JP2013520037A5

JP2013520037A5 -

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Publication number: JP2013520037A5
Application number: JP2012552211A
Authority: JP
Filing date: 2010-10-27
Publication date: 2013-09-26
Anticipated expiration: 2030-10-27

Description

本発明の一実施形態では、近似品質計測値は近似品質マップであり、エッジ品質計測値はエッジ品質マップであり、段階（ｇ）はさらに、画像Ｘおよび画像Ｙの近似サブバンドおよびエッジマップの画素に対応する値を、それぞれの人間の視覚システムに対する重要度に応じて割り当てることを含む、コントラストマップを生成する段階と、コントラストマップを利用して近似品質マップに重み付けされたプーリングを実行して、近似品質スコアを生成する段階と、コントラストマップを利用してエッジ品質マップに重み付けされたプーリングを実行して、エッジ品質スコアを生成する段階と、近似類似度スコアを、エッジ類似度スコアと組み合わせて、品質計測値を決定する段階とを有する。

本発明の実施形態のシステム１００を表す。図１ａのレベル数ユニット１０２を詳細に示す。図１ａの第１の分解ユニット１０３を詳細に示す。図１ａの第２の分解ユニット１０４を詳細に示す。図１ａの第１の集計ユニット１１３を詳細に示す。図１ａの第２の集計ユニット１１４を詳細に示す。ＳＳＩＭＩＱＭに対する別の実施形態について、図１ａの近似品質計測ユニット１０５、品質計測ユニット１０８、および、エッジ品質計測ユニット１０９を詳細に示す。ＡＤＩＱＭに基づく別の実施形態について、図１ａの近似品質計測ユニット１０５、品質計測ユニット１０８、および、エッジ品質計測ユニット１０９を詳細に示す。ＰＳＮＲＩＱＭに基づく別の実施形態について、図１ａの近似品質計測ユニット１０５、品質計測ユニット１０８、および、エッジ品質計測ユニット１０９を詳細に示す。ＶＩＦＩＱＭに基づく別の実施形態について、図１ａの近似品質計測ユニット１０５、品質計測ユニット１０８、および、エッジ品質計測ユニット１０９を詳細に示す。本発明の別の実施形態であるシステム１００ａを示す。図１ｋの第１の集計ユニット１１３ａを詳細に示す。図１ｋの第２の集計ユニット１１４ａをより詳細に示す。別の実施形態のための図１ｌの第１の選択的集計ユニット１７１を詳細に示す。別の実施形態のための図１ｍの第２の選択的集計ユニット１８３を詳細に示す。図１ｎの第１の合成ユニット１９７を詳細に示す。図１ｏの第２の合成ユニット２０６を詳細に示す。図１ｋの第１の分解ユニット１０３ａを詳細に示す。図１ｋの第２の分解ユニット１０４ａを詳細に示す。品質の計測値を計算するために本発明の実施形態が利用する方法の上位の記載を提供するブロック図である。品質の計測値を計算するためにシステム１００の一般的な枠組で利用される方法の各ステップを示すフローチャートである。一例における２レベルの分解された画像のための画像Ｘのサブバンドを示す。一例における３レベルの分解された画像のための画像Ｘのサブバンドを示す。原画像の一例を示す。簡単に観察できるように［０，２５５］の間でスケーリングされたサンプル値を利用して計算された図３ｂの画像のコントラストマップを示す。レベルごとに集計を実行する方法の各ステップを示すフローチャートを示す。層間の集計を実行する方法の各ステップを示すフローチャートを示す。品質の計測値のＳＳＩＭに基づく計算を利用して、別の実施形態で利用される方法の各ステップを示すフローチャートを示す。様々な分解レベルのためのＤＭＯＳおよびＳＳＩＭ_Ａ予測値の間のＬＣＣおよびＳＲＣＣを示す。様々なβ値のためのＤＭＯＳおよびＳＳＩＭ_ＤＷＴ予測値の間のＲＭＳ_Ｅを示す。ＶＩＦインデックスに基づく先行技術の方法のブロック図を示す。品質の計測値のＶＩＦに基づく計算を利用する別の実施形態で利用される方法の各ステップを示すフローチャートを示す。様々な分解レベルのためのＤＭＯＳおよびＶＩＦ_Ａ予測値の間のＬＣＣおよびＳＲＣＣを示す。様々なβ値のためのＤＭＯＳおよびＶＩＦＤＷＴ予測値の間のＲＭＳ_Ｅを示す。品質の計測値のＰＳＮＲに基づく計算を利用する別の実施形態で利用される方法の各ステップを示すフローチャートを示す。様々な分解レベルのためのＤＭＯＳおよびＰＳＮＲＡ予測値の間のＬＣＣおよびＳＲＣＣを示す。様々なβ値のためのＤＭＯＳおよびＰＳＮＲＤＷＴ予測値の間のＲＭＳ_Ｅを示す。ライブ画像データベースの様々なタイプの画像変形のためのＳＲＣＣおよびＰＳＮＲ_Ａ値を示すテーブルを示す。品質の計測値のＡＤに基づく計算を利用する別の実施形態で利用される方法の各ステップを示すフローチャートを示す。様々な分解レベルのためのＤＭＯＳおよびＡＤＡ予測値の間のＬＣＣおよびＳＲＣＣを示す。ＬＩＶＥデータベースの様々なメトリックおよびＤＭＯＳ値の間のＬＣＣを示す。ＬＩＶＥデータベースの様々なメトリックおよびＤＭＯＳ値の間のＲＭＳ_Ｅを示す。ＬＩＶＥデータベースのメトリックおよびＤＭＯＳ値の間のＳＲＣＣを示す。

