JP2014081978A - 検査装置及び方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】記録媒体及び記録再生装置の検査を行う。
【手段】検査装置（２００）は、所定の再生条件での再生時に第１エラー範囲に属する第１エラー量が検出されるように記録された第１情報（１１０）が記録されている記録媒体（１００）及び記録再生装置（３００）を検査する検査装置であって、記録再生装置による第１再生条件での第１情報の再生時に検出される第２エラー量を検出する第１検出手段（２１０）と、記録再生装置による第２再生条件での第１情報の再生時に検出される第３エラー量を検出する第２検出手段（２１０）と、第２エラー量及び第３エラー量に基づいて、記録媒体及び記録再生装置の夫々の劣化を判別する判別手段（２２０）とを備える。
【選択図】図９

Description

本発明は、例えば光ディスク等の記録媒体及びこのような記録媒体に対する記録動作及び再生動作のうちの少なくとも一方を行う記録再生装置を検査する検査装置及び検査方法の技術分野に関する。
このような記録媒体に対する記録動作及び再生動作のうちの少なくとも一方を行う記録再生装置を検査する検査装置として、例えば特許文献１に開示された検査装置が提案されている。具体的には、特許文献１には、記録層が１層である第１のテストディスクと、記録層が２層である第２のテストディスクとを用いて、記録再生装置が備える光ピックアップ装置を検査する検査装置が開示されている。つまり、特許文献１には、複数のテストディスクを用いて、記録再生装置が備える光ピックアップ装置を検査する検査装置が開示されている。
特開２００９−１７００２２号公報
本発明は、このような従来の検査装置に対して、新たな手法で、記録媒体及び記録再生装置の検査を行うことを可能とならしめる検査装置及び方法を提供することを課題とする。
上記課題を解決するために、検査装置は、所定の再生条件での再生時に第１エラー範囲に属する第１エラー量が検出されるように記録された第１情報が記録されている記録媒体及び当該記録媒体に対する記録動作及び再生動作のうちの少なくとも一方を行う記録再生装置を検査する検査装置であって、前記記録再生装置による第１再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第２エラー量を検出する第１検出手段と、前記記録再生装置による前記第１再生条件よりも悪化した第２再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第３エラー量を検出する第２検出手段と、前記第２エラー量及び前記第３エラー量に基づいて、前記記録媒体及び前記記録再生装置の夫々の劣化を判別する判別手段と備える。
上記課題を解決するために、検査方法は、所定の再生条件での再生時に第１エラー範囲に属する第１エラー量が検出されるように記録された第１情報が記録されている記録媒体及び当該記録媒体に対する記録動作及び再生動作のうちの少なくとも一方を行う記録再生装置を検査する検査方法であって、前記記録再生装置による第１再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第２エラー量を検出する第１検出工程と、前記記録再生装置による前記第１再生条件よりも悪化した第２再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第３エラー量を検出する第２検出工程と、前記第２エラー量及び前記第３エラー量に基づいて、前記記録媒体及び前記記録再生装置の夫々の劣化を判別する判別工程と備える。
光ディスクの外観形状の一例を示す平面図及び光ディスクのデータ構造を示すデータ構造図である。 検査装置の構成を、記録再生装置の構成と共に示すブロック図である。 検査装置の動作の流れを示すフローチャートである。 本願発明者等の実験結果を示すグラフであって、光ディスクのチルト量を調整しながら第１検査情報を再生することで検出された具体的なＰＩエラーの数値を示すグラフである。 本願発明者等の実験結果を示す表であって、光ディスクのチルト量を調整しながら第１検査情報を再生することで検出された具体的なＰＩエラーの数値を示す表である。 本願発明者等の実験結果を示すグラフであって、再生パワーを調整しながら第１検査情報及び第２検査情報を再生することで検出された具体的なＰＩエラーの数値を示すグラフである。 本願発明者等の実験結果を示すグラフであって、再生パワーを調整しながら第１検査情報及び第２検査情報を再生することで検出された具体的なＰＩエラーの数値を示す表である。 第１変形例の検査装置の構成を示すブロック図である。 第１変形例の検査装置の動作の流れを示すフローチャートである。 第２変形例の検査装置の動作の流れを示すフローチャートである。
以下、検査装置及び方法の実施形態について順に説明する。
（検査装置の実施形態）
＜１＞
本実施形態の検査装置は、所定の再生条件での再生時に第１エラー範囲に属する第１エラー量が検出されるように記録された第１情報が記録されている記録媒体及び当該記録媒体に対する記録動作及び再生動作のうちの少なくとも一方を行う記録再生装置を検査する検査装置であって、前記記録再生装置による第１再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第２エラー量を検出する第１検出手段と、前記記録再生装置による前記第１再生条件よりも悪化した第２再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第３エラー量を検出する第２検出手段と、前記第２エラー量及び前記第３エラー量に基づいて、前記記録媒体及び前記記録再生装置の夫々の劣化を判別する判別手段と備える。
本実施形態の検査装置によれば、第１情報が記録されている記録媒体を用いて、記録媒体及び記録再生装置を検査することができる。
ここで、記録媒体に記録されている第１情報は、所定の再生条件での再生時（更には、記録媒体及び記録再生装置が劣化していないという状況下での再生時）に、第１エラー範囲に含まれる第１エラー量が検出されるように記録された情報である。従って、記録媒体の劣化や記録再生装置の劣化が生じていなければ、記録再生装置が所定の再生条件で第１情報を再生する際には、第１エラー量と概ね同一のエラー量が検出される。一方で、記録媒体の劣化や記録再生装置の劣化が生じている場合には、記録再生装置が所定の再生条件で第１情報を再生したとしても、第１エラー量とは異なるエラー量が検出されることがある。
尚、所定の再生条件は、典型的には、規格によって定められた要求を満たす好適な再生条件（より好ましくは、最適な再生条件）であることが好ましい。
このような記録媒体を用いて記録媒体及び記録再生装置を検査するために、本実施形態の検査装置は、第１検出手段、第２検出手段及び判別手段を備えている。
第１検出手段は、記録再生装置による第１再生条件での第１情報の再生時に検出される第２エラー量を検出する。尚、記録再生装置による第１再生条件での第１情報の再生時に検出される第２エラー量は、仮に第１再生条件が所定の再生条件と一致すると仮定しても、第１エラー量と一致するとは限らない。というのも、記録媒体の劣化の度合いや記録再生装置の劣化の度合いに応じて、エラー量が変化し得るからである。
一方で、第２検出手段は、記録再生装置による第２再生条件での第１情報の再生時に検出される第２エラー量を検出する。第２再生条件は、第１再生条件よりも悪化した再生条件である。尚、後に詳述するように、再生条件が相対的に悪化した状態での相対的に再生品質の良好な情報の再生は、再生条件が相対的に良好な状態での相対的に再生品質が劣っている情報の再生と実質的には等価である。従って、第２検出手段は、相対的に再生品質が良好な第１情報の相対的に悪化した第２再生条件での再生時に検出される第２エラー量を検出することで、実質的には、相対的に再生品質が悪化した第２情報（例えば、第１エラー範囲よりも悪化している第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された情報）の相対的に良好な第１再生条件での再生時に検出される第２エラー量を検出していると言える。
ここで、本願発明者等の実験により、相対的に良好な再生品質で記録された（つまり、相対的に小さい第１エラー量を有するように記録された）第１情報は、記録再生装置の劣化（例えば、記録再生装置が備える光ピックアップの汚れ）に応じて、再生時に検出されるエラー量が変動しにくい（典型的には、劣化の度合いが大きくなっても悪化しにくい）情報であることが確認された。一方で、相対的に劣った再生品質で記録された（つまり、相対的に大きい第４エラー量を有するように記録された）第２情報は、記録再生装置の劣化に応じて、再生時に検出されるエラー量が変動しやすい（典型的には、劣化の度合いが大きいほど悪化していく）情報であることが確認された。他方で、第１情報及び第２情報は、いずれも、記録媒体の劣化に応じて、再生時に検出されるエラー量が変動しやすい（典型的には、劣化の度合いが大きいほど悪化していく）情報であることが確認された。このため、仮に記録媒体に第１情報及び第２情報の双方が記録されているとすると、記録再生装置による第１情報の再生時に検出されるエラー量が第１エラー範囲に含まれている（或いは、第１エラー量よりも悪化していない）一方で、記録再生装置による第２情報の再生時に検出されるエラー量が第４エラー量よりも悪化している場合には、記録再生装置が劣化している可能性が高いと推測される。一方で、記録再生装置による第１情報の再生時に検出されるエラー量が第１エラー範囲に含まれていない（或いは、第１エラー量よりも悪化している）場合には、記録媒体が劣化している可能性が高いと推測される。
