JP2014085530A - 撮像装置及び顕微鏡システム - Google Patents
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Abstract
【課題】顕微鏡の光学出力ポートに連結するだけで透明試料の位相分布データを取得できる撮像装置を提供すること。
【解決手段】本発明の撮像装置の一例は、顕微鏡(1)の光学出力ポート(100A)に連結される撮像装置(100)であって、前記顕微鏡(1)からの結像光束を2つの分岐光束に分岐する分岐手段(101)と、前記2つの分岐光束の一方を参照光束とし、他方を物体光束として干渉縞を生成する干渉手段(102、104)と、前記干渉縞を撮像して縞画像を生成する撮像手段(105)とを備える。
【選択図】 図1
【解決手段】本発明の撮像装置の一例は、顕微鏡(1)の光学出力ポート(100A)に連結される撮像装置(100)であって、前記顕微鏡(1)からの結像光束を2つの分岐光束に分岐する分岐手段(101)と、前記2つの分岐光束の一方を参照光束とし、他方を物体光束として干渉縞を生成する干渉手段(102、104)と、前記干渉縞を撮像して縞画像を生成する撮像手段(105)とを備える。
【選択図】 図1
Description
本発明は、顕微鏡に適用される撮像装置、及びそれを備えた顕微鏡システムに関する。
生体細胞を顕微鏡(特許文献1など)で観察するには、透明な物体を観察できる位相差観察、暗視野観察、微分干渉観察、蛍光観察が有効である。
しかしながら、位相差観察、暗視野観察、微分干渉観察は、透明試料中に存在する位相物体の輪郭を可視化できるものの、位相物体の位相分布自体を可視化できる訳ではない。
また、蛍光観察は、透明試料の特定部位を予め染色しておく必要があり、また、蛍光観察で可視化できるのは、特定部位の蛍光強度分布であって、特定部位の位相分布ではない。
そこで本発明は、顕微鏡の光学出力ポートに連結するだけで透明試料の位相分布データを取得できる撮像装置及びそれを備えた顕微鏡システムを提供する。
なお、顕微鏡の光学出力ポートとは、撮像ユニット等への連結口であって、顕微鏡で生成された結像光束(=試料の光学像を表す光束)が射出するポートのことである。
本発明の撮像装置の一例は、顕微鏡の光学出力ポートに連結される撮像装置であって、前記顕微鏡からの結像光束を2つの分岐光束に分岐する分岐手段と、前記2つの分岐光束の一方を参照光束とし、他方を物体光束として干渉縞を生成する干渉手段と、前記干渉縞を撮像して縞画像を生成する撮像手段とを備える。
本発明の顕微鏡システムの一例は、前記顕微鏡と、本発明の撮像装置の一例とを備える。
本発明によれば、顕微鏡の光学出力ポートに連結するだけで透明物体の位相分布データを取得できる撮像装置及びそれを備えた顕微鏡システムが実現する。
[第1実施形態]
以下、本発明の第1実施形態として顕微鏡システムを説明する。ここでは、このシステムは、明視野観察、暗視野観察、位相差観察、微分干渉観察、蛍光観察、ホログラフィ観察が可能に構成された顕微鏡システムを例に挙げる。
以下、本発明の第1実施形態として顕微鏡システムを説明する。ここでは、このシステムは、明視野観察、暗視野観察、位相差観察、微分干渉観察、蛍光観察、ホログラフィ観察が可能に構成された顕微鏡システムを例に挙げる。
図1は、顕微鏡システムの全体図である。図1に示すとおり顕微鏡システムは、顕微鏡本体1と、透過照明ユニット2と、落射照明ユニット3と、撮像ユニット8と、ホログラフィユニット100と、レーザユニット200とを備える。透過照明ユニット2、落射照明ユニット3、撮像ユニット8、ホログラフィユニット100、レーザユニット200は、顕微鏡システムのポート2A、3A、8A、100A、200Aを介して顕微鏡本体1に連結される。
このうち、ポート8A、200Aは、光学出力ポートであって、特に、ポート200Aは、顕微鏡本体1の側面に位置するサイドポートである。
また、顕微鏡本体1の各部には、フィルタ・プリズムセット30、蛍光フィルタブロック43、フィルタ・プリズムセット60が装着可能である。また、顕微鏡本体1の各部には、光路切り換え用の可動ミラー28、48、57が搭載されている。
フィルタ・プリズムセット30は、微分干渉観察時に透過照明光路の瞳共役面に挿入される。フィルタ・プリズムセット30は、偏光子と微分干渉プリズムとを組み合わせたものである。
フィルタ・プリズムセット60は、微分干渉観察時に観察光路の瞳共役面に挿入される。フィルタ・プリズムセット60は、微分干渉プリズムと検光子とを組み合わせたものである。
蛍光フィルタブロック43は、蛍光観察時に落射照明光路と観察光路との分岐箇所へ挿入される。蛍光フィルタブロック43は、ダイクロイックミラー45に励起フィルタ44とバリアフィルタ46とを組み合わせたものである。
可動ミラー28は、レーザユニット200と透過照明ユニット2との間の切り換えを行う。可動ミラー28が光路へ挿入されると、透過照明ユニット2が有効となり、可動ミラー28が離脱すると、レーザユニット200が有効となる。
可動ミラー48は、ホログラフィユニット100と撮像ユニット8との間の切り換えを行う。可動ミラー48の反射面の姿勢が図1に実線で示す姿勢(ホログラフィモード)に設定されると、ホログラフィユニット100が有効となり、図1に点線で示す姿勢(通常モード)に設定されると、撮像ユニット8が有効となる。
