JP2013524184A5 - - Google Patents

Claims (15)

1. 基板と、前記基板およびカバー層により取り囲まれるマイクロ流体流路構造物とを備える、流体サンプルの光学分析のために、発光のための発光体を含む分析ユニットと共に使用するためのテストエレメントであって、
   前記流路構造物（１１）は、少なくとも１つの入口開口部（１７）を有する測定チャンバ（１３）を備え、
   前記テストエレメント（３）は、前記カバー層に面し、前記流体サンプルの前記光学分析が実行される第１のレベル（２４）と、前記第１のレベル（２４）が前記カバー層と第２のレベル（２５）との間に配置されるように、前記第１のレベル（２４）と相互接続する前記第２のレベル（２５）とを有し、
   前記第１のレベル（２４）を通して延びる前記測定チャンバ（１３）の一部分は、混合領域（１５）を構成する前記第２のレベル（２５）内に少なくとも部分的に延びる前記測定チャンバ（１３）の一部分に接続する測定領域（１４）を形成し、
   前記第２のレベル（２５）内に配置される前記混合領域（１５）は、湾曲する床部（３９）を有し、
   ２つの光学屈折デバイス（２３、２３ａ、２３ｂ）は、前記第１のレベル（２４）内に配置され、それにより、前記流体サンプルの前記光学分析のために、前記テストエレメント（３）に入射する光は、前記第１のレベル（２４）を通して前記カバー層にほぼ平行に屈折し、前記測定チャンバ（１３）の前記測定領域（１４）を光軸（３０）に沿って横断するように屈折し、
   前記入射光は、前記第１の屈折デバイス（２３ａ）により前記カバー層に平行に屈折し、前記第２の屈折デバイス（２３ｂ）により前記テストエレメント（３）から外部に導かれる、テストエレメント。
2. 前記測定チャンバ（１３）の前記混合領域（１５）は、前記流体サンプルと反応し、固体状であるのが好ましく、乾燥するのが特に好ましい、前記流体サンプル中の分析物質を検出するための試薬を含むことを特徴とする、請求項１に記載のテストエレメント。
3. 前記測定チャンバ（１３）は、前記入口開口部（１７）が配置される副チャンバ（３４）を備え、前記副チャンバ（３４）は、前記テストエレメント（３）の前記第１のレベル（２４）内に配置され、前記副チャンバ（３４）の高さは、最大で、前記カバー層に垂直な前記第１のレベル（２４）の高さであることを特徴とする、請求項１または２に記載のテストエレメント。
4. 前記副チャンバ（３４）は、前記測定チャンバ（１３）内の前記流体サンプルの光学分析用の光線により妨害されないように配置されることを特徴とする、請求項３に記載のテストエレメント。
5. 前記水平面（１６）は、前記測定チャンバ（１３）の前記測定領域（１４）と、前記測定チャンバ（１３）内への前記入口開口部（１７）との間に配置され、水平面領域（３６）は、前記水平面（１６）と前記カバー層との間に形成され、前記測定チャンバ（１３）の前記測定領域（１４）の高さ未満である、前記カバー層に垂直な高さを有することを特徴とする、請求項１から４のいずれか一項に記載のテストエレメント。
6. 傾斜面（３７）は、前記測定領域（１３）と前記水平面（１６）との間に配置され、それにより、前記測定領域（１４）に面する一方の端部は、前記測定領域（１４）と前記混合領域（１５）との間の遷移部分に配置されるのが好ましいことを特徴とする、請求項１から５のいずれか一項に記載のテストエレメント。
7. 前記測定チャンバ（１３）の前記混合領域（１５）の前記床部（３９）は、球状部分（２６）の形態であり、半球状であるのが好ましいことを特徴とする、請求項１から６のいずれか一項に記載のテストエレメント。
8. 前記測定チャンバ（１３）は、前記測定領域（１４）および前記混合領域（１５）を備える測定キュベット（２８）を含み、前記測定キュベット（２８）の対向する側壁（４１）が前記測定領域（１４）の領域内で前記カバー層にほぼ垂直に向くことを特徴とする、請求項１から７のいずれか一項に記載のテストエレメント。
9. 前記測定チャンバ（１３）の前記測定キュベット（２８）は、円筒形状に形成されることを特徴とする、請求項８に記載のテストエレメント。
10. 前記測定キュベット（２８）は、部分的に重なるのが好ましい、２つの隣接する円筒（２２ａ、２２ｂ）を含む二重円筒（２２）の形態で構成され、各円筒（２２ａ、２２ｂ）は、前記テストエレメント（３）の前記第２のレベル（２５）内に湾曲した床部（３９）を有することを特徴とする、請求項９に記載のテストエレメント。
11. 分析ユニット（２）および請求項１から１０のいずれか一項に記載のテストエレメント（３）を備える、流体サンプルの光学分析用の分析システムであって、
