JP2014086892A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014086892A
JP2014086892A JP2012234569A JP2012234569A JP2014086892A JP 2014086892 A JP2014086892 A JP 2014086892A JP 2012234569 A JP2012234569 A JP 2012234569A JP 2012234569 A JP2012234569 A JP 2012234569A JP 2014086892 A JP2014086892 A JP 2014086892A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
circuit
analog
semiconductor integrated
digital
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012234569A
Other languages
English (en)
Inventor
峻輔 ▲高▼野
Shunsuke Takano
Kazuyoshi Kawai
一慶 河合
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Electronics Corp
Original Assignee
Renesas Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Electronics Corp filed Critical Renesas Electronics Corp
Priority to JP2012234569A priority Critical patent/JP2014086892A/ja
Publication of JP2014086892A publication Critical patent/JP2014086892A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Abstract

【課題】設計資産を有効利用しつつ、クロックの切り替えを行えるようにする。
【解決手段】複数のデジタル回路と、アナログ回路とを有する。第一モードでは複数のデジタル回路とアナログ回路には内部発振回路からの第一クロックが供給される。第二モードでは複数のデジタル回路には内部発振回路からの第一クロックが供給され、アナログ回路には第一クロックよりも周波数偏差の小さく水晶の発振動作に基づいた第二クロックが供給される。
【選択図】図1

Description

本明細書は、半導体集積回路装置に関し、特にクロックが供給されることにより動作する半導体集積回路装置に関する。
特許文献1には高精度な外部水晶の発振動作に基づくクロックと、内部発振回路からのクロックとを切り替え可能とする技術が開示されている。特許文献2には外部発振回路からのクロックと、内部発振回路からのクロックとを切り替え可能とする技術が開示されている。特許文献3には外部からのクロックに基づいて動作するクロックバッファからの第一出力クロックに基づいた動作と、外部からのクロックに基づいて動作するクロックバッファからのクロックに基づいたPLLからの第二出力クロックに基づいて動作とを行うΔΣAD変換器(デルタシグマ・アナログデジタル変換器)が開示されている。
特開2010−166268号公報 特開2008−42393号公報 特開2011−248666号公報
特許文献1や特許文献2のように外部発振回路からのクロックと、内部発振回路からのクロックを切り替える技術はある。特許文献3のように外部からのクロックに基づいて生成された異なる2つのクロック(第一出力クロックと第二出力クロック)を切り替える技術がある。
特許文献3の場合は、どちらのクロックに切り替えたとしても外部からのクロックを必要とするために、外部発振回路からの高精度のクロックが不要なケースには上述したような特許文献3の技術は適用できない。
高精度なクロックが必要な場合と、低精度なクロックでもいいので外部発振回路を削除してコストを低減したい場合とを切り替えたい場合は、特許文献1や特許文献2のような切り替え技術を用いれば有効である。高精度なクロックが必要な場合は外部発振回路からのクロックを用いればよく、コストを低減したい場合は外部発振回路を無くし、内部発振回路からのクロックを用いればよい。ただし特許文献1や特許文献2においては、半導体集積回路装置内の一部の回路に供給されるクロックが高精度なクロックと低精度なクロックと切り替えられることが可能である必要があり、半導体集積回路装置の他の回路に供給されるクロックは低精度なクロックで問題がない場合を考慮していない。アナログ系の回路においては高精度なクロック供給と低精度なクロック供給とで切り替えられることが可能であることが必要とされ、デジタル系の回路においては低精度なクロックで問題がない場合が多い。単純に一部の回路に対しても他の回路に対しても高精度なクロック供給と低精度なクロック供給を切り替え可能とするのは半導体集積回路装置の開発の面から以下のような問題がある。
その問題とは、低精度なクロック供給のためのクロック供給用回路構成が完成しているデジタル系の回路ブロック(ここでデジタル系の回路ブロックが、上述した低精度なクロック供給のみで問題のない他の回路に対応するとする)を既に開発していた場合に、上述のような単純に一部の回路に対しても他の回路に対しても高精度なクロック供給と低精度なクロック供給を切り替え可能とする半導体集積回路装置を開発する場合、このクロック供給用回路構成を低精度なクロック供給と高精度なクロック供給とを可能なようにするように開発しなおさないといけなくなる。この場合は開発コストや期間が延びてしまう。
