JP2014017340A - Liquid material discharge device and method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid material discharge device and method by which it is possible to control a discharge amount according to actual gap dimensions around a chip component.SOLUTION: A liquid material discharge device photographs a substrate 11 from above by an upper camera 587; acquires, by image processing, information on actual dimensions of gaps 120 (gaps 120 around a chip component 100) between side faces of the chip component 100 and inner side faces of a cavity 111; and stores discharge amount control information corresponding to the acquired dimension information in a storage unit 13. With a needle 503 being moved to above the gaps 120, a discharge control unit 17 controls pressure inside a liquid storing unit 501 according to the stored discharge amount control information, so as to perform discharge and injection of resin.

Description

本発明は、接着剤等の粘性流体を含む液体材料を対象物に吐出する液体材料吐出装置及び方法に関する。   The present invention relates to a liquid material discharge apparatus and method for discharging a liquid material containing a viscous fluid such as an adhesive onto an object.

チップ部品を基板上に実装する方法として、チップ部品の表面に接続用のバンプ(突起電極)を設け、チップ部品の表面を基板側に向けて実装するフリップチップ実装が知られている。フリップチップ実装においては、実装後に、基板上の電極とバンプとの接続を保護するためにアンダーフィル(封止材)を基板とチップ部品との間に流し込むのが一般的である。アンダーフィル等の液体材料の注入には高精度の吐出量制御が可能な液体材料吐出装置(例えば下記特許文献1参照)を利用可能である。   As a method of mounting a chip component on a substrate, flip chip mounting is known in which bumps (projection electrodes) for connection are provided on the surface of the chip component, and the chip component is mounted with the surface facing the substrate. In flip chip mounting, after mounting, an underfill (sealing material) is generally poured between the substrate and the chip component in order to protect the connection between the electrode and the bump on the substrate. For the injection of a liquid material such as underfill, a liquid material discharge device (for example, see Patent Document 1 below) capable of highly accurate discharge amount control can be used.

特開2011−147838号公報JP 2011-147838 A

図10(A)は、基板11のキャビティ111にチップ部品100をフリップチップ実装した状態の断面図である。図10(B)は、同状態で位置ずれが無い場合の平面図である。図10(C)は、同状態で位置ずれが有る場合の平面図である。基板11は、キャビティ基板であり、チップ部品100を実装するためのキャビティ111を有する。なお、多数個取りの場合は、キャビティ111が多数設けられる。実装状態では、チップ部品100の表面に設けられた複数のバンプ101(半田等)とキャビティ111の底面の電極(不図示)とが電気的に接続される。液体材料は、チップ部品100の側面とキャビティ111の内側面とのギャップ120(チップ部品100の周囲のギャップ120)から注入されて、チップ部品100の表面とキャビティ111の底面との間(バンプ101の周囲)に流し込まれる。   FIG. 10A is a cross-sectional view of a state in which the chip component 100 is flip-chip mounted in the cavity 111 of the substrate 11. FIG. 10B is a plan view when there is no displacement in the same state. FIG. 10C is a plan view in the case where there is a displacement in the same state. The substrate 11 is a cavity substrate and has a cavity 111 for mounting the chip component 100. In the case of a large number of cavities, a large number of cavities 111 are provided. In the mounted state, a plurality of bumps 101 (solder or the like) provided on the surface of the chip component 100 and an electrode (not shown) on the bottom surface of the cavity 111 are electrically connected. The liquid material is injected from a gap 120 between the side surface of the chip component 100 and the inner surface of the cavity 111 (gap 120 around the chip component 100), and between the surface of the chip component 100 and the bottom surface of the cavity 111 (bump 101). Around).

ギャップ120の寸法L1〜L4(図10(B)に示す位置ずれ無しの場合)は、現状では例えば200μm程度であり、今後さらに短くなることが予想される。ここで、ギャップ120の寸法を200μmとして実装するとしても、実装時の位置ずれや電極の位置ずれなどを含めると±50μm程度の誤差が生じうる。すなわち、液体材料注入前の実装状態において、ギャップ120の実際の寸法L1’〜L4’(図10(C)に示す位置ずれ有りの場合)は、150〜250μmと幅がある。このギャップ寸法の誤差は塗布する液体材料の必要量に大きく影響するため、実際のギャップ寸法を考慮せずに想定のギャップ寸法(位置ずれ無しの場合のギャップ寸法)を基に液体材料を定量吐出する手法では、注入する液体材料の量に過不足が生じるという問題がある。   The dimensions L1 to L4 of the gap 120 (in the case of no positional deviation shown in FIG. 10B) are, for example, about 200 μm at present, and are expected to be further shortened in the future. Here, even when the gap 120 is mounted with a size of 200 μm, an error of about ± 50 μm may occur when including a positional shift at the time of mounting or a positional shift of the electrode. That is, in the mounting state before the liquid material injection, the actual dimensions L1 'to L4' of the gap 120 (when there is a positional deviation shown in FIG. 10C) have a width of 150 to 250 μm. Since this gap size error greatly affects the required amount of liquid material to be applied, the liquid material is quantitatively discharged based on the assumed gap size (gap size without misalignment) without considering the actual gap size. However, there is a problem that the amount of liquid material to be injected becomes excessive or insufficient.

本発明はこうした状況を認識してなされたものであり、その目的は、チップ部品周囲の実際のギャップ寸法に応じた吐出量制御が可能な、液体材料吐出装置及び方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of such a situation, and an object of the present invention is to provide a liquid material ejection apparatus and method capable of controlling the ejection amount in accordance with the actual gap size around a chip component.

本発明のある態様は、液体材料吐出装置である。この液体材料吐出装置は、基板に実装されたチップ部品の周囲のギャップから液体材料を注入する液体材料吐出装置であって、前記ギャップの実際の寸法情報を取得する手段を備え、前記寸法情報に応じて液体材料の吐出量を制御する。   One embodiment of the present invention is a liquid material discharge device. This liquid material ejection device is a liquid material ejection device that injects a liquid material from a gap around a chip component mounted on a substrate, and includes means for obtaining actual dimension information of the gap, and the dimension information includes Accordingly, the discharge amount of the liquid material is controlled.

