許文献1には、二次元の分光反射率特性を測定する目的で、波長可変フィルタを用いて、波長領域が異なる複数のチャンネルを切り替え、撮影されたマルチバンド画像より、撮影被写体のスペクトルを推定する方法が開示されている。
波長可変フィルタでチャンネルを切り替えながら、同一の被写体を撮影手段により撮影した複数の原画像からなるマルチバンド画像を取得し、該マルチバンド画像から被写体のスペクトルを推定するものである。
波長可変フィルタのチャンネル数は、10チャンネル以上としている。
しかしながら、特許文献1に記載の方式は、波長可変フィルタでチャンネルを切り替えながら逐一バンド画像を得るものであるため、複数のチャンネルのスペクトル画像を一度にリアルタイム(瞬時的)に測定することはできない。
すなわち、波長可変フィルタのチャンネルを切り替えて各バンド画像を得る動作が10回以上必要となり、時間を要することを避けられない。
このため、上述した、被写体自身が動いてしまうために、被写体に対応したスペクトルを正確に測定することができないという問題の解消には至っていない。
特許文献2のFIG.11には、対物レンズ(以下、「メインレンズ」という)に入射した光を、メインレンズの絞り付近に配置された、分光特性の異なるバンドパスフィルタからなるフィルタに通し、フィルタ通過後の光束をマイクロレンズアレイ(以下「MLA」という)で複数に分割してセンサで受光する構成が開示されている。
センサとしてカラーセンサを用いると、センサ側にも複数のフィルタが存在するため、情報が重畳することとなり所望の特性が得られない。このため、センサとしてはモノクロセンサが用いられている。
この方式によれば、複数種類の分光情報を同時に取得することができ、撮影後にスペクトル毎に並べ替えることにより画像が得られる。
すなわち、撮影画像の分光特性毎に並べ替えを施し、複数種類の分光画像の生成を行っている。
そして、ソフトウェアにおいて、複数種類の分光画像から、画素毎のスペクトルを計算する。
複数種類のバンドパスフィルタの出力結果から、スペクトルを推定するためには、スペクトル分布の波長間をスプライン補間やラグランジェ補間等により非線形に補間する方法が、一般的に知られている。
上記のように、従来においては、波長的に離散的な複数のバンドの出力から連続的な分光反射率を推定するようになっている。
しかしながら、高精度な推定処理には被検物に対する事前知識(具体的には被検物のスペクトルに似たスペクトル群の統計量)が必要であり、ノイズの影響も大きく受ける。
本発明は、このような現状に鑑みて創案されたもので、ノイズに対するロバスト性の高い撮像装置の提供を、その目的とする。
上記目的を達成すべく、本発明は、連続的な分光反射率を撮影時にダイレクトに得ることとし、推定処理を不要にしてノイズの影響を排除することとした。
具体的には、本発明は、光学系と、前記光学系により集光された光情報を電子情報に変換するセンサと、を備え、物体からの分光情報を取得する撮像装置において、前記光学系の絞り付近には、複数の分光特性を有するフィルタが配置され、前記光学系と、前記センサとの間には、前記センサの二次元平面方向に略平行に複数のレンズが並んだレンズアレイが配置され、前記フィルタは、空間的に連続的に分光透過率が変化するフィルタであることを特徴とする。
本発明によれば、連続的な分光透過特性をもつフィルタを利用することで、連続的な分光反射率を撮影と同時に直接得ることができる。
これにより、推定処理は不要となり、ノイズに対するロバスト性の高い撮像装置を実現できる。
本発明の撮像装置の原理を説明するための模式図である。 本発明の第1の実施形態に係る撮像システムの構成を示す図で、(a)は正面図、(b)は側面図である。 フィルタ及び絞りの形状を示す正面図である。 撮影画像の一例を示す図である。 マクロピクセルの拡大図である。 波長と分光反射率との関係を示す特性図である。 二次元分光反射率を測定する処理のフローチャートである。 フィルタの製造方法を示す概要断面図である。 分光透過率が連続的に変化するフィルタの位置と透過率との関係の一例を示す図である。 第2の実施形態におけるフィルタの及び絞りの形状を示す正面図である。 第3の実施形態におけるフィルタの及び絞りの形状を示す正面図である。 第4の実施形態におけるフィルタの及び絞りの形状を示す正面図である。
以下、本発明の実施形態を図を参照して説明する。
図1乃至図9に基づいて第1の実施形態を説明する。本実施形態に係る撮像装置及び撮像システムの具体的構成を説明する前に、図1に基づいて本実施形態に係る撮像装置の原理を説明する。
ここでは、分かり易く説明するために、光学系としてのメインレンズ24は単レンズで示し、メインレンズ24の絞り位置Sを単レンズの中心としている。
メインレンズ24の中心には、分光透過率が空間的に連続的に変化するフィルタ26が配置されている。すなわち、フィルタ26は複数の分光特性を有する。
実際には、レンズ内にフィルタが位置することはない。
フィルタ26の分光透過率の連続性の方向性は、1つの面内であれば限定されない。