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
複数のデジタル回路と、アナログ回路とを有する。第一モードでは複数のデジタル回路とアナログ回路には内部発振回路からの第一クロックが供給される。第二モードでは複数のデジタル回路には内部発振回路からの第一クロックが供給され、アナログ回路には第一クロックよりも周波数偏差の小さく水晶の発振動作に基づいた第二クロックが供給される。
上記一実施の形態によれば、第一モードと第二モードの切り替えにより、水晶等を持つ外部回路の削除によるコスト削減と、第二クロックの使用による高精度なクロック使用とを選択できる。複数のデジタル回路は第一モードおよび第二モード両方で共通に内部発振回路からの第一クロックが供給される形となるために、この複数のデジタル回路の設計資産の使い回しが容易となり、開発コストを削減できる。
実施の形態1の半導体集積回路装置の全体図である。 実施の形態2の半導体集積回路装置の全体図である。 アナログフロントエンドの構成図を表している。
以下、図面を参照しながら、実施の形態について詳細に説明する。
以下の実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、応用例、詳細説明、補足説明等の関係にある。また、以下の実施の形態において、要素の数等(個数、数値、量、範囲等を含む)に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でもよい。
さらに、以下の実施の形態において、その構成要素(動作、タイミングチャート、要素ステップ、動作ステップ等も含む)は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではない。同様に、以下の実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは、特に明示した場合および原理的に明らかにそうでないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。このことは、上記数等(個数、数値、量、範囲等を含む)についても同様である。
なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の機能を有する部位や部材には同一または関連する符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。また、以下の実施の形態では、特に必要なとき以外は同一または同様な部分の説明を原則として繰り返さない。
また、実施の形態で用いる図面においては、断面図であっても図面を見易くするためにハッチングを省略する場合もある。また、平面図であっても図面を見易くするためにハッチングを付す場合もある。
(実施の形態1.)
図1は実施の形態1の半導体集積回路装置の全体図である。
半導体集積回路装置ICは、中央演算装置CPUと、ランダムアクセスメモリRAMと、不揮発性メモリFLASHと、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADCと、水晶発振回路CryOSCと、クロック生成回路CGと、レジスタREGと、セレクタSELと、バスBUSと、バスコントローラBCとを有する。
中央演算装置CPUはプログラムに従って半導体集積回路装置IC全体を制御する。ランダムアクセスメモリRAMは中央演算装置CPUのワークエリアとして用いられ、各種データや命令等を記憶する記憶領域である。不揮発性メモリFLASHは格納されたデータが書き換え可能となっており、中央演算装置CPUにて用いられる各種プログラムが記憶されている。デルタ・シグマAD変換器ΔΣADCはアナログ信号をデジタル信号に変換する回路である。バスコントローラBCはバスBUSにつながれる回路モジュール(中央演算装置CPU、ランダムアクセスメモリRAM、不揮発性メモリFLASH、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC)のうちのどの回路モジュールとどの回路モジュールがバスに接続されるのかを制御する回路である。バスBUSは中央演算装置CPU、ランダムアクセスメモリRAM、不揮発性メモリFLASH、バスコントローラBC、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADCとの間にて各種データ、コマンド、及びアドレスを互いにやり取りするための複数の信号線である。水晶発振回路CryOSCはクロック外部端子Xtal1、Xtal2を介した外部の水晶Cryの発振動作に基づいたクロックに基づいて、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADCにて用いられるクロックCLK3を生成する。内部発振回路としてのクロック生成回路CGは中央演算装置CPU、ランダムアクセスメモリRAM、不揮発性メモリFLASH、バスコントローラBCにて用いられるクロックCLK2を生成し、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADCにて用いられるクロックCLK1を生成する。