前記ギャップの実際の寸法情報とそれに応じた吐出量制御情報とを記憶したテーブルを備えてもよい。   You may provide the table which memorize | stored the actual dimension information of the said gap, and the discharge amount control information according to it.

前記チップ部品を上方から撮像するカメラを備え、前記カメラで撮像した画像から前記ギャップの実際の寸法情報を取得してもよい。   A camera that images the chip part from above may be provided, and actual dimension information of the gap may be acquired from an image captured by the camera.

前記基板にはキャビティが形成され、前記キャビティに前記チップ部品が実装され、前記ギャップは前記チップ部品の側面と前記キャビティの内側面とのギャップであってもよい。   A cavity may be formed in the substrate, the chip component may be mounted in the cavity, and the gap may be a gap between a side surface of the chip component and an inner surface of the cavity.

前記ギャップの実際の寸法情報を前記チップ部品の複数の側面の各々について取得してもよい。   The actual dimension information of the gap may be acquired for each of the plurality of side surfaces of the chip component.

前記チップ部品は基板上にフェイスダウン実装されて前記チップ部品のバンプと前記基板の電極とが相互に接続され、前記バンプの周囲に液体材料を流し込んでもよい。   The chip component may be mounted face-down on a substrate so that the bump of the chip component and the electrode of the substrate are connected to each other, and a liquid material may be poured around the bump.

貯液部と、前記貯液部の内部に存在する液体材料を吐出する吐出部と、吐出制御部とを備え、前記吐出制御部は、前記ギャップの実際の寸法情報に応じて、吐出時に前記貯液部の内部に付加する圧力の値、前記圧力の付加時間、所定時間毎の吐出回数の少なくともいずれかを制御してもよい。   A liquid storage unit, a discharge unit that discharges a liquid material present in the liquid storage unit, and a discharge control unit, wherein the discharge control unit is configured to discharge the liquid according to actual dimensional information of the gap. You may control at least any one of the value of the pressure added to the inside of a liquid storage part, the addition time of the said pressure, and the frequency | count of discharge for every predetermined time.

本発明の別の態様は、液体材料吐出方法である。この液体材料吐出方法は、基板に実装されたチップ部品の周囲のギャップの実際の寸法情報を取得し、前記寸法情報に応じて液体材料の吐出量を制御し、前記ギャップから液体材料を注入する。   Another aspect of the present invention is a liquid material discharge method. In this liquid material ejection method, the actual dimension information of the gap around the chip component mounted on the substrate is acquired, the ejection amount of the liquid material is controlled according to the dimension information, and the liquid material is injected from the gap .

なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本発明の表現をシステムなどの間で変換したものもまた、本発明の態様として有効である。   It should be noted that any combination of the above-described constituent elements, or a conversion of the expression of the present invention between systems or the like is also effective as an aspect of the present invention.

本発明によれば、チップ部品周囲の実際のギャップ寸法に応じた吐出量制御が可能となる。   According to the present invention, it is possible to control the discharge amount according to the actual gap size around the chip component.

本発明の実施の形態に係る液体材料吐出装置の要部側断面図。The principal part side sectional view of the liquid material discharge device concerning an embodiment of the invention. 吐出圧補正テーブルの作成手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the preparation procedure of a discharge pressure correction table. 真空圧補正テーブルの作成手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the preparation procedure of a vacuum pressure correction table. 補正テーブル作成後の自動運転動作の一例を示すフローチャート。The flowchart which shows an example of the automatic driving | operation operation | movement after preparation of a correction table. 1つのニードル503に対して1つ設けられた小型カメラ585の配置説明図。The arrangement explanatory view of the small camera 585 provided one to one needle 503. 本発明の実施の形態に係る液体材料吐出装置の平面図。The top view of the liquid material discharge apparatus which concerns on embodiment of this invention. 同液体材料吐出装置の正面図。The front view of the liquid material discharge apparatus. 同液体材料吐出装置の右側面図。The right view of the same liquid material discharge apparatus. 同液体材料吐出装置のディスペンサユニット5内の配管説明図。Explanatory drawing of piping in the dispenser unit 5 of the same liquid material discharge apparatus. (A)は基板11のキャビティ111にチップ部品100をフリップチップ実装した状態の断面図、(B)は同状態で位置ずれが無い場合の平面図、(C)は同状態で位置ずれが有る場合の平面図。(A) is a cross-sectional view of a state in which the chip component 100 is flip-chip mounted in the cavity 111 of the substrate 11, (B) is a plan view when there is no displacement in the same state, and (C) is a displacement in the same state. FIG. ショット回数補正テーブルの作成手順とショット回数補正テーブルを使用して塗布する動作の一例を示すフローチャート。The flowchart which shows an example of the operation | movement which applies using the preparation procedure of a shot frequency correction table, and a shot frequency correction table.

以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施の形態を詳述する。なお、各図面に示される同一または同等の構成要素、部材、処理等には同一の符号を付し、適宜重複した説明は省略する。また、実施の形態は発明を限定するものではなく例示であり、実施の形態に記述されるすべての特徴やその組み合わせは必ずしも発明の本質的なものであるとは限らない。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same or equivalent component, member, process, etc. which are shown by each drawing, and the overlapping description is abbreviate | omitted suitably. In addition, the embodiments do not limit the invention but are exemplifications, and all features and combinations thereof described in the embodiments are not necessarily essential to the invention.

まず、図6〜図9を参照して本装置の全体構成を説明した後に、図1〜図5により要部を詳細に説明する。   First, the overall configuration of the present apparatus will be described with reference to FIGS. 6 to 9, and then the main part will be described in detail with reference to FIGS.