しかるに、本実施形態では、記録媒体には、相対的に再生品質が良好な第１情報が記録されている一方で、相対的に再生品質が悪化した第２再生情報が記録されていない。しかるに、上述したように、相対的に悪化した第２再生条件での相対的に再生品質の良好な第１情報の再生が、相対的に良好な第１再生条件での相対的に再生品質が劣っている第２情報の再生と実質的には等価になる。このような再生状態の等価を考慮すれば、上述した本願発明者等の実験により、相対的に良好な再生品質で記録された第１情報は、記録再生装置の劣化に応じて、相対的に良好な第１再生条件での再生時に検出されるエラー量が変動しにくい情報であることが確認されたとも言える。また、相対的に良好な再生品質で記録された第１情報は、記録再生装置の劣化に応じて、相対的に悪化した第２再生条件での再生時に検出されるエラー量が変動しやすい情報であることが確認されたとも言える。また相対的に良好な再生品質で記録された第１情報は、記録媒体の劣化に応じて、相対的に良好な第１再生条件での再生時に検出されるエラー量及び相対的に悪化した第２再生条件での再生時に検出されるエラー量の双方が変動しやすい情報であることが確認されたとも言える。そうすると、記録再生装置による第１再生条件での第１情報の再生時に検出される第２エラー量が第１エラー範囲に含まれている（或いは、第１エラー量よりも悪化していない）一方で、記録再生装置による第２再生条件での第１情報の再生時に検出される第３エラー量が第４エラー量よりも悪化している場合には、記録再生装置が劣化している可能性が高いと推測される。一方で、記録再生装置による第１再生条件での第１情報の再生時に検出される第２エラー量が第１エラー範囲に含まれていない（或いは、第１エラー量よりも悪化している）場合には、記録媒体が劣化している可能性が高いと推測される。
このように、本実施形態の検査装置は、記録再生装置による第１再生条件での第１情報の再生時に検出される第２エラー量及び記録再生装置による第２再生条件での第１情報の再生時に検出される第３エラー量に基づいて、記録媒体が劣化しているのか又は記録再生装置が劣化しているのかを個別に判別することができる。つまり、本実施形態の検査装置は、上述した記録媒体を用いて、記録媒体及び記録再生装置を好適に検査することができる。
加えて、本実施形態の検査装置によれば、記録媒体には、相対的に再生品質の良好な第１情報が記録されていれば足りる。言い換えれば、記録媒体には、相対的に再生品質の良好な第１情報及び相対的に再生品質の悪化した第２情報の双方が記録されていなくともよい。この場合であっても、本実施形態の検査装置は、再生条件を変更することで、実質的には、相対的に再生品質の良好な第１情報及び相対的に再生品質の悪化した第２情報の双方が記録媒体に記録されている状況を仮想的に作り出すことができる。従って、本実施形態の検査装置は、相対的に再生品質の良好な第１情報が記録された記録媒体（つまり、相対的に再生品質の悪化した第２情報が記録されていない記録媒体）を用いて、記録媒体及び記録再生装置を好適に検査することができる。
＜２＞
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記判別手段は、前記第２エラー量が前記第１エラー範囲に含まれなくなっている場合には、前記記録媒体が劣化していると判別する。
この態様によれば、上述したように、相対的に良好な再生品質で記録された（つまり、相対的に小さい第１エラー量を有するように記録された）第１情報は、記録再生装置の劣化に応じて、相対的に良好な第１再生条件での再生時に検出されるエラー量が変動しにくい情報である。従って、第２エラー量が第１エラー範囲に含まれなくなる程度に第１情報の再生品質が悪化した原因は、記録再生装置の劣化ではなく、記録媒体の劣化である可能性が相対的に高いと推測される。なぜならば、記録再生装置が劣化したとしても、第２エラー量が第１エラー範囲に含まれなくなる程度に第１情報の再生品質が悪化することは殆どないからである。従って、判別手段は、記録媒体の劣化を好適に判別することができる。
＜３＞
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記第１エラー範囲は、前記所定の再生条件での前記第１情報の再生時に、エラー訂正処理によって前記第１情報の再生エラーの訂正が開始されない程度に小さいエラー量を含むエラー範囲である。
この態様によれば、このような第１エラー範囲に含まれる第１エラー量が検出されるように記録された第１情報は、記録再生装置の劣化の有無に応じて、相対的に良好な第１再生条件での再生時に検出されるエラー量が変動しにくい情報となる。従って、上述した各種効果が好適に享受される。
尚、「エラー訂正処理によって再生エラーの訂正が開始されない」状態とは、例えば、再生エラーの訂正を行うまでもなく第１情報を再生することができる状態を意味する。このような「第１情報のエラー訂正処理によって再生エラーの訂正が開始されない程度に小さいエラー量を含むエラー範囲」は、典型的には、記録媒体の規格によって定められた好ましいスペックに相当するエラー範囲である。
＜４＞
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記第２再生条件は、前記記録再生装置に関連する動作パラメータを変更することで実現される。
この態様によれば、第１再生条件よりも悪化した第２再生条件が比較的容易に実現される。
尚、記録再生装置に関連する動作パラメータとして、例えば、記録媒体そのもののチルト量や、記録再生装置が備える対物レンズのチルト量や、記録再生装置が備えるピックアップ装置のデフォーカス量や、記録再生装置が備える光学部品又は電気部品の位置（例えば、ビームエキスパンダの位置）や、記録再生装置が備える電気部品の動作点（例えば、液晶チルト素子の動作状態）等が一例としてあげられる。
＜５＞
本実施形態の検査装置の他の態様では、前記第２再生条件は、前記第２再生条件での前記第１情報の再生が、前記所定の再生条件での再生時に前記第１エラー範囲よりも悪化している第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された第２情報の再生と等価となる状態を実現可能な再生条件である。
この態様によれば、第１エラー範囲に含まれる第１エラー量が検出されるように記録された第１情報の相対的に悪化した第２再生条件での再生が、第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された第２情報の相対的に良好な第１再生条件での再生と等価になる。つまり、相対的に悪化した第２再生条件での相対的に再生品質の良好な第１情報の再生が、相対的に良好な第１再生条件での相対的に再生品質が劣っている第２情報の再生と実質的には等価になる。従って、本実施形態の検査装置は、再生条件を変更することで、実質的には、相対的に再生品質の良好な第１情報及び相対的に再生品質の悪化した第２情報の双方が記録媒体に記録されている状況を仮想的に作り出すことができる。従って、本実施形態の検査装置は、相対的に再生品質の良好な第１情報が記録された記録媒体（つまり、相対的に再生品質の悪化した第２情報が記録されていない記録媒体）を用いて、記録媒体及び記録再生装置を好適に検査することができる。
＜６＞
上述の如く第２再生条件での第１情報の再生が、所定の再生条件での再生時に第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された第２情報の再生と等価となる状態が実現される検査装置の態様では、前記第２エラー範囲は、前記所定の再生条件での前記第２情報の再生時に、エラー訂正処理によって前記第２情報の再生エラーの訂正が開始されると共に前記エラー訂正処理によって前記再生エラーの訂正が可能な程度の大きさのエラー量を含むエラー範囲である。
この態様によれば、相対的に悪化した第２再生条件での相対的に再生品質の良好な第１情報の再生が、このような第２エラー範囲に含まれる第２エラー量が検出される第２情報の再生と等価になる。このため、相対的に良好な再生品質で記録された第１情報は、記録再生装置の劣化に応じて、相対的に悪化した第２再生条件での再生時に検出されるエラー量が変動しやすい情報となる。従って、上述した各種効果が好適に享受される。
尚、「エラー訂正処理によって再生エラーの訂正が開始されると共にエラー訂正処理によって再生エラーの訂正が可能な程度の大きさのエラー量を含むエラー範囲」は、例えば、再生エラーの訂正が不可能になる直前のエラー量を上限とするエラー範囲になる。
＜７＞
上述の如く第２再生条件での第１情報の再生が、所定の再生条件での再生時に第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された第２情報の再生と等価となる状態が実現される検査装置の態様では、前記判別手段は、前記第２エラー量が第１エラー範囲に含まれており且つ前記第３エラー量が前記第４エラー量よりも悪化している場合には、前記記録再生装置が劣化していると判別する。
この態様によれば、第３エラー量が第４エラー量よりも悪化する程度に第１情報の再生品質が悪化した原因は、記録再生装置の劣化及び記録媒体の劣化の少なくとも一方であると推測される。一方で、この態様では、第２エラー量が第１エラー範囲に含まれなくなる程度に第１情報の再生品質が悪化していないがゆえに、記録媒体が劣化している可能性は相対的に低いと推測される。このため、第２エラー量が第１エラー範囲に含まれなくなる程度に第１情報の品質が悪化していない状況下で第３エラー量が第４エラー量よりも悪化する程度に第１情報の再生品質が悪化した原因は、記録媒体の劣化ではなく、記録再生装置の劣化である可能性が相対的に高いと推測される。従って、判別手段は、記録再生装置の劣化を好適に判別することができる。