セレクタSELはレジスタREGの設定に従って、クロック生成回路CGからのクロックCLK1をクロックCLKとしてデルタ・シグマAD変換器ΔΣADCに出力するのか、水晶発振回路CryOSCからのクロックCLK3をクロックCLKとしてデルタ・シグマAD変換器ΔΣADCに出力するのかを選択する。レジスタREGは中央演算装置CPUまたは半導体集積回路装置ICの外部から第一モードと第二モードとを設定できるように構成されている。第一モードでは、クロック生成回路CGからのクロックCLK1をクロックCLKとしてデルタ・シグマAD変換器ΔΣADCに出力する。第二モードでは、水晶発振回路CryOSCからのクロックCLK3をクロックCLKとしてデルタ・シグマAD変換器ΔΣADCに出力する。クロック生成回路CGは発振回路OSCと分周器DIVとを持つ。発振回路はクロックCLK1を生成し、分周器DIVはクロックCLK1を分周してクロックCLK2を生成する。水晶Cryに基づいたクロックにて生成されるクロックCLK3は精度が高く、周波数偏差は数十ppmオーダとなっている。一方、水晶Cryに基づかないクロックであるクロックCLK1やCLK2は精度が低く、周波数偏差が±1%以内となっている。クロックCLK1とクロックCLK3は周波数が同じとなっている。第一モードにおいては、クロック外部端子Xtal1、Xtal2はオープン状態または所定の固定電圧が印可された状態となっており、水晶Cryには接続されない。第二モードにおいては、クロック外部端子Xtal1、Xtal2には水晶Cryが接続され、この水晶Cryの振動周波数に基づいて水晶発振回路CryOSCが動作してCLK3を生成するようになる。
中央演算装置CPU、ランダムアクセスメモリRAM、不揮発性メモリFLASH、バスコントローラBC、バスBUS、クロック生成回路CGは設計資産として、あらかじめ準備されていたものであることが多い。これはこれらの回路ブロックはマイコンであれば共通に備えることが多いからである。セレクタSEL、水晶発振回路CryOSC、レジスタREG、およびデルタ・シグマAD変換器ΔΣADCは必要とされる半導体集積回路装置ICの機能により必要とされるか否かが異なるために、必要な場合は順次必要なスペックをもつこれら回路ブロックが設計される。特に制限されないが本実施の形態では、中央演算装置CPU、ランダムアクセスメモリRAM、不揮発性メモリFLASH、バスコントローラBC、バスBUS、クロック生成回路CGは設計資産として、あらかじめ準備されていたものであり、セレクタSEL、水晶発振回路CryOSC、レジスタREG、およびデルタ・シグマAD変換器ΔΣADCは半導体集積回路装置ICが設計される際に新たに設計されたものである。この中でデルタ・シグマAD変換器ΔΣADCのスペックは、受けるアナログ信号から所望の信号帯域を変換する為に必要な変換精度により、必要な動作クロックが異なる。電力メーターの電圧や電流量、アナログ通信受信信号等のアナログ量が、高精度なものが必要である場合は、高精度なクロックCLK3が必要とされる。逆に低精度でもいいので、水晶Cry部品が無く低コスト低面積で、水晶発振回路CryOSCも動作しないために低消費電力であることが必要な場合はクロックCLK1が必要とされる。クロック生成回路CGはクロックCLK1とクロックCLK2の2つのクロックを生成するようになっているが、分周をする必要がなく、中央演算装置CPU用のクロックとデルタ・シグマAD変換器ΔΣADC用のクロックとが共通であってもいいのであれば、分周器DIVを無くして、クロックCLK1のみを生成するような形態であってもよい。さらに水晶発振回路CryOSCが設けられているが、クロックCLK3としてクロック外部端子Xtal1またはクロック外部端子Xtal2からのクロックをクロックCLK3として用いてもいい場合は、水晶発振回路CryOSCを無くしてもよい。
本実施の形態においては、クロックCLK2が第一モードおよび第二モードいずれであっても中央演算装置CPU、ランダムアクセスメモリRAM、不揮発性メモリFLASH、バスコントローラBCに供給されるような形態(複数のデジタル回路にクロックCLK2が供給される形態)である。デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC等のアナログ回路に対しては、クロックCLK1が第一モードにおいて供給され、クロックCLK1やクロックCLK2に比べて周波数偏差の低い水晶Cryに基づいたクロックCLK3が第二モードにおいて供給される形となっている。このようにモードに応じてアナログ回路に対するクロックCLKが切り替えられることにより、高精度と低コスト、低面積、および低消費電力の切り替えを行うことができる。さらにクロックCLK2が供給される回路ブロックの設計資産をあらかじめ用意している場合は、この回路ブロックの設計を改めて行う必要がなくなるために設計コストや設計期間が低減できる。
(実施の形態2)
図2は実施の形態2の半導体集積回路装置の全体図である。
実施の形態2の半導体集積回路装置IC1の実施の形態1の半導体集積回路装置ICとの違いは、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADCの代わりにアナログフロントエンドAFEが設けられている点である。それ以外は特に変わらない。
図3はアナログフロントエンドAFEの構成図を表している。
一点鎖線にて囲まれたアナログフロントエンドAFEは複数の電力に関するアナログ量(電圧量や電流量)を受けてデジタル値に変換する鎖線にて囲まれたアナログブロックABと、アナログブロックABのデジタル値を受けて変換処理やデータ処理を行うことで各種デジタル量を生成する鎖線にて囲まれたデジタルブロックDBとを有する。
