JP2014082482A - 光半導体素子とその駆動方法、および前記光半導体素子を有する光干渉断層撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】従来よりも発光波長帯域を広くすることができる光半導体素子を提供する。
【解決手段】多重量子井戸構造を含むMQW活性層14と、前記活性層に電流を注入させるための少なくとも1つの電極対11,17とを有する光半導体素子であって、前記多重量子井戸構造が第1の量子井戸141と前記第1の量子井戸と異なる第2の量子井戸142とを有し、前記第1の量子井戸と前記第2の量子井戸とは、井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のうち少なくとも2つが互いに異なることを特徴とする光半導体素子を構成する。
【選択図】図7
【解決手段】多重量子井戸構造を含むMQW活性層14と、前記活性層に電流を注入させるための少なくとも1つの電極対11,17とを有する光半導体素子であって、前記多重量子井戸構造が第1の量子井戸141と前記第1の量子井戸と異なる第2の量子井戸142とを有し、前記第1の量子井戸と前記第2の量子井戸とは、井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のうち少なくとも2つが互いに異なることを特徴とする光半導体素子を構成する。
【選択図】図7
Description
本発明は光半導体素子とその駆動方法、及び前記光半導体素子を有する光干渉断層撮像装置に関する。
従来、生体組織の光断層画像を取得する装置として、光干渉断層撮像装置(Optical Coherence Tomography、以下、単にOCTと呼ぶことがある)が知られている。OCTでは、光源から射出された低コヒーレント光を測定光と参照光とに分割した後、測定光が測定対象に照射された際の測定対象からの反射光と参照光を合波し、反射光と参照光との干渉光の強度によって測定対象の断層画像を取得するものである。
OCT用の光源として、光半導体素子の一つであるスーパールミネッセントダイオード(SLD)が用いられている。また、発光波長帯域を広くすることが望まれている。
発光波長帯域を広くする手段として、特許文献1では発光波長の異なる複数の量子井戸層を形成する光半導体素子が提案されている。
特許文献1に開示の光半導体素子では、井戸幅が2〜6nm異なる複数の量子井戸による多重量子井戸構造を有する活性層を用いることにより、発光波長帯域を広くしている。
発光波長帯域を広くする手段として、特許文献1では発光波長の異なる複数の量子井戸層を形成する光半導体素子が提案されている。
特許文献1に開示の光半導体素子では、井戸幅が2〜6nm異なる複数の量子井戸による多重量子井戸構造を有する活性層を用いることにより、発光波長帯域を広くしている。
しかし、上記特許文献1に開示の光半導体素子は、多重量子井戸構造を構成する複数の量子井戸層において、井戸幅のみが互いに異なる構成であるため、発光波長帯域の広帯域化に限界があった。
そこで本発明は、上記課題に鑑み、従来よりも発光波長帯域を広くすることができる光半導体素子とその駆動方法、および前記光半導体素子を有する光干渉断層撮像装置を提供することを目的とする。
本発明に係る光半導体素子は、多重量子井戸構造を含む活性層と、前記活性層に電流を注入させるための少なくとも1つの電極対とを有する光半導体素子であって、
前記多重量子井戸構造が第1の量子井戸と前記第1の量子井戸と異なる第2の量子井戸とを有し、前記第1の量子井戸と前記第2の量子井戸とは、井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のうち少なくとも2つが互いに異なることを特徴とする。
また、本発明に係る光干渉断層撮像装置は、
上記光半導体素子を有する光源部と、
前記光源部からの光を検体に照射し、検体からの反射光を伝達させる検体測定部と、
前記光源部からの光を参照ミラーに照射し、該参照ミラーからの反射光を伝達させる参照部と、
前記検体測定部からの反射光と前記参照部からの反射光とを干渉させる干渉部と、
前記干渉部からの干渉光を検出する光検出部と、前記光検出部で検出された干渉光の強
度に基づいて、前記検体の断層像を得る画像処理部と、を有することを特徴とする。
また本発明に係る光半導体素子の駆動方法は、上記光半導体素子において、
前記活性層に電流を注入するステップを有し、
前記ステップは、前記第1の量子井戸において、基底準位と1次準位で発光させ、
前記第2の量子井戸における基底準位からの発光ピークが、前記第1の量子井戸の基底準位からの発光ピークの半値全幅以内に存在するように前記活性層に注入する電流注入量を調整するステップを有することを特徴とする。
前記多重量子井戸構造が第1の量子井戸と前記第1の量子井戸と異なる第2の量子井戸とを有し、前記第1の量子井戸と前記第2の量子井戸とは、井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のうち少なくとも2つが互いに異なることを特徴とする。
また、本発明に係る光干渉断層撮像装置は、
上記光半導体素子を有する光源部と、
前記光源部からの光を検体に照射し、検体からの反射光を伝達させる検体測定部と、
前記光源部からの光を参照ミラーに照射し、該参照ミラーからの反射光を伝達させる参照部と、
前記検体測定部からの反射光と前記参照部からの反射光とを干渉させる干渉部と、
前記干渉部からの干渉光を検出する光検出部と、前記光検出部で検出された干渉光の強
度に基づいて、前記検体の断層像を得る画像処理部と、を有することを特徴とする。
また本発明に係る光半導体素子の駆動方法は、上記光半導体素子において、
