JP2014029890A - 発光素子用基板および発光装置 - Google Patents

発光素子用基板および発光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014029890A
JP2014029890A JP2010259593A JP2010259593A JP2014029890A JP 2014029890 A JP2014029890 A JP 2014029890A JP 2010259593 A JP2010259593 A JP 2010259593A JP 2010259593 A JP2010259593 A JP 2010259593A JP 2014029890 A JP2014029890 A JP 2014029890A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
conductor layer
emitting element
substrate
inner conductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2010259593A
Other languages
English (en)
Inventor
篤人 ▲橋▼本
Atsuto Hashimoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP2010259593A priority Critical patent/JP2014029890A/ja
Priority to PCT/JP2011/076578 priority patent/WO2012067204A1/ja
Priority to TW100142278A priority patent/TW201228055A/zh
Publication of JP2014029890A publication Critical patent/JP2014029890A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/64Heat extraction or cooling elements
    • H01L33/642Heat extraction or cooling elements characterized by the shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12041LED
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/483Containers
    • H01L33/486Containers adapted for surface mounting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/64Heat extraction or cooling elements
    • H01L33/647Heat extraction or cooling elements the elements conducting electric current to or from the semiconductor body

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

【課題】熱放散性の低下を抑制しつつ、裏面側の電気的絶縁性を確保した発光素子用基板を提供すること。
【解決手段】発光素子用基板1は、発光素子が搭載される第1の主面11aおよび第2の主面11bを有する基板本体11と、第2の主面11bに達しないように第1の主面11aから厚さ方向に延ばされた第1の内部導体層12と、基板本体11の内部に配置されて水平方向に広がるとともに第1の内部導体層12に接続された第2の内部導体層13とを有する。第1の内部導体層12は、発光素子が搭載される搭載領域14の面積よりも断面積が大きく、かつ搭載領域14を含むように形成される。第2の内部導体層13は、第2の主面11bからの距離L1が第1の主面11aと第2の主面11bとの間の面間距離L2の5〜60%となる位置に形成され、かつその水平方向の大きさが第1の内部導体層12の水平方向の大きさの200%以上である。
【選択図】図1

Description

本発明は、発光素子用基板および発光装置に関する。
近年、発光ダイオード(LED)素子等の発光素子を用いた発光装置の高輝度、白色化に伴い、携帯電話や大型液晶TV等のバックライトに発光装置が用いられている。しかしながら、発光素子の高輝度化に伴い、発光装置から発生する熱も増加しており、発光素子の輝度の低下をなくすために、このような熱を素子より速やかに拡散する高い熱拡散性を有する発光素子用基板が必要となっている。熱拡散性の高い発光素子用基板として、例えば発光素子用基板を主として構成する絶縁基体よりも高い熱伝導率を有する貫通金属体を該絶縁基体に貫通して設けることが知られている。そして、この貫通金属体上に発光素子を搭載することにより、発光素子から発生する熱を放熱している。また、貫通金属体として、例えばCu、Ag、Au等を主成分とし、発光素子の搭載面積よりも大きいものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開2006−41230号公報
しかしながら、ハイパワー型の発光装置では、その寿命を確保する観点から、より熱放散性の高い発光素子用基板が求められている。ハイパワー型の発光装置の場合、例えば発光素子が高温になりやすいことから、輝度の低下等の特性劣化が発生しやすく、また発光素子を覆うモールド樹脂やその内部に含有される蛍光体の劣化が発生しやすい。