アナログブロックABはチャネル0〜チャネル3の電圧量または電流量をデジタル値に変換する。非反転アナログ入力信号ANIP0と反転アナログ入力信号ANIN0とは互いに反転した関係の信号であり、チャネル0の差動のアナログ信号である。非反転アナログ入力信号ANIP1と反転アナログ入力信号ANIN1とは互いに反転した関係の信号であり、チャネル1の差動のアナログ信号である。非反転アナログ入力信号ANIP2と反転アナログ入力信号ANIN2とは互いに反転した関係の信号であり、チャネル2の差動のアナログ信号である。非反転アナログ入力信号ANIP3と反転アナログ入力信号ANIN3とは互いに反転した関係の信号であり、チャネル3の差動のアナログ信号である。
アナログブロックABは増幅器AMP0と、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC0と、増幅器AMP1と、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC1と、増幅器AMP2と、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC2と、増幅器AMP3と、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC3とを有する。増幅器AMP0は非反転アナログ入力信号ANIP0を非反転入力端子に受け、反転アナログ入力信号ANIN0を反転入力端子に受けて増幅し、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC0に出力する。デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC0は増幅器AMP0からのアナログ信号をAD変換処理してその処理結果をデジタルブロックに出力する。増幅器AMP1は非反転アナログ入力信号ANIP1を非反転入力端子に受け、反転アナログ入力信号ANIN1を反転入力端子に受けて増幅し、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC1に出力する。デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC1は増幅器AMP1からのアナログ信号をAD変換処理してその処理結果をデジタルブロックに出力する。増幅器AMP2は非反転アナログ入力信号ANIP2を非反転入力端子に受け、反転アナログ入力信号ANIN2を反転入力端子に受けて増幅し、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC2に出力する。デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC2は増幅器AMP2からのアナログ信号をAD変換処理してその処理結果をデジタルブロックに出力する。増幅器AMP3は非反転アナログ入力信号ANIP3を非反転入力端子に受け、反転アナログ入力信号ANIN3を反転入力端子に受けて増幅し、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC3に出力する。デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC3は増幅器AMP3からのアナログ信号をAD変換処理してその処理結果をデジタルブロックに出力する。
デジタルブロックDBは位相調整回路PHC01と、デジタルフィルタDF0と、デジタルフィルタDF1と、位相調整回路PHC23と、デジタルフィルタDF2と、デジタルフィルタDF3と、ハイパスフィルタHPFとを有する。位相調整回路PHC01はチャネル0のアナログ信号のAD変換処理結果であるデルタ・シグマAD変換器ΔΣADC0からのデジタル信号と、チャネル1のアナログ信号のAD変換処理結果であるデルタ・シグマAD変換器ΔΣADC1からのデジタル信号との間の位相調整を行う。家庭等の各種電源にて用いられる電源電圧は各国の規定に従った周波数を持つ(例えば日本は50Hzまたは60Hzの周波数を持つ)。このために各チャネルのアナログ信号も所定の周波数を持っており、その位相は各チャネルごとに異なる。この位相をそろえる役割を位相調整回路PHC01は行う。同じく位相調整回路PHC23はチャネル2のアナログ信号のAD変換処理結果であるデルタ・シグマAD変換器ΔΣADC2からのデジタル信号と、チャネル3のアナログ信号のAD変換処理結果であるデルタ・シグマAD変換器ΔΣADC3からのデジタル信号との間の位相調整を行う。デジタルフィルタDF0はチャネル0の位相調整回路PHC01からのデジタル信号に対してフィルタする回路である。所定のタイミングごとの位相調整回路PHC01からのデジタル出力に対してそれぞれ所定の係数が掛けられ、その和がデジタルフィルタDF0の出力となる。デジタルフィルタDF1はチャネル1の位相調整回路PHC01からのデジタル信号に対してフィルタする回路である。所定のタイミングごとの位相調整回路PHC01からのデジタル出力に対してそれぞれ所定の係数が掛けられ、その和がデジタルフィルタDF1の出力となる。デジタルフィルタDF2はチャネル2の位相調整回路PHC23からのデジタル信号に対してフィルタする回路である。所定のタイミングごとの位相調整回路PHC23からのデジタル出力に対してそれぞれ所定の係数が掛けられ、その和がデジタルフィルタDF2の出力となる。デジタルフィルタDF3はチャネル3の位相調整回路PHC23からのデジタル信号に対してフィルタする回路である。