JP2014059249A - 熱型電磁波検出素子チップおよび熱型電磁波検出器並びに電子機器 - Google Patents

熱型電磁波検出素子チップおよび熱型電磁波検出器並びに電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】腕片の輪郭を狭めても腕片の本体と終端部との間でクラックの発生を防止することができる熱型電磁波検出素子チップは提供される。
【解決手段】支持板片は空間層を挟んで基体に向き合わせられる。熱型電磁波検出素子は支持板片上に支持される。支持板片から腕片29が延びる。腕片29の終端部31は支柱41の頂上面に支持される。補強部52は、終端部31から連続して、平面視で支柱41の輪郭に倣う輪郭51に湾曲線の輪郭53で接続される。鋭い谷形状の形成は回避されることができる。支持板片が反り返っても本体29aと終端部31との間でクラックの発生は防止されることができる。
【選択図】図4

Description

本発明は、熱型電磁波検出素子チップ、および、それを利用した熱型電磁波検出器、並びに、その熱型電磁波検出器を利用した電子機器等に関する。
熱型電磁波検出素子では放熱の抑制が要求される。放熱の抑制にあたって熱型電磁波検出素子の支持板片から延びる腕片の断面形状はできる限り最小化されることが望まれる。その結果、平面視で腕片の輪郭は狭まる。
腕片の終端部は支柱の頂上面に重ねられる。終端部の輪郭は支柱の頂上面よりも大きく形成される。したがって、腕片の輪郭は終端部で著しく膨大化する。終端部の側面と幅狭の本体の側面とはほぼ90°の交差角で交差する。こうして終端部と幅狭の本体との間には比較的に鋭い谷形状が区画される。
特開2010−25585号公報 特開2011−153871号公報
支持板片および腕片の形成にあたって犠牲層上で連続膜が成膜される。フォトリソグラフィ技術に基づき連続膜から支持板片および腕片は形作られる。その後、支持板片および腕片の下から犠牲層が取り払われる。エッチング処理が実施される。このとき、支持板片は反り返ってしまう。反り返りに応じて腕片では本体と終端部との境界にクラックが生じてしまう。
本発明の少なくとも1つの態様によれば、腕片の輪郭を狭めても腕片の本体と終端部との間でクラックの発生を防止することができる熱型電磁波検出素子チップは提供されることができる。
(1)本発明の一態様は、基体と、第1面および前記第1面の裏側の第2面を有し、空間層を挟んで前記第2面で前記基体に向き合わせられる支持板片と、前記支持板片上に支持される熱形電磁波検出素子と、表面および前記第2面に連続する裏面を有し、前記空間層を挟んで前記裏面で前記基体に向き合わせられる腕片と、前記基体から立ち上がって頂上面で前記腕片を支持し、前記空間層上に前記支持板片および前記腕片を保持する支柱と、を備え、前記腕片は、平面視で少なくとも部分的に前記支柱の輪郭に倣う輪郭を有して前記支柱の頂上面に広がる終端部と、前記終端部から連続して、平面視で前記支柱の前記輪郭に倣う前記輪郭に湾曲線の輪郭で接続される補強部と、を備える熱型電磁波検出素子チップに関する。
終端部の側面と幅狭の本体の側面とは湾曲面の補強部で相互に接続される。鋭い谷形状の形成は回避されることができる。その結果、応力の集中は緩和される。支持板片が反り返っても腕片の本体と終端部との間でクラックの発生は防止されることができる。製造の歩留まりは向上する。特に、熱型電磁波検出素子の小型化に応じて腕片の本体の輪郭が狭められてもクラックの発生は効果的に防止されることができる。
(2)前記支持板片および前記腕片は連続する膜で形成されることができる。例えばフォトリソグラフィ技術に基づき支持板片および腕片は同時に形成されることができる。
(3)前記終端部の輪郭は四角形に形成されることができる。円形の輪郭に比べて四角形の輪郭は限られた空間に効率的に配置されることができる。
(4)前記湾曲線の輪郭は変曲点を有することができる。変曲点の働きで応力の集中は確実に緩和されることができる。
(5)前記補強部の輪郭は連続する湾曲線のみで形成されることができる。こうして補強部が湾曲線のみで形作られれば、谷形状の形成は確実に回避されることができる。
(6)熱型電磁波検出素子チップは熱型電磁波検出器に組み込まれて利用されることができる。このとき、熱型電磁波検出器は、熱型電磁波検出素子チップと、前記熱型電磁波検出素子チップに結合され、前記熱型電磁波検出素子に電気的に接続される集積回路を含む集積回路基板とを備えることができる。
(7)熱型電磁波検出器は電子機器に組み込まれて利用されることができる。このとき、電子機器は、熱型電磁波検出器と、前記熱型電磁波検出器の出力を処理する制御回路とを有することができる。
(8)本発明の他の態様は、テラヘルツ帯の電磁波を放射する電磁波源と、基体と、第1面および前記第1面の裏側の第2面を有し、空間層を挟んで前記第2面で前記基体に向き合わせられる支持板片と、前記支持板片上に支持され、テラヘルツ波の電磁波を電気に変換する熱形電磁波検出素子と、表面および前記第2面に連続する裏面を有し、前記空間層を挟んで前記裏面で前記基体に向き合わせられる腕片と、前記基体から立ち上がって頂上面で前記腕片を支持し、前記空間層上に前記支持板片および前記腕片を保持する支柱と、前記熱型電磁波検出器の出力を処理する制御回路と、を備え、前記腕片は、平面視で少なくとも部分的に前記支柱の輪郭に倣う輪郭を有して前記支柱の頂上面に広がる終端部と、前記終端部から連続して、平面視で前記支柱の前記輪郭に倣う前記輪郭に湾曲線の輪郭で接続される補強部と、を備えるテラヘルツカメラに関する。