本発明の別の実施形態におけるレベル数ユニット１０２の構造を図１ｂに示す。この構造は、見える距離と画像Ｙが表示されるデバイスの高さの比率を決定する最小サイズユニット１２０と、この比率を利用してＮの値を決定する計算ユニット１２１とを含む。別の実施形態では、第１の分解ユニット１０３が（図１ｃ参照）、第１レベル１分解ユニット１２４、第１レベルｊ分解ユニット１２５、および、精度に基づいて、選択する中間サブバンドを決定する第１のサブバンド選択ユニット１２６を含む。第１のサブバンド選択ユニット１２６は、第１レベル１分解ユニット１２４および第１レベルｊ分解ユニット１２５が利用する中間サブバンドを決定するために利用される。第１のサブバンド選択ユニット１２６はさらに、精度を達成するために必要な中間サブバンド数に基づいて、選択する中間サブバンドを決定する第１のサブバンド選択サブユニット１２７も含む。本願の後半で説明するように、別の選択プロセスを利用して、サブバンド集計中に、Ｎレベルの多解像度分解が生成するサブバンドノイズのいずれを利用するかを選択することもできる。多解像度分解を画像Ｘに行い、レベル２を生成するためにレベル１の中間サブバンドを生成する第１レベル１分解ユニット１２４の出力は、多解像度分解を、ｊが２からＮであるところのレベルｊ−１で行うことで生成される、選択された中間サブバンドのみに行う第１レベルｊ分解ユニット１２５に供給される。同様に、第２の分解ユニット１０４は、精度に基づいて選択する中間サブバンドを決定する第２レベル１分解ユニット１３０および第２レベルｊ分解ユニット１３１および第２のサブバンド選択ユニット１３２を含む（図１ｄ参照）。第２のサブバンド選択ユニット１３２は、第２レベル１分解ユニット１３０および第２レベルｊ分解ユニット１３１が利用する中間サブバンドを決定するために利用される。第２のサブバンド選択ユニット１３２はさらに、精度を達成するために必要な中間サブバンド数に基づいて、選択する中間サブバンドを決定する第２のサブバンド選択サブユニット１３３も含む。多解像度分解を画像Ｘに行い、レベル２で処理するためにレベル１の中間サブバンドを生成する第１レベル１分解ユニット１３０の出力は、多解像度分解を、ｊが２からＮであるところのレベルｊ−１で行うことで生成される、選択された中間サブバンドのみに行う第１レベルｊ分解ユニット１３１に供給される。

第１の集計ユニット１１３のコンポーネントを図１ｅに示す。第１の集計ユニット１１３は、第１の詳細サブバンド集計ユニット１３５、並びに、第１レベルｊ集計ユニット１３６および、各レベルｊで選択される中間サブバンドおよび、実質的に同じ解像度１３４の画像Ｘについて選択される詳細サブバンドを選択する計算手段を含む。第１レベルｊ集計ユニット１３６は、画像Ｘのレベルｊのエッジマップを、前述した各レベルｊ（ｊ＝１からＮ−１）で生成される選択された中間サブバンドの二乗の関数として決定する。レベルｊで生成される中間サブバンドの一部のみ（例えば、実質的に解像度が同じサブバンド）を、レベルｊのエッジマップを生成するための集計目的に選択する。第１レベルｊ集計ユニット１３６の出力は、各レベルｊで生成された１以上の選択される中間サブバンドと、レベルＮで生成された画像Ｘの１以上の選択された詳細サブバンドとを集計する第１の詳細サブバンド集計ユニット１３５により処理される。各レベルｊで選択される中間サブバンドおよび実質的に同じ解像度１３４を有する画像Ｘの選択される詳細サブバンドを選択する計算手段は、第１の詳細サブバンド集計ユニット１３５および第１レベルｊ集計ユニット１３６が、各レベルｊの中間サブバンドおよび集計用に実質的に同じ解像度を持つ画像Ｘの詳細サブバンドを選択する際に利用する。ここで、ｊは単にインデックス変数であり、１とＮ−１との間の任意の整数値であってよいことに留意されたい。第１の詳細サブバンド集計ユニット１３５は、第１レベルＮ集計ユニット１３７および第１のエッジマップユニット１３８を含む。第１レベルＮ集計ユニット１３７は、画像ＸのレベルＮのエッジマップを、レベルＮで生成される画像Ｘの選択される詳細サブバンドの二乗の関数として決定して、第１のエッジマップユニット１３８は、画像Ｘのエッジマップを、レベルｊのエッジマップと、第１レベルＮ集計ユニット１３７から受け取るレベルＮのエッジマップとの重み付けされた合計として決定する。