尚、ここで言う「第３エラー量が第４エラー量よりも悪化する」状態は、典型的には、第３エラー量が第４エラー量よりも大きくなっている状態を意味してもよいし、第３エラー量が第４エラー量よりも所定量以上大きくなっている状態を意味してもよい。但し、第３エラー量の検出精度等を考慮すれば、「第３エラー量が第４エラー量よりも悪化する」状態は、第３エラー量が第４エラー量よりも所定量以上大きくなっている状態を意味することが好ましい。
＜８＞
上述の如く第２再生条件での第１情報の再生が、所定の再生条件での再生時に第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された第２情報の再生と等価となる状態が実現される検査装置の態様では、前記判別手段は、前記第２エラー量が第１エラー範囲に含まれており且つ前記第３エラー量が前記第４エラー量よりも悪化していない場合には、前記記録媒体及び前記記録再生装置の双方が劣化していないと判別する。
この態様では、第２エラー量が第１エラー範囲に含まれなくなる程度に第１情報の再生品質が悪化しておらず且つ第３エラー量が第４エラー量よりも悪化する程度に第１情報の再生品質が悪化していないがゆえに、記録媒体及び記録再生装置の双方が劣化していない可能性が相対的に高いと推測される。従って、判別手段は、記録媒体及び記録再生装置の夫々の劣化を好適に判別することができる。
＜９＞
上述の如く第２再生条件での第１情報の再生が、所定の再生条件での再生時に第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された第２情報の再生と等価となる状態が実現される検査装置の態様では、前記第１エラー量及び前記第４エラー量の夫々は、ＰＩ（Ｐａｒｉｔｙ Ｉｎｎｅｒ）エラーである。
この態様によれば、例えばＤＶＤ等において用いられるＰＩエラーを、第１エラー量及び第４エラー量として用いることができる。
尚、この場合には、第２エラー量及び第３エラー量もまたＰＩエラーであることが好ましい。
＜１０＞
上述の如く第１エラー量及び第４エラー量がＰＩエラーである記録媒体の他の態様では、前記第１エラー範囲は、前記ＰＩエラーが０以上且つ２０未満となるエラー範囲であり、前記第２エラー範囲は、前記ＰＩエラーが２００以上且つ１３００未満となるエラー範囲である。
この態様によれば、このような第１エラー範囲に含まれる第１エラー量が検出されるように記録された第１情報は、記録再生装置の劣化に応じて、相対的に良好な第１再生条件での再生時に検出されるエラー量が変動しにくい情報となる。また、このような第１エラー範囲に含まれる第１エラー量が検出されるように記録された第１情報は、記録再生装置の劣化に応じて、相対的に悪化した第２再生条件での再生時に検出されるエラー量が変動しやすい情報となる。言い換えれば、このような第１エラー範囲に含まれる第１エラー量が検出されるように記録された第１情報の相対的に悪化した第２再生条件での再生が、このような第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された第２情報の相対的に良好な第１再生条件での再生と等価になる。従って、上述した各種効果が好適に享受される。
＜１１＞
上述の如く第２再生条件での第１情報の再生が、所定の再生条件での再生時に第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された第２情報の再生と等価となる状態が実現される検査装置の態様では、前記第１エラー量及び前記第４エラー量の夫々は、ランダムＳＥＲ（Ｓｙｍｂｏｌ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）である。
この態様によれば、例えばＢＤ等において用いられるランダムＳＥＲを、第１エラー量及び第４エラー量として用いることができる。
尚、この場合には、第２エラー量及び第３エラー量もまたランダムＳＥＲであることが好ましい。
＜１２＞
上述の如く第１エラー量及び第４エラー量がランダムＳＥＲである記録媒体の他の態様では、前記第１エラー範囲は、前記ランダムＳＥＲが０以上且つ１×１０−３未満となるエラー範囲であり、前記第２エラー範囲は、前記ランダムＳＥＲが１×１０−３以上且つ４×１０−３未満となるエラー範囲である。
この態様によれば、このような第１エラー範囲に含まれる第１エラー量が検出されるように記録された第１情報は、記録再生装置の劣化に応じて、相対的に良好な第１再生条件での再生時に検出されるエラー量が変動しにくい情報となる。また、このような第１エラー範囲に含まれる第１エラー量が検出されるように記録された第１情報は、記録再生装置の劣化に応じて、相対的に悪化した第２再生条件での再生時に検出されるエラー量が変動しやすい情報となる。言い換えれば、このような第１エラー範囲に含まれる第１エラー量が検出されるように記録された第１情報の相対的に悪化した第２再生条件での再生が、このような第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された第２情報の相対的に良好な第１再生条件での再生と等価になる。従って、上述した各種効果が好適に享受される。
（検査方法の実施形態）
＜１３＞
本実施形態の検査方法は、所定の再生条件での再生時に第１エラー範囲に属する第１エラー量が検出されるように記録された第１情報が記録されている記録媒体及び当該記録媒体に対する記録動作及び再生動作のうちの少なくとも一方を行う記録再生装置を検査する検査方法であって、前記記録再生装置による第１再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第２エラー量を検出する第１検出工程と、前記記録再生装置による前記第１再生条件よりも悪化した第２再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第３エラー量を検出する第２検出工程と、前記第２エラー量及び前記第３エラー量に基づいて、前記記録媒体及び前記記録再生装置の夫々の劣化を判別する判別工程と備える。
本実施形態の検査方法によれば、上述した本実施形態の検査装置が享受することができる各種効果と同様の効果を好適に享受することができる。
尚、上述した本実施形態の検査装置が取り得る各種態様に対応して、本実施形態の検査方法もまた各種態様をとってもよい。
本実施形態のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施例から更に明らかにされる。
以上説明したように、本実施形態の検査装置は、第１検出手段と、第２検出手段と、判別手段とを備える。本実施形態の検査方法は、第１検出工程と、第２検出工程と、判別工程とを備える。従って、記録媒体及び記録再生装置の検査を行うことができる。
以下、図面を参照しながら、実施例について説明する。
（１）光ディスク
はじめに、図１を参照して、本実施例の光ディスク１００について説明する。図１は、光ディスク１００の外観形状の一例を示す平面図及び光ディスク１００のデータ構造を示すデータ構造図である。
図１の上部に示すように、光ディスク１００は、ＤＶＤと同じく直径１２ｃｍ程度の円盤形状を有している。光ディスク１００は、データを１回だけ記録可能な追記型（いわゆる、ライトワンス型：Ｗｒｉｔｅ Ｏｎｃｅ型）の光ディスクであってもよい。具体的には、例えば、光ディスク１００は、ＣＤ−Ｒや、ＤＶＤ±Ｒや、ＢＤ−Ｒ等であってもよい。或いは、光ディスク１００は、データを複数回記録可能な書換型（いわゆる、リライタブル型：Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ型）の光ディスクであってもよい。具体的には、例えば、光ディスク１００は、ＣＤ−ＲＷや、ＤＶＤ±ＲＷや、ＤＶＤ−ＲＡＭや、ＢＤ−ＲＥ等であってもよい。或いは、光ディスク１００は、データの記録が不可能な再生専用型の（いわゆる、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｄｉａ）型）の光ディスクであってもよい。具体的には、例えば、光ディスク１００は、ＣＤ−ＲＯＭや、ＤＶＤ−ＲＯＭや、ＢＤ−ＲＯＭ等であってもよい。
本実施例では、光ディスク１００は、当該光ディスク１００の劣化の有無を検査する機能を有している。更には、本実施例では、光ディスク１００は、当該光ディスク１００に対する記録動作及び再生動作のうちの少なくとも一方を行うことが可能な記録再生装置３００の劣化の有無を検査する機能をも有している。
具体的には、光ディスク１００は、光ディスク１００及び記録再生装置３００の劣化の有無を検査する機能として、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０を有している。つまり、光ディスク１００には、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０が記録されている。尚、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０は、光ディスク１００上の任意の記録領域に記録されていてもよい。第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０は、光ディスク１００の製造時に予め記録されていてもよい。或いは、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０は、光ディスク１００の製造時に予め記録されていてもよい。
