JP2014089235A - 光源装置およびプロジェクタ - Google Patents

Abstract

【課題】蛍光部材の被照射面における複数の光源からの光の強度分布均一性を高くすることにより、蛍光部材自身の蛍光への高い変換効率が得られる光源装置およびプロジェクタを提供する。
【解決手段】本発明の光源装置は、複数の光源と、前記光源よりの光を集光する集光レンズと、前記集光レンズで集光された光が一端に入射する導光部材と、前記導光部材の光出射側に近接して設けられた蛍光部材とを有してなる光源装置において、前記導光部材は、断面多角形の筒状体であることを特徴とする。
【選択図】図１

Description

本発明は、複数の光源を用いた光源装置およびプロジェクタに関し、更に詳しくは、複数の光源として半導体レーザ発光素子等を用いた光源装置の照射面での光強度分布の均一性を向上させる構成に関する。

近年、発光ダイオード（ＬＥＤ）や半導体レーザ発光素子といった固体光源を複数使用して種々の光源装置として利用することが行われている。特に、ディスプレイ等の映像表示分野で利用する場合には、光源からの光が照射される照射面での光強度分布の高い均一性が求められている。このような従来技術の一例としては、例えば、プロジェクタ用の光源に半導体レーザ発光素子を用いることが行われている。半導体レーザ発光素子から放射される、例えば青色のレーザ光を蛍光体に照射し、この蛍光体よりの蛍光として緑色光を得る技術が利用されている。
このような技術としては、特許文献１が知られており、特許文献１には、蛍光体が塗布された蛍光体ホイールを回転させながらレーザ光を当該蛍光体に照射し、緑色光等の蛍光を得るプロジェクタ装置が開示されている。

しかしながら、特許文献１に記載の装置では、蛍光体ホイールに照射されるレーザ光は、強度分布の均一性が高くないことから、蛍光体の局所的な温度上昇に伴う温度消光と輝度飽和が発生し、蛍光体自身の蛍光への高い変換効率が得られないという問題がある。更には、レーザ光自身の強度分布に起因して、蛍光体から放射される蛍光にも照度分布が発生し、均一な光が得られない、といった問題があった。

特開２０１１−６５７７０号公報

本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであって、その目的は、蛍光部材の被照射面における光源からの光の強度分布均一性を高くすることにより、蛍光部材自身の蛍光への高い変換効率が得られ、高い均一性を保持した光源装置およびプロジェクタを提供することにある。

本発明の光源装置は、複数の光源と、
前記光源よりの光を集光する集光レンズと、
前記集光レンズで集光された光が一端に入射する導光部材と、
前記導光部材の光出射側に近接して設けられた蛍光部材とを有してなる光源装置において、
前記導光部材は、断面多角形の筒状体であることを特徴とする。
特に、前記導光部材は、断面矩形の筒状体であることが好ましい。

本発明の光源装置においては、前記導光部材は、その内面が拡散反射面とされていることが好ましい。

本発明の光源装置においては、前記光源は、半導体レーザ発光素子であることが好ましい。

本発明のプロジェクタは、上記の光源装置を備えてなることを特徴とする。

本発明の光源装置においては、一端に複数の光源からの光が入射する導光部材と、この導光部材の光出射側に近接して設けられた蛍光部材とを有し、当該導光部材が、その断面が多角形の筒状体、例えば、断面矩形の筒状体であることより、導光部材に入射された複数の光源からの光は、矩形筒状の導光部材の内面で反射され、光強度が均一化される。そして、均一化された光が導光部材から蛍光部材へ照射されるので、蛍光部材の被照射面における光の強度分布に高い均一性が得られ、従って、蛍光部材の局所的な温度上昇に伴う温度消光および輝度飽和が低減されて、蛍光部材自身の蛍光への高い変換効率が得られる。