本発明の一実施形態に係る熱型電磁波検出器の一具体例すなわち電磁波検出器パッケージを概略的に示す断面図である。 センサー基板の拡大部分平面図である。 図2の3−3線に沿った垂直断面および3′−3′線に沿った垂直断面を示す複合的な垂直断面図である。 一具体例に係る腕片の本体および終端部の拡大平面図である。 熱型電磁波検出パッケージの製造にあたって用いられるウエハー基板を概略的に示す断面図である。 ウエハー基板上の犠牲層を概略的に示す断面図である。 ウエハー基板上に形成されたメンブレンを概略的に示す断面図である。 腕片の補強部の形成に用いられるマスクを概略的に示す拡大平面図である。 エッチング処理後のウエハー基板を概略的に示す断面図である。 他の具体例に係る腕片の本体および終端部の拡大平面図である。 さらに他の具体例に係る腕片の本体および終端部の拡大平面図である。 電磁波検出器パッケージを利用した電子機器の一具体例に係るテラヘルツカメラの外観を概略的に示す斜視図である。 テラヘルツカメラの構成を概略的に示すブロック図である。 電磁波検出器パッケージを利用した電子機器の一具体例に係る赤外線カメラの構成を概略的に示すブロック図である。 電磁波検出器パッケージを利用した電子機器の一具体例に係るFA(ファクトリーオートメーション)機器の構成を概略的に示すブロック図である。 電磁波検出器パッケージを利用した電子機器の一具体例に係る人感センサーが組み込まれた電気機器(家電機器)の構成を概略的に示すブロック図である。 電磁波検出器パッケージを利用した電子機器の一具体例に係る運転支援装置が組み込まれた車両の構成を概略的に示す車両の外観図である。 運転支援装置の構成を概略的に示すブロック図である。 電磁波検出器パッケージを利用した電子機器の一具体例に係るゲーム機の外観を概略的に示す斜視図である。 電磁波検出器パッケージを利用した電子機器の一具体例に係るゲーム機コントローラーの構成を概略的に示すブロック図である。
以下、添付図面を参照しつつ本発明の一実施形態を説明する。なお、以下に説明する本実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
(1)電磁波検出器パッケージの全体構成
図1は本発明の一実施形態に係る熱型電磁波検出器の一具体例すなわち電磁波検出器パッケージ11を概略的に示す。電磁波検出器パッケージ11は箱形の筐体12を備える。筐体12は、筐体本体13と、筐体本体13の開口13aを閉鎖するカバー14とを有する。筐体本体13およびカバー14は密閉された内部空間を区画する。筐体本体13は例えば絶縁性のセラミックから形成されることができる。カバー14は特定の波長の電磁波に対して透過性を有する材料から形成されることができる。カバー14が樹脂やセラミックといった絶縁体から形成されれば、カバー14はテラヘルツ帯の電磁波に対して透過性を有することができる。テラヘルツ帯には100GHz〜30THzの周波数帯が含まれることができる。その他、カバー14が例えばシリコンから形成されれば、カバー14は赤外線に対して透過性を有することができる。内部空間では真空状態が確立されることができる。
筐体12には集積回路(IC)基板15およびセンサー基板(基体)16が収容される。IC基板15は集積回路を含む。集積回路は読み出し回路を構成する。IC基板15の裏面は筐体12の内部空間で筐体本体13の底板に固定される。IC基板15は例えば接着剤で底板に接着されればよい。IC基板15はICチップを構成する。センサー基板16はセンサーチップを構成する。
センサー基板16はIC基板15の表面に受け止められる。センサー基板16は裏面でIC基板15の表面に接合される。接合にあたってセンサー基板16とIC基板15との間には導電端子17が挟まれる。導電端子17はIC基板15内の読み出し回路に電気的にセンサー基板16を接続する。ここでは、導電端子17はバンプで構成される。バンプには例えば金バンプが用いられることができる。金バンプは金属接合やはんだ材でIC基板15に接合されることができる。その他、センサー基板16およびIC基板15の接合には樹脂材が用いられてもよい。この場合には、金バンプとIC基板15との間で接触が維持されればよい。金バンプに代えてはんだバンプが用いられてもよい。センサー基板16の表面には1以上の熱型電磁波検出素子18が形成される。
筐体12の外面には外部端子21が設置される。外部端子21は筐体本体13の底板の外面に配置される。外部端子21は導電材から形成される。その一方で、筐体12の内面には中継パッド22が設置される。中継パッド22は筐体12の内部空間で筐体本体13の底板上に配置される。中継パッド22は導電材から形成される。中継パッド22および外部端子21は中継導体23で相互に接続される。中継導体23は筐体本体13の底板を貫通する。中継導体23は導電材から形成される。