第１検査情報１１０は、光ディスク１００及び記録再生装置３００が劣化していない状況下での所定の再生条件（例えば、光ディスク１００の規格で定められた理想的な（言い換えれば、良好な又は最適な）再生条件）での再生時に、ＰＩ（Ｐａｒｉｔｙ Ｉｎｎｅｒ）エラーが０以上且つ２０未満となる良好エラー範囲に含まれる初期良好値となる情報である。言い換えれば、劣化していない記録再生装置３００が所定の再生条件で劣化していない光ディスク１００に記録された第１検査情報１１０を再生すれば、検出されるＰＩエラーは、０以上且つ２０未満の良好エラー範囲に含まれる初期良好値と概ね一致する。
尚、光ディスク１００には、複数の第１検査情報１１０が記録されていてもよい。このとき、複数の第１検査情報１１０のうちの一の第１検査情報１１０を所定の再生条件で再生することで検出されるＰＩエラーは、複数の第１検査情報１１０のうちの他の第１検査情報１１０を所定の再生条件で再生することで検出されるＰＩエラーと異なることが好ましい。言い換えれば、複数の第１検査情報１１０を所定の再生条件で再生することで検出される複数のＰＩエラーは、互いに異なることが好ましい。
第２検査情報１２０は、光ディスク１００及び記録再生装置３００が劣化していない状況下での所定の再生条件（例えば、光ディスク１００の規格で定められた理想的な（言い換えれば、良好な又は最適な）再生条件）での再生時に、ＰＩエラーが２００以上且つ１３００未満となる悪化エラー範囲に含まれる初期悪化値となる情報である。言い換えれば、劣化していない記録再生装置３００が所定の再生条件で劣化していない光ディスク１００に記録された第２検査情報１２０を再生すれば、検出されるＰＩエラーは、２００以上且つ１３００未満の悪化エラー範囲に含まれる初期悪化値と概ね一致する。
ここで、所定の再生条件での再生時に検出されるＰＩエラーの異なる２種類の検査情報（つまり、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０）は、検査情報そのものの再生品質を変えることで実現されてもよい。つまり、再生品質が相対的に良好な検査情報（例えば、ピットの形状等の劣化が相対的に小さい検査情報）及び再生品質が相対的に劣化した検査情報（例えば、ピットの形状等の劣化が相対的に大きい検査情報）の記録によって、所定の再生条件での再生時に検出されるＰＩエラーの異なる２種類の検査情報（つまり、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０）が実現されてもよい。或いは、所定の再生条件での再生時に検出されるＰＩエラーの異なる２種類の検査情報（つまり、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０）は、同一の再生品質の検査情報を再生品質の異なる２つの記録エリアに記録することで実現されてもよい。つまり、再生品質が相対的に良好な記録エリア（例えば、物理的構造又は形状的構造の変化が相対的に小さい（つまり、相対的に平らな）又はチルト量が小さい記録エリア）及び再生品質が相対的に劣化した記録エリア（例えば、物理的構造又は形状的構造の変化が相対的に大きい（つまり、相対的に変形した）又はチルト量が大きい記録エリア）への同一の再生品質の検査情報の記録によって、所定の再生条件での再生時に検出されるＰＩエラーの異なる２種類の検査情報（つまり、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０）が実現されてもよい。但し、再生品質が相対的に良好な記録エリア及び再生品質が相対的に劣化した記録エリアへの異なる再生品質の情報の記録によって、所定の再生条件での再生時に検出されるＰＩエラーの異なる２種類の検査情報（つまり、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０）が実現されてもよい。
つまり、第２検査情報１２０は、第１検査情報１１０と比較して、検出されるＰＩエラーが大きくなる（つまり、再生品質が悪化している）情報である。言い換えれば、第２検査情報１２０は、同一の再生条件での再生を前提とすれば、第１検査情報１１０を再生した場合に検出されるＰＩエラーと比較して、検出されるＰＩエラーが大きくなる（つまり、再生品質が悪化している）情報である。
尚、光ディスク１００には、複数の第２検査情報１２０が記録されていてもよい。このとき、複数の第２検査情報１２０のうちの一の第２検査情報１２０を所定の再生条件で再生することで検出されるＰＩエラーは、複数の第２検査情報１２０のうちの他の第２検査情報１２０を所定の再生条件で再生することで検出されるＰＩエラーと異なることが好ましい。言い換えれば、複数の第２検査情報１２０を所定の再生条件で再生することで検出される複数のＰＩエラーは、互いに異なることが好ましい。
このように、本実施例では、再生品質が異なる２種類の検査情報（つまり、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０）を用いて、光ディスク１００の劣化の有無及び記録再生装置３００の劣化の有無が検査される。以下、光ディスク１００の劣化の有無及び記録再生装置３００の劣化の有無の検査の詳細については、このような光ディスク１００を用いて光ディスク１００及び記録再生装置３００を検査する検査装置２００と共に説明する。
（２）検査装置
続いて、図２から図７を参照して、光ディスク１００及び記録再生装置３００を検査する検査装置２００について説明する。
（２−１）検査装置の構成
初めに、図２を参照して、検査装置２００の構成について説明する。図２は、検査装置２００の構成を、記録再生装置３００の構成と共に示すブロック図である。
図２に示すように、検査装置２００は、「第１検出手段」及び「第２検出手段」の一具体例であるエラー検出部２１０と、「判別手段」の一具体例である劣化判別部２２０とを備えている。尚、エラー検出部２１０及び劣化判別部２２０は、典型的には、ＣＰＵ等の中央演算装置上でプログラムに従って動作する論理的な処理ブロックである。但し、エラー検出部２１０及び劣化判別部２２０は、ＩＣチップ等の物理的な処理ブロックであってもよい。
エラー検出部２１０は、記録再生装置３００による光ディスク１００の再生時のＰＩエラーを検出する。尚、エラー検出部２１０は、記録再生装置３００（典型的には、記録再生装置３００が備える記録再生手段３５３）が検出したＰＩエラーを取得することで、ＰＩエラーを検出することが好ましい。或いは、エラー検出部２１０は、記録再生装置３００から再生信号を取得すると共に、当該再生信号を独自に解析することでＰＩエラーを検出してもよい。但し、処理の容易さという点から考慮すれば、エラー検出部２１０は、記録再生装置３００が検出したＰＩエラーを取得することで、ＰＩエラーを検出することが好ましい。
特に、エラー検出部２１０は、記録再生装置３００による第１検査情報１１０の再生時のＰＩエラーを検出する。加えて、エラー検出部２１０は、記録再生装置３００による第２検査情報１２０の再生時のＰＩエラーを検出する。
劣化判別部２２０は、エラー検出部２１０が検出したＰＩエラー（特に、記録再生装置３００が第１検査情報１１０を再生した時のＰＩエラー及び記録再生装置３００が第２検査情報１２０を再生した時のＰＩエラー）に基づいて、光ディスク１００の劣化の有無及び記録再生装置３００の劣化の有無を判別する。
尚、記録再生装置３００が第１検査情報１１０を再生した時に検出されるＰＩエラーは、初期良好値と概ね一致するとは限らない。より具体的には、理想的な再生条件で記録再生装置３００が第１検査情報１１０を再生した時に検出されるＰＩエラーは、初期良好値と概ね一致するとは限らない。同様に、記録再生装置３００が第２検査情報１２０を再生した時に検出されるＰＩエラーは、初期悪化値と概ね一致するとは限らない。より具体的には、理想的な再生条件で記録再生装置３００が第２検査情報１２０を再生した時に検出されるＰＩエラーは、初期悪化値と一致するとは限らない。というのも、光ディスク１００の劣化の度合いや記録再生装置３００の劣化の度合いに応じて、検出されるＰＩエラーが変化し得るからである。従って、本実施例の検査装置２００は、第１検査情報１２０及び第２検査情報１２０を実際に再生した時に検出されるＰＩエラー（つまり、光ディスク１００及び記録再生装置３００の劣化の影響が加味された後のＰＩエラー）と、初期良好値及び初期悪化値（つまり、光ディスク１００及び記録再生装置３００の劣化の影響が加味される前のＰＩエラー）又は良好エラー範囲及び悪化エラー範囲とを比較することで、光ディスク１００及び記録再生装置３００を検査する。尚、検査の詳細については、後に詳述する（図３参照）。
尚、参考までに、図２に示すように、記録再生装置３００は、光ディスク１００、スピンドルモータ３５１、光ピックアップ３５２、信号記録再生手段３５３、ＣＰＵ（ドライブ制御手段）３５４、メモリ３５５、及びバス３５７を備えている。
スピンドルモータ３５１は光ディスク１００を回転及び停止させるもので、光ディスク１００へのアクセス時に動作する。より詳細には、スピンドルモータ３５１は、図示しないサーボユニット等によりスピンドルサーボを受けつつ所定速度で光ディスク１００を回転及び停止させるように構成されている。
光ピックアップ３５２は、光ディスク１０への記録再生を行うために、例えば半導体レーザ装置とレンズ等から構成される。より詳細には、光ピックアップ３５２は、光ディスク１００に対してレーザービーム等の光ビームを、再生時には読み取り光として第１のパワーで照射し、記録時には書き込み光として第２のパワーで且つ変調させながら照射する。