また、本発明の光源装置をプロジェクタ用の光源装置として用いた場合においては、以下の効果が得られる。
通常、画像を投影する対象であるスクリーンは矩形であり、本発明の光源装置を構成する導光部材を断面矩形の筒状体とする、具体的には、導光部材の光軸に垂直な断面の外形を矩形の筒状体とすることにより、矩形のスクリーンに対し光均一度の高い光を投射することができる。

さらに、本発明の光源装置によれば、導光部材の内面が拡散反射面とされていることにより、蛍光部材の被照射面における光の強度分布により一層高い均一性が得られ、蛍光部材自身の蛍光への変換効率がより一層高いものとなる。

本発明の光源装置の一例における構成の概略を示す説明用断面図である。 本発明の光源装置における集光レンズと導光部材との位置関係の一例を示す説明用断面図である。 図１の光源装置を構成する導光部材の内面の状態の一例を示す導光部材の光軸に対して垂直方向の断面図である。 図１の光源装置を構成する導光部材の内面の状態の一例を示す導光部材の光軸方向の断面図である。 図１の光源装置を構成する導光部材の構成の概略を示す説明用平面図および側面図である。 実験例１および実験例２に係るレーザ光の任意強度分布を示すグラフである。

以下、本発明の実施形態について詳細に説明する。

〔光源装置〕
図１は、本発明の光源装置の一例における構成の概略を示す説明用断面図である。
この光源装置は、蛍光体励起用の複数の光源である半導体レーザ発光素子１１と、この半導体レーザ発光素子１１の光出射方向前方の位置において複数の半導体レーザ発光素子１１にそれぞれ対応して配置された複数の第１のコリメートレンズ１２と、この複数の第１のコリメートレンズ１２により略平行光とされたレーザ光を集光する第１の集光レンズ１４と、この第１の集光レンズ１４の前方に配置された、凹レンズよりなる第２のコリメートレンズ１５と、この第２のコリメートレンズ１５により平行光とされたレーザ光を集光する第２の集光レンズ１６と、この第２の集光レンズ１６で集光されたレーザ光が一端１７ａに入射する、断面矩形の筒状体の導光部材１７と、この導光部材１７の光出射側の他端１７ｂに近接して設けられた蛍光部材１９とを有する。尚、本実施形態では、導光部材１７の光軸に垂直な断面の外形が矩形状である導光部材１７について述べるが、当該導光体は導光部材１７の光軸に垂直な断面の外形が多角形状であれば同様に光強度を均一化する効果を得ることができる。
この光源装置においては、第１の集光レンズ１４、第２のコリメートレンズ１５および第２の集光レンズ１６は、それぞれの光軸が一致した状態で配置されており、また、第２のコリメートレンズ１５と第２の集光レンズ１６との間には、励起光を透過し蛍光を反射する反射鏡２０が、例えば第２のコリメートレンズ１５および第２の集光レンズ１６の光軸に対して傾斜した状態で設けられている。

各々の半導体レーザ発光素子１１は、蛍光部材１９を構成する蛍光体を励起させることのできる発振波長、具体的には４４５ｎｍを有する青色のレーザ光を放射するものである。半導体レーザ発光素子１１よりのレーザ光は、放射角広がりを有しており、具体的には速軸方向の放射角が４０°程度、遅軸方向の放射角が１０°程度とされる。
この光源装置においては、複数の半導体レーザ発光素子１１は、アレイ状（例えば縦３個×横８個）に配置されている。

導光部材１７は、断面矩形の筒状体であり、具体的には、角柱状の内部空間Ｓを有するものであって、導光部材１７の光軸に垂直な断面の外形が、本実施形態においては横長の長方形状のものである。
導光部材１７においては、その内面１７Ｓ全面が拡散反射面とされている。具体的には、導光部材１７の内面１７Ｓは、鏡面でガラス板上に銀などの金属の蒸着膜が接着材などで固定されて形成されてなるものである。本発明においては、銀の蒸着膜は、青色のレーザ光の反射率が、例えばアルミニウムなどの蒸着膜に比べ高いことから好ましく用いることができる。