中継パッド22は例えばワイヤー配線24でIC基板15に電気的に接続される。ワイヤー配線24は中継パッド22に読み出し回路を接続する。こうして読み出し回路および外部端子21の間で信号経路が形成される。こうした電磁波検出器パッケージ11はソケット(図示されず)にはめ込まれて使用されることができる。外部端子21はソケットの接続端子に接続される。ソケットは必要に応じて大型のプリント配線基板に実装されることができる。
図2はセンサー基板16の拡大部分平面図を示す。センサー基板16の表面には複数行複数列の熱型電磁波検出素子18が配置される。すなわち、熱型電磁波検出素子18のマトリクスが形成される。個々の熱型電磁波検出素子18は焦電型電磁波検出素子で例えられる。熱型電磁波検出素子18は電磁波吸収膜25を備える。電磁波吸収膜25は、所望の電磁波を吸収する材料から形成される。電磁波の吸収に応じて電磁波のエネルギーは蓄積される。電磁波吸収膜25の材料には例えば二酸化珪素(SiO)が用いられることができる。二酸化珪素は赤外線の熱エネルギーを蓄積することができる。熱型電磁波検出素子18は焦電キャパシター26を備える。電磁波吸収膜25は焦電キャパシター26を覆う。焦電キャパシター26は温度変化に応じて電気信号を出力する。
個々の熱型電磁波検出素子18は個別にメンブレン27上に設置される。メンブレン27は二酸化珪素(SiO)膜、窒化シリコン(SiN)膜および二酸化珪素(SiO)膜の三層構造を有する。メンブレン27は平板形状の支持板片28および1対の腕片29を備える。したがって、支持板片28および腕片29は連続する膜で形成される。
支持板片28は例えば四辺形の輪郭に形成されることができる。ここでは、支持板片28は例えば正方形の輪郭を有する。腕片29は本体29aを備える。本体29aの輪郭は平面視で2本の平行な直線で仕切られる。ただし、本体29aは平面視で屈折することができる。屈折に応じて直線状の本体29aは方向転換することができる。本体29aの一端は支持板片28に1対角線上の角で連結される。本体29aは1対角線上の角から相互に向き合う辺に沿って延びる。本体29aの他端には終端部31が接続される。終端部31は本体29aに連続する。終端部31は他方の対角線上の角に隣り合う。支持板片28の表面に電磁波吸収膜25は配置される。
センサー基板16の表面には導電配線32a、32bが形成される。導電配線32a、32bはメンブレン27の表面に電流経路を形成する。導電配線32a、32bは終端部31から本体29aを経て支持板片28上で電磁波吸収膜25下に進入する。後述されるように、電磁波吸収膜25下では電流経路に焦電キャパシター26が挿入される。こうして導電配線32a、32bは焦電キャパシター26から引き出される。
図3に示されるように、焦電キャパシター26は焦電体33を備える。焦電体33は焦電効果を発揮する誘電体から形成される。誘電体には例えばPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)が用いられることができる。焦電体33は温度変化に応じて電気分極量の変化を生み出す。ここでは、焦電体33は薄膜に形成される。
焦電キャパシター26は下部電極34および上部電極35を備える。焦電体33は下部電極34および上部電極35に挟まれる。下部電極34はメンブレン27の表面に形成される。下部電極34は例えばメンブレン27の表面から順番にイリジウム(Ir)、イリジウム酸化物(IrOx)および白金(Pt)の三層構造を有することができる。上部電極35は焦電体33の表面に形成される。上部電極35は焦電体33から順番に白金(Pt)、イリジウム酸化物(IrOx)およびイリジウム(Ir)の三層構造を有することができる。焦電体33の焦電効果に応じて上部電極35および下部電極34の間で焦電流が生起される。こうして熱は電気信号に変換される。
焦電キャパシター26には絶縁層36が覆い被さる。絶縁層36には第1コンタクトホール37および第2コンタクトホール38が形成される。第1コンタクトホール37は絶縁層36を貫通して下部電極34に接する空間を区画する。第1コンタクトホール37に導電配線32aが進入する。導電配線32aは下部電極34に接続される。第2コンタクトホール38は絶縁層36を貫通して上部電極35に接する空間を区画する。第2コンタクトホール38には導電配線32bが進入する。導電配線32bは上部電極35に接続される。こうして焦電キャパシター26は電流経路に挿入される。
導電配線32a、32bは導電材膜で形成されることができる。導電材膜には厚膜および薄膜が含まれる。導電材膜の体積は最大限に縮小されることができる。こうして熱型電磁波検出素子18から引き出される電流経路の熱容量は最大限に縮小される。
上部電極35には熱伝達層39が接続される。熱伝達層39は電磁波吸収膜25内で広がる。熱伝達層39は、例えば電磁波吸収膜25に比べて高い熱伝導率を有する材料から形成される。こうした材料には例えばアルミニウム(Al)やチタン(Ti)といった金属や、窒化アルミニウム(AlN)や窒化チタン(TiN)といった金属化合物が用いられることができる。熱伝達層39は、電磁波吸収膜25で発生する熱を効率的に焦電キャパシター26に伝達することができる。