可動ミラー57は、必要に応じて双眼部7を有効にする。可動ミラー57が光路へ挿入された状態では撮像ユニット8が有効であるが、可動ミラー57が光路から離脱されると撮像ユニット8が無効となり、双眼部7による肉眼観察が可能となる。
また、顕微鏡本体1には、複数種類のコンデンサレンズ32−1、32−2、32−3が装着されており、このうち1つのコンデンサレンズが顕微鏡本体1の光路へ挿入される。ここでは、コンデンサレンズ32−1は、明視野観察、微分干渉観察、ホログラフィ観察(後述)に使用可能なコンデンサレンズであり、コンデンサレンズ32−2は、暗視野観察用のコンデンサレンズ(暗視野コンデンサレンズ)であり、コンデンサレンズ32−3は、位相差観察用のコンデンサレンズ(位相差コンデンサレンズ)であると仮定する。
また、顕微鏡本体1の不図示のステージには、標本33が配置されている。標本33は、透明試料であって、例えば、生体細胞を含む培養液が滴下されたプレパラートである。このような標本33は、可視光に対してほぼ透明であるので、暗視野観察、位相差観察、微分干渉観察、蛍光観察、ホログラフィ観察が有効である。なお、蛍光観察を行う場合は、生体細胞の特定部位が蛍光色素で予め染色されている必要がある。
また、顕微鏡本体1には、複数種類の対物レンズ34−1、34−2、34−3が装着されており、このうち1つの対物レンズが顕微鏡本体1の光路へ挿入される。ここでは、対物レンズ34−1は、明視野観察、暗視野観察、微分干渉観察、蛍光観察、ホログラフィ観察に使用可能な対物レンズであり、対物レンズ34−2は、位相差観察用の対物レンズ(位相差対物レンズ)であると仮定する。
透過照明ユニット2は、明視野観察、暗視野観察、位相差観察、微分干渉観察に使用される。透過照明ユニット2には、ハロゲンランプや水銀ランプなどの光源21と、コレクタレンズ22と、シャッタ23と、リレーレンズ24と、フィルタ25と、リレーレンズ26と、視野絞り27とを備える。フィルタ25は、光量を制限するNDフィルタ、色温度を制御するNCBフィルタ、波長を制限する干渉フィルタなどである。これらのフィルタの各々は、必要に応じて光路に対して挿脱される。
落射照明ユニット3は、蛍光観察に使用される。落射照明ユニット3には、水銀ランプなどの光源35と、コレクタレンズ36と、シャッタ37と、リレーレンズ38と、開口絞り39と、リレーレンズ40と、視野絞り41と、42と、フィールドレンズ42とが備えられる。
レーザユニット200は、ホログラフィ観察に使用される。レーザユニット200には、レーザ光源が備えられる。なお、図1では、レーザユニット200におけるレーザ光源の数を1としたが、2以上として、レーザ波長を可変としてもよい。また、レーザユニット200と顕微鏡本体1とは図1のとおり直接連結されてもよいし、光ファイバやリレーレンズなどを介して連結されてもよい。
ホログラフィユニット100は、ホログラフィ観察に使用される。ホログラフィユニット100には、回折格子101、リレーレンズ102、空間フィルタ103、リレーレンズ104、CCDやCMOSなどで構成された撮像素子105が備えられる。ホログラフィユニット100の詳細は、後述する。
<明視野観察>
以下、明視野観察時の顕微鏡システムを説明する。
以下、明視野観察時の顕微鏡システムを説明する。
明視野観察時は、透過照明ユニット2が使用されるので、可動ミラー28が光路へ挿入される。また、明視野観察時は、ホログラフィユニット100は使用されないので、可動ミラー48の姿勢は通常モード(点線)に設定される。また、明視野観察時は、明視野観察に使用可能なコンデンサレンズ32−1、対物レンズ34−1が光路に挿入される。また、透過照明ユニット2の光源21としてはハロゲンランプがセットされ、透過照明ユニット2からの射出光が白色光となるようにフィルタ25がセットされる。
透過照明ユニット2の光源21から射出した光は、コレクタレンズ22、シャッタ23、リレーレンズ24、フィルタ25、リレーレンズ26、視野絞り27を介して顕微鏡本体1へ入射する。顕微鏡本体1へ入射した光は、可動ミラー28を反射し、フィールドレンズ29、開口絞り31、コンデンサレンズ32−1を介して標本33を照明する。標本33を透過した光は、対物レンズ34−1、第2対物レンズ47、可動ミラー48、リレーレンズ49、光路折り曲げミラー50、リレーレンズ51、可動ミラー57、第2の結像レンズ58を介して、撮像ユニット8の撮像素子59に標本33の明視野像を形成する。撮像素子59は不図示のモニタに接続されており、撮像素子59が取得する画像(明視野画像)は、取得順にモニタへ表示される。
<暗視野観察>
以下、暗視野観察時の顕微鏡システムを説明する。
以下、暗視野観察時の顕微鏡システムを説明する。
暗視野観察時は、コンデンサレンズとして暗視野コンデンサレンズ32−2が使用される点以外は、明視野観察時と同じである。この状態で撮像素子59は暗視野画像を取得する。
<位相差観察>
以下、位相差観察時の顕微鏡システムを説明する。
以下、位相差観察時の顕微鏡システムを説明する。
位相差観察時は、コンデンサレンズとして位相差コンデンサレンズ32−3が使用され、対物レンズとして位相差対物レンズ43−2が使用される点以外は、明視野観察時と同じである。但し、透過照明ユニット2の光源21としては水銀ランプがセットされ、透過照明ユニット2からの射出光が単色光となるようにフィルタ25がセットされる。この状態で撮像素子59は位相差画像を取得する。