また、発光装置では、発光素子が搭載される主面とは反対の裏面側において、一対の外部電極端子間の電極間距離等が問題となることがある。例えば、上部と下部とに一対の素子電極を有する発光素子を貫通金属体上に搭載し、貫通金属体を導電経路として利用した場合、裏面側の一対の外部電極端子の電極間距離等の電気的絶縁性が問題となりやすい。特に、ハイパワー型の発光装置のように入力電力が大きい場合や、熱放散性を確保するために貫通金属体の断面積を大きくした場合に、電極間距離等の電気的絶縁性が問題となりやすい。また、外部回路を放熱に利用する従来の構成では十分な放熱を得られないため、電気回路と放熱構造を電気的に絶縁して十分な放熱性を得られる放熱フィンを設ける必要性が高まってきた。このため、高い熱放散性を確保しつつ、裏面側の電気的絶縁性も確保できる発光素子用基板が求められている。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、発光素子が好適に搭載される金属体を有する発光素子用基板において、熱放散性の低下を抑制しつつ、裏面側の電気的絶縁性も確保できるものを提供することを目的としている。また、本発明は、このような発光素子用基板を用いた発光装置を提供することを目的としている。
本発明の発光素子用基板は、発光素子が搭載される第1の主面および前記第1の主面に対向する第2の主面を有する無機絶縁材料からなる基板本体と、前記基板本体の内部に配置されて前記第2の主面に達しないように前記第1の主面から厚さ方向に柱状に延ばされた第1の内部導体層と、前記基板本体の内部に配置されて水平方向に広がるとともに前記第1の内部導体層に接続された第2の内部導体層とを有する。
前記第1の内部導体層は、前記第1の主面の前記発光素子が搭載される搭載領域に形成されることを特徴とする。前記第2の内部導体層は、前記第2の主面からの距離が前記第1の主面と前記第2の主面との間の面間距離の5〜60%となる位置に形成され、かつその水平方向の大きさが前記第1の内部導体層の水平方向の大きさの200%以上であることを特徴とする。
本発明の発光装置は、前記発光素子用基板と、前記発光素子用基板の前記搭載領域に搭載された発光素子とを有することを特徴とする。
本発明の発光素子用基板によれば、第2の主面に達しないように所定の位置および大きさに形成された第1の内部導体層と、この第1の内部導体層に接続するように所定の位置に形成されるとともに所定の大きさとなるように水平方向に広がる第2の内部導体層とを有することで、熱放散性の低下を抑制しつつ、裏面側の電気的絶縁性も確保できる。また、本発明の発光装置によれば、上記発光素子用基板を有することで、熱放散性の低下を抑制しつつ、裏面側の電気的絶縁性も確保でき、結果として寿命や信頼性を確保できる。
実施形態の発光素子用基板の一例を示す断面図。 図1に示す発光素子用基板の平面図。 変形例の発光素子用基板の一例を示す断面図。 図3に示す発光素子用基板の平面図。 実施形態の発光装置の一例を示す断面図。 図5に示す発光装置の平面図。 比較例1の発光装置を示す断面図。 比較例2の発光装置を示す断面図。
以下、本発明の実施の形態について説明する。
図1は、実施形態の発光素子用基板を示す断面図である。発光素子用基板1は、図示しないLED素子等の発光素子が搭載される第1の主面11aおよび該第1の主面11aに対向する第2の主面11bを有する無機絶縁材料からなる基板本体11と、この基板本体11の内部に配置されて第2の主面11bに達しないように第1の主面11aから厚さ方向に柱状に延ばされた第1の内部導体層12と、基板本体11の内部に配置されて水平方向に広がるとともに第1の内部導体層12に接続された第2の内部導体層13とを有する。
第1の内部導体層12は、例えば図2に示すように第1の主面の発光素子が搭載される搭載領域14の面積よりも断面積が大きく、かつ搭載領域14を含むように形成されている。第2の内部導体層13は、第2の主面11bからの距離L1が第1の主面11aと第2の主面11bとの間の面間距離L2の5〜60%(5≦L1/L2×100≦60)となる位置に形成され、かつその水平方向の大きさが第1の内部絶縁層12の水平方向の大きさの200%以上とされている。なお、第1の内部導体層12や第2の内部導体層13の水平方向の大きさとは、図2に示されるような平面視における大きさ(面積)である。
通常、搭載領域14は、第1の主面11aの中央部分とされている。第1の主面11aには、例えば発光素子の1対の素子電極が電気的に接続される第1の配線導体層15および第2の配線導体層16が設けられる。第1の配線導体層15は、搭載領域14から所定の間隔をあけて設けられる。第2の配線導体層16は、例えば搭載領域14を覆うとともに、搭載領域14から外側に向けて連続して形成されている。また、第1の主面11aには、例えば搭載領域14、第1の配線導体層15、第2の配線導体層16を囲むように枠体23が設けられている。
第2の主面11bには、例えば第1の外部電極端子17、第2の外部電極端子18が設けられている。第1の外部電極端子17は、基板本体11の内部に厚さ方向に設けられた柱状の第1の接続ビア21を介して第1の配線導体層15に電気的に接続されている。同様に、第2の外部電極端子18も、基板本体11の内部に厚さ方向に設けられた柱状の第2の接続ビア22を介して第2の配線導体層16に電気的に接続されている。
この発光素子用基板1は、1ワイヤタイプ、すなわち上面と下面とにそれぞれ素子電極を有する発光素子の搭載に好適に用いられる。すなわち、発光素子の上面の素子電極が第1の配線導体層15にボンディングワイヤにより電気的に接続され、下面の素子電極が第2の配線導体層16の搭載領域14に電気的に接続される。
