JP2014095688A - 撮像装置及び撮像システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】メインレンズ24の絞り付近(ここでは中心)には、分光透過率が空間的に連続的に変化するフィルタ26が配置されている。メインレンズ24の集光位置付近には、複数のマイクロレンズから構成されるMLA3が配置されている。符号6はセンサを示す。フィルタ26を通過した光線は、MLA3付近で一旦結像するが、その後MLA3により、それぞれセンサの別位置に到達するため、物体1のある一点の分光反射率を同時に測定することができる。連続的な分光反射率を撮影と同時に直接得ることができるため、推定処理は不要となり、ノイズに対するロバスト性の高い二次元分光反射率を測定することができる。
【選択図】図1
Description
スペクトルを測定する装置としては、プリズムや回折格子(グレーティング)、液晶チューナブルフィルタ等を利用した分光器が一般的に知られている。
面を計測する場合には、線測定の分光器を用いてスキャンすることで測定していた。
この方式では、細胞などのスペクトルを測定する場合は、被写体自身が動いてしまうために、被写体に対応したスペクトルを正確に測定することができないといった問題があった。
波長可変フィルタでチャンネルを切り替えながら、同一の被写体を撮影手段により撮影した複数の原画像からなるマルチバンド画像を取得し、該マルチバンド画像から被写体のスペクトルを推定するものである。
波長可変フィルタのチャンネル数は、10チャンネル以上としている。
すなわち、波長可変フィルタのチャンネルを切り替えて各バンド画像を得る動作が10回以上必要となり、時間を要することを避けられない。
このため、上述した、被写体自身が動いてしまうために、被写体に対応したスペクトルを正確に測定することができないという問題の解消には至っていない。
センサとしてカラーセンサを用いると、センサ側にも複数のフィルタが存在するため、情報が重畳することとなり所望の特性が得られない。このため、センサとしてはモノクロセンサが用いられている。
この方式によれば、複数種類の分光情報を同時に取得することができ、撮影後にスペクトル毎に並べ替えることにより画像が得られる。
そして、ソフトウェアにおいて、複数種類の分光画像から、画素毎のスペクトルを計算する。
複数種類のバンドパスフィルタの出力結果から、スペクトルを推定するためには、スペクトル分布の波長間をスプライン補間やラグランジェ補間等により非線形に補間する方法が、一般的に知られている。
しかしながら、高精度な推定処理には被検物に対する事前知識(具体的には被検物のスペクトルに似たスペクトル群の統計量)が必要であり、ノイズの影響も大きく受ける。
これにより、推定処理は不要となり、ノイズに対するロバスト性の高い撮像装置を実現できる。
図1乃至図9に基づいて第1の実施形態を説明する。本実施形態に係る撮像装置及び撮像システムの具体的構成を説明する前に、図1に基づいて本実施形態に係る撮像装置の原理を説明する。
ここでは、分かり易く説明するために、光学系としてのメインレンズ24は単レンズで示し、メインレンズ24の絞り位置Sを単レンズの中心としている。
メインレンズ24の中心には、分光透過率が空間的に連続的に変化するフィルタ26が配置されている。すなわち、フィルタ26は複数の分光特性を有する。
実際には、レンズ内にフィルタが位置することはない。
例えば、メインレンズ24の光軸に直交する面において、図1中の上下方向、又はこれに直交する方向、あるいは斜めに交差する方向などで連続性を有していればよい。
イメージ面6にはセンサとしての受光素子アレイが配置されている。受光素子アレイは複数の受光素子からなる。以下においては、符号6を受光素子アレイとして表記する。
MLA3のマイクロレンズの径と、受光素子アレイ6を構成する各受光素子とは、おおよそ30:1〜10:1の比率の関係にある。
MLA3では、受光素子アレイの二次元平面方向に略方向に複数のマイクロレンズが並んでいる。
受光素子アレイ6は、光学系により集光された光情報を電子情報に変換するセンサである。
物体1から発する光のうち、メインレンズ24の開口に入射する光束が分光反射率測定の対象となる。
メインレンズ24に入射した光束は無数の光線の集合であり、それぞれの光線はメインレンズ24の絞りの異なる位置を通過する。
フィルタ26を通過した光線は、MLA3付近で一旦結像するが、その後MLA3により、それぞれセンサの別位置に到達する。
すなわち、センサ面の位置は光線が通過したフィルタ位置に対応するので、物体のある一点の分光反射率を同時に測定することができる。
ここで、「絞り付近」とは、絞り位置を含み、種々の画角の光線が通過できる部位を意味する。
撮像システム10は、物体からの分光情報を取得する撮像装置12と、分光反射率を算出してスペクトルを推定するスペクトル推定部16とを有している。
撮像装置12は、該撮像装置12により取得された分光情報に基づいて複数種類の分光画像を生成する分光画像生成手段としてのFPGA(Field-Programmable Gate Array)14を有している。
スペクトル推定部16は、CPUやROM、RAM等により構成され、FPGA14により生成された分光画像から画素毎の分光反射率を算出してスペクトルを推定する。
FPGA14は撮像装置12の外部にあってもよい。
レンズモジュール18は、鏡筒22と、該鏡筒22内に設けられたメインレンズ24と、フィルタ26と、レンズ28とを有している。
MLA3は、メインレンズ24の光軸と直交する方向に複数のマイクロレンズを配置した構成を有している。
鏡筒22の先端部には、光源としてのLED30が周方向に等間隔に埋設状態で複数設けられている。LED30を光源とすることにより、撮影環境条件に左右されず安定した分光情報を取得することができる。