<微分干渉観察>
以下、微分干渉観察時の顕微鏡システムを説明する。
以下、微分干渉観察時の顕微鏡システムを説明する。
微分干渉観察時は、フィルタ・プリズムセット30、60が光路へ挿入される点以外は、明視野観察時と同じである。但し、透過照明ユニット2の光源21としては水銀ランプがセットされ、透過照明ユニット2から射出する光の種類は単色光に設定される。この状態で撮像素子59は微分干渉が像を取得する。
<蛍光観察>
以下、蛍光観察時の顕微鏡システムを説明する。
以下、蛍光観察時の顕微鏡システムを説明する。
蛍光観察時は、蛍光フィルタブロック43が光路へ挿入される。また、蛍光観察時は、ホログラフィユニット100は使用されないので、可動ミラー48の姿勢は通常モード(点線)に設定される。また、蛍光観察時は、対物レンズ34−1が光路に挿入される。また、蛍光観察時は、レーザユニット200及び透過照明ユニット2はオフされる(レーザユニット200又は透過照明ユニット2からの射出光は顕微鏡本体1へ入射しない。)。
落射照明ユニット3の光源35から射出した光は、コレクタレンズ36、シャッタ37、リレーレンズ38、開口絞り39、リレーレンズ40、視野絞り41、フィールドレンズ42を介して顕微鏡本体1へ入射する。顕微鏡本体1へ入射した光は、蛍光用フィルタブロック43の励起フィルタ44を介して蛍光フィルタブロック43のダイクロイックミラー45へ入射すると、ダイクロイックミラー45を反射し、対物レンズ34−1を介して標本33を照射する。この照射により標本33で発生した蛍光は、対物レンズ34−1を介して蛍光フィルタブロック43のダイクロイックミラー45へ入射すると、ダイクロイックミラー45を透過し、蛍光フィルタブロック43のバリアフィルタ46を介して第2対物レンズ47へ入射する。第2対物レンズ47へ入射した蛍光は、可動ミラー48、リレーレンズ49、光路折り曲げミラー50、リレーレンズ51、可動ミラー57、第2の結像レンズ58を介して、撮像ユニット8の撮像素子59に標本33の蛍光像を形成する。撮像素子59は不図示のモニタに接続されており、撮像素子59が取得する画像(蛍光画像)は、取得順にモニタへ表示される。
<ホログラフィ観察>
以下、ホログラフィ観察時の顕微鏡システムを説明する。
以下、ホログラフィ観察時の顕微鏡システムを説明する。
ホログラフィ観察時は、レーザユニット200が使用されるので、可動ミラー28が光路から離脱される。また、ホログラフィ観察時は、ホログラフィユニット100が使用されるので、可動ミラー48の姿勢はホログラフィモード(実線)に設定される。また、ホログラフィ観察時は、コンデンサレンズ32−1、対物レンズ34−1が光路に挿入される。
図2は、ホログラフィ観察時の顕微鏡システム(第1実施形態のホログラフィユニット100)を詳しく説明する図である。
図2(A)に示すとおり、ホログラフィ観察時、レーザユニット200のレーザ光源から射出したレーザ光は、顕微鏡本体1へ入射すると、顕微鏡本体1のフィールドレンズ29の集光作用を受け、開口絞り31の中心に集光した後、発散光束となってコンデンサレンズ32−1へ入射する。コンデンサレンズ32−1へ入射したレーザ光は、コンデンサレンズ32−1を射出する際に径の太い平行光束となり、標本33の観察エリアを正面から均一な照度で照明する。
標本33を通過したレーザ光は、対物レンズ34−1へ入射すると、対物レンズ34−1の瞳中心に集光した後、発散光束となって第2対物レンズ47へ入射する。第2対物レンズ47へ入射したレーザ光は、第2対物レンズ47を射出する際に平行光束となる。平行光束となったレーザ光は、可動ミラー48にて反射し、ホログラフィユニット100へ入射する。
ホログラフィユニット100へ入射したレーザ光は、ホログラフィユニット100の回折格子101へ正面から入射する。
ここで、回折格子101は、透過型かつ位相型の回折格子である。この回折格子101は、光軸に垂直な所定方向(図2の紙面上下方向)にかけて周期構造を有した一方向回折格子であって、その周期構造のタイプはブレーズ型である(図2(B)を参照。)。
この回折格子101は、入射したレーザ光(平行光束)に応じて透過1次回折光束と透過0次回折光束とを発生させる。図2において、回折格子101から角度ゼロで射出する光束が透過0次回折光束であり、回折格子101から所定角度で射出する光束が透過1次回折光束である。
なお、回折格子101の回折効率は、透過1次回折光束及び透過0次回折光束以外の回折光束の強度がほぼゼロとなり、かつ、透過0次回折光束の強度よりも透過1次回折光束の強度の方が高くなるように設定されている。
図2(A)に示すとおり、回折格子101から射出した透過1次回折光束及び透過0次回折光束は、リレーレンズ102へ入射すると、リレーレンズ102の集光作用を受け、瞳共役面Aの互いに異なる位置に集光する。透過0次回折光束の集光点は光軸上であり、透過1次回折光束の集光点は光軸から離れた位置である。
ここで、瞳共役面Aには、空間フィルタ103が配置されている。空間フィルタ103は、所定の開口パターンを有したマスクであって、その開口パターンは、図2(C)に示すとおり、透過1次回折光束の集光点近傍に位置するピンホール103Aと、透過0次回折光束の集光点近傍に位置する円形開口103Bとからなる。