図6は、本発明の実施の形態に係る液体材料吐出装置の平面図である。図7は、同液体材料吐出装置の正面図である。図8は、同液体材料吐出装置の右側面図である。図9は、同液体材料吐出装置のディスペンサユニット5内の配管説明図である。この液体材料吐出装置は、基台1と、載置台2と、XYZテーブル3と、ディスペンサユニット5と、光学センサ7と、光学センサ駆動系8と、搬送ユニット9と、主制御部12とを備える。なお、水平面内で直交する2方向をX方向及びY方向、鉛直方向をZ方向と定義している。   FIG. 6 is a plan view of the liquid material ejection device according to the embodiment of the present invention. FIG. 7 is a front view of the liquid material discharge device. FIG. 8 is a right side view of the liquid material discharge device. FIG. 9 is an explanatory diagram of piping in the dispenser unit 5 of the liquid material discharge device. This liquid material discharge device includes a base 1, a mounting table 2, an XYZ table 3, a dispenser unit 5, an optical sensor 7, an optical sensor drive system 8, a transport unit 9, and a main control unit 12. Prepare. Note that two directions orthogonal to each other in the horizontal plane are defined as an X direction and a Y direction, and a vertical direction is defined as a Z direction.

載置台2は基台1の上面に固定され、XYZテーブル3は載置台2に固定され、ディスペンサユニット5はXYZテーブル3によってXYZの各方向に移動自在に支持される。光学センサ駆動系8は基台1の上面に固定され、液面検出用の光学センサ7が光学センサ駆動系8によってZ方向に移動自在に支持される。搬送ユニット9は基台1の上面に固定され、塗布対象物としての基板11が搬送ユニット9によってX方向に搬送される。基板11のキャビティ111には図10(A)に示すようにチップ部品100がフェイスダウン実装されてチップ部品100のバンプ101と基板11の電極(不図示)とが相互に接続されており、液体材料吐出装置はチップ部品100の表面とキャビティ111の底面との間(バンプ101の周囲)に液体材料を流し込む。主制御部12は、基台1(筐体)の内部にあって装置全体の動作を制御するもので、記憶部13と演算部15と吐出制御部17とを有する。   The mounting table 2 is fixed to the upper surface of the base 1, the XYZ table 3 is fixed to the mounting table 2, and the dispenser unit 5 is supported by the XYZ table 3 so as to be movable in each direction of XYZ. The optical sensor driving system 8 is fixed to the upper surface of the base 1, and the optical sensor 7 for detecting the liquid level is supported by the optical sensor driving system 8 so as to be movable in the Z direction. The transport unit 9 is fixed to the upper surface of the base 1, and the substrate 11 as an application target is transported in the X direction by the transport unit 9. As shown in FIG. 10A, the chip component 100 is face-down mounted in the cavity 111 of the substrate 11 so that the bumps 101 of the chip component 100 and the electrodes (not shown) of the substrate 11 are connected to each other. The material discharge device pours a liquid material between the surface of the chip component 100 and the bottom surface of the cavity 111 (around the bump 101). The main control unit 12 is inside the base 1 (housing) and controls the operation of the entire apparatus, and includes a storage unit 13, a calculation unit 15, and a discharge control unit 17.

XYZテーブル3は、台板301と、X軸スライドガイド303と、X軸スライダ305と、Y軸支持フレーム311と、Y軸スライドガイド313と、Y軸スライダ315と、Z軸支持フレーム321と、Z軸スライドガイド323と、Z軸スライダ325とを有する。   The XYZ table 3 includes a base plate 301, an X-axis slide guide 303, an X-axis slider 305, a Y-axis support frame 311, a Y-axis slide guide 313, a Y-axis slider 315, a Z-axis support frame 321, A Z-axis slide guide 323 and a Z-axis slider 325 are provided.

台板301は載置台2の上面に固定され、X軸スライドガイド303は台板301の上面に固定され、Xスライダ305はボールネジ駆動機構で駆動されてX軸スライドガイド303に沿って移動可能である。なお、ボールネジ駆動機構は、ボールネジ軸をモータで回転駆動することで、該ボールネジ軸に螺合するボールネジナットを該ボールネジ軸の軸方向に移動するものである。   The base plate 301 is fixed to the upper surface of the mounting table 2, the X-axis slide guide 303 is fixed to the upper surface of the base plate 301, and the X slider 305 is driven by a ball screw driving mechanism and can move along the X-axis slide guide 303. is there. The ball screw drive mechanism is configured to move a ball screw nut screwed to the ball screw shaft in the axial direction of the ball screw shaft by rotationally driving the ball screw shaft with a motor.

Y軸支持フレーム311はX軸スライダ305に固定され、Y軸スライドガイド313はY軸支持フレーム311に固定され、Y軸スライダ315はボールネジ駆動機構で駆動されてY軸スライドガイド313に沿って移動可能である。Z軸支持フレーム321はY軸スライダ315に固定され、Z軸スライドガイド323はZ軸支持フレーム321に固定され、Z軸スライダ325はボールネジ駆動機構で駆動されてZ軸スライドガイド323に沿って移動可能である。したがって、Z軸スライダ325はXYZの各方向に移動自在であり、Z軸スライダ325に取り付けられたディスペンサユニット5もXYZの各方向に移動自在である。   The Y-axis support frame 311 is fixed to the X-axis slider 305, the Y-axis slide guide 313 is fixed to the Y-axis support frame 311, and the Y-axis slider 315 is driven by a ball screw drive mechanism and moves along the Y-axis slide guide 313. Is possible. The Z-axis support frame 321 is fixed to the Y-axis slider 315, the Z-axis slide guide 323 is fixed to the Z-axis support frame 321, and the Z-axis slider 325 is driven by a ball screw drive mechanism and moves along the Z-axis slide guide 323. Is possible. Therefore, the Z-axis slider 325 can move in each direction of XYZ, and the dispenser unit 5 attached to the Z-axis slider 325 can also move in each direction of XYZ.