前記活性層に電流を注入するステップを有し、
前記ステップは、前記第1の量子井戸において、基底準位と1次準位で発光させ、
前記第2の量子井戸における基底準位からの発光ピークが、前記第1の量子井戸の基底準位からの発光ピークの半値全幅以内に存在するように前記活性層に注入する電流注入量を調整するステップを有することを特徴とする。
本発明によれば、井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のうち少なくとも2つが互いに異なる多重量子井戸構造を有するため、発光波長帯域を広くすることができる光半導体素子とその駆動方法、および前記光半導体素子を有する光干渉断層撮像装置を実現できる。
本発明の実施形態における光半導体素子は、多重量子井戸構造を含む活性層と、前記活性層に電流を注入させるための少なくとも1つの電極対とを有し、多重量子井戸構造が第1の量子井戸と第1の量子井戸と異なる第2の量子井戸とを有する。そして、第1の量子井戸と第2の量子井戸とは、井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のうち少なくとも2つが互いに異なることを特徴とする。
井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のいずれかが互いに異なる複数の量子井戸は、各々異なる波長領域において発光する。すなわち、井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のうち少なくとも2つが互いに異なることで発光波長領域を広くすることができる。
また、第1の量子井戸が、基底準位と1次準位で発光するように構成され、第2の量子井戸の基底準位からの発光ピークが、第1の量子井戸の基底準位からの発光ピークの半値全幅以内に存在するように構成されていることが好ましい。ここで、高電流注入時には、第1の量子井戸の基底準位からの発光強度は、1次準位の発光強度に比べて一般的に小さくなる。そこで、第2の量子井戸の基底準位からの発光ピークが、第1の量子井戸の基底準
位からの発光ピークの半値全幅以内に存在することで、発光強度の小さい第1の量子井戸の基底準位からの発光を増幅し発光強度を増大させることができる。第1、第2量子井戸の基底準位からの発光が重なり合って、発光強度が増大することで、電流を多く注入する場合でも基底準位から十分な発光強度が得られ、発光波長帯域が広い光半導体素子が実現される。
また、井戸層の組成が互いに異なる場合は、障壁層が互いに異なる場合に比べて、発光波長領域がより変わりやすい。そのため、第1の量子井戸と前記第2の量子井戸とは、井戸層の組成が異なることが好ましい。
一方、井戸層の幅の差が大きいほど、各々の量子井戸からの発光強度の差は大きい。そのため、最終的に出力される発光スペクトルの起伏を小さくしたい場合は、井戸層の幅の差は小さい方が好ましい。例えば、第1の量子井戸と第2の量子井戸とは、井戸層の幅が異なり、その差が1nm以下であることが好ましい。
なお、第1の量子井戸と第2の量子井戸とは、井戸層の組成、および井戸層の幅が異なる場合、井戸層の組成を異ならしめることによって発光波長帯域を広くし、井戸層の幅を異ならしめることによって、発光出力を調整することができる。
また、第1の量子井戸、及び第2の量子井戸が基底準位の重い正孔と軽い正孔を有しており、第2の量子井戸の重い正孔からの発光ピークが、第1の量子井戸の重い正孔からの発光ピークの半値全幅以内に存在することが好ましい。これは、第1の量子井戸の重い正孔からの発光強度は高注入状態では小さいため、第2の量子井戸の重い正孔からの発光ピークを近づけることにより、発光強度を大きくすることができるからである。
また、第1の量子井戸および第2の量子井戸は、井戸層がInxGa1-xAs(0<x<1)を有することが好ましい。また、詳細は後述するが、本実施形態に係る光半導体素子は、電極対の少なくとも一方の電極が分割され、活性層における複数の異なる領域に独立に電流を注入するように構成してもよい。このような構成を多電極の光半導体素子と呼ぶことがある。
電極対の少なくとも一方の電極が分割されているとは、図9に示すように、電極17と電極19とに電極が分割されていることを意味する。このような構成では、電極17と電極11、電極との間の領域、電極19電極11との間の領域に独立に電流を注入することができる。
井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のいずれかが互いに異なる複数の量子井戸は、各々異なる波長領域において発光する。すなわち、井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のうち少なくとも2つが互いに異なることで発光波長領域を広くすることができる。
また、第1の量子井戸が、基底準位と1次準位で発光するように構成され、第2の量子井戸の基底準位からの発光ピークが、第1の量子井戸の基底準位からの発光ピークの半値全幅以内に存在するように構成されていることが好ましい。ここで、高電流注入時には、第1の量子井戸の基底準位からの発光強度は、1次準位の発光強度に比べて一般的に小さくなる。そこで、第2の量子井戸の基底準位からの発光ピークが、第1の量子井戸の基底準
位からの発光ピークの半値全幅以内に存在することで、発光強度の小さい第1の量子井戸の基底準位からの発光を増幅し発光強度を増大させることができる。第1、第2量子井戸の基底準位からの発光が重なり合って、発光強度が増大することで、電流を多く注入する場合でも基底準位から十分な発光強度が得られ、発光波長帯域が広い光半導体素子が実現される。