信号記録再生手段３５３は、スピンドルモータ３５１と光ピックアップ３５２を制御することで光ディスク１００に対して記録再生を行う。より具体的には、信号記録再生手段３５３は、例えば、レーザダイオードドライバ（ＬＤドライバ）及びヘッドアンプ等によって構成されている。レーザダイオードドライバは、光ピックアップ３５２内に設けられた図示しない半導体レーザを駆動する。ヘッドアンプは、光ピックアップ３５２の出力信号、即ち、光ビームの反射光を増幅し、該増幅した信号を出力する。
メモリ３５５は、記録再生データのバッファ領域や、信号記録再生手段３５３で使用出来るデータに変換する時の中間バッファとして使用される領域などディスクドライブ３００におけるデータ処理全般及びＯＰＣ処理において使用される。また、メモリ３５５はこれらレコーダ機器としての動作を行うためのプログラム、即ちファームウェアが格納されるＲＯＭ領域と、記録再生データの一時格納用バッファや、ファームウェアプログラム等の動作に必要な変数が格納されるＲＡＭ領域などから構成される。
ＣＰＵ（ドライブ制御手段）３５４は、信号記録再生手段３５３及びメモリ３５５と、バス３５７を介して接続され、各種制御手段に指示を行うことで、ディスクドライブ３００全体の制御を行う。通常、ＣＰＵ３５４が動作するためのソフトウェア又はファームウェアは、メモリ３５５に格納されている。
尚、図２では、検査装置２００と記録再生装置３００とが別個独立の装置となっている。しかしながら、検査装置２００は、記録再生装置３００の内部に統合されてもよい。この場合、典型的には、エラー検出部２１０及び劣化判別部２２０は、ＣＰＵ３５４上でプログラムに従って動作する論理的な処理ブロックとして実現される。
（２−２）検査装置の動作の流れ
続いて、図３を参照して、検査装置２００の動作の流れについて説明する。図３は、検査装置２００の動作の流れを示すフローチャートである。
図３に示すように、記録再生装置３００は、第１検査情報１１０を再生する。このとき、記録再生装置３００は、上述した理想的な再生条件で、第１検査情報１１０を再生することが好ましい。理想的な再生条件として、例えば、光ディスク１００のチルト量がゼロであり、光ピックアップ３５２から照射されるレーザ光のデフォーカス量が最小であるという再生条件が一例としてあげられる。その結果、エラー検出部２１０は、記録再生装置３００による第１検査情報１１０の再生時のＰＩエラーを検出する（ステップＳ１１）。
その後、劣化判別部２２０は、ステップＳ１１で検出されたＰＩエラーが２０以上であるか否かを判別する（ステップＳ１２）。つまり、劣化判別部２２０は、ステップＳ１１で検出されたＰＩエラーが良好エラー範囲に含まれていないか否か（つまり、逸脱しているか否か）を判別する（ステップＳ１２）。
ステップＳ１２の判定の結果、ステップＳ１１で検出されたＰＩエラーが２０以上である（つまり、良好エラー範囲に含まれない）と判別される場合には（ステップＳ１２：Ｙｅｓ）、劣化判別部２２０は、光ディスク１００が劣化していると判別する（ステップＳ１３）。その後、検査装置２００は、動作を終了する。
他方で、ステップＳ１２の判定の結果、ステップＳ１１で検出されたＰＩエラーが２０以上でない（つまり、２０未満であり、良好エラー範囲に含まれる）と判別される場合には（ステップＳ１２：Ｎｏ）、劣化判別部２２０は、光ディスク１００が劣化していると判別しない。言い換えれば、劣化判別部２２０は、光ディスク１００が劣化していないと判別する。
光ディスク１００が劣化していないと判別した場合には、その後、記録再生装置３００は、第２検査情報１２０を再生する。このとき、記録再生装置３００は、上述した理想的な再生条件で、第２検査情報１２０を再生することが好ましい。その結果、エラー検出部２１０は、記録再生装置３００による第２検査情報１２０の再生時のＰＩエラーを検出する（ステップＳ１４）。
その後、劣化判別部２２０は、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが初期悪化値よりも悪化しているか否か（つまり、初期悪化値よりも大きくなっているか否か）を判別する（ステップＳ１５）。
ステップＳ１５の判定の結果、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが初期悪化値よりも悪化している（つまり、初期悪化値よりも大きくなっている）と判別される場合には（ステップＳ１５：Ｙｅｓ）、劣化判別部２２０は、記録再生装置３００が劣化していると判別する（ステップＳ１６）。つまり、劣化判別部２２０は、光ディスク１００が劣化しておらず且つ記録再生装置３００が劣化していると判別する（ステップＳ１６）。その後、検査装置２００は、動作を終了する。
他方で、ステップＳ１５の判定の結果、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが初期悪化値よりも悪化していない（つまり、初期悪化値よりも大きくなっていない）と判別される場合には（ステップＳ１５：Ｎｏ）、劣化判別部２２０は、記録再生装置３００が劣化していると判別しない。言い換えれば、劣化判別部２２０は、記録再生装置３００が劣化していないと判別する。つまり、劣化判別部２２０は、光ディスク１００及び記録再生装置３００の双方が劣化していないと判別する。その後、検査装置２００は、動作を終了する。
尚、ステップＳ１５では、劣化判別部２２０は、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが、初期悪化値よりも所定量以上悪化しているか否かを判別してもよい。つまり、劣化判別部２２０は、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが、初期悪化値＋所定量よりも大きくなっているか否かを判別してもよい。ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが、初期悪化値よりも所定量以上悪化していると判別される場合には、劣化判別部２２０は、記録再生装置３００が劣化していると判別してもよい。他方で、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが、初期悪化値よりも所定量以上悪化していないと判別される場合には、劣化判別部２２０は、記録再生装置３００が劣化していないと判別してもよい。
或いは、ステップＳ１５では、劣化判別部２２０は、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが、悪化エラー範囲に含まれる悪化所定値よりも悪化しているか否かを判別してもよい。このとき、所定悪化値は、初期悪化値よりも悪い（つまり、大きい）値であることが好ましい。例えば、初期悪化値が２００である場合には、悪化所定値は、例えば５００であってもよい。ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが、悪化所定値よりも悪化していると判別される場合には、劣化判別部２２０は、記録再生装置３００が劣化していると判別してもよい。他方で、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが、悪化所定値よりも悪化していないと判別される場合には、劣化判別部２２０は、記録再生装置３００が劣化していないと判別してもよい。
ここで、図３に示す動作によって光ディスク１００及び記録再生装置３００の劣化の有無を検査することができる技術的理由について、以下に更に詳細に説明する。
本願発明者等の実験により、光ディスク１００及び記録再生装置３００の劣化について、以下に示す技術的特性が明らかにされた。
まず、所定の再生条件での再生時に検出されるＰＩエラーが０以上且つ２０未満となる良好エラー範囲に含まれる初期良好値となる第１検査情報１１０（つまり、相対的に良好な再生品質で記録された第１検査情報１１０）は、記録再生装置３００が劣化したとしても、再生時に検出されるＰＩエラーが大きく悪化することはないことが明らかにされた。尚、本願発明者等が行った実験では、記録再生装置３００が備える光学部品（例えば、光ピックアップ３５２が備えるレンズ）の劣化を、記録再生装置３００の劣化として取り扱っている。但し、記録再生装置３００の劣化は、記録再生装置３００が備える電気部品（例えば、光ピックアップ３５２が備える半導体レーザやフォトダイオード）の劣化や、記録再生装置３００が備えるその他の部品の劣化を意味していてもよい。このような劣化は、典型的には、外的劣化（例えば、汚れの付着）や内的劣化（例えば、部品寿命（言い換えれば、経年劣化）や、部品の位置ずれ）等によって引き起こされる。
他方で、所定の再生条件での再生時に検出されるＰＩエラーが２００以上且つ１３００未満の悪化エラー範囲に含まれる初期悪化値となる第２検査情報１２０（つまり、相対的に劣った再生品質で記録された第２検査情報１２０は、記録再生装置３００が劣化の程度に依存して、再生時に検出されるＰＩエラーが大きく変動する（典型的には、劣化するほど悪化する）ことが明らかにされた。
以上の特性について、図４から図７を参照しながら、本願発明者等の実験によって得られた、具体的なＰＩエラーの数値を用いて説明する。図４は、本願発明者等の実験結果を示すグラフであって、光ディスク１００のチルト量を調整しながら第１検査情報１１０を再生することで検出された具体的なＰＩエラーの数値を示すグラフである。図５は、本願発明者等の実験結果を示す表であって、光ディスク１００のチルト量を調整しながら第１検査情報１１０を再生することで検出された具体的なＰＩエラーの数値を示す表である。図６は、本願発明者等の実験結果を示すグラフであって、再生パワーを調整しながら第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０を再生することで検出された具体的なＰＩエラーの数値を示すグラフである。図７は、本願発明者等の実験結果を示す表であって、再生パワーを調整しながら第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０を再生することで検出された具体的なＰＩエラーの数値を示す表である。