ピンホール103Aには、透過1次回折光束を回折し、その光束の波面を理想球面に変換する機能が付与されている。そのために、ピンホール103Aのサイズは十分に小さなサイズに設定されている。
円形開口103Bには、透過0次回折光束を回折せずに通過させ、かつ、余分な回折光束(回折格子101で発生した僅かな透過−1次回折光束及び高次回折光束)をカットする機能が付与されている。そのために、円形開口103Bのサイズは、透過0次回折光束の断面サイズと同等又は若干大きい程度に設定されている。
したがって、空間フィルタ103のピンホール103Aからは、理想球面波に変換された光束が射出し、空間フィルタ103の円形開口103Bからは、標本33の位相分布に応じた波面形状を有する光束が射出する。
そこで本実施形態のホログラフィユニット100は、ピンホール103Aから射出した光束を参照光束LRとして使用し、円形開口103Bから射出した光束を物体光束LOとして使用する。
空間フィルタ103から射出した参照光束LR及び物体光束LOの各々は、リレーレンズ104の集光作用を受けて平行光束となり、標本共役面Bに対して互いに異なる角度で入射する。標本共役面Bに対する物体光束LOの入射角度はゼロであるのに対して、参照光束LRの入射角度は、ゼロ以外の所定値である。なお、標本共役面Bに対する参照光束LRの入射角度は、回折格子101の構造周期(格子ピッチP)、レーザ光の波長λ、リレーレンズ102、104の焦点距離などによって決まる。
ここで、標本共役面Bには、撮像素子105の撮像面105Aが位置している。撮像面105Aには、光軸(Z方向)に垂直な所定方向(X方向)にかけて複数の画素が配列されており、Z方向及びX方向の双方に垂直な所定方向(Y方向)にかけても複数の画素が配列されている。
この撮像面105Aには、参照光束LRと物体光束LOとが互いに異なる角度で入射するので、撮像面105Aにおいて参照光束LRと物体光束LOとが重複して入射する領域には、ストライプ状の干渉縞が生起する(図2(D)を参照。)。
なお、撮像面105Aの光軸周りの回転位置は、図2(D)に示すとおり、撮像面105AのX方向及びY方向が干渉縞の縞方向に対して45°の角度を成すように設定されている。
撮像素子105は、例えば1/30秒のフレーム周期で干渉縞を繰り返し撮像すると共に、その撮像で生成した縞画像を逐次に演算装置(不図示)へ転送する。
不図示の演算装置は、撮像素子105から縞画像が転送されると、その縞画像に対して所定の演算処理(後述)を施すことにより、標本33のホログラフィ画像(後述)を作成し、そのホログラフィ画像をモニタ(不図示)へ表示する。
なお、不図示の演算装置は、顕微鏡システムに外付けされてもよいし、顕微鏡システムに内蔵されてもよいし、ホログラフィユニット100に内蔵されてもよい。
また、不図示の演算装置を顕微鏡システムに外付けする場合は、汎用のコンピュータを演算装置として動作させてもよい。その場合は、演算処理(後述)を実行するためのプログラムがコンピュータにインストールされる。なお、コンピュータに対するプログラムのインストールは、インターネットなどの通信網、又は、CD−ROMなどの記憶媒体などを介して行われる。
<数値例>
以下、第1実施形態の数値例を説明する。
以下、第1実施形態の数値例を説明する。
ホログラフィユニット100が適正な縞画像を生成するためには、干渉縞の縞ピッチと、撮像面105Aの画素ピッチとの関係が適正である必要がある。具体的には、1周期分の縞をおおよそ4画素で検出することが望まれる。
そのためには、回折格子101の格子ピッチPと、リレーレンズ102の焦点距離をf1と、リレーレンズ104の焦点距離をf2と、撮像面105AにおけるXY方向の画素ピッチpとが以下の式(1)を満たす必要がある。
P=(f1/f2)×4p/(√2) …(1)
また、空間フィルタ103のピンホール103Aが良質な参照光束LRを生成するためには、レーザ光の波長λと、回折格子101の格子ピッチPと、リレーレンズ102の焦点距離をf1と、光軸からピンホール103Aまでの高さhとは、以下の式(2)を満たす必要がある。
また、空間フィルタ103のピンホール103Aが良質な参照光束LRを生成するためには、レーザ光の波長λと、回折格子101の格子ピッチPと、リレーレンズ102の焦点距離をf1と、光軸からピンホール103Aまでの高さhとは、以下の式(2)を満たす必要がある。
h=(√2)・λf1/(4P) …(2)
また、空間フィルタ103の円形開口103Bが良質な物体光束LOを生成するためには、物レンズ34−1の倍率βと、対物レンズ34−1の開口数NAと、円形開口103の径φ3とは、以下の式(3)を満たす必要がある。
また、空間フィルタ103の円形開口103Bが良質な物体光束LOを生成するためには、物レンズ34−1の倍率βと、対物レンズ34−1の開口数NAと、円形開口103の径φ3とは、以下の式(3)を満たす必要がある。
φ3=2NA・f1/β …(3)
そこで、例えば、本数値例では、レーザ光の波長λを488nmに設定し、対物レンズ34−1の開口数NAを0.45に設定し、対物レンズ34−1の倍率βを20に設定し、回折格子101の格子ピッチPを3.37μmに設定し、リレーレンズ102の焦点距離f1を50mmに設定し、リレーレンズ104の焦点距離f2を70mmに設定し、ピンホール103Aの高さhを7.32mmに設定し、円形開口103Bの径φ3を2.25mmに設定し、画素ピッチpを1.67μmに設定した。