また、井戸層の組成が互いに異なる場合は、障壁層が互いに異なる場合に比べて、発光波長領域がより変わりやすい。そのため、第1の量子井戸と前記第2の量子井戸とは、井戸層の組成が異なることが好ましい。
一方、井戸層の幅の差が大きいほど、各々の量子井戸からの発光強度の差は大きい。そのため、最終的に出力される発光スペクトルの起伏を小さくしたい場合は、井戸層の幅の差は小さい方が好ましい。例えば、第1の量子井戸と第2の量子井戸とは、井戸層の幅が異なり、その差が1nm以下であることが好ましい。
なお、第1の量子井戸と第2の量子井戸とは、井戸層の組成、および井戸層の幅が異なる場合、井戸層の組成を異ならしめることによって発光波長帯域を広くし、井戸層の幅を異ならしめることによって、発光出力を調整することができる。
また、第1の量子井戸、及び第2の量子井戸が基底準位の重い正孔と軽い正孔を有しており、第2の量子井戸の重い正孔からの発光ピークが、第1の量子井戸の重い正孔からの発光ピークの半値全幅以内に存在することが好ましい。これは、第1の量子井戸の重い正孔からの発光強度は高注入状態では小さいため、第2の量子井戸の重い正孔からの発光ピークを近づけることにより、発光強度を大きくすることができるからである。
また、第1の量子井戸および第2の量子井戸は、井戸層がInxGa1-xAs(0<x<1)を有することが好ましい。また、詳細は後述するが、本実施形態に係る光半導体素子は、電極対の少なくとも一方の電極が分割され、活性層における複数の異なる領域に独立に電流を注入するように構成してもよい。このような構成を多電極の光半導体素子と呼ぶことがある。
電極対の少なくとも一方の電極が分割されているとは、図9に示すように、電極17と電極19とに電極が分割されていることを意味する。このような構成では、電極17と電極11、電極との間の領域、電極19電極11との間の領域に独立に電流を注入することができる。
このように、2つの異なる量子井戸の基底準位からの発光ピーク波長をそれぞれの発光ピークの半値全幅以内に設定することにより、高出力時にも基底準位から十分な発光強度が得られ広帯域スペクトルを有するSLDを実現できる。
広帯域スペクトルを有するSLDは、OCTの光源として使用することで深さ方向の高い分解能での観察が可能になる。
広帯域スペクトルを有するSLDは、OCTの光源として使用することで深さ方向の高い分解能での観察が可能になる。
以下、具体的な実施形態について、図を用いて詳細に説明する。以下の実施形態についての説明において、パラメータを設定して説明するが、本発明はこれらに限られない。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態における活性層部分のエネルギーバンド図であり、第1、第2の2つの量子井戸を有している。
図2は、第1の量子井戸構造は、In0.11Ga0.89As;7nmを井戸層とし、Al0.2Ga0.8Asを障壁層として構成された単一量子井戸SLDの発光スペクトルである。図1、図2において、発光ピークの長波長側から、基底準位の重い正孔からの発光、基底準位の軽い正孔、第1量子準位の重い正孔からの発光である。
図1、図2において、注入電流の異なるスペクトルを重ね画きしており、注入電流レベルが低いと長波長に発光ピークを有するが、注入電流の増大に伴って、発光強度が最大となるピークは、基底準位の重い正孔の発光、基底準位の軽い正孔、第1量子準位の重い正孔へと変化する。
高出力となる高電流注入では、第1量子準位の重い正孔からの発光が優位となり、短波長
側に偏った発光スペクトルとなっている。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態における活性層部分のエネルギーバンド図であり、第1、第2の2つの量子井戸を有している。
図2は、第1の量子井戸構造は、In0.11Ga0.89As;7nmを井戸層とし、Al0.2Ga0.8Asを障壁層として構成された単一量子井戸SLDの発光スペクトルである。図1、図2において、発光ピークの長波長側から、基底準位の重い正孔からの発光、基底準位の軽い正孔、第1量子準位の重い正孔からの発光である。
図1、図2において、注入電流の異なるスペクトルを重ね画きしており、注入電流レベルが低いと長波長に発光ピークを有するが、注入電流の増大に伴って、発光強度が最大となるピークは、基底準位の重い正孔の発光、基底準位の軽い正孔、第1量子準位の重い正孔へと変化する。
高出力となる高電流注入では、第1量子準位の重い正孔からの発光が優位となり、短波長
側に偏った発光スペクトルとなっている。
図3は、第2の量子井戸構造は、In0.16GaAs;4nmを井戸層とし、Al0.2Ga0.8Asを障壁層として構成された単一量子井戸SLDの発光スペクトルである。第1の量子井戸構造より井戸層のIn組成を多くすることで、井戸のポテンシャルエネルギーを深くし、かつ、井戸幅を狭くすることで量子準位のエネルギーを調整している。
これによって、基底準位の発光ピークを、第1の量子井戸構造(図2)の基底準位の発光ピークの半値全幅内に配置している。
なお、第2の量子井戸構造では、第1次準位の発光は存在しない。
これによって、基底準位の発光ピークを、第1の量子井戸構造(図2)の基底準位の発光ピークの半値全幅内に配置している。
なお、第2の量子井戸構造では、第1次準位の発光は存在しない。
図4は、第1、第2の2つの量子井戸を活性層とするSLDの発光スペクトルである。2つの量子井戸の基底準位の重い正孔の発光がほぼ重なる(ほぼ一致する)ことで発光強度が増大されるとともに、基底準位の軽い正孔の発光波長が少し異なることで発光スペクトルに大きなディップが形成されていない。