図４に示すグラフの縦軸は、ＰＩエラーを示す。また、図４に示すグラフの横軸は、チルト量を示す。尚、図４及び図５に結果が示されている実験は、第１検査情報１１０のみが記録された光ディスク１００を用いて行われた。この場合、光ディスク１００のチルト量が相対的に小さい状態（つまり、図４の領域Ａに対応する状態）での第１検査情報１１０の再生時に得られるＰＩエラーが、第１検査情報１１０の再生時に得られるＰＩエラー（つまり、図３のステップＳ１１で検出されるＰＩエラー）に相当する。一方で、光ディスク１００のチルト量が相対的に大きい状態（つまり、図４の領域Ｂに対応する状態）での第１検査情報１１０の再生時に得られるＰＩエラーが、第２検査情報１２０の再生時に得られるＰＩエラー（つまり、図３のステップＳ１４で検出されるＰＩエラー）に相当する。というのも、チルト量が相対的に小さい（つまり、良好な）状態での相対的に再生品質が劣っている情報の再生は、チルト量が相対的に大きい（つまり、悪化した）状態での相対的に再生品質の良好な情報の再生と実質的には等価であるからである。
尚、上述の説明では、光ディスク１００のチルト量に着目した説明を進めている。しかしながら、光ピックアップ３５２が備えている対物レンズのチルト量が相対的に小さい（つまり、相対的に良好な）状態での相対的に再生品質が劣っている情報の再生もまた、対物レンズのチルト量が相対的に大きい（つまり、悪化した）状態での相対的に再生品質の良好な情報の再生と実質的には等価である。或いは、光ピックアップ３５２から照射されるレーザ光のデフォーカス量が相対的に小さい（つまり、相対的に良好な）状態での相対的に再生品質が劣っている情報の再生もまた、デフォーカス量が相対的に大きい（つまり、悪化した）状態での相対的に再生品質の良好な情報の再生と実質的には等価である。つまり、まとめると、再生条件が相対的に良好な状態での相対的に再生品質が劣っている情報の再生は、再生条件が相対的に悪化した状態での相対的に再生品質の良好な情報の再生と実質的には等価である。
また、図４及び図５に結果が示されている実験では、記録再生装置３００が劣化した状態（具体的には、光ピックアップ３５２が汚れている状態）を、光ピックアップ３５２から照射されるレーザ光の再生パワーの調整によって疑似的に実現している。というのも、記録再生装置３００が劣化すればするほど（具体的には、光ピックアップ３５２の汚れが多くなればなるほど）再生パワーが減少しやすいからである。従って、劣化していない記録再生装置３００は、０．７ｍＷという再生パワーのレーザ光による再生を行う記録再生装置３００に相当する。他方で、劣化した記録再生装置３００は、０．２ｍＷという再生パワーのレーザ光による再生を行う記録再生装置３００に相当する。
図４及び図５に示すように、第１検査情報１１０の再生結果（つまり、図４中の領域Ａでの第１検査情報１１０の再生結果）は、記録再生装置３００が劣化しても（つまり、再生パワーが０．７ｍＷから０．２ｍＷに変化しても）、第１検査情報１１０のＰＩエラーが大きく悪化することはないことを示している。一方で、第２検査情報１２０の再生結果（つまり、図４中の領域Ｂでの第１検査情報１１０の再生結果）は、記録再生装置３００が劣化することで（つまり、再生パワーが０．７ｍＷから０．２ｍＷに変化することで）、第２検査情報１２０のＰＩエラーが大きく悪化することを示している。
また、チルト量を大きくした状態での第１検査情報１１０の再生が第２検査情報１２０の再生に相当するとみなす疑似的な実験結果のみならず、実際に光ディスク１００に記録された第２検査情報１２０を再生することで検出されるＰＩエラーについても、図６及び図７を参照しながら説明する。
図６に示すグラフの縦軸は、ＰＩエラーを示す。また、図６に示すグラフの横軸は、再生パワーを示す。図６中の白抜き印は、再生パワーを調整しながら第２検査情報１２０を再生することで検出されたＰＩエラーを示している。特に、図６中の白抜きの四角印は、光ディスク１００のチルト量が最適（つまり、０）となっている状態で再生パワーを調整しながら第２検査情報１２０を再生することで検出されたＰＩエラーを示している。一方で、図６中の白抜きの丸印は、光ディスク１００のチルト量が３０分だけタンジェンシャルに傾いた状態で再生パワーを調整しながら第２検査情報１２０を再生することで検出されたＰＩエラーを示している。図６に示すように、第２検査情報１２０については、記録再生装置３００が劣化するほど（つまり、再生パワーが小さくなるほど）、検出されるＰＩエラーが悪化することが分かる。
一方で、図６中の黒抜き印は、再生パワーを調整しながら第１検査情報１１０を再生することで検出されたＰＩエラーを示している。特に、図６中の黒抜きの四角印は、光ディスク１００のチルト量が最適（つまり、０）となっている状態で再生パワーを調整しながら第１検査情報１１０を再生することで検出されたＰＩエラーを示している。図６に示すように、第１検査情報１１０については、記録再生装置３００が劣化しても（つまり、再生パワーが小さくなっても）、検出されるＰＩエラーが殆ど悪化しないことが分かる。
尚、参考までに、図６中の黒抜きの丸印は、光ディスク１００のチルト量が３０分だけタンジェンシャルに傾いた状態で再生パワーを調整しながら第１検査情報１１０を再生することで検出されたＰＩエラーを示している。つまり、図６中の黒抜きの丸印は、チルト量を大きくした状態で第１検査情報１１０を再生する（つまり、疑似的な第２検査情報１２０を再生する）ことで検出されたＰＩエラーを示している。図６に示すように、光ディスク１００のチルト量が相対的に大きい状態での第１検査情報１１０の再生時に得られるＰＩエラーは、第２検査情報１２０の再生時に得られるＰＩエラーと同様の態様で変化することが分かる。つまり、光ディスク１００のチルト量が相対的に大きい状態での第１検査情報１１０の再生時に得られるＰＩエラーが、第２検査情報１２０の再生時に得られるＰＩエラーに相当することが、実験結果からも分かる。言い換えれば、チルト量が相対的に小さい（つまり、良好な）状態での相対的に再生品質が劣っている情報の再生は、チルト量が相対的に大きい（つまり、悪化した）状態での相対的に再生品質の良好な情報の再生と実質的には等価であることが、実験結果からも分かる。
以上説明したように、本実施例の検査装置２００は、第１検査情報１１０を再生することで検出されるＰＩエラーの特性（例えば、図４中の領域Ａでの特性）と、第２検査情報１２０を再生することで検出されるＰＩエラーの特性（例えば、図４中の領域Ｂでの特性）との違いを積極的に活用することで、光ディスク１００及び記録再生装置３００を検査することができる。特に、検査装置２００は、これら両者の特性を考慮することで、光ディスク１００が劣化しているのか又は記録再生装置３００が劣化しているのかを、個別に判別することができる。
具体的には、検査装置２００は、第１検査情報１１０を再生することで検出されるＰＩエラーが悪化している（言い換えれば、良好エラー範囲に含まれなくなっている）場合には、光ディスク１００が劣化していると判別することができる。というのも、記録再生装置３００の劣化は、第１検査情報１１０を再生することで検出されるＰＩエラーの悪化を引き起こしにくいからである（図４の領域Ａ参照）。
一方で、検査装置２００は、第１検査情報１１０を再生することで検出されるＰＩエラーが悪化しておらず（言い換えれば、良好エラー範囲に含まれており）且つ第２検査情報１２０を再生することで検出されるＰＩエラーが悪化している（言い換えれば、悪化エラー範囲内の所定値（例えば、初期悪化値）よりも悪化している）場合には、記録再生装置３００が劣化していると判別することができる。というのも、記録再生装置３００の劣化は、第１検査情報１１０を再生することで検出されるＰＩエラーの悪化を引き起こしにくい一方で、第２検査情報１２０を再生することで検出されるＰＩエラーの悪化を引き起こしやすいからである（図４の領域Ｂ参照）。
他方で、検査装置２００は、第１検査情報１１０を再生することで検出されるＰＩエラーが悪化しておらず且つ第２検査情報１２０を再生することで検出されるＰＩエラーが悪化していない場合には、光ディスク１００及び記録再生装置３００が劣化していないと判別することができる。
このように、本実施例の検査装置２００は、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０の双方が記録された光ディスク１００を用いることで、光ディスク１００及び記録再生装置３００を好適に検査することができる。