第２の集計ユニット１１4のコンポーネントを図１ｆに示す。第２の集計ユニット１１４は、第２の詳細サブバンド集計ユニット１４１、並びに、第２レベルｊ集計ユニット１４１および、各レベルｊで選択される中間サブバンドおよび、実質的に同じ解像度１３9の画像Ｙの選択される詳細サブバンドを選択する計算手段を含む。第２レベルｊ集計ユニット１４１は、画像Ｙの各レベルｊ（ｊ＝１からＮ−１）のエッジマップを、前述した各レベルｊで生成される選択された中間サブバンドの二乗の関数として決定する。第２レベルｊ集計ユニット１４１の出力は、各レベルｊで生成された１以上の選択される中間サブバンドと、レベルＮで生成された画像Ｙの１以上の選択された詳細サブバンドとを集計する第２の詳細サブバンド集計ユニット１４０により処理される。各レベルｊで選択される中間サブバンドおよび実質的に同じ解像度１３９を有する画像Ｙの選択される詳細サブバンドを選択する計算手段は、第２の詳細サブバンド集計ユニット１４０および第２レベルｊ集計ユニット１４１が、各レベルｊの中間サブバンドおよび集計用に実質的に同じ解像度を持つ画像Ｙの詳細サブバンドを選択する際に利用する。ここでもまた、ｊは単にインデックス変数であり、１とＮ−１との間の任意の整数値であってよいことに留意されたい。第２の詳細サブバンド集計ユニット１４０は、第２レベルＮ集計ユニット１４２および第２エッジマップユニット１４３を含む。第２レベルＮ集計ユニット１４２は、画像ＹのレベルＮのエッジマップを、レベルＮで生成される画像Ｙの選択される詳細サブバンドの二乗の関数として決定して、第２エッジマップユニット１４３は、画像Ｙのエッジマップを、レベルｊのエッジマップと、第２レベルＮ集計ユニット１４２から受け取るレベルＮのエッジマップとの重み付けされた合計として決定する。

図１ｌに示すように、画像Ｘを処理する第１の集計ユニット１１３ａは、第１の選択ユニット１７０を含み、その出力が第１の選択集計ユニット１７１の入力に接続される。第１の選択ユニット１７０は、各レベルｉの中間サブバンド（ｉは１からＮ−１の範囲であってよい）、および、画像Ｘの詳細サブバンドを、品質の計測値を決定するとき達成する必要のある精度に基づいて選択する。第１の選択集計ユニット１７１は、画像Ｘの選択された中間サブバンドおよび選択された詳細サブバンドのみを集計する。第１の集計ユニット１１３ａはさらに、実質的に同じ解像度１３４ａを有する画像Ｘの各レベルｉの選択された中間サブバンドおよび選択された詳細サブバンドを選択する計算手段を含む。１３４ａは、前述した１３４に類似しており、集計用の実質的に同じ解像度を有する中間サブバンドおよび詳細サブバンドを選択するために利用される。第１の選択ユニット１７０はさらに、精度を達成するために必要な中間サブバンドおよび詳細サブバンドの数に基づいて画像Ｘの各レベルｉの中間サブバンドおよび詳細サブバンドを選択する。別の実施形態では、第１の選択ユニットは、レベルｉ−ＷＰ近似サブバンドの１以上および画像Ｘの詳細サブバンドの１以上を選択する第１のウェーブレットパケット（ＷＰ）詳細選択サブユニット１７６を含む。第１のＷＰ詳細サブバンド選択サブユニット１７６は、選択時に画像Ｘのレベルｉ詳細サブバンドの１以上を含めるために第１の詳細選択モジュール１７９を含む。

第１のレベルｉ−中間サブバンド集計ユニット１７３は、各レベルｉ（ｉ＝１からＮ−１）の画像Ｘのための各選択された中間サブバンドを二乗して、画像Ｘの各選択された中間サブバンドに所定の重みで実行された二乗処理の結果を乗算して、画像Ｘにレベルｉでエッジマップを生成するために行われた合計の結果に平方根関数を適用する第１のレベルｉ計算ユニット１７７を含む。第１の詳細サブバンド集計ユニット１７４は、画像Ｘの選択された詳細サブバンドそれぞれを二乗して、画像Ｘの各選択された詳細サブバンドの所定の重みで、ステップで生成された二乗結果を乗算して、ステップで行われた乗算の積を合計して、画像ＸのレベルＮのエッジマップを生成するステップで行われた合計結果に平方根関数を適用する第１の詳細サブバンド計算ユニット１８０を含む。第１のエッジマップ決定ユニット１７５は、画像Ｘの各レベルｉのエッジマップを、レベルｉの所定の重みで乗算して、画像ＸのレベルＮのエッジマップを、レベルＮの所定の重みで乗算して、乗算結果の積を合計するための第１の計算ユニット１７８を含む。