発光素子用基板1によれば、基板本体11の内部に厚さ方向に設けられる第1の内部導体層12が第2の主面11bに達しないように設けられているために、第2の主面11b側の電気的絶縁性を有効に確保できる。また、このように第1の内部導体層12が第2の主面11bに達しない場合でも、この第1の内部導体層12に接続して水平方向に広がる第2の内部導体層13を有することから、第1の内部導体層12が第2の主面11bに達する場合に近い熱放散性を確保できる。特に、第2の主面11bから第2の内部導体層13までの距離L1を、第1の主面11aと第2の主面11bとの間の面間距離L2の5〜60%、第2の内部導体層13の水平方向の大きさを第1の内部絶縁層12の水平方向の大きさの200%以上とすることで、第2の主面11b側の電気的絶縁性を確保しつつ、熱放散性も確保できる。
第2の内部導体層13の位置が上記位置よりも第1の主面11aに近い場合、例えば第1の内部導体層12の第2の内部導体層までの長さが短くなる場合、第1の内部導体層12の第2の主面側への放熱効果を十分に得られないおそれがある。また、発光素子に近い位置、すなわち高温となる位置に第2の内部導体層13が配置されることから、十分な放熱効果が得られない。放熱効果や電気的絶縁性の観点等から、第2の内部導体層13の位置(L1/L2×100[%])は、5〜60%が好ましく、5〜40%がより好ましく、10〜30%がさらに好ましい。
第2の内部導体層13の水平方向の大きさが第1の内部絶縁層12の大きさの200%未満の場合、第2の内部導体層13が上記位置に形成されたとしても、十分な放熱効果を得られない。十分な放熱効果を得る観点から、第2の内部導体層13の大きさは、第1の内部絶縁層12の大きさの400%以上が好ましく、600%以上がより好ましい。また、基板本体11に対しては、後述するように基板本体11の信頼性を確保する観点から、基板本体11の水平方向の大きさの95%以下が好ましく、90%以下がより好ましい。
基板本体11、枠体23は、無機絶縁材料からなるものであれば必ずしも限定されるものではなく、例えば酸化アルミニウム質焼結体(アルミナセラミックス)、窒化アルミニウム質焼結体、ムライト質焼結体、ガラス粉末とセラミックス粉末とを含むガラスセラミックス組成物の焼結体(LTCC)等からなるものとすることができる。これらの中でも、高反射性、生産性、易加工性、経済性等の観点から、LTCCが好ましい。
第1の内部導体層12、第2の内部導体層13は、金属材料からなるものであれば必ずしも限定されないが、Cu、Ag、Auのうち少なくとも1種を主成分とすることが好ましい。Cu、Ag、Auのうち少なくとも1種を主成分とすることで、例えば基板本体11がLTCCである場合に同時焼成により形成でき、また熱放散性も良好にできる。これらの中でも、特にAgを主成分とすることが好ましい。
第1の内部導体層12の断面積は、搭載領域14の面積の0.2〜4倍が好ましい。なお、第1の内部導体層12の断面積、搭載領域14の面積は、いずれも図2に示されるような平面視における断面積、面積である。第1の内部導体層12の断面積を搭載領域14の面積の0.2倍以上とすることで、伝熱面積を大きくして発光素子の熱を効果的に放熱させることができる。また、4倍以下とすることで、第1の内部導体層12を第2の主面11bに近い位置まで設けた場合にも、第1の外部電極端子17や第2の外部電極端子18と第1の内部導体層12との間隔を確保し、第2の主面11b側の電気的絶縁性を効果的に確保できる。また、略同様の理由から、第1の内部導体層12の断面積は、基板本体11の面積の5〜30%が好ましい。なお、基板本体11の面積についても、図2に示されるような平面視における面積を意味する。第1の内部導体層は搭載領域に形成されるが、一つでもよいし複数個でもよい。
第1の内部導体層12の断面形状は、必ずしも限定されるものではないが、伝熱経路としての機能を確保するとともに、生産性についても良好とする観点から、円形状もしくは楕円形状、または正方形状もしくは矩形状が好ましい。
第2の内部導体層13は、基板本体11の側面部に達しないように設けられていることが好ましい。第2の内部導体層13が基板本体11の側面部に達するような大きさとなると、例えば基板本体11が第2の内部導体層13によって上下に完全に分割された状態となり、第2の内部導体層13の位置での剥離等が発生しやすくなる。このため、第2の内部導体層13の大きさは、上記したように基板本体11の大きさの95%以下が好ましく、90%以下がより好ましい。
第2の内部導体層13の厚さは5〜50μmが好ましい。第2の内部導体層13の厚さを5μm以上とすることで、第2の内部導体層13の均質な膜としての各部の品質を一定にしやすく、また横方向に伝熱する際の断面積の増加により伝熱性を高めて十分な熱放散性も確保できる。また、第2の内部導体層13の厚さを50μm以下とすることで、熱膨張率の違いなどによる基板本体11の特性低下も抑制しやすい。第2の内部導体層13の厚さは、伝熱性や形成の容易性等から、10〜40μmが好ましく、10〜30μmがより好ましい。
第2の内部導体層13の形状は、必ずしも限定されないが、放熱面積を確保する観点から円形状もしくは楕円形状、または正方形状もしくは矩形状が好ましい。なお、第2の内部導体層13には、例えば第1の接続ビア21等との電気的な絶縁性を確保する観点から、一部に孔部が形成されていてもよい。第2の内部導体層13の形状は伝熱の観点から全体が連続している必要があるが、少なくとも全体が連続していればその形状は限定されない。
第1の配線導体層15、第2の配線導体層16、第1の外部電極端子17、第2の外部電極端子18、第1の接続ビア21、第2の接続ビア22は、金属材料からなるものであれば必ずしも限定されないが、Cu、Ag、Auのうち少なくとも1種を主成分とすることが好ましい。Cu、Ag、Auのうち少なくとも1種を主成分とすることで、例えば基板本体11がLTCCである場合に同時焼成により形成でき、また熱放散性も良好にできる。これらの中でも、特にAgを主成分とすることが好ましい。