例えば、メインレンズ24の光軸に直交する面において、図1中の上下方向、又はこれに直交する方向、あるいは斜めに交差する方向などで連続性を有していればよい。
メインレンズ24の集光位置付近には、複数のマイクロレンズ(小レンズ)から構成されるMLA3が配置されている。
イメージ面6にはセンサとしての受光素子アレイが配置されている。受光素子アレイは複数の受光素子からなる。以下においては、符号6を受光素子アレイとして表記する。
MLA3のマイクロレンズの径と、受光素子アレイ6を構成する各受光素子とは、おおよそ30:1〜10:1の比率の関係にある。
MLA3では、受光素子アレイの二次元平面方向に略方向に複数のマイクロレンズが並んでいる。
受光素子アレイ6は、画素ごとのカラーフィルタが実装されていないモノクロセンサである。以下、受光素子アレイを「モノクロセンサ」ともいう。
受光素子アレイ6は、光学系により集光された光情報を電子情報に変換するセンサである。
物体1から発する光のうち、メインレンズ24の開口に入射する光束が分光反射率測定の対象となる。
メインレンズ24に入射した光束は無数の光線の集合であり、それぞれの光線はメインレンズ24の絞りの異なる位置を通過する。
メインレンズ24の絞り位置にフィルタ26を配置しているので、各光線は異なる分光透過率のフィルタを通過することになる。
フィルタ26を通過した光線は、MLA3付近で一旦結像するが、その後MLA3により、それぞれセンサの別位置に到達する。
すなわち、センサ面の位置は光線が通過したフィルタ位置に対応するので、物体のある一点の分光反射率を同時に測定することができる。
図1では、光軸上の一点のみの場合を示しているが、軸外についても同様であり、二次元の分光反射率を同時に測定することが可能となる。
フィルタ26は、メインレンズ24の絞り付近に配置される。
ここで、「絞り付近」とは、絞り位置を含み、種々の画角の光線が通過できる部位を意味する。
図2に本実施形態に係る撮像システムの構成を示す。
撮像システム10は、物体からの分光情報を取得する撮像装置12と、分光反射率を算出してスペクトルを推定するスペクトル推定部16とを有している。
撮像装置12は、該撮像装置12により取得された分光情報に基づいて複数種類の分光画像を生成する分光画像生成手段としてのFPGA(Field-Programmable Gate Array)14を有している。
スペクトル推定部16は、CPUやROM、RAM等により構成され、FPGA14により生成された分光画像から画素毎の分光反射率を算出してスペクトルを推定する。
撮像装置12は、レンズモジュール18と、カメラ部20とから構成されており、FPGA14はカメラ部20に内蔵されている。
FPGA14は撮像装置12の外部にあってもよい。
レンズモジュール18は、鏡筒22と、該鏡筒22内に設けられたメインレンズ24と、フィルタ26と、レンズ28とを有している。
カメラ部20は、その内部にMLA3と、モノクロセンサ6と、FPGA14とを有している。
MLA3は、メインレンズ24の光軸と直交する方向に複数のマイクロレンズを配置した構成を有している。
鏡筒22の先端部には、光源としてのLED30が周方向に等間隔に埋設状態で複数設けられている。LED30を光源とすることにより、撮影環境条件に左右されず安定した分光情報を取得することができる。
図3は、本実施形態に係るフィルタ26及び絞りの正面図である。
フィルタ26の下部が短波長、上部が長波長の分光透過率ピークを持つ。
この場合、撮影画像は、図4に示すように、小さな円が並んだものとなる。円になるのは単レンズの絞り形状が円であるためである。
それぞれの小さな円を、ここでは「マクロピクセル」と呼ぶこととする。マクロピクセルを全て集めると1つの画像となる。
各マクロピクセルは、MLA3を構成する各小レンズ(マイクロレンズ)の直下に形成される。マクロピクセルの径とマイクロレンズの径はほぼ同じである。
図1に示すように、マクロピクセルの上部はフィルタ26の下部を通過してきた光線が到達し、下部にはフィルタ26の上部を通過してきた光線が到達する。
フィルタ26の下部が短波長、上部が長波長の分光透過率を持つような配置とすると、それに対応するように、マクロピクセルの上部には短波長、下部には長波長の光線が到達する。
各マクロピクセルの行ごとの平均値を算出し、照明の分光強度、レンズの分光透過率、フィルタの分光透過率、受光素子の分光感度を考慮して計算することで分光反射率を求めることができる。
マクロピクセルの拡大図を図5に示す。
ここでは、一つのマクロピクセルが23x23画素の場合を考える。この一つのマクロピクセルから被検物のある点の分光反射率を求める。
まず、最も短波長(λs)側の反射率を求める手順を述べる。
撮像装置から得られるデータは受光素子からの出力値であり、出力値は受光素子に入射する光線量に対応している。
光線量は照明の分光強度、被検物の分光反射率、光学系(メインレンズ)の分光透過率、フィルタ26の分光透過率、受光素子の分光感度の5つの特性の波長λsにおける値の積である。
よって、被検物のλsにおける反射率を求めるには、出力値を分光反射率以外の4つの値で除算すればよい。