蛍光部材１９は、直方体状のものであり、この直方体の一面であって、半導体レーザ発光素子１１よりのレーザ光が照射される被照射面１９Ｓが、導光部材１７の他端１７ｂと近接対向した状態で設けられている。
導光部材１７の他端１７ｂと蛍光部材１９の被照射面１９Ｓとの離間距離（ｌ）は、例えば０．１ｍｍ以下であることが好ましい。

蛍光部材１９は、具体的には、充填部材の表面に蛍光体層が形成されてなるものを用いることができる。蛍光体層を構成する蛍光体としては、例えば、ガーネット系蛍光体、酸化物系蛍光体、窒化物系蛍光体、シリケート系蛍光体などが挙げられ、また、充填部材を構成する充填材料としては、光透過性を有する樹脂、ガラス、焼結体、セラミックスまたは多結晶蛍光体、単結晶蛍光体などが挙げられる。更には、蛍光部材１９全体を多結晶蛍光体や単結晶蛍光体で構成しても良い。

この光源装置においては、第２の集光レンズ１６により集光されたレーザ光は導光部材１７の内面１７Ｓで少なくとも１回反射されて蛍光部材１９の被照射面１９Ｓに入射する。レーザ光が導光部材１７の内面１７Ｓで少なくとも１回反射するための条件としては、下記関係式（１）または関係式（２）を満たすことが挙げられる（図２参照）。
ここで、関係式（１）は、導光部材１７の光軸上に光源として半導体レーザ発光素子１１が配置されている場合であり、関係式（２）は、導光部材１７の光軸上に光源として半導体レーザ発光素子１１が配置されていない場合である。
関係式（１）：（Ｌ３＋Ｌ１−Ｌ２）ｔａｎθ＞Ｄ／２
関係式（２）：（Ｌ３＋Ｌ１−Ｌ２）ｔａｎ（φ−θ）＞Ｄ／２＋（Ｋ−Ｌ２ｔａｎφ）
上記式中、Ｌ１は導光部材の長さ、Ｌ２は集光レンズの焦点距離、Ｌ３は集光レンズと導光部材との離間距離、Ｄは導光部材の内径（短軸方向）、θはレーザ光の集光半角、φはレーザ光光軸の導光部材光軸への入射角、Ｋは集光レンズの光軸とレーザ光の中心軸との距離を示す。
なお、レーザ光の集光半角（θ）とは、レーザ光の光軸中心を基準とした集光角度をいい、レーザ光光軸の導光部材光軸への入射角（φ）とは、導光部材光軸中心を基準としたレーザ光の光軸中心との角度をいい、集光レンズと導光部材との離間距離Ｌ３とは、集光レンズの中心から導光部材の一端までの距離をいう。ここで、光源からの光としてレーザ光と記載しているが、レーザとしてのコヒーレント光に限らず、例えば、ＬＥＤからの光等、インコヒーレント光であっても同様とする。

図３−Ａに、この光源装置における導光部材１７の内面１７Ｓの状態の一例を示す導光部材１７の光軸に対して垂直方向の断面図を示し、図３−Ｂに、導光部材１７の内面１７Ｓの状態の一例を示す導光部材１７の光軸方向の断面図を示す。なお、図３−Ａおよび図３−Ｂにおいて、実線は集光レンズ１６から導光部材１７へのレーザ光の入射光を示し、破線は当該入射光の反射光を示す。
また、導光部材１７の内面１７Ｓにおいて、拡散反射面とされる蒸着膜の表面形状は、図３−Ａに示すように、こぶ状の突起が複数並んで形成されてなるものである。この突起は、例えば高さが０．０３ｍｍ程度、径が０．２ｍｍ程度とされる。