また、これらの形状等についても特に限定されるものではなく、第2の主面11b側の電気的絶縁性を有効に確保でき、また熱放散性を過度に低下させるものでなければ、特に限定されるものではなく、基本的に公知の発光素子用基板と同様の形状等とすることができる。
図3、4は、変形例の発光素子用基板1を示す断面図、平面図である。
発光素子用基板1には、必ずしも図1に示すように第1の内部導体層12や第2の内部導体層13とは完全に分離して第2の配線導体層16や第2の接続ビア22を設ける必要はなく、第2の配線導体層16や第2の接続ビア22の機能を第1の内部導体層12や第2の内部導体層13に持たせてもよい。この場合、例えば図3に示すように第2の内部導体層13から第2の外部電極端子18に第2の接続ビア22を延ばすように形成すればよい。
また、第1の内部導体層12の第2の主面11b側の端部12bは必ずしも第2の内部導体層13と同一位置である必要はなく、第2の内部導体層13よりも第2の主面11b側に突出していてもよい。この場合、端部12bは、第2の主面11aから端部12bまでの距離L3が第1の主面11aと第2の主面11bとの間の面間距離L2の5〜60%(5≦L3/L2×100≦60)となる位置が好ましい。なお、図3、4に示す発光素子用基板1は、第2の内部導体層13の形状を円形状とし、かつ枠体23よりも一回り小さな大きさとしている。
図5、6は、実施形態の発光装置の一例を示す断面図、平面図である。
発光装置31は、発光素子用基板1を有し、その第2の配線導体層16の搭載領域14にLED素子等の発光素子32がダイボンド材からなる接合部33により固定されている。発光素子32は、例えば上面および下面にそれぞれ電極32a、32bを有している。上面電極32aは、ボンディングワイヤ34によって第1の配線導体層15に電気的に接続されている。下面電極32bは、接合部33によって第2の配線導体層16に電気的に接続されている。さらに、これらの発光素子32やボンディングワイヤ34を覆うように、モールド樹脂からなる封止層35が設けられている。
発光装置31によれば、熱拡散性や第2の主面11b側の電気的絶縁性が確保された発光素子用基板1を有することから、入力電力が0.1W〜5Wである発光素子32を搭載した場合に、その特性劣化等を抑制し、良好な信頼性を得ることができる。このような発光装置31は、例えば携帯電話や液晶ディスプレイ等のバックライト、自動車用あるいは装飾用の照明、その他の光源として好適に使用でき、特にハイパワーが要求される光源に好適に使用できる。
次に、発光素子用基板1の製造方法について説明する。
発光素子用基板1は、以下の(A)〜(D)の各工程を含む製造方法により製造できる。より具体的には、以下の(A)〜(D)工程をこの順に従って本発明に係る発光素子要基板を製造するのが好ましい。なお、以下の説明では、図1に示す発光素子用基板1を例に挙げて説明する。また、発光素子用基板1の製造に用いる部材について、完成品の部材と同一の符号を付して説明する。
(A)本体用グリーンシート作製工程
ガラス粉末とセラミックス粉末とを含むガラスセラミックス組成物を用いて、基板本体11を形成するためのグリーンシート(本体用グリーンシート)等を作製する。なお、本体用グリーンシート11は、基板本体11の内部構造等に応じて厚さ方向に分割して形成できる。図1に示す発光素子用基板1の場合、例えば上層の主として第1の内部導体層12を有する部分を形成するための上層用グリーンシート、下層の主として第2の内部導体層13を有する下層用グリーンシートを形成する。また、この工程では、枠体を形成するために枠体用グリーンシートの作製も行われる。
(B)導体ペースト層形成工程
各本体用グリーンシート11の所定の位置に導体ペースト層を形成することにより、第1、第2の未焼成内部導体層12、13、第1、第2の未焼成配線導体層15、16、第1、第2の未焼成外部電極端子17、18、第1、第2の未焼成接続ビア21、22をそれぞれ形成する。
(C)積層工程
本体用グリーンシート11に導体ペースト層が形成された複数枚の未焼成本体部材11(以下、導体ペースト層付きグリーンシートともいう。)等を重ね合わせ、熱圧着により一体化して未焼成基板1を得る。
(D)焼成工程
未焼成基板1を800〜930℃で焼成して発光素子用基板1を得る。
以下、各工程についてさらに説明する。
(A)本体用グリーンシート作製工程
本体用グリーンシート11は、ガラス粉末とセラミックス粉末とを含むガラスセラミックス組成物に、バインダー、必要に応じて可塑剤、分散剤、溶剤等を添加してスラリーを調製し、これをドクターブレード法等によりシート状に成形し、乾燥させることで製造できる。また、このグリーンシートを、所定の形状に加工することにより、枠体用グリーンシートが得られる。
本体用グリーンシートを作製するための本体用ガラス粉末としては、ガラス転移点(Tg)が550〜700℃のものが好ましい。Tgが550℃未満の場合には、脱脂が困難となるおそれがあり、700℃を超える場合には、収縮開始温度が高くなり、寸法精度が低下するおそれがある。
また、このガラス粉末は、800〜930℃で焼成したときに結晶が析出するものであることが好ましい。結晶が析出しないものの場合、十分な機械的強度を得ることができないおそれがある。さらに、DTA(示差熱分析)により測定される結晶化ピーク温度(Tc)が880℃以下のものが好ましい。Tcが880℃を超える場合、寸法精度が低下するおそれがある。
このような本体用ガラス粉末としては、酸化物基準のモル%表示で、SiOを57〜65%、Bを13〜18%、CaOを9〜23%、Alを3〜8%、KOおよびNaOから選ばれる少なくとも一方を合計で0.5〜6%含有するものが好ましい。このようなものを用いることで、基板本体2の表面平坦度を向上させることが容易となる。