センサー基板16の表面には全ての腕片29の終端部31ごとに支柱41が形成される。支柱41はセンサー基板16の表面から垂直方向に十分な高さで立ち上がる。支柱41の上端に腕片29の終端部31が連結される。終端部31は支柱41の頂上面に重ねられる。ここで、支柱41およびメンブレン27は、センサー基板16に熱型電磁波検出素子18を連結する構造体を構成する。このとき、メンブレン27は腕片29の終端部31だけで支持されることから、メンブレン27の支持板片28および腕片29の本体29aとセンサー基板16の表面との間には十分な厚みの空間層が形成される。支柱41は支持板片28および腕片29を空間層上に保持する。この空間層の働きで熱型電磁波検出素子18はセンサー基板16の表面から熱的に分離される。支持板片28の裏面(第2面)および腕片29の裏面は面一で連続する。支持板片28および腕片29は空間層を挟んでセンサー基板16の表面にそれぞれ裏面で向き合わせられる。
センサー基板16はベース基板42および絶縁層43を備える。ベース基板42は基体44と絶縁層45とで形成される。基体44は例えば所定の剛性を有する。基体44には例えばシリコン基板が用いられることができる。絶縁層45は基体44の表面に積層される。絶縁層45は絶縁性材料の薄膜で構成されることができる。絶縁性材料には例えば二酸化珪素が用いられることができる。
ベース基板42には貫通電極46、46aが形成される。貫通電極46、46aはベース基板42の表面からベース基板42の裏面(表面の裏側)まで貫通する。貫通電極46、46aは導電材料から形成される。ここでは、導電材料には例えば銅が用いられることができる。導電材料には銅以外の金属材料が用いられてもよい。ベース基板42の裏面には一面に絶縁層47が形成されることができる。絶縁層47は例えば二酸化珪素から形成されることができる。絶縁層47には貫通電極46、46aごとに開口が形成される。貫通電極46、46aの下端は開口で露出する。貫通電極46、46aの下端には対応の導電端子17が個別に接続される。
ベース基板42の表面には熱型電磁波検出素子18ごとに導電材製パッド48が配置される。導電材製パッド48は平板形状に形成される。導電材製パッド48はセンサー基板16の表面に平行に広がる。導電材製パッド48は例えば金属材料から形成される。ここでは、金属材料に例えば銅が用いられることができる。金属材料には銅以外の材料が用いられてもよい。導電材製パッド48は対応の貫通電極46の上端に個別に連結される。
ベース基板42の表面に1層または複数層の絶縁層43が積層される。絶縁層43は例えば二酸化珪素から形成されることができる。絶縁層43はベース基板42の表面を覆う。構造体の支柱41は絶縁層43に一体化されることができる。下部電極34に対応して絶縁層43および支柱41の内部には1段または複数段の層間ビア49が形成される。層間ビア49の下端は導電材製パッド48に連結される。層間ビア49(複数段の場合には最上段の層間ビア49)の上端は導電配線32aに接続される。接続にあたって層間ビア49は腕片29の終端部31を貫通することができる。層間ビア49は例えば導電材料から形成される。ここでは、導電材料に例えば銅が用いられることができる。導電材料には銅以外の金属材料が用いられてもよい。導電配線32a、層間ビア49、導電材製パッド48および貫通電極46は下部電極34および導電端子17の間で連続する導電体を形成する。この導電体は熱型電磁波検出素子18および対応の導電端子17を相互に接続する。
図4に示されるように、腕片29の終端部31は平面視で支柱41の輪郭に倣った輪郭51を有する。ここでは、支柱41は四角形の輪郭を有する。したがって、腕片29の終端部31は四角形の輪郭51を有する。円形の輪郭に比べて四角形の輪郭51は限られた空間に効率的に配置されることができる。
腕片29では本体29aと終端部31との間に補強部52が形成される。補強部52は終端部31および本体29aに連続する。補強部52は平面視で終端部31の輪郭に湾曲線の輪郭線53で接続される。ここでは、湾曲線は2つの変曲点54を有する。2つの変曲点54の間では外側に向かって湾曲面は膨らむ。平面視で、本体29aの側面と変曲点54の間、および、終端部31の側面と変曲点54との間では湾曲面は内側に向かって窪む。こうして本体29aの側面と終端部31の側面とは滑らかな曲面で接続されることができる。変曲点54の働きで応力の集中は確実に緩和されることができる。しかも、補強部52の輪郭は連続する湾曲線のみで形成される。補強部52が湾曲線のみで形作られれば、谷形状の形成は確実に回避されることができる。ここでは、腕片29の厚み方向に輪郭は一定に維持される。
腕片29では終端部31の側面と幅狭の本体29aの側面とは湾曲面の補強部52で相互に接続される。鋭い谷形状の形成は回避されることができる。その結果、応力の集中は緩和される。支持板片28が反り返っても腕片29の本体29aと終端部31との間でクラックの発生は防止されることができる。製造の歩留まりは向上する。特に、熱型電磁波検出素子18の小型化に応じて腕片29の本体29aの輪郭が狭められてもクラックの発生は効果的に防止されることができる。