ディスペンサユニット5は、貯液部501及び吐出部としてのニードル503並びにこれらに対する配管を図示の例では1系統有する。図9に示すように、各系統の貯液部501は、切替弁551を介して圧空源591及び真空源592に接続されている。切替弁551と圧空源591及び真空源592との間にはそれぞれ調圧弁596,597があり、貯液部501内の圧力を調整可能である。負圧は遮蔽弁561によって遮蔽可能である。また、開放弁562を開くことで貯液部501の内部圧力を大気圧に等しくできる。各々の弁は吐出制御部17によって制御される。   The dispenser unit 5 has a liquid storage part 501, a needle 503 as a discharge part, and a pipe for these in the illustrated example. As shown in FIG. 9, the liquid storage unit 501 of each system is connected to a pressure air source 591 and a vacuum source 592 via a switching valve 551. Pressure control valves 596 and 597 are provided between the switching valve 551 and the pressure air source 591 and the vacuum source 592, respectively, and the pressure in the liquid storage unit 501 can be adjusted. The negative pressure can be shielded by the shielding valve 561. Moreover, the internal pressure of the liquid storage unit 501 can be made equal to the atmospheric pressure by opening the release valve 562. Each valve is controlled by the discharge controller 17.

水平一軸或いは二軸方向(すなわちXY方向)に移動可能なフレームとしてのZ軸支持フレーム321には下方を(すなわち基板11を上方から)撮像可能な上カメラ587(鉛直方向の視野軸を有する)が取り付け固定され、基板11のキャビティ111及びキャビティ111内のチップ部品100を撮像可能である。ニードル503を側方から撮像するために横カメラ580が基台1に取り付けられ、ニードル503の下端に保持された液摘を撮像可能である。また、下カメラ581(鉛直方向の視野軸を有する)は基台1に固定され、ニードル503を下方から撮像可能である。   An upper camera 587 (having a vertical viewing axis) capable of imaging the lower side (that is, the substrate 11 from above) on the Z-axis support frame 321 as a frame that can move in a horizontal or biaxial direction (that is, XY direction). Are fixed, and the cavity 111 of the substrate 11 and the chip component 100 in the cavity 111 can be imaged. In order to image the needle 503 from the side, a horizontal camera 580 is attached to the base 1, and the liquid handle held at the lower end of the needle 503 can be imaged. Further, the lower camera 581 (having a vertical viewing axis) is fixed to the base 1 and can image the needle 503 from below.

本装置の全体的な動作を概説する。まず、図6の搬送ユニット9の搬入部91に塗布対象物としての基板11が供給される。基板11は、搬入部91から塗布部95まで搬送されて所定位置に位置決めされる。ディスペンサユニット5は、XYZテーブル3の支持により塗布部95上(基板11上)に移動し、液体材料を基板11に塗布する。塗布作業が終了すると、基板11は搬出部97に搬送されて排出される。なお、必要に応じて、塗布部95の前段に予熱部を設けてヒータ等の予熱手段で基板11の温度を上げ、塗布部95の後段に冷却部を設けて基板11の温度を下げ、塗布された液体を凝固、安定させるようにしてもよい。所定数の基板11に対して塗布作業を実行後、ディスペンサユニット5はY方向に後退し、ここで光学センサ7によりディスペンサユニット5の残存液量(液面)検出が行われる。検出方法の詳細は後述する。残存液量に応じて必要があれば液体材料の吐出圧力を補正する(水頭差補正)。補正に必要なデータは主制御部12内の記憶部13に格納されている。データの取得方法の詳細は後述する。こうして液体材料の量に応じた適当な吐出圧力が維持される。   The overall operation of this device will be outlined. First, the substrate 11 as an application target is supplied to the carry-in unit 91 of the transport unit 9 in FIG. The substrate 11 is conveyed from the carry-in unit 91 to the coating unit 95 and positioned at a predetermined position. The dispenser unit 5 moves onto the application unit 95 (on the substrate 11) with the support of the XYZ table 3 and applies the liquid material to the substrate 11. When the coating operation is completed, the substrate 11 is transported to the carry-out unit 97 and discharged. If necessary, a preheating unit is provided in front of the coating unit 95 and the temperature of the substrate 11 is increased by preheating means such as a heater, and a cooling unit is provided in the subsequent stage of the coating unit 95 to lower the temperature of the substrate 11 and coating. The formed liquid may be solidified and stabilized. After performing the coating operation on the predetermined number of substrates 11, the dispenser unit 5 moves backward in the Y direction, and the remaining liquid amount (liquid level) of the dispenser unit 5 is detected by the optical sensor 7 here. Details of the detection method will be described later. If necessary, the discharge pressure of the liquid material is corrected according to the amount of remaining liquid (head differential correction). Data necessary for correction is stored in the storage unit 13 in the main control unit 12. Details of the data acquisition method will be described later. Thus, an appropriate discharge pressure corresponding to the amount of the liquid material is maintained.

図1は、本発明の実施の形態に係る液体材料吐出装置の要部側断面図である。   FIG. 1 is a side sectional view of an essential part of a liquid material discharge apparatus according to an embodiment of the present invention.

貯液部501とニードル503は、相互に着脱自在に取り付けられる(貯液部501下端部の雄ネジとニードル503上端部の雌ネジとが螺合されている)。ニードル503はニードルホルダ533に保持され、貯液部501はケース511に保持される。ニードルホルダ533はケース511に固定されており、貯液部交換時はケース511から貯液部501のみを取り外すことができる。   The liquid storage unit 501 and the needle 503 are detachably attached to each other (a male screw at the lower end of the liquid storage unit 501 and a female screw at the upper end of the needle 503 are screwed together). The needle 503 is held by the needle holder 533, and the liquid storage unit 501 is held by the case 511. The needle holder 533 is fixed to the case 511, and only the liquid storage unit 501 can be removed from the case 511 when replacing the liquid storage unit.

図1に示すように、基台1の上面に固定された光学センサ駆動系8は、ボールネジ駆動機構によって光学センサ7を貯液部501の側方でZ方向(貯液部501の高さ方向)に移動自在に支持する。   As shown in FIG. 1, the optical sensor drive system 8 fixed to the upper surface of the base 1 is configured such that the optical sensor 7 is moved by the ball screw drive mechanism in the Z direction (the height direction of the liquid storage unit 501) on the side of the liquid storage unit 501. ) Is supported movably.