そこで、例えば、本数値例では、レーザ光の波長λを488nmに設定し、対物レンズ34−1の開口数NAを0.45に設定し、対物レンズ34−1の倍率βを20に設定し、回折格子101の格子ピッチPを3.37μmに設定し、リレーレンズ102の焦点距離f1を50mmに設定し、リレーレンズ104の焦点距離f2を70mmに設定し、ピンホール103Aの高さhを7.32mmに設定し、円形開口103Bの径φ3を2.25mmに設定し、画素ピッチpを1.67μmに設定した。
因みに、本実施形態では、標本33における観察エリアの径(視野の径)φ1を300μmに設定し、第2対物レンズ47の焦点距離f0を200mmに設定し、ピンホール103Aの径φ2を20μmから30μmの範囲に設定し、撮像面105Aの有効径φ4を8mmに設定した。
なお、参照光束LRの波面を良質にするためには、ピンホール103Aの径φ2を20μmよりさらに小さくすることが望ましいが、ここでは参照光束LRの強度が或る程度確保され、しかも、空間フィルタ103の製造が困難とならないように、φ2を20μmから30μmの範囲とした。
<演算処理>
以下、演算装置による演算処理を説明する。
以下、演算装置による演算処理を説明する。
図3は、演算装置による演算処理の手順を説明する図である。以下、演算処理の各ステップを順に説明する。
ステップS1:演算装置は、縞画像(図3(A))をFFTによりフーリエ変換し、波数空間で表されたスペクトル画像(図3(B))を取得する。このスペクトル画像では、波数空間上の原点近傍に0次スペクトルが現れており、波数空間上の原点から外れた位置に±1次スペクトルが現れている。このうち、0次スペクトルは、縞画像のDC成分であって、物体光束LOの波面情報を含まない不要成分である。一方、±1次スペクトルの各々は、物体光束LOの波面情報を含んだ必要成分である。
ここで、波数空間における±1次スペクトルの原点からのシフト量は、干渉縞の空間周波数Kに等しく、また、Kの値は、回折格子101の格子ピッチP、レーザ光の波長λ、リレーレンズ102、104の焦点距離f1、f2などによって一義的に決まるので、予め計算しておくことが可能である。そこで、本実施形態の演算装置は、Kの値を予め記憶しているものとする。
ステップS2:演算装置は、波数空間における±1次スペクトルの一方(1次スペクトル)を切り出すと共に、そのスペクトルを波数空間上でKだけシフトさせることにより、波数空間上の原点に配置する。これによって、物体光束LOの波面情報のみを含んだスペクトル画像(図3(C))が得られる。
ステップS3:演算装置は、ステップS2で取得したスペクトル画像を逆FFTにより逆フーリエ変換することにより、撮像面105Aにおける物体光束LOの波面形状と、撮像面105Aにおける物体光束LOの振幅分布とを求める。さらに演算装置は、求めた波面形状を、階調画像からなるホログラフィ画像(図3(D))に変換し、そのホログラフィ画像をモニタへ表示する(以上、ステップS3)。
このホログラフィ画像の階調分布は、標本33の位相分布を表す。つまり、ホログラフィ画像には、標本33中に存在する細胞の輪郭だけでなく、細胞の位相分布までもが反映されている。
なお、以上のステップS1からステップS3までの処理に要する時間は、撮像素子105のフレーム周期よりも短い。よって、本実施形態の演算装置は、撮像素子105から縞画像が転送される度にステップS1からステップS3までの処理を実行してモニタ上のホログラフィ画像を更新する。
したがって、ユーザは、標本33中に存在する細胞の位相分布をリアルタイムで観察することができる。
なお、本実施形態の顕微鏡システムは、以上のホログラフィ観察だけでなく、暗視野観察、位相差観察、微分干渉観察、蛍光観察なども可能である。
したがって、ユーザは、暗視野観察、位相差観察、微分干渉観察、蛍光観察などの他の観察方法で標本33を大まかに観察し、詳細な観察が必要と感じた場合には、ホログラフィユニット100を有効にセットして、標本33の位相分布を観察する、といった柔軟な観察を行うことも可能である。
[第1実施形態の作用効果]
以上、本実施形態の撮像装置(100)は、顕微鏡(1)の光学出力ポート(100A)に連結される撮像装置であって、前記顕微鏡(1)からの結像光束を2つの分岐光束に分岐する分岐手段(101)と、前記2つの分岐光束の一方を参照光束(LR)とし、他方を物体光束(LO)として干渉縞を生成する干渉手段(102、104)と、前記干渉縞を撮像して縞画像を生成する撮像手段(105)とを備える。
以上、本実施形態の撮像装置(100)は、顕微鏡(1)の光学出力ポート(100A)に連結される撮像装置であって、前記顕微鏡(1)からの結像光束を2つの分岐光束に分岐する分岐手段(101)と、前記2つの分岐光束の一方を参照光束(LR)とし、他方を物体光束(LO)として干渉縞を生成する干渉手段(102、104)と、前記干渉縞を撮像して縞画像を生成する撮像手段(105)とを備える。
したがって、本実施形態の撮像装置(100)によれば、前記顕微鏡(1)の光学出力ポート(100A)を有効に利用して前記縞画像を取得することができる。この縞画像には、前記物体光束(LO)の波面形状(ひいては前記顕微鏡(1)にセットされた物体(33)の位相分布)が反映されている。