ここで、SiOは、ガラスのネットワークフォーマとなるものである。SiOの含有量が57%未満の場合、安定なガラスを得ることが難しく、また化学的耐久性も低下するおそれがある。一方、SiOの含有量が65%を超える場合には、ガラス溶融温度やTgが過度に高くなるおそれがある。SiOの含有量は、好ましくは58%以上、より好ましくは59%以上、特に好ましくは60%以上である。また、SiOの含有量は、好ましくは64%以下、より好ましくは63%以下である。
は、ガラスのネットワークフォーマとなるものである。Bの含有量が13%未満の場合、ガラス溶融温度やTgが過度に高くなるおそれがある。一方、Bの含有量が18%を超える場合、安定なガラスを得ることが難しく、また化学的耐久性も低下するおそれがある。Bの含有量は、好ましくは14%以上、より好ましくは15%以上である。また、Bの含有量は、好ましくは17%以下、より好ましくは16%以下である。
Alは、ガラスの安定性、化学的耐久性、および強度を高めるために添加される。Alの含有量が3%未満の場合、ガラスが不安定となるおそれがある。一方、Alの含有量が8%を超える場合、ガラス溶融温度やTgが過度に高くなるおそれがある。Alの含有量は、好ましくは4%以上、より好ましくは5%以上である。また、Alの含有量は、好ましくは7%以下、より好ましくは6%以下である。
CaOは、ガラスの安定性や結晶の析出性を高めるとともに、ガラス溶融温度やTgを低下させるために添加される。CaOの含有量が9%未満の場合、ガラス溶融温度が過度に高くなるおそれがある。一方、CaOの含有量が23%を超える場合、ガラスが不安定になるおそれがある。CaOの含有量は、好ましくは12%以上、より好ましくは13%以上、特に好ましくは14%以上である。また、CaOの含有量は、好ましくは22%以下、より好ましくは21%以下、特に好ましくは20%以下である。
O、NaOは、Tgを低下させるために添加される。KOおよびNaOの合計した含有量が0.5%未満の場合、ガラス溶融温度やTgが過度に高くなるおそれがある。一方、KOおよびNaOの合計した含有量が6%を超える場合、化学的耐久性、特に耐酸性が低下するおそれがあり、電気的絶縁性も低下するおそれがある。KOおよびNaOの合計した含有量は、0.8%以上5%以下であることが好ましい。
なお、本体用ガラス粉末は、必ずしも上記成分のみからなるものに限定されず、Tg等の諸特性を満たす範囲で他の成分を含有することができる。他の成分を含有する場合、その合計した含有量は10%以下であることが好ましい。
本体用ガラス粉末は、上記したような組成を有するガラスを溶融法によって製造し、乾式粉砕法や湿式粉砕法によって粉砕して得られる。湿式粉砕法の場合、溶媒として水またはエチルアルコールを用いることが好ましい。粉砕機としては、例えばロールミル、ボールミル、ジェットミル等が挙げられる。
本体用ガラス粉末の50%粒径(D50)は0.5〜2μmが好ましい。ガラス粉末のD50が0.5μm未満の場合、ガラス粉末が凝集しやすく取り扱いが困難になるばかりでなく、均一分散が困難になる。一方、ガラス粉末のD50が2μmを超える場合には、ガラス軟化温度の上昇や焼結不足が発生するおそれがある。粒径は、例えば粉砕後に必要に応じて分級して調整してもよい。
セラミックス粉末としては、従来からLTCC基板の製造に用いられるものが使用でき、例えばアルミナ粉末、ジルコニア粉末、またはアルミナ粉末とジルコニア粉末との混合物等を好適に使用できる。特に、アルミナ粉末とともに、アルミナよりも高い屈折率を有するセラミックスの粉末(以下、高屈折率セラミックス粉末と示す。)を使用することが好ましい。
高屈折率セラミックス粉末は、焼結体(基板)の反射率を向上させるための成分であり、例えばチタニア粉末、ジルコニア粉末、安定化ジルコニア粉末等が挙げられる。アルミナの屈折率が1.8程度であるのに対して、チタニアの屈折率は2.7程度、ジルコニアの屈折率は2.2程度であり、アルミナに比べて高い屈折率を有している。これらのセラミックスの粉末のD50は、0.5〜4μmが好ましい。
このようなガラス粉末とセラミックス粉末とを、例えばガラス粉末が30〜50質量%、セラミックス粉末が50〜70質量%となるように配合し、混合することにより、ガラスセラミックス組成物が得られる。また、このガラスセラミックス組成物に、バインダー、必要に応じて可塑剤、分散剤、溶剤等を添加することによりスラリーが得られる。
バインダーとしては、例えばポリビニルブチラール、アクリル樹脂等を好適に使用できる。可塑剤としては、例えばフタル酸ジブチル、フタル酸ジオクチル、フタル酸ブチルベンジル等を使用できる。溶剤としては、トルエン、キシレン、2−プロパノール、2−ブタノール等の有機溶剤を好適に使用できる。
このようにして得られたスラリーをドクターブレード法等によりシート状に成形し、乾燥させて、2枚の本体用グリーンシート11(上層用グリーンシート、下層用グリーンシート)を作製する。この際、上層用グリーンシート、下層用グリーンシートの厚さや比率を調整することで、基板本体11の厚さ方向における第1の内部導体層12の長さや、第2の内部導体層13の位置を調整できる。また、同様にして製造されたグリーンシートを、所定の形状に加工することにより、枠体用グリーンシート23を作製する。
(B)導体ペースト層形成工程
前記工程で作製された本体用グリーンシート11の表面および内部に、第1、第2の未焼成内部導体層12、13、第1、第2の未焼成配線導体層15、16、第1、第2の未焼成外部電極端子17、18、第1、第2の未焼成接続ビア21、22等となる導体ペースト層を形成する。上層用グリーンシート11については、第1の未焼成導体層12、第1の未焼成接続ビア21、第2の未焼成接続ビア22となる領域を打ち抜いて孔部を形成し、この孔部に導体ペーストを充填する。また、第1の未焼成配線層15、第2の未焼成配線層16となる領域に導体ペーストを塗布する。導体ペーストの塗布、充填は、導体ペーストのスクリーン印刷、メタルマスク印刷により好適に行うことができる。