図１ｍに示すように、画像Ｙを処理する第２の集計ユニット１１４ａは、第２の選択ユニット１８２を含み、その出力が第２の選択集計ユニット１８３の入力に接続される。第２の選択ユニット１８２は、各レベルｉの中間サブバンド（ｉは１からＮ−１の範囲であってよい）、および、画像Ｙの詳細サブバンドを、品質の計測値を決定するとき達成する必要のある精度に基づいて選択する。第２の選択集計ユニット１８３は、画像Ｙの選択された中間サブバンドおよび選択された詳細サブバンドのみを集計する。第２の集計ユニット１１４ａはさらに、実質的に同じ解像度１３９ａを有する画像Ｙの各レベルｉの選択された中間サブバンドおよび選択された詳細サブバンドを選択する計算手段を含む。１３９ａは、前述した１３９に類似しており、集計用の実質的に同じ解像度を有する中間サブバンドおよび詳細サブバンドを選択するために利用される。第２の選択ユニット１８２はさらに、精度を達成するために必要な中間サブバンドおよび詳細サブバンドの数に基づいて画像Ｙの各レベルｉの中間サブバンドおよび詳細サブバンドを選択する第２の選択サブユニット１８４を含む。別の実施形態では、第２の選択ユニット１８２は、画像Ｙのレベルｉ−ＷＰ近似サブバンドの１以上および詳細サブバンドの１以上を選択する第２のＷＰ詳細選択サブユニット１８８を含む。第２のＷＰ詳細サブバンド選択サブユニット１８８は、選択時に画像Ｙのレベルｉ詳細サブバンドの１以上を含めるために第２の詳細選択モジュール１９１を含む。

第２のレベルｉ−中間サブバンド集計ユニット１８５は、各レベルｉの画像Ｙのための各選択された中間サブバンドを二乗して、画像Ｙの各選択された中間サブバンドに所定の重みで実行された二乗処理の結果を乗算して、乗算結果の積を合計して、画像Ｙにレベルｉのエッジマップを生成するために行われた合計の結果に平方根関数を適用する第２のレベルｉ計算ユニット１８９を含む。第２の詳細サブバンド集計ユニット１８６は、画像Ｙの選択された詳細サブバンドそれぞれを二乗して、画像Ｙの各選択された詳細サブバンドの所定の重みで行われた二乗結果を乗算して、行われた乗算の積を合計して、画像ＹのレベルＮのエッジマップを生成するために行われた合計結果に平方根関数を適用する第２の詳細サブバンド計算ユニット１９２を含む。第２のエッジマップ決定ユニット１８７は、画像Ｙの各レベルｉのエッジマップを、レベルｉの所定の重みで乗算して、画像ＹのレベルＮのエッジマップを、レベルＮの所定の重みで乗算して、乗算結果の積を合計するための第２の計算ユニット１９０を含む。

上述した方法において、段階（ａ１０ｉｖ）は、（ａ１２ｉ）平方根関数を画像Ｘの水平エッジマップ、垂直エッジマップ、および対角エッジマップに適用する段階と、（ａ１２ｉｉ）平方根関数を適用した結果を合計する段階とを含み（ａ１２）、段階（ｂ１０ｉｖ）は、（ｂ１２ｉ）平方根関数を画像Ｙの水平エッジマップ、垂直エッジマップ、および対角エッジマップに適用する段階と、（ｂ１２ｉｉ）平方根関数を適用した結果を合計する段階とを含む（ｂ１２）。

上述したシステムでは、画像Ｘおよび画像Ｙのレベルｉ−ＷＰ詳細サブバンドはさらに、それぞれの画像について、レベルｉ−ＷＰ水平サブバンド、レベルｉ−ＷＰ垂直サブバンド、およびレベルｉ−ＷＰ対角サブバンドを含み、第１の水平エッジマップユニット（ａ３４ｉ）は、集計時に画像Ｘのレベルｉ−ＷＰ水平サブバンドを含む第１の水平サブユニットを含み（ａ３５）、第１の垂直エッジマップユニット（ａ３４ｉｉ）は、集計時に画像Ｘのレベルｉ−ＷＰ垂直サブバンドを含む第１の垂直サブユニットを含み（ｂ３５）、第１の対角エッジマップユニット（ａ３４ｉｉｉ）は、集計時に画像Ｘのレベルｉ−ＷＰ対角サブバンドを含む第１の対角サブユニットを含み（ｃ３５）、第２の水平エッジマップユニット（ｂ３４ｉ）は、集計時に画像Ｙのレベルｉ−ＷＰ水平サブバンドを含む第２の水平サブユニットを含み（ｄ３５）、第２の垂直エッジマップユニット（ｂ３４ｉｉ）は、集計時に画像Ｙのレベルｉ−ＷＰ垂直サブバンドを含む第２の垂直サブユニットを含み（ｅ３５）、第２の対角エッジマップユニット（ｂ３４ｉｉｉ）は、集計時に画像Ｙのレベルｉ−ＷＰ対角サブバンドを含む第２の対角サブユニットを含む（ｆ３５）。