尚、上述した説明では、ＰＩエラーに着目して説明を進めた。しかしながら、検査装置２００は、ＰＩエラー以外の他のエラー量に基づいて、光ディスク１００及び記録再生装置３００を検査してもよい。例えば、検査装置２００は、ＰＯ（Ｐａｒｉｔｙ Ｏｕｔｅｒ）エラーに基づいて、光ディスク１００及び記録再生装置３００を検査してもよい。或いは、ＰＩエラー及びＰＯエラーが主として用いられる光ディスク１００（例えば、ＤＶＤ）とは異なる光ディスク１００（例えば、ＢＤ）を対象とするのであれば、検査装置２００は、ランダムＳＥＲ（Ｓｙｍｂｏｌ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）に基づいて、光ディスク１００及び記録再生装置３００を検査してもよい。ランダムＳＥＲを用いる場合には、良好エラー範囲は、０以上且つ１×１０−３未満となるエラー範囲（但し、バーストエラーがないという条件が前提）であることが好ましい。一方で、悪化エラー範囲は、１×１０−３以上且つ４×１０−３未満となるエラー範囲（但し、バーストエラーがないという条件が前提）であることが好ましい。或いは、ＰＩエラー、ＰＯエラー及びランダムＳＥＲは、いずれも、信号記録再生手段３５３における復調が行われた後の信号のエラー量を示している。しかしながら、検査装置２００は、信号記録再生手段３５３における復調が行われる前の信号のエラー量（いわゆる、一般的なエラーレート）に基づいて、光ディスク１００及び記録再生装置３００を検査してもよい。以下に説明する変形例についても同様である。
尚、上述の説明では、ＰＩエラーが０以上且つ２０未満となる良好エラー範囲に含まれる初期良好値が検出される第１検査情報１１０及びＰＩエラーが２００以上且つ１３００未満となる悪化エラー範囲に含まれる初期悪化値が検出される第２検査情報１２０という２種類の検査情報が記録される例を示している。しかしながら、良好エラー範囲内の所定値から悪化エラー範囲内の所定値に向かって段階的に又は連続的に悪化していくＰＩエラーが検出される複数の検査情報が記録されていてもよい。この場合、複数の検査情報は、上述した第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０のみならず、良好エラー範囲と悪化エラー範囲との間のエラー範囲に含まれるＰＩエラーが検出される第３検査情報を含んでいてもよい。具体的には、例えば、光ディスク１００には、良好エラー範囲に含まれるという条件下で段階的に悪化していくＰＩエラーが検出される一又は複数の第１検査情報１１０、良好エラー範囲と悪化エラー範囲との間のエラー範囲に含まれるという条件で段階的に悪化していくＰＩエラーが検出される一又は複数の第３検査情報、及び悪化エラー範囲に含まれるという条件下で段階的に悪化していくＰＩエラーが検出される複数の第２検査情報１２０が記録されていてもよい。このように構成すれば、記録再生装置３００の初期特性のばらつき等によらずに、上述した各種効果が享受される。というのも、記録再生装置３００の初期特性のばらつき等により、複数の第１検査情報１１０のうちの検査のための最適な第１検査情報１１０が変わることがあるからである。同様に、記録再生装置３００の初期特性のばらつき等により、複数の第２検査情報１２０のうちの検査のための最適な第２検査情報１２０が変わることがあるからである。同様に、記録再生装置３００の初期特性のばらつき等により、複数の第３検査情報のうちのいずれかが、検査のための最適な第１検査情報１１０又は第２検査情報１２０になることがあるからである。このため、このように構成すれば、検査装置２００は、記録再生装置３００の初期特性のばらつきに応じた最適な第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０を選択した上で、上述した検査を行うことができる。
（３）変形例
続いて、図８から図１０を参照しながら、変形例について説明する。
（３−１）第１変形例
上述の説明では、検査装置２００は、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０の双方が記録された光ディスク１００を用いて、光ディスク１００及び記録再生装置３００を検査している。しかしながら、第１変形例の検査装置２００ａは、第１検査情報１１０が記録されている一方で第２検査情報１２０が記録されていない光ディスク１００ａを用いて、光ディスク１００ａ及び記録再生装置３００ａを検査する。尚、この場合、光ディスク１００ａの全体に第１検査情報１１０が記録されていてもよい。或いは、光ディスク１００ａの一部に第１検査情報１１０が記録されていてもよい。
以下、図８及び図９を参照しながら、第１変形例について説明する。図８は、第１変形例の検査装置２００ａの構成を示すブロック図である。図９は、第１変形例の検査装置２００ａの動作の流れを示すフローチャートである。尚、上述した検査装置２００の構成及び動作と同一の構成及び動作については、同一の参照符号及びステップ番号を付して、その詳細な説明を省略する。
図８に示すように、第１変形例の検査装置２００ａは、上述した検査装置２００と比較して、再生条件設定部２３０を備えているという点で異なっている。再生条件設定部２３０は、記録再生装置３００ａが光ディスク１００ａを再生する際の再生条件を設定（言い換えれば、調整又は変更）する。尚、再生条件としては、光ディスク１００ａに関連する動作パラメータに起因した再生条件が一例としてあげられる。このような再生条件として、例えば、光ディスク１００ａそのもののチルト量や、光ピックアップ３５２が備える対物レンズのチルト量や、光ピックアップ３５２のデフォーカス量や、記録再生装置３００ａが備える光学部品又は電気部品の位置（例えば、ビームエキスパンダの位置）や、記録再生装置３００ａが備える電気部品の動作点（例えば、液晶チルト素子の動作状態）等が一例としてあげられる。
加えて、第１変形例の記録再生装置３００ａは、上述した記録再生装置３００と比較して、再生条件変更機構３５８を備えているという点で異なっている。再生条件変更機構３５８は、再生条件設定部２３０が設定した再生条件に基づいて、記録再生装置３００が光ディスク１００ａを再生する際の再生条件を実際に変更する。再生条件を変更するために、再生条件変更機構３５８は、例えば、光ディスク１００ａそのもののチルト量を調整可能なチルト機構や、光ピックアップ３５２が備える対物レンズのチルト量を調整可能なチルト機構や、光ピックアップ３５２のデフォーカス量を調整可能なサーボ機構等を備えていてもよい。
図９に示すように、第１変形例においても、ステップＳ１１からステップＳ１３までの動作が行われる。つまり、第１変形例の検査装置２００ａは、第１検査情報１１０を再生することで検出されたＰＩエラーに基づいて、光ディスク１００ａが劣化しているか否かを判別する。
光ディスク１００ａが劣化していない（つまり、ステップＳ１１で検出されたＰＩエラーが２０以上でない）と判別された場合には、その後、再生条件設定部２３０は、記録再生装置３００が光ディスク１００ａを再生する際の再生条件を変更する（ステップＳ２２）。具体的には、再生条件設定部２３０は、ステップＳ１１で第１検査情報１１０を再生した時の再生条件（例えば、理想的な再生条件）よりも悪化した再生条件を新たな再生条件として設定するように、再生条件を変更する。尚、再生条件の悪化は、例えば、光ディスク１００ａのチルト量の増大や、光ピックアップ３５２が備える対物レンズのチルト量の増大や、光ピックアップ３５２から照射されるレーザ光のデフォーカス量の増大によって実現される。
その後、記録再生装置３００は、ステップＳ２２で変更された再生条件（つまり、悪化した再生条件）で、第１検査情報１１０を再生する。その結果、エラー検出部２１０は、記録再生装置３００が第１検査情報１１０を再生した時のＰＩエラーを検出する（ステップＳ２３）。
尚、ステップＳ２２で変更された再生条件で第１検査情報１１０を再生するために、記録再生装置３００は、再生条件設定部２３０の制御の下で、例えば、図８の図面中では不図示のディスクチルト機構を用いて、光ディスク１００ａのチルト量を変更してもよい。或いは、記録再生装置３００は、再生条件設定部２３０の制御の下で、例えば、図８の図面中では不図示のレンズチルト機構を用いて、光ピックアップ３５２が備える対物レンズのチルト量を変更してもよい。或いは、記録再生装置３００は、再生条件設定部２３０の制御の下で、例えば、図８の図面中では不図示のレンズアクチュエータを用いて、光ピックアップ３５２から照射されるレーザ光のデフォーカス量を変更してもよい。その他の再生条件が設定される場合も、記録再生装置３００は、公知の機構等を用いて、適宜再生条件を変更してもよい。
尚、上述したように、再生条件が相対的に良好な状態での相対的に再生品質が劣っている情報の再生は、再生条件が相対的に悪化した状態での相対的に再生品質の良好な情報の再生と実質的には等価である。このため、ステップＳ２２で変更された再生条件（つまり、悪化した再生条件）で記録再生装置３００が第１検査情報１１０を再生した時に検出されるＰＩエラーは、実質的には、第２検査情報１２０を再生した時に検出されるＰＩエラーと等価である。つまり、第１変形例の検査装置２００ａは、第１検査情報１１０が記録されている一方で第２検査情報１２０が記録されていない光ディスク１００ａを用いながらも、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０の双方が記録されている光ディスク１００ａを用いた場合と同様の態様で、光ディスク１００ａ及び記録再生装置３００を検査することができる。
このため、再生条件設定部２３０は、変更後の再生条件での第１検査情報１１０の再生が第２検査情報１２０（具体的には、理想的な再生条件での再生時に検出されるＰＩエラーが初期悪化値となる第２検査情報１２０）の再生に相当するように、再生条件を変更することが好ましい。特に、再生条件設定部２３０は、光ディスク１００及び記録再生装置３００が劣化していない仮想的な状況下において、変更後の再生条件での第１検査情報１１０の再生が理想的な再生条件での第２検査情報１２０の再生に相当するように、再生条件を変更することが好ましい。つまり、再生条件設定部２３０は、変更後の再生条件での第１検査情報１１０の再生が、図４の領域Ｂでの再生に相当するように、再生条件を変更することが好ましい。例えば、図４に示す例では、仮に図９のステップＳ１１でチルト量がゼロとなる再生条件で第１検査情報１１０が再生されているとすれば、再生条件設定部２３０は、例えば、光ディスク１００ａのチルト量が０．３から０．５程度になるように（或いは、０．３から０．５程度大きくなるように）、再生条件を変更することが好ましい。