また、本実施形態の撮像装置(100)は、前記撮像手段(105)に向かう前記参照光束(LR)の波面形状を予め決められた形状に整形する整形手段(103A)を更に備える。
このように前記参照光束(LR)の波面形状を整形しておけば、前記物体光束(LO)の波面形状(ひいては前記物体(33)の位相分布)を、前記縞画像から簡単に算出することができる。
また、前記分岐手段(101)は、ブレーズ型位相回折格子であり、前記回折格子(101)で発生した±1次回折光束の一方が前記参照光束(LR)として使用され、前記回折格子で発生した0次回折光束が前記物体光束(LO)として使用される。
したがって、前記干渉縞に寄与する前記参照光束(LR)と前記物体光束(LO)との強度バランスを確実に制御できる。
また、前記回折格子(101)と前記撮像手段(105)との間には、前記回折格子(101)で発生した余分な回折光束をカットする空間フィルタ(103)が配置される。
この空間フィルタ(103)によれば、前記縞画像に対するノイズの重畳を抑えることができる。
また、前記空間フィルタ(103)には、前記整形手段(103A)の機能が搭載されている。
このような空間フィルタ(103)を利用すれば、前記撮像装置(100)に搭載すべき光学素子の点数が抑えられる(因みに、図2の例は、光学素子の点数は、5点に抑えられている。)。
また、前記回折格子(101)の回折効率は、前記回折格子(101)から射出する前記参照光束(LR)の強度が前記回折格子(101)から射出する前記物体光束(LO)の強度よりも高くなるように設定されている。
したがって、波面整形時に発生する前記参照光束(LR)の光量ロスを、補償することができる。また、前記干渉縞に寄与する前記参照光束(LR)及び前記物体光束(LO)の強度バランスを適正にすることもできる。
また、前記撮像手段(105)の撮像面(105A)に対する前記参照光束(LR)の入射角度と前記物体光束(LO)の入射角度との差は、ゼロ以外の所定値に設定されており、前記撮像手段(105)の撮像面(105A)の配置先は、前記顕微鏡(1)の像面と光学的に共役な面(B)である。
したがって、前記物体(33)の位相分布を前記縞画像から簡単に算出することができる。
また、前記撮像装置(100)は、前記縞画像に基づき前記顕微鏡にセットされた物体(33)の位相分布を算出する演算手段を更に備え、前記演算手段は、前記位相分布をモニタへ表示する。
したがって、ユーザは、前記物体(33)の位相分布を前記モニタ上で確認できる。
また、前記撮像手段(105)及び前記演算手段は、繰り返し動作する。
したがって、前記モニタ上の前記位相分布は、逐次に更新される。よって、ユーザは、前記物体(33)の位相分布の時間変化をリアルタイム観察することができる。
また、本実施形態の顕微鏡システムは、前記顕微鏡(1)と、前記撮像装置(100)とを備え、前記顕微鏡(1)には、レーザ光源(200)が搭載されている。
したがって、前記撮像装置(100)は、前記縞画像の取得に前記レーザ光源(200)を有効利用することができる。
因みに、前記レーザ光源(200)を利用すれば、前記参照光束(LR)と前記物体光束(LO)との可干渉性が高まるので、前記縞画像の品質も高まる。
[第2実施形態]
以下、本発明の第2実施形態として第1実施形態の変形例を説明する。第1実施形態との相違点は、ホログラフィユニット100の一部にある。
以下、本発明の第2実施形態として第1実施形態の変形例を説明する。第1実施形態との相違点は、ホログラフィユニット100の一部にある。
図4は、第2実施形態のホログラフィユニット100の構成を示す図である。
図4に示すとおり本実施形態のホログラフィユニット100は、第1実施形態のホログラフィユニットにおいて、回折格子101の代わりに回折格子101’を備えたものである。
回折格子101’は、回折格子101を非ブレーズ型で構成したものである。つまり、回折格子101’は、透明基板に溝を周期的に形成したものである。この場合、透過−1次回折光束の強度が透過+1次回折光束の強度と同様に強くなってしまうので、レーザ光の利用効率が低下するが、安価な回折格子を利用できるという利点がある。
なお、例えば、本実施形態では、レーザ光の波長λを488nmに設定し、対物レンズ34−1の開口数NAを0.45に設定し、対物レンズ34−1の倍率βを20に設定し、回折格子101’の格子ピッチPを4.72μmに設定し、リレーレンズ102の焦点距離f1を50mmに設定し、リレーレンズ104の焦点距離f2を50mmに設定し、ピンホール103Aの高さhを5.166mmに設定し、円形開口103Bの径φ3を2.25mmに設定し、画素ピッチpを1.67μmに設定した。
また、本実施形態では、標本33における観察エリアの径(視野の径)φ1を300μmに設定し、第2対物レンズ47の焦点距離f0を200mmに設定し、ピンホール103Aの径φ2を20μmから30μmの範囲に設定し、撮像面105Aの有効径φ4を8mmに設定し、回折格子101’の溝深さを500nmとした。
[第3実施形態]