下層用グリーンシート11については、第1の未焼成接続ビア21、第2の未焼成接続ビア22となる領域を打ち抜いて孔部を形成し、この孔部に導体ペーストを充填する。また、第2の未焼成内部導体層13となる表面の領域に導体ペーストを塗布する。この導体ペーストの塗布範囲を調整することで、第2の内部導体層13の水平方向の大きさを調整できる。さらに、第1の未焼成外部電極端子17、第2の未焼成外部電極端子18となる他方の表面の領域に導体ペーストを塗布する。
導体ペーストとしては、例えばCu、Ag、Au等を主成分とする金属粉末に、エチルセルロース等のビヒクル、必要に応じて溶剤等を添加してペースト状としたものを使用できる。なお、上記金属粉末としては、Ag粉末、AgとPtまたはPdからなる金属粉末が好ましく用いられる。
(C)積層工程
(B)工程で得られた導体ペースト層付きグリーンシート11(未焼成本体部材11)を所定の順で重ね合わせ、さらに上層用グリーンシート11上に枠体用グリーンシート23を重ねた後、熱圧着により一体化する。こうして、未焼成基板1が得られる。
(D)焼成工程
上記工程で得られた未焼成基板について、必要に応じてバインダー等を脱脂後、ガラスセラミックス組成物等を焼結させるための焼成を行って発光素子用基板1とする。
脱脂は、例えば500〜600℃で1〜10時間保持する条件で行う。脱脂温度が500℃未満もしくは脱脂時間が1時間未満の場合、バインダー等を十分に除去できないおそれがある。一方、脱脂温度は600℃程度、脱脂時間は10時間程度とすれば、バインダー等を十分に除去でき、これを超えるとかえって生産性等が低下するおそれがある。
また、焼成は、基体本体11の緻密な構造の獲得と生産性を考慮して、800〜930℃の温度範囲で適宜時間を調整できる。具体的には、850〜900℃で20〜60分保持することが好ましく、特に860〜880℃が好ましい。焼成温度が800℃未満では、基体本体11が緻密な構造のものとして得られないおそれがある。一方、焼成温度は930℃を超えると、基体本体11が変形するなど生産性等が低下するおそれがある。また、上記導体ペーストとして、Agを主成分とする金属粉末を含有する金属ペーストを用いた場合、焼成温度が880℃を超えると、過度に軟化するために所定の形状を維持できなくなるおそれがある。
このようにして発光素子用基板1が得られるが、焼成後、必要に応じて搭載面に露出した第1の配線導体層15、第2の配線導体層16の表面を被覆するように、Ni/Auメッキ等の、通常発光素子用基板において導体保護用に用いられる導電性保護膜を配設することもできる。
以上、発光素子用基板1の製造方法について説明したが、枠体用グリーンシート23は単一のグリーンシートからなる必要はなく、必要に応じて複数枚のグリーンシートを積層したものであってもよい。また、枠体用グリーンシート23を除いた本体用グリーンシート11の枚数も、必ずしも2枚である必要はなく、必要に応じて適宜変更できる。さらに、各部の形成順序等については、発光素子用基板1の製造が可能な限度において適宜変更できる。
このようにして得られた発光素子用基板1には、例えば図5に示すように発光素子32を搭載するとともに、その上面の電極32aをボンディングワイヤ34によって第1の配線導体層15に電気的に接続することで、発光装置31とすることができる。
次に、本発明の実施例について説明する。
なお、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
(実施例1)
図5に示すような発光装置31、すなわち図1に示される発光素子用基板1の搭載領域14に1ワイヤタイプのLED素子(サイズ縦0.6mm、横0.6mm、厚さ0.1mm)を搭載し、第1の配線導体層15にAgを含むダイボンド材により固定した評価モデルを想定し、この評価モデルの熱抵抗を数値解析して求めた。解析プログラムとしてはANSYS ICEPAK Version 12.1.6を用い、入力電力は1.0Wとした。結果を表1に示す。
ここで、基板本体11の構成材料はLTCC、大きさは5mm×5mm、厚さは500μmとした。各導体、すなわち第1の内部導体層12、第2の内部導体層13、第1の配線導体層15、第2の配線導体層16、第1の外部電極端子17、第2の外部電極端子18、第1の接続ビア21、第2の接続ビア22はAgを主成分とする金属材料とした。第1の内部導体層12は、大きさ1.3mm×1.3mmとした。第2の内部導体層13は、第2の主面11bからの距離L1を100μm(L1/L2×100=20[%])とし、大きさ5mm×5mm、厚さ15μmとした。解析に用いた評価モデルの各構成要素の物性値(熱伝導率)は表2に示す通りである。
(比較例1)
図5に示す発光装置31における発光素子用基板1を図7に示す発光素子用基板41とした評価モデルを想定し、熱抵抗を数値解析して求めた。なお、図7に示す発光素子用基板41は、第1の内部導体層12が第1の主面11aに達せず、第2の主面11bに達している。第1の内部導体層12の上面と第1の主面11aとの距離L4は100μm(L4/L2×100=20[%])である。また、第2の内部導体層13は設けられていない。その他の構成は実施例1と同様である。結果を表1に示す。
(比較例2)
図5に示す発光装置31における発光素子用基板1を図8に示す発光素子用基板51とした評価モデルを想定し、熱抵抗を数値解析して求めた。なお、図8に示す発光素子用基板51は、第1の内部導体層12が第1の主面11aに達せず、第2の主面11bに達している。また、第2の内部導体層13は、第1の主面11aからの距離L5が100μm(L5/L2×100=20[%])の位置にある。その他の構成は実施例1と同様である。結果を表1に示す。
(比較例3)