フィルタ26の下部が短波長、上部が長波長の分光透過率ピークを持つ。
この場合、撮影画像は、図4に示すように、小さな円が並んだものとなる。円になるのは単レンズの絞り形状が円であるためである。
各マクロピクセルは、MLA3を構成する各小レンズ(マイクロレンズ)の直下に形成される。マクロピクセルの径とマイクロレンズの径はほぼ同じである。
図1に示すように、マクロピクセルの上部はフィルタ26の下部を通過してきた光線が到達し、下部にはフィルタ26の上部を通過してきた光線が到達する。
各マクロピクセルの行ごとの平均値を算出し、照明の分光強度、レンズの分光透過率、フィルタの分光透過率、受光素子の分光感度を考慮して計算することで分光反射率を求めることができる。
ここでは、一つのマクロピクセルが23x23画素の場合を考える。この一つのマクロピクセルから被検物のある点の分光反射率を求める。
まず、最も短波長(λs)側の反射率を求める手順を述べる。
光線量は照明の分光強度、被検物の分光反射率、光学系(メインレンズ)の分光透過率、フィルタ26の分光透過率、受光素子の分光感度の5つの特性の波長λsにおける値の積である。
よって、被検物のλsにおける反射率を求めるには、出力値を分光反射率以外の4つの値で除算すればよい。
マクロピクセルが形成されている面積とは、図5中黒く塗りつぶされている領域以外の光線が届いている面積のことである。
これは各行の出力値を規格化するためである。以上の手順でλsでの反射率の相対値を得ることができる。絶対値は別途校正が必要となる。
以上の処理をマクロピクセルの各行に対して適用することで23の波長における反射率を得ることができる。
その測定結果の一例を図6に示す。横軸が波長、縦軸が分光反射率の相対値である。
本実施形態における薄膜34の材質は五酸化ニオブであり、短波長側の材質は五酸化タンタルである。
薄膜34の膜厚は数十〜数百nmである。膜厚の薄いほうが短波長、厚いほうが長波長に対応する。薄膜34の厚みがくさび状(無段階)に変化するため、分光透過率も連続的に変化する。
透明基板32の厚みは、フィルタの保持が可能であればよい。絞り位置付近にレンズが近接している設計のレンズもあり、その場合は薄いほうがよい。例えば0.5mm程度である。
分光透過率が連続的に変化するフィルタの位置と透過率との関係は、例えば図9に示すものが知られている(株式会社ニコンのリニアバリアブルフィルタ(LVF)のウェブサイトより抜粋)。
これにより、推定処理は不要となり、ノイズに対するロバスト性の高い二次元分光反射率を測定することができる。
なお、上記実施形態と同一部分は同一符号で示し、特に必要がない限り既にした構成上及び機能上の説明は省略して要部のみ説明する(以下の他の実施形態において同じ)。
本実施形態におけるフィルタ26は、透過帯域毎に分割した構成を有している。
したがって、フィルタ26は、紫外域あるいは赤外域においても連続的に分光透過率が変化するフィルタである。
各フィルタ26a、26b、26cは、それぞれが空間的に連続的に分光透過率が変化するフィルタである。ここでは、図中上から下に向ってそれぞれ波長が大きくなっている。
各フィルタ26a、26b、26cの長手方向の向きは統一する必要はない。要するに、分光透過率が連続的に変化する領域が存在すればよく、方向性は関係ない。
また、各フィルタ26a、26b、26cは上記構成に限定されず、各々異なる波長域を少なくとも一部に有していればよい。
このようにフィルタを分割することで、1画素に対応する波長幅を狭くすることができる。
すなわち、波長的な分解能が高い分光反射率測定が可能となる。
また、分割して配置することにより、細長いフィルタに比べ、狭い絞り径内で分光透過率の連続性を確保することができる。
本実施形態では、絞りの形状を矩形としている。
絞りの形状を矩形にすることでマクロピクセルの形状も矩形となり、円形のときと比べて利用できる画素が増える。
その結果、マクロピクセルの上端や下端の画素に対する波長のS/N比を向上させることができ、分光反射率の測定精度を向上させることができる。
本実施形態におけるフィルタ26は、同心円状に連続的に分光透過率が変化するフィルタである。
このようにすることで、一般的な円形絞りの場合でも、各波長のS/Nを高くすることができ、分光反射率の測定精度を向上させることができる。
このようにすれば、不可視領域の分光反射率測定ができ、人間の眼で見たときは違いがわからない物体でも成分や素材の差を検出することが可能となる。
3 レンズアレイ
6 センサとしてのモノクロセンサ
12 撮像装置
14 分光画像生成手段としてのFPGA
24 光学系としてのメインレンズ
26 フィルタ
32 透明基板
34 薄膜
Claims (10)
- 光学系と、
前記光学系により集光された光情報を電子情報に変換するセンサと、を備え、
物体からの分光情報を取得する撮像装置において、
前記光学系の絞り付近には、複数の分光特性を有するフィルタが配置され、
前記光学系と、前記センサとの間には、前記センサの二次元平面方向に略平行に複数のレンズが並んだレンズアレイが配置され、
前記フィルタは、空間的に連続的に分光透過率が変化するフィルタであることを特徴とする撮像装置。 - 請求項1に記載の撮像装置において、
前記フィルタは、複数に分割して配置されていることを特徴とする撮像装置。 - 請求項1に記載の撮像装置において、
前記フィルタは、各々異なる波長域を少なくとも一部に有する複数のフィルタからなることを特徴とする撮像装置。 - 請求項1〜3のいずれか1つに記載の撮像装置において、
前記光学系の絞りの形状が、矩形であることを特徴とする撮像装置。 - 請求項1〜4のいずれか1つに記載の撮像装置において、
前記フィルタは、その形状の中心から同心円状に連続的に分光透過率が変化することを特徴とする撮像装置。 - 請求項1〜5のいずれか1つに記載の撮像装置において、