図8に示す記憶部13は、1つの液体材料について複数通りの液量並びに各液量に対応する吐出圧力及び吸引圧力を、相互に関連づけて補正テーブルとして記憶している。吐出制御部17は、記憶部13の補正テーブルを参照して貯液部501の内部の圧力を制御する。補正テーブルは、吐出圧補正テーブルと真空圧補正テーブルとに分かれる。以下、各テーブルの作成手順について説明する。   The storage unit 13 illustrated in FIG. 8 stores a plurality of liquid amounts and discharge pressures and suction pressures corresponding to the respective liquid amounts for one liquid material as a correction table in association with each other. The discharge control unit 17 refers to the correction table in the storage unit 13 and controls the pressure inside the liquid storage unit 501. The correction table is divided into a discharge pressure correction table and a vacuum pressure correction table. The procedure for creating each table will be described below.

図2は、吐出圧補正テーブルの作成手順を示すフローチャートである。まず、液体材料としての樹脂の充填率をそれぞれ100%及び20%とした2つの貯液部501を液体材料吐出装置にセットする(S11)。操作者は検出ボタンを押下する(S12)。光学センサ7により、貯液部501内の樹脂量検出を実施する(S13)。これは正確な充填率を知るためである。次に、所定の吐出圧力で貯液部501のニードル503からワンショット吐出を行い、その重量を例えば精密天秤で測定する(S14)。充填率100%及び20%の場合のワンショット吐出の重量を比較し(S15)、両者が相違すれば本図の場合は充填率20%の側の貯液部501の吐出圧を変更し(S16)、両者が同じになるまでワンショット吐出と重量測定、比較を繰り返す。そして両者が同じになったときの吐出圧値を記憶する(S17)。演算部15は、充填率100%〜20%までの間の吐出圧値を所定の関数で補間(例えば直線補間)し、吐出圧補正テーブルを作成する(S18)。補間に用いる関数は実験的に定めることができる。   FIG. 2 is a flowchart showing a procedure for creating a discharge pressure correction table. First, two liquid storage portions 501 having a filling rate of resin as a liquid material of 100% and 20%, respectively, are set in the liquid material discharge device (S11). The operator presses the detection button (S12). The optical sensor 7 detects the amount of resin in the liquid storage unit 501 (S13). This is to know the exact filling rate. Next, one-shot discharge is performed from the needle 503 of the liquid storage unit 501 at a predetermined discharge pressure, and the weight is measured, for example, with a precision balance (S14). The weights of the one-shot discharge when the filling rate is 100% and 20% are compared (S15), and if they are different, the discharge pressure of the liquid storage portion 501 on the side of the filling rate of 20% is changed in the case of FIG. S16) The one-shot discharge, weight measurement, and comparison are repeated until both are the same. And the discharge pressure value when both become the same is memorize | stored (S17). The computing unit 15 interpolates (for example, linear interpolation) the discharge pressure value between 100% and 20% filling rate with a predetermined function, and creates a discharge pressure correction table (S18). The function used for interpolation can be determined experimentally.

図3は、真空圧補正テーブルの作成手順を示すフローチャートである。まず、液体材料としての樹脂の充填率をそれぞれ100%及び20%とした2つの貯液部501を液体材料吐出装置にセットする(S31)。操作者は検出ボタンを押下する(S32)。光学センサ7により、貯液部501内の樹脂量検出を実施する(S33)。ニードル503の先端(下端)に所定量の液摘を吐出させた後、横カメラ580で液摘を撮像しながら画像処理により真空校正を実施する(S34)。真空校正ではニードル503の下端の球状液摘が充填率100%及び20%で同じように引き込まれるように吸引圧力(真空値)を決定し(S35)、決定した真空値を記憶する(S36)。真空校正には例えば本出願人提案の特開2007−29912号に開示の技術が利用可能である。簡単に説明すると、ニードル503の下端に液滴が保持された状態で横カメラ580にて撮像し、撮像した液滴の形状から当該液滴の下端とニードル503の基準位置(下端)との距離を演算部15で算出する。算出した距離が一定時間設定された範囲内にとどまるように吐出制御部17で真空値を調整する。演算部15は、充填率100%〜20%までの間の真空値を所定の関数で補間(例えば直線補間)し、真空値補正テーブルを作成する(S37)。補間に用いる関数は実験的に定めることができる。   FIG. 3 is a flowchart showing a procedure for creating a vacuum pressure correction table. First, two liquid storage portions 501 having a filling rate of resin as a liquid material of 100% and 20%, respectively, are set in the liquid material discharge device (S31). The operator presses the detection button (S32). The optical sensor 7 detects the amount of resin in the liquid storage unit 501 (S33). After discharging a predetermined amount of liquid knob at the tip (lower end) of the needle 503, vacuum calibration is performed by image processing while imaging the liquid knob with the horizontal camera 580 (S34). In the vacuum calibration, the suction pressure (vacuum value) is determined so that the spherical liquid extract at the lower end of the needle 503 is drawn in the same manner at a filling rate of 100% and 20% (S35), and the determined vacuum value is stored (S36). . For vacuum calibration, for example, the technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-29912 proposed by the present applicant can be used. Briefly, the horizontal camera 580 captures an image with a droplet held at the lower end of the needle 503, and the distance between the lower end of the droplet and the reference position (lower end) of the needle 503 from the captured droplet shape. Is calculated by the calculation unit 15. The discharge controller 17 adjusts the vacuum value so that the calculated distance remains within the range set for a certain period of time. The calculation unit 15 interpolates (for example, linear interpolation) a vacuum value between 100% and 20% of the filling rate with a predetermined function, and creates a vacuum value correction table (S37). The function used for interpolation can be determined experimentally.