本実施形態の光源装置の一構成例を示すと、導光部材１７の長さ（Ｌ１）は１２ｍｍ、第２の集光レンズ１６の焦点距離（Ｌ２）は３ｍｍ、第２の集光レンズ１６と導光部材１７との離間距離（Ｌ３）は３ｍｍ、導光部材１７の内径（Ｄ）は２ｍｍ、レーザ光の集光半角（θ）は１０°、レーザ光光軸の導光部材１７光軸への入射角（φ）は０°〜４５°、第２の集光レンズ１６の光軸とレーザ光の中心軸との距離（Ｋ）は２０ｍｍである。

この光源装置においては、導光部材１７は、例えば、導光部材１７の光軸に垂直な断面における縦の長さ（内径Ｄ）が２ｍｍ、横の長さ（内径ｄ）が２．６ｍｍである（図４参照）。特に、プロジェクタ用として用いる場合においては、導光部材１７の他端１７ｂの大きさ、具体的には、レーザ光が蛍光部材１９の被照射面１９Ｓに向けて照射する他端１７ｂの開口の縦横比が、スクリーンの縦横比と同じ３：４または９：１６であることが好ましい。
また、蛍光部材１９においては、被照射面１９Ｓの大きさは、例えば、縦の長さが２ｍｍ、横の長さが２．６ｍｍであり、導光部材１７の他端１７ｂの開口と同じ大きさとされる。このように、被照射面１９Ｓの大きさは、特に限定されないが、導光部材１７の他端１７ｂの開口と同じまたはそれ以上であることが好ましい。

このような光源装置においては、複数の半導体レーザ１１から放射されたレーザ光は、第１のコリメートレンズ１２により略平行光とされ、この略平行光とされたレーザ光は第１の集光レンズ１４により集光される。第１の集光レンズ１４により集光されたレーザ光は、第２のコリメートレンズ１５により平行光とされ、反射鏡２０を透過して第２の集光レンズ１６に入射する。この平行光とされたレーザ光は第２の集光レンズ１６により集光され、導光部材１７の一端１７ａ開口に入射する。導光部材１７の一端１７ａに入射されたレーザ光（励起光）は、導光部材１７の内面１７Ｓで反射することによって、広がり角を有し、導光部材１７の内部空間Ｓ内で光強度が均一化される。この均一化された励起光が導光部材１７の他端１７ｂ開口から出射され、蛍光部材１９の被照射面１９Ｓに照射されて蛍光に変換される。
そして、蛍光部材１９において、励起光が照射されたことによって発光した蛍光の一部は、導光部材１７および第２の集光レンズ１６を通過して平行光とされ、反射鏡２０で反射されて、不図示の下流の光学系に利用される。

以上の光源装置によれば、導光部材１７が断面多角形の筒状体、具体的には断面矩形の筒状体であることにより、当該導光部材１７に入射された励起光が導光部材１７の内面１７Ｓで少なくとも１回反射されるため、励起光の強度が均一化される。そして、均一化された励起光が蛍光部材１９に照射されることにより、蛍光部材１９の局所的な温度上昇に伴う温度消光および輝度飽和が低減されて、蛍光部材１９自身の蛍光への変換効率が高いものとなる。
また、光源装置をプロジェクタ用光源として用いて画像を投影する場合、対象であるスクリーンは、通常、矩形である。そこで、本発明の光源装置を構成する導光部材１７が断面矩形の筒状体、具体的には、導光部材１７の光軸に垂直な断面の外形が矩形状であることにより、矩形のスクリーンに対し光均一度の高い光を投射することができる。
さらに、導光部材１７の内面１７Ｓが拡散反射面とされていることにより、蛍光部材１９の被照射面１９Ｓにおける励起光の強度分布により一層高い均一性が得られる。

本発明の光源装置においては、上記の実施態様に限定されず、種々の変更を加えることができる。
例えば、導光部材の内面の拡散反射面は、全面に形成されることに限定されず、一部に形成されていてもよい。
また例えば、導光部材は、導光部材の光軸に垂直な断面の外形、より具体的には導光部材の内部空間の断面の外形が多角形状であれば、導光部材全体の形状がテーパ状、すなわち導光部材の一端開口の大きさと他端開口の大きさとが相違していてもよい。また、導光部材全体の形状が屈曲、すなわち導光部材の内部空間が真直状でなくてもよい。
さらに例えば、導光部材へ励起光が入射する入射面に対して、当該励起光は垂直方向から入射させることに限定されない。