(2)電磁波検出器パッケージの動作
次に電磁波検出器パッケージ11の動作を簡単に説明する。電磁波検出器パッケージ11に電磁波が届くと、特定の波長の電磁波(例えば赤外線やテラヘルツ帯の電磁波)はカバー14を通過して個々の熱型電磁波検出素子18に行き着く。熱型電磁波検出素子18では電磁波が電磁波吸収膜25に吸収され電磁波吸収膜25で熱が発生する。熱は熱伝達層39の働きで効率的に焦電体33に伝達される。こうした熱や直接に照射される電磁波に応じて焦電体33の温度は変化する。温度の変化に応じて電気分極量の変化が生み出され、焦電流が生じる。この焦電流の電圧は例えばFETのゲートに伝達される。電気分極量の変化に応じて電圧は変化する。こうして例えばソースフォロワー回路による検出は実施される。個々の熱型電磁波検出素子18ごとに温度情報が得られることができる。
(3)電磁波検出器パッケージの製造方法
次に電磁波検出器パッケージ11の製造方法を簡単に説明する。まず、図5に示されるように、ウエハー基板61が用意される。ウエハー基板61は円盤形の基体と絶縁層とで構成される。基体には例えばシリコンウエハーが用いられることができる。絶縁層は基体の表面に一面に積層される。絶縁層は絶縁性材料の薄膜で構成されることができる。絶縁性材料には例えば二酸化珪素が用いられることができる。
ウエハー基板61の表面には複数層の絶縁層62が積層される。絶縁層62は絶縁性材料の薄膜で構成されることができる。絶縁性材料には例えば二酸化珪素が用いられることができる。絶縁層62の積層にあたってウエハー基板61の絶縁層の表面には導電材製パッド48が形成される。同様に、絶縁層62には層間ビア49が形成される。最上層の絶縁層62から支柱41が形成される。支柱41の形成にあたって例えばフォトリソグラフィ技術が用いられることができる。その後、絶縁層62の露出面にはエッチングストップ層が成膜される。エッチングストップ層は後述のエッチング液に無反応な材料で構成される。
図6に示されるように、絶縁層62の表面には犠牲層63が形成される。犠牲層63に支柱41は埋もれる。犠牲層63には後述のエッチング液でエッチングされる材料が用いられる。犠牲層63の働きでウエハー基板61の表面で平面が確立される。続いて、犠牲層63の表面に一面にメンブレン27の素材膜64が形成される。この素材膜64は例えば二酸化珪素(SiO)膜、窒化シリコン(SiN)膜および二酸化珪素(SiO)膜の積層膜で構成されることができる。素材膜64の表面には導電配線32a、32bや熱型電磁波検出素子18が形成される。
図7に示されるように、素材膜64からメンブレン27が形成される。形成にあたって例えばフォトリソグラフィ技術が用いられることができる。図8に示されるように、腕片29の補強部52の形成にあたってマスク65の角は四角く内側に切り取られる。こうして形成される2つの直角と直角の間に形成される隅の働きで補強部52の輪郭線には変曲点54が形成されることができる。マスク65はフォトレジスト膜のパターン形成にあたって用いられる。前述のようにメンブレン27では支持板片28および腕片29は連続する膜で形成される。したがって、例えばフォトリソグラフィ技術に基づき支持板片28および腕片29は同時に形成されることができる。
メンブレン27の形成後、図9に示されるように、犠牲層63が取り払われる。エッチング処理が実施される。犠牲層63は例えばエッチング液に曝される。その結果、犠牲層63は溶解する。溶解はエッチングストップ層で停止する。こうしてメンブレン27と絶縁層62の露出面との間に空気層が形成される。
(4)腕片の変形例
図10に示されるように、腕片29では本体29aの一方の側面と終端部31の側面とは面一に接続されることができる。こうした場合には、本体29aの輪郭と終端部31との輪郭は直線で接続されるものの、本体29aと終端部31との間で応力集中は緩和されることができる。その他、図11に示されるように、支柱41の輪郭は円形に形成されてもよい。この場合でも、補強部52は湾曲線のみで形成されることができる。こうして応力集中は緩和されることができる。
(5)テラヘルツカメラ
図12は電磁波検出器パッケージ11を利用した電子機器の一具体例に係るテラヘルツカメラ101の構成を概略的に示す。テラヘルツカメラ101は筐体102を備える。筐体102の正面にはスリット103が形成されレンズ104が装着される。スリット103からテラヘルツ帯の電磁波が対象物に向かって照射される。こうした電磁波にはテラヘルツ波といった電波および赤外線といった光が含まれる。ここでは、テラヘルツ帯には100GHz〜30THzの周波数帯が含まれることができる。レンズ104には対象物から反射してくるテラヘルツ帯の電磁波が取り込まれる。
テラヘルツカメラ101の構成をさらに詳しく説明すると、図13に示されるように、テラヘルツカメラ101は照射源(電磁波源)105を備える。照射源105には駆動回路106が接続される。駆動回路106は照射源105に所望の駆動信号を供給する。照射源105は駆動信号の受領に応じてテラヘルツ帯の電磁波を放射する。照射源105には例えばレーザー光源が用いられることができる。