なお、吐出圧補正テーブル及び真空圧補正テーブルのいずれの作成手順においても、貯液部501の樹脂充填率100%及び20%に替えて又は加えて、例えば40%及び60%の充填率としたものについて吐出圧値及び真空値を決定してもよい。   In any of the preparation procedures of the discharge pressure correction table and the vacuum pressure correction table, for example, the filling rate is 40% and 60% instead of or in addition to the resin filling rate 100% and 20% of the liquid storage unit 501. You may determine a discharge pressure value and a vacuum value about a thing.

吐出圧補正及び真空圧補正を含めた自動運転動作の流れについて説明する。図4は、補正テーブル作成後の自動運転動作の一例を示すフローチャートである。本図の例では、基板一枚について塗布が終了するごとに(S51)、光学センサ7による樹脂量検出を実施する(S52)。樹脂量が十分であれば吐出圧補正の要否を判断し(S53)、必要があれば吐出圧を補正する(S54)。樹脂残量が十分でなければ貯液部交換を行い(S55)、貯液部イニシャル(充填率100%の貯液部を取り付けたことを装置に認識させる操作)を実施し(S56)、樹脂量検出(S57)の後、真空圧補正の要否を判断する(S58)。必要があれば真空圧を補正し(S59)、次の基板の塗布を実行する。なお、真空圧の補正は、S54のステップにおいて吐出圧の補正と併せて行ってもよい。   The flow of the automatic operation operation including the discharge pressure correction and the vacuum pressure correction will be described. FIG. 4 is a flowchart showing an example of the automatic driving operation after the correction table is created. In the example of this figure, whenever application | coating is complete | finished about one board | substrate (S51), the resin amount detection by the optical sensor 7 is implemented (S52). If the amount of resin is sufficient, it is determined whether or not the discharge pressure needs to be corrected (S53), and if necessary, the discharge pressure is corrected (S54). If the remaining amount of the resin is not enough, the liquid storage unit is replaced (S55), and the liquid storage unit initial (operation for recognizing that the liquid storage unit having a filling rate of 100% is attached) is performed (S56), After the amount detection (S57), it is determined whether or not the vacuum pressure correction is necessary (S58). If necessary, the vacuum pressure is corrected (S59), and the next substrate is applied. The correction of the vacuum pressure may be performed together with the correction of the discharge pressure in step S54.

本実施の形態では、液量(樹脂の充填率)に応じた上記の吐出制御に加え、チップ部品100の周囲のギャップ120の寸法に応じて液体材料としての樹脂(アンダーフィル)の吐出量を制御する。図10(B),(C)で既述のように、チップ部品100の位置ずれが無いと仮定した場合の(理想状態の)ギャップ120の寸法L1〜L4を例えば200μmとしたとき、ギャップ120の実際の寸法L1’〜L4’は150〜250μmと幅がある。このため、ギャップ120の寸法が200μmである場合に対応する定量吐出では、樹脂が過剰となってキャビティ111からあふれたり、逆に樹脂が不足してバンプ101の周囲に十分に行き渡らない等の問題が発生する。   In the present embodiment, in addition to the above discharge control according to the liquid amount (filling rate of resin), the discharge amount of the resin (underfill) as the liquid material is set according to the size of the gap 120 around the chip component 100. Control. As described above with reference to FIGS. 10B and 10C, when the dimensions L1 to L4 of the gap 120 (in an ideal state) when it is assumed that there is no displacement of the chip component 100 are, for example, 200 μm, the gap 120 The actual dimensions L1 ′ to L4 ′ are as wide as 150 to 250 μm. For this reason, in the quantitative discharge corresponding to the case where the gap 120 has a size of 200 μm, there is a problem that the resin is excessive and overflows from the cavity 111, or conversely, the resin is insufficient and does not sufficiently spread around the bump 101. Will occur.

そこで、本実施の形態では、吐出に先だってギャップ120の実際の寸法情報を取得して、この寸法情報に応じて樹脂の吐出量を制御する。図8に示す記憶部13は、1つの液体材料についてチップ部品100の複数通りの実際の寸法情報とそれに応じた吐出量制御情報とを相互に関連づけて補正テーブルとして記憶している。寸法情報は、寸法そのものであってもよいし、真値(位置ずれが無いと仮定した場合のギャップ寸法)との誤差や比率であってもよい。また、吐出量制御情報は、吐出量そのものであってもよいし、例えば吐出制御部17が貯液部501の内部に付加する圧力の値、前記圧力の付加時間、所定時間毎の吐出回数(ショット回数)の少なくともいずれかであってもよい。寸法情報と吐出量制御情報との関係は事前に実験やシミュレーション(計算)によって求めておくことができる。   Therefore, in the present embodiment, the actual dimension information of the gap 120 is acquired prior to the ejection, and the resin ejection amount is controlled in accordance with the dimension information. The storage unit 13 illustrated in FIG. 8 stores, as a correction table, a plurality of actual dimension information of the chip component 100 and discharge amount control information corresponding to the actual dimension information for one liquid material. The dimension information may be the dimension itself, or may be an error or a ratio with a true value (gap dimension when it is assumed that there is no displacement). The discharge amount control information may be the discharge amount itself. For example, the pressure value that the discharge control unit 17 applies to the inside of the liquid storage unit 501, the pressure addition time, the number of discharges per predetermined time ( Or the number of shots). The relationship between the dimension information and the discharge amount control information can be obtained in advance by experiments or simulations (calculations).