更に、注入されたキャリヤが2つの量子井戸に分配されることで、単一量子井戸構造では、高注入状態で突出していた第1量子準位の重い正孔からの発光(図2参照)が低減し、広い発光波長に渡って凹凸の小さいスペクトルが得られている。
更に、注入されたキャリヤが2つの量子井戸に分配されることで、単一量子井戸構造では、高注入状態で突出していた第1量子準位の重い正孔からの発光(図2参照)が低減し、広い発光波長に渡って凹凸の小さいスペクトルが得られている。
(第2実施形態)
第2実施形態として、図9に示す2電極構成SLDにおいて広帯域スペクトル発光を可能にする駆動方法について説明する。
図10は、光出射側電極に電流を注入した際の発光スペクトルであり、低注入では基底準位からの発光が支配的となっているが、高出力が得られる高注入では1次準位からの発光が優位となり、スペクトル幅が減少してしまう。
そこで、光出射側の電極(フロント電極)に高い電流注入を行い、高出力を得る。この条件では、フロント電極部は高い電流密度の電流注入状態であり、1次準位の重い正孔からの発光が優位であるスペクトルとなる。
この状態で、他方の電極(リア電極)に低い電流注入を行い、基底準位からの発光が支配的となる低い電流密度の電流注入状態とする。
この状態では、リア電極部で発生した基底準位からの発光が支配的である発光が、フロント電極部に入射されることで誘導増幅が生じ、基底準位からの発光強度が増大した光が光出力側から出力される。
つまり、フロント電極への電流注入により得られる1次準位の重い正孔からの発光が優位であるスペクトルに、リア電極部で発生した基底準位からの発光が支配的である発光が誘導増幅されたスペクトルが重畳されることにより、高出力かつ広帯域スペクトル発光が得られる。
第2実施形態として、図9に示す2電極構成SLDにおいて広帯域スペクトル発光を可能にする駆動方法について説明する。
図10は、光出射側電極に電流を注入した際の発光スペクトルであり、低注入では基底準位からの発光が支配的となっているが、高出力が得られる高注入では1次準位からの発光が優位となり、スペクトル幅が減少してしまう。
そこで、光出射側の電極(フロント電極)に高い電流注入を行い、高出力を得る。この条件では、フロント電極部は高い電流密度の電流注入状態であり、1次準位の重い正孔からの発光が優位であるスペクトルとなる。
この状態で、他方の電極(リア電極)に低い電流注入を行い、基底準位からの発光が支配的となる低い電流密度の電流注入状態とする。
この状態では、リア電極部で発生した基底準位からの発光が支配的である発光が、フロント電極部に入射されることで誘導増幅が生じ、基底準位からの発光強度が増大した光が光出力側から出力される。
つまり、フロント電極への電流注入により得られる1次準位の重い正孔からの発光が優位であるスペクトルに、リア電極部で発生した基底準位からの発光が支配的である発光が誘導増幅されたスペクトルが重畳されることにより、高出力かつ広帯域スペクトル発光が得られる。
上記駆動を実現するためには、必要な光出力の範囲内で、フロント電極部は1次準位の重い正孔からの発光が優位であるスペクトルを維持し、リア電極部は基底準位からの発光が支配的であるスペクトルを維持する必要がある。
リア電極部を長くすることは、基底準位からの発光が支配的であるスペクトルを維持するのに有効である。
リア電極が長くなることで応答速度が不十分となる場合、リア電極は連続通電を行い、フロント電極のみを変調駆動することによって、高速駆動を可能とすることができる。
なお、フロント電極、リア電極の機能をそれぞれ複数の電極(電流注入領域)で実現することも可能である。
リア電極部を長くすることは、基底準位からの発光が支配的であるスペクトルを維持するのに有効である。
リア電極が長くなることで応答速度が不十分となる場合、リア電極は連続通電を行い、フロント電極のみを変調駆動することによって、高速駆動を可能とすることができる。
なお、フロント電極、リア電極の機能をそれぞれ複数の電極(電流注入領域)で実現することも可能である。
本発明の実施形態に係る光干渉断層撮像装置(OCT)は、上記本実施形態に係る光半導体素子を有する光源部を有する。そして、光源部からの光を検体に照射し、検体からの反射光を伝達させる検体測定部と、光源部からの光を参照ミラーに照射し、参照ミラーか
らの反射光を伝達させる参照部とを有する。そして、検体測定部からの反射光と参照部からの反射光とを干渉させる干渉部と、干渉部からの干渉光を検出する光検出部と、光検出部で検出された干渉光の強度に基づいて、検体の断層像を得る画像処理部を有する。
本実施形態に係る光半導体素子は発光波長帯域が広いため、OCT用の光源として用いた場合、深さ分解能が高い。
らの反射光を伝達させる参照部とを有する。そして、検体測定部からの反射光と参照部からの反射光とを干渉させる干渉部と、干渉部からの干渉光を検出する光検出部と、光検出部で検出された干渉光の強度に基づいて、検体の断層像を得る画像処理部を有する。
本実施形態に係る光半導体素子は発光波長帯域が広いため、OCT用の光源として用いた場合、深さ分解能が高い。
本実施形態に係る光半導体素子の駆動方法は、活性層に電流を注入して、第1の量子井戸において、基底準位と1次準位で発光させる。そして第2の量子井戸における基底準位からの発光ピークが、第1の量子井戸の基底準位からの発光ピークの半値全幅以内に存在するように活性層に注入する電流注入量を調整する。前述したように、第2の量子井戸における基底準位からの発光ピークが、第1の量子井戸の基底準位からの発光ピークの半値全幅以内に存在するようにすることで、発光強度の小さい第1の量子井戸の基底準位からの発光を増幅し発光強度を増大させることができる。