実施例1において、第2の内部導体層13の第2の主面11aからの距離L1を350μm(L1/L2×100=70[%])とした評価モデルを想定し、熱抵抗を数値解析して求めた。結果を表1に示す。
ここで、表2に示すLTCCの熱伝導率は、以下の方法で作製されたものについて測定される値である。すなわち、酸化物基準のモル%表示で、SiOが60.4%、Bが15.6%、Alが6%、CaOが15%、KOが1%、NaOが2%となるように原料を配合、混合し、この原料混合物を白金ルツボに入れて1600℃で60分間溶融させた後、溶融状態のガラスを流し出し冷却する。このガラスをアルミナ製ボールミルにより40時間粉砕して本体用ガラス粉末を製造する。なお、粉砕時の溶媒にはエチルアルコールを用いる。
次いで、このガラス粉末が38質量%、アルミナフィラー(昭和電工社製、商品名:AL−45H)が38質量%、ジルコニアフィラー(第一稀元素化学工業社製、商品名:HSY−3F−J)が24質量%となるように配合し、混合することにより、基板本体用のガラスセラミックス組成物を製造する。このガラスセラミックス組成物50gに、有機溶剤(トルエン、キシレン、2−プロパノール、2−ブタノールを質量比4:2:2:1で混合したもの)15g、可塑剤(フタル酸ジ−2−エチルヘキシル)2.5g、バインダーとしてのポリビニルブチラール(デンカ社製、商品名:PVK#3000K)5g、さらに分散剤(ビックケミー社製、商品名:BYK180)0.5gを配合し、混合してスラリーを調製する。
このスラリーをPETフィルム上にドクターブレード法により塗布し、乾燥させたグリーンシートを焼成後の厚さが0.5mmになるように積層し、本体用グリーンシートを製造する。このグリーンシートを550℃で5時間保持して脱脂し、さらに870℃で30分間保持して焼成した後、焼結体の熱伝導率を測定する。
Figure 2014029890
Figure 2014029890
表1から明らかなように、第2の主面11bに達しないように第1の内部導体層12を形成した場合であっても、第2の内部導体層13を基板本体11の厚さ方向の所定の位置に形成することで、熱抵抗を十分に低減できる。表1中の熱抵抗上昇率(%)は実施例1の熱抵抗値を基準として、比較例の熱抵抗値と実施例1の熱抵抗値の差を相対評価したものである。
1…発光素子用基板、11…基板本体、11a…第1の主面、11b…第2の主面、12…第1の内部導体層、13…第2の内部導体層、31…発光装置、32…発光素子、32a…上面電極、32b…下面電極

Claims (14)

  1. 発光素子が搭載される第1の主面および前記第1の主面に対向する第2の主面を有する無機絶縁材料からなる基板本体と、前記基板本体の内部に配置されて前記第2の主面に達しないように前記第1の主面から厚さ方向に柱状に延ばされた第1の内部導体層と、前記基板本体の内部に配置されて水平方向に広がるとともに前記第1の内部導体層に接続された第2の内部導体層とを有する発光素子用基板であって、
    前記第1の内部導体層は、前記第1の主面の前記発光素子が搭載される搭載領域に形成され、前記第2の内部導体層は、前記第2の主面からの距離が前記第1の主面と前記第2の主面との間の面間距離の5〜60%となる位置に形成され、かつその水平方向の大きさが前記第1の内部導体層の水平方向の大きさの200%以上であることを特徴とする発光素子用基板。
  2. 前記第1の内部導体層は、その断面積が前記搭載領域の面積の0.2〜4倍であることを特徴とする請求項1記載の発光素子用基板。
  3. 前記第2の内部導体層は、前記基板本体の側面部に達しないように設けられていることを特徴とする請求項1または2記載の発光素子用基板。
  4. 前記第2の内部導体層は、その大きさが前記基板本体の大きさの95%以下であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の発光素子用基板。
  5. 前記第2の内部導体層は、その厚さが5〜50μmであることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項記載の発光素子用基板。
  6. 前記第1の内部導体層は、その断面形状が円形状もしくは楕円形状、または正方形状もしくは矩形状であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項記載の発光素子用基板。
  7. 前記第2の内部導体層は、その形状が円形状もしくは楕円形状、または正方形状もしくは矩形状であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項記載の発光素子用基板。
  8. 前記基板本体は、ガラス粉末とセラミックス粉末とを含むガラス組成物の焼結体からなることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項記載の発光素子用基板。
  9. 前記第1の内部導体層、前記第2の内部導体層は、Cu、Ag、Auのうち少なくとも1種を主成分とすることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項記載の発光素子用基板。
  10. 前記発光素子は入力電力が0.1〜5Wであることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項記載の発光素子用基板。
  11. 前記発光素子は上面および下面に一対の素子電極を有することを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項記載の発光素子用基板。
  12. 請求項1乃至11のいずれか1項記載の発光素子用基板と、
    前記発光素子用基板の前記搭載領域に搭載された発光素子と
    を有することを特徴とする発光装置。