以下、本発明の第2実施形態として第1実施形態の変形例を説明する。第1実施形態との相違点は、ホログラフィユニットに適用される干渉計の種類にある。具体的に、第1実施形態のホログラフィユニットでは、シアリング干渉計を利用したが、本実施形態のホログラフィユニットでは、マッハツェンダー干渉計を利用する。
以下、本発明の第2実施形態として第1実施形態の変形例を説明する。第1実施形態との相違点は、ホログラフィユニットに適用される干渉計の種類にある。具体的に、第1実施形態のホログラフィユニットでは、シアリング干渉計を利用したが、本実施形態のホログラフィユニットでは、マッハツェンダー干渉計を利用する。
図5は、第3実施形態のホログラフィユニット300の構成を示す図である。
図5に示すとおり本実施形態のホログラフィユニット300は、リレーレンズ301と、ビームスプリッタ302と、ピンホールマスク303と、光路折り曲げミラー304、305と、ビームスプリッタ306と、リレーレンズ307と、撮像素子308とが備えられる。
図5に示すとおり、ホログラフィ観察時、ホログラフィユニット300へ入射したレーザ光(平行光束)は、ホログラフィユニット300のリレーレンズ301へ入射すると、リレーレンズ301の集光作用を受け、集光しながらビームスプリッタ302へ入射する。
ビームスプリッタ302へ入射したレーザ光は、ビームスプリッタ302を透過する透過光束と、ビームスプリッタ302を反射する反射光束とに分岐される。
なお、ビームスプリッタ302の透過/反射率は、透過光束の強度の方が反射光束の強度より高くなるように設定されている(なぜなら、本実施形態の参照光束LRは、透過光束に基づき生成される。)。
先ず、ビームスプリッタ302から射出した透過光束は、瞳共役面Aの中心(光軸)に向かって集光する。
ここで、瞳共役面Aには、ピンホールマスク303が配置されており、ピンホールマスク303のピンホール303Aは、その集光点の近傍に位置している。
ピンホール303Aには、透過光束を回折し、その光束の波面を理想球面に変換する機能が付与されている。そのために、ピンホール303Aのサイズは十分に小さなサイズに設定されている。
したがって、ピンホールマスク303のピンホール303Aからは、理想球面波に変換された光束が射出する。本実施形態のホログラフィユニット300は、この光束を参照光束LRとして使用する。この参照光束LRは、光路折り曲げミラー304によって偏向され、ビームスプリッタ306へ入射すると、ビームスプリッタ306を反射する。
一方、ビームスプリッタ302から射出した反射光束は、瞳共役面A’の中心(光軸)に向かって集光すると、再び発散光束となって進行し、光路折り曲げミラー305によって偏向された後、ビームスプリッタ306へ入射し、ビームスプリッタ306を透過する。本実施形態のホログラフィユニット300は、この光束を物体光束LOとして使用する。
ビームスプリッタ306で反射した参照光束LRと、ビームスプリッタ306を透過した物体光束LOとの各々は、リレーレンズ307の集光作用を受けて平行光束となり、標本共役面Bへ入射する。
ここで、物体光束LOの単独光路に配置された光路折り曲げミラー305は、入射光路に対して45°の角度で配置されているのに対して、参照光束LRの単独光路に配置された光折り曲げミラー305は、入射光路に対して45°から所定値だけずれた角度で配置されている。
よって、標本共役面Bに対する物体光束LOの入射角度はゼロとなるのに対して、標本共役面Bに対する参照光束LRの入射角度は、ゼロ以外の所定値となる。
ここで、標本共役面Bには、撮像素子308の撮像面308Aが位置している。撮像面105Aには、光軸(Z方向)に垂直な所定方向(X方向)にかけて複数の画素が配列されており、Z方向及びX方向の双方に垂直な所定方向(Y方向)にかけても複数の画素が配列されている。
この撮像面105Aには、参照光束LRと物体光束LOとが互いに異なる角度で入射するので、撮像面308Aにおいて参照光束LRと物体光束LOとが重複して入射する領域には、ストライプ状の干渉縞が生起する。
なお、撮像面308Aの光軸周りの回転位置は、撮像面308AのX方向及びY方向が干渉縞の縞方向に対して45°の角度を成すように設定されている。
撮像素子308は、例えば1/30秒のフレーム周期で干渉縞を繰り返し撮像すると共に、その撮像で生成した縞画像を逐次に演算装置(不図示)へ転送する。
不図示の演算装置は、撮像素子308から縞画像が転送されると、その縞画像に対して所定の演算処理を施すことにより、標本33のホログラフィ画像(後述)を作成し、そのホログラフィ画像をモニタ(不図示)へ表示する。
なお、不図示の演算装置、不図示のモニタは、第1実施形態におけるそれらと同様である。
また、例えば、本実施形態では、レーザ光の波長λを488nmに設定し、対物レンズ34−1の開口数NAを0.45に設定し、対物レンズ34−1の倍率βを20に設定し、リレーレンズ301の焦点距離f1を50mmに設定し、リレーレンズ306の焦点距離f2を50mmに設定し、画素ピッチpを4.4μmに設定した。
また、本実施形態では、標本33における観察エリアの径(視野の径)φ1を300μmに設定し、第2対物レンズ47の焦点距離f0を200mmに設定した。
[実施形態の補足]
なお、上述した実施形態では、ホログラフィユニットの連結先を顕微鏡本体1のサイドポート100Aとしたが、顕微鏡本体1が光学出力ポートとして、例えば、左ポート、右ポート、ボトムポート、バックポートを備えていた場合には、ホログラフィユニットの連結先を、左ポート、右ポート、ボトムポート、バックポートの何れとしてもよいことは言うまでもない。