吐出量制御の流れは以下のとおりである。本実施の形態では、上カメラ587により基板11を上方から撮像し、画像処理によりチップ部品100の側面とキャビティ111の内側面とのギャップ120(チップ部品100の周囲のギャップ120)の実際の寸法情報を各側面について取得し(すなわち図10(C)の寸法L1’〜L4’に関する情報を導出し)、取得した寸法情報に対応する吐出量制御情報を記憶部13に読み込む。そして、ニードル503をギャップ120の上方に移動し、吐出制御部17は読み込んだ吐出量制御情報に従って貯液部501の内部の圧力を制御し、樹脂の吐出、注入を行う。樹脂の吐出、注入はギャップ120の辺ごとに順次実施する。ギャップ120の寸法が大きい辺からの注入量は多くし、小さい辺からの注入量は小さくする。なお、寸法情報の取得をギャップ120の各辺について行ったあとに樹脂の注入を辺ごとに順次実施してもよいし、ある辺について寸法情報の取得と樹脂の注入を行った後、次の辺について寸法情報の取得と樹脂の注入を行う流れとしてもよい。   The flow of the discharge amount control is as follows. In the present embodiment, the substrate 11 is imaged from above by the upper camera 587, and the actual dimension of the gap 120 (gap 120 around the chip component 100) between the side surface of the chip component 100 and the inner surface of the cavity 111 is processed by image processing. Information is acquired for each side surface (that is, information on the dimensions L1 ′ to L4 ′ in FIG. 10C is derived), and discharge amount control information corresponding to the acquired dimension information is read into the storage unit 13. Then, the needle 503 is moved above the gap 120, and the discharge control unit 17 controls the pressure inside the liquid storage unit 501 in accordance with the read discharge amount control information to discharge and inject the resin. Resin is discharged and injected sequentially for each side of the gap 120. The injection amount from the side where the size of the gap 120 is large is increased, and the injection amount from the small side is decreased. In addition, after obtaining the dimension information for each side of the gap 120, the resin injection may be sequentially performed for each side, or after obtaining the dimension information and the resin injection for a certain side, A flow of acquiring dimensional information and injecting resin for the side may be used.

図11は、ショット回数補正テーブルの作成手順とショット回数補正テーブルを使用して塗布する動作の一例を示すフローチャートである。まず、樹脂が充填された貯液部501(シリンジ)を液体材料吐出装置に装着し(S71)、光学センサ7により貯液部501内の樹脂量検出を実施する(S72)。次に、各辺毎に基準ギャップ寸法・基準吐出体積・基準ショット回数を設定する(S73)。設定後、操作者は自動運転画面に切替え(S74)、自動運転ONする(S75)。自動運転開始後、上カメラ587で各辺のギャップ寸法の計測を実施する(S76)。計測したギャップ寸法が登録したギャップ寸法(基準ギャップ寸法)と同値であれば(S77のYes)、ショット回数値をギャップ寸法とともに記憶する(S79)。異なる値であれば(S77のNo)、基準ショット回数に補正係数を掛けて値(補正後のショット回数値)を算出し(S78)、ギャップ寸法とともに補正後のショット回数値を記憶する(S79)。補正係数は基準ギャップ寸法、基準吐出体積、基準ショット回数、樹脂重量計測で算出されるFlowRate(1ショットあたりの重量)で算出される。(基準ギャップ−50μm)〜(基準ギャップ+50μm)までの間のショット回数値を所定の関数で補間(例えば直線補間)し、ショット回数補正テーブルを作成する(S80)。その後、ショット回数補正テーブルの補正値を使用して補正を実行し(S81)、塗布(吐出)を実行する(S82)。   FIG. 11 is a flowchart showing an example of a procedure for creating a shot number correction table and an operation for applying using the shot number correction table. First, the liquid storage part 501 (syringe) filled with resin is mounted on the liquid material discharge device (S71), and the optical sensor 7 detects the amount of resin in the liquid storage part 501 (S72). Next, a reference gap size, a reference discharge volume, and a reference shot number are set for each side (S73). After the setting, the operator switches to the automatic operation screen (S74) and turns on the automatic operation (S75). After starting the automatic operation, the upper camera 587 measures the gap dimension of each side (S76). If the measured gap dimension is the same as the registered gap dimension (reference gap dimension) (Yes in S77), the shot count value is stored together with the gap dimension (S79). If the values are different (No in S77), a value (shot number value after correction) is calculated by multiplying the reference shot number by the correction coefficient (S78), and the corrected shot number value is stored together with the gap size (S79). ). The correction coefficient is calculated by the reference gap size, the reference discharge volume, the reference shot number, and FlowRate (weight per shot) calculated by resin weight measurement. The shot number value between (reference gap−50 μm) and (reference gap + 50 μm) is interpolated with a predetermined function (for example, linear interpolation) to create a shot number correction table (S80). Thereafter, correction is performed using the correction value in the shot number correction table (S81), and application (discharge) is performed (S82).

図5に示すように、傾斜カメラとしての小型カメラ585(傾斜方向の視野軸を有する)がニードル503とともにZ軸スライダ325に取り付けられており、小型カメラ585はXYZ各方向にニードル503とともに移動可能である。これにより、小型カメラ585でニードル503の下端を図示の例では斜め上方から常時撮像することができ、例えば操作者がニードル503の下端の汚れ等を監視するのに便利である。   As shown in FIG. 5, a small camera 585 (having a viewing axis in the tilt direction) as a tilt camera is attached to a Z-axis slider 325 together with a needle 503, and the small camera 585 can move with the needle 503 in each of XYZ directions. It is. Thereby, the lower end of the needle 503 can be always imaged from obliquely upward in the illustrated example by the small camera 585, which is convenient for an operator to monitor dirt on the lower end of the needle 503, for example.

本実施の形態によれば、チップ部品100の周囲の実際のギャップ寸法に応じた吐出量制御を行うため、定量吐出の場合と比較して過不足の少ない適切な量の樹脂注入が可能となり、信頼性の高い液体材料吐出装置を実現できる。また、ギャップ120の各辺について実際の寸法情報を取得し、辺ごとに異なる吐出量制御を行うので、様々な位置ずれに柔軟に対応できる。   According to the present embodiment, since the discharge amount control according to the actual gap size around the chip component 100 is performed, it is possible to inject an appropriate amount of resin with less excess and deficiency than in the case of quantitative discharge, A highly reliable liquid material discharge device can be realized. In addition, since actual dimension information is acquired for each side of the gap 120 and different ejection amount control is performed for each side, various misalignments can be flexibly handled.

