JP2014028380A - 金属フィラー、はんだペースト、及び接続構造体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】Cu合金粒子とはんだ粒子との混合体からなる金属フィラーであって、該Cu合金粒子が、Ni、Fe及びCoからなる群より選ばれる1種以上の元素を0.01〜1質量%含有することを特徴とする金属フィラー。
【選択図】なし
Description
即ち、本発明は、以下の通りである。
[2] 該混合体が、Cu合金粒子100質量部に対して、はんだ粒子を54〜567質量部含む、上記[1]に記載の金属フィラー。
[3] 該Cu合金粒子が、Sn、Ag、Bi、In及びGeからなる群より選ばれる1種以上の元素1〜50質量%、Ni、Fe及びCoからなる群より選ばれる1種以上の元素0.01〜1質量%、並びに残部CuからなるCu合金粒子である、上記[1]又は[2]に記載の金属フィラー。
[4] 該Cu合金粒子が、Sn13.5〜16.5質量%、Ag0.1〜10質量%、Bi4.5〜5.5質量%、In0.1〜5質量%、Fe0.01〜1質量%、及び残部CuからなるCu合金粒子、又はSn13.5〜16.5質量%、Ag9〜11質量%、Bi4.5〜5.5質量%、Ge0.1〜5質量%、Fe0.01〜1質量%、及び残部CuからなるCu合金粒子、又はSn1〜25質量%、Fe0.01〜1質量%、及び残部CuからなるCu合金粒子である、上記[1]〜[3]のいずれかに記載の金属フィラー。
[5] 該はんだ粒子が、Sn粒子、又はSn90質量%以上を含有するSn合金粒子である、上記[1]〜[4]のいずれかに記載の金属フィラー。
[6] 上記[1]〜[5]のいずれかに記載の金属フィラーを含む、はんだペースト。
[7] 上記[1]〜[5]のいずれかに記載の金属フィラーを含む、導電性接着剤。
[8] 第1の電子部品、第2の電子部品、及び、該第1の電子部品と該第2の電子部品とを接合しているはんだ接合部を有する接続構造体であって、該はんだ接合部が、上記[6]に記載のはんだペースト又は上記[7]に記載の導電性接着剤をリフロー熱処理することによって形成されたものである、接続構造体。
[9] 基板と、該基板の上に搭載された上記[8]に記載の接続構造体とを有する、部品搭載基板。
[10] 基板と、該基板の上に搭載された上記[8]に記載の接続構造体とを有する、部品内蔵モジュール。
本実施の形態の金属フィラーは、Cu合金粒子とはんだ粒子との混合体からなる金属フィラーであって、該Cu合金粒子が、Ni、Fe及びCoからなる群より選ばれる1種以上の元素を0.01〜1質量%含有することを特徴とする。なおこの含有量は存在するNi、Fe及びCoの合計量である。本開示において、構成要素に関し「からなる」というときは、本発明の効果を損なわない範囲で他の要素(例えば不可避的不純物)が含まれうる可能性を排除しないことを意図する。本実施の形態の金属フィラーは、以下に詳述するような特性により、特に、はんだ接合に有利に適用される。
本開示で、Cu合金粒子とは、Cu含有合金を含む粒子を意味し、典型的にはCu含有合金からなる粒子である。より典型的な態様においては、Cu合金粒子の構成元素のうちCuの含有率が最も高い。本実施の形態においてCu合金粒子に含まれる、Ni、Fe及びCoからなる群より選ばれる1種以上の元素は、熱処理時に、溶融したはんだ粒子との接合界面に濃化することで、接合界面に生成する金属間化合物の結晶粒を微細化し、該金属間化合物の成長を抑制する。従って、本実施の形態の金属フィラーによれば、該金属フィラーを含むはんだペースト又は導電性接着剤を用いて形成されるはんだ接合部における内部応力の増加を防ぎ、接続信頼性を向上させることができる。