また、前述の多電極の光半導体素子を用いた駆動方法において、電流を注入する複数の異なる領域のうち、光半導体素子の光出射端側の領域では、1次準位からの発光が優位となるように電流注入を行う。ここで、光出射端側の領域は図9の電極17と電極11によって電流注入される領域である。また、光出射端側の領域以外の電流注入領域では、基底準位からの発光が支配的となるように電流注入を行う。ここで、光出射端側以外の領域は図9の電極19と電極11によって電流注入される領域である。なお、図9では光出射端側以外の領域は1つのみであるが、電極17,19以外の電極を有する場合や、電極17,19をさらに分割して独立に電流注入する領域を増やす場合、は光出射端に最も近い領域以外の領域を指す。
また、光出射端側の領域への電流注入によって、発光強度が制御されるため、この領域への変調電流注入によるパルス駆動が可能である。すなわち、光出射端側の領域への電流注入量を0あるいは小さくすることで、光出射端側の領域は光吸収層として機能し、光出力も0あるいは小さくなる。一方、光出射端側の領域への電流注入量を大きくすることで光出力が大きくなる。そのため、電流注入量を変えることによって光出力のオンとオフを切り替えるパルス駆動を行うことができる。
また、前述の多電極の光半導体素子を用いた駆動方法において、電流を注入する複数の異なる領域のうち、光半導体素子の光出射端側の領域では、1次準位からの発光が優位となるように電流注入を行う。ここで、光出射端側の領域は図9の電極17と電極11によって電流注入される領域である。また、光出射端側の領域以外の電流注入領域では、基底準位からの発光が支配的となるように電流注入を行う。ここで、光出射端側以外の領域は図9の電極19と電極11によって電流注入される領域である。なお、図9では光出射端側以外の領域は1つのみであるが、電極17,19以外の電極を有する場合や、電極17,19をさらに分割して独立に電流注入する領域を増やす場合、は光出射端に最も近い領域以外の領域を指す。
また、光出射端側の領域への電流注入によって、発光強度が制御されるため、この領域への変調電流注入によるパルス駆動が可能である。すなわち、光出射端側の領域への電流注入量を0あるいは小さくすることで、光出射端側の領域は光吸収層として機能し、光出力も0あるいは小さくなる。一方、光出射端側の領域への電流注入量を大きくすることで光出力が大きくなる。そのため、電流注入量を変えることによって光出力のオンとオフを切り替えるパルス駆動を行うことができる。
以下に、本発明の実施例について説明する。
[実施例1]
実施例1として、本発明を適用したスーパールミネッセントダイオード(SLD)の構成例について、図7を用いて説明する。
図7に示されるように、n型のGaAs基板12上に、n型のAl0.7Ga0.3Asから成るn−クラッド層13、MQW活性領域14を積層する。
MQW(Multi Quantum Well)活性領域14は、第1の量子井戸構造である井戸層InGaAs;7nm、と第2の第2の量子井戸構造である井戸層InGaAs;4nmを有している。
MQW活性領域14上に、p型のAl0.7Ga0.3Asから成るp−クラッド層15、GaAsから成るコンタクト層16を介して、p−型電極17が形成されている。
そして、n−GaAs基板12の裏面には、n−型電極11が形成されている高抵抗層18は、p−クラッド層15に電流を集中させるための層であり、かつ、p−クラッド層15の下の活性層領域に光を閉じ込めるために、屈折率の小さい材料が用いられる。高抵抗層18として空気層を用いることができる。
[実施例1]
実施例1として、本発明を適用したスーパールミネッセントダイオード(SLD)の構成例について、図7を用いて説明する。
図7に示されるように、n型のGaAs基板12上に、n型のAl0.7Ga0.3Asから成るn−クラッド層13、MQW活性領域14を積層する。
MQW(Multi Quantum Well)活性領域14は、第1の量子井戸構造である井戸層InGaAs;7nm、と第2の第2の量子井戸構造である井戸層InGaAs;4nmを有している。
MQW活性領域14上に、p型のAl0.7Ga0.3Asから成るp−クラッド層15、GaAsから成るコンタクト層16を介して、p−型電極17が形成されている。
そして、n−GaAs基板12の裏面には、n−型電極11が形成されている高抵抗層18は、p−クラッド層15に電流を集中させるための層であり、かつ、p−クラッド層15の下の活性層領域に光を閉じ込めるために、屈折率の小さい材料が用いられる。高抵抗層18として空気層を用いることができる。
図8は図7の斜視図であり、リッジストライプを端面に対して〜7°傾けることで反射を極力小さくするとともに、端面には保護膜が形成されている。図8において、図7と同一の部材には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
p−n電極間に通電して光出射端側から得られる発光スペクトル(図4)は、注入電流の
増大に応じて、基底準位からの発光、1次準位からの発光へとスペクトルが変化する。
p−n電極間に通電して光出射端側から得られる発光スペクトル(図4)は、注入電流の
増大に応じて、基底準位からの発光、1次準位からの発光へとスペクトルが変化する。
第1の量子井戸層と第2の量子井戸層は、Inの組成と井戸幅が異なっており、第2の量
子井戸構造は、第1の量子井戸構造より井戸層のIn組成を多くすることで、井戸のポテンシャルエネルギーを深くし、かつ、井戸幅を狭くすることで量子準位のエネルギーを調整している。
2つの量子井戸の基底準位の重い正孔の発光がほぼ重なることで発光強度が増大されるとともに、基底準位の軽い正孔の発光波長が異なることで発光スペクトルに大きなディップが形成されていない。