上述したシステムにおいては、近似品質計測値は近似品質マップであり、エッジ品質計測値はエッジ品質マップであり、品質計測ユニット（ｇ２５）はさらに、（ａ４２）画像Ｘおよび画像Ｙの近似サブバンドおよびエッジマップの画素に対応する値を、それぞれの人間の視覚システムに対する重要度に応じて割り当てることを含む、コントラストマップを生成するコントラストマップユニットと、（ｂ４２）コントラストマップを利用して近似品質マップに重み付けされたプーリングを実行して、近似品質スコアを生成する第１のプーリングユニットと、（ｃ４２）コントラストマップを利用してエッジ品質マップに重み付けされたプーリングを実行して、エッジ品質スコアを生成する第２のプーリングユニットと、（ｄ４２）第１のプーリングユニット（ｂ４２）の近似類似度スコアを、第２のプーリングユニット（ｃ４２）のエッジ類似度スコアと組み合わせて、品質計測値を決定するスコア合成ユニットとを有する。

Claims

変形画像Ｙ用の品質計測値を決定するための方法であって、前記画像Ｙと、前記画像Ｙと同じ行列数の画素を有し、変形されていない参照画像Ｘとの間の類似度を特徴付け、
（ａ）レベル１、２、…ｉ、ｉ＋１、…Ｎを含むＮレベルの多解像度分解を画像Ｘに適用して、
１からＮ−１までの範囲である各レベルｉについて、レベルｉ＋１で処理するために前記画像Ｘの中間サブバンドを生成して、
レベルＮについて、前記画像Ｘの主要コンテンツを含む近似サブバンドと、前記画像Ｘのエッジを含む詳細サブバンドとを生成する段階と、
（ｂ）１、２、…ｉ、ｉ＋１、…Ｎを含むＮレベルの多解像度分解を前記画像Ｙに適用して、
１からＮ−１までの範囲である各レベルｉについて、レベルｉ＋１で処理するために前記画像Ｙの中間サブバンドを生成して、
前記レベルＮについて、前記画像Ｙの主要コンテンツを含む近似サブバンドと、前記画像Ｙのエッジを含む詳細サブバンドとを生成する段階と、
（ｃ）画質メトリック（ＩＱＭ）を前記画像Ｘの前記近似サブバンドと前記画像Ｙの前記近似サブバンドとに適用して、前記画像Ｘの前記主要コンテンツと前記画像Ｙの前記主要コンテンツとの間の類似度を特徴付ける近似品質計測値を生成する段階と、
（ｄ）前記画像Ｘについての１からＮ−１までの範囲である前記レベルｉの前記中間サブバンドおよび前記画像Ｘの前記詳細サブバンドを集計して、前記画像Ｘの前記エッジを特徴付ける前記画像Ｘのエッジマップを生成する段階と、
（ｅ）前記画像Ｙについての１からＮ−１までの範囲である前記レベルｉの前記中間サブバンドおよび前記画像Ｙの前記詳細サブバンドを集計して、前記画像Ｙの前記エッジを特徴付ける前記画像Ｙのエッジマップを生成する段階と、
（ｆ）前記画像Ｘの前記エッジマップと前記画像Ｙの前記エッジマップとの間に前記ＩＱＭを適用して、前記画像Ｘの前記エッジと前記画像Ｙの前記エッジとの間の類似度を特徴付けるエッジ品質計測値を生成する段階と、
（ｇ）前記近似品質計測値と前記エッジ品質計測値とを処理して前記品質計測値を決定する段階と
を備える方法。
前記段階（ｄ）はさらに、
前記画像Ｘの１からＮ−１までの範囲である各レベルｉについての前記中間サブバンドと前記詳細サブバンドとを、前記品質計測値の決定で達成される精度に基づいて選択する段階と、
前記画像Ｘについて、選択された中間サブバンドおよび選択された詳細サブバンドのみを集計する段階と
を有し、
前記段階（ｅ）はさらに、
前記画像Ｙの前記各レベルｉについての前記中間サブバンドと前記詳細サブバンドとを、前記品質計測値の決定で達成される前記精度に基づいて選択する段階と、
前記画像Ｙについて、選択された中間サブバンドおよび選択された詳細サブバンドのみを集計する段階と
を有する請求項１に記載の方法。
前記画像Ｘについて前記中間サブバンドおよび前記詳細サブバンドを選択する段階はさらに、前記画像Ｘについて、同じ解像度を有する前記各レベルｉについての前記選択された中間サブバンドと前記詳細サブバンドと選択する段階を有し、
前記画像Ｙについて前記中間サブバンドおよび前記詳細サブバンドを選択する段階はさらに、前記画像Ｙについて、同じ解像度を有する前記各レベルｉについての前記選択された中間サブバンドと前記詳細サブバンドと選択する段階を有する請求項２に記載の方法。