レンズ104は光学系107を構成する。光学系107はレンズ104のほかに光学部品を備えてもよい。レンズ104の光軸108上に電磁波検出器パッケージ11が配置される。センサー基板13の表面は例えば光軸108に直交する。光学系107は熱型電磁波検出素子18のマトリクス上に像を結像する。電磁波検出器パッケージ11にはアナログデジタル変換回路109が接続される。アナログデジタル変換回路109には電磁波検出器パッケージ11から熱型電磁波検出素子18の出力が順番に時系列で供給される。アナログデジタル変換回路109は出力のアナログ信号をデジタル信号に変換する。
アナログデジタル変換回路109には演算処理回路(処理回路)111が接続される。演算処理回路111にはアナログデジタル変換回路109からデジタルの画像データが供給される。演算処理回路111は画像データを処理し表示画面の画素ごとに画素データを生成する。演算処理回路111には描画処理回路112が接続される。描画処理回路112は画素データに基づき描画データを生成する。描画処理回路112には表示装置113が接続される。表示装置113には例えば液晶ディスプレイといったフラットパネルディスプレイが用いられることができる。表示装置113は描画データに基づき画面上に画像を表示する。描画データは記憶装置114に格納されることができる。紙やプラスチック、繊維その他の物体に対する透過性、および、物質固有の吸収スペクトルに基づきテラヘルツカメラ101は検査装置として利用されることができる。
その他、テラヘルツカメラ101は物質の定性分析や定量分析に利用されることができる。こうした利用にあたって例えばレンズ104の光軸108上には特定周波数のフィルターが配置されることができる。フィルターは特定波長以外の電磁波を遮断する。したがって、特定波長の電磁波のみが電磁波検出器パッケージ11に到達することができる。これによって特定の物質の有無や量は検出されることができる。
(6)赤外線カメラ
図14は電磁波検出器パッケージ11を利用した電子機器の一具体例に係る赤外線カメラ121の構成を概略的に示す。赤外線カメラ121は光学系122を備える。光学系122の光軸123上に電磁波検出器パッケージ11は配置される。センサー基板16の裏面は例えば光軸123に直交する。光学系122は熱型電磁波検出素子18のマトリクス上に像を結像する。電磁波検出器パッケージ11にはアナログデジタル変換回路124が接続される。アナログデジタル変換回路124には電磁波検出器パッケージ11から熱型電磁波検出素子18の出力が順番に時系列で供給される。アナログデジタル変換回路124は出力のアナログ信号をデジタル信号に変換する。
アナログデジタル変換回路124には演算処理回路(制御回路)125が接続される。演算処理回路125にはアナログデジタル変換回路124からデジタルの画像データが供給される。演算処理回路125は画像データを処理し表示画面の画素ごとに画素データを生成する。演算処理回路125には描画処理回路126が接続される。描画処理回路126は画素データに基づき描画データを生成する。描画処理回路126には表示装置127が接続される。表示装置127には例えば液晶ディスプレイといったフラットパネルディスプレイが用いられることができる。表示装置127は描画データに基づき画面上に画像を表示する。描画データは記憶装置128に格納されることができる。
赤外線カメラ121はサーモグラフィとして利用されることができる。この場合には赤外線カメラ121は表示装置127の画面に熱分布画像を映し出すことができる。熱分布画像の生成にあたって演算処理回路125では温度帯域ごとに画素の色が設定される。サーモグラフィは人体の温度分布の測定や体温そのものの測定に用いられることができる。その他、サーモグラフィはFA(ファクトリーオートメーション)機器に組み込まれて熱漏れや異常な温度変化の検出に用いられることができる。例えば図15に示されるように、FA機器(電子機器)131はFA機能ユニット132を備える。FA機能ユニット132は特定の機能の実現にあたって動作する。FA機能ユニット132には制御回路(処理回路)133が接続される。制御回路133は加熱や加圧、機械的処理、化学的処理、その他のFA機能ユニット132の動作を制御する。制御回路133には赤外線カメラ121、表示装置134およびスピーカー135などが接続される。赤外線カメラ121は撮像範囲内でFA機能ユニット132を撮像する。制御回路133は、撮像範囲内で異常な高温や温度変化を検出すると、FA機能ユニット132に向けて動作停止信号を出力したり、表示装置134やスピーカー135に向けて警告信号を出力したりすることができる。異常な高温や温度変化の検出にあたって制御回路133は例えばメモリ(図示されず)内に基準温度分布データを保持する。基準温度分布データは平常時の撮像範囲内の温度分布を特定する。制御回路133は基準温度分布データの熱分布にリアルタイムの熱分布画像を照らし合わせることができる。その他、サーモグラフィは物体と周囲との温度差に基づき物体の検出に用いられることができる。