ここでの出力値には、図5の最下段の行の画素23個の出力値の総和をマクロピクセルが形成されている面積で除した値を用いる。
マクロピクセルが形成されている面積とは、図5中黒く塗りつぶされている領域以外の光線が届いている面積のことである。
これは各行の出力値を規格化するためである。以上の手順でλsでの反射率の相対値を得ることができる。絶対値は別途校正が必要となる。
照明の分光強度、光学系の分光透過率、フィルタの分光透過率、受光素子の分光感度、マクロピクセルの各行の面積は設計時に既知である。
以上の処理をマクロピクセルの各行に対して適用することで23の波長における反射率を得ることができる。
その測定結果の一例を図6に示す。横軸が波長、縦軸が分光反射率の相対値である。
以上が一つのマクロピクセルに対する処理であり、全てのマクロピクセルに対して同じ処理を適用することで、二次元分光反射率を測定することが可能となる。処理の流れを図7に示す。
フィルタ26は、図8に示すように、光学ガラスなどの透明基板32に薄膜34を、厚みがくさび状に変化するように蒸着することで作製することができる。
本実施形態における薄膜34の材質は五酸化ニオブであり、短波長側の材質は五酸化タンタルである。
薄膜34の膜厚は数十〜数百nmである。膜厚の薄いほうが短波長、厚いほうが長波長に対応する。薄膜34の厚みがくさび状(無段階)に変化するため、分光透過率も連続的に変化する。
光の干渉により分光透過率を制御しているので、透過光が強め合う条件が分光透過率のピーク波長に相当する。
透明基板32の厚みは、フィルタの保持が可能であればよい。絞り位置付近にレンズが近接している設計のレンズもあり、その場合は薄いほうがよい。例えば0.5mm程度である。
分光透過率が連続的に変化するフィルタの位置と透過率との関係は、例えば図9に示すものが知られている(株式会社ニコンのリニアバリアブルフィルタ(LVF)のウェブサイトより抜粋)。
上記のように、連続的な分光透過特性をもつフィルタを利用することで、連続的な分光反射率を撮影と同時に直接得ることができる。
これにより、推定処理は不要となり、ノイズに対するロバスト性の高い二次元分光反射率を測定することができる。
図10に第2の実施形態を示す。
なお、上記実施形態と同一部分は同一符号で示し、特に必要がない限り既にした構成上及び機能上の説明は省略して要部のみ説明する(以下の他の実施形態において同じ)。
本実施形態におけるフィルタ26は、透過帯域毎に分割した構成を有している。
すなわち、フィルタ26は、400nm〜500nmの波長域に対応するフィルタ26aと、500nm〜600nmの波長域に対応するフィルタ26bと、600nm〜700nmの波長域に対応するフィルタ26cとから構成されている。
したがって、フィルタ26は、紫外域あるいは赤外域においても連続的に分光透過率が変化するフィルタである。
各フィルタ26a、26b、26cは、それぞれが空間的に連続的に分光透過率が変化するフィルタである。ここでは、図中上から下に向ってそれぞれ波長が大きくなっている。
各フィルタ26a、26b、26cの長手方向の向きは統一する必要はない。要するに、分光透過率が連続的に変化する領域が存在すればよく、方向性は関係ない。
また、各フィルタ26a、26b、26cは上記構成に限定されず、各々異なる波長域を少なくとも一部に有していればよい。
各透過帯域は一例であり、これらの値に限定される趣旨ではない。
このようにフィルタを分割することで、1画素に対応する波長幅を狭くすることができる。
すなわち、波長的な分解能が高い分光反射率測定が可能となる。
また、分割して配置することにより、細長いフィルタに比べ、狭い絞り径内で分光透過率の連続性を確保することができる。
図11に第3の実施形態を示す。
本実施形態では、絞りの形状を矩形としている。
絞りの形状を矩形にすることでマクロピクセルの形状も矩形となり、円形のときと比べて利用できる画素が増える。
すなわち、図4におけるマクロピクセル間の黒い部分(画像形成に寄与しない部分)を少なくすることができる。
その結果、マクロピクセルの上端や下端の画素に対する波長のS/N比を向上させることができ、分光反射率の測定精度を向上させることができる。
図12に第4の実施形態を示す。
本実施形態におけるフィルタ26は、同心円状に連続的に分光透過率が変化するフィルタである。
このようにすることで、一般的な円形絞りの場合でも、各波長のS/Nを高くすることができ、分光反射率の測定精度を向上させることができる。
上記フィルタ26において、紫外領域あるいは赤外領域にも連続的な分光透過率をもつ構成としてもよい。
このようにすれば、不可視領域の分光反射率測定ができ、人間の眼で見たときは違いがわからない物体でも成分や素材の差を検出することが可能となる。
1 物体
3 レンズアレイ
6 センサとしてのモノクロセンサ
12 撮像装置
14 分光画像生成手段としてのFPGA
24 光学系としてのメインレンズ
26 フィルタ
32 透明基板
34 薄膜
特開2001−99710号公報 US 7,433,042 B1