本開示で、はんだ粒子とは、1種又は2種以上の金属元素からなる融点300℃未満の粒子を意味する。はんだ粒子は典型的にはSnを含む。好ましい態様において、はんだ粒子は鉛を実質的に含まない。はんだ粒子の融点は、好ましくは、100℃以上260℃以下であり、より好ましくは、150℃以上250℃以下であり、更に好ましくは、180℃以上240℃以下である。該融点が100℃以上であれば、良好なはんだ接合が可能であり、260℃以下であれば、一般的なリフロー熱処理条件においてはんだ接合が可能である。はんだ粒子中の、Ni、Fe及びCoからなる群より選ばれる1種以上の元素の合計含有量は、0.01質量%未満であることが、はんだ溶融時の濡れ性が良好となる点で好ましい。
また、粒度分布は、ペースト用途に応じて定めることができる。例えば、スクリーン印刷用途では、版抜け性を重視して、粒度分布はブロードにするのが好ましく、ディスペンス用途及びビア充填用途では、吐出流動性及び穴埋め性を重視して、粒度分布はシャープにするのが好ましい。
本実施の形態は、上述した本実施の形態の金属フィラーを含むはんだペーストも提供する。当該はんだペーストは、鉛フリーとすることができる。本実施の形態において、鉛フリーとは、EUの環境規制(RoHS)に準じ、鉛の含有量が0.1質量%以下であることを意味する。前記はんだペーストは、金属フィラー成分及びフラックス成分を含むことが好ましく、典型的には、金属フィラー成分及びフラックス成分から成る。金属フィラー成分は、上述した金属フィラーであるが、本発明の効果を損なわない範囲で、他の金属フィラーを少量含んでもよい。
本実施の形態は、上述した本実施の形態の金属フィラーを含む導電性接着剤も提供する。一般に、導電性接着剤とは、熱硬化性樹脂組成物に銀、銅、カーボンファイバー等の導電性の良い材料を加えて形成される接着剤をいう。本実施の形態の導電性接着剤は、本実施の形態の金属フィラー、及び熱硬化性樹脂を含む。本実施の形態の導電性接着剤は、フラックス成分を含んでもよいし、含まなくてもよい。本実施の形態の導電性接着剤は、任意に、本実施の形態の金属フィラー以外の金属フィラーとして、銀、銅、ニッケル等を更に含んでもよい。一態様において、導電性接着剤は、金属フィラー、熱硬化性樹脂、及び任意にフラックス成分から成ることができる。導電性接着剤中の金属フィラー成分の含有量は、40〜95質量%の範囲が好ましく、60〜94質量%の範囲がより好ましく、更に好ましくは80〜93質量%の範囲である。金属フィラーの含有率が95質量%以下であると、ペーストの粘度が最適化され、スクリーン印刷等での印刷性が良好となる。金属フィラーの含有率が40質量%以上であると、金属フィラーの沈降を抑制できる。
本実施の形態は、第1の電子部品、第2の電子部品、及び、該第1の電子部品と該第2の電子部品とを接合しているはんだ接合部を有する接続構造体であって、はんだ接合部が、本実施の形態のはんだペースト又は本実施の形態の導電性接着剤をリフロー熱処理することによって形成されたものである、接続構造体も提供する。
本実施の形態は、基板と、該基板の上に搭載された本実施の形態の接続構造体とを有する部品搭載基板も提供する。上記の部品搭載基板は、好ましくは、電子部品が搭載されている基板であり、そして従来公知の各種の電子機器の製造に従来公知の各種の方法で使用することができる。
本実施の形態は、基板と、該基板の上に搭載された本実施の形態の接続構造体とを有する部品内蔵モジュールも提供する。上記の部品内蔵モジュールは、好ましくは、樹脂封止されたモジュールであり、そして従来公知の各種の電子機器の製造に従来公知の様式で使用することができる。
尚、上述した各種パラメータについては特段の記載のない限り、後述する実施例における測定方法に準じて測定される。
各金属粒子及び金属フィラー、並びにはんだペーストの物性は、下記に示す方法で評価した。
島津製作所株式会社製「DSC−60」を用い、窒素雰囲気下、昇温温度10℃/分の条件で、温度範囲30〜600℃の範囲で行った。発熱量又は吸熱量が±1.5J/g以上あるものを測定対象物由来のピークとして定量し、それ未満のピークは分析精度の観点から除外した。