前記画像Ｘおよび前記画像Ｙの前記各レベルｉについての前記中間サブバンドは、各画像において、レベルｉ−詳細サブバンドおよびレベルｉ−ウェーブレットパケット（ＷＰ）サブバンドを含み、
前記レベルｉ−ＷＰサブバンドは、レベルｉ−ＷＰ近似サブバンドおよびレベルｉ−ＷＰ詳細サブバンドを含み、
前記レベルｉ−ＷＰ近似サブバンドはさらに、レベルｉ−水平ＷＰ近似サブバンドとレベルｉ−垂直ＷＰ近似サブバンドと、レベルｉ−対角ＷＰ近似サブバンドとを含む請求項２または３に記載の方法。
前記段階（ａ）において、
レベル１で、前記画像Ｘに前記多解像度分解を適用して、レベル２における処理用に、レベル１の中間サブバンドを生成する段階と、
２からＮまでの範囲であるレベルｉで、レベルｉ−１で行われる前記多解像度分解で生成された前記中間サブバンドの１以上に前記多解像度分解を適用する段階とを実行すること、および、
前記段階（ｂ）において、
レベル１で、前記画像Ｙに前記多解像度分解を適用して、レベル２における処理用に、前記レベル１の中間サブバンドを生成する段階と、
２からＮ−１までの範囲であるレベルｉで、レベルｉ−1で行われる前記多解像度分解で生成された前記中間サブバンドの１以上に前記多解像度分解を適用する段階とを実行すること、の１以上を実行する請求項１から４のいずれか一項に記載の方法。
前記近似品質計測値は近似品質マップであり、前記エッジ品質計測値はエッジ品質マップであり、
前記段階（ｇ）はさらに、
前記画像Ｘおよび前記画像Ｙの前記近似サブバンドおよび前記エッジマップの前記画素に対応する値を、それぞれの人間の視覚システムに対する重要度に応じて割り当てることを含む、コントラストマップを生成する段階と、
前記コントラストマップを利用して前記近似品質マップに重み付けされたプーリングを実行して、近似品質スコアを生成する段階と、
前記コントラストマップを利用して前記エッジ品質マップに重み付けされたプーリングを実行して、エッジ品質スコアを生成する段階と、
前記近似品質スコアを、エッジ類似度スコアと組み合わせて、前記品質計測値を決定する段階とを有する請求項１から５のいずれか一項に記載の方法。
Ｎを、人間の視覚システムに対してピーク応答を生成する、近似サブバンドＳの最小サイズの関数として決定する段階をさらに備える請求項１から６のいずれか一項に記載の方法。
前記段階（ｃ）は、前記画像Ｘの前記近似サブバンドと前記画像Ｙの前記近似サブバンドとに構造的類似度（ＳＳＩＭ）ＩＱＭを適用して、近似ＳＳＩＭマップＳＳＩＭ_Ａを生成する段階を有し、
前記段階（ｆ）は、前記画像Ｘの前記エッジマップと前記画像Ｙの前記エッジマップとの間にＳＳＩＭＩＱＭを適用して、エッジＳＳＩＭマップＳＳＩＭ_Ｅを生成する段階を有し、
前記段階（ｇ）は、前記ＳＳＩＭ_Ａと前記ＳＳＩＭ_Ｅとを処理して、ＳＳＩＭ_ＤＷＴスコアを前記品質計測値として決定する段階を含む、または、
前記段階（ｃ）は、前記画像Ｘの前記近似サブバンドと前記画像Ｙの前記近似サブバンドとに絶対差（ＡＤ）ＩＱＭを適用して、近似ＡＤマップＡＤ_Ａを生成する段階を有し、
前記段階（ｆ）は、前記画像Ｘの前記エッジマップと前記画像Ｙの前記エッジマップとの間に前記ＡＤＩＱＭを適用して、エッジＡＤマップＡＤ_Ｅを生成する段階を有し、
前記段階（ｇ）は、前記ＡＤ_Ａと前記ＡＤ_Ｅとを処理して、ＡＤ_ＤＷＴスコアを前記品質計測値として決定する段階を含む、または、
前記段階（ｃ）は、前記画像Ｘの前記近似サブバンドと前記画像Ｙの前記近似サブバンドとにピーク信号対雑音比（ＰＳＮＲ）ＩＱＭを適用して、ＰＳＮＲ近似品質スコアＰＳＮＲ_Ａを生成する段階を有し、
前記段階（ｆ）は、前記画像Ｘの前記エッジマップと前記画像Ｙの前記エッジマップとの間にＰＳＮＲＩＱＭを適用して、ＰＳＮＲエッジ品質スコアＰＳＮＲ_Ｅを生成する段階を有し、
前記段階（ｇ）は、前記ＰＳＮＲ_Ａと前記ＰＳＮＲ_Ｅとを処理して、ＰＳＮＲ_ＤＷＴスコアを前記品質計測値として決定する段階を含む、または、