所定のタイミングごとの位相調整回路PHC23からのデジタル出力に対してそれぞれ所定の係数が掛けられ、その和がデジタルフィルタDF23の出力となる。ハイパスフィルタHPFはデジタルフィルタからの出力の低周波成分をカットする回路である。デジタルフィルタDF0からの出力の低周波成分がカットされた処理結果がデジタル処理結果0としてレジスタDSADCR0に格納される。デジタルフィルタDF1からの出力の低周波成分がカットされた処理結果がデジタル処理結果1としてレジスタDSADCR1に格納される。デジタルフィルタDF2からの出力の低周波成分がカットされた処理結果がデジタル処理結果2としてレジスタDSADCR2に格納される。デジタルフィルタDF3からの出力の低周波成分がカットされた処理結果がデジタル処理結果3としてレジスタDSADCR3に格納される。中央演算装置CPUはバスBUSを介してレジスタDSADCR0〜DSADCR3内のデジタル処理結果を読み取って各種処理や制御を行う。
このアナログフロントエンドAFEの各内部回路は、セレクタSELからのクロックCLKを受けて動作するようになっている。よって、第一モードにおいてはクロックCLKとしてクロックCLK1が用いられ第二モードにおいてはクロックCLKとしてクロックCLK3が用いられる形となっている。その結果、高精度な処理と、低精度でもいいので低コストかつ低消費電力な処理がアナログブロックABおよびデジタルブロックDB両方ともに切り替え可能な形となっている。クロックCLKは、増幅器AMP0〜AMP3、デルタ・シグマAD変換器ΔΣADC0〜ΔΣADC3、位相調整回路PHC01、PHC23、デジタルフィルタDF0〜DF3、およびハイパスフィルタHPFに供給される。
このように実施の形態1のようにデルタ・シグマΔΣ変換器に代表されるアナログ回路に限らず、アナログ信号の処理およびこのアナログ信号をデジタル変換した結果のデジタル信号の処理を行うアナログフロントエンドAFEの各内部回路に対してクロックCLKを供給する形としている。このことで、アナログブロックABと、アナログブロックABからの信号を受けて処理するデジタルブロックDBとが同じクロックCLKを用いて信号処理するために、動作クロックの違いに伴う動作エラーが引き起こされるのを防ぐことができる。中央演算装置CPU等、他の内部回路はレジスタDSADCR0〜DSADCR3のデータを処理すればいいために、このレジスタに新たな格納があったことを検出して処理すればよく、特にクロックを合わさなくても動作エラーが引き起こされることはない。よって、中央演算装置CPU、ランダムアクセスメモリRAM、不揮発性メモリFLASH、バスコントローラBCおよびこれら回路ブロックに供給されるクロックCLK2用の配線パターンで構成された設計資産を再利用することができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
CPU 中央演算装置
RAM ランダムアクセスメモリ
FLASH 不揮発性メモリ
BC バスコントローラ
ΔΣADC デルタ・シグマAD変換器
CG クロック生成回路
CryOSC 水晶発振回路
SEL セレクタ
REG レジスタ
Xtal1、Xtal2 クロック外部端子
Cry 水晶
CLK、CLK1〜CLK3 クロック
AFE アナログフロントエンド

Claims (5)

  1. 複数のデジタル回路と、アナログ回路とを有し、
    第一モードでは前記複数のデジタル回路と前記アナログ回路には内部発振回路からの第一クロックが供給され、
    第二モードでは前記複数のデジタル回路には前記内部発振回路からの前記第一クロックが供給され、前記アナログ回路には第一クロックよりも周波数偏差の小さく水晶の発振動作に基づいた第二クロックが供給される半導体集積回路装置。
  2. 前記複数のデジタル回路は、プログラムに従って全体を制御する中央演算装置と、前記中央演算装置CPUのワークエリアとして用いられ各種データや命令等を記憶するランダムアクセスメモリと、格納されたデータが書き換え可能となっており前記中央演算装置にて用いられる各種プログラムが記憶されている不揮発性メモリによって構成され、
    前記水晶の発振動作に基づいて動作し前記第二クロックを生成する水晶発振回路と、前記第一モードおよび前記第二モードを外部または前記中央演算装置により設定されることが可能なレジスタとをさらに有する請求項1に記載の半導体集積回路装置。
  3. 前記第一クロックは水晶の発振動作に従っておらず、前記第一モードでは前記水晶発振回路は水晶からのクロックを受けない請求項2に記載の半導体集積回路装置。
  4. 前記アナログ回路はデルタ・シグマAD変換器である請求項3に記載の半導体集積回路装置。
  5. 前記アナログ回路はアナログフロントエンドである請求項3に記載の半導体集積回路装置。
JP2012234569A 2012-10-24 2012-10-24 半導体集積回路装置 Pending JP2014086892A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012234569A JP2014086892A (ja) 2012-10-24 2012-10-24 半導体集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012234569A JP2014086892A (ja) 2012-10-24 2012-10-24 半導体集積回路装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014086892A true JP2014086892A (ja) 2014-05-12