その後、第１変形例においても、ステップＳ１５からステップＳ１６の動作が行われる。つまり、劣化判別部２２０は、ステップＳ２３で検出されたＰＩエラーに基づいて、記録再生装置３００が劣化しているか否かを判別する。
以上説明したように、第１変形例の検査装置２００ａは、第１検査情報１１０が記録されている一方で第２検査情報１２０が記録されていない光ディスク１００ａを用いながらも、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０の双方が記録されている光ディスク１００ａを用いた場合と同様の態様で、光ディスク１００ａ及び記録再生装置３００を検査することができる。従って、上述した各種効果を好適に享受することができる。
（３−２）第２変形例
上述の説明では、検査装置２００は、第１検査情報１１０及び第２検査情報１２０の双方が記録された光ディスク１００を用いて、光ディスク１００及び記録再生装置３００を検査している。しかしながら、第２変形例の検査装置２００ｂは、第１検査情報１１０が記録されていない一方で第２検査情報１２０が記録されている光ディスク１００ｂを用いて、光ディスク１００ｂ及び記録再生装置３００を検査する。尚、この場合、光ディスク１００ｂの全体に第２検査情報１２０が記録されていてもよい。或いは、光ディスク１００ｂの一部に第２検査情報１２０が記録されていてもよい。
以下、図１０を参照しながら、第２変形例について説明する。図１０は、第２変形例の検査装置２００ｂの動作の流れを示すフローチャートである。尚、上述した検査装置２００の動作と同一の動作については、同一のステップ番号を付して、その詳細な説明を省略する。また、第２変形例の検査装置２００ｂの構成については、図２に示す検査装置２００の構成と同一であってもよいため、説明を省略する。
図１０に示すように、記録再生装置３００は、第２検査情報１２０を再生する。このとき、記録再生装置３００は、上述した理想的な再生条件で、第２検査情報１２０を再生することが好ましい。その結果、エラー検出部２１０は、記録再生装置３００が第２検査情報１２０を再生した時のＰＩエラーを検出する（ステップＳ１４）。
その後、劣化判別部２２０は、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが初期悪化値よりも悪化しているか否か（つまり、初期悪化値よりも大きくなっているか否か）を判別する（ステップＳ１５）。
ステップＳ１５の判定の結果、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが初期悪化値よりも悪化している（つまり、初期悪化値よりも大きくなっている）と判別される場合には（ステップＳ１５：Ｙｅｓ）、劣化判別部２２０は、光ディスク１００ｂ及び記録再生装置３００のうちの少なくとも一方が劣化していると判別する（ステップＳ３１）。
他方で、ステップＳ１５の判定の結果、ステップＳ１４で検出されたＰＩエラーが初期悪化値よりも悪化していない（つまり、初期悪化値よりも大きくなっていない）と判別される場合には（ステップＳ１５：Ｎｏ）、劣化判別部２２０は、光ディスク１００ｂ及び記録再生装置３００の少なくとも一方が劣化していると判別しない。つまり、劣化判別部２２０は、光ディスク１００及び記録再生装置３００の双方が劣化していないと判別する。
以上説明したように、第２変形例の検査装置２００ｂは、第１検査情報１１０が記録されていない一方で第２検査情報１２０が記録されている光ディスク１００ｂを用いて、光ディスク１００ａ及び記録再生装置３００を検査することができる。
また、本発明は、請求の範囲及び明細書全体から読み取るこのできる発明の要旨又は思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う記録媒体並びに装置及び方法もまた本発明の技術思想に含まれる。
１００ 光ディスク
１１０ 第１検査情報
１２０ 第２検査情報
２００ 検査装置
２１０ エラー検出部
２２０ 劣化判別部
２３０ 再生条件設定部
３３０ 記録再生装置
３５１ スピンドルモータ
３５２ 光ピックアップ
３５３ 信号記録再生手段
３５４ ＣＰＵ
３５５ メモリ
３５７ データバス

Claims (13)

  1. 所定の再生条件での再生時に第１エラー範囲に属する第１エラー量が検出されるように記録された第１情報が記録されている記録媒体及び当該記録媒体に対する記録動作及び再生動作のうちの少なくとも一方を行う記録再生装置を検査する検査装置であって、
    前記記録再生装置による第１再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第２エラー量を検出する第１検出手段と、
    前記記録再生装置による前記第１再生条件よりも悪化した第２再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第３エラー量を検出する第２検出手段と、
    前記第２エラー量及び前記第３エラー量に基づいて、前記記録媒体及び前記記録再生装置の夫々の劣化を判別する判別手段と
    備えることを特徴とする検査装置。
  2. 前記判別手段は、前記第２エラー量が前記第１エラー範囲に含まれなくなっている場合には、前記記録媒体が劣化していると判別することを特徴とする請求項１０に記載の検査装置。
  3. 前記第１エラー範囲は、前記所定の再生条件での前記第１情報の再生時に、エラー訂正処理によって前記第１情報の再生エラーの訂正が開始されない程度に小さいエラー量を含むエラー範囲であることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
  4. 前記第２再生条件は、前記第１再生条件と比較して、前記記録媒体に関連する動作パラメータ及び前記記録再生装置に関連する動作パラメータのうちの少なくとも一方を変更することで実現されることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
  5. 前記第２再生条件は、前記第２再生条件での前記第１情報の再生が、前記所定の再生条件での再生時に前記第１エラー範囲よりも悪化している第２エラー範囲に含まれる第４エラー量が検出されるように記録された第２情報の再生と等価となる状態を実現可能な再生条件であることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
  6. 前記第２エラー範囲は、前記所定の再生条件での前記第２情報の再生時に、エラー訂正処理によって前記第２情報の再生エラーの訂正が開始されると共に前記エラー訂正処理によって前記再生エラーの訂正が可能な程度の大きさのエラー量を含むエラー範囲であることを特徴とする請求項５に記載の記録媒体。
  7. 前記判別手段は、前記第２エラー量が第１エラー範囲に含まれており且つ前記第３エラー量が前記第４エラー量よりも悪化している場合には、前記記録再生装置が劣化していると判別することを特徴とする請求項５に記載の検査装置。
  8. 前記判別手段は、前記第２エラー量が第１エラー範囲に含まれており且つ前記第３エラー量が前記第４エラー量よりも悪化していない場合には、前記記録媒体及び前記記録再生装置の双方が劣化していないと判別することを特徴とする請求項５に記載の検査装置。
  9. 前記第１エラー量及び前記第４エラー量の夫々は、ＰＩ（Ｐａｒｉｔｙ Ｉｎｎｅｒ）エラーであることを特徴とする請求項５に記載の検査装置。
  10. 前記第１エラー範囲は、前記ＰＩエラーが０以上且つ２０未満となるエラー範囲であり、
    前記第２エラー範囲は、前記ＰＩエラーが２００以上且つ１３００未満となるエラー範囲である
    ことを特徴とする請求項９に記載の記録媒体。
  11. 前記第１エラー量及び前記第４エラー量の夫々は、ランダムＳＥＲ（Ｓｙｍｂｏｌ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）であることを特徴とする請求項５に記載の検査装置。
  12. 前記第１エラー範囲は、前記ランダムＳＥＲが０以上且つ１×１０−３未満となるエラー範囲であり、
    前記第２エラー範囲は、前記ランダムＳＥＲが１×１０−３以上且つ４×１０−３未満となるエラー範囲である
    ことを特徴とする請求項１１に記載の記録媒体。
  13. 所定の再生条件での再生時に第１エラー範囲に属する第１エラー量が検出されるように記録された第１情報が記録されている記録媒体及び当該記録媒体に対する記録動作及び再生動作のうちの少なくとも一方を行う記録再生装置を検査する検査方法であって、
    前記記録再生装置による第１再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第２エラー量を検出する第１検出工程と、
    前記記録再生装置による前記第１再生条件よりも悪化した第２再生条件での前記第１情報の再生時に検出される第３エラー量を検出する第２検出工程と、
    前記第２エラー量及び前記第３エラー量に基づいて、前記記録媒体及び前記記録再生装置の夫々の劣化を判別する判別工程と
    備えることを特徴とする検査方法。
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