更に、注入されたキャリヤが2つの量子井戸に分配されることで、単一量子井戸構造では、高注入状態で突出していた第1量子準位の重い正孔からの発光が低減し、広い発光波長に渡って凹凸の小さいスペクトルが得られている。
第2の基底準位の重い正孔の発光ピークを、第1の量子井戸構造の基底準位の重い正孔の発光ピークの半値全幅内に配置することによって、基底準位からの発光が増強され広い発光スペクトルが得られている。
なお、本実施例のスペクトル帯域は、0.8〜0.9μmであるが、量子井戸活性層を構成するInxGa1-xAs量子井戸層のInの組成と井戸幅、AlyGa1-yAs障壁層のAl組成を選択することによってスペクトル帯域1.0〜1.1μmを得ることも可能である。
子井戸構造は、第1の量子井戸構造より井戸層のIn組成を多くすることで、井戸のポテンシャルエネルギーを深くし、かつ、井戸幅を狭くすることで量子準位のエネルギーを調整している。
2つの量子井戸の基底準位の重い正孔の発光がほぼ重なることで発光強度が増大されるとともに、基底準位の軽い正孔の発光波長が異なることで発光スペクトルに大きなディップが形成されていない。
更に、注入されたキャリヤが2つの量子井戸に分配されることで、単一量子井戸構造では、高注入状態で突出していた第1量子準位の重い正孔からの発光が低減し、広い発光波長に渡って凹凸の小さいスペクトルが得られている。
第2の基底準位の重い正孔の発光ピークを、第1の量子井戸構造の基底準位の重い正孔の発光ピークの半値全幅内に配置することによって、基底準位からの発光が増強され広い発光スペクトルが得られている。
なお、本実施例のスペクトル帯域は、0.8〜0.9μmであるが、量子井戸活性層を構成するInxGa1-xAs量子井戸層のInの組成と井戸幅、AlyGa1-yAs障壁層のAl組成を選択することによってスペクトル帯域1.0〜1.1μmを得ることも可能である。
[実施例2]
図5は、実施例2の活性層部分のエネルギーバンド図であり、
第1の量子井戸構造は、In0.11GaAs:8nmを井戸層とし、Al0.2Ga0.8Asを障壁層として構成されている。
また、第2の量子井戸構造は、In0.09GaAs:7nmを井戸層とし、Al0.05GaAsを障壁層として構成されている。
第1、第2の量子井戸構造の井戸層組成、井戸幅、障壁の高さを制御することで、互いの基底準位の発光ピークが半値全幅内に存在する構成となっている。
この第2の量子井戸構造も、第1次準位は量子井戸内に存在しない。
図6に、この実施例2のSLDの発光スペクトルを示す。
2つの量子井戸の基底準位の軽い正孔の発光波長が近いことから発光スペクトルの中央にピークを有する発光スペクトルが得られる。
その他の構成・機能は実施例1と同じであるので、記載は省略する。
図5は、実施例2の活性層部分のエネルギーバンド図であり、
第1の量子井戸構造は、In0.11GaAs:8nmを井戸層とし、Al0.2Ga0.8Asを障壁層として構成されている。
また、第2の量子井戸構造は、In0.09GaAs:7nmを井戸層とし、Al0.05GaAsを障壁層として構成されている。
第1、第2の量子井戸構造の井戸層組成、井戸幅、障壁の高さを制御することで、互いの基底準位の発光ピークが半値全幅内に存在する構成となっている。
この第2の量子井戸構造も、第1次準位は量子井戸内に存在しない。
図6に、この実施例2のSLDの発光スペクトルを示す。
2つの量子井戸の基底準位の軽い正孔の発光波長が近いことから発光スペクトルの中央にピークを有する発光スペクトルが得られる。
その他の構成・機能は実施例1と同じであるので、記載は省略する。
[実施例3]
実施例3として、第2実施形態に対応するスーパールミネッセントダイオード(SLD)の構成例について、図9を用いて説明する。図9において、図7,8と同一の部材には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図9は、実施例3におけるSLDの概略斜視図であり、実施例1との違いは、p−型電極が2電極構成となっている点である。
光出射側の電極(フロント電極)が0.7mm、他方の電極(リア電極)は1.5mmとなっている。
図11は、フロント電極、またはリア電極への注入電流の異なるスペクトルを重ね画きしており、注入電流の増大に伴って、発光強度が最大となるピークは、基底準位の重い正孔の発光、基底準位の軽い正孔、第1量子準位の重い正孔へと変化する。
高出力となる高電流注入では、第1量子準位の重い正孔からの発光が優位となり、短波長側に偏った発光スペクトルとなっている。
図10は、光出射側電極に電流を注入した際の発光スペクトルであり、低注入では基底準位からの発光が支配的となっているが、高出力が得られる高注入では1次準位からの発光
が優位となり、スペクトル幅が減少してしまう。
実施例3として、第2実施形態に対応するスーパールミネッセントダイオード(SLD)の構成例について、図9を用いて説明する。図9において、図7,8と同一の部材には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図9は、実施例3におけるSLDの概略斜視図であり、実施例1との違いは、p−型電極が2電極構成となっている点である。
光出射側の電極(フロント電極)が0.7mm、他方の電極(リア電極)は1.5mmとなっている。
図11は、フロント電極、またはリア電極への注入電流の異なるスペクトルを重ね画きしており、注入電流の増大に伴って、発光強度が最大となるピークは、基底準位の重い正孔の発光、基底準位の軽い正孔、第1量子準位の重い正孔へと変化する。
高出力となる高電流注入では、第1量子準位の重い正孔からの発光が優位となり、短波長側に偏った発光スペクトルとなっている。