赤外線カメラ121はナイトビジョンすなわち暗視カメラとして利用されることができる。この場合には赤外線カメラ121は表示装置127に例えば暗闇での画像を映し出すことができる。暗視カメラは、例えばセキュリティ機器の一具体例としての監視カメラや、人感センサー、運転支援装置その他に利用されることができる。人感センサーは、エスカレーターや照明器具、空気調和機、テレビといった電気機器(家電機器)のオンオフ制御、その他の制御に用いられることができる。例えば図16に示されるように、電気機器136は機能ユニット137を備える。機能ユニット137は特定の機能の実現にあたって機械的動作や電気的動作を実施する。機能ユニット137には人感センサー138が接続される。人感センサー138は赤外線カメラ121を備える。赤外線カメラ121は監視範囲内で撮像を実施する。赤外線カメラ121には判定回路(制御回路)139が接続される。判定回路139は熱分布画像に基づき人の存在または不存在を判定する。判定にあたって判定回路139は画像内で特定温度域(例えば体温の温度域の塊)の動きを検出する。判定回路139は人の存在または不存在を特定する判定信号を機能ユニット137に供給する。機能ユニット137は判定信号の受領に応じてオンオフ制御されることができる。例えば図17に示されるように、運転支援装置(電子機器)141は赤外線カメラ121およびヘッドアップディスプレイ142を備える。赤外線カメラ121は例えば車両143のフロントノーズ144に取り付けられる。赤外線カメラ121は、車両143から前方に広がる撮像範囲を撮像する位置に配置される。ヘッドアップディスプレイ142は例えばフロントウインドウ145の運転席側に配置される。ヘッドアップディスプレイ142には赤外線カメラ121の画像が映し出されることができる。ヘッドアップディスプレイ142の画面では例えば撮像範囲で捕捉される歩行者の像は強調されることができる。図18に示されるように、赤外線カメラ121およびヘッドアップディスプレイ142には処理回路(制御回路)146が接続される。処理回路146には車速センサー147、ヨーレートセンサー148およびブレーキセンサー149が接続される。車速センサー147は車両143の走行速度を検出する。ヨーレートセンサー148は車両143のヨーレートを検出する。ブレーキセンサー149はブレーキペダルの操作の有無を検出する。処理回路146は車両143の走行状態に応じて特定の歩行者を選別する。処理回路146は車両143の走行速度、ヨーレートおよびブレーキの踏み具合に応じて車両143の走行状態を特定する。処理回路146はスピーカー151から例えば音声に基づき運転者の注意を促してもよい。
(7)ゲーム機コントローラー
図19は電磁波検出器パッケージ11を利用した電子機器の一具体例に係るゲーム機152の構成を概略的に示す。ゲーム機152はゲーム機本体153、表示装置154およびコントローラー(電子機器)155を備える。表示装置154は例えば有線でゲーム機本体153に接続される。ゲーム機本体153の動作は表示装置154の画面に映し出される。プレーヤーGはコントローラー155を用いてゲーム機本体153の動作を操作することができる。こうした操作の実現にあたってコントローラー155には例えば1対のLEDモジュール156から赤外線が照射される。LEDモジュール156は例えば表示装置154の画面の周囲でベゼルに取り付けられることができる。
図20に示されるように、コントローラー155には電磁波検出器パッケージ11が組み込まれる。電磁波検出器パッケージ11には赤外線フィルター157および光学系(例えばレンズ)158が組み合わせられてもよい。電磁波検出器パッケージ11はLEDモジュール156から放射される赤外線を受光することができる。電磁波検出器パッケージ11には画像処理回路159が接続される。画像処理回路159は予め決められた画面内でLEDモジュール156の赤外線スポットを画像化する。画像処理回路159には演算処理回路(制御回路)161が接続される。演算処理回路161は赤外線スポット情報を生成する。この赤外線スポット情報では、予め決められた画面内で赤外線スポットの位置および大きさが特定される。赤外線スポットの位置はLEDモジュール156の位置に対応する。赤外線スポットの大きさはLEDモジュール156との距離に対応する。演算処理回路161には無線モジュール162が接続される。赤外線スポット情報は無線モジュール162からゲーム機本体153に送り込まれる。ここでは、演算処理回路161に操作スイッチ163や加速度センサー164が接続される。操作スイッチ163の操作信号や加速度センサー164の加速度情報は無線モジュール162からゲーム機本体153に供給される。ゲーム機本体153は無線モジュール165で操作信号や赤外線スポット情報、加速度情報を受信する。ゲーム機本体153内のプロセッサー166は、操作信号に基づき操作スイッチ163の動作を特定し、赤外線スポット情報および加速度情報に基づきコントローラー155の動きを特定する。こうして操作スイッチ163の動作やコントローラー155の動きに応じてゲーム機本体153は制御されることができる。LEDモジュール156はプロセッサー166に接続されることができる。プロセッサー166はLEDモジュールの動作を制御することができる。