なお、上述した実施形態では、ホログラフィユニットの連結先を顕微鏡本体1のサイドポート100Aとしたが、顕微鏡本体1が光学出力ポートとして、例えば、左ポート、右ポート、ボトムポート、バックポートを備えていた場合には、ホログラフィユニットの連結先を、左ポート、右ポート、ボトムポート、バックポートの何れとしてもよいことは言うまでもない。
また、上述した実施形態では、可動ミラーを使用し、複数の光学出力ポートの間で有効な光学出力ポートを切り換えたが、複数の光学出力ポートを同時に使用可能としてもよい。複数の光学出力ポートを同時に使用するためには、可動ミラーの代わりに非可動のビームスプリッタを使用すればよい。
また、上述した実施形態では、ホログラフィユニットの観察対象を透明物体とし、透明物体の位相分布をホログラフィ画像として取得したが、ホログラフィユニットの観察対象を不透明物体とし、不透明物体の表面形状をホログラフィ画像として取得してもよい。但し、不透明物体をホログラフィユニットで観察する際の照明方法としては、透過照明ではなく落射照明を採用する必要がある。また、その場合も、光源は可干渉性の高い光源(レーザ光源)が使用されることが望ましい。
また、上述した実施形態では、撮像ユニットに搭載される撮像素子の配置先が、標本共役面に一致していたが、標本共役面からずれていても構わない。但し、上述した演算処理によって算出できるのは、撮像面の位相分布であるので、標本共役面の位相分布を知るためには、撮像面の位相分布を標本共役面の位相分布へ換算する処理を、上述した演算処理に加える必要がある。
1:顕微鏡本体、2:透過照明ユニット、3:落射照明ユニット、8:撮像ユニット、100:ホログラフィユニット、200:レーザユニット、2:透過照明ユニット、3:落射照明ユニット、8:撮像ユニット、100A:ポート、101:回折格子、102:リレーレンズ、103:空間フィルタ、104:リレーレンズ、105:撮像素子
Claims (14)
- 顕微鏡の光学出力ポートに連結される撮像装置であって、
前記顕微鏡からの結像光束を2つの分岐光束に分岐する分岐手段と、
前記2つの分岐光束の一方を参照光束とし、他方を物体光束として干渉縞を生成する干渉手段と、
前記干渉縞を撮像して縞画像を生成する撮像手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。 - 請求項1に記載の撮像装置において、
前記撮像手段に向かう前記参照光束の波面形状を、予め決められた形状に整形する整形手段を更に備える
ことを特徴とする撮像装置。 - 請求項2に記載の撮像装置において、
前記分岐手段は、ブレーズ型位相回折格子である
ことを特徴とする撮像装置。 - 請求項3に記載の撮像装置において、
前記回折格子で発生した±1次回折光束の一方が前記参照光束として使用され、前記回折格子で発生した0次回折光束が前記物体光束として使用される
ことを特徴とする撮像装置。 - 請求項4に記載の撮像装置において、
前記回折格子と前記撮像手段との間には、前記回折格子で発生した余分な回折光束をカットする空間フィルタが配置される
ことを特徴とする撮像装置。 - 請求項5に記載の撮像装置において、
前記空間フィルタには、前記整形手段の機能が搭載されている
ことを特徴とする撮像装置。 - 請求項4〜請求項6の何れか一項に記載の撮像装置において、
前記回折格子の回折効率は、前記回折格子から射出する前記参照光束の強度が前記回折格子から射出する前記物体光束の強度よりも高くなるように設定されている
ことを特徴とする撮像装置。 - 請求項1〜請求項7の何れか一項に記載の撮像装置において、
前記撮像手段の撮像面に対する前記参照光束の入射角度と前記物体光束の入射角度との差は、ゼロ以外の所定値に設定されている
ことを特徴とする撮像装置。 - 請求項1〜請求項8の何れか一項に記載の撮像装置において、
前記撮像手段の撮像面の配置先は、前記顕微鏡の像面と光学的に共役な面である
ことを特徴とする撮像装置。 - 請求項1〜請求項9の何れか一項に記載の撮像装置において、
前記縞画像に基づき前記顕微鏡にセットされた物体の位相分布を算出する演算手段を更に備える
ことを特徴とする撮像装置。 - 請求項10に記載の撮像装置において、
前記演算手段は、
前記位相分布をモニタへ表示する
ことを特徴とする撮像装置。 - 請求項11に記載の撮像装置において、
前記撮像手段及び前記演算手段は、繰り返し動作する
ことを特徴とする撮像装置。 - 前記顕微鏡と、
請求項1〜請求項12の何れか一項に記載の撮像装置と、
を備えることを特徴とする顕微鏡システム。 - 請求項13に記載の顕微鏡システムにおいて、
前記顕微鏡には、
レーザ光源が搭載されている
ことを特徴とする顕微鏡システム。
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- 2013-10-23 WO PCT/JP2013/006272 patent/WO2014064935A1/ja active Application Filing
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