Family

ID=50789576

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012234569A Pending JP2014086892A (ja) 2012-10-24 2012-10-24 半導体集積回路装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2014086892A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9641192B1 (en) 2016-06-14 2017-05-02 Semiconductor Components Industries, Llc Methods and apparatus for a delta sigma ADC with parallel-connected integrators
JP2018512628A (ja) * 2014-12-24 2018-05-17 インテル コーポレイション アナログフロントエンドの低パワーコンテキスト認識制御
US10267834B2 (en) 2016-11-22 2019-04-23 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device and measuring method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018512628A (ja) * 2014-12-24 2018-05-17 インテル コーポレイション アナログフロントエンドの低パワーコンテキスト認識制御
US9641192B1 (en) 2016-06-14 2017-05-02 Semiconductor Components Industries, Llc Methods and apparatus for a delta sigma ADC with parallel-connected integrators
US9647679B1 (en) 2016-06-14 2017-05-09 Semiconductor Components Industries, Llc Methods and apparatus for a delta sigma ADC with parallel-connected integrators
US10267834B2 (en) 2016-11-22 2019-04-23 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device and measuring method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7515076B1 (en) Method and apparatus for reducing switching noise in a system-on-chip (SoC) integrated circuit including an analog-to-digital converter (ADC)
JP2009528015A (ja) 自己補正式デジタル・パルス幅変調器(dpwm)
EP2796987A1 (en) Random number generator
TWI654845B (zh) 配置信號處理系統
RU2696233C1 (ru) Устройство и схема калибровки или настройки встроенных в микросхему регуляторов без использования контактов ввода-вывода
JP2014086892A (ja) 半導体集積回路装置
KR101876997B1 (ko) 오실레이터 오토 트리밍 방법 및 오실레이터 오토 트리밍 기능을 갖는 반도체 장치
JP2003218687A5 (ja)
JP2006197564A (ja) 信号選択回路およびリアルタイムクロック装置
KR101561372B1 (ko) Pwm 신호 생성 회로, 프린터, 및 pwm 신호 생성 방법
CN104579295A (zh) 时钟动态切换电路及方法
JP2010062995A (ja) A/d変換器
CN104363015A (zh) 小数分频器电路
US9564915B1 (en) Apparatus for data converter with internal trigger circuitry and associated methods
JP2004260090A (ja) 半導体集積回路装置
CN107431486B (zh) 混合信号集成电路
JP6094130B2 (ja) Pwm信号生成装置
CN219812140U (zh) 多时钟源无毛刺切换电路
JP6575970B2 (ja) 試験時間削減のための方法及び装置
JP2014027142A (ja) 組み込み自己テスト回路及び方法、半導体装置、並びに電子機器
US20070164890A1 (en) Semiconductor device
JP2001060851A (ja) 周期補正分周回路及びこれを用いた周期補正型発振回路
JP2018085587A (ja) 半導体装置及び測定方法
JP2008032448A (ja) 半導体集積回路装置
JP5875491B2 (ja) 半導体装置