図10は、光出射側電極に電流を注入した際の発光スペクトルであり、低注入では基底準位からの発光が支配的となっているが、高出力が得られる高注入では1次準位からの発光
が優位となり、スペクトル幅が減少してしまう。
光出射側の電極(フロント電極)に高い電流注入を行い、高出力を得る。この条件では、フロント電極部は高密度の電流注入状態であり、1次順位の重い正孔からの発光が優位で
あるスペクトルとなる。
この状態で、他方の電極(リア電極)に低い電流注入を行い、基底準位からの発光が支配的となる低密度の電流注入状態とする。この状態では、リア電極部で発生した基底準位からの発光が支配的である発光が、フロント電極部に入射されることで誘導増幅が生じ、基底準位からの発光強度が増大した光が光出力側から出力される。
つまり、フロント電極への電流注入により得られる1次順位の重い正孔からの発光が優位であるスペクトルに、リア電極部で発生した基底準位からの発光が支配的である発光が誘導増幅されたスペクトルが重畳されることにより、高出力かつ広帯域スペクトル発光が得られる。
あるスペクトルとなる。
この状態で、他方の電極(リア電極)に低い電流注入を行い、基底準位からの発光が支配的となる低密度の電流注入状態とする。この状態では、リア電極部で発生した基底準位からの発光が支配的である発光が、フロント電極部に入射されることで誘導増幅が生じ、基底準位からの発光強度が増大した光が光出力側から出力される。
つまり、フロント電極への電流注入により得られる1次順位の重い正孔からの発光が優位であるスペクトルに、リア電極部で発生した基底準位からの発光が支配的である発光が誘導増幅されたスペクトルが重畳されることにより、高出力かつ広帯域スペクトル発光が得られる。
[実施例4]
実施例4として、本発明のスーパールミネッセントダイオード(SLD)を光源に用いた光干渉断層撮像装置(OCT装置)の構成例について、図12を用いて説明する。
図12に示すOCT装置は、基本的には光源部(1501等)、光源部からの光を検体に照射し、検体部からの反射光を伝達させる検体測定部(1507等)と、光を参照ミラーに照射し、参照ミラーからの反射光を伝達させる参照部(1502等)を備える。
また、2つの反射光を干渉させる干渉部(1503)、干渉部により得られた干渉光を検出する光検出部(1509等)、光検出部で検出された光に基づいて画像処理を行う(断層像を得る)画像処理部(1511)を備える。
実施例4として、本発明のスーパールミネッセントダイオード(SLD)を光源に用いた光干渉断層撮像装置(OCT装置)の構成例について、図12を用いて説明する。
図12に示すOCT装置は、基本的には光源部(1501等)、光源部からの光を検体に照射し、検体部からの反射光を伝達させる検体測定部(1507等)と、光を参照ミラーに照射し、参照ミラーからの反射光を伝達させる参照部(1502等)を備える。
また、2つの反射光を干渉させる干渉部(1503)、干渉部により得られた干渉光を検出する光検出部(1509等)、光検出部で検出された光に基づいて画像処理を行う(断層像を得る)画像処理部(1511)を備える。
以下、各構成要素について説明する。
光源部は、SLD光源1501は光照射用の光ファイバ1510を介して干渉部を構成するファイバカップラ1503に接続されている。
干渉部のファイバカップラ1503は、光源の波長帯域でシングルモードのもので構成し、各種ファイバカップラは3dBカップラで構成した。
反射ミラー1504は、参照光光路用ファイバ1502に接続されて参照部を構成し、ファイバ1502は、ファイバカップラ1503に接続されている。
検査光光路用1505ファイバ、照射集光光学系1506、照射位置走査用ミラー1507により測定部が構成され、検査光光路用1505ファイバは、ファイバカップラ1503に接続されている。ファイバカップラ1503では、検査物体1514の内部及び表面から発生した後方散乱光と、参照部からの戻り光とが干渉して干渉光となる。
光源部は、SLD光源1501は光照射用の光ファイバ1510を介して干渉部を構成するファイバカップラ1503に接続されている。
干渉部のファイバカップラ1503は、光源の波長帯域でシングルモードのもので構成し、各種ファイバカップラは3dBカップラで構成した。
反射ミラー1504は、参照光光路用ファイバ1502に接続されて参照部を構成し、ファイバ1502は、ファイバカップラ1503に接続されている。
検査光光路用1505ファイバ、照射集光光学系1506、照射位置走査用ミラー1507により測定部が構成され、検査光光路用1505ファイバは、ファイバカップラ1503に接続されている。ファイバカップラ1503では、検査物体1514の内部及び表面から発生した後方散乱光と、参照部からの戻り光とが干渉して干渉光となる。
検出側は、受光用ファイバ1508と分光手段とアレイ型の光検出手段で構成される光検出部1509で構成され、広帯域の発光スペクトルを有する干渉光を波長帯域毎に分光検出する。
検出部1509のアレイ型の光検出手段で受光された光は信号処理装置1511にてスペクトル信号に変換され、さらにフーリエ変換を施すことで被験物体の奥行き情報を取得する。取得された奥行き情報は画像出力モニター1512に断層画像として表示される。
ここで、信号処理装置1511は、パーソナルコンピュータ等で構成することができ、画像出力モニター1512は、パーソナルコンピュータの表示画面等で構成できる。
例えば、実施例1で説明したSLD光源装置を本例の波長可変光源1501として用いると、このSLD光源装置は広帯域スペクトルを有しているため、奥行き分解能が高解像な断層画像情報を取得可能である。