前記段階（ｃ）は、前記画像Ｘの前記近似サブバンドと前記画像Ｙの前記近似サブバンドとに視覚情報忠実度（ＶＩＦ）ＩＱＭを適用して、ＶＩＦ近似品質スコアＶＩＦ_Ａを生成する段階を有し、
前記段階（ｆ）は、前記画像Ｘの前記エッジマップと前記画像Ｙの前記エッジマップとの間にＶＩＦＩＱＭを適用して、ＶＩＦエッジ品質スコアＶＩＦ_Ｅを生成する段階を有し、
前記段階（ｇ）は、前記ＶＩＦ_Ａと前記ＶＩＦ_Ｅとを処理して、ＶＩＦ_ＤＷＴスコアを前記品質計測値として決定する段階を含む請求項１から７のいずれか一項に記載の方法。
前記段階（ａ）および前記段階（ｂ）は、Ｎレベルの離散ウェーブレット変換を適用する段階を有し、前記離散ウェーブレット変換は、ハール変換、ニューランド変換、またはＤａｕｂｅｃｈｉｅｓフィルタを利用するウェーブレット変換であってよい請求項１から８のいずれか一項に記載の方法。
変形画像Ｙ用の品質計測値を決定するためのシステムであって、前記画像Ｙと、前記画像Ｙと同じ行列数の画素を有し、変形されていない参照画像Ｗとの間の類似度を特徴付け、
プロセッサと、コンピュータ可読命令が格納されたコンピュータ可読格納媒体とを備え、前記コンピュータ可読命令は前記プロセッサにより実行されると、
（ａ）１、２、…ｉ、ｉ＋１、…Ｎを含むＮレベルの多解像度分解を画像Ｘに適用して、
１からＮ−１までの範囲である各レベルｉについて、レベルｉ＋１で処理するために画像Ｘの中間サブバンドを生成して、
レベルＮについて、前記画像Ｘの主要コンテンツを含む近似サブバンドと、前記画像Ｘのエッジを含む詳細サブバンドとを生成する第１の分解ユニットと、
（ｂ）１、２、…ｉ、ｉ＋１、…Ｎを含むＮレベルの多解像度分解を前記画像Ｙに適用して、
１からＮ−１までの範囲である各レベルｉについて、前記画像Ｙの中間サブバンドを生成して、
前記レベルＮについて、前記画像Ｙの主要コンテンツを含む近似サブバンドと、前記画像Ｙのエッジを含む詳細サブバンドとを生成する第２の分解ユニットと、
（ｃ）画質メトリック（ＩＱＭ）を前記画像Ｘの前記近似サブバンドと前記画像Ｙの前記近似サブバンドとに適用して、前記画像Ｘの前記主要コンテンツと前記画像Ｙの前記主要コンテンツとの間の類似度を特徴付ける近似品質計測値を生成する近似品質計測ユニットと、
（ｄ）前記画像Ｘについての１からＮ−１までの範囲である前記レベルｉの前記中間サブバンドおよび前記画像Ｘの前記詳細サブバンドを集計して、前記画像Ｘの前記エッジを特徴付ける前記画像Ｘのエッジマップを生成する第１の集計ユニットと、
（ｅ）前記画像Ｙについての１からＮ−１までの範囲である前記レベルｉの前記中間サブバンドおよび前記画像Ｙの前記詳細サブバンドを集計して、前記画像Ｙの前記エッジを特徴付ける前記画像Ｙのエッジマップを生成する第２の集計ユニットと、
（ｆ）前記画像Ｘの前記エッジマップと前記画像Ｙの前記エッジマップとの間に前記ＩＱＭを適用して、前記画像Ｘの前記エッジと前記画像Ｙの前記エッジとの間の類似度を特徴付けるエッジ品質計測値を生成するエッジ品質計測ユニットと、
（ｇ）前記近似品質計測値と前記エッジ品質計測値とを処理して前記品質計測値を決定する品質計測ユニットと
を形成するシステム。
前記第１の集計ユニットはさらに、
前記画像Ｘの１からＮ−１までの範囲である各レベルｉについての前記中間サブバンドと前記詳細サブバンドとを、前記品質計測値の決定で達成される精度に基づいて選択する第１の選択ユニットと、
前記画像Ｘについて、選択された中間サブバンドおよび選択された詳細サブバンドのみを集計する第１の選択的集計ユニットとを有し、
前記第２の集計ユニットはさらに、
前記画像Ｙの前記各レベルｉについての前記中間サブバンドと前記詳細サブバンドとを、前記品質計測値の決定で達成される精度に基づいて選択する第２の選択ユニットと、
前記画像Ｙについて、選択された中間サブバンドおよび選択された詳細サブバンドのみを集計する第２の選択的集計ユニットとを有する請求項１０に記載のシステム。
前記第１の集計ユニットはさらに、前記画像Ｘについて、同じ解像度を有する前記各レベルｉについての前記選択された中間サブバンドと前記詳細サブバンドと選択する計算手段を有し、