Sympatec社(ドイツ)製レーザー回折式粒子径分布測定装置「HELOS&RODOS」により体積積算平均値を測定し、平均粒径値とした。
Sympatec社(ドイツ)製レーザー回折式粒子径分布測定装置「HELOS&RODOS」を用いて測定した。測定レンジは、累積分布を0.9μmから175μmの範囲で測定できる[R3:0.5/0.9...175μm]を選択し、トリガー条件を乾式標準に設定した後、分散器をRODOSに設定し、分散圧力を3.0barとした。また、計算モードをLDとし、形状係数を1.0とした。HELOS検出器のエレメントが10%以上であることを確認し、測定濃度5〜10%になるようにして行った。
(1)Cu合金粒子の製造
Cu6.5kg(純度99.9質量%以上)、Sn1.5kg(純度99.9質量%以上)、Ag1.0kg(純度99.9質量%以上)、Bi0.5kg(純度99.9質量%以上)、In0.5kg(純度99.9量%以上)、及びFe0.001kg(純度99.9質量%以上)をアルミナ坩堝に入れ、真空下において高周波誘導加熱装置により加熱、融解した後、窒素ガスアトマイズにより、Cu合金粒子を作製した。
はんだ粒子として山石金属株式会社製Sn粒子「Y−Sn100−Q2510」を用いた。このSn粒子の平均粒径を測定したところ、20.4μmであった。
次にSn粒子の示差走査熱量測定をしたところ、242℃で吸熱ピークが検出され、融点232℃(融解開始温度:固相線温度)を有することが確認できた。尚、特徴的な発熱ピークは検出されなかった。
前記のCu合金粒子とはんだ粒子とを質量比100:186で混合し、金属フィラーとした。
次に金属フィラー89.5質量%とロジン系フラックス10.5質量%とを混合し、株式会社マルコム製ソルダーソフナー「SPS−1」、松尾産業株式会社製脱泡混練機「SNB−350」に順次かけてはんだペーストを作製した。
次に高耐熱エポキシ樹脂ガラス布からなるプリント基板のCu電極上に前記のはんだペーストを印刷塗布し、1005サイズの0Ω抵抗部品(以下、1005Rと表記)を搭載後、窒素雰囲気にて、ピーク温度250℃でリフロー熱処理してサンプルを作製した。印刷パターン形成は、マイクロテック(株)製スクリーン印刷機(MT−320TV)を使用した。印刷マスクはメタル製で、スキージはウレタン製を用いた。マスク開口サイズは、1005R電極部分に合わせて400μm×500μmと設定し、マスク厚みは、0.08mmとした。印刷条件は、速度50mm/秒、印圧0.1MPa、スキージ圧0.2MPa、背圧0.1MPa、アタック角度20°、クリアランス0mm、印刷回数1回とした。
次に熱疲労特性を熱衝撃試験により評価した。
前記のように作製したサンプル(すなわち1005R部品実装サンプル)をエスペック社製「HC−120」に投入し、−40℃、125℃各30分を1サイクルと設定し、3000サイクル終了後に取出して、上記(4)と同様に部品接合強度を測定したところ、30点の平均値は6.9Nであり、接合強度の減少率は18.8%であった。
前記のはんだペーストをサイズ25mm×25mm、厚み0.25mmのCu基板上に印刷塗布し、サイズ2mm×2mm、厚み0.5mmのCuチップを搭載後、窒素雰囲気にて、ピーク温度250℃でリフロー熱処理してサンプルを作製した。
実施例1記載のCu合金粒子の組成を変えた混合体を金属フィラーとして、実施例1と同様にペースト化、及びサンプル作製を行い、各評価を実施した。結果を表1に実施例2〜3、並びに比較例1及び2として示す。
実施例2におけるはんだ粒子の代わりに山石金属株式会社製Sn−3.5Ag粒子「Y−SnAg3.5−Q2510」を用いた。この粒子の平均粒径を測定したところ、20.1μmであった。次にこの粒子の示差走査熱量測定をしたところ、融点221℃(融解開始温度:固相線温度)を有することが確認できた。尚、特徴的な発熱ピークは検出されなかった。この粒子を用いて実施例1と同様にペースト化及びサンプル作製を行い、各評価を実施した。結果を表2に示す。