検出部1509のアレイ型の光検出手段で受光された光は信号処理装置1511にてスペクトル信号に変換され、さらにフーリエ変換を施すことで被験物体の奥行き情報を取得する。取得された奥行き情報は画像出力モニター1512に断層画像として表示される。
ここで、信号処理装置1511は、パーソナルコンピュータ等で構成することができ、画像出力モニター1512は、パーソナルコンピュータの表示画面等で構成できる。
例えば、実施例1で説明したSLD光源装置を本例の波長可変光源1501として用いると、このSLD光源装置は広帯域スペクトルを有しているため、奥行き分解能が高解像な断層画像情報を取得可能である。
以上の実施例1、実施例2、実施例3で説明した広い波長可変帯域を有するスーパール
ミネッセントダイオード(SLD)は、光通信用光源や光計測用光源として利用できる。光通信分野では、広い波長可変帯域による波長多重数の増大が可能であり、光計測分野では、実施例3で説明したように、広帯域スペクトルであるため、奥行き分解能が高解像な断層画像情報を取得可能である。
このOCT装置は、特に眼科、歯科、皮膚科等における断層画像撮影に有用である。
ミネッセントダイオード(SLD)は、光通信用光源や光計測用光源として利用できる。光通信分野では、広い波長可変帯域による波長多重数の増大が可能であり、光計測分野では、実施例3で説明したように、広帯域スペクトルであるため、奥行き分解能が高解像な断層画像情報を取得可能である。
このOCT装置は、特に眼科、歯科、皮膚科等における断層画像撮影に有用である。
11:n−型電極
12:GaAs基板
13:n側光閉じ込め層
14:MQW活性層
15:p側光閉じ込め層
16:GaAsコンタクト層
17:p−型電極
12:GaAs基板
13:n側光閉じ込め層
14:MQW活性層
15:p側光閉じ込め層
16:GaAsコンタクト層
17:p−型電極
Claims (11)
- 多重量子井戸構造を含む活性層と、前記活性層に電流を注入させるための少なくとも1つの電極対とを有する光半導体素子であって、
前記多重量子井戸構造が第1の量子井戸と前記第1の量子井戸と異なる第2の量子井戸とを有し、
前記第1の量子井戸と前記第2の量子井戸とは、井戸層の組成、井戸層の幅、障壁層の組成のうち少なくとも2つが互いに異なることを特徴とする光半導体素子。 - 前記第1の量子井戸が、基底準位と1次準位で発光するように構成され、前記第2の量子井戸の基底準位からの発光ピークが、前記第1の量子井戸の基底準位からの発光ピークの半値全幅以内に存在することを特徴とする請求項1に記載の光半導体素子。
- 前記第1の量子井戸と前記第2の量子井戸とは、井戸層の組成、および井戸層の幅のみが異なることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光半導体素子。
- 前記第2の量子井戸は、基底準位で発光するように構成されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光半導体素子。
- 前記第1の量子井戸、及び前記第2の量子井戸が基底準位の重い正孔と軽い正孔を有しており、
前記第2の量子井戸の重い正孔からの発光ピークが、前記第1の量子井戸の重い正孔からの発光ピークの半値全幅以内に存在することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光半導体素子。 - 前記第1の量子井戸および前記第2の量子井戸は、井戸層がInxGa1-xA(0<x<1)を有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光半導体素子。
- 前記電極対の少なくとも一方の電極が分割され、前記活性層における複数の異なる領域に独立に電流を注入するように構成されていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光半導体素子。
- 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光半導体素子を有する光源部と、
前記光源部からの光を検体に照射し、検体からの反射光を伝達させる検体測定部と、
前記光源部からの光を参照ミラーに照射し、該参照ミラーからの反射光を伝達させる参照部と、
前記検体測定部からの反射光と前記参照部からの反射光とを干渉させる干渉部と、
前記干渉部からの干渉光を検出する光検出部と、
前記光検出部で検出された干渉光の強度に基づいて、前記検体の断層像を得る画像処理部と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光半導体素子の駆動方法であって、
前記活性層に電流を注入するステップを有し、
前記ステップは、前記第1の量子井戸において、基底準位と1次準位で発光させ、前記第2の量子井戸における基底準位からの発光ピークが、前記第1の量子井戸の基底準位からの発光ピークの半値全幅以内に存在するように前記活性層に注入する電流注入量を調整するステップを有することを特徴とする光半導体素子の駆動方法。 - 請求項7に記載の光半導体素子の駆動方法であって、前記複数の異なる領域のうち、
前記光半導体素子の光出射端側の領域では、1次準位からの発光が優位となるように電流注入を行い、
前記光出射端側の領域以外の電流注入領域では、基底準位からの発光が支配的となるように電流注入を行うことを特徴とする請求項9に記載の光半導体素子の駆動方法。 - 前記光出射端側の領域への電流注入量を変えることによって、パルス駆動を行うことを特徴とする請求項10に記載の光半導体素子の駆動方法。
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