Claims (10)

  1. 光学系と、
    前記光学系により集光された光情報を電子情報に変換するセンサと、を備え、
    物体からの分光情報を取得する撮像装置において、
    前記光学系の絞り付近には、複数の分光特性を有するフィルタが配置され、
    前記光学系と、前記センサとの間には、前記センサの二次元平面方向に略平行に複数のレンズが並んだレンズアレイが配置され、
    前記フィルタは、空間的に連続的に分光透過率が変化するフィルタであることを特徴とする撮像装置。
  2. 請求項1に記載の撮像装置において、
    前記フィルタは、複数に分割して配置されていることを特徴とする撮像装置。
  3. 請求項1に記載の撮像装置において、
    前記フィルタは、各々異なる波長域を少なくとも一部に有する複数のフィルタからなることを特徴とする撮像装置。
  4. 請求項1〜3のいずれか1つに記載の撮像装置において、
    前記光学系の絞りの形状が、矩形であることを特徴とする撮像装置。
  5. 請求項1〜4のいずれか1つに記載の撮像装置において、
    前記フィルタは、その形状の中心から同心円状に連続的に分光透過率が変化することを特徴とする撮像装置。
  6. 請求項1〜5のいずれか1つに記載の撮像装置において、
    前記フィルタは、紫外域あるいは赤外域においても連続的に分光透過率が変化するフィルタであることを特徴とする撮像装置。
  7. 請求項1〜6のいずれか1つに記載の撮像装置において、
    前記フィルタは、透明基板に薄膜を厚みがくさび状に変化するように蒸着されて形成され、厚みの変化が分光透過率の変化に対応していることを特徴とする撮像装置。
  8. 請求項7に記載の撮像装置において、
    前記薄膜の材質は、五酸化ニオブであることを特徴とする撮像装置。
  9. 請求項7又は8に記載の撮像装置において、
    前記薄膜の短波長側の材質は、五酸化タンタルであることを特徴とする撮像装置。
  10. 物体からの分光情報を取得し、取得された分光情報に基づいて複数種類の分光画像を生成する撮像装置と、
    生成された分光画像から画素毎の分光反射率を算出してスペクトルを推定するスペクトル推定部と、
    を有する撮像システムにおいて、
    前記撮像装置が、請求項1〜9のいずれか1つに記載のものであることを特徴とする撮像システム。
JP2013156748A 2012-10-09 2013-07-29 撮像装置及び撮像システム Pending JP2014095688A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013156748A JP2014095688A (ja) 2012-10-09 2013-07-29 撮像装置及び撮像システム
US14/031,388 US9531963B2 (en) 2012-10-09 2013-09-19 Image capturing device and image capturing system