以上、実施の形態を例に本発明を説明したが、実施の形態の各構成要素や各処理プロセスには請求項に記載の範囲で種々の変形が可能であることは当業者に理解されるところである。以下、変形例について触れる。   The present invention has been described above by taking the embodiment as an example. However, it is understood by those skilled in the art that various modifications can be made to each component and each processing process of the embodiment within the scope of the claims. By the way. Hereinafter, modifications will be described.

チップ部品100は基板11のキャビティ111内に実装される場合に限定されず、またギャップ120はチップ部品100と他の部品との間のギャップであってもよい。   The chip component 100 is not limited to be mounted in the cavity 111 of the substrate 11, and the gap 120 may be a gap between the chip component 100 and another component.

上カメラ587は、Z方向についてもディスペンサユニット5と共に動作してもよい。また、ディスペンサユニット5は複数系統設けられてもよく、この場合、上カメラ587を同数設けてもよい。   The upper camera 587 may operate with the dispenser unit 5 also in the Z direction. Further, a plurality of dispenser units 5 may be provided. In this case, the same number of upper cameras 587 may be provided.

実施の形態では1基板の塗布が終了するごとに光学センサ7による樹脂量検出を実施する例を説明したが、樹脂量検出は複数基板あるいはロット単位の塗布が終了するごと実施してもよい。   In the embodiment, the example in which the resin amount is detected by the optical sensor 7 every time one substrate is applied has been described. However, the resin amount may be detected every time a plurality of substrates or lot units are applied.

実施の形態におけるディスペンサユニット5は、非接触塗布方式(ジェットディスペンサ等、特開2002−282740号公報)としてもよく、同じように本発明の作用効果が実現される。   The dispenser unit 5 in the embodiment may be a non-contact coating method (jet dispenser, etc., Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-282740), and the effects of the present invention are realized in the same manner.

1 基台
2 載置台
3 XYZテーブル
5 ディスペンサユニット
7 光学センサ
8 光学センサ駆動系
9 搬送ユニット
12 主制御部
13 記憶部
15 演算部
17 吐出制御部
501 貯液部
503 ニードル
511 ケース
533 ニードルホルダ
587 上カメラ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Base 2 Mounting base 3 XYZ table 5 Dispenser unit 7 Optical sensor 8 Optical sensor drive system 9 Conveyance unit 12 Main control part 13 Storage part 15 Calculation part 17 Discharge control part 501 Liquid storage part 503 Needle 511 Case 533 Needle holder 587 Top camera

Claims (8)

基板に実装されたチップ部品の周囲のギャップから液体材料を注入する液体材料吐出装置であって、前記ギャップの実際の寸法情報を取得する手段を備え、前記寸法情報に応じて液体材料の吐出量を制御する、液体材料吐出装置。   A liquid material ejection device for injecting a liquid material from a gap around a chip component mounted on a substrate, the device comprising means for obtaining actual dimension information of the gap, and an ejection amount of the liquid material according to the dimension information Controlling the liquid material discharge device. 前記ギャップの実際の寸法情報とそれに応じた吐出量制御情報とを記憶したテーブルを備える請求項1に記載の液体材料吐出装置。   The liquid material ejection apparatus according to claim 1, further comprising a table storing actual dimension information of the gap and ejection amount control information corresponding to the dimension information. 前記チップ部品を上方から撮像するカメラを備え、前記カメラで撮像した画像から前記ギャップの実際の寸法情報を取得する、請求項1又は2に記載の液体材料吐出装置。   The liquid material ejection apparatus according to claim 1, further comprising a camera that images the chip component from above, and that acquires actual dimension information of the gap from an image captured by the camera. 前記基板にはキャビティが形成され、前記キャビティに前記チップ部品が実装され、前記ギャップは前記チップ部品の側面と前記キャビティの内側面とのギャップである、請求項1から3のいずれか一項に記載の液体材料吐出装置。   The cavity is formed in the substrate, the chip component is mounted in the cavity, and the gap is a gap between a side surface of the chip component and an inner side surface of the cavity. The liquid material discharge apparatus as described. 前記ギャップの実際の寸法情報を前記チップ部品の複数の側面の各々について取得する請求項1から4のいずれか一項に記載の液体材料吐出装置。   The liquid material ejection device according to any one of claims 1 to 4, wherein actual dimensional information of the gap is acquired for each of a plurality of side surfaces of the chip component. 前記チップ部品は基板上にフェイスダウン実装されて前記チップ部品のバンプと前記基板の電極とが相互に接続され、前記バンプの周囲に液体材料を流し込む、請求項1から5のいずれか一項に記載の液体材料吐出装置。   The chip component is mounted face-down on a substrate, the bump of the chip component and the electrode of the substrate are connected to each other, and a liquid material is poured around the bump. The liquid material discharge apparatus as described. 貯液部と、前記貯液部の内部に存在する液体材料を吐出する吐出部と、吐出制御部とを備え、前記吐出制御部は、前記ギャップの実際の寸法情報に応じて、吐出時に前記貯液部の内部に付加する圧力の値、前記圧力の付加時間、所定時間毎の吐出回数の少なくともいずれかを制御する、請求項1から6のいずれか一項に記載の液体材料吐出装置。   A liquid storage unit, a discharge unit that discharges a liquid material present in the liquid storage unit, and a discharge control unit, wherein the discharge control unit is configured to discharge the liquid according to actual dimensional information of the gap. The liquid material discharge device according to any one of claims 1 to 6, wherein at least one of a value of pressure applied to the inside of the liquid storage unit, an addition time of the pressure, and a number of discharges per predetermined time is controlled. 基板に実装されたチップ部品の周囲のギャップの実際の寸法情報を取得し、前記寸法情報に応じて液体材料の吐出量を制御し、前記ギャップから液体材料を注入する、液体材料吐出方法。   A liquid material discharge method for acquiring actual dimension information of a gap around a chip component mounted on a substrate, controlling a discharge amount of the liquid material according to the dimension information, and injecting the liquid material from the gap.
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