実施例2におけるはんだ粒子の代わりに山石金属株式会社製Sn−3.0Ag−0.5Cu粒子「Y−SnAg3Cu0.5−Q2510」を用いた。この粒子の平均粒径を測定したところ、20.2μmであった。次にこの粒子の示差走査熱量測定をしたところ、融点217℃(融解開始温度:固相線温度)を有することが確認できた。尚、特徴的な発熱ピークは検出されなかった。この粒子を用いて実施例1と同様にペースト化及びサンプル作製を行い、各評価を実施した。結果を表2に示す。
実施例2におけるCu合金粒子とはんだ粒子との混合比を変えた混合体を金属フィラーとして、実施例1と同様にペースト化及びサンプル作製を行い、各評価を実施した。結果を表3に実施例6〜10、及び比較例3として示す。
Cu9.99kg(純度99.9質量%以上)、及びFe0.01kg(純度99.9質量%以上)をアルミナ坩堝に入れ、真空下において高周波誘導加熱装置により加熱、融解した後、窒素ガスアトマイズにより、Cu合金粒子を作製した。
実施例11におけるCu合金粒子の組成を変えた混合体を金属フィラーとして用い、実施例11と同様にペースト化及びサンプル作製を行い、各評価を実施した。結果を表4に示す。
表4から判るように、本実施の形態において、Cu合金粒子として、異なる種類のCu主成分の合金粒子を用いた場合でも、Niを含有した場合でも同様の効果が奏されることが確認された。
Claims (10)
- Cu合金粒子とはんだ粒子との混合体からなる金属フィラーであって、前記Cu合金粒子が、Ni、Fe及びCoからなる群より選ばれる1種以上の元素を0.01〜1質量%含有することを特徴とする金属フィラー。
- 前記混合体が、Cu合金粒子100質量部に対して、はんだ粒子を54〜567質量部含む、請求項1に記載の金属フィラー。
- 前記Cu合金粒子が、Sn、Ag、Bi、In及びGeからなる群より選ばれる1種以上の元素1〜50質量%、Ni、Fe及びCoからなる群より選ばれる1種以上の元素0.01〜1質量%、並びに残部CuからなるCu合金粒子である、請求項1又は2に記載の金属フィラー。
- 前記Cu合金粒子が、Sn13.5〜16.5質量%、Ag0.1〜10質量%、Bi4.5〜5.5質量%、In0.1〜5質量%、Fe0.01〜1質量%、及び残部CuからなるCu合金粒子、又はSn13.5〜16.5質量%、Ag9〜11質量%、Bi4.5〜5.5質量%、Ge0.1〜5質量%、Fe0.01〜1質量%、及び残部CuからなるCu合金粒子、又はSn1〜25質量%、Fe0.01〜1質量%、及び残部CuからなるCu合金粒子である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の金属フィラー。
- 前記はんだ粒子が、Sn粒子、又はSn90質量%以上を含有するSn合金粒子である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の金属フィラー。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載の金属フィラーを含む、はんだペースト。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載の金属フィラーを含む、導電性接着剤。
- 第1の電子部品、第2の電子部品、及び、前記第1の電子部品と前記第2の電子部品とを接合しているはんだ接合部を有する接続構造体であって、前記はんだ接合部が、請求項6に記載のはんだペースト又は請求項7に記載の導電性接着剤をリフロー熱処理することによって形成されたものである、接続構造体。
- 基板と、前記基板の上に搭載された請求項8に記載の接続構造体とを有する、部品搭載基板。
- 基板と、前記基板の上に搭載された請求項8に記載の接続構造体とを有する、部品内蔵モジュール。
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