前記フィルタは、紫外域あるいは赤外域においても連続的に分光透過率が変化するフィルタであることを特徴とする撮像装置。 - 請求項1〜6のいずれか1つに記載の撮像装置において、
前記フィルタは、透明基板に薄膜を厚みがくさび状に変化するように蒸着されて形成され、厚みの変化が分光透過率の変化に対応していることを特徴とする撮像装置。 - 請求項7に記載の撮像装置において、
前記薄膜の材質は、五酸化ニオブであることを特徴とする撮像装置。 - 請求項7又は8に記載の撮像装置において、
前記薄膜の短波長側の材質は、五酸化タンタルであることを特徴とする撮像装置。 - 物体からの分光情報を取得し、取得された分光情報に基づいて複数種類の分光画像を生成する撮像装置と、
生成された分光画像から画素毎の分光反射率を算出してスペクトルを推定するスペクトル推定部と、
を有する撮像システムにおいて、
前記撮像装置が、請求項1〜9のいずれか1つに記載のものであることを特徴とする撮像システム。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019132607A (ja) * | 2018-01-29 | 2019-08-08 | 株式会社Jvcケンウッド | 分光器 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6340884B2 (ja) | 2013-06-19 | 2018-06-13 | 株式会社リコー | 測定装置、測定システム及び測定方法 |
CN104580877B (zh) * | 2013-10-29 | 2018-03-06 | 华为技术有限公司 | 图像获取的装置及方法 |
JP2015228641A (ja) * | 2014-05-07 | 2015-12-17 | 株式会社リコー | 撮像装置、露光調整方法およびプログラム |
US9880053B2 (en) * | 2014-10-29 | 2018-01-30 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Image pickup apparatus, spectroscopic system, and spectroscopic method |
CN107209116B (zh) * | 2014-12-23 | 2020-08-07 | 苹果公司 | 包括考虑样本内的光学路径长度的变化的光学检查系统和方法 |
EP3112920A1 (en) * | 2015-06-30 | 2017-01-04 | Thomson Licensing | Plenoptic camera comprising an anti-vignetting optical filter and method f controlling the same |
TWI579540B (zh) * | 2015-12-02 | 2017-04-21 | 財團法人工業技術研究院 | 多點光譜系統 |
CN105547469B (zh) * | 2015-12-04 | 2018-01-30 | 哈尔滨工业大学 | 基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法 |
CN107800951B (zh) * | 2016-09-07 | 2020-07-14 | 深圳富泰宏精密工业有限公司 | 电子装置及其镜头切换方法 |
WO2019160949A1 (en) | 2018-02-13 | 2019-08-22 | Masseta Technologies Llc | Integrated photonics device having integrated edge outcouplers |
US10859436B2 (en) * | 2019-02-19 | 2020-12-08 | Renesas Electronics America Inc. | Spectrometer on a chip |
JP7309640B2 (ja) * | 2020-03-18 | 2023-07-18 | 株式会社東芝 | 光学検査装置 |
US11852318B2 (en) | 2020-09-09 | 2023-12-26 | Apple Inc. | Optical system for noise mitigation |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001099710A (ja) * | 1999-09-28 | 2001-04-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | マルチバンド画像の分光反射率のスペクトル推定方法およびスペクトル推定システム |
JP2004252214A (ja) * | 2003-02-20 | 2004-09-09 | Sun Tec Kk | 任意波長選択フィルタ、マルチチャネルモニタおよび生体検査装置 |
US20080266655A1 (en) * | 2005-10-07 | 2008-10-30 | Levoy Marc S | Microscopy Arrangements and Approaches |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7057721B2 (en) * | 2002-01-10 | 2006-06-06 | Chemimage Corporation | Wide field method for detecting pathogenic microorganisms |