  13. 前記発光素子は入力電力が0.1〜5Wであることを特徴とする請求項12記載の発光装置。
  14. 前記発光素子は、上面および下面に一対の素子電極を有し、前記下面の素子電極が前記搭載領域に対向して搭載されていることを特徴とする請求項12または13記載の発光装置。
JP2010259593A 2010-11-19 2010-11-19 発光素子用基板および発光装置 Withdrawn JP2014029890A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010259593A JP2014029890A (ja) 2010-11-19 2010-11-19 発光素子用基板および発光装置
PCT/JP2011/076578 WO2012067204A1 (ja) 2010-11-19 2011-11-17 発光素子用基板および発光装置
TW100142278A TW201228055A (en) 2010-11-19 2011-11-18 Substrate for light-emitting element, and light-emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010259593A JP2014029890A (ja) 2010-11-19 2010-11-19 発光素子用基板および発光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014029890A true JP2014029890A (ja) 2014-02-13

Family

ID=46084125

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010259593A Withdrawn JP2014029890A (ja) 2010-11-19 2010-11-19 発光素子用基板および発光装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2014029890A (ja)
TW (1) TW201228055A (ja)
WO (1) WO2012067204A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014073038A1 (ja) * 2012-11-06 2014-05-15 日本碍子株式会社 発光ダイオード用基板
CN104409614B (zh) * 2014-10-24 2017-02-15 新黎明科技股份有限公司 一种二引脚3528led灯的焊盘

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3910144B2 (ja) * 2003-01-06 2007-04-25 シャープ株式会社 半導体発光装置およびその製造方法
JP2006093565A (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Kyocera Corp 発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法
JP2006066519A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Kyocera Corp 発光素子用配線基板ならびに発光装置

Also Published As

Publication number Publication date
TW201228055A (en) 2012-07-01
WO2012067204A1 (ja) 2012-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5742353B2 (ja) 発光素子用基板および発光装置
JP5640632B2 (ja) 発光装置
JP5729375B2 (ja) 発光装置
JP5499960B2 (ja) 素子用基板、発光装置
WO2012036219A1 (ja) 発光素子用基板および発光装置
JP5862574B2 (ja) 発光素子用基板および発光装置
JP5644771B2 (ja) 発光素子用基板および発光装置
US20120275166A1 (en) Substrate for mounting light-emitting element, its production process and light-emitting device
JP2013197236A (ja) 発光装置および発光装置の製造方法
JP2013243256A (ja) 配線基板および配線基板の製造方法
WO2013141322A1 (ja) 発光素子用基板の製造方法、発光素子用基板、および発光装置
WO2012067204A1 (ja) 発光素子用基板および発光装置
JP2012209310A (ja) 発光素子用基板および発光装置
JP2012074478A (ja) 発光素子用基板および発光装置
JP5725029B2 (ja) 発光素子搭載用基板および発光装置
JP2012248593A (ja) 発光素子用基板および発光装置
JP2015070088A (ja) 発光素子用基板および発光装置
JP2011228652A (ja) 発光素子用基板および発光装置
JP2011176110A (ja) 発光素子用基板および発光装置
JP2011176303A (ja) 発光素子搭載用基板およびその製造方法
JP2012099534A (ja) 素子基板および発光装置
JP2012033781A (ja) 発光素子搭載用基板および発光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20140204