なお、上記のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。したがって、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれる。例えば、明細書または図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語とともに記載された用語は、明細書または図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えられることができる。また、電磁波検出器パッケージ11や熱型電磁波検出素子18、テラヘルツカメラ101、赤外線カメラ121、FA機器131、電気機器、家電機器、人感センサー138、ゲーム機152、ゲーム機コントローラー155等の構成および動作も本実施形態で説明したものに限定されず、種々の変形が可能である。
11 電磁波検出器(電磁波検出器パッケージ)、15 集積回路基板、16 熱型電磁波検出素子チップ(センサー基板)、18 熱型電磁波検出素子、28 支持板片、29 腕片、29a 本体、31 終端部、41 支柱、43 基体(絶縁層)、51 終端部の輪郭、52 補強部、53 補強部の輪郭(輪郭線)、54 変曲点、101 電子機器(テラヘルツカメラ)、111 処理回路(演算処理回路)、121 電子機器(赤外線カメラ)、125 制御回路(演算処理回路)、131 電子機器(ファクトリーオートメーション機器)、133 制御回路、136 電子機器(電気機器および家電機器)、139 制御回路(判定回路)、141 電子機器(運転支援装置)、146 制御回路(処理回路)、152 電子機器(ゲーム機)、155 電子機器(ゲーム機コントローラー)、161 制御回路(演算処理回路)。

Claims (8)

  1. 基体と、
    第1面および前記第1面の裏側の第2面を有し、空間層を挟んで前記第2面で前記基体に向き合わせられる支持板片と、
    前記支持板片上に支持される熱形電磁波検出素子と、
    表面および前記第2面に連続する裏面を有し、前記空間層を挟んで前記裏面で前記基体に向き合わせられる腕片と、
    前記基体から立ち上がって頂上面で前記腕片を支持し、前記空間層上に前記支持板片および前記腕片を保持する支柱と、を備え、
    前記腕片は、平面視で少なくとも部分的に前記支柱の輪郭に倣う輪郭を有して前記支柱の頂上面に広がる終端部と、前記終端部から連続して、平面視で前記支柱の前記輪郭に倣う前記輪郭に湾曲線の輪郭で接続される補強部と、
    を備えることを特徴とする熱型電磁波検出素子チップ。
  2. 請求項1に記載の熱型電磁波検出素子チップにおいて、前記支持板片および前記腕片は連続する膜で形成されることを特徴とする熱型電磁波検出素子チップ。
  3. 請求項1または2に記載の熱型電磁波検出素子チップにおいて、前記終端部の輪郭は四角形に形成されることを特徴とする熱型電磁波検出素子チップ。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の熱型電磁波検出素子チップにおいて、前記湾曲線の輪郭は変曲点を有することを特徴とする熱型電磁波検出素子チップ。
  5. 請求項1〜4に記載の熱型電磁波検出素子チップにおいて、前記補強部の輪郭は連続する湾曲線のみで形成されることを特徴とする熱型電磁波検出素子チップ。
  6. 請求項1〜5のいずれか1項に記載の熱型電磁波検出素子チップと、
    前記熱型電磁波検出素子チップに結合され、前記熱型電磁波検出素子に電気的に接続される集積回路を含む集積回路基板と
    を備えることを特徴とする熱型電磁波検出器。
  7. 請求項6に記載の熱型電磁波検出器と、前記熱型電磁波検出器の出力を処理する制御回路とを有することを特徴とする電子機器。
  8. テラヘルツ帯の電磁波を放射する電磁波源と、
    基体と、
    第1面および前記第1面の裏側の第2面を有し、空間層を挟んで前記第2面で前記基体に向き合わせられる支持板片と、
    前記支持板片上に支持され、テラヘルツ波の電磁波を電気に変換する熱形電磁波検出素子と、
    表面および前記第2面に連続する裏面を有し、前記空間層を挟んで前記裏面で前記基体に向き合わせられる腕片と、
    前記基体から立ち上がって頂上面で前記腕片を支持し、前記空間層上に前記支持板片および前記腕片を保持する支柱と、
    前記熱型電磁波検出器の出力を処理する制御回路と、を備え、
    前記腕片は、平面視で少なくとも部分的に前記支柱の輪郭に倣う輪郭を有して前記支柱の頂上面に広がる終端部と、前記終端部から連続して、平面視で前記支柱の前記輪郭に倣う前記輪郭に湾曲線の輪郭で接続される補強部と、
    を備えることを特徴とするテラヘルツカメラ。
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