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012224410 2012-10-09
JP2012224410 2012-10-09
JP2013156748A JP2014095688A (ja) 2012-10-09 2013-07-29 撮像装置及び撮像システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014095688A true JP2014095688A (ja) 2014-05-22

Family

ID=50432382

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013156748A Pending JP2014095688A (ja) 2012-10-09 2013-07-29 撮像装置及び撮像システム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9531963B2 (ja)
JP (1) JP2014095688A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019132607A (ja) * 2018-01-29 2019-08-08 株式会社Jvcケンウッド 分光器

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6340884B2 (ja) 2013-06-19 2018-06-13 株式会社リコー 測定装置、測定システム及び測定方法
CN104580877B (zh) * 2013-10-29 2018-03-06 华为技术有限公司 图像获取的装置及方法
JP2015228641A (ja) * 2014-05-07 2015-12-17 株式会社リコー 撮像装置、露光調整方法およびプログラム
US9880053B2 (en) * 2014-10-29 2018-01-30 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Image pickup apparatus, spectroscopic system, and spectroscopic method
CN107209116B (zh) * 2014-12-23 2020-08-07 苹果公司 包括考虑样本内的光学路径长度的变化的光学检查系统和方法
EP3112920A1 (en) * 2015-06-30 2017-01-04 Thomson Licensing Plenoptic camera comprising an anti-vignetting optical filter and method f controlling the same
TWI579540B (zh) * 2015-12-02 2017-04-21 財團法人工業技術研究院 多點光譜系統
CN105547469B (zh) * 2015-12-04 2018-01-30 哈尔滨工业大学 基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法
CN107800951B (zh) * 2016-09-07 2020-07-14 深圳富泰宏精密工业有限公司 电子装置及其镜头切换方法
WO2019160949A1 (en) 2018-02-13 2019-08-22 Masseta Technologies Llc Integrated photonics device having integrated edge outcouplers
US10859436B2 (en) * 2019-02-19 2020-12-08 Renesas Electronics America Inc. Spectrometer on a chip
JP7309640B2 (ja) * 2020-03-18 2023-07-18 株式会社東芝 光学検査装置
US11852318B2 (en) 2020-09-09 2023-12-26 Apple Inc. Optical system for noise mitigation

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001099710A (ja) * 1999-09-28 2001-04-13 Fuji Photo Film Co Ltd マルチバンド画像の分光反射率のスペクトル推定方法およびスペクトル推定システム
JP2004252214A (ja) * 2003-02-20 2004-09-09 Sun Tec Kk 任意波長選択フィルタ、マルチチャネルモニタおよび生体検査装置
US20080266655A1 (en) * 2005-10-07 2008-10-30 Levoy Marc S Microscopy Arrangements and Approaches