    前記分析ユニット（２）は、前記テストエレメント（３）を保持するためのホルダ（４）、測定評価デバイス（１０）、受光器（９）、および発光するための発光体（８）を備え、
    光学分析のために、前記テストエレメント（３）は、基板（１２）と、前記基板（１２）および前記カバー層により取り囲まれるマイクロ流体流路構造物（１１）とを備え、
    前記流路構造物（１１）は、少なくとも１つの入口開口部（１７）を有する測定チャンバ（１３）を備え、
    前記テストエレメント（３）は、前記カバー層に面し、前記流体サンプルの前記光学分析が実行される第１のレベル（２４）と、前記第１のレベル（２４）が前記カバー層と第２のレベル（２５）との間に配置されるように、前記第１のレベル（２４）と相互接続する前記第２のレベル（２５）とを有し、
    前記第１のレベル（２４）を通して延びる前記測定チャンバ（１３）の一部分は、混合領域（１５）を形成する前記第２のレベル（２５）内に少なくとも部分的に延びる前記測定チャンバ（１３）の一部分に接続する測定領域（１４）を形成し、
    前記流体サンプルの前記光学分析に使用される光は、前記光が前記測定チャンバ（１３）の前記測定領域（１４）を光軸（３０）に沿って横断するように、前記第１のレベル（２４）を通して前記カバー層にほぼ平行に導かれ、
    前記第２のレベル（２５）内に配置される前記混合領域（１５）は、湾曲するように構造化される床部（３９）を有する、分析システム。
12. 前記分析ユニット（２）の前記ホルダ（４）は、前記ホルダ（４）内に保持されるテストエレメント（３）を前記ホルダ（４）の回転軸（７）の周りに回転させることができるように、前記回転軸（７）の周りに回転可能であり、前記回転軸（７）は、前記保持されたテストエレメント（３）を通して延びるのが好ましいことを特徴とする、請求項１１に記載の分析システム。
13. 流体サンプルの光学分析用の方法であって、
    基板（１２）と、前記基板（１２）およびカバー層により取り囲まれ、少なくとも１つの入口開口部（１７）を有する測定チャンバ（１３）を備える、マイクロ流体流路構造物（１１）とを含む請求項１から１２のいずれか一項に記載のテストエレメント（３）を提供するステップであって、前記テストエレメント（３）は、前記カバー層に面する第１のレベル（２４）と、前記第１のレベル（２４）が前記カバー層と第２のレベル（２５）との間に配置されるように前記第１のレベル（２４）と相互接続する前記第２のレベル（２５）とを有し、前記第１のレベル（２４）を通して延びる前記測定チャンバ（１３）の一部分は、混合領域（１５）を構成し、湾曲する床部（３９）を有する前記第２のレベル（２５）内に少なくとも部分的に延びる前記測定チャンバ（１３）の一部分に接続する測定領域（１４）を形成する、ステップと、
    前記流体サンプルが、前記入口開口部（１７）を通して前記測定チャンバ（１３）に流れ込むことを可能にするステップと、
    前記混合領域（１５）および前記測定領域（１４）に前記流体サンプルを充填するステップと、
    前記混合領域（１５）内に含まれ、乾燥状態であるのが好ましい試薬を提供するステップと、
    前記測定領域（１４）および前記混合領域（１５）内で前記流体サンプルを前記試薬と均質に混合するステップと、
    光が前記第１のレベル（２４）を通して前記カバー層にほぼ平行に導かれ、前記光が前記測定チャンバ（１３）の前記測定領域（１４）を光軸（３０）に沿って横断するように、前記流体サンプルの光学分析用の前記テストエレメント（３）内に光を導くステップと、
    前記光が前記テストエレメント（３）を出るように前記光を分離するステップと、
    分析ユニット（２）の測定評価デバイス（１０）の受光器から前記光を受け取り、それを評価するステップとを含む、方法。
14. 前記テストエレメント（３）の前記カバー層に垂直な発光体（８）を使用して発光するさらなるステップと、
    前記光が前記テストエレメントの前記第１のレベル（２４）を通して前記カバー層にほぼ平行に導かれるように、屈折デバイス（２３）を使用して前記光を屈折させるさらなるステップと、
    前記光が、前記測定領域（１４）を横断した後、分析ユニット（２）の受光器（９）に導かれるように、前記カバー層に垂直に前記光を屈折させるさらなるステップとを特徴とする、請求項１３に記載の方法。
15. 前記分析ユニット（２）のホルダ（４）内に前記テストエレメント（３）を保持するさらなるステップと、
    前記流体サンプルの運動を駆動させ、前記流体サンプルを前記測定チャンバ（１３）内に導くために、回転軸（７）の周りに前記テストエレメントを回転させるさらなるステップと、
    前記テストエレメント（３）の回転中に、発光および受光をパルス状にするさらなるステップとを特徴とする、請求項１３または１４に記載の方法。