以下、本発明の具体的な実施例について説明する。

〔実験例１〕
図１に示す光源装置を用い、下記条件により、蛍光部材の被照射面に照射されるレーザ光の光強度の測定を行った。
半導体レーザ発光素子（１１）：２４個（８個×３個）、発振波長４４５ｎｍ
導光部材（１７）：ガラス板上に銀の蒸着膜が接着材などで固定されたもの、長さ（Ｌ１）１２ｍｍ、他端１７ｂの開口の縦横寸法；縦の長さ（内径Ｄ）２ｍｍ；横の長さ（内径ｄ）２．６ｍｍ
蛍光部材（１９）：被照射面（１９Ｓ）の縦の長さ２ｍｍ、横の長さ２．６ｍｍ
第２の集光レンズ（１６）の焦点距離（Ｌ２）：３ｍｍ
第２の集光レンズ（１６）と導光部材（１７）との離間距離（Ｌ３）：３ｍｍ

〔実験例２〕
実験例１において、導光部材を設けなかったことの他は同様にして、レーザ光の光強度測定を行った。

図５に、実験例１および実験例２に係るレーザ光の任意強度分布を示す。なお、実験例１においては、導光部材（１７）の入射面（一端１７ａ）を焦点位置に置き出射面（他端１７ｂ）でのレーザ光の光強度の測定を行い、実験例２においては、第２の集光レンズ（１６）の焦点位置でのレーザ光の光強度の測定を行った。
図５に示すレーザ光の強度分布において、横軸は、実験例１においては導光部材（１７）の出射面（他端１７ｂ）のＡ−Ａ’方向の長さを示し、実験例２においては第２の集光レンズ（１６）の焦点位置での実験例１と同方向の長さを示し、縦軸はレーザ光の任意強度（ａ．ｕ）を示す。実験例１における任意強度分布を実線で示し、実験例２における任意強度分布を破線で示す。
実験例１においては、任意強度の最大値が０．５９、最小値が０．３５であり、均一度が±２０％であった。一方、実験例２においては、任意強度の最大値が１．０、最小値が０．１１であり、均一度が±４５％であった。

以上の結果より、本発明に係る実験例１によれば、断面矩形の筒状体の導光部材が設けられていることにより、蛍光部材の被照射面におけるレーザ光の強度分布に高い均一性が得られることが確認された。特に、強度分布の裾野の部分に相当する光が重畳され、蛍光部材の被照射面における強度分布が均一化されたことが理解される。

１１ 半導体レーザ発光素子
１２ 第１のコリメートレンズ
１４ 第１の集光レンズ
１５ 第２のコリメートレンズ
１６ 第２の集光レンズ
１７ 導光部材
１７ａ 一端
１７ｂ 他端
１７Ｓ 内面
１９ 蛍光部材
１９Ｓ 被照射面
２０ 反射鏡
Ｓ 内部空間

Claims (5)

1. 複数の光源と、
   前記光源よりの光を集光する集光レンズと、
   前記集光レンズで集光された光が一端に入射する導光部材と、
   前記導光部材の光出射側に近接して設けられた蛍光部材とを有してなる光源装置において、
   前記導光部材は、断面多角形の筒状体であることを特徴とする光源装置。
2. 前記導光部材は、断面矩形の筒状体であることを特徴とする請求項１に記載の光源装置。
3. 前記導光部材は、その内面が拡散反射面とされていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光源装置。
4. 前記光源は、半導体レーザ発光素子であることを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれかに記載の光源装置。
5. 請求項１〜請求項４のいずれかに記載の光源装置を備えてなることを特徴とするプロジェクタ。