JP2005017347A (ja) | 2003-06-23 | 2005-01-20 | Canon Inc | 絞り装置及びそれを用いた光学機器 |
US6947142B2 (en) * | 2003-06-26 | 2005-09-20 | Eastman Kodak Company | Color detection in random array of microspheres |
US7433042B1 (en) * | 2003-12-05 | 2008-10-07 | Surface Optics Corporation | Spatially corrected full-cubed hyperspectral imager |
JP4717363B2 (ja) * | 2004-03-10 | 2011-07-06 | オリンパス株式会社 | マルチスペクトル画像撮影装置及びアダプタレンズ |
JP2008216479A (ja) | 2007-03-01 | 2008-09-18 | Tohoku Univ | 波長可変フィルタ分光装置 |
CN101520532A (zh) * | 2008-02-29 | 2009-09-02 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 复合镜片 |
US8406859B2 (en) * | 2008-08-10 | 2013-03-26 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Digital light processing hyperspectral imaging apparatus |
JP5712342B2 (ja) * | 2008-11-27 | 2015-05-07 | ナノフォトン株式会社 | 光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法 |
WO2010069562A1 (en) * | 2008-12-17 | 2010-06-24 | Abbott Laboratories Vascular Enterprises Limited | Body lumen filters with large surface area anchors |
CN102334333B (zh) * | 2009-01-16 | 2016-05-11 | 双光圈国际株式会社 | 改善成像系统的景深 |
JP5394814B2 (ja) | 2009-05-01 | 2014-01-22 | 三星電子株式会社 | 光検出素子及び撮像装置 |
US8358365B2 (en) * | 2009-05-01 | 2013-01-22 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Photo detecting device and image pickup device and method thereon |
US8649008B2 (en) * | 2010-02-04 | 2014-02-11 | University Of Southern California | Combined spectral and polarimetry imaging and diagnostics |
US20120035646A1 (en) * | 2010-08-06 | 2012-02-09 | Abbott Laboratories Vascular Enterprises Limited | Bistable body lumen filter anchors |
US8570406B2 (en) * | 2010-08-11 | 2013-10-29 | Inview Technology Corporation | Low-pass filtering of compressive imaging measurements to infer light level variation |
-
2013
- 2013-07-29 JP JP2013156748A patent/JP2014095688A/ja active Pending
- 2013-09-19 US US14/031,388 patent/US9531963B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001099710A (ja) * | 1999-09-28 | 2001-04-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | マルチバンド画像の分光反射率のスペクトル推定方法およびスペクトル推定システム |
JP2004252214A (ja) * | 2003-02-20 | 2004-09-09 | Sun Tec Kk | 任意波長選択フィルタ、マルチチャネルモニタおよび生体検査装置 |
US20080266655A1 (en) * | 2005-10-07 | 2008-10-30 | Levoy Marc S | Microscopy Arrangements and Approaches |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019132607A (ja) * | 2018-01-29 | 2019-08-08 | 株式会社Jvcケンウッド | 分光器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20140098212A1 (en) | 2014-04-10 |
US9531963B2 (en) | 2016-12-27 |
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