前記第２の集計ユニットはさらに、前記画像Ｙについて、同じ解像度を有する前記各レベルｉについての前記選択された中間サブバンドと前記詳細サブバンドと選択する計算手段を有する請求項１１に記載のシステム。
前記画像Ｘおよび前記画像Ｙの前記各レベルｉについての前記中間サブバンドは、各画像において、レベルｉ−詳細サブバンドおよびレベルｉ−ウェーブレットパケット（ＷＰ）サブバンドを含み、
前記レベルｉ−ＷＰサブバンドは、レベルｉ−ＷＰ近似サブバンドおよびレベルｉ−ＷＰ詳細サブバンドを含み、
前記レベルｉ−ＷＰ近似サブバンドはさらに、レベルｉ−水平ＷＰ近似サブバンドとレベルｉ−垂直ＷＰ近似サブバンドと、レベルｉ−対角ＷＰ近似サブバンドとを含む請求項１１または１２に記載のシステム。
前記第１の分解ユニットにおいて、
前記画像Ｘに前記多解像度分解を適用して、レベル２における処理用に、レベル１の中間サブバンドを生成する第１のレベル１分解ユニット、および、
２からＮまでの範囲であるレベルｉで、レベルｉ−１で行われる前記多解像度分解で生成された前記中間サブバンドの１以上に前記多解像度分解を適用する第１のレベルｉ分解ユニット、並びに、
前記第２の分解ユニットにおいて、
前記画像Ｙに前記多解像度分解を適用して、レベル２における処理用に、レベル１の中間サブバンドを生成する第２のレベル１分解ユニット、および、
２からＮ−１までの範囲である前記レベルｉで、レベルｉ−１で行われる前記多解像度分解で生成された前記中間サブバンドの１以上に前記多解像度分解を適用する第２のレベルｉ分解ユニット、の１以上が含まれる請求項１０から１３のいずれか一項に記載のシステム。
Ｎを、人間の視覚システムに対してピーク応答を生成する、近似サブバンドＳの最小サイズの関数として決定する計算手段をさらに備える請求項１０から１４のいずれか一項に記載のシステム。
前記第１の分解ユニット（ａ）および前記第２の分解ユニット（ｂ）は、Ｎレベルの離散ウェーブレット変換を適用する計算手段を有し、前記離散ウェーブレット変換は、ハール変換、ニューランド変換、またはＤａｕｂｅｃｈｉｅｓフィルタを利用するウェーブレット変換であってよい請求項１０から１５のいずれか一項に記載のシステム。
コンピュータに、
（ａ）１、２、…ｉ、ｉ＋１、…Ｎを含むＮレベルの多解像度分解を画像Ｘに適用して、
１からＮ−１までの範囲である各レベルｉについて、レベルｉ＋１で処理するために画像Ｘの中間サブバンドを生成して、
レベルＮについて、前記画像Ｘの主要コンテンツを含む近似サブバンドと、前記画像Ｘのエッジを含む詳細サブバンドとを生成する段階と、
（ｂ）１、２、…ｉ、ｉ＋１、…Ｎを含むＮレベルの多解像度分解を画像Ｙに適用して、
１からＮ−１までの範囲である各レベルｉについて、レベルｉ＋１で処理するために前記画像Ｙの中間サブバンドを生成して、
前記レベルＮについて、前記画像Ｙの主要コンテンツを含む近似サブバンドと、前記画像Ｙのエッジを含む詳細サブバンドとを生成する段階と、
（ｃ）画質メトリック（ＩＱＭ）を前記画像Ｘの前記近似サブバンドと前記画像Ｙの前記近似サブバンドとに適用して、前記画像Ｘの前記主要コンテンツと前記画像Ｙの前記主要コンテンツとの間の類似度を特徴付ける近似品質計測値を生成する段階と、
（ｄ）前記画像Ｘについての１からＮ−１までの範囲である前記レベルｉの前記中間サブバンドおよび前記画像Ｘの前記詳細サブバンドを集計して、前記画像Ｘの前記エッジを特徴付ける前記画像Ｘのエッジマップを生成する段階と、
（ｅ）前記画像Ｙについての１からＮ−１までの範囲である前記レベルｉの前記中間サブバンドおよび前記画像Ｙの前記詳細サブバンドを集計して、前記画像Ｙの前記エッジを特徴付ける前記画像Ｙのエッジマップを生成する段階と、
（ｆ）前記画像Ｘの前記エッジマップと前記画像Ｙの前記エッジマップとの間に前記ＩＱＭを適用して、前記画像Ｘの前記エッジと前記画像Ｙの前記エッジとの間の類似度を特徴付けるエッジ品質計測値を生成する段階と、
（ｇ）前記近似品質計測値と前記エッジ品質計測値とを処理して前記品質計測値を決定する段階と
を実行させるためのプログラム。