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7057721B2 (en) * 2002-01-10 2006-06-06 Chemimage Corporation Wide field method for detecting pathogenic microorganisms
JP2005017347A (ja) 2003-06-23 2005-01-20 Canon Inc 絞り装置及びそれを用いた光学機器
US6947142B2 (en) * 2003-06-26 2005-09-20 Eastman Kodak Company Color detection in random array of microspheres
US7433042B1 (en) * 2003-12-05 2008-10-07 Surface Optics Corporation Spatially corrected full-cubed hyperspectral imager
JP4717363B2 (ja) * 2004-03-10 2011-07-06 オリンパス株式会社 マルチスペクトル画像撮影装置及びアダプタレンズ
JP2008216479A (ja) 2007-03-01 2008-09-18 Tohoku Univ 波長可変フィルタ分光装置
CN101520532A (zh) * 2008-02-29 2009-09-02 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 复合镜片
US8406859B2 (en) * 2008-08-10 2013-03-26 Board Of Regents, The University Of Texas System Digital light processing hyperspectral imaging apparatus
JP5712342B2 (ja) * 2008-11-27 2015-05-07 ナノフォトン株式会社 光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法
WO2010069562A1 (en) * 2008-12-17 2010-06-24 Abbott Laboratories Vascular Enterprises Limited Body lumen filters with large surface area anchors
CN102334333B (zh) * 2009-01-16 2016-05-11 双光圈国际株式会社 改善成像系统的景深
JP5394814B2 (ja) 2009-05-01 2014-01-22 三星電子株式会社 光検出素子及び撮像装置
US8358365B2 (en) * 2009-05-01 2013-01-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Photo detecting device and image pickup device and method thereon
US8649008B2 (en) * 2010-02-04 2014-02-11 University Of Southern California Combined spectral and polarimetry imaging and diagnostics
US20120035646A1 (en) * 2010-08-06 2012-02-09 Abbott Laboratories Vascular Enterprises Limited Bistable body lumen filter anchors
US8570406B2 (en) * 2010-08-11 2013-10-29 Inview Technology Corporation Low-pass filtering of compressive imaging measurements to infer light level variation

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001099710A (ja) * 1999-09-28 2001-04-13 Fuji Photo Film Co Ltd マルチバンド画像の分光反射率のスペクトル推定方法およびスペクトル推定システム
JP2004252214A (ja) * 2003-02-20 2004-09-09 Sun Tec Kk 任意波長選択フィルタ、マルチチャネルモニタおよび生体検査装置
US20080266655A1 (en) * 2005-10-07 2008-10-30 Levoy Marc S Microscopy Arrangements and Approaches

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019132607A (ja) * 2018-01-29 2019-08-08 株式会社Jvcケンウッド 分光器

Also Published As

Publication number Publication date
US20140098212A1 (en) 2014-04-10
US9531963B2 (en) 2016-12-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014095688A (ja) 撮像装置及び撮像システム
US9307127B2 (en) Image capturing device and image capturing system
US8711215B2 (en) Imaging device and imaging method
JP5358039B1 (ja) 撮像装置
JP5374862B2 (ja) 焦点検出装置および撮像装置
JP5144841B1 (ja) 撮像装置
US9605944B2 (en) Distance measuring device and distance measuring method
US11140311B2 (en) Detecting apparatus and detecting method
US9270948B2 (en) Image pick-up device, method, and system utilizing a lens having plural regions each with different focal characteristics
US10566358B2 (en) Image sensor and image capturing apparatus
KR20170131526A (ko) 공간적으로 코딩된 이미지를 생성하는 이미지 분산부를 갖는 이미징 디바이스
CN113884184B (zh) 使用光学滤波器子阵列的光谱传感器系统
JP2015228641A (ja) 撮像装置、露光調整方法およびプログラム
JP7164694B2 (ja) 分光カメラ、撮像方法、プログラム及び記録媒体
JP2011223382A (ja) 撮像装置
US20170227707A1 (en) Imaging sensor and method of manufacturing the same
JP6942480B2 (ja) 焦点検出装置、焦点検出方法、および焦点検出プログラム
JP5850648B2 (ja) 撮像装置
JP2014089075A (ja) 分光反射率測定システム
US9794468B2 (en) Image sensor, image capturing apparatus, focus detection apparatus, image processing apparatus, and control method of image capturing apparatus using pupil division in different directions
US11889186B2 (en) Focus detection device, focus detection method, and image capture apparatus
JP7146477B2 (ja) 検出装置および検出方法
JP6432138B2 (ja) 測定装置、色情報取得装置及び製造方法
US20230402485A1 (en) Imaging system using spatially separated spectral arrays
US20230082539A1 (en) Illuminant correction in an imaging system

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160707

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170425

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170428

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170626

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20170926